JPS6345797A - 薄膜発光素子 - Google Patents
薄膜発光素子Info
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- JPS6345797A JPS6345797A JP61188487A JP18848786A JPS6345797A JP S6345797 A JPS6345797 A JP S6345797A JP 61188487 A JP61188487 A JP 61188487A JP 18848786 A JP18848786 A JP 18848786A JP S6345797 A JPS6345797 A JP S6345797A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄膜発光素子に係り、特に絶縁層の構造を改良
することにより、低電圧、高信頼性を達成した薄膜発光
素子に関する。
することにより、低電圧、高信頼性を達成した薄膜発光
素子に関する。
なお、薄膜発光素子を以下、薄PIAEL素子ともいう
。
。
従来の薄膜EL素子の基本的な断面構造を第2図に示す
、第2図に基づいて薄膜EL素子の構造を具体的に説明
すると、ガラス基板1上にインジウム酸化物(I nz
oa )*すず酸化物(Snow)。
、第2図に基づいて薄膜EL素子の構造を具体的に説明
すると、ガラス基板1上にインジウム酸化物(I nz
oa )*すず酸化物(Snow)。
等の透明電極2、さらにその上にイツトリウム酸化物(
Y2O5)、窒化けい素(SiaNa)−二酸化けい素
(SiOz)等からなる第一電気絶縁層3がスパッタリ
ングあるいは電子ビーム蒸着法等により形成される。第
一電気絶縁層3の上には発光層4が形成される。この発
光層は、黄橙色の発光の場合にはたとえば亜鉛と硫黄の
化合物(ZnS)中に付活剤としてマンガン(Mn)を
ドープした焼結ペレットを電子ビームあるいはスパッタ
リングすることにより形成される。その他に、発光層を
形成するための焼結ペレットとしては、緑色の発光の場
合にはたとえばZnS中に付活剤としてテルビウムのふ
つ化物(TbFa)、戒はテルビウムとりんの化合物(
TbP)をドープしたもの。
Y2O5)、窒化けい素(SiaNa)−二酸化けい素
(SiOz)等からなる第一電気絶縁層3がスパッタリ
ングあるいは電子ビーム蒸着法等により形成される。第
一電気絶縁層3の上には発光層4が形成される。この発
光層は、黄橙色の発光の場合にはたとえば亜鉛と硫黄の
化合物(ZnS)中に付活剤としてマンガン(Mn)を
ドープした焼結ペレットを電子ビームあるいはスパッタ
リングすることにより形成される。その他に、発光層を
形成するための焼結ペレットとしては、緑色の発光の場
合にはたとえばZnS中に付活剤としてテルビウムのふ
つ化物(TbFa)、戒はテルビウムとりんの化合物(
TbP)をドープしたもの。
赤色発光の場合にはサマリウムのふつ化物(Sa+F♂
)をドープしたもの、青色発光の場合にはツリウムのふ
つ化物(TmFa)をドープしたものなどがある。発光
層4上には第一電気絶縁層3と同様な材質から成る第二
電気絶縁層5が積層され、更にその上にアルミニウム(
AQ)、金(A u )等から成る背面電極6が蒸着形
成される。透明電極2と背面電極6との間に交流電圧が
接続され、薄膜EL素子が駆動される。このように発光
層の両面に電気絶縁層を設けた構造の薄膜EL素子は、
特開昭60−134277号公報、特開昭54−551
90号公報等に記載されている。
)をドープしたもの、青色発光の場合にはツリウムのふ
つ化物(TmFa)をドープしたものなどがある。発光
層4上には第一電気絶縁層3と同様な材質から成る第二
電気絶縁層5が積層され、更にその上にアルミニウム(
AQ)、金(A u )等から成る背面電極6が蒸着形
成される。透明電極2と背面電極6との間に交流電圧が
接続され、薄膜EL素子が駆動される。このように発光
層の両面に電気絶縁層を設けた構造の薄膜EL素子は、
特開昭60−134277号公報、特開昭54−551
90号公報等に記載されている。
第一電気絶縁WI或は第二電気絶縁層を異種材料よりな
る2層構造とすることも行なわれており、たとえば特開
昭52−129266号公報、特開昭59−11479
1号公報等に記載されている。
る2層構造とすることも行なわれており、たとえば特開
昭52−129266号公報、特開昭59−11479
1号公報等に記載されている。
発光層の両面に電気絶縁層を設けた構造の薄膜EL素子
全般に共通する問題点として、発光輝度が低い、駆動電
圧が高い、発光効率が低い、素子の信頼性が低いことな
どがある。このため高輝度化、低電圧化、高効率化及び
高信頼化などの発光諸特性の向上を目標に、精力的に研
究開発がなされているのが現状である。
全般に共通する問題点として、発光輝度が低い、駆動電
圧が高い、発光効率が低い、素子の信頼性が低いことな
どがある。このため高輝度化、低電圧化、高効率化及び
高信頼化などの発光諸特性の向上を目標に、精力的に研
究開発がなされているのが現状である。
薄膜EL素子の特性を向上させる一つの有効な手段は、
いかに高品質な電気絶縁層を作製子るが、或いはいかに
最適な絶縁層構成を選定するかにある。何故ならば、薄
膜EL素子の発光は、発光層に約10’V/cmの電界
が印加されることにより起り、電気絶縁層にはそれ以上
の絶縁破壊強度を有することが要求され、これは絶縁層
の材料或は層構成によって著しく影響されるからである
。
いかに高品質な電気絶縁層を作製子るが、或いはいかに
最適な絶縁層構成を選定するかにある。何故ならば、薄
膜EL素子の発光は、発光層に約10’V/cmの電界
が印加されることにより起り、電気絶縁層にはそれ以上
の絶縁破壊強度を有することが要求され、これは絶縁層
の材料或は層構成によって著しく影響されるからである
。
電気絶縁層材料としては、従来S i O、5i02゜
Y2O5,AQz○s、5iaN番等が用いられている
が、これらの絶縁層材料は比誘電率が低いために。
Y2O5,AQz○s、5iaN番等が用いられている
が、これらの絶縁層材料は比誘電率が低いために。
絶縁層にかかる印加電圧の分圧分が極めて大きくなる。
したがって、発光層を発光させるためには極めて高い駆
動電圧が必要となる。駆動電圧を下げる方法として、5
insよりも比誘電率が高いTaxeB、PbTi0a
、S rTios、BaTaxOa等の絶縁層材料を用
いることが検討されているが、発光前のエージング処理
(ZnS中に付加剤、例えばEuS、TbFa、SmF
a、TmFaなどを均一拡散させるための工程)で、絶
縁破壊が起こりやすく、画素が破壊してしまう問題があ
る。
動電圧が必要となる。駆動電圧を下げる方法として、5
insよりも比誘電率が高いTaxeB、PbTi0a
、S rTios、BaTaxOa等の絶縁層材料を用
いることが検討されているが、発光前のエージング処理
(ZnS中に付加剤、例えばEuS、TbFa、SmF
a、TmFaなどを均一拡散させるための工程)で、絶
縁破壊が起こりやすく、画素が破壊してしまう問題があ
る。
本発明の目的は、絶縁破壊や画素の破壊を起こすことな
く、駆動電圧を低減し得る薄膜EL素子を提供するにあ
る。
く、駆動電圧を低減し得る薄膜EL素子を提供するにあ
る。
C問題点を解決するための手段〕
本発明は、電気絶縁性基板上に透明電極、第一電気絶縁
層2発光層、第二電気絶縁層および背面電極を順次有す
る薄膜EL素子において、前記第−電気絶aMおよび前
記第二電気絶縁層の一方または両方を、超薄膜を4層以
上積層した多層構造とし、一層当りの厚さを20〜10
00人とし、且つ異種材料よりなる超薄膜が隣接するよ
うにしたものである。
層2発光層、第二電気絶縁層および背面電極を順次有す
る薄膜EL素子において、前記第−電気絶aMおよび前
記第二電気絶縁層の一方または両方を、超薄膜を4層以
上積層した多層構造とし、一層当りの厚さを20〜10
00人とし、且つ異種材料よりなる超薄膜が隣接するよ
うにしたものである。
超薄膜の材料は、比誘電率が低いSin。
SiOx、Y2O5、AQzOs、S 1aN4から選
ばれたものと、比誘電率が高いTazOIS、PbTi
0a*5rTiOs、BaTazOgから選ばれたもの
とを組み合せることが好ましい、その組み合せ方は。
ばれたものと、比誘電率が高いTazOIS、PbTi
0a*5rTiOs、BaTazOgから選ばれたもの
とを組み合せることが好ましい、その組み合せ方は。
比誘電率が高い群から選ばれた超薄膜と比誘電率が低い
群から選ばれた超薄膜とを交互に積層することが最も好
ましいが、必しも交互に積層しなくてもこれらの両方が
含まれていれば効果はある。
群から選ばれた超薄膜とを交互に積層することが最も好
ましいが、必しも交互に積層しなくてもこれらの両方が
含まれていれば効果はある。
超薄膜を積層した場合に1発光層に接する面は比誘電率
が高い群から選ばれた材料により構成し。
が高い群から選ばれた材料により構成し。
電極に接する面は比誘電率が低い群から選ばれた材料に
より構成することが高輝度を得るうえから望ましい。
より構成することが高輝度を得るうえから望ましい。
SiO2膜とTa2O5層とを交互に合計4層以上積層
した電気絶縁膜は非常に効果があることを確認した。合
計で4〜8層積層した実験では、多層になるほど低電圧
化の効果があった。
した電気絶縁膜は非常に効果があることを確認した。合
計で4〜8層積層した実験では、多層になるほど低電圧
化の効果があった。
超薄膜のf!を層数は、合計で6層以上とすることが望
ましく、2層のときにくらべて駆動電圧の低減効果が顕
著に現れる。3層では、2層のときにくらべて駆@電圧
の低減効果が殆どない。
ましく、2層のときにくらべて駆動電圧の低減効果が顕
著に現れる。3層では、2層のときにくらべて駆@電圧
の低減効果が殆どない。
超薄膜の一層当りの厚さは、20人〜zOoO人とする
。20人よりも薄いと多層構造でなく、混合膜になりや
すい、2000人よりも厚いと駆動電圧の低減効果が乏
しい。
。20人よりも薄いと多層構造でなく、混合膜になりや
すい、2000人よりも厚いと駆動電圧の低減効果が乏
しい。
超薄膜を積層したときの合計の厚さは、10000Å以
下にすることが好まし、これ以上になると駆動電圧の低
減効果が乏しい。
下にすることが好まし、これ以上になると駆動電圧の低
減効果が乏しい。
電気絶縁層の厚さを薄くすると電子の数比が活発になり
、駆動電圧を低くすることができるようになる。しかし
、絶縁層の厚さを薄くすることにより、ピンホールが多
くなると同時に絶縁耐圧が低くなることから、画素破壊
が生じやすくなる。
、駆動電圧を低くすることができるようになる。しかし
、絶縁層の厚さを薄くすることにより、ピンホールが多
くなると同時に絶縁耐圧が低くなることから、画素破壊
が生じやすくなる。
その他の低電圧化の方法としては、絶縁層材料に比誘電
率が大きい材料を用いる方法が考えられるが、比誘電率
が大きくなればなるほど絶縁耐圧が小さくなる傾向があ
り、信頼性がとぼしくなる。
率が大きい材料を用いる方法が考えられるが、比誘電率
が大きくなればなるほど絶縁耐圧が小さくなる傾向があ
り、信頼性がとぼしくなる。
電気絶縁層を多層構造にすることにより、単層膜に比較
して、ピンホールは少なくなり、絶縁耐圧も向上する。
して、ピンホールは少なくなり、絶縁耐圧も向上する。
しかし、2層構造ではEL素子の駆動電圧を低くするに
いたらなかった。4層以上積層することによって顕著な
効果を得た。
いたらなかった。4層以上積層することによって顕著な
効果を得た。
異種絶縁材料を合計4層以上積層した多層絶縁層構造と
することにより、ピンホールをほぼ、完全になくすこと
ができた。
することにより、ピンホールをほぼ、完全になくすこと
ができた。
さらに、絶縁膜の界面が実質的に多くなることから、発
光層への電子の注入が多くなった。
光層への電子の注入が多くなった。
これらが密接に結びついて、駆a電圧を低減できたもの
と思われる。
と思われる。
第1図は本発明の一実施例を示す1a膜EL素子の断面
構成図である。以下第1図の工程順に従って説明する。
構成図である。以下第1図の工程順に従って説明する。
ガラス基板1(コーニング37039)上に。
5nOz及びIn2O5等から成る透明電極2を膜厚2
000人程度で、面積抵抗が10〜20Ω/口になるよ
うに形成した。形成方法としては、スパッタリング法あ
るいは電子ビーム蒸着法が最適であり1本実施例ではス
パッタリング法を適用した。スパッタリング法で形成す
る場合の条件としては、反応ガスとしてArと10重量
%Q2の混合ガスを用い、ターゲットにSnあるいはI
nを用いてリアクティブスパッタリングすればよい。
000人程度で、面積抵抗が10〜20Ω/口になるよ
うに形成した。形成方法としては、スパッタリング法あ
るいは電子ビーム蒸着法が最適であり1本実施例ではス
パッタリング法を適用した。スパッタリング法で形成す
る場合の条件としては、反応ガスとしてArと10重量
%Q2の混合ガスを用い、ターゲットにSnあるいはI
nを用いてリアクティブスパッタリングすればよい。
次に、EL素子に必要な所定の電極パターンにするため
、透明電極2をフォトエツチング技術を用いて、帯状に
平行配列にエツチングした。その際の透明電極のエツチ
ング液としては、HCQ−HN○δ系エツチング液を用
いた。
、透明電極2をフォトエツチング技術を用いて、帯状に
平行配列にエツチングした。その際の透明電極のエツチ
ング液としては、HCQ−HN○δ系エツチング液を用
いた。
上記透明電極2の上に、本発明の第一超薄膜多層絶縁層
7を形成した。この第一超薄膜多層絶縁層7の形成方法
としては、スパッタリング法を採用した。具体的には、
同一真空室内に、2つのターゲットを有するスパッタリ
ング装置により、ターゲット材料としてTazOδと5
iOzを用いて、交互にスパッタリングすることにより
、TaxesとSiOxとを交互に積層した。その時の
Ta2esトS i O2(7) 膜FJハ、Ta2O
5500人、5i01500人であり1合計の膜厚は0
.4μmとした。
7を形成した。この第一超薄膜多層絶縁層7の形成方法
としては、スパッタリング法を採用した。具体的には、
同一真空室内に、2つのターゲットを有するスパッタリ
ング装置により、ターゲット材料としてTazOδと5
iOzを用いて、交互にスパッタリングすることにより
、TaxesとSiOxとを交互に積層した。その時の
Ta2esトS i O2(7) 膜FJハ、Ta2O
5500人、5i01500人であり1合計の膜厚は0
.4μmとした。
したがって、絶縁膜としては8層構造となる。この際の
膜厚制御法としては、あらがじめT a 20 s t
Siftの単独の付着速度を求めておき、付着時間で制
御する方法を採用した。
膜厚制御法としては、あらがじめT a 20 s t
Siftの単独の付着速度を求めておき、付着時間で制
御する方法を採用した。
引き続いて、ZnS中にMnをドープした焼結体を用い
て電子ビーム蒸着することにより1発光層4を0.5
μm厚さに形成した。その後基板温度を550℃に上
げて真空熱処理をした。この熱処理により、ZnS中に
付活剤であるMnを均一に拡散させた。発光層4の上に
第二超薄膜多層絶縁層8を第−超薄膜多層絶縁層7と同
じ方法を用いて形成した。更にその上に、背面電極6を
電子ビーム蒸着法で形成した。背面電極としては、AQ
を用いたが、Au或は透明導電膜でもよい。
て電子ビーム蒸着することにより1発光層4を0.5
μm厚さに形成した。その後基板温度を550℃に上
げて真空熱処理をした。この熱処理により、ZnS中に
付活剤であるMnを均一に拡散させた。発光層4の上に
第二超薄膜多層絶縁層8を第−超薄膜多層絶縁層7と同
じ方法を用いて形成した。更にその上に、背面電極6を
電子ビーム蒸着法で形成した。背面電極としては、AQ
を用いたが、Au或は透明導電膜でもよい。
背面電極の膜厚は0.2 μmとした。
以上のようにして得られた本発明のEL素子に。
500 K Hz正弦波の電圧を印加することにより、
十分なエージング処理を行なった後、輝度特性を調べた
。その結果を第3図に示す。第3図では、5iOzとT
a2esよりなる2層絶縁膜を用いて作製したEL素子
と比較して本発明を示しである。
十分なエージング処理を行なった後、輝度特性を調べた
。その結果を第3図に示す。第3図では、5iOzとT
a2esよりなる2層絶縁膜を用いて作製したEL素子
と比較して本発明を示しである。
なお、絶縁膜の比誘電率及び膜厚は一定にしである。
第3図から明らかなように、本発明のEL素子の発光開
始電圧Vih(輝度5cd/−になる電圧をV t h
とする)は従来技術のEL素子のそれに比較して約50
Vと低いことがわかる。
始電圧Vih(輝度5cd/−になる電圧をV t h
とする)は従来技術のEL素子のそれに比較して約50
Vと低いことがわかる。
第4図は従来技術による5iftとTaxesよりなる
2層絶縁膜の膜厚の比を変化させて作製したEL素子、
本発明のEL素子について、発光開始電圧V t hと
drt、/εrL(dtt、:絶縁層の全膜厚、irt
、:絶縁膜の比誘電率)との関係を整理したものである
。
2層絶縁膜の膜厚の比を変化させて作製したEL素子、
本発明のEL素子について、発光開始電圧V t hと
drt、/εrL(dtt、:絶縁層の全膜厚、irt
、:絶縁膜の比誘電率)との関係を整理したものである
。
第4図から明らかなように、本発明のEL素子のVih
は従来技術のそれよりも、一段と低いところにあること
がわがる0画素の破壊や絶縁破壊は生じなかった。
は従来技術のそれよりも、一段と低いところにあること
がわがる0画素の破壊や絶縁破壊は生じなかった。
実施例 2
実施例1において、5iOz膜とTaxe11膜を合計
で3層、4層及び6層積層し、各膜の厚さを変えた。そ
して発光開始電圧とd rt、/ξ!Lとの関係を整理
した。第4図に結果を示す。4層以上の積層により低電
圧化の効果が顕著に見られた。
で3層、4層及び6層積層し、各膜の厚さを変えた。そ
して発光開始電圧とd rt、/ξ!Lとの関係を整理
した。第4図に結果を示す。4層以上の積層により低電
圧化の効果が顕著に見られた。
、 実施例 3
実施例1においては、本発明の超薄膜多層絶縁層を発光
層の両側に配置したので、今回の実施例2では第1電気
絶縁層のみを超薄膜多層絶縁層とした。
層の両側に配置したので、今回の実施例2では第1電気
絶縁層のみを超薄膜多層絶縁層とした。
素子構造を第5図に示す、基本的な素子構造は実施例1
の第1図と同じである。
の第1図と同じである。
このようにして作製したEL素子は実施例1と同じよう
に、従来技術で作製されたEL素子に比較して、低電圧
化が可能であることを確認した。
に、従来技術で作製されたEL素子に比較して、低電圧
化が可能であることを確認した。
以上述べたように本発明によれば、絶縁破壊や画素の破
壊を生ずることなく駆動電圧を低減することができる。
壊を生ずることなく駆動電圧を低減することができる。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は従来
のM膜EL素子の断面図、第3図は本発明のEL素子の
輝度と駆動電圧との関係を示す特性図、第4図は本発明
のEL素子のV=h(発光開始電圧)とd IL/εx
L(絶縁層膜厚/絶縁層の比誘電率)との関係を示す特
性図、第5図は本発明の他の実施例を示す断面図である
。 1・・・ガラス基板、2・・透明電極、3・・・第1?
!!気絶縁層、4・・・発光層、5・・・第2電気絶縁
層、6・・・背面電極、7・・・第一超薄膜多層絶縁層
、8・・・第二超薄膜多層絶縁層。
、−71、代理人 弁理士 小川勝馬
、 ゛ 馬乙初電圧(V) d+L/εIL
のM膜EL素子の断面図、第3図は本発明のEL素子の
輝度と駆動電圧との関係を示す特性図、第4図は本発明
のEL素子のV=h(発光開始電圧)とd IL/εx
L(絶縁層膜厚/絶縁層の比誘電率)との関係を示す特
性図、第5図は本発明の他の実施例を示す断面図である
。 1・・・ガラス基板、2・・透明電極、3・・・第1?
!!気絶縁層、4・・・発光層、5・・・第2電気絶縁
層、6・・・背面電極、7・・・第一超薄膜多層絶縁層
、8・・・第二超薄膜多層絶縁層。
、−71、代理人 弁理士 小川勝馬
、 ゛ 馬乙初電圧(V) d+L/εIL
Claims (7)
- 1. 電気絶縁性基板上に透明電極、第一電気絶縁層、
発光層、第二電気絶縁層および背面電極を順次有する薄
膜発光素子において、前記第一電気絶縁層および前記第
二電気絶縁層の少なくとも一方が、厚さ20〜1000
Åの超薄膜を4層以上積層し且つ異種材料を隣接させた
多層構造よりなることを特徴とする薄膜発光素子。 - 2. 特許請求の範囲第1項において、前記超薄膜の多
層構造が、SiO,SiO_2,Y_2O_3,Al_
2O_3,Si_3N_4から選ばれた少なくとも1つ
と、Ta_2O_5,PbTiO_3,SrTiO_3
,BaTa_2O_6から選ばれた少なくとも1つを含
むことを特徴とする薄膜発光素子。 - 3. 特許請求の範囲第2項において、前記SiO,S
iO_2,Y_2O_3,Al_2O_3,Si_3N
_4から選ばれた少なくとも1つの超薄膜と、Ta_2
O_5,PbTiO_3,SrTiO_3,BaTa_
2O_6から選ばれた少なくとも1つの超薄膜とを、交
互に有することを特徴とする薄膜発光素子。 - 4. 特許請求の範囲第1項において、前記超薄膜の多
層構造がSiO_2膜とTa_2O_5膜とからなるこ
とを特徴とする薄膜発光素子。 - 5. 特許請求の範囲第1項において、前記超薄膜の多
層構造よりなる電気絶縁層のうちで前記発光層と接する
面がTa_2O_5,PbTiO_3,SrTiO_3
,BaTa_2O_6から選ばれた少なくとも1つによ
り構成されていることを特徴とする薄膜発光素子。 - 6. 特許請求の範囲第1項において、前記超薄膜の多
層構造よりなる電気絶縁層のうちで電極と接する面がS
iO,SiO_2,Y_2O_3,Al_2O_3,S
i_3N_4から選ばれた少なくとも1つにより構成さ
れていることを特徴とする薄膜発光素子。 - 7. 特許請求の範囲第1項において、前記超薄膜の多
層構造よりなる電気絶縁層の全体の厚さが10000Å
以下であることを特徴とする薄膜発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61188487A JPH0740515B2 (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | 薄膜発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61188487A JPH0740515B2 (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | 薄膜発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6345797A true JPS6345797A (ja) | 1988-02-26 |
JPH0740515B2 JPH0740515B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=16224590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61188487A Expired - Lifetime JPH0740515B2 (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | 薄膜発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0740515B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02119093A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-07 | Central Glass Co Ltd | 薄膜el素子 |
JPH02215081A (ja) * | 1989-02-14 | 1990-08-28 | Yamaha Corp | 薄膜el素子 |
JP2006210204A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Dainippon Printing Co Ltd | 反射性の改善された背面用基板およびこれを用いたディスプレイ |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59130395U (ja) * | 1983-02-22 | 1984-09-01 | 沖電気工業株式会社 | 薄膜elパネル |
JPS60134277A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-17 | 沖電気工業株式会社 | Elパネルの製造方法 |
JPS60240097A (ja) * | 1984-05-15 | 1985-11-28 | 沖電気工業株式会社 | Elパネルとその製造方法 |
-
1986
- 1986-08-13 JP JP61188487A patent/JPH0740515B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59130395U (ja) * | 1983-02-22 | 1984-09-01 | 沖電気工業株式会社 | 薄膜elパネル |
JPS60134277A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-17 | 沖電気工業株式会社 | Elパネルの製造方法 |
JPS60240097A (ja) * | 1984-05-15 | 1985-11-28 | 沖電気工業株式会社 | Elパネルとその製造方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02119093A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-07 | Central Glass Co Ltd | 薄膜el素子 |
JPH02215081A (ja) * | 1989-02-14 | 1990-08-28 | Yamaha Corp | 薄膜el素子 |
JP2006210204A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Dainippon Printing Co Ltd | 反射性の改善された背面用基板およびこれを用いたディスプレイ |
JP4515274B2 (ja) * | 2005-01-31 | 2010-07-28 | 大日本印刷株式会社 | 無機発光ディスプレイ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0740515B2 (ja) | 1995-05-01 |
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