JPWO2007123055A1 - 試験装置、試験方法、ジッタフィルタ回路、及びジッタフィルタ方法 - Google Patents
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Abstract
Description
1.米国特許出願 第11/407,136号 出願日2006年4月20日
図5に示したジッタ復調器22は、低域通過フィルタ50を有する構成であるが、ジッタ復調器22は低域通過フィルタ50を有さない構成でもよい。例えば積分器70は、パルス発生器30が出力したパルス信号を入力とし、図4に示したパルス信号がH論理を示す間、所定の増加率で信号レベルが増加し、当該パルス信号がL論理を示す間、所定の減少率で信号レベルが減少する制御信号を出力する。このような動作により、積分器70は、入力信号のタイミングジッタを復調することができる。但し、積分器70の動作は当該動作例には限定されない。積分器70の動作は、入力信号のタイミングジッタを復調できる動作であればよい。また、低域通過フィルタ50は積分器70の後段に配置してもよい。
Claims (18)
- 被試験デバイスを評価する試験装置であって、
前記被試験デバイスが出力する出力信号からジッタ成分を抽出する抽出部と、
前記ジッタ成分における所定の周波数成分を通過させるフィルタと、
前記フィルタが出力する前記ジッタ成分に基づいて、前記出力信号の位相を制御する位相制御部と、
前記位相制御部が出力する信号に基づいて、前記被試験デバイスを評価する評価部と
を備える試験装置。 - 前記位相制御部は、前記出力信号を、前記フィルタが通過させた前記ジッタ成分に基づく遅延量で遅延させて出力する可変遅延回路を有する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記フィルタは、前記被試験デバイスからの出力信号を受信するために用いられるべきクロック再生回路について規定されるフィルタ特性と略同一のフィルタ特性を有し、前記クロック再生回路を用いて前記出力信号の再生クロックを生成した場合に、前記再生クロックに含まれるジッタ成分に応じた信号を生成し、
前記可変遅延回路は、前記フィルタが出力する前記ジッタ成分を、前記出力信号から除去するべく、前記出力信号を遅延させる
請求項2に記載の試験装置。 - 前記可変遅延回路が出力する信号の電圧値を、与えられるタイミング信号に応じて、所定の参照電圧と比較する比較器を更に備え、
前記評価部は、前記比較器における比較結果に基づいて、前記被試験デバイスを評価する
請求項2に記載の試験装置。 - 前記比較器に対して、一定周期で前記タイミング信号を与えるタイミング発生部を更に備える
請求項4に記載の試験装置。 - 前記出力信号と、前記タイミング信号との位相差を検出するスキュー検出器を更に備える
請求項5に記載の試験装置。 - 前記試験装置は、前記抽出部、前記フィルタ、前記可変遅延回路、及び前記比較器を、並列に複数備え、
前記スキュー検出器は、それぞれの前記比較器における前記位相差を検出する
請求項6に記載の試験装置。 - 前記抽出部は、前記出力信号から前記ジッタ成分を復調するジッタ復調器を有する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記ジッタ復調器は、
前記出力信号を所定の時間遅延させた遅延信号を出力する遅延回路と、
前記出力信号と前記遅延信号との位相差を検出し、前記位相差に基づいて前記ジッタ成分を出力する位相検出器と
を有する請求項8に記載の試験装置。 - 前記ジッタ復調器は、
前記出力信号のエッジに応じて予め定められたパルス幅のパルス信号を出力するパルス発生器と、
前記パルス信号から、前記出力信号のキャリア周波数成分を除去することにより、前記出力信号の前記ジッタ成分を復調する低域通過フィルタと
を有する請求項8に記載の試験装置。 - 前期ジッタ復調器は、
前記出力信号のエッジに応じて予め定められたパルス幅のパルス信号を出力するパルス発生器と、
前記パルス信号を積分することにより、前記出力信号の前記ジッタ成分を復調する積分器と
を有する請求項8に記載の試験装置。 - 前記出力信号はデータ信号であり、
前記ジッタ復調器は、
前記データ信号のデータ値が遷移しないビット境界でデータ値が遷移する相補データ信号を生成する相補データ生成器と、
前記データ信号及び前記相補データ信号の排他的論理和を出力する排他的論理和回路と、
前記排他的論理和回路が出力する信号のジッタを復調する復調回路と
を有する請求項8に記載の試験装置。 - 前記フィルタは、前記フィルタ特性が可変である
請求項1に記載の試験装置。 - 前記可変遅延回路は、前記フィルタが出力する前記ジッタ成分に対する、前記出力信号の遅延量のゲインが可変である
請求項2に記載の試験装置。 - 前記ジッタ復調器は、入力される前記ジッタ成分に対する、出力する前記ジッタ成分のゲインが可変である
請求項1に記載の試験装置。 - 被試験デバイスを評価する試験方法であって、
前記被試験デバイスが出力する出力信号からジッタ成分を抽出する抽出段階と、
前記ジッタ成分における所定の周波数成分を通過させるフィルタ段階と、
前記フィルタ段階において出力する前記ジッタ成分に基づいて、前記出力信号の位相を制御する位相制御段階と、
前記位相制御段階において出力する信号に基づいて、前記被試験デバイスを評価する評価段階と
を備える試験方法。 - 入力信号の位相を、前記入力信号に含まれるジッタ成分に基づいて制御するジッタフィルタ回路であって、
入力信号からジッタ成分を抽出する抽出部と、
前記ジッタ成分における所定の周波数成分を通過させるフィルタと、
前記フィルタが出力する前記ジッタ成分に基づいて、前記入力信号の位相を制御する位相制御部と
を備えるジッタフィルタ回路。 - 入力信号の位相を、前記入力信号に含まれるジッタ成分に基づいて制御するジッタフィルタ方法であって、
入力信号からジッタ成分を抽出する抽出段階と、
前記ジッタ成分における所定の周波数成分を通過させるフィルタ段階と、
前記フィルタ段階において出力する前記ジッタ成分に基づいて、前記入力信号の位相を制御する位相制御段階と
を備えるジッタフィルタ方法。
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