DE4340914A1 - Verfahren zur routinemäßigen Identifikation von Kunststoffen - Google Patents
Verfahren zur routinemäßigen Identifikation von KunststoffenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur routinemäßigen
Identifikation des Materials von Kunststoffteilen mit Hilfe
der Infrarotspektroskopie, bei dem von der Oberfläche eines
zu untersuchenden Kunststoffteils ein Infrarot-Reflexions
spektrum aufgenommen und mit einem Satz von Referenzspektren
verglichen wird, wodurch das Material des untersuchten
Kunststoffteils einer Klasse von durch eines der Referenz
spektren repräsentierten Kunststoffmaterialien zugeordnet
wird.
Ein derartiges Verfahren im Bereich der Nahinfrarot-Spektro
metrie ist aus einem Artikel von H. Schöpe-Stein in der Fir
menschrift "Der Fraunhofer", 3/92, Seite 29, der Fraunhofer-
Gesellschaft bekannt.
Bei der enormen Vielfalt der heutzutage verwendeten Kunst
stoffteile fallen ständig riesige Mengen an Kunststoffabfäl
len unterschiedlichster Art und verschiedenster Beschaffen
heit an. Insbesondere zum Zwecke eines Recyclings besteht
daher ein großer Bedarf nach einem routinemäßigen Verfahren,
mit dem die verschiedenen Kunststoffe im Abfall zumindest
nach groben Klassen sortiert und leicht identifiziert werden
können. Ein besonders wichtiges Anwendungsgebiet ist dabei
das Recycling von Kunststoffteilen der Kraftfahrzeugindu
strie.
Zu diesem Zweck eignet sich u. a. ein in der obengenannten
Publikation beschriebenes Infrarot(IR)-Spektrometer im Be
reich des Nahinfrarot (NIR: 1000-2000 nm entspricht 4000-
10000 cm-1) mit schnell durchstimmbaren Filtern in Verbin
dung mit einer schnellen Elektronik.
Bei derartigen Kunststoff-Identifikationsverfahren, die auch
mit Hilfe von Fourier-Transformations-Infrarot (FTIR) -Spek
trometern durchgeführt werden, wird ausschließlich im NIR-
Bereich gearbeitet, da die in diesem Wellenzahlenbereich
verwendbare Glasoptik besonders einfach handhabbar ist. Im
Bereich des mittleren Infrarot (MIR: 400-5000 cm-1), wo
die Fenster oder Linsenmaterialien im allgemeinen hygrosko
pische Salze sind und mechanisch unangenehme Eigenschaften
aufweisen, sind die oben beschriebenen Verfahren nie ange
wendet worden. Hinzu kommt, daß im Gegensatz zum NIR-Bereich
im MIR-Bereich Faseroptik nicht oder nur unter sehr schwie
rigen Umständen verwendbar ist.
Bei auch im IR undurchsichtigen Kunststoffen muß eine
Materialuntersuchung mit Spektrometern in Reflexion durchge
führt werden. Bei den meisten Kunststoffen liegen jedoch im
MIR-Bereich starke Absorptionsbanden vor. Das an der norma
lerweise nicht ebenen oder rauhen Oberfläche reflektierte
Licht besitzt neben einem direkt gestreuten einen deutlich
diffus gestreuten Anteil und es treten Mehrfachreflexionen
auf, die wiederum einen großen Absorptionsanteil aufweisen.
Dies führt dazu, daß MIR-Spektren von Kunststoffen stark
verzerrt sind, schwankende Basislinien aufweisen und insge
samt eher der Ableitung eines IR-Spektrums ähnlich sehen.
Aus solchen experiementellen Spektren ist es im allgemeinen
nicht möglich, ein sauberes, "wahres" Absorptionsspektrum
des betreffenden Materials zu rekonstruieren, wie man es bei
der Spektroskopie derselben Substanz unter Laborbedingungen
in Absorption erhalten würde.
Vor allem diese Schwierigkeiten bei der Interpretation der
erhaltenen Spektren haben den Fachmann bisher davon abgehal
ten, routinemäßige Untersuchungen von Kunststoffen im MIR-
Bereich in Reflexion zu erwägen. Bei mit Kohlenstoff gefüll
ten Kunststoffen, die in der Kraftfahrzeug-Teilefertigung
den Regelfall darstellen, ist aber andererseits der Einsatz
von Spektroskopie im NIR-Bereich nicht möglich, da bei der
artigen Kunststoffen keine auswertbaren NIR-Spektren zu er
zielen sind. Die MIR-Spektroskopie wurde aus den obengenann
ten Gründen bislang als Verfahren für die Routine-Identifi
kation von Kunststoffen für ungeeignet angesehen. Mit den
herkömmlichen NIR-spektroskopischen Methoden kann jedoch zu
mindest ein Teil der interessierenden Kunststoffmaterialien
nicht untersucht werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein Verfah
ren der eingangs beschriebenen Art vorzustellen, mit dem
auch mit Kohlenstoff gefüllte Kunststoffe und andere, der
NIR-Spektroskopie nicht zugängliche Kunststoffmaterialien
auf einfache Weise routinemäßig untersucht werden können.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß das zu untersuchende
Kunststoffteil mit Hilfe einer Videoeinrichtung positioniert
wird, und daß das Infrarot-Reflexionsspektrum im Bereich des
mittleren Infrarot (MIR) in einem Wellenzahlenbereich
zwischen 400 und 4000 cm-1 aufgenommen wird.
Die erfindungsgemäß vorgeschlagene Vorgehensweise der Auf
nahme eines MIR-Reflexionsspektrums ist für den oben be
schriebenen Zweck einer routinemäßigen Untersuchung von
Kunststoffen überraschenderweise doch geeignet, da nämlich
gar kein "sauberes" Spektrum erforderlich ist, wenn ledig
lich Kunststoffmaterialien bzw. Klassen von Kunststoffen
identifiziert werden sollen. Vielmehr genügt es, wenn aus
der Messung reproduzierbare und eindeutige Informationen zu
entnehmen sind, die für das untersuchte Kunststoffmaterial
in irgendeiner Weise charakteristisch sind. Dies ist aber
auch im mittleren Infrarot-Bereich durchaus möglich, so daß
damit insbesondere mit Kohlenstoff gefüllte Kunststoffe in
eine Routineuntersuchung zum Zwecke der Identifikation mit
einbezogen werden können. Durch die Positionierung des zu
untersuchenden Kunststoffteiles mit einer Videoeinrichtung
wird auf bedienerfreundliche Weise sichergestellt, daß die
Probe sich in der korrekten Meßposition befindet, was die
Grundvoraussetzung für eine problemlose Routinemessung
darstellt.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens umfaßt
das Spektrum mindestens den MIR-Bereich von 600-3600 cm-1.
Damit wird nahezu die maximal mögliche Information aufgesam
melt.
Bei einer einfacheren Ausführungsform umfaßt das Spektrum
nur einen Teilbereich des MIR von weniger als 1000 Wellen
zahlen. Dadurch benötigt ein aufgenommenes Spektrum weniger
Speicherplatz, die Spektrenaufnahmezeit verringert sich, und
es können auf bestimmte zu untersuchende Materialien spezi
ell zugeschnittene optische Elemente (Detektoren, Filter,
Fenster mit eingeschränkten Bereichen usw.) Verwendung finden.
Besonders bevorzugt ist eine Ausführungsform des erfindungs
gemäßen Verfahrens, bei dem vor dem Vergleich mit den Refe
renzspektren eine, vorzugsweise die erste Ableitung des auf
genommenen IR-Spektrums nach der Wellenzahl gebildet wird,
und auch als Referenzspektren entsprechende Ableitungen
der IR-Spektren von Referenzsubstanzen verwendet werden.
Durch die Begrenzung des Meßbereichs auf den informations
tragenden Auswertebereich (genau dort, wo die Kunststoffe
absorbieren) kann die Identifikationsqualität erheblich ver
bessert werden.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform wird im
Rahmen einer Meßserie vieler Kunststoffteile zunächst nur
jeweils in einer ersten Messung ein IR-Reflexionsspektrum
aus dem nahen IR-Bereich aufgenommen und mit Referenz
spektren verglichen und nur bei Kunststoffteilen, bei denen
diese erste Messung zu keiner eindeutigen Identifikation
führt, eine zweite Messung im mittleren IR-Bereich nachge
schoben. Damit können bei einem automatisierten Sortiervor
gang Kunststoffabfälle standardmäßig schnell im Millisekun
den-Bereich mit einer "billigen" NIR-Messung identifiziert
und mehr oder weniger vollautomatisch an einem Fließband
sortiert werden. "Schwarze" Materialien oder solche, die da
mit nicht zugeordnet werden können, können dann aussortiert
und der relativ teueren und langsameren MIR-Messung (≈ 1 Se
kunde) zugeführt werden. Im MIR-Bereich könnte eine solche
Sortieranlage dann möglicherweise auch einen geringeren
Automationsgrad aufweisen, da mengenmäßig wesentlich weniger
Kunststoffteile in diesen Bereich gelangen würden.
Besonders preisgünstig ist eine Variante des vorgenannten
Verfahrens, bei dem die beiden Messungen (im NIR- und im
MIR-Bereich) mit demselben IR-Spektrometer zeitlich nachein
ander oder sogar simultan durchgeführt werden.
Bei einer alternativen Variante dieses Verfahrens werden die
beiden Messungen im NIR- und im MIR-Bereich mit zwei separa
ten IR-Spektrometern durchgeführt. Dadurch kann das Gesamt
verfahren schneller gemacht werden, was den Durchsatz an zu
untersuchenden Kunststoffteilen erhöht und damit das Verfah
ren wirtschaftlich günstiger macht.
Bevorzugt ist eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens, bei dem das MIR-Spektrum mit Hilfe eines
Fourier-Transformations-Infrarot(FTIR)-Spektrometers aufgenom
men wird. Diese Vorgehensweise hat neben der Nutzbarmachung
anderer allgemeiner Vorteile von Fourier-Spektrometern, wie
beispielsweise der Möglichkeit des "Multiplexings", der sehr
schnellen Datenaufnahme und der bedeutend besseren Eigen
schaften bei größeren Wellenlängen im Verhältnis zu disper
siven Spektrometern auch den speziellen Vorzug, daß zur
Spektrenaufnahme keine CCD-Arrays erforderlich sind, die
insbesondere im MIR- und FIR-Bereich nicht erhältlich wären.
Besonders bevorzugt ist eine Variante dieses Verfahrens, bei
der während der Messung ein erstes Infrarot(IR)-Strahlenbün
del durch ein für das mittlere Infrarot durchlässiges Fen
ster aus dem FTIR-Spektrometer ausgelenkt und auf einen
Oberflächenbereich des zu untersuchenden Kunststoffteils fo
kussiert wird, wobei von der Oberfläche reflektiertes IR-
Licht in Form eines zweiten IR-Strahlenbündels durch dassel
be oder ein zweites Fenster auf einen Detektor für mittleres
Infrarot innerhalb des FTIR-Spektrometers fokussiert wird.
Damit kann das Verfahren auch bei sehr schnellem Probenwech
sel, beispielsweise bei einem Fließband angewendet werden,
wobei für Routinemessungen die externe Anordnung der zu un
tersuchenden Proben außerhalb des Spektrometers beinahe
zwingend erscheint.
Bei einer weiteren vorteilhaften Variante wird eine in dem
Oberflächenbereich des zu untersuchenden Kunststoffteils et
wa vorhandene Oberflächenbeschichtung vor der Messung ent
fernt, da eine solche Beschichtung, beispielsweise Lackie
rung oder dergleichen, optisch undurchlässig sein könnte und
IR-Licht absorbieren und/oder ein Störspektrum liefern wür
de.
Um die spiegelnde Reflexion definierter zu gestalten, ist
bei einer Variante vorgesehen, daß vor der Messung im Ober
flächenbereich des zu untersuchenden Kunststoffteils eine
ebene Oberfläche erzeugt wird.
Bei einer weiteren vorteilhaften Variante ist vorgesehen,
daß das zu untersuchende Kunststoffteil so orientiert wird,
daß das vom Oberflächenbereich spiegelnd reflektierte IR-
Licht entlang des zweiten IR-Strahlenbündels auf den Detek
tor gelangt. Auch mit dieser Maßnahme kann die IR-Messung in
spiegelnder Reflexion definierter gestaltet werden.
Eine besonders bevorzugte Variante des erfindungsgemäßen
Verfahrens ist dadurch gekennzeichnet, daß IR-Licht, ausge
hend von einer IR-Lichtquelle, vorzugsweise einer Glühwendel
oder einem sogenannten "Glow-Bar", zunächst im FTIR-Spektro
meter ein Interferometer durchläuft und dann als erstes
Lichtbündel durch das erste Fenster auf den Oberflächenbe
reich des zu untersuchenden Kunststoffteils fokussiert wird.
Der Einsatz einer MIR-Quelle hat den Vorteil, daß der zur
Messung verwendete Lichtstrahl eine wesentlich geringere In
tensität aufweisen muß, als dies bei "weißem" Licht der Fall
wäre. Derartiges weißes Licht müßte zunächst auf die Probe
und dann in das Interferometer gestrahlt werden, was bei
spielsweise ein Aufheizen der Probe zur Folge haben könnte.
In den Rahmen der Erfindung fällt auch ein FTIR-Spektrometer
zur Durchführung des oben beschriebenen Verfahrens, bei dem
ein erstes und ein zweites MIR-durchlässiges Fenster vorge
sehen ist und die Achsen der ersten bzw. zweiten IR-Strah
lenbündel auf der Oberfläche des ersten bzw. des zweiten
Fensters jeweils senkrecht stehen. Im Gegensatz zu bekannten
IR-Spektrometern weist die erfindungsgemäße Vorrichtung zwei
MIR-durchlässige Fenster auf, mit denen gegenüber der Lösung
mit nur einem Fenster Reflexionen, die unter Umständen mehr
zu einem Signaluntergrund beitragen können als das schwache
Reflexionssignal des vermessenen Kunststoffteiles, einge
schränkt werden. Bei der einfachen Ein-Fenster-Lösung müssen
die Strahlachsen nämlich notwendigerweise schräg auf das
Fenster treffen, was zu höheren Reflexionsverlusten führt.
Besonders bevorzugt ist eine Ausführungsform des erfindungs
gemäßen FTIR-Spektrometers, bei dem der Winkel zwischen den
Achsen der beiden Strahlenbündel zwischen 5° und 30°, vor
zugsweise zwischen 10° und 20° liegt. Damit wird trotz der
endlichen radialen Ausdehnung der verwendeten Strahlenbündel
ein möglichst senkrechter Einfall des Meß-Lichts auf die zu
untersuchende Probenoberfläche und eine entsprechend nahezu
senkrechte Reflexion von der Oberfläche gewährleistet.
Bevorzugt ist auch eine Ausführungsform, bei der die Fenster
aus einem der Materialien KBr, KCl, ZnSe, KRS5, CaF₂, MgF₂
bestehen. Derartige MIR-durchlässige Fenster sind leicht im
Handel erhältlich.
Ebenso ist eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen FTIR-
Spektrometers vorteilhaft, bei der der Detektor ein DTGS-
Detektor (deuteriertes Triglyzinsulfat) ist. Solche MIR-
Detektoren sind handelsüblich.
Besonders bevorzugt ist eine Ausführungsform des erfindungs
gemäßen FTIR-Spektrometers, bei der als Videoeinrichtung ein
Endoskop mit daran angeschlossener Videokamera vorgesehen
ist.
Das Endoskop kann zwischen den beiden Fenstern bzw. den Ein
falls- und Ausfallspiegeln des Spektrometers positioniert
sein und ist vorzugsweise senkrecht auf das zu untersuchende
Kunststoffteil orientiert. Die Videokamera ist dann an dem
von den Fenstern abgewandten Ende des Endoskops angeschlos
sen und erlaubt es, die Meßprobe zu beobachten und die auf
der Meßprobe bearbeitete Meßstelle zu lokalisieren, was es
dem Operator ermöglicht, diese Stelle möglichst korrekt in
die Meßposition zu bringen.
Besonders kompakt ist eine Ausführungsform, bei der das zu
untersuchende Kunststoffteil zum Positionieren über das
Endoskop beleuchtet werden kann. Alternativ dazu kann bei
einer anderen Ausführungsform zwischen den Fenstern des
Spektrometers eine Beleuchtungseinrichtung zur Beleuchtung
der Meßprobe vorgesehen sein.
Vorteilhaft ist schließlich eine Ausführungsform, bei der
weitere Visualisierungseinrichtungen vorgesehen sind, mit
denen das zu untersuchende Kunststoffteil aus der Richtung
der Meßposition beobachtet werden kann. Damit eine
schnellere und genauere Positionierung der Meßprobe möglich.
Weitere Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der Be
schreibung und der beigefügten Zeichnung. Ebenso können die
vorstehend genannten und die noch weiter ausgeführten Merk
male erfindungsgemäß jeweils einzeln für sich oder zu mehre
ren in beliebigen Kombinationen Verwendung finden. Die er
wähnte Ausführungsform ist nicht als abschließende Aufzäh
lung zu verstehen, sondern hat vielmehr beispielhaften Cha
rakter.
Die Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird an
hand eines konkreten Ausführungsbeispieles näher beschrieben
und erläutert. Es zeigen:
Fig. 1a eine Draufsicht auf einen Infrarotspektrometerauf
bau zur Durchführung des erfindungsgemäßen Ver
fahrens;
Fig. 1b eine Seitenansicht des Spektrometeraufbaus von
Fig. 1a;
Fig. 2a ein ABS-Kunststoffspektrum; und
Fig. 2b die erste Ableitung des Spektrums von Fig. 2a
nach der Wellenzahl.
Das in Fig. 1 gezeigte Fourier-Transformations-Infrarot
(FTIR)-Spektrometer weist folgenden Strahlengang auf:
Infrarotlicht aus einer IR-Lichtquelle 10, vorzugsweise ei ner Glühwendel oder einem sogenannten "Glow-Bar", fällt auf einen Hohlspiegel 11 und wird von dort über einen Planspie gel 12 in ein Interferometer 13 gelenkt. Nach Durchlaufen des Interferometers 13 wird das IR-Strahlenbündel über zwei Planspiegel 14, 15 höhenversetzt, über einen weiteren Plan spiegel 16 seitlich abgelenkt und mit Hilfe eines Hohlspie gels 17 durch ein erstes MIR-durchlässiges Fenster 18 auf den Brennfleck 19 auf einer ebenen Oberfläche 30 einer Meß probe fokussiert. Das reflektierte MIR-Licht tritt durch ein zweites MIR-durchlässiges Fenster 20 wieder in das Spektro meter ein und wird über einen weiteren Hohlspiegel 21 auf einen Planspiegel 22 geworfen, von dort auf einen Hohlspie gel 23 umgelenkt, von wo es schließlich in einen MIR-Detek tor 24 fokussiert und nachgewiesen wird.
Infrarotlicht aus einer IR-Lichtquelle 10, vorzugsweise ei ner Glühwendel oder einem sogenannten "Glow-Bar", fällt auf einen Hohlspiegel 11 und wird von dort über einen Planspie gel 12 in ein Interferometer 13 gelenkt. Nach Durchlaufen des Interferometers 13 wird das IR-Strahlenbündel über zwei Planspiegel 14, 15 höhenversetzt, über einen weiteren Plan spiegel 16 seitlich abgelenkt und mit Hilfe eines Hohlspie gels 17 durch ein erstes MIR-durchlässiges Fenster 18 auf den Brennfleck 19 auf einer ebenen Oberfläche 30 einer Meß probe fokussiert. Das reflektierte MIR-Licht tritt durch ein zweites MIR-durchlässiges Fenster 20 wieder in das Spektro meter ein und wird über einen weiteren Hohlspiegel 21 auf einen Planspiegel 22 geworfen, von dort auf einen Hohlspie gel 23 umgelenkt, von wo es schließlich in einen MIR-Detek tor 24 fokussiert und nachgewiesen wird.
Der Winkel zwischen den Achsen des ersten, durch das erste
Fenster 18 austretenden IR-Strahlenbündels und dem zweiten,
durch das zweite Fenster 20 wieder in das Spektrometer ein
tretenden Strahlenbündels beträgt zwischen 5° und 30°,
vorzugsweise zwischen 10° und 20°. Dadurch werden einerseits
störende Reflexionen an den Flächen des Ein- und Austritt
fensters vermieden, die unter Umständen das aufgenommene
Spektrum erheblich stören könnten, andererseits ist sowohl
das einfallende als auch das ausfallende Strahlenbündel im
wesentlichen senkrecht zur Oberfläche 30 der Meßprobe ge
richtet. Zusätzlich wird das zu untersuchende Kunststoffteil
so orientiert, daß das von einem Oberflächenbereich 30 spie
gelnd reflektierte IR-Licht entlang des zweiten IR-Strahlen
bündels durch das zweite Fenster 20 auf den Detektor 24 ge
langt. Notfalls wird vor der Messung in dem Oberflächenbe
reich des zu untersuchenden Kunststoffteils eine ebene Ober
fläche 30 erzeugt. Eine eventuell vorhandene Oberflächenbe
schichtung des Kunststoffteils wird vor der Messung ent
fernt.
Es muß sichergestellt sein, daß die bearbeitete Stelle der
Probe an die Meßposition gebracht wird. Hierzu wird die zu
analysierende Probe von der Rückseite über eine Videoein
richtung beobachtet, so daß der Operator die Probe korrekt
positionieren kann.
Die Beobachtungsvorrichtung besteht vorzugsweise aus einem
Endoskop 26 mit angeschlossener Videokamera 25. Das Endoskop
26 kann zwischen den beiden Spiegeln 17, 21 bzw. Fenstern
18, 20 angebracht werden und ist vorzugsweise senkrecht auf
die zu positionierende Probe orientiert. An das rückwärtige
Ende des Endoskops 26 ist eine Videokamera 25 angeschlosse
ne, die es erlaubt, die Probe zu beobachten und die auf der
Probe bearbeitete Meßstelle zu lokalisieren und es dem
Operator ermöglicht, diese Stelle in die Meßposition zu
bringen.
Zur Beleuchtung der Probe kann eine während des Positionie
rens der Probe angeschaltete, zwischen den Fenstern 18, 20
befestigte Beleuchtungseinheit eingesetzt werden. Alternativ
kann die Probe über das Endoskop 26 beleuchtet werden.
Denkbar sind auch weitere Visualisierungseinrichtungen, die
es erlauben, die Probe aus der Richtung der Meßposition zu
beobachten und es somit dem Operator ermöglichen, die Probe
korrekt zu positionieren.
Die Fenster 18, 20 können beispielsweise aus einem der Mate
rialien KBr, KCl, ZnSe, KRS5, CaF₂, MgF₂ bestehen. Der MIR-
Detektor 24 ist vorzugsweise ein DTGS (deuteriertes Tri
glyzinsulfat)-Detektor.
Mit dem oben beschriebenen FTIR-Spektrometer kann nun erfin
dungsgemäß ein hochgradig automatisierbares Verfahren zur
routinemäßigen Identifikation des Materials von Kunststoff
teilen durchgeführt werden, bei dem von den ebenen Oberflä
chen 30 des zu untersuchenden Kunststoffteils ein Infrarot-
Reflexionsspektrum im Bereich des mittleren Infrarots (MIR)
in einem Wellenzahlenbereich zwischen 400 und 4000 cm-1 auf
genommen wird. Dieses Spektrum wird mit einem Satz von Refe
renzspektren verglichen, die vorher von bekannten Kunst
stoffmaterialien aufgenommen wurden. Damit kann dann das Ma
terial des untersuchten Kunststoffteils ohne weiteres einer
Klasse von durch eines der Referenzspektren repräsentierten
Kunststoffmaterialien zugeordnet werden, wobei auch mit Koh
lenstoff aufgefüllte Kunststoffe auf diese Weise leicht un
tersucht werden können. Der verwendete Wellenzahlenbereich
im MIR kann insbesondere auch weniger als 1000 Wellenzahlen
umfassen, so daß die erzeugten Spektren einen relativ ge
ringen Speicherplatz in Anspruch nehmen und einen ebenfalls
geringen Meßzeitaufwand erfordern. Außerdem können in einem
eingeschränkten Bereich spezielle Materialien für die opti
schen Elemente (Detektor, Filter, Fenster usw.) verwendet
werden.
Vorzugsweise wird bei dem Vergleich des aufgenommenen Spek
trums mit den Referenzspektren eine Ableitung des Spektrums,
in der Regel die erste Ableitung nach der Wellenzahl ge
bildet und mit entsprechenden Ableitungen der Referenz-IR-
Spektren verglichen. Dadurch wird erreicht, daß bei dem ge
messenen Spektrum der gespiegelten Infrarot-Strahlung die
normalerweise auftretenden Basislinienprobleme verschwinden
oder so verändert werden, daß sich Spektrenverzerrungen in
der Auswertung zum Zwecke der Identifikation des gemessenen
Kunststoffs weniger bemerkbar machen.
Natürlich geht damit auch ein Teil der Gesamtinformation des
gemessenen Spektrums verloren, was jedoch ohne weiteres in
Kauf genommen werden kann. Während das Originalspektrum eher
wie ein Dispersionsspektrum bzw. wie die erste Ableitung ei
nes Absorptionsspektrums aussieht, ähnelt die erste Ablei
tung nach der Wellenzahl in der Regel stark einem gewöhn
lichen Absorptionsspektrum. Dieses kann, wie oben erwähnt,
mit Hilfe an sich bekannter Algorithmen mit im Spektrometer
abgespeicherten Referenzspektren, die auf ähnliche Art ge
wonnen wurden, verglichen werden. Die erste Ableitung wird
erfolgreich eingesetzt, weil sie die langwelligen Basis
linienstörungen, die im wesentlichen durch die Morphologie
der Probe hervorgerufen werden, eliminiert und die verblei
bende "Fein"-Information immer noch charakteristisch für das
zu identifizierende Probenmaterial ist. In Sonderfällen kann
es aber auch vorteilhaft sein, zur zweiten Ableitung des
Spektrums überzugehen.
Zur Veranschaulichung ist in Fig. 2a ein Originalspektrum
eines ABS (Acrylbutadienstyrol)-Kunststoffes in willkürlichen
Einheiten über der Wellenzahl aufgetragen. Fig. 2b stellt
die erste Ableitung des in Fig. 2a gezeigten Originalspek
trums dar. Wie man sieht, sind in der ersten Ableitung für
das Probenmaterial charakteristische Strukturen teilweise
wesentlich besser erkennbar hervorgehoben. Die gezeigten
Beispiele legen auch nahe, daß es denkbar ist, zur Identifi
kation nicht den gesamten MIR-Bereich zu vermessen und aus
zuwerten, sondern lediglich einen Teilbereich von beispiels
weise einigen 100 Wellenzahlen.
Das erfindungsgemäße Routineverfahren zur Materialidentifi
kation von Kunststoffteilen kann im wesentlichen folgender
maßen ablaufen:
- a) Auswahl des zu untersuchenden Kunststoffteils
- b) Auswahl des zu untersuchenden Oberflächenbereichs
- c) gegebenenfalls Entfernen einer Beschichtung bzw. einer Lackschicht
- d) gegebenenfalls Erzeugen einer ebenen Oberfläche, unter Umständen in Verbindung mit Verfahrensschritt c)
- e) Plazieren dieser Oberfläche in die Meßposition (Brennfleck 19) eines durch das erste Fenster 18 aus dem FTIR-Spektrometer austretenden MIR-Strahlenbündels
- f) Orientierung der Oberfläche 30 so, daß das reflektierte Strahlenbündel durch das zweite Fenster 20 wieder in das Spektrometer und dort auf den MIR-Detektor 24 gelangt
- g) Messen des MIR-Spektrums mit Hilfe des FTIR-Spektrometers
- h) Bilden der ersten Ableitung des gemessenen Spektrums nach der Wellenzahl
- i) Vergleich des Ableitungsspektrums mit den entsprechenden Ableitungen mehrerer gespeicherter Referenzspektren
- j) Zuordnung des Materials des vermessenen Kunststoffteils zu einem Referenzspektrum und damit zu einer bestimmten Materialklasse.
Im Rahmen einer Meßserie über viele zu identifizierende
Kunststoffteile kann zunächst jeweils in einer ersten
Messung ein IR-Reflexionsspektrum aus dem nahen Infrarotbe
reich (NIR) aufgenommen und mit den entsprechenden Referenz
spektren verglichen werden. Nur bei denjenigen Kunststoff
teilen, bei denen diese erste Messung zu keiner eindeutigen
Identifikation führt, muß dann eine zweite Messung im mitt
leren Infrarotbereich (MIR) nachgeschoben werden. Damit kann
standardmäßig die schnelle und damit billigere NIR-Messung
in der Mehrzahl der Fälle als einzige Messung ausgeführt
werden, und damit mehr oder weniger vollautomatisch an einem
Fließband die entsprechenden Teile sortiert werden. Materia
lien, bei denen mit der ersten Messung eine Zuordnung nicht
gelingt, können aussortiert und einer langsameren und damit
etwas teureren MIR-Messung zugeführt werden. Diese kann dann
möglicherweise auch einen geringeren Automationsgrad auf
weisen, da wesentlich weniger zu untersuchende Teile anfal
len.
Um den apparativen Aufwand klein zu halten, können die bei
den Messungen im NIR- und im MIR-Bereich mit demselben FTIR-
Spektrometer simultan oder zeitlich nacheinander durchge
führt werden. Alternativ dazu können die beiden Messungen
mit zwei separaten Spektrometern durchgeführt werden, was
das Gesamtverfahren entsprechend beschleunigt.
Claims (22)
1. Verfahren zur routinemäßigen Identifikation des Materi
als von Kunststoffteilen mit Hilfe der Infrarotspektro
skopie, bei dem von der Oberfläche eines zu untersuchen
den Kunststoffteils ein Infrarot-Reflexionsspektrum auf
genommen und mit einem Satz von Referenzspektren ver
glichen wird, wodurch das Material des untersuchten
Kunststoffteils einer Klasse von durch eines der Re
ferenzspektren repräsentierten Kunststoffmaterialien zu
geordnet wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß das zu untersuchende Kunststoffteil mit Hilfe einer
Videoeinrichtung positioniert wird, und daß das Infra
rot-Reflexionsspektrum im Bereich des mittleren Infra
rots (MIR) in einem Wellenzahlenbereich zwischen 400 und
4000 cm-1 aufgenommen wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Spektrum mindestens den MIR-Bereich von 600 bis
3600 cm-1 umfaßt.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Spektrum nur einen Teilbereich des MIR von weniger
als 1000 cm-1 umfaßt.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß vor dem Vergleich mit den Re
ferenzspektren eine, vorzugsweise die erste Ableitung
des aufgenommenen IR-Spektrums nach der Wellenzahl ge
bildet wird, und daß auch als Referenzspektren ent
sprechende Ableitungen der IR-Spektren von Referenz
substanzen verwendet werden.
5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß im Rahmen einer Meßserie vie
ler Kunststoffteile zunächst jeweils in einer ersten
Messung ein IR-Reflexionsspektrum aus dem nahen Infra
rot (NIR)-Bereich aufgenommen und mit Referenzspektren
verglichen wird, und daß nur bei Kunststoffteilen, bei
denen diese erste Messung zu keiner eindeutigen Identi
fikation führt, eine zweite Messung im mittleren Infra
rot (MIR)-Bereich nachgeschoben wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die beiden Messungen im NIR- und im MIR-Bereich mit dem
selben IR-Spektrometer simultan oder zeitlich nachein
ander durchgeführt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die beiden Messungen im NIR- und im MIR-Bereich mit zwei
separaten IR-Spektrometern durchgeführt werden.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, daß das MIR-Spektrum mit Hilfe
eines Fourier-Transformations-Infrarot(FTIR)-Spektro
meters aufgenommen wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
während der Messung ein erstes Infrarot(IR)-Strahlen
bündel durch ein für das mittlere Infrarot durchlässiges
Fenster (18) aus dem FTIR-Spektrometer ausgelenkt und
auf einen Oberflächenbereich (19) des zu untersuchenden
Kunststoffteils fokussiert wird, und daß von der Ober
fläche reflektiertes IR-Licht in Form eines zweiten IR-
Strahlenbündels durch dasselbe oder ein zweites Fenster
(20) auf einen Detektor (24) für mittleres Infrarot in
nerhalb des FTIR-Spektrometers fokussiert wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß
eine in dem Oberflächenbereich des zu untersuchenden
Kunststoffteils vorhandene Oberflächenbeschichtung ent
fernt wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 oder 10, dadurch
gekennzeichnet, daß vor der Messung im Oberflächenbe
reich des zu untersuchenden Kunststoffteils eine ebene
Oberfläche (30) erzeugt wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch ge
kennzeichnet, daß das zu untersuchende Kunststoffteil so
orientiert wird, daß das vom Oberflächenbereich
spiegelnd reflektierte IR-Licht entlang des zweiten IR-
Strahlenbündels auf den Detektor (24) gelangt.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 12, dadurch ge
kennzeichnet, daß IR-Licht, ausgehend von einer IR-
Lichtquelle (10), vorzugsweise einer Glühwendel oder ei
nem sogenannten "Glow-Bar", zunächst im FTIR-Spektro
meter ein Interferometer (13) durchläuft und dann als
erstes Lichtbündel durch das erste Fenster (18) auf den
Oberflächenbereich (19) des zu untersuchenden Kunst
stoffteils fokussiert wird.
14. FTIR-Spektrometer zur Durchführung des Verfahrens nach
einem der Ansprüche 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet,
daß ein erstes und ein zweites MIR-durchlässiges Fenster
(18 bzw. 20) vorgesehen ist, und daß die Achsen der
ersten bzw. zweiten IR-Strahlenbündel auf den Ober
flächen des ersten bzw. zweiten Fensters (18 bzw. 20)
jeweils senkrecht stehen.
15. FTIR-Spektrometer nach Anspruch 14, dadurch gekennzeich
net, daß der Winkel zwischen den Achsen der beiden
Strahlenbündel zwischen 5° und 30°, vorzugsweise zwi
schen 10° und 20° liegt.
16. FTIR-Spektrometer nach einem der Ansprüche 14 oder 15,
dadurch gekennzeichnet, daß die Fenster (18, 20) aus ei
nem der Materialien KBr, KCl, ZnSe, KRS5, CaF₂, MgF₂ be
stehen.
17. FTIR-Spektrometer nach einem der Ansprüche 14 bis 16,
dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor (24) ein DTGS-
Detektor (deuteriertes Triglyzinsulfat) ist.
18. FTIR-Spektrometer nach einem der Ansprüche 14 bis 17,
dadurch gekennzeichnet, daß als Videoeinrichtung ein
Endoskop (26) mit daran angeschlossener Videokamera (25)
vorgesehen ist.
19. FTIR-Spektrometer nach Anspruch 18, dadurch gekennzeich
net, daß das Endoskop zwischen den beiden Fenstern (18,
20) positioniert und vorzugsweise senkrecht auf das zu
untersuchende Kunststoffteil orientiert ist.
20. FTIR-Spektrometer nach einem der Ansprüche 18 oder 19,
dadurch gekennzeichnet, daß das zu untersuchende Kunst
stoffteil zum Positionieren über das Endoskop (26) be
leuchtet werden kann.
21. FTIR-Spektrometer nach einem der Ansprüche 18 oder 19,
dadurch gekennzeichnet, daß das zu untersuchende Kunst
stoffteil zum Positionieren über eine zwischen den
Fenstern (18, 20) vorgesehene Beleuchtungseinrichtung
beleuchtet werden kann.
22. FTIR-Spektrometer nach einem der Ansprüche 18 bis 21,
dadurch gekennzeichnet, daß weitere Visualisierungsein
richtungen vorgesehen sind, mit denen das zu unter
suchende Kunststoffteil aus der Richtung der Meßposition
beobachtet werden kann.
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