KR100192197B1

KR100192197B1 - 레벨 설정 회로

Info

Publication number: KR100192197B1
Application number: KR1019940030572A
Authority: KR
Inventors: 마사시 아라이; 아끼라 쯔끼하시
Original assignee: 다카노 야스아키; 산요 덴키 가부시키가이샤
Priority date: 1993-11-22
Filing date: 1994-11-21
Publication date: 1999-06-15
Also published as: CN1083129C; US5574714A; CN1126351A; TW256903B; JP2889803B2; EP0654787A1; JPH07147061A; DE69428091D1; KR950015336A; DE69428091T2; EP0654787B1

Abstract

본 발명은 광학식 디스크로부터 독출되는 EFM 신호의 레벨을 소정 레벨로 설정하는 것을 목적으로 한다.

EFM 신호의 피크치를 검출하는 피크 검출 회로(12)와, 상기 피크치와 기준치 c와의 비교 오차에 따라 제어 신호를 발생하는 피크 비교 회로(14)와, EFM 신호의 보텀치를 검출하는 보텀 검출 회로(13)와, 상기 보텀치와 기준치 d와의 비교 오차에 따라 시프트 신호를 발생하는 보텀 비교 회로(15)와, 제어 신호에 따른 증폭률로 EFM 신호를 증폭하는 증폭기(10)과, 시프트 신호에 따라 EFM 신호를 레벨 시프트하는 레벨 시프트 회로(11)로 구성된다.

Description

레벨 설정 회로

제1도는 본 발명의 한 실시예를 도시한 블록도.

제2도는 종래예를 도시한 블록도.

제3도는 EFM 신호의 파형을 도시한 파형도.

제4도는 제1도의 피크 검출 회로(12), 보텀(bottom) 검출 회로(13), 피크 비교 회로(14) 및 보텀 비교 회로(15)의 구체적 회로예를 도시한 회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 증폭기 11 : 레벨 시프트 회로

12 : 피크 검출 회로 13 : 보텀 검출 회로

14 : 피크 비교 회로 15 : 보텀 비교 회로

본 발명은 광학식 디스크의 재생 장치에 있어서 광학식 디스크로부터 독출되는 EFM 신호의 레벨을 소정치로 설정할 수 있는 레벨 설정 회로에 관한 것이다.

종래, 디지털 데이터의 독출 및 포커스 제어용의 메인 빔과, 트랙킹 제어용의 서브 빔을 갖고 있는 3빔 방식을 이용한 광학식 디스크의 재생 장치에 있어서, 광학식 디스크의 디지털 데이터를 독출하여 EFM 신호를 재생하는 경우, 제2도와 같이 구성되는 회로로 재생하였다. 제2도에 있어서, 광학식 디스크 상에서 반사된 메인 빔은 4개의 포토다이오드(1 내지 4)로 검출된다. 포토다이오드(1 및 2, 또는 3 및 4)의 2개의 검출 신호는 증폭기(5 및 6)에서 각각 증폭되어 가산기(7)에서 가산됨으로써, EFM 신호가 재생된다. 재생된 EFM 신호는 더욱 증폭기(6)에서 증폭되어 출력 단자(7)을 통해 다음 단의 회로에 전송된다.

EFM 신호는 다음 단의 회로에서 클럭 신호 재생 처리나 에러 정정 처리 등의 처리가 행해진 후, 음성 데이터로 복조된다. 또한, CD 상에 흠이 존재하여 그 흠 위를 레이저 빔이 통과한 경우, EFM 신호는 예를 들면 제3(a)도와 같은 파형으로 되어 발생되고, 레이저 빔이 복수의 트랙열을 횡단하는 경우, EFM 신호는 예를 들면 제3(b)도와 같은 파형으로 된다. 이와 같이, EFM 신호는 음성 데이터 등의 데이터를 가짐과 동시에, 제3(a)도의 파형에서 디스크 상의 흠을 검출하거나, 제3(b)도의 파형으로부터 억세스 중에 있어서 메인 빔이 디스크 상의 어느 위치에 있는지를 판별하기 위해 이용되고 있다.

따라서, EFM 신호는 음성을 재생하거나 여러 가지 처리 및 검출을 행하기 위한 중요한 신호로, 제2도의 회로를 이용하면 EFM 신호를 재생할 수 있다.

그런데, 3빔 방식에 있어서, 메인 빔을 피트(pit)열에 추종시켜 그 반사광을 검출하는 경우, 피트의 크기에 따라 메인 빔의 반사광의 광량이 변화하므로, 제 3(c)도와 같은 EFM 신호의 피크치, 보텀치는 변화한다. 또한, 광학식 디스크에 따라 반사율이 다르므로, 빔의 반사광 광량이 다르고, 검출되는 EFM 신호의 크기는 광학식 디스크에 따라 다르다. 더욱이, EFM 신호의 피크치 및 보텀치 는 각각의 광학식 디스크에 따라 달라진다.

EFM 신호는 후단에 있어서의 처리가 용이하도록 파형 정형된다. 그 경우, 제2도의 회로는 단순히 증폭기(8)에서 EFM 신호가 증폭될 뿐이므로, 증폭기(5)의 게인이 작고, EFM 신호가 작으면 노이즈에 영향을 받아 정확하게 파형 정형할 수 없다. 그래서, 노이즈에 영향받지 않도록 상기 증폭률을 크게 하여 EFM 신호를 크게 하고 나서 파형 정형하고 있지만, 검출된 EFM 신호가 전부 큰 경우, 증폭기(5)의 다이나믹 레인지에 의해 증폭된 EFM 신호에 클립이 발생하는 문제가 있었다.

또한, 다른 문제로서, 예를 들면 제3(b)도의 파형으로부터 EFM 신호의 b 레벨의 변화를 검출하여 처리를 행하려고 하면, 광학식 디스크에 따라 EFM 신호가 달라져 있으므로, b 레벨이 소정 레벨에 도달하지 않으면, b 레벨의 변화가 검출되지 않아 처리가 행해지지 않는 경우가 있었다.

본 발명은 상술한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 입력 신호를 증폭하고, 제1 제어신호에 따라 증폭률이 변화하는 증폭기와, 제2 제어신호에 따라 상기 증폭기의 출력 신호 레벨을 시프트하는 레벨 시프트 회로와, 이 레벨 시프트 회로의 출력 신호의 피크치를 검출하고, 상기 피크치가 제1 소정치가 되도록 상기 증폭기의 증폭률을 변화시키는 제1 제어 신호를 발생하는 피크 제어 회로와, 상기 레벨 시프트 회로의 출력 신호의 보텀치를 검출하고, 상기 보텀치가 제2 소정치가 되도록 상기 레벨 시프트 회로의 시프트량을 변화시키는 제2 제어 신호를 발생하는 보텀 제어 회로로 구성되는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따르면, 입력 신호는 증폭기에서 증폭되고, 그후 레벨 시프트 회로에서 레벨 시프트된다. 시프트 회로의 출력 신호는 후단의 회로에 전송됨과 동시에 피크 제어 회로 및 보텀 제어 회로에도 인가된다. 피크 제어 회로에서 상기 출력 신호의 피크치가 검출되고, 증폭기에 제1 제어 신호를 발생하여, 증폭기의 출력 신호의 피크치가 제1 소정치로 되도록 할 수 있고, 또한 보텀 제어 회로에서 상기 출력 신호의 보텀치를 검출하고, 레벨 시프트 회로에 제2 제어 신호를 발생하여 레벨 시프트 회로의 출력 신호의 보텀치를 제2 소정치로 할 수 있다.

제1도는 본 발명의 한 실시예를 도시한 도면으로, 참조번호(10)은 제어 신호에 따라 게인이 변화하는 증폭기, 참조번호(11)은 증폭기(10)의 출력 신호의 레벨을 시프트하는 레벨 시프트 회로, 참조번호(12)는 레벨 시프트 회로(11)의 출력 신호의 피크치를 검출하는 피크 검출 회로, 참조번호(13)은 레벨 시프트 회로(11)의 출력 신호의 보텀치를 검출하는 보텀 검출 회로, 참조번호(14)는 피크 검출 회로(12)의 출력치와 기준치(c)를 비교하는 피크 비교 회로, 참조번호(15)는 보텀 검출 회로(13)의 출력치와 상기 기준치와 상이한 기준치 d를 비교하는 보텀 비교 회로이다. 또, 종래와 동일한 회로에 대해서는 동일 부호를 붙이고 그 설명은 생략한다.

제1도에서, 포토다이오드(1 내지 4)의 검출 신호는 가산기(7)에서 가산되어 EFM 신호가 생성된다. EFM 신호는 증폭기(10)에서 증폭된 후, 레벨 시프트 회로(11)에서 EFM 신호의 레벨이 시프트되고, 다음 단의 회로에 전송된다. 한편, 레벨 시프트 회로(11)의 출력 신호는 피크 검출 회로(12) 및 보텀 검출 회로(13)에도 인가된다. 피크 검출 회로(12)에서 상기 출력 신호의 피크치가 검출되고, 검출된 피크치는 피크 비교 회로(14)에서 기준치 c와 비교된다. 피크 비교 회로(14)는 상기 피크치와 기준치 c와의 오차에 따라 제어 신호를 발생하고, 상기 제어 신호에 따라 증폭기(10)의 게인을 변화시킨다. 그 때문에, 증폭기(10)에서 증폭된 EFM 신호의 피크치는 기준치 c와 동일해진다.

또한, 보텀 검출 회로(13)에 있어서, 레벨 시프트 회로(11)의 출력 신호의 보텀치가 검출되고, 보텀 비교 회로(15)에서 상기 보텀치는 기준치 d와 비교되어, 보텀 비교 회로(15)로부터 비교 오차에 따라 시프트 신호가 발생한다. 시프트 신호는 시프트 회로(11)의 입력단에서 증폭기(10)의 출력 신호와 혼합되고, 시프트 신호에 따라 시프트량이 변화한다. 그 때문에, 레벨 시프트 회로(11)에서 레벨 시프트된 EFM 신호의 보텀치는 기준치 d와 동일해진다.

피크 비교 회로(14)에 있어서 피크치가 기준치 c보다 커진 경우, 피크 비교 회로(14)로부터 발생하는 제어 신호에 의해 증폭기(10)의 게인을 작게 하여 EFM 신호의 피크치는 작아진다. 이와 반대로, 피크치가 기준치 c보다 작아진 경우, 증폭기(10)의 게인이 커져서 극대치가 커진다.

또한, 보텀 비교 회로(15)에 있어서 보텀치가 기준치 d보다 커진 경우, 보텀 비교 회로(15)로부터 발생하는 시프트 신호는 커진다. 시프트 신호가 커지면, 시프트 회로(8)은 EFM 신호의 레벨을 작게 하는 방향으로 시프트하므로, 보텀치는 작아진다. 이와 반대로, 보텀치가 기준치 c보다 작아진 경우, 시프트 신호는 작아지고, 보텀치는 커지는 방향으로 레벨 시프트한다.

그런데, 시프트 회로(11)은 제1도와 같이 앰프(16)과, 저항(17 및 18)으로 구성된다. 저항(17 및 18)의 저항치를 R1 및 R2라 하면, 앰프(13)의 게인은 -R1/R2 로 되고, 각 저항치가 결정되면 게인은 임의적으로 결정된다. 또한, 앰프(13)의 출력에 발생하는 전압 Vout은 저항(17)의 저항치 R1과 그것에 흐르는 전류 I로 결정되고, Vout = -R1 × I 로 된다. 따라서, 보텀 비교 회로(15)로부터 발생하는 시프트 신호인 전류를 가변시킴으로써, 전압 Vout을 가변할 수 있고, 즉 시프트 신호의 크기에 따라 EFM 신호를 레벨 시프트할 수 있다.

또한, EFM 신호가 기준치 c 및 d로 설정되는 동작을 설명한다. EFM 신호는 검출된 피크와 기준치와의 오차에 따른 증폭률에 따라 증폭기(10)에서 증폭되어 피크치는 기준치 c와 동일해지고, 보텀치도 커진다. 그리고, 레벨 시프트 회로(11)에 있어서, 검출된 보텀치와 기준치 d와의 오차에 따른 시프트량으로 EFM 신호는 보텀치가 기준치 d가 되도록 레벨 시프트된다. EFM 신호가 레벨 시프트되면, 피크치는 기준치 c로부터 벗어나고, 다시 검출된 피크치와 기준치 c의 오차에 따른 증폭률로 EFM 신호는 증폭되고, 피크치는 기준치 c와 동일해진다. 또한 EFM 신호가 증폭되면, 보텀치는 기준치 d로부터 벗어나고, 다시 검출된 보텀치와 기준치 d의 오차에 따른 시프트량으로 EFM 신호는 레벨 시프트되고, 보텀치는 기준치 d와 동일해진다. 이상의 동작을 반복함으로써, 피크치와 기준치 c와의 오차 및 보텀치와 기준치 d와의 오차는 작아지고, 피크치 및 보텀치는 각각 기준치 c 및 d로 설정된다.

제4도에 피크 검출 회로(12), 보텀 검출 회로(13), 피크 비교 회로(14) 및 보텀 비교 회로(15)의 구체적인 회로예를 도시한다. 또, 회로 구성은 종래의 것과 동일하므로 그 설명은 생략한다. 레벨 시프트 회로(11)로부터 발생하는 EFM 신호는 피크 검출 회로(12) 및 보텀 검출 회로(13)에 인가된다. 피크 검출 회로(12)에 인가된 EFM 신호는 트랜지스터(19)에서 레벨 시프트된다. 트랜지스터(19)의 콜렉터 전류가 콘덴서(20)을 충방전함으로써 발생하는 콘덴서(20)의 단자 전압은 트랜지스터(21)에서 레벨 시프트되어 피크치가 검출된다. 상기 피크치는 피크 비교 회로(14)의 트랜지스터(22)의 베이스에 인가되고, 트랜지스터(23)의 베이스에 인가되는 기준치 c와 비교된다. 비교 오차에 따라 발생하는 트랜지스터(22 및 23)의 콜렉터 전류는 각각 전류 미러 회로(24)를 통해, 또한 전류 미러 회로(25 및 26)을 통해 트랜지스터(27 및 28)의 콜렉터에 발생한다. 트랜지스터(27 및 28)의 콜렉터 전류의 차에 따른 전류는 저항(29)에서 전압 변환되어 제어 신호로서 증폭기(10)에 인가된다.

또한 보텀 검출 회로(13)에 인가된 EFM 신호는 트랜지스터(30)에서 레벨 시프트된다. 트랜지스터(30)의 콜렉터 전류가 콘덴서(31)을 충방전함으로써 발생하는 콘덴서(31)의 단자 전압은 트랜지스터(32)에서 레벨 시프트되어 보텀치가 검출된다. 상기 보텀치는 보텀 비교 회로(15)의 트랜지스터(33)의 베이스에 인가되고, 트랜지스터(34)의 베이스에 인가되는 기준치 d와 비교된다. 비교 오차에 따라 발생하는 트랜지스터(33)의 콜렉터 전류와 트랜지스터(34)의 콜렉터 전류가 전류 미러 회로(35)를 통해 발생하는 트랜지스터(36)의 콜렉터 전류는 가산되어 트랜지스터(37)의 베이스 전류에 공급된다. 트랜지스터(37)의 콜렉터 전류는 상기 베이스 전류에 따라 발생하여 시프트 신호로서 레벨 시프트 회로(11)에 공급된다.

본 발명에 따르면, 광학식 디스크로부터 독출된 EFM 신호의 레벨을 소정 레벨로 할 수 있으므로, 노이즈에 영향받지 않고 EFM 신호로부터 정확한 데이터가 얻어져 후단의 여러 가지 처리에 양호하게 이용된다.

Claims

입력 신호를 증폭하고, 제1 제어 신호에 따라 증폭률이 변화하는 증폭기와, 제2 제어 신호에 따라 상기 증폭기의 출력 신호 레벨을 시프트하는 레벨 시프트 회로와, 상기 레벨 시프트 회로의 출력 신호의 피크치를 검출하고, 상기 피크치가 제1 소정치가 되도록 상기 증폭기의 증폭률을 변화시키는 제1 제어 신호를 발생하는 피크 제어 회로와, 상기 시프트 회로의 출력 신호의 보텀치를 검출하고, 상기 보텀치가 제2 소정치가 되도록 상기 레벨 시프트 회로의 시프트량을 변화시키는 제2 제어신호를 발생하는 보텀 제어 회로로 구성되는 것을 특징으로 하는 레벨 설정 회로.