JP7015579B1 - プラスチック判定装置及びプラスチック判定プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】判定プラスチックの材質の比較プラスチックとの類似度を判定する。【解決手段】プラスチック判定装置では、比較プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトルである比較スペクトルが取得される共に、判定プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトルである判定スペクトルが取得される。そして、判定スペクトルの比較スペクトルに対する相関係数が類似度として判定される。このため、判定プラスチックの材質の比較プラスチックとの類似度を判定できる。【選択図】図７

Description

本発明は、プラスチックの材質を判定するためのプラスチック判定装置及びプラスチック判定プログラムに関する。

下記特許文献１に記載のプラスチック材判定装置では、プラスチック材の近赤外吸収スペクトルとプラスチックである各材質の近赤外吸収スペクトルとの一致度を求めて、プラスチック材の材質を判定する。

このように、プラスチック材判定装置では、プラスチック材の材質との類似度を判定できるのが好ましい。

特開２００１－２０８６８４号公報

本発明は、上記事実を考慮し、判定プラスチックの材質の比較プラスチックとの類似度を判定できるプラスチック判定装置及びプラスチック判定プログラムを得ることが目的である。

請求項１に記載のプラスチック判定装置は、比較対象のプラスチックである比較プラスチックに照射されて部分的に吸収された赤外線のスペクトルである比較スペクトルが記憶される記憶部と、前記記憶部に記憶された比較スペクトルに基づき材質を判定するプラスチックである判定プラスチックに照射されて部分的に吸収された赤外線のスペクトルである判定スペクトルの比較スペクトルとの類似度を判定する判定部と、前記記憶部及び前記判定部の少なくとも１つと通信可能にされ、比較スペクトル及び判定スペクトルの少なくとも１つを測定する測定部と、を備え、前記測定部は、フィルム状の比較プラスチック又は判定プラスチックであるフィルムプラスチックに赤外線を照射する照射部と、前記照射部が照射してフィルムプラスチックを透過した赤外線を反射する反射部と、前記反射部が反射してフィルムプラスチックを透過した赤外線を検出する検出部と、フィルムプラスチック内を面内方向に通過する前記照射部以外からの光をフィルムプラスチックの面内方向における前記反射部からの離間側に反射して当該光の前記反射部側への侵入を制限する制限部と、を有する。

請求項２に記載のプラスチック判定装置は、請求項１に記載のプラスチック判定装置において、前記判定部は、判定スペクトルの比較スペクトルとの類似度が閾値を超えている場合に判定プラスチックの材質を比較プラスチックと判定する。

請求項３に記載のプラスチック判定装置は、請求項２に記載のプラスチック判定装置において、前記閾値を変更可能にされる。

請求項４に記載のプラスチック判定装置は、請求項１～請求項３の何れか１項に記載のプラスチック判定装置において、前記判定部が判定プラスチックの材質を比較プラスチックと判定したこと及び前記判定部が判定プラスチックの材質を比較プラスチックでないと判定したことの少なくとも１つを記号、音及び色彩の少なくとも１つにより報知する報知部を備える。

請求項１に記載のプラスチック判定装置では、比較プラスチックに部分的に吸収された赤外線のスペクトルである比較スペクトルが記憶部に記憶される。

ここで、判定プラスチックに部分的に吸収された赤外線のスペクトルである判定スペクトルの比較スペクトルとの類似度を判定部が判定する。このため、判定プラスチックの材質の比較プラスチックとの類似度を判定できる。

請求項２に記載のプラスチック判定装置では、判定スペクトルの比較スペクトルとの類似度が閾値を超えている場合に、判定プラスチックの材質を比較プラスチックと判定部が判定する。このため、判定プラスチックの材質が比較プラスチックであることを判定できる。

請求項３に記載のプラスチック判定装置では、閾値が変更可能にされる。このため、判定プラスチックの材質の判定を調整できる。

請求項４に記載のプラスチック判定装置では、判定部が判定プラスチックの材質を比較プラスチックと判定したこと及び判定部が判定プラスチックの材質を比較プラスチックでないと判定したことの少なくとも１つを、報知部が記号、音及び色彩の少なくとも１つにより報知する。このため、言語を使用せずに判定プラスチックの材質の判定結果を報知できる。

請求項１に記載のプラスチック判定装置では、測定部が比較スペクトル及び判定スペクトルの少なくとも１つを測定する。このため、比較スペクトル及び判定スペクトルの少なくとも１つを容易に取得できる。

請求項１に記載のプラスチック判定装置では、フィルム状の比較プラスチック又は判定プラスチックであるフィルムプラスチックに測定部の照射部が赤外線を照射する。さらに、照射部が照射してフィルムプラスチックを透過した赤外線を測定部の反射部が反射する。そして、反射部が反射してフィルムプラスチックを透過した赤外線を測定部の検出部が検出する。このため、フィルムプラスチックについての赤外線のスペクトルの検出精度を高くできる。

請求項１に記載のプラスチック判定装置では、フィルムプラスチック内を通過する光の反射部側への侵入を測定部の制限部が制限する。このため、フィルムプラスチック内を通過する光を検出部が検出することを抑制できる。

本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置を示す斜視図である。 本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置の機能構成の例を示すブロック図である。 （Ａ）及び（Ｂ）は、本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置における測定装置の別態様を示す斜視図であり、（Ａ）は、測定装置の開閉板の開放時を示し、（Ｂ）は、測定装置の開閉板の閉鎖時を示している。 （Ａ）及び（Ｂ）は、本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置における測定装置の別態様を示す断面図であり、（Ａ）は、測定装置の開閉板の開放時を示し、（Ｂ）は、測定装置の開閉板の閉鎖時を示している。 本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置における本体装置の画面への表示例を示す正面図である。 本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置におけるプラスチック判定処理を示すフローチャートである。

図１には、本発明の実施形態に係るプラスチック判定装置１０が斜視図にて示されている。

図１に示す如く、本実施形態に係るプラスチック判定装置１０には、測定部としての測定装置１２が設けられており、測定装置１２は、プラスチックを測定可能にされている。

測定装置１２の後側部分には、略板状の把持部１４が設けられており、把持部１４は、前後方向に延伸されて、測定者が把持可能にされている。測定装置１２の前部には、台形柱状の本体部１６が一体に設けられており、本体部１６は、把持部１４に対し下側に突出されると共に、下面が平面状にされている。本体部１６の上面には、スイッチ１８が設けられており、スイッチ１８は、測定者が把持部１４を把持する手の指（例えば親指又は人差し指）により操作（押圧操作）可能にされている。

図５（Ａ）に示す如く、本体部１６の下部には、略矩形柱状の測定空間２０が形成されており、測定空間２０は、周面が光反射性を有すると共に、下側に開放されている。測定空間２０の下端近傍には、矩形板状のガラス板２２が固定されており、ガラス板２２は、測定空間２０の下側近傍を閉塞している。測定空間２０の上部には、照射部としての光源２４が所定数（本実施形態では２個）固定されると共に、検出部としての分光センサ２６が固定されている。

図４及び図５の（Ａ）及び（Ｂ）に示す如く、本体部１６には、アタッチメント２８が装着可能にされている。アタッチメント２８には、略断面Ｖ字形板状の装着板３０が設けられており、装着板３０は、本体部１６に装着されて、上部が本体部１６の後面を被覆すると共に、下部が本体部１６の下面を被覆する。装着板３０の下部には、矩形状の開放孔３０Ａが貫通形成されており、開放孔３０Ａは、本体部１６の測定空間２０を下側に開放すると共に、側面が測定空間２０の側面と面一にされる。

装着板３０には、回動板３２が支持されており、回動板３２の後端部の上側には、略断面Ｖ字形板状の操作片３２Ａが設けられている。回動板３２は、操作片３２Ａにおいて、装着板３０の後部に回動可能に支持されており、操作片３２Ａ内は、後側に開放されている。回動板３２の下部には、略矩形板状の開閉板３２Ｂが設けられており、開閉板３２Ｂの後端部は、操作片３２Ａの下端部と一体にされている。回動板３２は、付勢されており、開閉板３２Ｂは、付勢力により装着板３０の下部に面接触されて、装着板３０の開放孔３０Ａ下側を閉鎖する（図５（Ｂ）参照）。測定者が把持部１４を把持する手の指（例えば人差し指）により操作片３２Ａを操作（回動操作）することで、開閉板３２Ｂが、付勢力に抗して下側に回動されて、開放孔３０Ａを下側に開放する（図５（Ａ）参照）。開閉板３２Ｂの上面には、反射部及び制限部としての矩形板状の反射板３４が設けられており、反射板３４の外面全体は、光反射性を有している。反射板３４は、上側に突出されており、開閉板３２Ｂが開放孔３０Ａの下側を閉鎖する際には、反射板３４が開放孔３０Ａ内に略嵌合される。

測定装置１２により測定するプラスチックが固形（厚肉）のものである場合には、本体部１６にアタッチメント２８が装着されない。そして、本体部１６の下面がプラスチックの表面に当接された状態で、スイッチ１８（下記本体装置３６の画面３６Ａでもよい）が操作されて、光源２４が光（近赤外線を含む）を測定空間２０及びガラス板２２を介してプラスチックに照射することで、プラスチックによって反射されて部分的に吸収された光を分光センサ２６が検出する。この際には、測定空間２０の下側がプラスチックによって閉鎖されることで、光源２４からの光が測定空間２０の下側に漏洩することが抑制される。

測定装置１２により測定するプラスチックがフィルム状（薄肉）のもの（図５の（Ａ）及び（Ｂ）のフィルムプラスチックＰ）である場合には、本体部１６にアタッチメント２８が装着される。そして、開閉板３２Ｂが下側に回動されて、プラスチック（複数重に重ねられたものでもよい）が装着板３０の下部と開閉板３２Ｂとの間に配置された後（図５（Ａ）参照）に、開閉板３２Ｂが上側に回動されて、プラスチックが、装着板３０の下部と開閉板３２Ｂとの間及び開放孔３０Ａの側面と反射板３４の側面との間に挟まれて、反射板３４の上側に配置される（図５（Ｂ）参照）。さらに、スイッチ１８（下記本体装置３６の画面３６Ａでもよい）が操作されて、光源２４が光（近赤外線を含む）を測定空間２０及びガラス板２２を介してプラスチックに照射することで、光が反射板３４によって反射されると共にプラスチックを往復透過して、プラスチックによって部分的に吸収された光を分光センサ２６が検出する。この際には、開放孔３０Ａの下側が反射板３４及び開閉板３２Ｂによって閉鎖されることで、光源２４からの光が開放孔３０Ａの下側に漏洩することが抑制される。

以上のように、測定装置１２では、分光センサ２６がプラスチックに部分的に吸収された光を検出することで、プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトルが測定される。

図１に示す如く、プラスチック判定装置１０には、本体装置３６が設けられており、本体装置３６は、測定装置１２に例えばＵＳＢコード３８によって電気的に接続されている。本体装置３６は、所謂タブレット端末にされており、本体装置３６には、報知部及び入力部としての画面３６Ａが設けられている。

図２に示す如く、プラスチック判定装置１０は、ＣＰＵ４０（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ：プロセッサ）、ＲＯＭ４２（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ４４（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ストレージ４６、ユーザインタフェース４８、報知部５０及び測定装置１２を有している。各構成は、バス５２を介して相互に通信可能に接続されている。

ＣＰＵ４０は、中央演算処理ユニットであり、各種プログラムを実行したり、各部を制御したりする。すなわち、ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ４２又はストレージ４６からプログラムを読み出し、ＲＡＭ４４を作業領域としてプログラムを実行する。ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ４２又はストレージ４６に記録されているプログラムに従って、上記各構成の制御及び各種の演算処理を行う。本実施形態では、ＲＯＭ４２又はストレージ４６には、プラスチックの材質を判定するプラスチック判定プログラムが格納されている。

ＲＯＭ４２は、各種プログラム及び各種データを格納する。ＲＡＭ４４は、作業領域として一時的にプログラム又はデータを記憶する。ストレージ４６は、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）又はＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）により構成され、各種プログラム及び各種データを格納する。

ユーザインタフェース４８は、プラスチック判定装置１０をユーザが使用する際のインタフェースである。ユーザインタフェース４８は、例えば、ユーザによるタッチ操作を可能とするタッチパネルを備えた液晶ディスプレイ（本体装置３６の画面３６Ａ）、ユーザによる音声入力を受け付ける音声入力受付部、及び、ユーザが押下可能なボタン等の少なくとも１つを含んでいる。報知部５０は、プラスチック判定装置１０を使用するユーザに例えば本体装置３６の画面３６Ａへの表示及び音の発生等により報知を行う。

上記のプラスチック判定プログラムを実行する際に、プラスチック判定装置１０は、上記のハードウェア資源を用いて、各種の機能を実現する。プラスチック判定装置１０が実現する機能構成について説明する。

図３に示す如く、プラスチック判定装置１０は、機能構成として、測定装置１２、記憶部５４（ライブラリ）、判定部５６及び報知部５０を有している。各機能構成は、ＣＰＵ４０が、ＲＯＭ４２又はストレージ４６に記憶されたプラスチック判定プログラムを読み出し、ＲＡＭ４４に展開して実行することにより実現される。

記憶部５４には、少なくとも１個の比較プラスチックについて、比較プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトルである比較スペクトルが測定装置１２により測定されることで、比較スペクトルが記憶される。

さらに、記憶部５４には、判定プラスチックの材質を判定するための下記相関係数の閾値（例えば０．８）が記憶されている。また、記憶部５４に記憶される閾値は、例えば本体装置３６の画面３６Ａの操作により、変更可能にされている。

判定部５６では、測定装置１２により測定された判定プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトルである判定スペクトルに基づき、判定プラスチックの材質が判定される。

判定部５６では、判定プラスチックの材質の判定に、近赤外線分光法が使用される。さらに、判定スペクトルと比較スペクトルとに対し、２次微分処理が行われた上で、前処理（ノイズ除去、平滑化及び平均中央化の処理、例えば所謂ＳＧフィルタ処理及びＳＮＶ処理）が行われた後に、判定スペクトルの比較スペクトルに対する相関係数（相関値、所謂ピアソンの積率相関係数）が類似度（一致度）として算出される。そして、判定スペクトルの比較スペクトルに対する相関係数が高い程、判定プラスチックが当該比較スペクトルを有する比較プラスチックに類似すると判断されることで、相関係数が閾値を超えている場合に、当該相関係数の比較スペクトルを有する比較プラスチックが判定プラスチックの材質であると判定される。

報知部５０は、本体装置３６の画面３６Ａに、判定部５６で判定された判定プラスチックの材質又は判定プラスチックの材質が不明であることと、判定スペクトル及び判定スペクトルとの相関係数が最も高い比較スペクトルの少なくとも一方の波形と、判定プラスチックに類似する比較プラスチックの１位から３位のランキングと、１位から３位の比較スペクトルに対する判定スペクトルの相関係数の１００倍値と、判定プラスチックの材質が１位から３位の比較プラスチックであるか否か（１位から３位の相関係数が閾値を超えているか否か）を表す記号（言語以外の表意記号、例えば〇又は×等）と、を表示可能にされる（例えば図６参照）。

次に、本実施形態の作用を説明する。

以上の構成のプラスチック判定装置１０では、プラスチック判定処理（図７参照）が行われる。プラスチック判定処理は、ＣＰＵ４０が、ＲＯＭ４２又はストレージ４６からプラスチック判定プログラムを読み出し、ＲＡＭ４４に展開して実行することにより、行なわれる。

プラスチック判定処理では、ステップ１００において、少なくとも１個の比較プラスチック（例えば、sample1からsample4の４個の比較プラスチック）につき、比較プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトル（比較スペクトル）が測定装置１２により測定されて、比較スペクトルが取得される。

さらに、ステップ１０２において、判定プラスチックに部分的に吸収された近赤外線のスペクトル（判定スペクトル）が測定装置１２により測定されて、判定スペクトルが取得される。

そして、ステップ１０４において、各比較スペクトル及び判定スペクトルが読み出されて、各比較スペクトル及び判定スペクトルの所定波長範囲（例えば１５７０ｎｍ以上１９２８ｎｍ以下）が切り出された上で、判定スペクトルの各比較スペクトルに対する相関係数（相関値）が所定波長範囲において算出される。さらに、相関係数の高い順のランキングが判断されて、比較プラスチックの判定プラスチックに類似する順のランキングが判断される。

次に、ステップ１０６において、ランキングが１位から３位の相関係数が閾値（例えば０．８）を超えているか否かが判断される。

ステップ１０６において、ランキングが１位から３位の相関係数の少なくとも１つが閾値を超えていると判断された場合には、ステップ１０８において、当該相関係数の少なくとも１つの比較スペクトルを有する比較プラスチックが判定プラスチックの材質であると判定される。ステップ１０６において、ランキングが１位から３位の相関係数が閾値を超えていないと判断された場合には、ステップ１１０において、判定プラスチックの材質が不明であると判定される。そして、プラスチック判定処理の判定結果が本体装置３６の画面３６Ａに表示されて（例えば図６参照）、プラスチック判定処理が終了される。

ここで、上述の如く、判定スペクトルの比較スペクトルに対する相関係数が類似度（一致度）として判定される。このため、比較プラスチックの材質が不明である（例えば汎用プラスチックでない）場合でも、判定プラスチックの材質の比較プラスチックとの類似度（一致度）を判定できる。

さらに、比較プラスチックが複数材質のプラスチックが複合されたもの（例えば複数材質のプラスチックの複合率が多様に変更されたもの）であっても、判定スペクトルの比較スペクトルに対する相関係数が類似度として判定される。このため、当該比較プラスチックとの判定プラスチックの材質の類似度を判定できる。

また、判定スペクトルの比較スペクトルに対する相関係数が閾値を超えている場合に、判定プラスチックの材質が比較プラスチックであると判定される。このため、判定プラスチックの材質が比較プラスチックであることを判定できる。

さらに、閾値が変更可能にされている。このため、判定プラスチックの材質の判定を調整できる。

しかも、判定プラスチックの材質が比較プラスチックであるか否かが、本体装置３６の画面３６Ａに、記号（例えば〇又は×等）の表示により報知される（例えば図６参照）。このため、言語を使用せずに判定プラスチックの材質の判定結果を報知でき、言語が通じないユーザでも、判定プラスチックの材質の判定結果を認識できる。

また、測定装置１２により比較スペクトル及び判定スペクトルが測定される。このため、比較スペクトル及び判定スペクトルを容易に取得できる。

さらに、測定装置１２の本体部１６にアタッチメント２８が装着された状態で、フィルムプラスチックＰ（フィルム状の比較プラスチック又は判定プラスチック）が、アタッチメント２８における装着板３０の下部と開閉板３２Ｂとの間及び開放孔３０Ａの側面と反射板３４の側面との間に挟まれて、反射板３４の上側に配置される（図５（Ｂ）参照）。そして、光源２４が光をフィルムプラスチックＰに照射することで、光が反射板３４によって反射されると共にフィルムプラスチックＰを往復透過して、フィルムプラスチックＰによって部分的に吸収された光を分光センサ２６が検出する。このため、光がフィルムプラスチックＰを往復透過してフィルムプラスチックＰに吸収されるため、フィルムプラスチックＰについての近赤外線のスペクトルの検出精度（測定精度）を高くできる。

しかも、上述の如く、フィルムプラスチックＰが開放孔３０Ａの側面と反射板３４の側面との間に挟まれる。このため、測定装置１２外からフィルムプラスチックＰ内に侵入してフィルムプラスチックＰ内を通過する外乱光が反射板３４の側面によって反射されることで、外乱光が開放孔３０Ａ（反射板３４側）に侵入することが制限される。このため、フィルムプラスチックＰ内を通過する外乱光を分光センサ２６が検出することを抑制でき、フィルムプラスチックＰについての近赤外線のスペクトルの検出精度（測定精度）を一層高くできる。

なお、上記実施形態では、判定プラスチックの材質が比較プラスチックであるか否かが、記号の表示により報知される。しかしながら、これに代えて、又は、これと共に、判定プラスチックの材質が比較プラスチックであるか否かが、音（言語以外の表意音、例えばドアチャイム音又はブザー音等）の発生と色彩（例えば青色又は赤色等）の表示との少なくとも一方により報知されてもよい。

さらに、上記実施形態では、測定装置１２及び本体装置３６を備える。しかしながら、測定装置１２のみを備えて本体装置３６を備えなくてもよく、本体装置３６のみを備えて測定装置１２を備えなくてもよい。

また、上記実施形態では、プラスチック判定処理をＣＰＵ４０がソフトウェア（プログラム）を読み込んで実行する。しかしながら、プラスチック判定処理をＣＰＵ以外の各種のプロセッサが実行してもよい。この場合のプロセッサとしては、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等の製造後に回路構成を変更可能なＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）及びＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が例示される。また、プラスチック判定処理を、これらの各種のプロセッサのうちの１つで実行してもよいし、同種又は異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡ、及びＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ等）で実行してもよい。また、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造は、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路である。

さらに、上記実施形態では、プラスチック判定プログラムがＲＯＭ４２又はストレージ４６に予め記憶（インストール）されているが、これに限定されない。プログラムは、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ－ＲＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）及びＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）メモリ等の記録媒体に記録された形態で提供されてもよい。また、プログラムは、ネットワークを介して外部装置からダウンロードされる形態としてもよい。

１０ プラスチック判定
１２ 測定装置（測定部）
２４ 光源（照射部）
２６ 分光センサ（検出部）
３４ 反射板（反射部、制限部）
５０ 報知部
５４ 記憶部
５６ 判定部
Ｐ フィルムプラスチック

Claims (4)

1. 比較対象のプラスチックである比較プラスチックに照射されて部分的に吸収された赤外線のスペクトルである比較スペクトルが記憶される記憶部と、
   前記記憶部に記憶された比較スペクトルに基づき材質を判定するプラスチックである判定プラスチックに照射されて部分的に吸収された赤外線のスペクトルである判定スペクトルの比較スペクトルとの類似度を判定する判定部と、
   前記記憶部及び前記判定部の少なくとも１つと通信可能にされ、比較スペクトル及び判定スペクトルの少なくとも１つを測定する測定部と、
   を備え、
   前記測定部は、
   フィルム状の比較プラスチック又は判定プラスチックであるフィルムプラスチックに赤外線を照射する照射部と、
   前記照射部が照射してフィルムプラスチックを透過した赤外線を反射する反射部と、
   前記反射部が反射してフィルムプラスチックを透過した赤外線を検出する検出部と、
   フィルムプラスチック内を面内方向に通過する前記照射部以外からの光をフィルムプラスチックの面内方向における前記反射部からの離間側に反射して当該光の前記反射部側への侵入を制限する制限部と、
   を有するプラスチック判定装置。
2. 前記判定部は、判定スペクトルの比較スペクトルとの類似度が閾値を超えている場合に判定プラスチックの材質を比較プラスチックと判定する請求項１記載のプラスチック判定装置。
3. 前記閾値が変更可能にされる請求項２記載のプラスチック判定装置。
4. 前記判定部が判定プラスチックの材質を比較プラスチックと判定したこと及び前記判定部が判定プラスチックの材質を比較プラスチックでないと判定したことの少なくとも１つを記号、音及び色彩の少なくとも１つにより報知する報知部を備える請求項１～請求項３の何れか１項記載のプラスチック判定装置。

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