JPWO2020194441A1 - 高周波半導体増幅器 - Google Patents

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Abstract

本発明に係る高周波半導体増幅器は、半導体基板上に形成されたゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタと、トランジスタの入力側基本波整合用の整合回路と、半導体基板上に形成され、一端がトランジスタのゲート電極に、他端が整合回路に接続された第1のインダクタと、半導体基板上に形成され一端が短絡された容量と、半導体基板上に形成され、一端がトランジスタのゲート電極に、他端が容量の他端に接続された第2のインダクタと、を備えている。第2のインダクタは、2倍波の周波数において容量と直列共振し、第1のインダクタと減極性の相互インダクタンスを呈すると共に、第1のインダクタとで入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。

Description

この発明は、高周波半導体増幅器に関するものである。
動作時の低消費電力化、すなわち高効率化は半導体増幅器における基本的な課題である。マイクロ波を超える高周波で電力を増幅する高周波半導体増幅器における、この課題に対する回路面からのアプローチの一つに、半導体が増幅する信号の周波数(以下、基本波)の、倍数にあたる周波数(以下、高調波)において、半導体から見込んだ周辺回路のインピーダンスの制御により高効率動作を達成する手法、いわゆる高調波処理、がある。ここで、高調波の中でも基本波の2倍の周波数にあたる、2倍波での制御が特に重要である。
例えば、半導体チップ上のトランジスタのゲート近傍に、MIM(Metal Insulator Metal)キャパシタと、伝送線路により構成されたインダクタからなる、2倍波共振回路を接続して入力2倍波を制御することにより、高周波半導体増幅器の高効率化を図る手法が、例えば特許文献1に公開されている。
インダクタを伝送線路で構成した場合、トランジスタの電極近傍に大きな面積を占める。そこで実際の半導体製品においては、インダクタをスパイラルインダクタで構成することで、所望のインダクタンスをより小さな面積で実現して半導体チップの面積を低減し、コストを低減した事例が非特許文献1に示されている。
特開2013−118329号公報
図9から図14に、上記した入力2倍波の制御技術が適用された、従来の高周波半導体増幅器の例を示す。従来の高周波半導体増幅器は、パッケージ12に封止された、携帯電話基地局用の、1段増幅器である。
なお図において、同一の符号を付したものは、同一またはこれに相当するものであり、このことは明細書の全文において共通することである。
図9と図10に、従来の高周波半導体増幅器の断面図と上面図を示す。図9は図10の矢印Aから見た、従来の高周波半導体増幅器の断面図である。図10は従来の高周波半導体増幅器の上面図である。従来の高周波半導体増幅器のパッケージ内の実装状況を示すため、図9におけるキャップ12cは、図10には図示されていない。
図9に示すように、パッケージ12は、金属プレート12a、絶縁体12b、キャップ12c、及びリード10、14から構成されている。
絶縁体12bはセラミックからなる枠体であり、ロウ付けにより金属プレート12aの上面に接して固定されている。
リード10及び14は、銅合金等の薄板から形成されており、ロウ付けにより絶縁体12bの上面に固定されている。絶縁体12b並びに金属プレート12aに形成されるパッケージの内部は、接着剤(図示せず)を用いてキャップ12cにより封止されている。キャップ12cは、材料はセラミックである。
リード10は、従来の高周波半導体増幅器への高周波電力の入力用リードであって、ゲートバイアス端子を兼ねている。リード14は、従来の高周波半導体増幅器により増幅された高周波電力の出力用リードであって、ドレインバイアス端子を兼ねている。
チップT1はSiC(Silicon Carbide)基板の上面に、GaN(Gallium Nitride)を主材料とする半導体層をエピタキシャル成長させた半導体基板の小片であって、チップT1の上面には、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタ(図9、10には図示せず)が形成されている。このトランジスタは高周波特性に優れたHEMT(High Electron Mobility Transistor)である。
チップP1は、チップT1に形成されたトランジスタの入力側の基本波を整合する整合回路(プリマッチ用回路)の一部を形成したGaAsを主材料とする半導体基板の小片である。チップT1及びチップP1は、はんだ、導電性接着剤等の接合材(図示せず)により、金属プレート12aの上面に固定され、電気的に接続されている。
金属プレート12aは、その上面に搭載されたチップT1で発生する熱を金属プレート12aの裏面に伝える放熱板の役割を果たしている。金属プレート12aの裏面は、従来の高周波半導体増幅器の接地端子の役割を果たし、チップT1、及びチップP1に対しグランド電位を与える。
リード10及びチップP1は、ワイヤW11〜W15により接続されている。P1及びチップT1は、ワイヤW21〜W25により接続されている。チップT1及びリード14は、ワイヤW31〜W35により接続されている。
図10に示すように、入力用のリード10とチップP1とを接続するワイヤW11からW15は上面より見て略平行に配置されている。チップP1とチップT1とを接続するワイヤW21からW25は上面より見て略平行に配置されている。チップT1と出力用のリード14とを接続するワイヤW31からW35は上面より見て略平行に配置されている。
図11は、従来の高周波半導体増幅器の内部を上面から見た詳細図である。チップP1の上面に、入力側基本波整合用の整合回路MC1〜MC5が配置されている。基本波整合回路MC1〜MC5は、それぞれ独立した出力側のボンディングパッドを有し、入力側に共通となる信号入力用のワイヤボンディングパッドPPを有している。
トランジスタTr1〜Tr5は、チップT1の上面に形成されており、HEMTセルを形成している。なお本明細書におけるHEMTセルとはトランジスタ近傍でゲート電極が互いに接続された単位Trのかたまりを示すものとする。トランジスタTr1〜Tr5はそれぞれ独立したゲート電極に繋がっているボンディングパッドと、ドレイン電極に繋がっている共通の信号出力用のワイヤボンディングパッドTTを有している。
チップT1の上面には、2倍波整合用インダクタL1〜L5,2倍波整合用容量C1〜C5からなる2倍波短絡回路が配置されている。2倍波整合用インダクタL1〜L5の一端はトランジスタTr1〜Tr5のゲートに接続され、他端は2倍波整合用容量C1〜C5の一端に接続されている。2倍波整合用容量C1〜C5の他端は、チップT1に形成された裏面へ繋がるVIAを介して、接地されている。2倍波整合用インダクタL1〜L5,及び2倍波整合用容量C1〜C5は直列に接続されている。
図12は、図11の接続点IN1からOUT1に至る経路の等価回路である。チップT1上に形成された2倍波整合用インダクタL1と2倍波整合用容量C1は、2倍波近辺の周波数で共振する2倍波短絡回路を形成している。上述の高効率化は、トランジスタのゲートから見込んだ2倍波のインピーダンスの反射係数の大きさを概略1(全反射)とし、反射係数の位相を適切に設定することで実現される。
ここで、全反射は2倍波短絡回路が共振により理想的に0Ωとなった場合にのみ実現されるものであるが、実用上は基本波のインピーダンスと比較して2倍波短絡回路のインピーダンスが1/5以下とすれば、高効率化に一定以上の効果があることを付記しておく。
図13は、ドレイン効率の入力2倍波反射位相依存性を示す図である。図12における経路IN1からOUT1へ至る電力増幅器のドレイン効率を、トランジスタTr1のゲート電極から接続点IN1方向を見た2倍波インピーダンスの反射係数の大きさを概略1(全反射)とした状態で反射位相を変化させてシミュレーションしている。ただし、このシミュレーションでは、ゲート電極から見た当該反射係数の大きさと位相を理想的に変化させており、図12の2倍波整合用インダクタL1と2倍波整合用容量C1は含まれていない。
図13の縦軸は増幅器のドレイン効率を示し、横軸はゲート電極から信号源側、すなわち接続点IN1方向、を見た2倍波インピーダンスの反射位相を示している。図13に示されるように、増幅器のドレイン効率はゲートから見た2倍波反射位相によって変化する。通例180°付近で最大値を示し、本シミュレーションにおいても170°〜190°で最大効率が得られている。
一方、実際の回路のインピーダンスは周波数特性を有する。図14は従来の高周波半導体増幅器における入力側インピーダンスの軌跡を示す図である。具体的には、図12の等価回路において、トランジスタTr1のゲート電極から接続点IN1の方向を見たインピーダンスの周波数依存性を示したベクトル軌跡である。
ここで、高周波半導体増幅器で電力増幅を行おうとする基本波の帯域の下限周波数をfl、上限周波数をfh、これらのセンター周波数をfcとする。また2倍波帯域の下限周波数を2fl(flの2倍の周波数)、上限周波数を2fh(fhの2倍の周波数)、これらのセンター周波数を2fcとする。本シミュレーションにおいて、fl=3.4GHz、fh=3.6GHzである。
図14において、基本波帯域の周波数fl、fc、fhにおけるインピーダンスをマーカーで示しているが、これらのインピーダンスはほぼ一点に集まっている。すなわち周波数特性が小さいことを示している。一方、2倍波帯域の周波数2fl、2fc、2fhにおけるインピーダンスもマーカーで示しているが、2倍波のインピーダンスの軌跡は基本波帯域と比較してマーカーの間隔がかなり広い。
すなわち高調波でのインピーダンスの周波数依存性は、基本波におけるインピーダンスの周波数依存性と比較して大きいことが分かる。この広がりは、図13に示した最大効率が得られる範囲を逸脱している。
このため、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が出来ないという課題がある。
本発明に係る高周波半導体装置は、半導体基板に形成された、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタと、トランジスタの入力側基本波整合用の整合回路と、半導体基板上に形成され、一端が前記トランジスタのゲート電極に、他端が前記整合回路に接続された第1のインダクタと、半導体基板上に形成され、一端が短絡された容量と、半導体基板上に形成され、一端がトランジスタのゲート電極に、他端が容量の他端に接続された第2のインダクタとを備えている。
第2のインダクタは、2倍波の周波数において容量と直列共振し、第1のインダクタと減極性の相互インダクタンスを呈するとともに、第1のインダクタとで入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされたもので、広い周波数帯域で高効率な電力増幅が可能な高周波半導体増幅器の提供を目的とする。
本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器の内部を上面から見た詳細図である。 図1の接続点IN1からOUT1に至る経路の等価回路の図である。 本発明の動作を説明するための等価回路図である。 図4は、図2における基本波回路、及び2倍波短絡回路のインピーダンスの周波数依存性を示した図である。 nの周波数依存性を示す図である。 本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器における入力側インピーダンスの軌跡を示す図である。 本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器の内部を上面から見た詳細図である。 図7のTr2近傍の拡大図である。 従来の高周波半導体増幅器の断面図である。 従来の高周波半導体増幅器の上面図である。 従来の高周波半導体増幅器の内部を上面から見た詳細図である。 図11の接続点IN1からOUT1に至る経路の等価回路である。 ドレイン効率の入力2倍波反射位相依存性を示す図である。 従来の高周波半導体増幅器における入力側インピーダンスの軌跡を示す図である。
実施の形態1.
本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器について、図1から図6を用いて説明する。以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態について説明する。
図1は、本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器の内部を上面から見た詳細図である。図11を用いて先に説明した従来の高周波半導体増幅器との大きな違いは、チップT1上に互いに減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する、2倍波整合用インダクタL11〜L15、及び基本波回路用インダクタL21〜L25を有していることである。
従来の高周波半導体増幅器と同じく、チップT1はSiC(Silicon Carbide)基板の上面に、GaN(Gallium Nitride)を主材料とする半導体層をエピタキシャル成長させた半導体基板の小片である。
チップT1の上面にはゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタTr1〜Tr5が形成されている。このトランジスタは高周波特性に優れたHEMT(High Electron Mobility Transistor)である。すなわち、トランジスタTr1〜Tr5は、GaN系HEMTである。
チップP1は、トランジスタTr1〜Tr5の入力側基本波を整合する整合回路(プリマッチ用回路)を、GaAs基板上に形成したチップである。
基本波回路用インダクタL21〜L25はチップT1上に形成されており、一端がトランジスタTr1〜Tr5のゲート電極に接続されており、ワイヤW21〜W25を介してチップP1に形成された入力側基本波整合用の整合回路MC1〜MC5に他端が接続されている。
2倍波整合用容量C11〜C15はチップT1上に形成されており、一端はチップT1に形成されたチップT1の裏面へ導通するVIAを介して短絡されている。
2倍波整合用インダクタL11〜L15はチップT1上に形成されており、一端はトランジスタTr1〜Tr5のゲート電極に接続され、他端は容量C11〜C15の他端に接続されている。
すなわち、2倍波整合用インダクタL11〜L15と2倍波整合用容量C11〜C15とVIAは直列に接続され、ほぼ2倍波の周波数において直列共振するよう構成されており、2倍波短絡回路を形成している。
2倍波整合用インダクタL11〜L15及び基本波回路用インダクタL21〜L25は、単位面積あたりのインダクタを高めて半導体の面積を縮小できるように、うずまき状の伝送線路であるスパイラルインダクタを構成している。
2倍波整合用インダクタL11〜L15及び基本波回路用インダクタL21〜L25は、うずまき部分で伝送線路が近接するようにうずまきを重ね、かつチップ上面から見てうずまきの巻き方向が逆となるように配置されている。
よって、2倍波整合用インダクタL11〜L15及び基本波回路用インダクタL21〜L25は、減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成している。
図2は、図1の接続点IN1からOUT1に至る経路の等価回路であり、本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器の一部を抜き出したものである。
先にも述べたように、2倍波整合用インダクタL11と2倍波整合用容量C11とは直列に接続されており、2倍波整合用容量C11の一端は接地されている。2倍波整合用インダクタL11のインダクタンス値と2倍波整合用容量C11の容量値は、2倍波の周波数で共振し、ほぼ短絡するよう設定されている。
なお,短絡とは理想的は0Ωであるが、実用上は基本波のインピーダンスと比較して2倍波短絡回路のインピーダンスが1/5以下となれば、高効率化に一定以上の効果があることを付記しておく。
2倍波整合用インダクタL11及び基本波回路用インダクタL21は、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成している。すなわち、基本波回路用インダクタL21と2倍波整合用インダクタL11とに、同時にゲートから電力が入力された場合に、減極性の相互インダクタンスを呈するように配置されている。
基本波回路用インダクタL21はワイヤW21の一端に接続されている。ワイヤW21の他端にはシャント接続された容量Cp1、並びに並列接続された容量Cs1及び抵抗Rs1が接続されている。容量Cp1、Cs1、及び抵抗Rs1はチップP1上に形成されており、整合回路MC1を構成している。抵抗Rs1は、基本波より低い周波数における動作の安定性を高め、容量Cs1は基本波での抵抗値を下げる目的で用いられている。
容量Cp1並びに基本波回路用インダクタL21及びワイヤW21は、入力側の基本波に対するプリマッチ回路として動作する。パッケージ外部のトランスミッションラインTL1は、インピーダンス変換器として動作する。
図3は、本発明の動作を説明するための等価回路図である。図3(a)は、図1の接続点IN1からOUT1に至る経路の等価回路であり、図2の説明に必要な部分だけを簡略に示したものである。
先に説明したように基本波回路用インダクタL21と2倍波用インダクタL11は入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成しており、互いに減極性の相互インダクタンスを呈する。これをL11、L21のドットで示す。
2倍波用インダクタL11に流れる電流をi1、基本波回路用インダクタL21に流れる電流をi2とする。また、L11のインダクタンス値をL(L11)、L21のインダクタンス値をL(L21)、相互インダクタンス値を−Mとする。
図3(b)は、図3(a)をカップリングの無いインダクタに置き換え構成した場合の等価回路図である。基本波インダクタL21aのインダクタンス値はL(L21)+M、2倍波インダクタL11aのインダクタンス値はL(L11)+M、インダクタM1のインダクタンス値は−Mとなる。
図3(b)から明らかなようにインダクタM1には電流i1と電流i2の両方が流れる。ここで、図3(c)に示すように、電流i1のみが流れるインダクタM1bと、電流i2のみが流れるインダクタM1aに、インダクタM1を仮想的に分割する事を考える。
図3(c)において、インダクタL21aとインダクタM1aの直列接続をインダクタL21b、インダクタL11aとインダクタM1bの直列接続をインダクタL11bとすると、図3(a)と図3(c)との比較から、図3(c)のL21b、L11bは、図3(a)のL21、L11に相当することが分かる。
インダクタM1aのインダクタンス値をL(M1a),インダクタLM1bのインダクタンス値をL(M1b)とすると、図3(b)のノードN1と、図3(c)のノードN11及びN12は同一の電位であるので、L(M1a)、L(M1b)はi1、i2及びMを用いて次のように表すことが出来る。
L(M1a)=−(i1+i2)/i2×M、
L(M1b)=−(i1+i2)/i1×M。
ここでn=i2/i1とすると、先ほどのL(M1a)、L(M1b)はnを用いて
L(M1a)=−(1+1/n)×M、
L(M1b)=−(1+n)×M
と表すことが出来る。
すると、基本波インダクタ側に流れる電流i2はnを用いてn×i1と表せるので、図3(c)における基本波インダクタンスL21bのインダクタンス値L(L21b)は、
L(L21b)=L(L21a)+L(M1a)=L(L21)―(1/n)×M、
2倍波インダクタンスL11bのインダクタンス値L(L11b)は、
L(L11b)=L(L11a)+L(M1b)=L(L11)−n×M
と表すことが出来る。
図4は、図2におけるトランジスタTr1のゲートから見た基本波回路、及び2倍波短絡回路のインピーダンスの周波数依存性を示した図である。図中において、実線は基本波回路のインピーダンスを、破線は2倍波短絡回路のインピーダンスを示している。ただし、基本波回路用インダクタL21と2倍波整合用インダクタL11が相互インダクタンスを有する場合、基本波回路、2倍波短絡回路単独でのインピーダンス計算が出来ないため、相互インダクタンスは無いとした状態で計算を実施している。このため、図2とは若干の差異があるが、回路インピーダンスの概略の動きを把握することは出来る。
図5は、nの周波数依存性を示す図である。図5(a)はnの極座標上での軌跡を示した図であり、図5(b)は2倍波周波数付近におけるnの実部の周波数特性を示した図である。
図5(a)においてfcでのnの位置を示す。基本波における、トランジスタのゲートから基本波整合回路へ流れる高周波電流と、トランジスタのゲートから2倍波短絡回路へ流れる高周波電流とを比較すると、図4に示されるように2倍波短絡回路のインピーダンスが高くほとんど電流が流れないので、nの値は大きい。また基本波において、基本波整合回路を見込むインピーダンスは誘導性であり、2倍波短絡回路を見込むインピーダンスは容量性なので、nの実部の符号は負である。
一方、図4に示されるように、基本波から周波数が高くなり2倍波に近づくにつれ、容量性である2倍波短絡回路のインピーダンスは低くなっていき、トランジスタのゲートから2倍波短絡回路へ流れる高周波電流が増加していく。2倍波短絡回路のインピーダンスはその共振周波数で最少となり、2倍波を超えると誘導性となり絶対値は高くなっていく。よって図5(a)に示されるように、周波数の上昇につれてnの軌跡は負の値からゼロ付近を通り、正の方向に動く。
2倍波周波数付近では、図5(a)に示されるようにnの虚部はほぼ無く、図5(b)に示されるように、nの実部は周波数に対して単調増加である。よって、帯域の下限(2fl)におけるインダクタンスL11bに対し、帯域の上限(2fh)におけるインダクタンスL11bは小さくなる。このため、L11bとC11による共振周波数は、帯域の下限(2fl)では低く、帯域の上限(2fh)では高くなる。つまり、トランジスタのゲートから見込んだ2倍波のインピーダンスの反射係数の位相変化を抑制する。なお、ここでもfl=3.4GHz、fh=3.6GHzである。
図6は本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器における入力側インピーダンスの軌跡を示す図である。図6に示された2flと2fhにおけるインピーダンスの間隔は、図14に示された2flと2fhにおけるインピーダンスの間隔と比較して狭いことが分かる。すなわち、2倍波におけるインピーダンスの位相変化が近く、高効率を維持できる周波数帯域が広がっている事を示している。
以上のとおり、本発明の実施の形態1における半導体装置は、半導体基板T1上に形成された、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタTr1と、トランジスタTr1の入力側基本波整合用の整合回路MC1と、半導体基板T1上に形成され、一端がトランジスタTr1のゲート電極に接続され、他端が整合回路MC1に接続された第1のインダクタL21と、半導体基板T1上に形成され、一端が短絡された容量C11と、半導体基板T1上に形成され、一端がトランジスタTr1のゲート電極に接続され、他端が容量C11の他端に接続された、第2のインダクタL11と、を備えており、第2のインダクタL11は、2倍波の周波数において容量C11と直列共振し、第1のインダクタL21と減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成している。
このような構成によれば、共振回路を構成する第1のインダクタL21に対し減極性の相互インダクタンスを第2のインダクタL11を介してトランジスタTr1のゲート電極と基本波整合用の整合回路MC1とを接続したので、トランジスタTr1のゲートから見た2倍波インピーダンスの広がりを抑制でき、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が可能になる効果を奏する。
なお、実施の形態1において、所望のnを実現できる回路の一例を示したが、周波数の増加に伴って負の値から正の方向に動くnが実現できる回路であれば回路構成の制約はない。
実施の形態2.
本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器の構成を、図7、8を用いて説明する。実施の形態1との相違点は第1のインダクタ、及び第2のインダクタの構成であって、その他の部分は共通である。
図1に示した実施の形態1に係る高周波半導体増幅器では、2倍波整合用インダクタL11及び基本波回路用インダクタL21からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路が、ゲートフィーダ配線GF1と近接している。このため動作周波数が高くなると、トランジスタTr1を構成する各基本トランジスタに対する影響がアンバランスとなる。
具体的には、図1において、ゲートフィーダ配線GF1と2倍波整合用インダクタL11の接続点からみて下方向では、ゲートフィーダ配線GF1と2倍波整合用インダクタL11の距離が近接しており、カップリングが発生する。一方、図1において、ゲートフィーダ配線GF1とインダクタL11の接続点からみて上方向では、ゲートフィーダ配線GF1と2倍波整合用インダクタL11の距離は、下方向と比較して離れており、カップリングの影響は小さい。
このように入力側2倍波整合用相互誘導回路と、各基本トランジスタとの距離が均一ではないため、トランジスタTr1の動作がアンバランスとなり、特性が低下するという問題があった。
図7は、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器の内部を上面から見た詳細図である。図8は、図7のTr2近傍の拡大図である。ここでは接続点IN2からOUT2に至る経路を例にとって説明する。
実施の形態1と同じく、チップT1はSiC(Silicon Carbide)基板の上面に、GaN(Gallium Nitride)を主材料とする半導体層をエピタキシャル成長させた半導体基板の小片である。
チップT1の上面にはゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタTr1〜Tr5が形成されている。このトランジスタは高周波特性に優れたHEMT(High Electron Mobility Transistor)である。すなわち、トランジスタTr1〜Tr5は、GaN系HEMTである。
2倍波整合用容量C11〜C15はチップT1上に形成されている。2倍波整合用容量C1〜C6の一端は、チップT1に形成されたチップT1の裏面へ導通するVIAを介して短絡されている。
トランジスタTr2のゲート電極は、ゲートフィーダ配線GF2により互いに接続されている。
2倍波整合用インダクタL121は、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端は2倍波整合用容量C2の他端に接続されている。2倍波整合用インダクタL121と2倍波整合用容量C2は、ほぼ2倍波の周波数において共振するように構成されており、2倍波短絡回路を形成している。
2倍波整合用インダクタL122は、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端は2倍波整合用容量C3の他端に接続されている。2倍波整合用インダクタL122と2倍波整合用容量C3は、ほぼ2倍波の周波数において共振するように構成されており、2倍波短絡回路を形成している。
基本波回路用インダクタL221は、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端はワイヤW22を介して基本波整合用の整合回路MC2に接続されている。基本波回路用インダクタL222は、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端はワイヤW22を介して基本波整合用の整合回路MC2に接続されている。
図7、8に示すように、2倍波整合用インダクタL121と基本波回路用インダクタL221は、入り組んだ形で互いに近接して配置されている。その配置は、トランジスタTr2のゲートから2倍波整合用インダクタL121に沿ってC2へ至る経路と、トランジスタTr2のゲートから基本波回路用インダクタL221に沿ってワイヤW22へ至る経路とが、近接部分で経路が互いに逆方向になるよう工夫されている。
このため、2倍波整合用インダクタL121と基本波回路用インダクタL221は減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。
同様に、2倍波整合用インダクタL122と基本波回路用インダクタL222も減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。
2倍波整合用インダクタL121、及び基本波回路用インダクタL221からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路と、2倍波整合用インダクタL122、及び基本波回路用インダクタL222からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路において、2倍波整合用インダクタインダクタL121とL122とは接続されており、基本波回路用インダクタインダクタL221とL222とは接続されている。
すなわち1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路は互いに接続されている。また、2倍波整合用インダクタL121、及び基本波回路用インダクタL221からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路と、2倍波整合用インダクタL122、及び基本波回路用インダクタL222からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路とは、ゲートの長さ方向に対してトランジスタTr2の中心を通りゲートの幅方向に延伸する直線B−B’に対し、線対称に配置されている。すなわち1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路はゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されている。
2倍波整合用インダクタインダクタL121及びL122は、ゲートフィーダ配線GF2と近接している。しかしながら、直線B−B’に対し対称に配置されているため、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタとインダクタとの距離の差は小さい。このため、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタ間の動作のアンバランスが抑制でき、高周波半導体増幅器の特性が向上する。他の部分は説明を省略する。
以上のとおり、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器は、半導体基板T1上に形成された、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタTr2と、トランジスタTr2の入力側基本波整合用の整合回路MC2と、半導体基板T1上に形成された、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端が整合回路MC2に接続された第1のインダクタL221及びL222と、半導体基板T1上に形成された、一端が短絡された容量C2及びC3を備える。
また、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器は、半導体基板T1上に形成され、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端が容量C2の他端に接続された第2のインダクタL121を備えており、第2のインダクタL121は、2倍波の周波数において容量C2と直列共振し、第1のインダクタL221と減極性の相互インダクタンスを呈する入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成している。
更に、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器は、半導体基板T1上に形成され、一端がトランジスタTr2のゲート電極に接続され、他端が容量C3の他端に接続された第2のインダクタL122を備えており、第2のインダクタL122は、2倍波の周波数において容量C2と直列共振し、第1のインダクタL222と減極性の相互インダクタンスを呈する入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成している。
加えて、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器では、インダクタL121とインダクタL221とが互いに接続されており、インダクタL122とインダクタL222とが互いに接続されている。インダクタL121及びインダクタL221とはゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されており、インダクタL122及びインダクタL222とはゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されている。すなわち、1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路が、ゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置され、互いに接続されている。
このような構成によれば、実施の形態1に示された高周波半導体増幅器と同様に、実施の形態2に係る半導体装置にあっては、共振回路を構成する第1のインダクタL211及びL212に対し減極性の相互インダクタンスを第2のインダクタL121及びL122を介してトランジスタTr2のゲート電極と基本波整合用の整合回路MC2とを接続したので、トランジスタTr2のゲートから見た2倍波インピーダンスの広がりを抑制でき、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が可能になる効果を奏する。
更に、実施の形態2に係る高周波半導体増幅器にあっては、1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路をトランジスタTr2のゲートの長さ方向に対する中心を通り、ゲートの幅方向に延伸する直線B−B’に対し、線対称に配置した。よって、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタとインダクタとの距離の差を小さくできる。このため、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタ間の動作のアンバランスが抑制でき、高周波半導体増幅器の特性を更に向上させることが出来るという効果を奏する。
なお、本明細書では、本発明に係る高周波半導体増幅器、あるいは従来の高周波半導体増幅器全体において、接続点IN1からOUT1に至る経路、あるいは接続点IN2からOUT2に至る経路を用いて、その動作、構成を説明したが、接続点INxからOUTx(xは1から5のいずれかの整数)に至る経路でも、その動作、構成は同様である。
また本発明の実施の形態において、トランジスタはSiC基板上に形成されたGaN系HEMTであったが、基板材料はSi等でも良い。またはトランジスタはGaAs系やSi系の材料で構成されていてもよく、トランジスタ構造はMOSFET,MESFETやHBTでも良い。
本発明は、発明の範囲内において各実施の形態を自由に組み合わせることや、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
10、14 リード、12 パッケージ、12a 金属プレート、12b 絶縁体、
12c キャップ、C1〜C5、C11〜C15 2倍波整合用容量、
L1〜L5、L11〜L15、L111〜L152 2倍波整合用インダクタ、
L21〜L25、L211〜L252 基本波回路用インダクタ、
MC1〜MC5 整合回路、T1 チップ、Tr1〜Tr5 トランジスタ、
W11〜W15、W21〜W30、W31〜W35 ワイヤ。
図13は、ドレイン効率の入力2倍波反射位相依存性を示す図である。図12における接続点IN1からOUT1へ至る経路の電力増幅器のドレイン効率を、トランジスタTr1のゲート電極から接続点IN1方向を見た2倍波インピーダンスの反射係数の大きさを概略1(全反射)とした状態で反射位相を変化させてシミュレーションしている。ただし、このシミュレーションでは、ゲート電極から見た当該反射係数の大きさと位相を理想的に変化させており、図12の2倍波整合用インダクタL1と2倍波整合用容量C1は含まれていない。
図13の縦軸は増幅器のドレイン効率を示し、横軸はゲート電極から信号源側、すなわち接続点IN1方向、を見た2倍波インピーダンスの反射位相を示している。図13に示されるように、増幅器のドレイン効率はゲートから見た2倍波反射位相によって変化する。通例180°付近で最大値を示し、本シミュレーションにおいても170°〜190°で最大効率が得られている。
図14において、基本波帯域の周波数fl、fc、fhにおけるインピーダンスをマーカーで示しているが、これらのインピーダンスはほぼ一点に集まっている。すなわち周波数特性が小さいことを示している。一方、2倍波帯域の周波数2fl、2fc、2fhにおけるインピーダンスもマーカーで示しているが、2倍波のインピーダンスの軌跡は基本波帯域と比較してマーカーの間隔がかなり広い。
すなわち高調波でのインピーダンスの周波数依存性は、基本波におけるインピーダンスの周波数依存性と比較して大きいことが分かる。この広がりは、図13に示した最大効率が得られる範囲を逸脱している。
このため、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が出来ないという課題がある。
本発明は上記のような問題点を解消するためになされたもので、広い周波数帯域で高効率な電力増幅が可能な高周波半導体増幅器の提供を目的とする。
本発明によれば、トランジスタのゲートから見た2倍波インピーダンスの広がりが抑制できるので、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が可能になる。
図2は、図1の接続点IN1からOUT1に至る経路の等価回路であり、本発明の実施の形態1に係る高周波半導体増幅器の一部を抜き出したものである。
先にも述べたように、2倍波整合用インダクタL11と2倍波整合用容量C11とは直列に接続されており、2倍波整合用容量C11の一端は接地されている。2倍波整合用インダクタL11のインダクタンス値と2倍波整合用容量C11の容量値は、2倍波の周波数で共振し、ほぼ短絡するよう設定されている。
なお,短絡とは理想的は0Ωであるが、実用上は基本波のインピーダンスと比較して2倍波短絡回路のインピーダンスが1/5以下となれば、高効率化に一定以上の効果があることを付記しておく。
すると、基本波インダクタ側に流れる電流i2はnを用いてn×i1と表せるので、図3(c)における基本波インダクタL21bのインダクタンス値L(L21b)は、
L(L21b)=L(L21a)+L(M1a)=L(L21)―(1/n)×M、
2倍波インダクタL11bのインダクタンス値L(L11b)は、
L(L11b)=L(L11a)+L(M1b)=L(L11)−n×M
と表すことが出来る。
2倍波周波数付近では、図5(a)に示されるようにnの虚部はほぼ無く、図5(b)に示されるように、nの実部は周波数に対して単調増加である。よって、帯域の下限(2fl)におけるインダクタンス値L(L11b)に対し、帯域の上限(2fh)におけるインダクタンス値L(L11b)は小さくなる。このため、L11bとC11による共振周波数は、帯域の下限(2fl)では低く、帯域の上限(2fh)では高くなる。つまり、トランジスタのゲートから見込んだ2倍波のインピーダンスの反射係数の位相変化を抑制する。なお、ここでもfl=3.4GHz、fh=3.6GHzである。
このような構成によれば、共振回路を構成する第のインダクタL11に対し減極性の相互インダクタンスを示すのインダクタL21を介してトランジスタTr1のゲート電極と基本波整合用の整合回路MC1とを接続したので、トランジスタTr1のゲートから見た2倍波インピーダンスの広がりを抑制でき、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が可能になる効果を奏する。
2倍波整合用インダクタL121、及び基本波回路用インダクタL221からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路と、2倍波整合用インダクタL122、及び基本波回路用インダクタL222からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路において、2倍波整合用インダクタL121とL122とは接続されており、基本波回路用インダクタL221とL222とは接続されている。
すなわち1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路は互いに接続されている。また、2倍波整合用インダクタL121、及び基本波回路用インダクタL221からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路と、2倍波整合用インダクタL122、及び基本波回路用インダクタL222からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路とは、ゲートの長さ方向に対してトランジスタTr2の中心を通りゲートの幅方向に延伸する直線B−B’に対し、線対称に配置されている。すなわち1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路はゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されている。
2倍波整合用インダクタL121及びL122は、ゲートフィーダ配線GF2と近接している。しかしながら、直線B−B’に対し対称に配置されているため、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタとインダクタとの距離の差は小さい。このため、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタ間の動作のアンバランスが抑制でき、高周波半導体増幅器の特性が向上する。他の部分は説明を省略する。
加えて、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器では、インダクタL121とインダクタL122とが互いに接続されており、インダクタL221とインダクタL222とが互いに接続されている。インダクタL121及びインダクタL122とはゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されており、インダクタL221及びインダクタL222とはゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されている。すなわち、1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路が、ゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置され、互いに接続されている。
このような構成によれば、実施の形態1に示された高周波半導体増幅器と同様に、実施の形態2に係る半導体装置にあっては、共振回路を構成する第のインダクタL121及びL122に対し減極性の相互インダクタンスを示す第1のインダクタL221及びL222を介してトランジスタTr2のゲート電極と基本波整合用の整合回路MC2とを接続したので、トランジスタTr2のゲートから見た2倍波インピーダンスの広がりを抑制でき、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が可能になる効果を奏する。
本発明に係る高周波半導体装置は、半導体基板に形成された、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタと、高周波電力の入力用リードに一端が接続された、トランジスタの入力側基本波整合用の整合回路と、半導体基板上に形成され、一端がトランジスタのゲート電極に、他端が整合回路の他端に接続された第1のインダクタと、半導体基板上に形成され、一端が短絡された容量と、半導体基板上に形成され、一端がトランジスタのゲート電極に、他端が容量の他端に接続された第2のインダクタとを備えている。
第2のインダクタは、2倍波の周波数において容量と直列共振し、第1のインダクタと減極性の相互インダクタンスを呈するとともに、第1のインダクタとで入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。
図7、8に示すように、2倍波整合用インダクタL121と基本波回路用インダクタL221は、入り組んだ形で互いに近接して配置されている。その配置は、トランジスタTr2のゲート電極から2倍波整合用インダクタL121に沿ってC2へ至る経路と、トランジスタTr2のゲート電極から基本波回路用インダクタL221に沿ってワイヤW22へ至る経路とが、近接部分で経路が互いに逆方向になるよう工夫されている。
このため、2倍波整合用インダクタL121と基本波回路用インダクタL221は減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。
同様に、2倍波整合用インダクタL122と基本波回路用インダクタL222も減極性の相互インダクタンスを呈し、入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する。
2倍波整合用インダクタL121、及び基本波回路用インダクタL221からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路と、2倍波整合用インダクタL122、及び基本波回路用インダクタL222からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路において、2倍波整合用インダクタL121とL122とは接続されており、基本波回路用インダクタL221とL222とは接続されている。
すなわち1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路は互いに接続されている。また、2倍波整合用インダクタL121、及び基本波回路用インダクタL221からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路と、2倍波整合用インダクタL122、及び基本波回路用インダクタL222からなる入力側2倍波整合用相互誘導回路とは、ゲート電極の長さ方向に対してトランジスタTr2の中心を通りゲート電極の幅方向に延伸する直線B−B’に対し、線対称に配置されている。すなわち1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路はゲート電極の幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されている。
加えて、本発明の実施の形態2に係る高周波半導体増幅器では、インダクタL121とインダクタL122とが互いに接続されており、インダクタL221とインダクタL222とが互いに接続されている。インダクタL121及びインダクタL122とはゲート電極の幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されており、インダクタL221及びインダクタL222とはゲート電極の幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置されている。すなわち、1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路が、ゲート電極の幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置され、互いに接続されている
このような構成によれば、実施の形態1に示された高周波半導体増幅器と同様に、実施の形態2に係る半導体装置にあっては、共振回路を構成する第2のインダクタL121及びL122に対し減極性の相互インダクタンスを示す第1のインダクタL221及びL222を介してトランジスタTr2のゲート電極と基本波整合用の整合回路MC2とを接続したので、トランジスタTr2のゲート電極から見た2倍波インピーダンスの広がりを抑制でき、目的とする帯域内全般に亘って高効率動作が可能になる効果を奏する。
更に、実施の形態2に係る高周波半導体増幅器にあっては、1対の入力側2倍波整合用相互誘導回路をトランジスタTr2のゲート電極の長さ方向に対する中心を通り、ゲート電極の幅方向に延伸する直線B−B’に対し、線対称に配置した。よって、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタとインダクタとの距離の差を小さくできる。このため、実施の形態1と比較して、各基本トランジスタ間の動作のアンバランスが抑制でき、高周波半導体増幅器の特性を更に向上させることが出来るという効果を奏する。

Claims (3)

  1. 半導体基板上に形成された、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を有するトランジスタと、
    前記トランジスタの入力側基本波整合用の整合回路と、
    前記半導体基板上に形成され、一端が前記トランジスタのゲート電極に、他端が前記整合回路に接続された第1のインダクタと、
    前記半導体基板上に形成され、一端が短絡された容量と、
    前記半導体基板上に形成され、一端が前記トランジスタのゲート電極に、他端が前記容量の他端に接続された第2のインダクタと、
    を備えた高周波半導体増幅器であって、
    前記第2のインダクタは、2倍波の周波数において前記容量と直列共振し、前記第1のインダクタと減極性の相互インダクタンスを呈するとともに、前記第1のインダクタとで入力側2倍波整合用相互誘導回路を形成する高周波半導体増幅器。
  2. 前記入力側2倍波整合用相互誘導回路は、前記ゲートの幅方向に延伸する直線に対し線対称に配置され、互いに接続されていることを特徴とする、請求項1に記載の高周波半導体増幅器。
  3. 前記トランジスタは、GaN系HEMTである事を特徴とする、請求項1または請求項2に記載の高周波半導体増幅器。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006005848A (ja) * 2004-06-21 2006-01-05 Sharp Corp 電力増幅器及び高周波通信装置
JP6289678B1 (ja) * 2016-05-31 2018-03-07 三菱電機株式会社 高周波増幅器
US20180175811A1 (en) * 2016-12-21 2018-06-21 Infineon Technologies Ag Compact Class-F Chip and Wire Matching Topology
JP6388747B2 (ja) * 2016-05-23 2018-09-12 三菱電機株式会社 電力増幅器
JP6399267B1 (ja) * 2018-02-09 2018-10-03 三菱電機株式会社 増幅器

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5117203A (en) * 1990-12-13 1992-05-26 General Electric Company Phase stable limiting power amplifier
US5276406A (en) * 1992-02-13 1994-01-04 Trontech, Inc. Low noise wide dynamic range amplifiers
JP3668610B2 (ja) 1998-04-10 2005-07-06 太陽誘電株式会社 高周波電力増幅回路
JP2002171138A (ja) * 2000-12-01 2002-06-14 Nec Corp マイクロ波電力増幅器
JP4601247B2 (ja) * 2002-12-26 2010-12-22 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2005311579A (ja) * 2004-04-20 2005-11-04 Miyoshi Electronics Corp 半導体装置
JP4743077B2 (ja) 2006-10-23 2011-08-10 三菱電機株式会社 高周波電力増幅器
US8076994B2 (en) * 2007-06-22 2011-12-13 Cree, Inc. RF power transistor packages with internal harmonic frequency reduction and methods of forming RF power transistor packages with internal harmonic frequency reduction
JP2010245819A (ja) * 2009-04-06 2010-10-28 Panasonic Corp 増幅回路
US8659359B2 (en) * 2010-04-22 2014-02-25 Freescale Semiconductor, Inc. RF power transistor circuit
EP2584698A4 (en) * 2010-06-21 2013-10-16 Panasonic Corp HIGH FREQUENCY AMPLIFIER CIRCUIT
JP2012174996A (ja) 2011-02-23 2012-09-10 Fujitsu Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2012257070A (ja) * 2011-06-09 2012-12-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> トランスインピーダンスアンプ
JP5954974B2 (ja) 2011-12-05 2016-07-20 三菱電機株式会社 高周波増幅器
JP5619055B2 (ja) * 2012-03-08 2014-11-05 株式会社東芝 高周波半導体増幅器
US9825597B2 (en) * 2015-12-30 2017-11-21 Skyworks Solutions, Inc. Impedance transformation circuit for amplifier
KR101924639B1 (ko) 2016-04-14 2018-12-03 한국전자통신연구원 고주파를 이용하여 무선 신호를 증폭하기 위한 회로
KR101899922B1 (ko) * 2016-04-19 2018-09-18 한국전자통신연구원 저전력 고주파 증폭기
KR102467950B1 (ko) 2016-12-08 2022-11-17 한국전자통신연구원 통신 장치의 임피던스 정합 회로
US10432164B2 (en) 2016-12-08 2019-10-01 Electronics And Telecommunications Research Institute Impedance matching circuit of communication apparatus
JP2018142827A (ja) * 2017-02-27 2018-09-13 三菱電機特機システム株式会社 半導体装置および電子機器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006005848A (ja) * 2004-06-21 2006-01-05 Sharp Corp 電力増幅器及び高周波通信装置
JP6388747B2 (ja) * 2016-05-23 2018-09-12 三菱電機株式会社 電力増幅器
JP6289678B1 (ja) * 2016-05-31 2018-03-07 三菱電機株式会社 高周波増幅器
US20180175811A1 (en) * 2016-12-21 2018-06-21 Infineon Technologies Ag Compact Class-F Chip and Wire Matching Topology
JP6399267B1 (ja) * 2018-02-09 2018-10-03 三菱電機株式会社 増幅器

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