JPH0124358B2 - - Google Patents
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- JPH0124358B2 JPH0124358B2 JP56129969A JP12996981A JPH0124358B2 JP H0124358 B2 JPH0124358 B2 JP H0124358B2 JP 56129969 A JP56129969 A JP 56129969A JP 12996981 A JP12996981 A JP 12996981A JP H0124358 B2 JPH0124358 B2 JP H0124358B2
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- insulating layer
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- yttrium oxide
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、表示デバイスなどに用いる薄膜電場
発光素子(以下薄膜EL素子という)に関し、と
りわけ安定性および発光輝度の向上のための新し
い構造を有する薄膜EL素子を提供しようとする
ものである。
発光素子(以下薄膜EL素子という)に関し、と
りわけ安定性および発光輝度の向上のための新し
い構造を有する薄膜EL素子を提供しようとする
ものである。
従来、基板上に、第1電極、第1絶縁体層、電
場発光体層(以下EL層という)、第2絶縁体層、
および第2電極を順次積層した薄膜EL素子にお
いて、第1および第2絶縁体層には酸化イツトリ
ウム、酸化珪素、窒化珪素、酸化ハフニウム等が
用いられている。これらの絶縁体層用材料の種類
により、異なる発光特性や安定性を有する薄膜
EL素子が形成されることも知られている。発明
者らの実験によれば、第1および第2絶縁体層に
酸化イツトリウムを用いた場合に、最大の発光輝
度を得ることができるが、この素子には安定性、
再現性に乏しいという面があつた。また、第1絶
縁体層として酸化珪素、窒化珪素、または酸化ハ
フニウムを用い、第2絶縁体層として酸化イツト
リウムを用いた場合には、安定性、再現性に優れ
るが、最大発光輝度が第1絶縁体層に酸化イツト
リウムを用いた素子より幾分小さいということを
見い出した。
場発光体層(以下EL層という)、第2絶縁体層、
および第2電極を順次積層した薄膜EL素子にお
いて、第1および第2絶縁体層には酸化イツトリ
ウム、酸化珪素、窒化珪素、酸化ハフニウム等が
用いられている。これらの絶縁体層用材料の種類
により、異なる発光特性や安定性を有する薄膜
EL素子が形成されることも知られている。発明
者らの実験によれば、第1および第2絶縁体層に
酸化イツトリウムを用いた場合に、最大の発光輝
度を得ることができるが、この素子には安定性、
再現性に乏しいという面があつた。また、第1絶
縁体層として酸化珪素、窒化珪素、または酸化ハ
フニウムを用い、第2絶縁体層として酸化イツト
リウムを用いた場合には、安定性、再現性に優れ
るが、最大発光輝度が第1絶縁体層に酸化イツト
リウムを用いた素子より幾分小さいということを
見い出した。
本発明は、以上のような欠点を解決した、発光
輝度が大きく、安定性、再現性に優れた薄膜EL
素子を提供するものである。つまり酸化ハフニウ
ム、酸化珪素、窒化珪素、またはこれらの2種も
しくは3種の混合物を主成分とする第1絶縁体層
上に、酸化イツトリウムを主成分とする、厚さ
0.01〜0.1μmの第2絶縁体層、EL層、および第3
絶縁体層が順次積層された構造を用いることによ
り、発光輝度が大きく、かつ安定性、再現性に優
れた薄膜EL素子を形成できることを見い出した
ものである。
輝度が大きく、安定性、再現性に優れた薄膜EL
素子を提供するものである。つまり酸化ハフニウ
ム、酸化珪素、窒化珪素、またはこれらの2種も
しくは3種の混合物を主成分とする第1絶縁体層
上に、酸化イツトリウムを主成分とする、厚さ
0.01〜0.1μmの第2絶縁体層、EL層、および第3
絶縁体層が順次積層された構造を用いることによ
り、発光輝度が大きく、かつ安定性、再現性に優
れた薄膜EL素子を形成できることを見い出した
ものである。
以下、本発明について、実施例にもとづいて詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は本発明の薄膜EL素子の一実施例を示
す断面図である。図において、1はガラス基板で
あり、その上に酸化インジウムの高周波スパツタ
リングにより透明電極2を形成した。その上に高
周波スパツタリング法により酸化珪素と酸化ハフ
ニウムの1対9混合物からなる第1絶縁体層3を
0.3μmの厚さに形成した。その上に電子ビーム加
熱真空蒸着法により、0.04μmの厚さに酸化イツ
トリウムの第2絶縁体層4を形成し、さらにその
上に、電子ビーム加熱真空蒸着法によりMnを1
%含む硫化亜鉛からなる厚さ0.5μmのEL層5を
形成した。その後、真空中において550℃で2時
間熱処理を行つた。さらに、その上に電子ビーム
蒸着法により、0.3μmの厚さに酸化イツトリウム
の第2絶縁体層6を形成した。最後にアルミニウ
ムの反射電極7を真空蒸着法により形成し、本発
明の薄膜EL素子を完成した。
す断面図である。図において、1はガラス基板で
あり、その上に酸化インジウムの高周波スパツタ
リングにより透明電極2を形成した。その上に高
周波スパツタリング法により酸化珪素と酸化ハフ
ニウムの1対9混合物からなる第1絶縁体層3を
0.3μmの厚さに形成した。その上に電子ビーム加
熱真空蒸着法により、0.04μmの厚さに酸化イツ
トリウムの第2絶縁体層4を形成し、さらにその
上に、電子ビーム加熱真空蒸着法によりMnを1
%含む硫化亜鉛からなる厚さ0.5μmのEL層5を
形成した。その後、真空中において550℃で2時
間熱処理を行つた。さらに、その上に電子ビーム
蒸着法により、0.3μmの厚さに酸化イツトリウム
の第2絶縁体層6を形成した。最後にアルミニウ
ムの反射電極7を真空蒸着法により形成し、本発
明の薄膜EL素子を完成した。
第2図の曲線aはこの実施例の印加電圧(周波
数5kHz)と発光輝度との関係を示す。
数5kHz)と発光輝度との関係を示す。
比較のために、第1絶縁体層に厚さ0.3μmの酸
化珪素と酸化ハフニウムの1対9混合物を用い、
第2絶縁体層は設けずに、第1絶縁体層の上に厚
さ0.5μmのMn付活硫化亜鉛からなるEL層を形成
し、その上に厚さ0.3μmの酸化イツトリウムから
なる第3絶縁体層を設けたものであり、第2絶縁
体層を設けなかつたこと以外は、上記実施例と全
く同様にして薄膜EL素子を作製した。その印加
電圧と発光輝度との関係は、第2図の曲線bのと
おりである。
化珪素と酸化ハフニウムの1対9混合物を用い、
第2絶縁体層は設けずに、第1絶縁体層の上に厚
さ0.5μmのMn付活硫化亜鉛からなるEL層を形成
し、その上に厚さ0.3μmの酸化イツトリウムから
なる第3絶縁体層を設けたものであり、第2絶縁
体層を設けなかつたこと以外は、上記実施例と全
く同様にして薄膜EL素子を作製した。その印加
電圧と発光輝度との関係は、第2図の曲線bのと
おりである。
第2図から明らかなように、酸化イツトリウム
からなる第2絶縁体層を設けることにより、発光
しきい値電圧が5〜10%増加するが、飽和発光輝
度が50〜100%増加している。
からなる第2絶縁体層を設けることにより、発光
しきい値電圧が5〜10%増加するが、飽和発光輝
度が50〜100%増加している。
第2絶縁体層の厚さが0.01μmより薄い場合に
は輝度の増加は顕著でなく、それが0.1μmより厚
い場合には、輝度の増加は見られるものの、発光
しきい値電圧が増加するために実際的でないこと
が判明した。また、EL層としては、Mn以外に
Cu、Ag、Al、Tb、Dy、Er、Pr、Sm、Ho、
Tmまたはこれらのハロゲン化物のうちの1種類
以上を含む硫化亜鉛で形成しても、同様の効果が
得られた。さらに、本発明の素子は、第1絶縁体
層および第3絶縁体層に酸化イツトリウムを用
い、第2絶縁体層を設けなかつた素子と比べて、
安定性と再現性に優れ、長期間の動作においても
絶縁破壊や剥離現象が生じなかつた。
は輝度の増加は顕著でなく、それが0.1μmより厚
い場合には、輝度の増加は見られるものの、発光
しきい値電圧が増加するために実際的でないこと
が判明した。また、EL層としては、Mn以外に
Cu、Ag、Al、Tb、Dy、Er、Pr、Sm、Ho、
Tmまたはこれらのハロゲン化物のうちの1種類
以上を含む硫化亜鉛で形成しても、同様の効果が
得られた。さらに、本発明の素子は、第1絶縁体
層および第3絶縁体層に酸化イツトリウムを用
い、第2絶縁体層を設けなかつた素子と比べて、
安定性と再現性に優れ、長期間の動作においても
絶縁破壊や剥離現象が生じなかつた。
上記実施例では、第1の絶縁体層として酸化珪
素と酸化ハフニウムとの混合物の層を使用した
が、酸化珪素もしくは酸化ハフニウムで第1の絶
縁体層を構成してもよく、あるいはそれに代えて
窒化珪素を用いてそれを構成してもよい。無論、
それらを適宣組合わせた混合物であつても、第1
の絶縁体層を構成することができる。
素と酸化ハフニウムとの混合物の層を使用した
が、酸化珪素もしくは酸化ハフニウムで第1の絶
縁体層を構成してもよく、あるいはそれに代えて
窒化珪素を用いてそれを構成してもよい。無論、
それらを適宣組合わせた混合物であつても、第1
の絶縁体層を構成することができる。
以上説明したように、本発明は、上記第1の絶
縁体層上に厚さ0.01〜0.1μmの酸化イツトリウム
を主成分とする第2の絶縁体層を設け、さらに
EL層と第3の絶縁体層を順次積層しているので、
EL発光輝度、安定性に優れた素子を再現性よく
形成できるものであり、ELフラツトパネルを製
造する上で非常に有益である。
縁体層上に厚さ0.01〜0.1μmの酸化イツトリウム
を主成分とする第2の絶縁体層を設け、さらに
EL層と第3の絶縁体層を順次積層しているので、
EL発光輝度、安定性に優れた素子を再現性よく
形成できるものであり、ELフラツトパネルを製
造する上で非常に有益である。
第1図は本発明の薄膜EL素子の一実施例の断
面図、第2図はこの実施例と比較品との印加電圧
発光輝度特性を示す図である。 1……ガラス基板、2……透明電極、3……第
1絶縁体層、4……酸化イツトリウム第2絶縁体
層、5……EL層、6……第3絶縁体層、7……
反射電極。
面図、第2図はこの実施例と比較品との印加電圧
発光輝度特性を示す図である。 1……ガラス基板、2……透明電極、3……第
1絶縁体層、4……酸化イツトリウム第2絶縁体
層、5……EL層、6……第3絶縁体層、7……
反射電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 酸化ハフニウム、酸化珪素、窒化珪素、また
はこれらのうちの2種もしくは3種の混合物を主
成分とする第1絶縁体層上に、厚さ0.01〜0.1μm
の酸化イツトリウムを主成分とする第2絶縁体
層、電場発光体層、および第3絶縁体層が順次積
層されていることを特徴とする薄膜電場発光素
子。 2 第3絶縁体層が酸化イツトリウムを主成分と
することを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の薄膜電場発光素子。 3 電場発光体層がMn、Cu、Ag、Al、Tb、
Dy、Er、Pr、Sm、Ho、Tm、またはこれらの
ハロゲン化物のうちの少なくとも1種を含む硫化
亜鉛で構成されていることを特徴とする特許請求
の範囲第1項に記載の薄膜電場発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56129969A JPS5832393A (ja) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | 薄膜電場発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56129969A JPS5832393A (ja) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | 薄膜電場発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5832393A JPS5832393A (ja) | 1983-02-25 |
JPH0124358B2 true JPH0124358B2 (ja) | 1989-05-11 |
Family
ID=15022903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56129969A Granted JPS5832393A (ja) | 1981-08-19 | 1981-08-19 | 薄膜電場発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5832393A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5717848Y2 (ja) * | 1979-08-09 | 1982-04-14 | ||
JPS60205990A (ja) * | 1984-03-28 | 1985-10-17 | シャープ株式会社 | 薄膜el素子 |
-
1981
- 1981-08-19 JP JP56129969A patent/JPS5832393A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5832393A (ja) | 1983-02-25 |
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