KR20000005260A - 도전성 접촉 유니트 시스템 - Google Patents
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 57
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 23
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 30
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 19
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 15
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 6
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 5
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 2
- 241001668545 Pascopyrum Species 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000004448 titration Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Description
Claims (16)
- 도전성 접촉 유니트 시스템으로서,제1 및 제2의 면을 가지는 기판과,상기 제2의 면에서 끝나는 단부를 가지는 내부도체와,상기 내부도체의 상기 단부를 내부에서 노출시키도록 상기 제2의 면에 마련된 지지공과,상기 지지공내에 수용되며, 상기 내부도체의 상기 노출단부와 전기적으로 접촉하는 내단과, 상기 지지공에서 출몰이 자유롭게 돌출하며, 피접촉체에 접촉하기 적합한 외단을 가지는 접촉자와,상기 접촉자를 탄력적으로 지지하는 바이어스 수단을 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 기판이 내부회로를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 접촉자가, 상기 지지공내에 수용된 기단을 가지는 도전성 코일부재를 포함하며, 도전성 코일부재가 상기 바이어스 수단을 이루기 위한 소요의 탄성을 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 3항에 있어서,상기 도전성 코일부재의 상기 기단이, 밀착감김부를 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 3항에 있어서,상기 코일부재의 상기 기단이, 상기 내부도체에 전기적으로 접속된 상기 지지공의 부분에 납땜접속되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 3항에 있어서,상기 코일부재가, 예비압축상태로 상기 지지공내에 지지된 조권부를 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 6항에 있어서,상기 코일부재의 상기 조권부가 대피치부 및 소피치부를 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 6항에 있어서,상기 코일부재가, 상기 지지공으로부터 돌출되는 밀착감김부를 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 접촉자가, 상기 지지공내에 슬라이딩 가능하게 수용된 침상체로 이루어지며, 상기 바이어스 수단이, 상기 지지공의 저부와, 상기 접촉자에 마련된 환상 단차부의 사이에 배치된 압축 코일스프링을 구비하는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 9항에 있어서,적어도, 상기 접촉자의 선단과 검사대상 사이의 접촉결과, 상기 압축 코일스프링이 압축변형된 때에는, 상기 접촉자의 기단과 전기적으로 접속할 밀착감김부를 이루는 기단부를, 상기 압축 코일스프링이 가지는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 10항에 있어서,상기 밀착감김부의 인접하는 코일소선들이, 땜납 또는 납재에 의해 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 9항에 있어서,상기 압축 코일스프링의 선단부에 탄력적으로 끼워 넣을 칼라부가, 상기 접촉자의 상기 환상 단차부에 인접하여 마련되어 있는 것을 특징으로하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 지지공이, 상기 내부도체의 상기 노출단부에 마련된 오목부에 의해 획정되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 기판의 상기 제2의 면에 배치된 절연판을 더 가지며, 상기 지지공이,상기 내부도체의 상기 노출단부 및 거기에 축선방향으로 정렬되도록 상기 절연판에 마련된 관통공의 내주면에 의해 획정되는 것을 특징으로 하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 14항에 있어서,상기 절연판에 마련된 상기 관통공이, 상기 기판에서 떨어진 측의 단부에 소경부를 가지며, 상기 소경부가, 상기 접촉자의 상기 지지공으로부터의 돌출길이를 규제하기 위한 규제수단을 구성하는 것을 특징으로하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
- 제 14항에 있어서,상기 절연판의, 상기 기판으로부터 떨어진 측의 면에 배치된 지지판을 더 가지며, 상기 지지판이, 상기 절연판의 상기 관통공에 맞춰 정렬되며, 상기 절연판의 상기 관통공보다 작은 직경의 관통공을 가지고, 그에 의해 상기 접촉자의 상기 지지공으로부터의 돌출길이를 규제하기 위한 규제수단을 구성하는 것을 특징으로하는 도전성 접촉 유니트 시스템.
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11578296 | 1996-04-12 | ||
JP8-115782 | 1996-04-12 | ||
JP8-304058 | 1996-10-30 | ||
JP30405896A JP3165648B2 (ja) | 1996-04-12 | 1996-10-30 | 導電性接触子構造 |
JP8-350680 | 1996-12-27 | ||
JP35068096 | 1996-12-27 | ||
PCT/JP1997/001237 WO1997039361A1 (fr) | 1996-04-12 | 1997-04-10 | Systeme unitaire de contact conducteur |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20000005260A true KR20000005260A (ko) | 2000-01-25 |
KR100326723B1 KR100326723B1 (ko) | 2002-04-17 |
Family
ID=27313025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019980707958A KR100326723B1 (ko) | 1996-04-12 | 1997-04-10 | 도전성 접촉 유니트 시스템 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6150616A (ko) |
KR (1) | KR100326723B1 (ko) |
CN (1) | CN1255686C (ko) |
DE (2) | DE19781697B4 (ko) |
HK (1) | HK1022351A1 (ko) |
MY (1) | MY117647A (ko) |
WO (2) | WO1997039361A1 (ko) |
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- 1997-04-10 DE DE19781697A patent/DE19781697B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-10 US US09/171,067 patent/US6150616A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-10 CN CNB971944970A patent/CN1255686C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-10 KR KR1019980707958A patent/KR100326723B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-04-10 DE DE19781697T patent/DE19781697T1/de active Pending
- 1997-04-11 MY MYPI97001585A patent/MY117647A/en unknown
- 1997-12-26 WO PCT/JP1997/004877 patent/WO1998029751A1/en active IP Right Grant
-
1999
- 1999-12-01 HK HK99105574A patent/HK1022351A1/xx not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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WO2016047963A1 (en) * | 2014-09-23 | 2016-03-31 | Leeno Industrial Inc. | A contact probe for a test device |
CN112129975A (zh) * | 2019-06-25 | 2020-12-25 | 中国探针股份有限公司 | 电连接组件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100326723B1 (ko) | 2002-04-17 |
DE19781697B4 (de) | 2010-04-22 |
US6150616A (en) | 2000-11-21 |
DE19781697T1 (de) | 1999-03-18 |
CN1218554A (zh) | 1999-06-02 |
WO1998029751A1 (en) | 1998-07-09 |
WO1997039361A1 (fr) | 1997-10-23 |
CN1255686C (zh) | 2006-05-10 |
HK1022351A1 (en) | 2000-08-04 |
MY117647A (en) | 2004-07-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 19981002 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20000303 Comment text: Request for Examination of Application |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20020125 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20020219 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20020220 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050204 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20060210 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20070208 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080205 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090209 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100210 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110127 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120130 Year of fee payment: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120130 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130201 Year of fee payment: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130201 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20150109 |