KR100719820B1 - 전기 광학 장치용 기판 및 전기 광학 장치, 그리고 검사방법 - Google Patents
전기 광학 장치용 기판 및 전기 광학 장치, 그리고 검사방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (12)
- 기판면에, 화상 표시 영역을 갖는 전기 광학 장치의 적어도 일부가 되는 기판 장치가 형성되고, 그 기판 장치를 분리하기 위해서 상기 기판 장치가 형성되는 각 형성 영역의 상기 기판면 상에서의 경계를 따라 분할되는 전기 광학 장치용 기판으로서,상기 각 형성 영역 내의 상기 화상 표시 영역에, n 개 (단, n 은 2 이상의 자연수) 의 데이터선을 각각 포함하여 이루어지도록 복수 구비된 데이터선 군,상기 각 형성 영역 내의 상기 화상 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에, 상기 복수의 데이터선 군의 각각에 대응하여 형성되고, n 종류의 화상 신호가 시간축 상에서 멀티플렉스되어 이루어지는 상기 데이터선 군별의 멀티플렉스 신호가 각각 공급되는 복수의 화상 신호 단자,상기 각 형성 영역 내의 상기 화상 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에, 그 복수의 화상 신호 단자로부터 입력되는 상기 멀티플렉스 신호를 선택 신호에 따라 디멀티플렉스함으로써, 상기 n 종류의 화상 신호를 생성하여 상기 n 개의 데이터선에 각각 출력하는 디멀티플렉서,상기 각 형성 영역 내의 상기 화상 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에, 상기 선택 신호를 포함하는 구동 신호가 공급되는 구동 신호 단자, 및상기 기판면 상에서의 상기 각 형성 영역 외의 영역에, 상기 화상 신호 단자의 2 개 이상을 전기적으로 공통으로 접속하도록 형성되어, 상기 기판 장치의 검사용의 검사 신호가 공급되는 검사용 배선을 구비하고,상기 복수의 화상 신호 단자는, 복수의 그룹으로 나뉘어 있고, 상기 검사용 배선은, 상기 그룹마다 상기 화상 신호 단자를 전기적으로 공통으로 접속하도록 복수 계열로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 1 항에 있어서,상기 주변 영역에, 상기 검사용 배선과 전기적으로 접속되어, 상기 검사 신호가 공급되는 검사용 공통 단자가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 1 항에 있어서,상기 형성 영역 외의 영역에, 상기 검사용 배선과 전기적으로 접속되어, 상기 검사 신호가 공급되는 검사용 공통 단자가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 검사용 공통 단자는, 상기 화상 신호 단자보다 상기 기판면 상에서의 사이즈가 큰 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 형성 영역 외의 영역에, 상기 검사용 배선과 1MΩ 이상의 고저항 배선을 통해 전기적으로 접속된 가드 링이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광 학 장치용 기판.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구동 신호 단자는, 1MΩ 이상의 고저항 배선을 통해 상기 검사용 배선과 전기적으로 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 검사용 배선은, 상기 복수의 화상용 단자 중 짝수번째에 위치하는 단자로 이루어지는 그룹과 홀수번째에 위치하는 단자로 이루어지는 그룹의 각각과 전기적으로 접속되는 2 계열로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판 장치는, 상기 기판면 상에 복수 배열되어 있고, 상기 검사용 배선은, 그 복수 배열된 기판 장치에 있어서의 상기 화상 신호 단자를 전기적으로 공통으로 접속하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 각 형성 영역의 상기 화상 표시 영역에,상기 데이터선과 교차하는 복수의 주사선, 및상기 데이터선과 상기 주사선의 교점에 대응하여 각각 형성된 복수의 화소부 를 구비함과 함께,상기 주변 영역에 상기 복수의 주사선으로 주사 신호를 각각 출력하는 주사선 구동 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치용 기판.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치용 기판을, 상기 각 형성 영역의 경계를 따라 분할하여 얻어지는 상기 기판 장치,상기 n 종류의 화상 신호를 시간축 상에서 멀티플렉스함으로써 상기 멀티플렉스 신호를 생성하여 상기 복수의 화상 신호 단자에 공급하는 화상 신호 공급 수단, 및상기 구동 신호를 상기 구동 신호 단자에 공급하는 구동 신호 공급 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 기판면에, 화상 표시 영역을 갖는 전기 광학 장치의 적어도 일부가 되는 기판 장치가 형성되고, 그 기판 장치를 분리하기 위해서, 상기 기판 장치가 형성되는 각 형성 영역의 상기 기판면 상에서의 경계를 따라 분할되는 전기 광학 장치용 기판에 적용되는, 상기 기판 장치를 검사하는 검사 방법으로서,상기 각 형성 영역 내의 상기 화상 표시 영역에, n 개 (단, n 은 2 이상의 자연수) 의 데이터선을 각각 포함하여 복수 구비된 데이터선 군,상기 화상 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에, 상기 복수의 데이터선 군의 각각에 대응하여 형성되어, n 종류의 화상 신호가 시간축 상에서 멀티플렉스되어 이루어지는 상기 데이터선 군별의 멀티플렉스 신호가 각각 공급되는 복수의 화상 신호 단자,상기 화상 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에, 그 복수의 화상 신호 단자로부터 입력되는 상기 멀티플렉스 신호를 선택 신호에 따라 디멀티플렉스함으로써 상기 n 종류의 화상 신호를 생성하여 상기 n 개의 데이터선에 각각 출력하는 디멀티플렉서,상기 화상 표시 영역의 주변에 위치하는 주변 영역에, 상기 선택 신호를 포함하는 구동 신호가 공급되는 구동 신호 단자, 및상기 기판면 상에서의 상기 각 형성 영역 외의 영역에, 상기 화상 신호 단자의 2 개 이상을 전기적으로 공통으로 접속하도록 형성되어 있는 상기 기판 장치의 검사용의 검사 신호가 공급되는 검사용 배선을 구비하고,상기 복수의 화상 신호 단자는, 복수의 그룹으로 나뉘어 있고, 상기 검사용 배선은, 상기 그룹마다 상기 화상 신호 단자를 전기적으로 공통으로 접속하도록 복수 계열로 이루어지며,상기 검사용 배선을 이용하여 상기 검사 신호를 상기 화상 신호 단자의 각각에 공급하여, 상기 기판 장치를 구동시키는 구동 단계, 및상기 기판 장치의 구동 상황에 기초하여 검사하는 검사 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004274659A JP2006091239A (ja) | 2004-09-22 | 2004-09-22 | 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに検査方法 |
JPJP-P-2004-00274659 | 2004-09-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060051407A KR20060051407A (ko) | 2006-05-19 |
KR100719820B1 true KR100719820B1 (ko) | 2007-05-18 |
Family
ID=36072996
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050087037A KR100719820B1 (ko) | 2004-09-22 | 2005-09-16 | 전기 광학 장치용 기판 및 전기 광학 장치, 그리고 검사방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7633469B2 (ko) |
JP (1) | JP2006091239A (ko) |
KR (1) | KR100719820B1 (ko) |
CN (1) | CN100433086C (ko) |
TW (1) | TW200612143A (ko) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100754140B1 (ko) * | 2005-12-21 | 2007-08-31 | 삼성에스디아이 주식회사 | 원장단위 검사가 가능한 유기 발광 표시장치 및 모기판과그 검사방법 |
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- 2004-09-22 JP JP2004274659A patent/JP2006091239A/ja not_active Withdrawn
-
2005
- 2005-08-11 US US11/201,179 patent/US7633469B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-08-26 TW TW094129335A patent/TW200612143A/zh unknown
- 2005-09-16 KR KR1020050087037A patent/KR100719820B1/ko active IP Right Grant
- 2005-09-22 CN CNB2005101051069A patent/CN100433086C/zh not_active Expired - Fee Related
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CN100433086C (zh) | 2008-11-12 |
CN1753060A (zh) | 2006-03-29 |
JP2006091239A (ja) | 2006-04-06 |
US20060060851A1 (en) | 2006-03-23 |
TW200612143A (en) | 2006-04-16 |
US7633469B2 (en) | 2009-12-15 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
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