KR101160996B1

KR101160996B1 - 전기 접촉자 및 그것을 구비하는 검사 지그

Info

Publication number: KR101160996B1
Application number: KR1020100027240A
Authority: KR
Inventors: 겐지 쓰치하시; 시게아키 고이즈미; 미쓰히코 이토; 가즈히코 모로즈미
Original assignee: 가부시키가이샤 코요 테크노스
Priority date: 2009-06-01
Filing date: 2010-03-26
Publication date: 2012-06-28
Also published as: TW201044698A; CN101900750B; CN101900750A; JP2010276579A; KR20100129678A

Abstract

접촉 불량의 트러블이 발생하기 어렵고, 또, 생산 코스트를 억제하는 것이 가 능한 전기 접촉자 및 이 전기 접촉자를 구비하는 검사 지그를 제공하는 것이다. 회로 기판(P)의 전기적 특성을 검사하는 검사 지그(1)에 이용되고, 검사 지그(1)의 수용구멍(3)의 내부에 배치되는 전기 접촉자(2)이며, 전기 접촉자(2)는, 선재(13)로부터 구성됨과 동시에, 전기 접촉자(2)의 길이 방향의 일단 측에 배치되어 회로 기판(P)에 접촉하는 검사측 단부(10)과 상기 일단 측에 대해 타단 측에 배치되어 검사 지그(1)의 접점에 접촉하는 지그측 단부(5)와 검사측 단부(10)과 지그 측 단부(5)를 연결하며, 수용구멍(3)에 수용되는 본체부(12)를 가지고, 본체부(12) 는, 선재(13)가 나선 모양으로 스프링성을 가지도록 감겨진 스프링 권부(22)를 가지는 것으로 한다.

Description

전기 접촉자 및 그것을 구비하는 검사 지그{ELECTRIC CONTACT AND INSPECTION JIG THEREWITH}

본 발명은, 회로 기판 혹은 전자 부품등의 전기적 특성을 검사하기 위한 전기 접촉자 및 이 전기 접촉자를 구비하는 검사 지그(jig)에 관한 것이다.

일반적으로, 회로 기판의 배선 패턴(pattern) 혹은 IC등의 집적회로의 합선 혹 은 단선등의 이상을 발견하기 위한 전기적 검사에는, 검사 대상물에 접촉하는 복 수의 전기 접촉자를 구비하는 검사 지그가 사용되고 있다. 전기 접촉자로서는, 예를 들면, 특허 문헌 1 또는 2에 개시되듯이, 핀(pin)모양의 플런저(plunger)를 코일 스프링으로 지지한 구성의 접촉자가 많이 사용되고 있다. 이런 구성의 전기 접촉자에서는, 플런저가 코일 스프링의 탄성변형에 의해 검사 대상물에 대해서 탄성적으로 진퇴(進退) 할수 있다. 그 때문에, 플런저를 검사 대상물에 대해서 적절한 압 압력(押壓力)으로 접촉시킬수 있다.

[선행 기술 문헌]

[특허 문헌]

[특허 문헌 1]　특개 2008－275421호 공보

[특허 문헌 2]　특개 2008－546164호 공보

그렇지만, 특허 문헌 1 및 2에 기재한 전기 접촉자에서는, 전기 접촉자가, 플 런저와 코일 스프링등의 복수의 부품으로부터 구성되어 있다. 그 때문에, 각 부품 간에서의 접촉 불량의 트러블이 발생하기 쉽고, 또, 부품 점수와 조립 단계수가 많기 때문에, 생산 코스트가 커지는 문제를 가지고 있다.

여기서, 본 발명은, 접촉 불량의 트러블이 발생하기 어렵고, 또, 생산 코스트 를 억제하는 것이 가능한 전기 접촉자 및 이 전기 접촉자를 구비하는 검사 지그를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은, 검사 대상물의 전기적 특성을 검 사하는 검사 지그에 이용되고, 검사 지그의 수용구멍의 내부에 배치되는 전기 접촉자이며, 전기 접촉자는, 선재(線材)로부터 구성됨과 동시에, 전기 접촉자의 길이 방향의 일단 측에 배치되어 검사 대상물에 접촉하는 검사측 단부와 이 일 단측에 대해서 타단 측에 배치되어 검사 지그의 접점(接点)에 접촉하는 지그측 단 부와 검사측 단부와 지그측 단부를 연결하며, 수용구멍에 수용되는 본체부를 가지고 있으며, 본체부는, 선재가 나선 모양으로 스프링성을 가지도록 감겨진 스프링부를 가지는 것으로 한다.

본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 검사측 단부 또는 지그측 단부의 적어도 일방은, 선재가 감겨져 스프링모양으로 구성되어 있는 것으로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 검사측 단부 또는 지그측 단부의 적 어도 일방은, 첨단으로 향해 권경이 작아지도록 선재가 감겨지고 있는 것 으로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 검사측 단부 또는 지그측 단부의 적 어도 일방의 첨단부에는, 감겨지어 있는 선재의 권축에 따라 신장하는 주 상부가 형성되어 있는 것으로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 검사측 단부 또는 지그측 단부의 적 어도 일방의 첨단부에는, 구상부가 설치되어 있는 것으로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 검사측 단부 또는 지그측 단부의 적 어도 일방은, 전기 접촉자의 단부측으로부터 본체부 측에 되접어 꺾이는 절반부(折り返し部)로 형성되어 있는 것으로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 본체부에는, 스프링부와 검사측 단부 와의 사이에, 선재끼리가 밀착하듯이 감겨진 밀착 권부를 가지는 것으 로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 본체부의 스프링부의 일부는, 수용구멍 에 대해서 압입되도록, 스프링부의 다른 부분의 권경보다도 큰 권경의 대경 부를 가지는 것으로 해도 좋다.

또, 본 발명의 전기 접촉자에 있어서는, 전기 접촉자는, 금 도금이 피복(被覆) 되어 있는 것으로 해도 좋다.

상기의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은, 검사 대상물에 전기 접촉자를 접 촉시켜, 검사 대상물의 전기적 특성을 검사하는 검사 지그에 있어서, 전기 접촉자를 수용하는 수용구멍을 가지는 수용체를 구비하고, 전기 접촉자로서 상술의 전기 접촉자를 구비하는 것으로 한다.

상기의 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은, 검사 대상물에 전기 접촉자를 접 촉시켜, 검사 대상물의 전기적 특성을 검사하는 검사 지그에 있어서, 전기 접촉자 를 수용하는 수용구멍을 가지는 수용체를 구비하고, 전기 접촉자는, 상술의 전기 접촉자이며, 수용구멍은 전기 접촉자의 대경부가 수용되는 대경 수용부와 스프링 부의 대경부 이외의 부분인 소경부가 수용되는 소경 수용부를 가지고, 대경 수용 부와 소경 수용부와의 경계부(境部)에는, 대경부가 당접하는 단부(段部)가 형성되고 있는 것으로 해도 좋다.

이상과 같이, 본 발명의 전기 접촉자 및 검사 지그에 의하면, 접촉 불량의 트 러블의 발생을 방지할수 있고 또, 생산 코스트를 억제하는 것이 가능해진다.

도 1은 본 발명의 실시의 형태 1에 관련되는 검사 지그를 나타내는 정면도이다.
도 2는 도 1의 E－E방향으로부터 검사 지그를 나타내는 도이다.
도 3은 도 1에 나타내는 검사 지그의 내부 구조를 설명하기 위한 확대 단면도 이다.
도 4는 도 3에 나타내는 접촉자의 정면도이다.
도 5는 도 3에 나타내는 접촉자의 평면도이다.
도 6은 도 3에 나타내는 접촉자의 저면도이다.
도 7은 수용체의 수용구멍내에, 접촉자를 배치한 후, 전극 보지체를 수용체에 장치하기 전의 상태를 나타내는 확대 단면도이다.
도 8은 검사 지그의 확대 단면도이며, 회로 기판에 접촉자를 접촉시키기 전의 상 태를 나타내는 도이다.
도 9는 검사 지그의 확대 단면도이며, 회로 기판에 접촉자를 접촉시킨 후의 상 태를 나타내는 도이다.
도 10은 검사측 단부의 첨단부가, 회로 전극에 대해서 경사지게 접촉한 상태를 나타내는 도이다.
도 11은 본 발명의 실시의 형태 2에 관련되는 접촉자의 구성을 나타내는 정면 도이다.
도 12는 도 11에 나타내는 접촉자의 구성을 나타내는 저면도이다.
도 13은 본 발명의 실시의 형태 3에 관련되는 접촉자의 구성을 나타내는 정면 도이다.
도 14는 도 13에 나타내는 접촉자의 구상부가, 레지스트(resist)에 당접한 상태를 나타내는 도이다.
도 15는 도 14에 나타내는 접촉자의 구상부가, 요부(凹部)내에 들어가 회로 전 극에 접촉한 상태를 나타내는 도이다.
도 16은 도 13에 나타내는 접촉자의 구상부를 형성하는 방법을 설명하는 도이 다.
도 17은 본 발명의 실시의 형태 4에 관련되는 접촉자의 구성을 나타내는 정면도 이다.
도 18은 도 17에 나타내는 접촉자의 절반부가, 레지스트에 당접한 상태를 나타 내는 도이다.
도 19는 도 17에 나타내는 접촉자의 절반부가, 요부내에 들어가 회로 전극에 접 촉한 상태를 나타내는 도이다.
도 20은 도 17에 나타내는 접촉자를 소경구멍 측으로부터 장치하는 것을 설명 하는 도이다.

(접촉자의 제1의 실시의 형태)

이하, 본 발명의 제1의 실시의 형태를 도면에 근거해 설명한다.

(검사 지그의 구성)

우선, 도 1로부터 도 3을 참조하면서 검사 지그(1)의 전체적인 구성에 대해 설명한다. 도 1은, 본 발명의 실시의 형태에 관련되는 검사 지그(1)을 나타내는 정 면도이다. 도 2는, 도 1의 E－E방향으로부터 본 검사 지그(1)을 나타내는 도이다.

도3은, 도 1 및 도 2에 나타내는 검사 지그(1)의 내부 구조를 설명하기 위한 확 대 단면도이다. 또한, 도 2에서는, 일부의 전기 접촉자(2) 및 수용구멍(3)에만 부호 를 붙이고 있다. 이하의 설명에서는, 도중 화살표 X1방향을 좌방향, X2방향을 우 방향, Y1방향을 상방, Y2방향을 하방, 그리고, Z1방향을 전방, Z2방향을 후방으로 하여 설명을 진행한다.

본 실시의 형태의 검사 지그(1)은, 회로 기판 혹은 IC등의 검사 대상물인 회 로 기판(P)(도8,9등을 참조)의 전기적 특성을 검사하여, 회로 기판(P)의 합선 혹은 단선등의 이상을 발견하기 위한 전기적 검사에 이용되는 것이다.

이 검사 지그(1)은, 도 1~도 3에 나타내듯이, 복수의 전기 접촉자(2)(이하, "접촉자(2)"라고 기재한다)와 접촉자(2)가 한개씩 배치되는 복수의 수용구멍(3)이 형성되는 수용체(4)와 수용구멍(3)에 수용된 접촉자(2)의 지그측 단부(5)에 각각 접촉하는 복수의 전극(6)과 이것들 복수의 전극(6)을 보지하는 전극 보지체(7)과 검사 지그(1)을 구비한 검사 장치(도시 생략)의 본체부와 검사 지그(1)을 전기적으로 접속하는 배선부(8)등을 가지고 있다. 배선부(8)은, 전극(6)마다 구비하 고 있는 복수의 도선(9)(도 3을 참조)에 의해서 구성되어 있다.

접촉자(2)는, 전극(6)에 접촉하는 지그측 단부(5)와 회로 기판(P)의 피검사 단 자로서 회로 전극(P1)(도 8, 도 9등을 참조)에 접촉하는 검사측 단부(10)과 지그 측 단부(5)와 검사측 단부(10)을 연결하며, 수용구멍(3)의 내부에 수용되는 부분 을 가지는 본체부(12)등을 가지고 있다.

접촉자(2)는, 지그측 단부(5)로부터 검사측 단부(10)까지가, 도전성을 가지는 선재(13)에 의해서 일체로 형성되어 있다. 이 선재(13)은, 예를 들면, 나선 모양으로 감겨졌을 때에 나선부가 스프링성을 가질수 있는 재질의 것이 사용되고 있다. 선재 (13)으로서는, 예를 들면, 니켈(nickel) 합금, 피아노(piano)선, 텅스텐(tungsten) 합 금등을 사용할수 있다. 접촉자(2)를 형성하는 선재(13)은, 예를 들면, 직경이 0. 05 mm정도이며, 또, 전극(6)에 접촉하는 지그측 단부(5)의 첨단부(14)로부터, 검사측 단부(10)의 첨단부(15)까지의 길이가, 4. 8 mm정도의 구성으로 되어 있다.

수용체(4)는, 절연성 재료에 의해서 블록(block)모양으로 형성되어 있다. 이 수 용체(4)에는, 상술하듯이, 복수의 수용구멍(3)이 형성되어 있다. 구체적으로는, 수용 체(4)에는, 도 2, 도 3에 나타내듯이 상하 방향으로 관통하는 수용구멍(3)이 복수 형성되어 있다. 또한, 도 2에서는, 설명의 편의상, 전후방향 및 좌우방향에 소정 피 치(pitch)로 균등하게 수용구멍(3)이 형성된 수용체(4)를 도시하고 있지만, 실제로 는, 수용구멍(3)은, 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)의 배치에 대응한 배치로 되어 있다.

수용구멍(3)은, 약 원주모양으로 형성되어 있다. 구체적으로는, 수용구멍(3)은, 상단측에 형성되는 대경 수용부로서의 대경구멍(16)과 이 대경구멍(16)으로부터 하방에 이어, 대경구멍(16)의 직경 보다 약간 직경이 작은 소경 수용부로서의 소 경구멍(17)로부터 구성되어 있다. 대경구멍(16)과 소경구멍(17)과의 경계 부분에는, 단부(段部)(25)가 형성되어 있다.

전극 보지체(7)은, 수용체(4)와 같게, 절연성 재료에 의해서 블록모양으로 형 성되어 있다. 이 전극 보지체(7)은, 나사등의 고정 부재에 의해서 수용체(4)에 고정 되여 있다.

본 실시의 형태에서는, 배선부(8)을 구성하는 복수의 도선(9)의 각각의 첨단 부분(9A)가 전극(6)으로 되여 있다. 구체적으로는, 도 3에 나타내듯이, 도선(9)의 첨단부분(9A)가 전극 보지체(7)에 접착 고정되어 있고, 전극 보지체(7)에 접착 고 정된 부분이 전극(6)으로 되어 있다. 전극(6)은, 수용구멍(3)의 직경방향의 중심 위 치와 전극(6)의 직경방향의 중심 위치가 약 일치하도록, 전극 보지체(7)에 보지 되고 있다. 1개의 전극(6)에는, 1개의 접촉자(2)의 지그측 단부(5)가 대응해 접촉하고 있다.

도선(9)는, 예를 들면, 동선의 주위에 절연층으로 되는 절연피막(도시 생략)이 형성된 에나멜(enamel)선이다. 이 도선(9)의 첨단(도 3에 있어서의 전 극(6)의 하단면, 즉, 접촉자(2)의 지그측 단부(5)와의 접촉면)에는, 소정의 도금층이 형성되어 있다.

(전기 접촉자의 구성)

다음에, 접촉자(2)의 상세한 구성에 대해서, 도 4, 도 5, 도 6등을 참조하면서 설명한다. 도 4는, 도 3에 나타내는 접촉자(2)를 전방으로부터 본 정면도이다. 도 5 는, 도 4에 나타내는 접촉자(2)를 상방으로부터 본 평면도이다. 도 6은, 도 4에 나 타내는 접촉자(2)를 하방으로부터 본 저면도이다. 도 7은, 수용체(4)의 수용구멍 (3)내에, 접촉자(2)를 배치한 후, 전극 보지체(7)을 수용체(4)에 장치하기 전의 상 태를 나타내는 확대 단면도이다.

접촉자(2)는, 도 4등에 나타내듯이, 지그측 단부(5)와 본체부(12)와 검사측 단 부(10)등을 가지고 있다. 접촉자(2)는, 본체부(12)를 사이에 두고, 일방의 측(도4에 서는 상방)에 지그측 단부(5)가 배치되고, 본체부(12)의 타방의 측(도 4에서는 하 방)에 검사측 단부(10)가 배치되어 있다. 또, 접촉자(2)는, 1개의 선재(13)을 권축 (L)의 주위에 나선 모양으로 감아, 지그측 단부(5)와 본체부(12)와 검사측 단부 (10)이 한개의 선재(13)에 의해 일체로 구성되어 있다. 선재(13)으로서, 예를 들면, 니켈 합금등의 도선이 사용되고 있기 때문에, 접촉자(2)는, 검사측 단부(10)으로부터 지그측 단부(5)에 걸쳐 전기적으로 도통이 확보되고 있다.

지그측 단부(5)는, 본체부(12) 측으로부터 첨단부(14)(상방)에 향해 권경이 작 아지도록 감겨지고 권경축소부(18)로서 구성되어 있다. 본 실시의 형태 에서는, 권경축소부(18)은, 약 1 권반에 걸쳐 선재(13)가 감겨진 구성으 로 되어 있다. 그리고, 첨단부(14)를 형성하는 선재(13)은, 첨단부(14)가 평평하게 되도록 권회의 피치각이 대체로 0도로 되어 있다. 또, 도5에 나타내듯이, 첨단부(14)에 감겨지는 선재(13)의 첨단부분(19)는, 선재(13)이 감겨지는 원호(円弧) 부분으로부터 권축(L)측에 접어 구부러져 권축(L)를 통과하듯이 형성되어 있다. 게다가, 권경축소부(18)은, 선재(13)이 간격을 두어 감아지고 있다. 따라서, 권경축 소부(18)은, 압축 스프링의 성질과 상태를 가지고, 권축(L)의 축방향에 따르는 방 향(상하 방향)으로 탄성을 가져 변형 가능하게 구성되어 있다.

본체부(12)는, 밀착 권부(21)과 스프링부로서의 스프링 권부(22)를 가진다. 밀 착 권부(21)에서는, 선재(13)가 밀착해 감아지고 있다. 스프링 권부(22)에서는, 선재 (13)가 간격을 두어 감아지고 있다. 따라서, 스프링 권부(22)는, 압축 스프링의 성 질과 상태를 가지고, 권축(L)에 따라 상하 방향으로 탄성을 가지면서 변형할수 있다. 한편, 밀착 권부(21)은, 선재(13)가 서로 밀착하고 있기 때문에 신축 방향으로 변화하기 어렵고, 또, 권축(L)와 직교하는 방향에 대해서도, 강성(剛性)이 높아 변형하기 어려운 구성으로 되어 있다. 본체부(12)는, 스프링 권부(22)의 상단부에 설치되는 대경부(23)을 제외하고, 밀착 권부(21) 및 스프링 권부(22)의 권경은 동 일하게 구성되어 있다. 대경부(23)은, 약 1 권분 형성되고 본체부(12)의 다른 부분 보다도 큰 권경으로 형성되어 있다.

검사측 단부(10)은, 본체부(12)로부터 첨단부(15)(하방)에 향해 권경이 작아 지도록 감아져 권경축소부(24)로서 구성되어 있다. 본 실시의 형태에서는, 권경축소 부(24)는, 약 4 권반에 걸쳐 선재(13)가 감겨진 구성으로 되어 있다. 그 리고, 첨단부(15)를 형성하는 선재(13)은, 첨단부(15)가 평평하게 되도록 권회의 피치각이 대체로 0도로 되어 있다. 또, 도 6에 나타내듯이, 첨단부(15)에 감겨지는 선재(13)의 첨단부분(26)은, 선재(13)가 감겨지는 원호 부분으로부터 권 축(L)측에 접어 구부러져 권축(L)를 통과하듯이 형성되어 있다. 게다가, 권경축소부 (24)는, 선재(13)가 간격을 두어 감아지고 있다. 따라서, 권경축소부(24)는, 압축 스프링의 성질과 상태를 가지고, 상하 방향으로 탄성을 가져 변형 가능하게 구성되 어 있다.

접촉자(2)는, 상술한 것처럼, 예를 들면, 선재(13)의 직경이 0. 05mm, 지그측 단부(5)의 첨단부(14)로부터 검사측 단부(10)의 첨단부(15)까지의 길이(N1)가 4. 8 mm정도로 구성된다. 이 경우, 접촉자(2)의 각부의 치수는, 예를 들면, 도 4에 나 타내듯이 설정된다. 즉, 밀착 권부(21)의 길이(N2)가 1. 8mm, 대경부(23)을 포함한 스프링 권부(22)의 길이(N3)가 2. 4mm, 권경축소부(18)의 길이(N4)가 0. 26mm, 그 리고 권경축소부(24)의 길이(N5)가 0. 34 mm로 형성된다. 또, 본체부(12)는, 예를 들면, 대경부(23)의 직경(R1)가 0. 4 mm, 대경부(23)이외의 부분의 직경(R2)가 0. 34 mm로 형성된다. 그리고, 권경축소부(18,24)의 첨단부(14,15)의 직경(R3)는, 예 를 들면, 0. 21 mm로 형성된다.

상술 같이 구성되는 접촉자(2)는, 도 7에 나타내듯이, 수용구멍(3)의 내부에 배치된다. 각부의 치수가 상술 같이 설정되는 접촉자(2)에 대해서, 수용구멍(3)의 각부의 치수는, 예를 들면, 도 7에 나타내듯이 설정된다. 즉, 수용구멍(3)의 소경구 멍(17)의 내경(M1)는, 접촉자(2)의 본체부(12)의 직경(R2)보다도 약간 크게 설정 되고 예를 들면, 직경R2=0. 34 mm의 본체부(12)에 대해서, 소경구멍(17)은 내경 M1=0. 35 mm로 설정되어 있다. 또, 수용구멍(3)의 상부에 형성되는 대경구멍(16)의 내경(M2)는, 접촉자(2)의 대경부(23)의 직경(R1)와 동일하게 설정되고 예를 들면, 상술 같이 직경R1=0. 4 mm의 대경부(23)에 대해서, 대경구멍(16)은 내경 M2=0. 4 mm로 설정되어 있다. 또, 수용체(4)의 두께(H)는, 4 mm로 설정되어 있다. 따라서, 수용구멍(3)의 길이도 4 mm로 설정되어 있다. 그리고, 수용구멍(3)의 대경구멍(16) 의 상하 방향 길이(T1)는, 0. 16 mm에, 소경구멍(17)의 상하 방향 길이(T2)는, 3. 84 mm에 각각 설정되어 있다.

접촉자(2)는, 대경구멍(16) 측으로부터 검사측 단부(10)을 삽입 방향에 향해서 수용구멍(3)내에 삽입한다. 그리고, 도 7에 나타내듯이, 대경부(23)가 단부(25)에 당 접할 때까지 삽입한다. 검사측 단부(10) 및 본체부(12)는, 소경구멍(17)보다도 조금 가는 직경으로 설정되어 있다. 그 때문에, 검사용 단부(10) 및 본체부(12)는, 소경 구멍(17)내에 순조롭게 삽입할수 있다. 그리고, 대경부(23)가 단부(25)에 당접하는 것으로, 접촉자(2)는, 상하 방향의 위치 결정이 진행된다. 또한, 대경부(23)의 직경 (R1)와 대경구멍(16)의 내경(M2)는 동일하다. 그 때문에, 대경부(23)을 대경구멍 (16)에 삽입할 때 , 대경부(23)을 대경구멍(16)에 밀어넣는 힘을 조금 걸어, 대경 부(23)을 대경구멍(16)에 압입하게 된다.

대경부(23)이 단부(25)에 당접한 상태에서, 밀착 권부(21)의 일부 및 검사측 단부(10)이, 수용체(4)의 하면으로부터 하방에 돌출하고, 또, 지그측 단부(5)의 일 부는, 수용체(4)의 상면으로부터 상방에 돌출한다. 구체적으로는, 접촉자(2) 및 수용 구멍(3)이 상술의 치수 설정으로 되고 있으므로, 접촉자(2)가 수용체(4)의 하면으로부터 돌출하는 돌출 길이(t1)는, 0. 7 mm로 되고 있다. 또, 지그측 단부(5)가 수용 체(4)의 상면으로부터 돌출하는 돌출 길이(t2)는, 0. 1 mm로 되고 있다.

접촉자(2)가 도7에 나타내듯이 각 수용구멍(3)에 삽입된 후, 전극(6)이 향해 진 전극 보지체(7)이, 수용체(4)에 대해서 장치된다. 접촉자(2)의 지그측 단부(5)의 첨단부(14)는, 수용체(4)의 상면으로부터 돌출하고 있다. 따라서, 전극 보지체(7)이 수용체(4)의 상면에 장치되면, 접촉자(2)의 지그측 단부(5)가 전극(6)에 대해서 부 세(付勢)된 상태로 접촉한다. 지그측 단부(5)가 전극(6)에 대해서 부세 되고 있는 것으로, 전극(6)과의 전기적 접촉을 확실한 것으로 할수 있다.

(검사 지그(1)의 사용시의 동작)

다음에, 검사 지그(1)을 이용해 검사 대상물인 회로 기판(P)의 검사를 진행할 때의 검사 지그(1)의 동작을, 도 8, 도 9를 참조하면서 설명한다. 도 8은, 검사 지 그(1)의 확대 단면도이며, 회로 기판(P)에 접촉자(2)를 접촉시키기 전의 상태를 나 타 낸다. 도 9도, 검사 지그(1)의 확대 단면도이며, 도 9에 대해서는, 회로 기판(P) 에 접촉자(2)를 접촉시킨 후의 상태를 나타내고 있다.

우선, 도 8에 나타내듯이, 검사 지그(1)의 각 검사측 단부(10)과 회로 기판 (P)의 검사가 진행되는 소정의 회로 전극(P1)가 상하 방향에서 대향하도록, 검사 지그(1)과 회로 기판(P)와의 상대 위치를 맞춘다. 또한, 도 8 및 도 9에서는, 설명상의 편의 때문에, 1개의 검사측 단부(10)과 회로 기판(P)의 소정의 회로 전극(P1)을 나타내고 있다. 각 검사측 단부(10)과 소정의 회로 전극(P1)가 상하 방향 에서 대향하고 있는 상태에서, 검사 지그(1)을 회로 기판(P)측에 이동한다. 그렇다면, 도 9에 나타내듯이, 각 검사측 단부(10)이 소정의 회로 전극(P1)에 당접해, 검사 지그(1)의 이동량에 따라, 접촉자(2)의 스프링 권부(22)가 줄어들어, 검사측 단부(10)이 회로 전극(P1)에 대해서 부세(付勢)된 상태로 접촉한다. 이 때, 밀착 권부(21)의 상하 방향의 길이는 거의 변화하지 않는다. 각 검사측 단부(10)이 소정의 회로 전극(P1)에 접촉하는 것으로, 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)와 전극(6)이 접 촉자(2)를 개입하여 도통되어 회로 기판(P)의 검사가 가능한 상태로 된다.

(본 실시의 형태의 주요 효과)

이상과 같이, 검사 지그(1) 및 접촉자(2)를 구성하는 것으로써, 이하에 설명하 는 효과를 가진다.

우선, 본 실시의 형태에 관련되는 형태에서는, 접촉자(2)는, 1개의 선재(13)에 의해서 구성되어 있다. 즉, 접촉자(2)는 1개의 부재로부터 구성되어 있다. 따라서, 구 성이 지극히 간단하고, 또, 단일의 부재이기 때문에, 부품간의 접촉 불량이라고 하 는 문제가 없다. 또, 접촉자(2)는 전체 길이가 수밀리 정도의 부재이다. 그 때문에, 만일 접촉자(2)가 복수의 부재로부터 구성되는 경우에는, 조립할 때, 지극히 세세 한 작업이 요구된다. 그렇지만, 본 실시의 형태와 같이, 접촉자(2)를 1개의 부재로 부터 구성하는 것으로써, 접촉자(2)의 조립 작업이 불필요하게 되어, 조립 단계수 를 줄일수 있다. 게다가, 부품 점수가 줄어 들어, 부품 코스트를 삭감하는 것이 가 능해진다. 또, 접촉자(2)는, 거의 전체가 선재(13)을 나선 모양으로 감아 구성되어 있다. 그 때문에, 선재(13)을 선모양에 구성하는 경우에 비해 강성과 탄성을 가지는 구성으로 할수 있다. 예를 들면, 상술한 것처럼 선재(13)은, 직경이 0. 05mm 정도 이며, 접촉자(2)의 전체를 선모양으로 구성했을 경우에는, 소성변형 하기 쉽다. 이것에 대해, 선재(13)가 나선 모양으로 감겨지는 것으로, 접촉자(2)를 강성을 가지면서 탄성변형 가능한 구성으로 할수 있다.

또, 접촉자(2)는, 접촉자(2)의 길이 방향의 일단 측에 배치되어 회로 기판(P) 에 접촉하는 검사측 단부(10)과 이 검사측 단부(10)에 대해서 타단 측에 배치되어 검사 지그(1)의 전극(6)에 접촉하는 지그측 단부(5)와 검사측 단부(10)과 지그측 단부(5)를 연결하며, 수용구멍(3)에 수용되는 부분을 가지는 본체부(12)를 가지고 있다. 그리고, 이 본체부(12)는, 선재(13)가 나선 모양으로 압축 스프링의 성질과 상 태를 가지도록 감겨진 스프링부로서의 스프링 권부(22)를 가지고 있다.

이와 같이 구성되는 접촉자(2)는, 스프링 권부(22)가 탄성을 가져 신축할수 있 고, 검사측 단부(10)을 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)에 당접시킬 때에, 검사측 단 부(10)을 회로 전극(P1)에 대해서 부세(付勢)된 상태로 당접시킬수 있다. 이 때문에, 검사측 단부(10)과 회로 전극(P1)와의 전기적 접촉을 확실한 것으로 할수 있다.

또, 접촉자(2)는, 검사측 단부(10)이, 선재(13)가 압축 스프링의 성질과 상태를 가지도록 감겨지고 있기 때문에, 권축(L)에 따르는 방향에서 탄성을 가진다. 이 때 문에, 검사측 단부(10)은, 도10에 나타내듯이, 권축(L)에 대해서 좌우 전후방향에 휠수 있다. 그 결과, 첨단부(15)를, 회로 전극(P1)에 대해서 비스듬하게 접촉시킬수 있다.

회로 전극(P1)의 주위에는, 레지스트(P2)가 퇴적되고, 회로 전극(P1)는, 레지 스트(P2)의 요부(P3)의 내측에 배치되어 있다. 이 때문에, 예를 들면, 첨단이 핀 모 양의 접촉자(S)를 이용했을 경우에는, 접촉자(S)의 첨단이 회로 전극(P1)으로부터 약간 빗나가 레지스트(P2)의 표면에 당접해 버리면, 이미, 접촉자(S)를 회로 전극 (P1)에 접촉시킬수 없다.

여기에 대해, 검사측 단부(10)은, 스프링모양으로 감겨지고 있기 때문에, 권축 (L)에 대해서 좌우 전후방향에 휠수 있다. 또, 검사측 단부(10)의 첨단부(15)는 평 평하게 되어 있다. 그 때문에, 검사측 단부(10)의 첨단부(15)가, 레지스트(P2)의 요 부(P3)측의 연부(P4)에 당접해 버리는 경우에도, 검사측 단부(10)가 휘는 것 으로, 연부(P4)로부터 회로 전극(P1)측에 나온 첨단부(15)가, 회로 전극(P1)에 접 촉하는 방향으로 경사하여, 첨단부(15)를 회로 전극(P1)에 접촉시킬수 있다. 즉, 검 사 할 때에는, 권축(L)가 회로 전극(P1)(요부(P3))의 중심에 위치하도록, 검사 지그 (1)과 회로 기판(P)와의 상대 위치를 위치 맞춤 하는 것이 이상이지만, 이 위치 맞 춤에 차이가 생겨 첨단부(15)가 연부(P4)에 접촉하는 상태여도, 접촉자(2)의 첨단 부(15)와 회로 전극(P1)와의 접촉을 확실히 진행할수 있다.

또, 지그측 단부(5)도, 선재(13)가 스프링모양에 감겨지고 있기 때문에, 권축 (L)에 따르는 방향에서 탄성을 가진다. 이 때문에, 지그측 단부(5)도, 권축(L)에 대 해서 좌우 전후방향으로 휠수 있다. 그 결과, 전극(6)과 전극 보지체(7)과의 사이에 단부가 있어, 첨단부(14)가 이 단부에 걸리듯이 당접하는 경우여도, 접촉자(2)의 첨단부(14)와 전극(6)과의 접촉을 확실히 진행할수 있다.

접촉자(2)는, 상술한 것처럼, 스프링 권부(22)가 탄성을 가져 신축할수 있다. 그 때문에, 검사측 단부(10)을 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)에 당접시킨 상태에서 검 사 지그(1)을 회로 기판(P)측에 이동하면, 스프링 권부(22)가 줄어들어, 검사측 단 부(10)이 상방으로 이동해, 도 9에 나타내듯이 소경구멍(17)내에 들어간다. 본 실시 의 형태에 있어서는, 접촉자(2)는, 검사측 단부(10)에 있어서, 첨단으로 향해 권경 이 작아지도록 선재(13)가 감아지고 있다. 그 때문에, 검사측 단부(10)이, 소경구멍 (17)의 개구연부(17A)에 걸려, 검사측 단부(10)의 상방으로의 이동이 저 지되어 버리는 것이 방지된다. 예를 들면, 상술의 도 10에 나타내듯이, 검사측 단부 (10)의 첨단부(15)가 레지스트(P2)의 요부(P3)측의 연부(P4)에 당접해, 검사측 단 부(10)이 좌우 전후방향에 휜 상태로, 상방으로 이동하는 일이 발생하는 경우가 있다. 이러한 경우에도, 검사측 단부(10)이 첨단으로 향해 권경이 작아지도록, 선재 (13)가 감겨지고 있는 것으로, 검사측 단부(10)이 소경구멍(17)의 개구연부(17A) 에 걸려 버리는 것을 방지할수 있다.

전극 보지체(7)을 수용체(4)에 장치할 때에는, 수용체(4)의 상면으로부터 일 부가 돌출하고 있는 지그측 단부(5)를, 대경구멍(16)내에 압축해 수용시킨다. 따라 서, 지그측 단부(5)가 대경구멍(16)의 개구연부(16A)에 걸리면, 전극 보지체(7)과 수용체(4)와의 맞댐부(合わせ部)에 지그측 단부(5)의 일부가 끼어지며, 지그측 단부 (5)와 전극(6)과의 접속이 불량이 되는 우려가 있다. 그렇지만, 접촉자(2)는, 지그측 단부(5)도, 첨단으로 향해 권경이 작아지도록 선재(13)가 감겨지고 있다. 그 때문에, 전극 보지체(7)을 수용체(4)에 장치할 때, 지그측 단부(5)가, 대경구멍(16)의 개구 연부(16A)에 걸려 버리는 것을 방지할수 있다.

또, 접촉자(2)의 본체부(12)에는, 스프링 권부(22)와 검사측 단부(10)과의 사 이에, 밀착 권부(21)이 형성되어 있다. 스프링 권부(22)가 신축해, 접촉자(2)가 소경 구멍(17)내를 상하 방향으로 이동할 때에, 밀착 권부(21)이 소경구멍(17)의 내주 면에 가이드 된다. 밀착 권부(21)은, 선재(13)가 서로 밀착하고 있기 때문에 축소 방향으로 변화 하기 어렵고, 또, 권축(L)와 직교하는 방향에 대해서도, 강성이 높아 변형하기 어려운 구성으로 되어 있다. 그 때문에, 밀착 권부(21)이, 소경구멍(17)의 내주면에 대해서 확실히 가이드 되어, 검사측 단부(10)의 좌우 전후방향으로의 흔 들림을 억제할수 있다. 따라서, 예를 들면, 검사측 단부(10)이 좌우 전후방향에 흔 들리는 것에 의한, 회로 전극(P1)와의 접촉 불량을 방지할수 있다.

또한, 밀착 권부(21)의 길이를 길게 취하는 것으로, 접촉자(2)는, 소경구멍 (17)에 대해서 보다 안정적으로 가이드 되게 되지만, 밀착 권부(21)을 길게 하면, 스프링 권부(22)의 길이가 짧아진다. 스프링 권부(22)의 길이가 짧아지면, 스프링 권부(22)가 신축할 때에, 스프링 권부(22)의 단위길이 당의 신축량(변위량)이 많 아져, 스프링 권부(22)의 열화(劣化)(탄력 감소)의 진행이 빨리 된다. 따라서, 접촉 자(2)의 소경구멍(17)에 의한 가이드의 안정면과 스프링 권부(22)의 열화면으로 부터, 밀착 권부(21) 및 스프링 권부(22)의 길이를 적절히 설정할 필요가 있다. 예 를 들면, 본 실시의 형태의 검사 지그(1)에 있어서의 접촉자(2)에서는, 검사측 단부 (10)의 첨단부(15)의 상하 방향의 변위량에 대해서, 밀착 권부(21)의 길이를 대체 로 4배 정도로 하고, 또, 스프링 권부(22)의 길이를 대체로 6배로 하는 것으로, 접촉자(2)가 수용구멍(3)에 보다 안정되어 가이드 됨과 동시에, 스프링 권부(22)의 열화를 양호하게 억제할수 있다. 또, 밀착 권부(21)에 이 정도의 길이를 갖게하는 것으로, 접촉자(2)를 수용구멍(3)에 삽입하는 작업등을 진행할 때에, 핀세트로 밀착 권부(21)을 딸수 있고, 접촉자(2)의 취급을 용이한 것으로 할수 있다.

또, 접촉자(2)는, 본체부(12)의 스프링 권부(22)의 상부에는, 수용구멍(3)의 대 경구멍(16)내에 압입할수 있도록 권경이 설정된 대경부(23)이 형성되어 있다. 그 때문에, 수용체(4)로부터 전극 보지체(7)이 떼어내진 상태에서, 수용체(4)의 전극 보지체(7)이 장치되는 면이 하방에 향하고 있는 경우에도, 수용구멍(3)으로부터, 접 촉자(2)가 누락되여 버리는 일이 없다.

검사 지그(1)은, 회로 기판(P)의 하면에 배치되는 회로 전극(P1)에 대해서 접 촉자(2)를 접촉할수 있도록, 회로 기판(P)의 하측에 배치되는 일이 있다. 이 경우에는, 검사측 단부(10)이 상방에 위치하고, 지그측 단부(5)가 하방에 위치한다. 따라 서, 수용체(4)로부터 전극 보지체(7)을 떼어내는 것으로, 접촉자(2)를 하방에 꺼내 는 것이 가능해지지만, 대경부(23)이 대경구멍(16)에 압입되고 있는 것으로, 접촉 자(2)가 부용의(不用意)로 수용구멍(3)으로부터 누락되여 버리는 것을 방지할수 있다.

접촉자(2)의 지그측 단부(5)의 첨단 부분(19) 및 검사측 단부(10)의 첨단 부분 (26)은, 권축(L)를 통과하듯이 형성되어 있다. 그 때문에, 접촉자(2)가 권축(L)를 중 심으로 자전해도, 첨단 부분(19), 첨단 부분(26)은, 권축(L)상에 배치되어 있다. 즉, 접촉자(2)가 수용구멍(3)중에 수용되었을 때에, 접촉자(2)가 권축(L)의 주위에 대해 어떻게 배치되어도, 첨단 부분(19) 및 첨단 부분(26)은, 권축(L)상을 지나 듯이 배치되어 있다. 따라서, 접촉자(2)와 전극(6) 및 회로 전극(P1)와의 접촉을 확 실한 것으로 할수 있다.

(접촉자의 제2의 실시의 형태)

접촉자는, 도 11 및 도 12에 나타내는 접촉자(30)으로서 구성할수 있다. 도11 은, 검사 지그(1)의 확대 단면도이며, 접촉자(30)의 정면도가 나타나고 있다. 또, 도 12는, 도 11에 나타내는 접촉자(30)을 하방으로부터 본 저면도이다. 도 11 및 도 12에서, 상술의 제1의 실시의 형태와 같은 구성 부분에 대해서는, 동일한 부호를 붙이고, 그 설명을 생략한다.

접촉자(30)은, 도 11 및 도 12에 나타내듯이, 접촉자(30)의 검사측 단부(10) 의 첨단부(15)에, 주상부(31)가 설치되어 있다. 이 주상부(31)은, 첨단부(15)에 감 겨지는 선재(13)의 첨단 부분(32)를 하방에 향해서 권축(L)에 따르게 하는 것으로 형성할수 있다. 첨단부(15)에 주상부(31)을 설치하는 것으로, 접촉자(30)과 회로 기 판(P)의 회로 전극(P1)와의 접촉을 보다 확실한 것으로 할수 있다.

또, 접촉자(30)의 지그측 단부(5)의 첨단부(14)에, 첨단부(15)와 같은 주상부를 설치해도 좋다. 첨단부(14)에 주상부를 설치하는 것으로, 접촉자(30)과 전극(6)과 의 접촉을 보다 확실한 것으로 할수 있다.

(접촉자의 제3의 실시의 형태)

또, 접촉자는, 도 13에 나타내는 접촉자(40)으로서 구성할수 있다. 도13은, 검 사 지그(1)의 확대 단면도이며, 접촉자(40)의 정면도가 나타나고 있다. 도 13에 있어서는, 상술의 제1의 실시의 형태와 같은 구성 부분에 대해서는, 동일한 부호를 붙이고, 그 설명을 생략한다.

접촉자(40)은, 도 13에 나타내듯이, 접촉자(40)의 검사측 단부(10)의 첨단부 (15)에, 구상부(41)가 설치되어 있다. 첨단부(15)에 구상부(41)을 설치하는 것으로, 접촉자(40)과 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)와의 접촉을 보다 확실한 것으로 할 수 있다. 접촉자(40)의 회로 전극(P1)에의 접촉은, 접촉자(40)의 권축(L)가 회로 전 극(P1)(요부(P3))의 중심에 위치하도록, 검사 지그(1)과 회로 기판(P)와의 상대 위 치를 위치 맞춤 한 상태로 진행하는 것이 바람직하다. 그렇지만, 검사 지그(1)과 회 로 기판(P)와의 상대 위치의 위치 맞춤이 되어 있지 않은 경우에는, 도 14에 나타 내듯이, 구상부(41)가 레지스트(P2)에 당접해 버리는 경우가 있다. 이러한 경우에 도, 구상부(41)가, 레지스트(P2)의 요부(P3)측의 연부(P4)에 당접하는 경우에는, 도 15 에 나타내듯이, 구상부(41)가 연부(P4)를 미끄러, 요부(P3)내에 들어가, 회로 전 극(P1)에 접촉할수 있다. 이와 같이, 첨단부(15)에 구상부(41)을 설치하는 것으로, 접촉자(40)과 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)와의 접촉을 보다 확실한 것으로 할 수 있다.

또, 접촉자(40)의 지그측 단부(5)의 첨단부(14)에, 첨단부(15)와 같은 구상부를 설치해도 좋다. 첨단부(14)에 구상부를 형성하는 것으로, 전극(6)과 전극 보지체(7) 과의 사이에 단부가 있는 경우에, 이 단부에, 첨단부(14)에 설치되는 구상부가 당 접했다고 해도, 접촉자(40)과 전극(6)과의 접촉을 확실히 진행할수 있다.

검사측 단부(10)의 첨단부(15)에 설치되는 구상부(41)은, 예를 들면, 다음과 같이 해 형성할수 있다. 구상부(41)의 형성에 있어서는, 우선, 도 16에 나타내듯이, 첨단부(15)에 감겨지는 선재(13)의 첨단 부분(43)을, 권축(L)에 따라서 연설(延設)　하여　둔다. 그리고, 이 연설된 첨단 부분(43)에 레이저를 비추어 가열하는 것으로, 첨단 부분(43)을 용해한다. 그렇다면, 용해 부분이 표면장력에 의해 구상으로 되어, 구상으로 된 용해 부분이 냉각되는 것으로 구상부(41)가 형성된다.

또한, 가열은, 레이저 조사 외에, 버너(burner) 혹은 가열된 인두등을 이용해 진행할수 있다. 또, 지그측 단부(5)의 첨단부(14)에 설치되는 구상부에 대해서도, 첨 단부(14)에 감겨지는 선재(13)의 첨단 부분을, 권축(L)에 따라서 연설 해 두고, 상 술한, 구상부(41)과 같은 방법에 의해 형성할수 있다.

(접촉자의 제4의 실시의 형태)

게다가, 접촉자는, 도 17에 나타내는 접촉자(50)으로서 구성할수 있다. 도17 은, 검사 지그(1)의 확대 단면도이며, 접촉자(50)의 정면도가 나타나고 있다. 도 17에 있어서는, 상술의 제1의 실시의 형태와 같은 구성 부분에 대해서는, 동일한 부호를 붙이고, 그 설명을 생략한다. 접촉자(50)은, 도 17에 나타내듯이, 접촉자(50)을 형성하는 선재(13)의 회로 기판(P)측의 첨단 부분을, 접촉자(50)의 첨단측으로부터 본체부(12)의 측에 훅(hook)모양에 되접어 꺾은 절반부(51)을 검사측 단부 로서 구성한 것이다. 절반부(51)은, 권축(L)를 사이에 두어서 배치되는 측부(52,53) 및 측부(52)와 측부(53)을 연결하는 원호부(円弧部)(54)등을 가진다.

회로 전극(P1)에 대해서는 원호부(54)가 접촉한다. 절반부(51)의 첨단 부분을 원호부(54)로 형성하는 것으로, 접촉자(50)과 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)와의 접촉을 보다 확실한 것으로 할수 있다. 접촉자(50)의 회로 전극(P1)에의 접촉은, 접촉자(50)의 권축(L)가 회로 전극(P1)(요부(P3))의 중심에 위치하도록, 검사 지그 (1)과 회로 기판(P)와의 상대 위치를 위치 맞춤 한 상태로 진행하는 것이 바람직 하다. 그렇지만, 검사 지그(1)과 회로 기판(P)와의 상대 위치의 위치 맞춤이 되어 있지 않은 경우에는, 도 18에 나타내듯이, 원호부(54)가 레지스트(P2)에 당접해 버리는 경우가 있다. 이러한 경우에도, 원호부(54)가, 레지스트(P2)의 요부(P3) 측의 연부(P4)에 당접하는 경우에는, 도 19에 나타내듯이, 원호부(54)가 연부(P4)를 미 끄러, 요부(P3)내에 들어가, 회로 전극(P1)에 접촉할수 있다. 이와 같이, 절반부(51) 에 원호부(54)를 설치하는 것으로, 접촉자(50)와 회로 기판(P)의 회로 전극(P1)와 의 접촉을 보다 확실한 것으로 할수 있다.

또한, 측부(52)와 측부(53)의 권축(L)를 사이에 둔 방향의 최대폭(W1)(도 17 을 참조)는, 소경구멍(17)의 내경(M1)(도 7을 참조)보다도 좁게 설정되어 있다. 절 반부(51)을 회로 전극(P1)에 접촉시킨 상태로 검사 지그(1)을 회로 기판(P)측에 이동했을 경우에는, 스프링 권부(22)가 압축되어 절반부(51)이 상방에 변위한다. 상술하듯이, 측부(52)와 측부(53)의 권축(L)를 사이에 둔 방향의 최대폭(W1)가, 소 경구멍(17)의 내경(M1)보다도 좁게 설정되어 있기 때문에, 절반부(51)은 수 용구 멍(3)안에 들어갈수 있다. 그 때문에, 절반부(51)의 상방으로의 변위를 방해 하는 일은 없다.

또, 접촉자(50)은, 도 17에 나타내듯이, 접촉자(50)을 형성하는 선재(13)의 전 극(6)측의 첨단 부분을 접촉자(50)의 첨단측으로부터 본체부(12) 측에 훅모양으로 되접어 꺾은 절반부(55)가 지그측 단부로서 구성되어 있다. 절반부(55)는, 권축(L) 를 사이에 두어서 배치되는 측부(56,57) 및 측부(56)과 측부(57)을 연결하는 원호 부(58), 그리고 측부(57)의 첨단에 형성되는 구부림부(曲げ部)(59)등을 가진다.

전극(6)에 대해서는 원호부(58)이 접촉한다. 절반부(55)의 첨단 부분을 원호부 (58)로 형성하는 것으로, 접촉자(50)와 전극(6)와의 접촉을 보다 확실한 것으로 할 수 있다. 즉, 예를 들면, 전극(6)과 전극 보지체 (7)과의 사이에 단부가 있어, 절반부 (55)의 원호부(58)가 이 단부에 당접하는 경우에도, 접촉자(50)와 전극(6)과의 접 촉을 확실히 진행할수 있다.

측부(57)의 권축(L)로부터의 최대폭(W2)는, 절반부(55)를 대경구멍(16)내에 배 치하기 전의 상태에 있어서, 대경구멍(16)의 내경(M2)(도 7을 참조)의 1/2과 동일 하게 혹은 그것 보다 약간 넓게 설정되어 있다. 그 때문에, 절반부(50)을 대경구멍 (16)에 삽입할 때, 절반부(55)을 대경구멍(16)에 밀어넣는 힘을 조금 걸어, 절반 부(55)을 대경구멍에 압입하게 된다. 그 때문에, 수용체(4)로부터 전극 보지체(7)이 떼어내진 상태에서, 수용체(4)의 전극 보지체(7)이 장치되는 면이 하방에 향하고 있는 경우에도, 수용구멍(3)으로부터, 접촉자(50)이 누락되여 버리는 일이 없다.

또한, 구부림부(59)가 단부(25)에 당접한 상태에 있어서, 본체부(12)의 밀착 권부(21)의 일부 및 절반부(51)가, 수용체(4)의 하면으로부터 하방에 돌출하고, 또, 절반부(55)의 원호부(58)의 일부가, 수용체(4)의 상면으로부터 상방으로 돌출하도 록,절반부(51), 절반부(55)등의 상하 방향의 길이가 설정되어 있다. 원호부(58)의 일 부가 수용체(4)의 상면으로부터 상방으로 돌출하는 것으로, 수용체(4)에 전극 보지 체(7)이 장치되었을 때에, 원호부(58)이 전극(6)에 대해서 접촉할수 있다.

절반부(55)를 대경구멍(16)에 수용한 상태에서, 구부림부(59)의 첨단부(60)이, 단부(25)보다도 권축(L)측에 위치하도록, 구부림부(59)는, 권축(L) 측에 접어 구부 러지고 있다. 따라서, 접촉자(50)을 절반부(51) 측에 끌어들이면, 구부림부(59)의 경 사면(61)이 단부(25)를 넘을수 있어, 접촉자(50)을, 소경구멍(17) 측으로부터 꺼 낼수 있다.

또, 측부(57)은, 선재(13)가 가지는 스프링성에 의해 권축(L)와 직교하는 방 향으로 탄성적으로 변위할수 있어, 측부(56)과 측부(57)과의 사이의 간격(D)를 변 화시킬수 있다. 그 때문에, 도 20에 나타내듯이, 접촉자(50)을, 절반부(55) 측으 로부터, 소경구멍(17)내에 삽입할수 있다. 즉, 절반부(55)를 소경구멍(17)내에 삽입 하면, 측부(57)가 권축(L)측에 변위해, 측부(56)과 측부(57)과의 사이의 간격(D)가 좁아진다. 그 때문에, 접촉자(50)을 소경구멍(17) 측으로부터 삽입할수 있다. 그리고, 절반부(55)가, 소경구멍(17)을 통하여 대경구멍(16)에 이르면, 측부(56)과 측부 (57)과의 사이의 간격(D)가 넓어져, 구부림부(59)가 단부(25)에 당접한 상태로 되 어, 접촉자(50)의 상하 방향의 위치 결정이 진행된다.

이와 같이, 소경구멍(17) 측으로부터, 접촉자(50)을 꺼내거나 또, 삽입할수도 있다. 따라서, 전극 보지체(7)을 수용체(4)로부터 떼어내는 일 없이, 접촉자(50)의 수용구멍(3)에의 제외, 설치를 진행할수 있다.

상술한 접촉자(2,30,40,50)은, 금 도금이 실시해지는 것이 바람직하다. 금 도 금이 실시해지는 것으로, 접촉자 (2,30,40,50)의 전기 저항을 저감 시킬수 있다. 또, 금 도금을 실시하는 것으로, 각 접촉자(2,30,40,50)의 밀착 권부(21)에서 서 로 접촉하는 선재(13)끼리가, 금 도금으로 서로 고정되어 밀착 권부(21)을 변형 하 기 어렵게 할수 있다. 그 때문에, 밀착 권부(21)의 수용구멍(3)(소경구멍(17))의 내 주면에 의한 가이드가 보다 확실히 진행되어, 검사측 단부(10)의 좌우 전후으로의 흔들림을 억제할수 있다. 따라서, 예를 들면, 검사측 단부(10)이 좌우 전후에 흔들 리는 것에 의한, 회로 전극(P1)와의 접촉 불량을 방지할수 있다.

1…검사 지그
2,30,40,50…전기 접촉자
3…수용구멍
4…수용체
5…지그측 단부
10…검사측 단부
12…본체부
13…선재
16…대경구멍(대경 수용부)
17…소경구멍(소경 수용부)
21…밀착 권부
22…스프링 권부(스프링부)
23…대경부
25…단부
31…주상부
41…구상부
51…절반부
P…회로 기판(검사 대상물)

Claims

검사 대상물의 전기적 특성을 검사하는 검사 지그에 이용되고, 상기 검사 지그의 수용구멍의 내부에 배치되는 전기 접촉자이며,
상기 전기 접촉자는, 선재로부터 구성됨과 동시에,
상기 전기 접촉자의 길이 방향의 일단 측에 배치되어 상기 검사 대상물 에 접촉하는 검사측 단부와
상기 일단 측에 대해 타단 측에 배치되어 상기 검사 지그의 접점에 접 촉하는 지그측 단부와
상기 검사측 단부와 상기 지그측 단부를 연결하며, 상기 수용구멍에 수용되는 본체부를 가지고,
상기 본체부는, 상기 선재가 나선 모양으로 스프링성을 가지도록 감겨진 스프링부를 가지고,
상기 수용구멍은, 상기 전기 접촉자의 대경부가 수용되는 대경 수용부와 상기 스프링부의 상기 대경부 이외의 부분인 소경부가 수용되는 소경 수용부를 가지고, 상기 대경 수용부와 상기 소경 수용부와의 경계부에는, 상기 대경부가 당접하는 단부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제1항에 있어서,
상기 검사측 단부 또는 상기 지그측 단부의 적어도 일방은, 상기 선재가 감겨져 스프링모양으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제2항에 있어서,
상기 검사측 단부 또는 상기 지그측 단부의 적어도 일방은, 첨단으로 향해 권경이 작아지도록 상기 선재가 감겨지어 있는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제2항 또는 제3항에 있어서,
상기 검사측 단부 또는 상기 지그측 단부의 적어도 일방의 첨단부에는, 상기 감겨지어 있는 선재의 권축에 따라서 신장하는 주상부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제2항 또는 제3항에 있어서,
상기 검사측 단부 또는 상기 지그측 단부의 적어도 일방의 첨단부에는, 구상부가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제1항에 있어서,
상기 검사측 단부 또는 상기 지그측 단부의 적어도 일방은, 상기 전기 접촉자의 단부측으로부터 상기 본체부 측에 되접어 꺾이는 절반부로 형성되고 있는, 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제1항에 있어서,
상기 본체부에는, 상기 스프링부와 상기 검사측 단부와의 사이에, 상기 선재끼리가 밀착하듯이 감겨진 밀착 권부를 가지는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제1항에 있어서,
상기 본체부의 상기 스프링부의 일부는, 상기 수용구멍에 대해서 압입되도록, 상기 스프링부의 다른 부분의 권경보다도 큰 권경의 대경부를 가지는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
제1항, 제2항, 제3항, 제6항, 제7항 또는 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 전기 접촉자는, 금 도금이 피복되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 접촉자.
검사 대상물에 전기 접촉자를 접촉시켜, 상기 검사 대상물의 전기적 특성을 검사하는 검사 지그에 있어서,
상기 전기 접촉자를 수용하는 수용구멍을 가지는 수용체를 구비하고,
상기 전기 접촉자는, 제9항에 기재된 전기 접촉자인 것을 특징으로 하는 검사 지그.
검사 대상물에 전기 접촉자를 접촉시켜, 상기 검사 대상물의 전기적 특성을 검사하는 검사 지그에 있어서,
상기 전기 접촉자를 수용하는 수용구멍을 가지는 수용체를 구비하고,
상기 전기 접촉자는, 제8항에 기재된 전기 접촉자인 것을 특징으로 하는 검사 지그.