DE2739585A1 - Spektrophotometer - Google Patents
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- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 22
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 6
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 3
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000001739 density measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 1
- 239000013558 reference substance Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/26—Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters
Description
Anmelderin: International Business Machines
Corporation, Armonk, N. Y. 10504 pr/bm
Die Erfindung betrifft ein Spektrophotometer mit einem Interferenzfilter mit in Abhängigkeit vom Einfallsort
sich ändernder Filtercharakteristik.
Bei der Durchführung von Spektralanalysen oder bei spektrophotometrisehen
Untersuchungen wird die zu analysierende Strahlung in verschiedene Wellenlängen enthaltende Komponenten
aufgespalten und die auf die einzelnen Wellenlängen entfallenden Intensitäten gemessen. Alle Spektrophotometer
enthalten im wesentlichen eine Lichtquelle, Mittel zur Aufspaltung des von der Lichtquelle ausgehenden Lichtes in
verschiedene Wellenlängen enthaltende Komponenten und aus Mitteln zur Messung der auf die einzelnen Wellenlängen entfallenden
Intensitäten. In der US-Patentschrift 3 885 879 wird eine Vorrichtung zur Aufspaltung von Licht in verschiedenen
Wellenlängen zugeordnete Komponenten beschrieben, die aus einem relativ zu einer Glasfaseroptik verschiebbaren
keilförmigen Interferenzfilter besteht. Das Filter ist zwischen der Lichtquelle und der Glasfaseroptik angeordnet
und läßt, wenn es in bezug auf die Glasfaseroptik seitlich verschoben wird, Strahlungen mit unterschiedlichen Wellenlängen
durch.
Durch die zeitlich sequentielle Abtastung und Messung der Intensitäten der auf die einzelnen Wellenlängen entfallenden
Spektralanteile wird nicht nur die zur Ermittlung der Spektralverteilung erforderliche Zeit verlängert, sondern die ganze
Vorrichtung wird wegen der relativ zueinander zu verschiebenden Komponenten konstruktiv kompliziert und störanfällig,
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da ein Eindringen von Staub und eine durch äußere mechanische
und thermische Einwirkungen bedingte Veränderung der vorgeschriebenen Relativlagen bei längerem, insbesondere bei
rauhem Betrieb nicht vermieden werden kann.
Die Erfindung geht von der Aufgabe aus, ein wenig störanfälliges Spektrophotometer anzugeben, das bei einfachem
konstruktivem Aufbau und geringem Raumbedarf Messungen von spektralen Verteilungen in extrem kurzen Zeitabschnitten
ermöglicht. Darüberhinaus soll die Justage des erfindungsgemäßen Spektrophotometers sehr einfach und nur nach relativ
langen Benutzungszeiten erforderlich sein. Diese Aufgaben werden durch die im Anspruch 1 gekennzeichnete Erfindung
gelöst.
Gemäß einer besonders vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung wird ein Glasfaserbündel mit einer Seite eines
keilförmigen Interferenzfilters verbunden, dessen andere Seite mit einer linearen Photodiodenanordnung verbunden
ist. Das eine zu analysierende Probe durchsetzende oder an einer solchen Probe reflektierte Licht wird durch das
glasfaseroptische Bündel zunächst an die eine Seite des Filters übertragen, wobei verschiedene Bereiche des Filters
Licht mit verschiedenen Wellenlängen zu der an der gegenüberliegenden Seite befestigten Photodiodenanordnung durchlassen.
Jede Photodiode erzeugt ein elektrisches Ausgangssignal, das proportional zu der auf sie fallenden Lichtmenge
ist. Durch Messung der am Ausgang der verschiedenen Photodioden auftretenden elektrischen Signale können die auf die
einzelnen Wellenlängen entfallenden Lichtmengen bestimmt werden.
Im Gegensatz zu den vorbekannten Spektrophotometern enthält
das Spektrophotometer gemäß der vorliegenden Erfindung keinerlei bewegliche Teile. Ist die Vorrichtung einmal
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zusammengesetzt und die einzelnen Komponenten miteinander,
beispielsweise durch Verkleben verbunden, können diese ihre Relativlagen in bezug aufeinander nicht mehr ändern, so daß
jede der Photodioden dauernd einer bestimmten und bekannten Lichtwellenlänge zugeordnet bleibt. Diese Vorrichtung ist
daher besonders als tragbares Spektrophotometer geeignet.
Die Erfindung wird anschließend anhand der Fign. näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 die Seitenansicht eines Ausführungsbeispiels der Erfindung,
Fig. 2 eine Schnittansicht durch die in Fig. 1 dargestellte Vorrichtung.
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel wird das zu analysierende Licht über ein glasfaseroptisches Bündel 1
übertragen, dessen Lichtaustrittsfläche mittels einer Schicht 5 mit einem keilförmigen Filter 3 verbunden ist. Die Stränge
oder die einzelnen Fasern des Glasfaserbündeis 1 sind über
die obere Fläche des keilförmigen Filters verteilt.
An der gegenüberliegenden Seite des keilförmigen Filters 3 ist eine lineare Photodiodenanordnung 7 angeordnet, die mit diesem
mittels einer beispielsweise aus Kitt bestehenden Schicht 9 verbunden ist. Bei einer besonders vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung besteht die lineare Photodiodenanordnung
7 aus 512 Photodioden, deren Mittelpunkte etwa 25 μ voneinander entfernt sind. Für viele Anwendungen genügt jed och
eine wesentlich geringere Anzahl von Photodioden. Beispielsweise genügen bei derartigen Vorrichtungen zur Durchführung
von einfachen Farbanalysen 16 Dioden, die den Bereich
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von 400 nm bis 700 nm umfassen. Für die meisten Anwendungen genügen 128 Photodioden.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, sind am Ausgang des faseroptischen Bündels 1 die einzelnen Stränge oder Fasern 15 gleichmäßig
über die obere Fläche des keilförmigen Filters 3 verteilt. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel liegt der vom
keilförmigen Filter 3 durchgelassene Bereich zwischen 400 nm und 700 nm, d.h., im sichtbaren Bereich. Den einzelnen, verteilt
angeordneten Fasern 15 ist eine Anzahl von in einer linearen Anordnung 7 angeordneten Photodioden 17 zugeordnet.
Jede der Photodioden 17 erhält Licht, das durch einen kleinen Bereich des keilförmigen Filters 3 durchgelassen wurde und
erzeugt an ihrem Ausgang ein über eine Leitung 19 zu übertragendes
Signal. Alle Leitungen 19 sind mit einem Schalter (Fig. 1) verbunden, durch den ein auf einer beliebigen Leitung
19 auftretendes Signal zur Weiterleitung zu einer Meßvorrichtung ausgewählt werden kann.
Die vor der Inbetriebnahme des in den Fign. 1 und 2 dargestellten Ausführungsbeispiels erforderliche Eichung kann
in besonders einfacher Weise dadurch durchgeführt werden, daß dem faseroptischen Bündel 1 monochromatische Strahlung
mit bekannten Wellenlängen zugeführt wird und die an den Ausgängen der Photodioden auftretenden Signale für jede Wellenlänge
festgestellt werden. Es ist ohne weiteres einleuchtend, daß eine Reihe derartiger Messungen die zur Erstellung von
Eichkurven erforderlichen Werte liefert und die Festeilung der den einzelnen Photodioden zugeordneten Wellenlängen
ermöglicht. Da das erfindungsgemäße Spektralphotometer als versiegelte Einheit ausgeführt werden kann, sind derartige
Eichungen nur relativ selten nötig. Es wird jedoch in der Regel erforderlich sein, Eichungen in regelmäßigen Abständen
durchzuführen, da die Anzeigegenauigkeit der Vorrichtung durch verschiedene !Anstände, beispielsweise durch Alterungs-
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vorgänge, insbesondere durch Alterungsvorgänge am keilförmigen
Filter 3 beeinträchtigt werden kann. Ein besonderer Vorteil einer vor der Inbetriebnahme durchgeführten Eichung liegt
vor allem darin, daß die Schichten 5 und 9 zur Verbindung der faseroptischen Fasern und der Diodenanordnung mit dem
keilförmigen Filter aus praktisch jedem strahlungsdurchlässigen Material hergestellt werden können, da jede Beeinflußung
der die Schichten 5 und 9 durchsetzenden Strahlung durch eine vor Inbetriebnahme durchgeführte Eichung automatisch
berücksichtigt werden kann.
Außer der oben beschriebenen Eichung sollte das erfindungsgemäße Spektrophotometer auch in an sich bekannter Weise unter
Verwendung eines bekannten Bezugswertes geeicht werden. Zur Eichung der Vorrichtung für Transmissionsdichtemessungen kann
beispielsweise als Bezugsprobe destiliertes Wasser verwendet werden. Zur Eichung der Vorrichtung für Reflexionsdichtemessungen
können Bezugsmaterialien wie Magnesiumoxid oder Bariumsulfat verwendet werden.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich nicht nur, wie das oben beschriebene Ausführungsbeispiel, auf Einstrahlspektrophotometer,
sondern kann auch im Zusammenhang mit Doppe1-strahlspektrophotometern
Verwendung finden. Bei einem Doppelstrahlsystem würden zwei Sätze von verteilten Fasern
verwendet werden. Ein Satz würde das von einer Referenzquelle oder Referenzsubstanz kommende Licht und das andere das vom
zu untersuchenden Material kommende Licht übertragen. Die beiden Fasersätze können über einen einzigen Diodensatz oder
über zwei voneinander getrennte Diodensätze verteilt werden.
Im oben beschriebenen Ausführungsbeispiel sind die faseroptischen Fasern gleichmäßig über eine Fläche des keilförmigen
Filters verteilt. Es ist jedoch leicht einzusehen, daß bei dieser Anorndung die Dioden im Bereich kürzerer WeIlen-
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längen schwächere Ausgangssignale erzeugen als die Dioden im Bereich längerer Wellenlängen. Sollen über das gesamte
Spektrum einheitliche Signalhöhen auftreten, so werden die Fasern so über die Fläche des Filters verteilt, daß die
Dichte dieser Fasern im Bereich kurzer Wellenlängen größer ist als im Bereich langer Wellenlängen. In diesem Fall ist
die Dichte der Faserverteilung am kurzwelligen Ende des Filters höher als am langwelligen Ende. Es ist für den Fachmann
offenkundig, daß die spezielle Dichteverteilung der Glasfasern von der verwendeten Lichtquelle abhängig ist.
Bei dem in den Fign. 1 und 2 dargestellten Ausführungsbeispiel wird das zu analysierende Licht durch das faseroptische
Bündel 1 und die Fasern 15 zum keilförmigen Filter übertragen, das von dem zu den Photodioden 17 der Anordnung
7 gelangenden Licht durchsetzt wird. Es ist aber auch möglich, das Licht vom zu untersuchenden Objekt auf andere Weise
zum Filter zu übertragen. Beispielsweise kann die obere Fläche des keilförmigen Filters mit einem kuppeiförmigen Element
verbunden sein, in dem das zu untersuchende Objekt angeordnet ist, so daß das keilförmige Filter ein Fenster bildet, durch
das das vom zu untersuchenden Objekt reflektierte oder dieses durchsetzende Licht hindurchtritt.
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Claims (7)
1.1, Spektrophotometer mit einem den zu untersuchenden
Spektralbereich umfassenden Interferenzfilter mit in Abhängigkeit vom Einfallsort sich ändernder
Filtercharakteristik, gekennzeichnet durch Mittel (1, 15) zur Verteilung der zu analysierenden
Strahlung auf eine Seite des Filters (3) und durch eine aus einer Vielzahl von Detektoren (17) bestehende,
an der gegenüberliegenden Seite des Filters angeordnete Detektorenanordnung (7) zur Messung der Intensität
der einzelnen Frequenzbereiche.
2. Spektrophotometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das Interferenzfilter (3) einen linearen Frequenzverlauf aufweist.
3. Spektrophotometer nach den Ansprüchen 1 und 2,
dadurch gekennzeichnet, daß das Interferenzfilter (3) keilförmig ausgebildet ist.
4. Spektrophotometer nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Detektoranordnung (7) als lineare Photodiodenanordnung ausgebildet ist.
5. Spektrophotometer nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch Mittel zum
selektiven Verbinden der Diodenausgänge (19) mit einer Auswertvorrichtung (11).
6. Spektrophotometer nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Verteilung der zu analysierenden Strahlung durch einen als Glasfaserbündel (1) ausgebildeten Lichtleiter
erfolgt, der ausgangsseitig in eine Vielzahl von
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ORIGINAL INSPECTED
linear über die eine Seite des Filters (3) verteilten und mit diesen verbunden Strängen oder Fasern ausläuft
.
7. Spektrophotometer nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Verteilung der zu analysierenden Strahlung durch einen als Glasfaserbündel (1) ausgebildeten Lichtleiter
erfolgt, der ausgangsseitig in eine Vielzahl von mit unterschiedlicher Dichte über die eine Seite des Filters
verteilten und mit diesen verbundenen Strängen oder Fasern ausläuft.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/724,795 US4054389A (en) | 1976-09-23 | 1976-09-23 | Spectrophotometer with photodiode array |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2739585A1 true DE2739585A1 (de) | 1978-03-30 |
DE2739585C2 DE2739585C2 (de) | 1983-12-15 |
Family
ID=24911943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2739585A Expired DE2739585C2 (de) | 1976-09-23 | 1977-09-02 | Spektrophotometer |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4054389A (de) |
JP (1) | JPS5849807B2 (de) |
CA (1) | CA1082485A (de) |
DE (1) | DE2739585C2 (de) |
FR (1) | FR2365792A1 (de) |
GB (1) | GB1542347A (de) |
IT (1) | IT1114128B (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3208447A1 (de) * | 1981-03-09 | 1982-09-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Farbmodulierter faseroptischer wandler |
DE3225610A1 (de) * | 1981-07-08 | 1983-02-03 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokyo | Chemische analysiervorrichtung |
DE3247355A1 (de) * | 1982-12-22 | 1984-06-28 | Merck Patent Gmbh, 6100 Darmstadt | Geraet zur quantitativen auswertung von duennschichtchromatogrammen |
DE3305979A1 (de) * | 1983-02-21 | 1984-08-23 | Richard 8901 Neusäß Wallner | Lichtverdichter |
DE3736201A1 (de) * | 1987-10-26 | 1989-05-03 | Siemens Ag | Wellenlaengenselektives diodenarray |
DE3833602A1 (de) * | 1988-10-03 | 1990-02-15 | Krupp Gmbh | Spektrometer zur gleichzeitigen intensitaetsmessung in verschiedenen spektralbereichen |
Families Citing this family (85)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4264205A (en) * | 1977-08-16 | 1981-04-28 | Neotec Corporation | Rapid scan spectral analysis system utilizing higher order spectral reflections of holographic diffraction gratings |
US4259014A (en) * | 1979-04-03 | 1981-03-31 | Princeton Applied Research Corporation | Fiber optic polychromator |
US4375919A (en) * | 1979-04-25 | 1983-03-08 | Baylor University | Multiple entrance aperture dispersive optical spectrometer |
DK156381A (da) * | 1980-04-08 | 1981-10-09 | Instruments Sa | Monokromator |
FR2479981A1 (fr) * | 1980-04-08 | 1981-10-09 | Instruments Sa | Monochromateur |
US4371783A (en) * | 1980-11-03 | 1983-02-01 | Hoffmann-La Roche Inc. | Multichannel fiber optic light guide for capsule inspection |
JPS57108766A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-06 | Shimadzu Corp | Multi-wavelength spectroscope |
JPS57151830A (en) * | 1981-03-13 | 1982-09-20 | Union Giken:Kk | Spectrophotometer |
US5231595A (en) * | 1983-06-06 | 1993-07-27 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Pyrometer |
DE3686184T2 (de) * | 1985-03-21 | 1993-02-25 | Abbott Lab | Spektralfotometer. |
US4657398A (en) * | 1985-06-10 | 1987-04-14 | Miles Laboratories, Inc. | Simultaneous multiple wavelength photometer |
GB2209210A (en) * | 1987-09-09 | 1989-05-04 | Inst Fiz An Bssr | Apparatus for measuring spectral characteristics of laser radiation |
US4957371A (en) * | 1987-12-11 | 1990-09-18 | Santa Barbara Research Center | Wedge-filter spectrometer |
US4971447A (en) * | 1988-03-17 | 1990-11-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for measuring concentration of chemical substances |
DE3838461A1 (de) * | 1988-11-12 | 1990-05-23 | Krebsoege Gmbh Sintermetall | Pulvermetallurgischer werkstoff auf kupferbasis und dessen verwendung |
US5272345A (en) * | 1989-09-22 | 1993-12-21 | Ada Technologies, Inc. | Calibration method and apparatus for measuring the concentration of components in a fluid |
US5070246A (en) * | 1989-09-22 | 1991-12-03 | Ada Technologies, Inc. | Spectrometer for measuring the concentration of components in a fluid stream and method for using same |
DE4015066A1 (de) * | 1990-05-10 | 1991-11-14 | Hans Wilhelm Bergmann | Vorrichtung und verfahren zur automatischen kontrolle von zahnbehandlungen und chirurgischen eingriffen mit hilfe gepulster laser |
US5148288A (en) * | 1990-08-29 | 1992-09-15 | Savitar, Inc. | Standardized color calibration of electronic imagery |
US5157506A (en) * | 1990-08-29 | 1992-10-20 | Savitar, Inc. | Standardized color calibration of electronic imagery |
JPH0370330U (de) * | 1990-11-01 | 1991-07-15 | ||
US5272518A (en) * | 1990-12-17 | 1993-12-21 | Hewlett-Packard Company | Colorimeter and calibration system |
CA2107062A1 (en) * | 1993-09-27 | 1995-03-28 | Ishiang Shih | Methods for wavelength determination of monochromatic light beams |
US5886783A (en) * | 1994-03-17 | 1999-03-23 | Shapanus; Vincent F. | Apparatus for isolating light signals from adjacent fiber optical strands |
DE59402605D1 (de) * | 1994-05-19 | 1997-06-05 | Schablonentechnik Kufstein Ag | Einrichtung zur Ermittlung des Farbwerts eines Lichtstroms |
US5731581A (en) * | 1995-03-13 | 1998-03-24 | Ohmeda Inc. | Apparatus for automatic identification of gas samples |
US5760910A (en) | 1995-06-07 | 1998-06-02 | Masimo Corporation | Optical filter for spectroscopic measurement and method of producing the optical filter |
US5777329A (en) * | 1995-07-21 | 1998-07-07 | Texas Instruments Incorporated | Bolometer array spectrometer |
US6307629B1 (en) | 1997-08-12 | 2001-10-23 | Lj Laboratories, L.L.C. | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6239868B1 (en) | 1996-01-02 | 2001-05-29 | Lj Laboratories, L.L.C. | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6254385B1 (en) | 1997-01-02 | 2001-07-03 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth |
US6373573B1 (en) | 2000-03-13 | 2002-04-16 | Lj Laboratories L.L.C. | Apparatus for measuring optical characteristics of a substrate and pigments applied thereto |
US5759030A (en) | 1996-01-02 | 1998-06-02 | Lj Laboratories, L.L.C. | Method for determing optical characteristics of teeth |
US5966205A (en) | 1997-07-01 | 1999-10-12 | Lj Laboratories, Llc | Method and apparatus for detecting and preventing counterfeiting |
US5880826A (en) | 1997-07-01 | 1999-03-09 | L J Laboratories, L.L.C. | Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth |
US5714759A (en) * | 1996-02-23 | 1998-02-03 | Ohmeda Inc. | Optical system with an extended, imaged source |
US5731583A (en) * | 1996-02-23 | 1998-03-24 | Ohmeda Inc. | Folded optical path gas analyzer with cylindrical chopper |
US6043909A (en) * | 1996-02-26 | 2000-03-28 | Imagicolor Corporation | System for distributing and controlling color reproduction at multiple sites |
US6233047B1 (en) | 1997-01-02 | 2001-05-15 | Lj Laboratories, L.L.C. | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6301004B1 (en) | 2000-05-31 | 2001-10-09 | Lj Laboratories, L.L.C. | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6271913B1 (en) | 1997-07-01 | 2001-08-07 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6501542B2 (en) | 1998-06-30 | 2002-12-31 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6449041B1 (en) | 1997-07-01 | 2002-09-10 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6870616B2 (en) | 1998-06-30 | 2005-03-22 | Jjl Technologies Llc | Spectrometer apparatus for determining an optical characteristic of an object or material having one or more sensors for determining a physical position or non-color property |
AU9119098A (en) | 1997-08-25 | 1999-03-16 | Richard A. Holub | A system for distributing and controlling color reproduction at multiple sites |
US5999271A (en) * | 1998-06-01 | 1999-12-07 | Shih; Ishiang | Methods and devices to determine the wavelength of a laser beam |
US6246479B1 (en) * | 1998-06-08 | 2001-06-12 | Lj Laboratories, L.L.C. | Integrated spectrometer assembly and methods |
US6246471B1 (en) | 1998-06-08 | 2001-06-12 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6573984B2 (en) | 1998-06-30 | 2003-06-03 | Lj Laboratories Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of teeth |
US6249348B1 (en) | 1998-11-23 | 2001-06-19 | Lj Laboratories, L.L.C. | Integrated spectrometer assembly and methods |
US6538726B2 (en) | 1998-07-10 | 2003-03-25 | Lj Laboratories, Llc | Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
US6057925A (en) * | 1998-08-28 | 2000-05-02 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Compact spectrometer device |
US6690464B1 (en) | 1999-02-19 | 2004-02-10 | Spectral Dimensions, Inc. | High-volume on-line spectroscopic composition testing of manufactured pharmaceutical dosage units |
US6519037B2 (en) * | 1999-12-23 | 2003-02-11 | Lj Laboratories, Llc | Spectrometer having optical unit including a randomized fiber optic implement |
US6362888B1 (en) | 1999-12-23 | 2002-03-26 | Lj Laboratories, L.L.C. | Spectrometer assembly |
US6414750B2 (en) | 2000-01-10 | 2002-07-02 | Lj Laboratories, L.L.C. | Spectrometric apparatus and method for measuring optical characteristics of an object |
JP2004505267A (ja) * | 2000-07-28 | 2004-02-19 | 大塚電子株式会社 | スペクトル光検出装置 |
JP2002277326A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-25 | Nireco Corp | 分光測光装置 |
WO2002088681A1 (fr) * | 2001-04-25 | 2002-11-07 | Hiromu Maeda | Instrument portable pour le controle qualite interne |
US6630999B2 (en) * | 2001-05-01 | 2003-10-07 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Color measuring sensor assembly for spectrometer devices |
EP1495292A4 (de) * | 2001-12-21 | 2012-05-09 | Malvern Instr Inc | Spektrometrische prozessüberwachung |
US6903813B2 (en) | 2002-02-21 | 2005-06-07 | Jjl Technologies Llc | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
AU2003230811A1 (en) * | 2002-04-04 | 2003-10-27 | Euro-Celtique, S.A. | Method and apparatus for determining the homogeneity of a granulation during tableting |
KR20040110071A (ko) * | 2002-04-23 | 2004-12-29 | 히로무 마에다 | 소형 패키지 분광센서유닛 |
EP1509753A2 (de) * | 2002-05-09 | 2005-03-02 | Euro-Celtique, S.A. | Spektroskopischer analysierer für einen mischer |
US7092101B2 (en) * | 2003-04-16 | 2006-08-15 | Duke University | Methods and systems for static multimode multiplex spectroscopy |
US7459713B2 (en) * | 2003-08-14 | 2008-12-02 | Microptix Technologies, Llc | Integrated sensing system approach for handheld spectral measurements having a disposable sample handling apparatus |
WO2005115737A2 (en) * | 2004-03-22 | 2005-12-08 | Quantaspec Inc. | System and method for detecting and identifying an analyte |
US20060146330A1 (en) * | 2005-01-04 | 2006-07-06 | Selvan Maniam | Color measurements of ambient light |
JP2008232843A (ja) * | 2007-03-20 | 2008-10-02 | Casio Comput Co Ltd | 分光強度測定素子 |
FR2939887B1 (fr) * | 2008-12-11 | 2017-12-08 | Silios Tech | Dispositif de spectroscopie optique comportant une pluralite de sources d'emission |
FR2956205B1 (fr) | 2010-02-11 | 2013-03-01 | Commissariat Energie Atomique | Interferometre imageur micro-usine |
US9347829B2 (en) * | 2010-05-07 | 2016-05-24 | President And Fellows Of Harvard College | Integrated nanobeam cavity array spectrometer |
US20140247442A1 (en) * | 2010-07-27 | 2014-09-04 | Microptix Technologies, Llc | Spectroradiometer device and applications of same |
JP5878723B2 (ja) * | 2011-10-04 | 2016-03-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光センサ |
JP5988690B2 (ja) * | 2012-05-18 | 2016-09-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光センサ |
JP5926610B2 (ja) | 2012-05-18 | 2016-05-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光センサ |
JP5875936B2 (ja) * | 2012-05-18 | 2016-03-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光センサ |
CN102768187B (zh) * | 2012-07-11 | 2014-04-23 | 北京利德曼生化股份有限公司 | 一种波长自由选择的方法 |
WO2014049861A1 (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-03 | パイオニア株式会社 | 分光器 |
EP3722758B1 (de) * | 2012-11-13 | 2023-11-01 | Viavi Solutions Inc. | Tragbares spektrometer |
US9885655B2 (en) | 2012-11-13 | 2018-02-06 | Viavi Solutions Inc. | Spectrometer with a relay lightpipe |
DE102015102595B4 (de) | 2015-02-24 | 2021-01-28 | Karl Storz Se & Co. Kg | Optische Beobachtungsanordnung, Kamera, Endoskop oder Exoskop sowie Endoskop- oder Exoskopsystem |
US9958325B2 (en) * | 2016-06-21 | 2018-05-01 | Metal Power Analytical (I) Pvt. Ltd. | Multi-scan optical system |
CN113168113A (zh) * | 2018-11-27 | 2021-07-23 | ams有限公司 | 使用灰度光刻形成三维结构 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1772726B2 (de) * | 1967-06-30 | 1971-04-01 | Zweistrahl spektralphotometer | |
DE2335842B2 (de) * | 1973-06-01 | 1975-05-22 | Landis & Gyr Ag, Zug (Schweiz) | Vorrichtung zum Vergleich der spektralen Remission oder Transmission eines Prüflings und eines Standards |
US3929398A (en) * | 1971-08-18 | 1975-12-30 | Harry E Bates | High speed optical wavelength detection system |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3869212A (en) * | 1973-08-02 | 1975-03-04 | Nasa | Spectrometer integrated with a facsimile camera |
-
1976
- 1976-09-23 US US05/724,795 patent/US4054389A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-07-26 FR FR7723830A patent/FR2365792A1/fr active Granted
- 1977-08-09 JP JP52094734A patent/JPS5849807B2/ja not_active Expired
- 1977-08-24 GB GB7735544A patent/GB1542347A/en not_active Expired
- 1977-08-30 IT IT27064/77A patent/IT1114128B/it active
- 1977-09-02 DE DE2739585A patent/DE2739585C2/de not_active Expired
- 1977-09-20 CA CA287,117A patent/CA1082485A/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1772726B2 (de) * | 1967-06-30 | 1971-04-01 | Zweistrahl spektralphotometer | |
US3929398A (en) * | 1971-08-18 | 1975-12-30 | Harry E Bates | High speed optical wavelength detection system |
DE2335842B2 (de) * | 1973-06-01 | 1975-05-22 | Landis & Gyr Ag, Zug (Schweiz) | Vorrichtung zum Vergleich der spektralen Remission oder Transmission eines Prüflings und eines Standards |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3208447A1 (de) * | 1981-03-09 | 1982-09-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Farbmodulierter faseroptischer wandler |
DE3225610A1 (de) * | 1981-07-08 | 1983-02-03 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokyo | Chemische analysiervorrichtung |
DE3247355A1 (de) * | 1982-12-22 | 1984-06-28 | Merck Patent Gmbh, 6100 Darmstadt | Geraet zur quantitativen auswertung von duennschichtchromatogrammen |
DE3305979A1 (de) * | 1983-02-21 | 1984-08-23 | Richard 8901 Neusäß Wallner | Lichtverdichter |
DE3736201A1 (de) * | 1987-10-26 | 1989-05-03 | Siemens Ag | Wellenlaengenselektives diodenarray |
DE3833602A1 (de) * | 1988-10-03 | 1990-02-15 | Krupp Gmbh | Spektrometer zur gleichzeitigen intensitaetsmessung in verschiedenen spektralbereichen |
US4993834A (en) * | 1988-10-03 | 1991-02-19 | Fried. Krupp Gmbh | Spectrometer for the simultaneous measurement of intensity in various spectral regions |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT1114128B (it) | 1986-01-27 |
JPS5339784A (en) | 1978-04-11 |
FR2365792B1 (de) | 1980-04-04 |
US4054389A (en) | 1977-10-18 |
GB1542347A (en) | 1979-03-14 |
FR2365792A1 (fr) | 1978-04-21 |
DE2739585C2 (de) | 1983-12-15 |
CA1082485A (en) | 1980-07-29 |
JPS5849807B2 (ja) | 1983-11-07 |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |