JPS6147096A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents

薄膜el素子の製造方法

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JPS6147096A
JPS6147096A JP59166532A JP16653284A JPS6147096A JP S6147096 A JPS6147096 A JP S6147096A JP 59166532 A JP59166532 A JP 59166532A JP 16653284 A JP16653284 A JP 16653284A JP S6147096 A JPS6147096 A JP S6147096A
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JP
Japan
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thin film
manufacturing
dielectric layer
dielectric
layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP59166532A
Other languages
English (en)
Inventor
雅博 西川
任田 隆夫
洋介 藤田
富造 松岡
阿部 惇
新田 恒治
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電界の印加によってE L (Electr
o−Lumin*5cenc*)発光を呈する薄膜El
、素子の製造方法に関するものであり、とくに薄膜EL
素子の輝度向上に関するものである。
(従来例の構成とその問題点) 従来よシミ場発光螢光体を用いた固体映像表示装置とし
ては、X−Yマトリクス表示装置が知られている。この
装置は電場発光層の両面に水平平行電極群と垂直平行電
極群とを互いに直交するように配置し、それぞれの電極
群に接続された給電線によシ切換装置を通して鐸号を加
えて両電極の交点部分の電場発光層(以下、EL発光体
層と略称)を発光させ(この交点の発光部分面が絵素)
、発光絵素の組合せによって文字記号、図形等を表示さ
せるものである。
ここで用いられる固体映像表示板は、通常ガラスなどめ
透光性基板上に透明平行電極群を形成し、その上に片側
、あるいは両側に誘電体層を介してEL発光体層を順次
積層し、さらにその上に背面平行電極群を下層の透明平
行電極群に直交する配置で積層して形成する。第1図に
示したのは従来の薄膜EL素子であシ、一般に透明平行
電極群1としては平滑なガラス基板2上に酸化錫や酸化
インジウムを被着するなどによ膜形成される。これに直
交し、対向する背面平行電極群3としてはアルミニウム
が真空蒸着などによ膜形成される。
EL発光体層4としては目的の発光色によって各種のも
のが用いられるが、たとえば黄橙色では主としてマンガ
ン付活硫化亜鉛が用いられている。
このEL発光体層4が形成された後、通常はEL素子の
輝度を向上させる目的で、真空中や不活性ガス中で数百
度、1〜2時間程度の熱処理を行なう工程を有する。
第1誘電体層5、第2誘電体層6としては、従来、耐圧
性、透光性、膜形成の容易さなどから、酸化アルミニウ
ム(At203)、酸化イツトリウム(Y2O2) 、
二酸化ケイ素(sio□)や窒化シリコン(s is 
N4 )などが、電子ビーム蒸着法やスパッタ法などで
形成して用いられている。しかしこれらの誘電体材料の
誘電率は、周波数1 kHzにおいて十数以下程度であ
シ、そのため素子の駆動電圧に200V以上必要とした
。そこで最近では、外部から印加する駆動電圧を低減す
る目的で高誘電率のペロプスカイト構造誘電体材料、た
とえばチタン酸鉛(PbTiO,)やチタン酸バリウム
(BaTiO3)などが誘電体層として用いられている
。これを用いて、従来通シ真空中あるいは不活性ガス中
で熱処理を行なうと駆動電圧は100v以°下に低減で
きるが、輝度も同時に低下してしまうという欠点があっ
た。
(発明の目的) 本発明は、上記のように、微細に分割された多数の′I
X極を有する薄膜EL素子の製造方法において、誘電体
層として高誘電体材料を用いたときにも従来よシ安価で
、容易に発光輝度の大きい薄膜EL素子を得ることので
きる製造方法を提供することを目的とする。
(発明の構成) 本発明は上記の目的を達成するために、薄膜EL素子の
製造方法を以下の構成とすることを特徴とする。
すなわち、透光性基板上に透明電極、第1誘電体層、E
L発光体層、第2誘電体層、背面電極を順次積層してな
る薄膜KL素子の製造方法において、前記EL発光体層
を形成し、前記背面電極を形成する前の前記基板をすく
なくとも酸素を含む雰囲気中において300〜650℃
で熱処理するようKしたものである。これによシ、従来
よシ高輝度の薄膜EL素子が得られる。
(実施例の説明) 図面を用いて本発明にかかる薄膜EL素子の製造方法の
一実施例について説明する。
本発明にかかる薄膜EL素子の製造方法忙よれば以下の
ようにして薄膜EL素子が製造される。
第2図において10は透明なガラス基板であシ、この上
にスパッタリング法にて膜厚2000Xの酸化すずイン
ジウム膜(以下ITO膜と略す)を全面に形成し、写真
食刻法を用いて透明電極11を所望の形状に形成する。
次に第1誘電体層12として膜厚6000にのチタン酸
ストロンチウム(SrTxOs)膜をスパッタリング法
にて形成し、EL発光体層13として膜厚4000Xの
マンガン付活硫化亜鉛(ZnS:Mn)膜、第2誘電体
層14として膜厚500Xの酸化イツトリウム(Y2O
2)膜をそれぞれ電子ビーム蒸着法にて積層して形成し
た。
この基板を炉の中に設置し、空気中で450℃の温度に
て1時間熱処理を行なった。その上に背面電極15とし
て膜厚1000Xのアルミニウム膜をメタルマスクを用
いて電子ビーム蒸着法にて形成した。
このようにして作成した薄膜EL素子の発光輝度特性を
周波数5 kHzの正弦波電圧を用いて測定したところ
第3図のような結果が得られた。M3図は透明電極11
と背面電極15との間に外部から印加する駆動電圧とC
d /rn 2で表した発光輝度との関係を示しておシ
、実線Aは従来の薄JliEL素子の製造方法によって
作成された素子の特性であり、すなわちEL発光体層を
形成後、真空中で450℃の温度にて1時間熱処理を行
ない、しかる後に第2誘電体層を形成したものでちる。
破線Bは本発明にかかる薄膜EL素子の製造方法にて作
成された素子についての測定結果をあられすものである
。たとえば発光開始電圧よpxsv高い印加電圧におけ
る画素子の輝度を比較すると、Aでは800 Cd7m
” 、Bでは1200Cd/m”であシ、Bの方が1.
5倍程大でありた。この原因の1つとしては、従来の製
造法による真空中あるいは不活性ガス中の熱処理では、
誘電体層の組成が変化してしまうことが考えられる。と
くに誘電体層が酸化物である場合には本発明は有効であ
シ、その中でもぺaシスカイト構造誘電体に対しては効
果が大きかった。
このことはペロシスカイト構造の酸化物誘電体の化学量
論的組成が酸素分圧に影響されやすいためと考えられる
。効果的酸素分圧範囲を求めるために、さらに酸素と窒
素の混合ガス雰囲気で酸素分圧(全圧1気圧)を変えて
450℃、1時間熱処理をして輝度を測定した。その結
果、圧力換算で酸素分圧がI Torr以上であれば上
記と同様な効果があることを確認した。1気圧(760
Torr)以上は製造装置の観点から実施が困難で、高
価となるので、そのような条件下の熱処理は論外と考え
てよい。したかりて全圧が1気圧以内で、かつ酸素分圧
がI Torr 〜1気圧(760Torr )の範囲
が適切な熱処理条件であり、たとえば上記空気、酸素と
窒素の混合ガスの他に1気圧の酸素、合成空気、または
酸素と不活性ガスの混合ガスなどを用いても本発明の効
果は同じである。また、全圧が1気圧以下(減圧状態)
であっても酸素がI Torr以上含まれていればよい
素子についても、電極のノ臂ターン形状や各層の膜厚に
関しても何ら限定されるものではなく、各層の形成法に
ついても種々考えられることは言うまでもない。
熱処理の温度についてはEL発光体層が形成されるとき
の温度より高くて、透光性基板の軟化点よシ低ければ効
果は失われず、本発明の実施例では300〜650℃が
適当であった。
本発明の他の実施例は、第1誘電体層として膜厚400
0^の酸化イツトリウム(Y2O2)膜、EL発光体層
として層厚4000^のマンガン付活硫化亜鉛(ZnS
:Mn)膜をそれぞれ電子ビーム蒸着法にて積層して形
成し、酸素雰囲気中にて500℃で1時間熱処理を行な
い、その後電子ビーム蒸着法にて膜厚500Xの酸化イ
ツトリウム膜を形成し、最後に背面電極として膜厚15
00Xのアルミニウム膜をメタルマスクを用いて電子ビ
ーム蒸着法忙て形成し、薄膜EL素子を作成した。本薄
膜EL素子を従来の製造方法すなわち熱処理を真空中5
00℃で1時間行なうことにより得られた薄膜EL素子
と発光輝度を比較してみると、周波数5 kHzの正弦
波電圧を用いて測定したところ、発光開始電圧よ、り1
5V高い電圧における両者の発光輝度は本発明にかかる
薄膜EL素子のほうが3割大であったO (発明の効果) 上述のように、本発明によれば薄膜KL素子の製造方法
忙おいて、素子を酸素を含む雰囲気中で加熱処理するこ
とによシ容易に発光輝度の大きい薄膜EL素子を提供す
ることができ、その実用的価値は大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の薄膜EL素子の製造方法を説明するため
の薄膜EL素子の一例構成を示す模型的断面図、第2図
は本発明にかかる薄膜EL素子の製造方法を適用して作
成した薄膜EL素子の一実施例構成を示す模型的断面図
、第3図は薄膜EL素子の外部印加寛厚と輝度との相関
特性を示す線図である。 10・・・ガラス基板、11・・・透明電極、12・・
・第1誘電体層、13・・・EL発光体層、14・・・
第2誘電体層、15・・・背面電極。 第1図 第2図 第3図 外卵#9加fL7’L(V) −47;

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1.  (1)透光性基板上に透明電極、第1誘電体層、EL
    発光体層、第2誘電体層、背面電極を順次積層してなる
    薄膜EL素子の製造方法において、前記EL発光体層を
    形成し、前記背面電極を形成する前の前記基板をすくな
    くとも酸素を含む雰囲気中において300〜650℃で
    熱処理することを特徴とする薄膜EL素子の製造方法。
  2.  (2)前記薄膜EL素子。加熱処理が前記第2誘電体
    層のすくなくとも一部が形成された後行なわれることを
    特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の薄膜EL素
    子の製造方法。
  3.  (3)前記第1誘電体層が酸化物の誘電体からなるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の薄膜E
    L素子の製造方法。
  4.  (4)前記酸化物の誘電体のすくなくとも一部がペロ
    ブスカイト構造誘電体からなることを特徴とする特許請
    求の範囲第(3)項記載の薄膜EL素子の製造方法。
  5.  (5)前記酸素を含む雰囲気中の酸素の分圧が1・T
    orr以上1気圧以下であることを特徴とする特許請求
    の範囲第(1)項記載の薄膜EL素子の製造方法。
JP59166532A 1984-08-10 1984-08-10 薄膜el素子の製造方法 Pending JPS6147096A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5667607A (en) * 1994-08-02 1997-09-16 Nippondenso Co., Ltd. Process for fabricating electroluminescent device
US8082862B2 (en) 2007-02-01 2011-12-27 Groz-Beckert Kg Gripper for a tufting machine

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5667607A (en) * 1994-08-02 1997-09-16 Nippondenso Co., Ltd. Process for fabricating electroluminescent device
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