CN101900750B - 电触头及具有该电触头的检查夹具 - Google Patents

电触头及具有该电触头的检查夹具 Download PDF

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Abstract

本发明提供电触头及具有该电触头的检查夹具,该电触头不容易发生接触不良的故障,另外,能够抑制生产成本;电触头(2)利用于检查电路板(P)的电特性的检查夹具(1)、配置于检查夹具(1)的收容孔(3)的内部,该电触头(2)由线材(13)构成,同时,具有:配置在电触头(2)的长度方向的一端侧、与电路板(P)接触的检查侧端部(10),相对于上述一端侧而配置于另一端侧、与检查夹具(1)的接点接触的夹具侧端部(5),以及连接检查侧端部(10)与夹具侧端部(5)、且收容在收容孔(3)的主体部(12);主体部(12)具有线材(13)卷绕成螺旋状而具有弹性的弹簧卷绕部(22);在检查侧端部(10)或夹具侧端部(5)的至少一方上,线材(13)被卷绕为卷径朝向前端而变小,并且,线材(13)以隔开间隔的方式被卷绕为螺旋状从而具有压缩弹簧的性质和状态。

Description

电触头及具有该电触头的检查夹具
技术领域
本发明涉及的是检查电路板或电子零部件等的电特性用的电触头及具有该电触头的检查夹具。
背景技术
一般来说,用于发现电路板的配线图案或IC等集成电路的短路或断线等的异常的电气检查中,使用具有与检查对象物接触的多个电触头的检查夹具。作为电触头,广泛地使用例如如专利文献1或2所公开那样利用螺旋弹簧支持针状的柱塞(plunger)的构成的电触头。在这种构成的电触头中,柱塞能够通过螺旋弹簧的弹性变形,而相对于检查对象物弹性地进退。因此,能够以适当的按压力使柱塞接触于检查对象物。
专利文献1:日本公开公报、特开2008-275421号
专利文献2:日本公开公报、特开2008-546164号
发明内容
但是,在专利文献1和2记载的电触头中,电触头由柱塞和螺旋弹簧等的多个零部件构成。因此,容易发生各零部件之间的接触不良的故障,另外,由于零部件件数和组装工时多而存在生产成本变高的问题。
因此,本发明的目的在于提供不容易发生接触不良的故障,而且,能够抑制生产成本的电触头及具有该电触头的检查夹具。
为了解决上述课题,本发明的电触头,利用于检查检查对象物的电特性的检查夹具,配置在检查夹具的收容孔的内部,其中,电触头由线材构成,并且,具有:配置在电触头的长度方向的一端侧、与检查对象物接触的检查侧端部,相对于该一端侧而配置于另一端侧、与检查夹具的接点接触的夹具侧端部,以及连接检查侧端部和夹具侧端部、且收容在收容孔的主体部;主体部具有线材卷绕成螺旋状而具有弹性的弹簧部;在检查侧端部或夹具侧端部的至少一方上,线材被卷绕成其卷径朝向前端而变小,并且,线材以隔开间隔的方式被卷绕为螺旋状从而具有压缩弹簧的性质和状态。
另外,在本发明的电触头中,也可以在检查侧端部或夹具侧端部的至少一方的前端部上,形成有使线材沿着卷绕有线材的卷轴而形成的柱状部。
另外,在本发明的电触头中,也可以在检查侧端部或夹具侧端部的至少一方的前端部上设有球状部,该球状部是将线材的前端部熔化而形成。
另外,在本发明的电触头中,主体部上,在弹簧部和检查侧端部之间,也可以具有线材彼此之间贴紧而被卷绕的压紧卷绕部。
另外,在本发明的电触头中,主体部的弹簧部的一部分,具有卷径大于弹簧部的其他部分的卷径的大直径部、从而被压入收容孔。
另外,在本发明的电触头中,电触头被镀金覆盖也可以。
为了解决上述课题,本发明的检查夹具,使电触头接触于检查对象物,而检查检查对象物的电特性,其中,设有具有收容电触头的收容孔的收容体,作为电触头具有上述的电触头。
为了解决上述课题,本发明的检查夹具,使电触头接触于检查对象物,而检查检查对象物的电特性,该检查夹具设有具有收容电触头的收容孔的收容体;电触头是上述的电触头;收容孔具有收容电触头的大直径部的大直径收容部和小直径收容部,其中,小直径收容部收容弹簧部的作为大直径部以外的部分的小直径部;在大直径收容部和小直径收容部的边界部上也可以形成有与大直径部相接的阶梯部。
如上所述,采用本发明的电触头及检查夹具,能够防止接触不良的故障的发生,而且能够抑制生产成本。
附图说明
图1是表示本发明的实施形态一涉及的检查夹具的主视图。
图2是从图1的E-E方向表示检查夹具的图。
图3是用于说明图1所示的检查夹具的内部构造的放大剖面图。
图4是图3所示的触头的主视图。
图5是图3所示的触头的俯视图。
图6是图3所示的触头的仰视图。
图7是表示将触头配置于收容体的收容孔内之后,将电极保持体安装于收容体之前的状态的放大剖面图。
图8是检查夹具的放大剖面图,是表示将触头接触于电路板之前的状态的图。
图9是检查夹具的放大剖面图,是表示将触头接触于电路板之后的状态的图。
图10是表示检查侧端部的前端部倾斜地接触于电路电极的状态的图。
图11是表示本发明的实施形态二涉及的触头的构成的主视图。
图12是表示图11所示的触头的构成的仰视图。
图13是表示本发明的实施形态三涉及的触头的构成的主视图。
图14是表示图13所示的触头的球状部与保护层相接的状态的图。
图15是表示图14所示的触头的球状部进入凹部内而与电路电极接触的状态的图。
图16是说明图13所示的触头的球状部的形成方法的图。
图17是表示本发明的实施形态四涉及的触头的构成的主视图。
图18是表示图17所示的触头的折返部与保护层相接的状态的图。
图19是表示图17所示的触头的折返部进入凹部内而与电路电极接触的状态的图。
图20是将图17所示的触头从小直径孔侧安装的情况的说明图。
符号说明
1                 检查夹具
2、30、40、50     电触头
3                 收容孔
4                 收容体
5                 夹具侧端部
10                检查侧端部
12                主体部
13                线材
16                大直径孔(大直径收容部)
17                小直径孔(小直径收容部)
21                压紧卷绕部
22                弹簧卷绕部(弹簧部)
23                大直径部
25                阶梯部
31                柱状部
41                球状部
51                折返部
P                 电路板(检查对象物)
具体实施方式
(触头的第一实施形态)
以下,根据附图对本发明的第一实施形态进行说明。
(检查夹具的构成)
首先,参照图1至图3对检查夹具1的整体构成进行说明。图1是表示本发明的实施形态涉及的检查夹具1的主视图。图2是从图1的E-E方向观察的检查夹具1的示意图。图3是用于说明图1及图2所示的检查夹具1的内部构造的放大剖面图。另外,在图2中,仅对一部分的电触头2和收容孔3标以符号。在以下的说明中,将图中箭头X1方向作为左方向,X2方向作为右方向,Y1方向作为上方,Y2方向作为下方,并且,Z1方向作为前方,Z2方向作为后方而进行说明。
本实施形态的检查夹具1,被利用于检查电路板或IC等的作为检查对象物的电路板P(参照图8、9等)的电特性,而发现电路板P的短路或断线等的异常的电气检查。
该检查夹具1如图1~图3所示,具有:多个电触头2(以下,记载为“触头2”),形成有多个分别配置一个触头2的收容孔3的收容体4,分别与收容在收容孔3的触头2的夹具侧端部5接触的多个电极6,保持这些多个电极6的电极保持体7,以及将设有检查夹具1的检查装置(省略图示)的主体部与检查夹具1电连接的配线部8等。配线部8由每一电极6所设有的多根导线9(参照图3)构成。
触头2设有:与电极6接触的夹具侧端部5,与作为电路板P的被检查端子的电路电极P1(参照图8、图9等)接触的检查侧端部10,以及连接夹具侧端部5与检查侧端部10、并具有被收容于收容孔3的内部的部分的主体部12等。
触头2,从夹具侧端部5至检查侧端部10,通过具有导电性的线材13形成为整体。该线材13使用,例如,卷绕成螺旋状时螺旋部能够具有弹性的材质的线材。作为线材13能够使用,例如,镍合金、钢琴丝、钨合金等。形成触头2的线材13构成为,例如,直径为0.05mm左右,并且,从与电极6接触的夹具侧端部5的前端部14至检查侧端部10的前端部15的长度为4.8mm左右。
收容体4通过绝缘性材料而形成为块(block)状。如上述那样,该收容体4上形成有多个收容孔3。具体地说,在收容体4上形成有多个如图2、图3所示那样在上下方向上贯通的收容孔3。另外,在图2中,为了方便说明,图示有在前后方向和左右方向上以规定的间距均等地形成有收容孔3的收容体4,但是实际上,收容孔3成为与电路板P的电路电极P1的配置对应的配置。
收容孔3形成为略圆柱状。具体地说,收容孔3由形成于上端侧的作为大直径收容部的大直径孔16和小直径孔17构成,其中,小直径孔17从该大直径孔16向下方连续地形成、且作为直径稍小于大直径孔16的直径的小直径收容部而形成。在大直径孔16与小直径孔17的边界部分上形成有阶梯部25。
电极保持体7与收容体4同样地,通过绝缘性材料而形成为块状。该电极保持体7通过螺丝等的固定部件固定在收容体4。
在本实施形态中,构成配线部8的多根导线9的各个前端部分9A成为电极6。具体地说,如图3所示,导线9的前端部分9A被粘接固定在电极保持体7,粘接固定在电极保持体7的部分成为电极6。电极6被电极保持体7保持为收容孔的径向的中心位置与电极6的径向的中心位置略一致。在一个电极6上,对应地接触有一个触头2的夹具侧端部5。
导线9,例如,是在铜线的周围形成有成为绝缘层的绝缘膜(省略图示)的漆包线。该导线9的前端(图3中的电极6的下端面,即,与触头2的夹具侧端部5的接触面)上形成有规定的金属镀层。
(电触头的构成)
接下来,参照图4、图5、图6等对触头2的详细构成进行说明。图4是从前方观察图3所示的触头2的主视图。图5是从上方观察图4所示的触头2的俯视图。图6是从下方观察图4所示的触头2的仰视图。图7是表示将触头2配置于收容体4的收容孔3内之后,将电极保持体7安装于收容体4之前的状态的放大剖面图。
触头2如图4等所示,具有夹具侧端部5、主体部12、以及检查侧端部10等。触头2夹着主体部12,在一方侧(图4中为上方)上配置夹具侧端部5,在主体部12的另一方侧(图4中为下方)上配置检查侧端部10。另外,触头2,将一根线材13螺旋状地卷绕于卷轴L的周围,夹具侧端部5与主体部12以及检查侧端部10通过一根线材13构成为整体。作为线材13使用例如镍合金等的导线,因此触头2能够确保从检查侧端部10至夹具侧端部5的电导电。
夹具侧端部5被卷绕为,其卷径从主体部12侧朝向前端部14(上方)而变小,且作为卷径缩小部18而构成。在本实施形态中,卷径缩小部18通过线材13卷绕约一圈半而构成。而且,形成前端部14的线材13其卷绕的螺距角约为0度、以使前端部14平坦地形成。另外,如图5所示,卷绕在前端部14的线材13的前端部分19形成为从线材13卷绕的圆弧部分向卷轴L侧弯曲并通过卷轴L。进而,卷径缩小部18中,线材13隔开间隔而被卷绕。因此,卷径缩小部18构成为具有压缩弹簧的性质和状态,从而在沿着卷轴L的轴向的方向上(上下方向)具有弹性而能够变形。
主体部12具有压紧卷绕部21和作为弹簧部的弹簧卷绕部22。在压紧卷绕部21中,线材13贴紧而被卷绕。在弹簧卷绕部22中,线材13隔开间隔而被卷绕。因此,弹簧卷绕部22具有压缩弹簧的性质和状态,从而在沿着卷轴L的上下方向上具有弹性而能够变形。另一方面,压紧卷绕部21构成为,由于线材13互相贴紧而难以在收缩方向上发生变化,而且,对于与卷轴L垂直相交的方向也因刚性高而难以发生变形。主体部12构成为,除了设置于弹簧卷绕部22的上端部的大直径部23之外,压紧卷绕部21和弹簧卷绕部22的卷径相同。大直径部23,形成为约1圈,且形成为卷径大于主体部12的其他部分。
检查侧端部10被卷绕为其卷径从主体部12朝向前端部15(下方)而变小,且作为卷径缩小部24而构成。在本实施形态中,卷径缩小部24,通过线材13卷绕约4圈半而构成。而且,形成前端部15的线材13其卷绕的螺距角约为0度、以使前端部15平坦地形成。另外,如图6所示,卷绕于前端部15的线材13的前端部分26形成为从线材13卷绕的圆弧部分向卷轴L侧弯曲并通过卷轴L。进而,卷径缩小部24中,线材13隔开间隔而被卷绕。因此,卷径缩小部24构成为,具有压缩弹簧的性质和状态,从而在上下方向上具有弹性而能够变形。
触头2,如上所述,例如构成为,线材13的直径是0.05mm,从夹具侧端部5的前端部14至检查侧端部10的前端部15的长度N1是4.8mm左右。该情况下,触头2的各部分的尺寸,例如,如图4所示那样被设定。也就是说,形成为压紧卷绕部21的长度N2是1.8mm,包括大直径部23的弹簧卷绕部22的长度N3是2.4mm,卷径缩小部18的长度N4是0.26mm,且卷径缩小部24的长度N5是0.34mm。另外,主体部12,例如形成为,大直径部23的直径R1是0.4mm,大直径部23以外的部分的直径R2是0.34mm。而且,卷径缩小部18、24的前端部14、15的直径R3形成为,例如0.21mm。
上述那样构成的触头2,如图7所示,配置在收容孔3的内部。相对于各部分的尺寸如上述那样设定的触头2,收容孔3的各部分的尺寸,例如,如图7所示那样被设定。也就是说,收容孔3的小直径孔17的内径M1被设定为比触头2的主体部12的直径R2稍大,例如,相对于直径R2=0.34mm的主体部12,小直径孔17被设定为内径M1=0.35mm。另外,形成于收容孔3的上部的大直径孔16的内径M2被设定为与触头2的大直径部23的直径R1相同,例如,如上所述相对于直径R1=0.4mm的大直径部23,大直径孔16被设定为内径M2=0.4mm。另外,收容体4的厚度H被设定为4mm。因此,收容孔3的长度也被设定为4mm。而且,收容孔3的大直径孔16的上下方向的长度T1被设定为0.16mm,小直径孔17的上下方向的长度T2被设定为3.84mm。
触头2,使检查侧端部10从大直径孔16侧朝向插入方向而插入收容孔3内。而且,如图7所示,插入到大直径部23与阶梯部25相接。检查侧端部10和主体部12的直径被设定为比小直径孔17稍细。因此,检查侧端部10和主体部12能够顺利地插入到小直径孔17内。而且,通过大直径部23与阶梯部25相接,触头2在上下方向上被定位。另外,大直径部23的直径R1与大直径孔16的内径M2相同。因此,将大直径部23插入大直径孔16时,稍微加以将大直径部23塞入大直径孔16的力,而将大直径部23压入大直径孔16。
在大直径部23与阶梯部25相接的状态下,压紧卷绕部21的一部分及检查侧端部10从收容体4的下面向下方突出,另外,夹具侧端部5的一部分从收容体4的上面向上方突出。具体地说,由于触头2和收容孔3被设定为上述尺寸,因此触头2从收容体4的下面突出的突出长度t1是0.7mm。另外,夹具侧端部5从收容体4的上面突出的突出长度t2是0.1mm。
在触头2如图7所示那样插入各收容孔3之后,保持有电极6的电极保持体7安装于收容体4。触头2的夹具侧端部5的前端部14从收容体4的上面突出。因此,电极保持体7安装在收容体4的上面的话,触头2的夹具侧端部5以被加力的状态与电极6接触。通过夹具侧端部5相对于电极6被加力,能够确实地与电极6电接触。
(使用检查夹具1时的动作)
接下来,参照图8、图9,对利用检查夹具1进行作为检查对象物的电路板P的检查时的检查夹具1的动作进行说明。图8是检查夹具1的放大剖面图,表示将触头2接触于电路板P之前的状态。图9也是检查夹具1的放大剖面图,图9表示将触头2接触于电路板P之后的状态。
首先,如图8所示,调整检查夹具1与电路板P的相对位置、以使检查夹具1的各检查侧端部10与电路板P的被进行检查的规定的电路电极P1在上下方向上相对。另外,在图8和图9中,为了方便说明,表示了一个检查侧端部10与电路板P的规定的电路电极P1。在各检查侧端部10与规定的电路电极P1在上下方向上相对的状态下,使检查夹具1向电路板P侧移动。这样的话,如图9所示,各检查侧端部10与规定的电路电极P1相接,触头2的弹簧卷绕部22根据检查夹具1的移动量而收缩,检查侧端部10以被加力的状态与电路电极P1接触。此时,压紧卷绕部21的上下方向的长度几乎没有变化。通过各检查侧端部10与规定的电路电极P1接触,成为电路板P的电路电极P1与电极6通过触头2导通,从而能够检查电路板P的状态。
(本实施形态的主要效果)
通过上述那样构成检查夹具1和触头2,具有以下所说明的效果。
首先,在本实施形态涉及的形态中,触头2由一根线材13构成。也就是说,触头2由一个部件构成。因此,构成极为简单,另外,由于是单一部件,因此不存在零部件之间接触不良的问题。另外,触头2是全长为数毫米左右的部件。因此,假如触头2由多个部件构成的情况下,在组装时需要极细的作业。但是,如本实施形态那样,通过由一个部件构成触头2,不需要触头2的组装作业,从而能够减少组装工时。进而,零部件件数减少,从而能够削减零部件成本。另外,触头2的大致整体通过将线材13卷绕成螺旋状而构成。因此,与将线材13构成为线状的情况相比,能够形成为具有刚性和弹性的构成。例如,如上所述那样线材13的直径是0.05mm左右,将触头2的整体构成为线状时,容易塑性变形。相对于此,通过将线材13卷绕成螺旋状,能够将触头2形成为具有刚性的同时能够弹性变形的构成。
另外,触头2具有配置在触头2的长度方向的一端侧、与电路板P接触的检查侧端部10,相对于该检查侧端部10配置在另一端侧、与检查夹具1的电极6接触的夹具侧端部5,以及连接检查侧端部10与夹具侧端部5、且具有收容在收容孔3的部分的主体部12。而且,该主体部12具有线材13卷绕成螺旋状而具有压缩弹簧的性质和状态的作为弹簧部的弹簧卷绕部22。
这样构成的触头2,弹簧卷绕部22具有弹性而能够伸缩,因此在使检查侧端部10与电路板P的电路电极P1相接时,能够使检查侧端部10以被加力的状态与电路电极P1相接。因此,能够使检查侧端部10与电路电极P1确实地电接触。
另外,触头2的检查侧端部10中,线材13被卷绕为具有压缩弹簧的性质和状态,因此在沿着卷轴L的方向上具有弹性。因此,检查侧端部10如图10所示,能够相对于卷轴L在左右前后方向上弯曲。其结果是,能够使前端部15倾斜地接触于电路电极P1。
在电路电极P1的周围,堆积着保护层(rasist)P2,电路电极P1配置在保护层P2的凹部P3的内侧。因此,例如,在使用前端为针状的触头S时,触头S的前端从电路电极P1稍微偏离而与保护层P2的表面相接的话,就无法使触头S与电路电极P1接触。
相对于此,由于检查侧端部10卷绕成弹簧状,因此能够相对于卷轴L在左右前后方向上弯曲。另外,检查侧端部10的前端部15平坦地形成。因此,即使在检查侧端部10的前端部15与保护层P2的凹部P3侧的边缘部P4相接的情况下,也能够通过检查侧端部10的弯曲,从边缘部P4向电路电极P1侧突出的前端部15向与电路电极P1接触的方向倾斜,从而能够使前端部15与电路电极P1接触。也就是说,进行检查时,理想的是调整检查夹具1与电路板P的相对位置、以使卷轴L位于电路电极P1(凹部P3)的中心,但是即使在该位置调整产生偏差而前端部15与边缘部P4相接的状态下,也能够使触头2的前端部15与电路电极P1确实地接触。
另外,夹具侧端部5中线材13也被卷绕成弹簧状,因此在沿着卷轴L的方向上具有弹性。因此,夹具侧端部5也能够相对于卷轴L在左右前后方向上弯曲。其结果是,即使在电极6和电极保持体7之间存在阶梯部,前端部14如卡在该阶梯部那样相接的情况下,也能够使触头2的前端部14与电极6确实地接触。
触头2,如上所述,弹簧卷绕部22具有弹性而能够伸缩。因此,在使检查侧端部10与电路板P的电路电极P1相接的状态下使检查夹具1向电路板P侧移动的话,弹簧卷绕部22收缩,检查侧端部10向上方移动,并如图9所示那样进入小直径孔17内。在本实施形态中,触头2的检查侧端部10中,线材13被卷绕为其卷径朝向前端而变小。因此,能够防止检查侧端部10卡在小直径孔17的开口边缘部17A而检查侧端部10的向上方的移动被阻止。例如,如上述图10所示,存在检查侧端部10的前端部15与保护层P2的凹部P3侧的边缘部P4相接,而检查侧端部10向左右前后方向弯曲的状态下,向上方移动的情况。即使在这种情况下,由于检查侧端部10中线材13被卷绕为其卷径朝向前端而变小,因此能够防止检查侧端部10卡在小直径孔17的开口边缘部17A的情况。
将电极保持体7安装到收容体4时,将其一部分从收容体4的上面突出的夹具侧端部5压缩收容在大直径孔16内。因此,夹具侧端部5卡在大直径孔16的开口边缘部16A的话,夹具侧端部5的一部分被夹入电极保持体7与收容体4的接合部,从而存在夹具侧端部5与电极6的连接不良的危险。但是,触头2的夹具侧端部5中线材13也被卷绕为其卷径朝向前端而变小。因此,将电极保持体7安装到收容体4时,能够防止夹具侧端部5卡在大直径孔16的开口边缘部16A的情况。
另外,触头2的主体部12上,在弹簧卷绕部22与检查侧端部10之间形成有压紧卷绕部21。在弹簧卷绕部22伸缩、触头2在小直径孔17内向上下方向移动时,压紧卷绕部21被小直径孔17的内周面引导。压紧卷绕部21构成为,由于线材13互相贴紧而难以在收缩方向上发生变化,另外,对于与卷轴L垂直相交的方向,也因刚性高而难以变形。因此,压紧卷绕部21相对于小直径孔17的内周面被确实地引导,从而能够抑制检查侧端部10的向左右前后方向的晃动。因此,能够防止例如因检查侧端部10向左右前后方向的晃动而引起的、与电路电极P1的接触不良。
另外,通过将压紧卷绕部21的长度设长,触头2能够更加稳定地被小直径孔17引导,但是,将压紧卷绕部21设长的话,弹簧卷绕部22的长度变短。弹簧卷绕部22的长度变短的话,在弹簧卷绕部22伸缩时弹簧卷绕部22的每单位长度的伸缩量(变位量)变多,从而导致弹簧卷绕部22的老化(弹力减弱)变快。因此,从触头2被小直径孔17引导的稳定面与弹簧卷绕部22的老化方面考虑,必须适当地设定压紧卷绕部21和弹簧卷绕部22的长度。例如,在本实施形态中的检查夹具1的触头2中,通过相对于检查侧端部10的前端部15的上下方向的变位量,将压紧卷绕部21的长度设定为约4倍左右,另外,将弹簧卷绕部22的长度设定为约6倍,触头2通过收容孔3被稳定地引导,同时,能够有效地抑制弹簧卷绕部22的老化。另外,通过使压紧卷绕部21具有该程度的长度,在进行将触头2插入收容孔3的作业等时,能够利用镊子夹住压紧卷绕部21,从而能够使触头2的使用简单。
另外,触头2在主体部12的弹簧卷绕部22的上部形成有大直径部23,其中,该大直径部23的卷径被设定为能够压入到收容孔3的大直径孔16内。因此,在从收容体4拆卸电极保持体7的状态下,即使收容体4的安装电极保持体7的面朝向下方,触头2也不会从收容孔3脱落。
为了使触头2能够与配置在电路板P的下面的电路电极P1接触,而存在将检查夹具1配置在电路板P的下侧的情况。该情况下,检查侧端部10位于上方,夹具侧端部5位于下方。因此,通过从收容体4拆卸电极保持体7,能够向下方取出触头2,但是,通过大直径部23被压入大直径孔16,能够防止触头2不小心从收容孔3脱落。
触头2的夹具侧端部5的前端部分19和检查侧端部10的前端部分26形成为通过卷轴L。因此,即使触头2以卷轴L为中心进行自转,前端部分19、前端部分26也配置在卷轴L上。也就是说,在触头2收容在收容孔3内时,无论触头2怎样配置在卷轴L的周围,前端部分19和前端部分26都配置为通过卷轴L。因此,能够使触头2与电极6及电路电极P1确实地接触。
(触头的第二实施形态)
触头可以作为图11及图12所示的触头30而构成。图11是检查夹具1的放大剖面图,表示了触头30的主视图。另外,图12是从下方观察图11所示的触头30的仰视图。在图11及图12中,对于与上述的第一实施形态相同的构成部分,标以同一符号,并省略其说明。
触头30如图11及图12所示,在触头30的检查侧端部10的前端部15上设有柱状部31。该柱状部31,通过使卷绕在前端部15的线材13的前端部分32向下方沿着卷轴L而形成。通过在前端部15上设置柱状部31,能够使触头30与电路板P的电路电极P1更加确实地接触。
另外,也可以在触头30的夹具侧端部5的前端部14上,设置与前端部15相同的柱状部。通过在前端部14上设置柱状部,能够使触头30与电极6更加确实地接触。
(触头的第三实施形态)
另外,触头可以作为图13所示的触头40而构成。图13是检查夹具1的放大剖面图,表示了触头40的主视图。在图13中,对于与上述的第一实施形态相同的构成部分,标以同一符号,并省略其说明。
触头40,如图13所示,在触头40的检查侧端部10的前端部15上设有球状部41。通过在前端部15上设置球状部41,能够使触头40与电路板P的电路电极P1更加确实地接触。触头40向电路电极P1的接触,以将检查夹具1与电路板P的相对位置进行位置调整、以使触头40的卷轴L位于电路电极P1(凹部P3)的中心的状态下进行为佳。但是,在检查夹具1与电路板P的相对位置未被调整的情况下,如图14所示,存在球状部41与保护层P2相接的情况。即使在这种情况下,球状部41与保护层P2的凹部P3侧的边缘部P4相接时,如图15所示,球状部41在边缘部P4滑动而进入凹部P3内,从而能够与电路电极P1接触。这样,通过在前端部15上设置球状部41,能够使触头40与电路板P的电路电极P1更加确实地接触。
另外,也可以在触头40的夹具侧端部5的前端部14上设置与前端部15相同的球状部。通过在前端部14形成球状部,在电极6与电极保持体7之间存在阶梯部的情况下,即使设置于前端部14的球状部与该阶梯部相接,也能够使触头40与电极6确实地接触。
设置于检查侧端部10的前端部15的球状部41,例如,能够如下述那样形成。在形成球状部41时,首先,如图16所示,将卷绕在前端部15的线材13的前端部分43沿着卷轴L延伸设置。然后,通过将激光照射于该延伸设置的前端部分43并进行加热,熔化前端部分43。这样的话,熔化部分通过表面张力形成球状,通过将成为球状的熔化部分进行冷却而形成球状部41。
另外,加热除了激光照射之外,还可以利用燃烧器或被加热的焊烙铁等而进行。另外,对于设置在夹具侧端部5的前端部14的球状部,也能够将卷绕在前端部14的线材13的前端部分沿着卷轴L延伸设置,并通过与上述的球状部41相同的方法而形成。
(触头的第四实施形态)
进而,触头可以作为图17所示的触头50而构成。图17是检查夹具1的放大剖面图,表示了触头50的主视图。在图17中,对于与上述的第一实施形态相同的构成部分,标以同一符号,并省略其说明。触头50,如图17所示,将折返部51作为检查侧端部而构成,其中,该折返部51是将形成触头50的线材13的电路板P侧的前端部分,从触头50的前端侧向主体部12侧折返成钩(hook)状而形成。折返部51具有夹着卷轴L配置的侧部52、53,以及连接侧部52与侧部53的圆弧部54等。
圆弧部54与电路电极P1接触。通过将折返部51的前端部分形成为圆弧部54,能够使触头50与电路板P的电路电极P1更加确实地接触。触头50向电路电极P1的接触,以将检查夹具1与电路板P的相对位置进行位置调整、以使触头50的卷轴L位于电路电极P1(凹部P3)的中心的状态下进行为佳。但是,在检查夹具1与电路板P的相对位置未被调整的情况下,如图18所示,存在圆弧部54与保护层P2相接的情况。即使在这种情况下,在圆弧部54与保护层P2的凹部P3侧的边缘部P4相接时,如图19所示,圆弧部54在边缘部P4滑动而进入凹部P3内,从而能够与电路电极P1接触。这样,通过在折返部51上设置圆弧部54,能够使触头50与电路板P的电路电极P1更加确实地接触。
另外,侧部52与侧部53的夹着卷轴L的方向的最大宽度W1(参照图17)被设定为小于小直径孔17的内径M1(参照图7)。在使折返部51接触于电路电极P1的状态下使检查夹具1向电路板P侧移动时,弹簧卷绕部22被压缩,折返部51向上方变位。如上所述,由于侧部52与侧部53的夹着卷轴L的方向的最大宽度W1被设定为小于小直径孔17的内径M1,因此折返部51能够进入收容孔3内。因此,折返部51的向上方的变位不会被妨碍。
另外,触头50,如图17所示,折返部55作为夹具侧端部而构成,其中,该折返部55是将形成触头50的线材13的电极6侧的前端部分从触头50的前端侧向主体部12侧折返成钩状而形成。折返部55具有夹着卷轴L配置的侧部56、57,连接侧部56和侧部57的圆弧部58,以及形成于侧部57的前端的弯曲部59等。
圆弧部58与电极6接触。通过将折返部55的前端部分形成为圆弧部58,能够使触头50与电极6更加确实地接触。也就是说,例如,即使在电极6与电极保持体7之间存在阶梯部,折返部55的圆弧部58与该阶梯部相接的情况下,也能够使触头50与电极6确实地接触。
侧部57的从卷轴L的最大宽度W2被设定为,在将折返部55配置在大直径孔16之前的状态下,相同或稍大于大直径孔16的内径M2(参照图7)的1/2。因此,将折返部55插入大直径孔16时,稍微加以将折返部55塞入大直径孔16的力,而将折返部55压入大直径孔。因此,在从收容体4拆卸电极保持体7的状态下,即使收容体4的安装电极保持体7的面朝向下方时,触头50也不会从收容孔3脱落。
另外,折返部51、折返部55等的上下方向的长度被设定为,在弯曲部59与阶梯部25相接的状态下,主体部12的压紧卷绕部21的一部分和折返部51从收容体4的下面向下方突出,另外,折返部55的圆弧部58的一部分从收容体4的上面向上方突出。通过圆弧部58的一部分从收容体4的上面向上方突出,在电极保持体7安装在收容体4上时,圆弧部58能够与电极6接触。
弯曲部59向卷轴L侧弯曲为,在将折返部55收容在大直径孔16的状态下,弯曲部59的前端部60相对于阶梯部25位于更接近卷轴L侧。因此,向折返部51侧拉触头50的话,弯曲部59的斜面61能够越过阶梯部25,从而能够从小直径孔17侧取出触头50。
另外,侧部57能够通过线材13所具有的弹性在与卷轴L垂直相交的方向上弹性地变位,能够改变侧部56与侧部57之间的间隔D。因此,如图20所示,能够将触头50从折返部55侧插入到小直径孔17内。也就是说,将折返部55插入小直径孔17内的话,侧部57向卷轴L侧变位,从而侧部56与侧部57之间的间隔D变小。因此,能够从小直径孔17侧插入触头50。而且,折返部55通过小直径孔17到达大直径孔16的话,侧部56与侧部57之间的间隔D变大,成为弯曲部59与阶梯部25相接的状态,触头50在上下方向上被定位。
这样,能够从小直径孔17侧取出或插入触头50。因此,不需要将电极保持体7从收容体4拆卸,便能够将触头50从收容孔3拆卸或安装于收容孔3。
上述的触头2、30、40、50以被镀金为佳。通过被镀金,能够降低触头2、30、40、50的电阻。另外,通过进行镀金,在各触头2、30、40、50的压紧卷绕部21中,互相接触的线材13彼此之间通过镀金互相被固定,从而能够使压紧卷绕部21不容易变形。因此,压紧卷绕部21能够通过收容孔3(小直径孔17)的内周面而更加确实地被引导,从而能够抑制检查侧端部10的向左右前后的晃动。因此,能够防止例如因检查侧端部10向左右前后的晃动而引起的、与电路电极P1的接触不良。

Claims (9)

1.一种电触头,利用于检查检查对象物的电特性的检查夹具,配置于上述检查夹具的收容孔的内部,上述电触头的特征在于,
上述电触头由线材构成,并且,
上述电触头具有:配置在上述电触头的长度方向的一端侧、与上述检查对象物接触的检查侧端部,
相对于上述一端侧而配置于另一端侧、与上述检查夹具的接点接触的夹具侧端部,以及
连接上述检查侧端部与上述夹具侧端部、且收容在上述收容孔的主体部;
上述主体部具有上述线材卷绕成螺旋状而具有弹性的弹簧部;
在上述检查侧端部或上述夹具侧端部的至少一方上,上述线材被卷绕为卷径朝向前端而变小,并且,上述线材以隔开间隔的方式被卷绕为螺旋状从而具有压缩弹簧的性质和状态。
2.如权利要求1所述的电触头,其特征在于,在所述检查侧端部或所述夹具侧端部的至少一方的前端部上,形成有使所述线材沿着卷绕有所述线材的卷轴而形成的柱状部。
3.如权利要求1所述的电触头,其特征在于,在所述检查侧端部或所述夹具侧端部的至少一方的前端部上,设有球状部。
4.如权利要求3所述的电触头,其特征在于,所述球状部是将所述线材的前端部熔化而形成。
5.如权利要求1所述的电触头,其特征在于,所述主体部上,在所述弹簧部与所述检查侧端部之间具有所述线材彼此之间贴紧而卷绕的压紧卷绕部。
6.如权利要求1所述的电触头,其特征在于,所述主体部的所述弹簧部的一部分具有卷径大于所述弹簧部的其他部分的卷径的大直径部、从而被压入所述收容孔。
7.如权利要求1~6的任意一项所述的电触头,其特征在于,所述电触头被镀金覆盖。
8.一种检查夹具,使电触头接触于检查对象物而检查上述检查对象物的电特性,上述检查夹具的特征在于,
设有具有收容上述电触头的收容孔的收容体;
上述电触头是权利要求1~6的任意一项所述的电触头。
9.一种检查夹具,使电触头接触于检查对象物而检查上述检查对象物的电特性,上述检查夹具的特征在于,
设有具有收容上述电触头的收容孔的收容体;
上述电触头是权利要求6所述的电触头;
上述收容孔具有收容上述电触头的大直径部的大直径收容部和小直径收容部,其中,该小直径收容部收容上述弹簧部的作为上述大直径部以外的部分的小直径部;
在大直径收容部与小直径收容部的边界部上,形成有与上述大直径部相接的阶梯部。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102680913B (zh) * 2011-03-11 2014-11-05 展晶科技(深圳)有限公司 光源检测装置
TWI424624B (zh) * 2011-09-05 2014-01-21 Frank Hayama Conductive element and its preparation method
DE102014215595A1 (de) * 2014-08-06 2016-02-11 Schaeffler Technologies AG & Co. KG Kontaktierungsstecksystem, Hybridmodul mit Kontaktierungsstecksystem und Verfahren zum Zusammenbau eines Steckergehäuses des Kontaktierungsstecksystems

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1311858A (zh) * 1998-07-10 2001-09-05 日本发条株式会社 导电的接触单元
JP2004279042A (ja) * 2003-03-12 2004-10-07 Seiko Epson Corp プローブ
CN2916640Y (zh) * 2006-06-09 2007-06-27 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 弹性探针
CN101109767A (zh) * 2006-07-17 2008-01-23 范伟芳 二片式模块化弹性探针的改良结构
CN201021933Y (zh) * 2007-02-09 2008-02-13 段超毅 用于集成电路测试的装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19781697T1 (de) * 1996-04-12 1999-03-18 Nhk Spring Co Ltd Elektrisch leitfähiges Kontakteinheitssystem
JP2000065892A (ja) * 1998-06-12 2000-03-03 Machine Active Contact:Kk 導通検査用治具
WO2001018553A1 (fr) * 1999-09-09 2001-03-15 Nhk Spring Co., Ltd. Contact conducteur
JP3773396B2 (ja) * 2000-06-01 2006-05-10 住友電気工業株式会社 コンタクトプローブおよびその製造方法
JP4833011B2 (ja) * 2005-12-20 2011-12-07 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1311858A (zh) * 1998-07-10 2001-09-05 日本发条株式会社 导电的接触单元
JP2004279042A (ja) * 2003-03-12 2004-10-07 Seiko Epson Corp プローブ
CN2916640Y (zh) * 2006-06-09 2007-06-27 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 弹性探针
CN101109767A (zh) * 2006-07-17 2008-01-23 范伟芳 二片式模块化弹性探针的改良结构
CN201021933Y (zh) * 2007-02-09 2008-02-13 段超毅 用于集成电路测试的装置

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