JPS6196696A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents
薄膜el素子の製造方法Info
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- JPS6196696A JPS6196696A JP59216633A JP21663384A JPS6196696A JP S6196696 A JPS6196696 A JP S6196696A JP 59216633 A JP59216633 A JP 59216633A JP 21663384 A JP21663384 A JP 21663384A JP S6196696 A JPS6196696 A JP S6196696A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、電界の印加によってE L (]]i:1
ectro−Luminascance)発光を呈する
薄膜EL素子の製造方法に関するものであシ、とくに薄
膜に′L素子の輝度向上に関するものである。
ectro−Luminascance)発光を呈する
薄膜EL素子の製造方法に関するものであシ、とくに薄
膜に′L素子の輝度向上に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来より電場発光蛍光体を用いた固体映像表示装置とし
て、X−Yマトリクス表示装置が知られている。この装
置は電場発光層の両面に水平平行電極群と垂直平行電極
群とを互いに直交するように配置し、それぞれの電極群
に接続されだ給゛電線により切換装置を通して信号を加
えて両電極の交点部分の電場発光層(以下、EL発光体
層と略称)を発光させ(この交点の発光部分面が絵素)
、発光絵素の組合せによって文字記号1図形等を表示さ
せるものである。
て、X−Yマトリクス表示装置が知られている。この装
置は電場発光層の両面に水平平行電極群と垂直平行電極
群とを互いに直交するように配置し、それぞれの電極群
に接続されだ給゛電線により切換装置を通して信号を加
えて両電極の交点部分の電場発光層(以下、EL発光体
層と略称)を発光させ(この交点の発光部分面が絵素)
、発光絵素の組合せによって文字記号1図形等を表示さ
せるものである。
ここで用いられる固体映像表示板は、通常ガラスなどの
透光性基板上に透明平行電極群を形成し、その上に片側
、あるいは両側に誘電体層を介してEL発光体層を1頃
次積層ル、さらにその上に背面平行電極群を下層の透明
平行電極群に直交する配置で積層して形成する。第1図
を用いて従来の薄膜EL素子の製造方法について述べる
。一般に従来の製造方法によれば薄膜EL素子は以下の
ような手順で製造される。平滑なガラス基板1上に酸化
錫や酸化インジウムをスパッタリング法などにより被着
し、写真食刻法を用いて透明電極2を形成する。この上
に第1誘電体層3.BL発光体層4を順次積層して形成
する。この後この基板を真空中あるいは不活性ガス雰囲
気中で500’C前後8 ′温度で熱処理し・
さらにそ0上に第2銹電体層5、背面電極6を順次積層
して形成してなるものである。EL発光体層4としては
目的の発光色によって各種の材料が用いられるが、たと
えば黄橙色では主としてマンガン付活硫化亜鉛が用いら
れている。第1誘電体層3.第2誘電体層6としては、
従来耐圧性、透光性、膜形成の容易さなどから、酸化ア
ルミニウム(klh03) r酸化イツトリウム(Y2
O5)−二酸化ケイ素(5i02 )や窒化シリコン(
5isNa )などが、電子ビーム蒸着法やスパッタリ
ング法などで形成して用いられている。
透光性基板上に透明平行電極群を形成し、その上に片側
、あるいは両側に誘電体層を介してEL発光体層を1頃
次積層ル、さらにその上に背面平行電極群を下層の透明
平行電極群に直交する配置で積層して形成する。第1図
を用いて従来の薄膜EL素子の製造方法について述べる
。一般に従来の製造方法によれば薄膜EL素子は以下の
ような手順で製造される。平滑なガラス基板1上に酸化
錫や酸化インジウムをスパッタリング法などにより被着
し、写真食刻法を用いて透明電極2を形成する。この上
に第1誘電体層3.BL発光体層4を順次積層して形成
する。この後この基板を真空中あるいは不活性ガス雰囲
気中で500’C前後8 ′温度で熱処理し・
さらにそ0上に第2銹電体層5、背面電極6を順次積層
して形成してなるものである。EL発光体層4としては
目的の発光色によって各種の材料が用いられるが、たと
えば黄橙色では主としてマンガン付活硫化亜鉛が用いら
れている。第1誘電体層3.第2誘電体層6としては、
従来耐圧性、透光性、膜形成の容易さなどから、酸化ア
ルミニウム(klh03) r酸化イツトリウム(Y2
O5)−二酸化ケイ素(5i02 )や窒化シリコン(
5isNa )などが、電子ビーム蒸着法やスパッタリ
ング法などで形成して用いられている。
しかしこれらの誘電体材料の誘電率は、周波v11KE
[zにおいて十数以下程度であり、そのため素子の駆動
電圧に200v以上必要とした。そこで最近では外部か
ら印加する駆動電圧を低減する目的で高誘電率のペロブ
スカイト構造誘電体材料、たとえばチタン酸鉛(PbT
i03)やチタン酸バリウム(BaTi05)などが誘
電体層として用いられている。この方法によると駆動電
圧は100V以下に低減できるが、輝度も同時に低下し
てしまうという欠点があった。
[zにおいて十数以下程度であり、そのため素子の駆動
電圧に200v以上必要とした。そこで最近では外部か
ら印加する駆動電圧を低減する目的で高誘電率のペロブ
スカイト構造誘電体材料、たとえばチタン酸鉛(PbT
i03)やチタン酸バリウム(BaTi05)などが誘
電体層として用いられている。この方法によると駆動電
圧は100V以下に低減できるが、輝度も同時に低下し
てしまうという欠点があった。
発明の目的
本発明は、上記のように、微細に分割された多数の電極
を有する薄膜ΣL素子の製造方法において、誘電体層と
して高誘電率の材料を用いたときにも発光輝度の大きい
薄膜EL素子を得ることのできる製造方法を提供するこ
とを目的とする。
を有する薄膜ΣL素子の製造方法において、誘電体層と
して高誘電率の材料を用いたときにも発光輝度の大きい
薄膜EL素子を得ることのできる製造方法を提供するこ
とを目的とする。
発明の構成
本発明は上記の目的を達成するために、薄膜EL素子の
製造方法を以下の構成とすることを特徴とする。
製造方法を以下の構成とすることを特徴とする。
複数対の透明電極と背面電極間にすくなくとも片側に誘
電体層を介してEL発光体層が設けられてなる薄膜XL
素子の製造方法において、前記EL発光体層が形成され
るmlにすでに形成された前記誘電体層を酸化性ガスの
プラズマ雰囲気中にて酸化することによって従来よシ高
輝度の薄膜EL素子が得られた。
電体層を介してEL発光体層が設けられてなる薄膜XL
素子の製造方法において、前記EL発光体層が形成され
るmlにすでに形成された前記誘電体層を酸化性ガスの
プラズマ雰囲気中にて酸化することによって従来よシ高
輝度の薄膜EL素子が得られた。
実施例の説明
第2図は本発明の素子の一実施例を説明するための図で
ある。図において、11はこの実施例の薄膜EL素子で
、絶縁性基板12の上に、下部電極13が形成され、そ
の上に第1誘電体層14を形成し、酸化性ガスのプラズ
マ雰囲気にさらした後に、さらにその上にEL発光体層
15を形成し、soo’cFiI後の真空中で熱処理を
行ない、第2誘電体層16.上部型li賃17を順次積
層して形成してなるものである。
ある。図において、11はこの実施例の薄膜EL素子で
、絶縁性基板12の上に、下部電極13が形成され、そ
の上に第1誘電体層14を形成し、酸化性ガスのプラズ
マ雰囲気にさらした後に、さらにその上にEL発光体層
15を形成し、soo’cFiI後の真空中で熱処理を
行ない、第2誘電体層16.上部型li賃17を順次積
層して形成してなるものである。
絶縁性基板12にはガラス、アルミナまだはフォルステ
ライトなど通常の薄膜用基板を用いることができる。
ライトなど通常の薄膜用基板を用いることができる。
下部電極13および上部電極17のどちらかは酸化すず
(SnOz)や酸化インジウム(In20s)のような
透明導電性膜で形成し、他方はアルミニウム(A7!’
) 、白金(pt)、金(Au ) などの金属でよ
い。
(SnOz)や酸化インジウム(In20s)のような
透明導電性膜で形成し、他方はアルミニウム(A7!’
) 、白金(pt)、金(Au ) などの金属でよ
い。
第1.第2誘電体層14.16はBe 、 Mg 。
Y 、 Ti 、 Zr 、 Sr 、 Hf’ 、
Nb 、 Ta 、 Or 。
Nb 、 Ta 、 Or 。
Mo 、 W 、 Zn 、 AA 、 Ga 、 S
iまたはランクナイド元素の酸化物などが適しておシ、
これらの混合物または化合物でもよい。とくにペロブス
カイト構造の酸化物では高誘電率の誘電体層が得られる
。
iまたはランクナイド元素の酸化物などが適しておシ、
これらの混合物または化合物でもよい。とくにペロブス
カイト構造の酸化物では高誘電率の誘電体層が得られる
。
EL発光体層15は、たとえば活性物質を含む硫化亜鉛
を用いることができる。活性物質としてはMn 、 C
u 、 Ag 、 Au 、 TbF3 、 SmF3
。
を用いることができる。活性物質としてはMn 、 C
u 、 Ag 、 Au 、 TbF3 、 SmF3
。
ErF3 、 TmF3 、 DyF3 、 PrF3
、 EuF3などが適当である。EL発光体層15は
硫化亜鉛以外のものでもよく、たとえば活性物質を含む
SrSやCe、Sなど、電場発光を示すものであればよ
い。
、 EuF3などが適当である。EL発光体層15は
硫化亜鉛以外のものでもよく、たとえば活性物質を含む
SrSやCe、Sなど、電場発光を示すものであればよ
い。
酸化性ガスのプラズマ雰囲気中での第1誘電体層14の
酸化は、この実施例においてもっとも特徴的なものであ
シ、酸化性ガスとしては酸素、酸素と不活性ガスあるい
は窒素との混合ガスなどが適しており、ガス流量や印加
する高周波電力の大きさなどはプラズマが発生する条件
であればとくに限定されるものではなく、処理時間につ
いては長い方が効果は大きいが、5〜30分程度が効率
がよい。
酸化は、この実施例においてもっとも特徴的なものであ
シ、酸化性ガスとしては酸素、酸素と不活性ガスあるい
は窒素との混合ガスなどが適しており、ガス流量や印加
する高周波電力の大きさなどはプラズマが発生する条件
であればとくに限定されるものではなく、処理時間につ
いては長い方が効果は大きいが、5〜30分程度が効率
がよい。
下部電極13と上部電極17との間に交流電圧0
を印加して、この素子の発光特性について調べた結
果、酸化性ガスのプラズマによる酸化処理を誘電体層に
施さなかった従来の素子と比較して発光輝度が大きいこ
とが判明した。このよ、うにEL素子の発光特性を改善
する酸化性ガスのプラズマの誘電体層への作用について
は、現在のところ明らかになっていないが、酸化性ガス
のプラズマが誘電体層の酸素欠陥の多い部分を非可逆的
に酸化するためではないかと考えられ、したがってEL
発光体層を形成する前に誘電体層を酸化性ガスのプラズ
マ雰囲気にさらすことがEL素子の特性向上に効果があ
るものと思われる。 次に本発明の具体的な一
例について、第3図を用いて説明する。第3図人に示す
薄膜EL素子21を次の手順で作製した。透明なガラス
板22を基板とし、この上に電子ビーム蒸着法にて基板
温度300℃で膜厚0.2μmの酸化すずインンウム膜
(以下ITO膜と略す)を全面に形成し、写真食刻法を
用いて透明電極23を所望のパターンに形成する。次に
400°Cの基板温度で0.6μmの厚さにチタン酸ス
トロンチウム(5rTiOs ) 膜をスパッタリング
法にて蒸着し、第1誘電体層24を形成した。
を印加して、この素子の発光特性について調べた結
果、酸化性ガスのプラズマによる酸化処理を誘電体層に
施さなかった従来の素子と比較して発光輝度が大きいこ
とが判明した。このよ、うにEL素子の発光特性を改善
する酸化性ガスのプラズマの誘電体層への作用について
は、現在のところ明らかになっていないが、酸化性ガス
のプラズマが誘電体層の酸素欠陥の多い部分を非可逆的
に酸化するためではないかと考えられ、したがってEL
発光体層を形成する前に誘電体層を酸化性ガスのプラズ
マ雰囲気にさらすことがEL素子の特性向上に効果があ
るものと思われる。 次に本発明の具体的な一
例について、第3図を用いて説明する。第3図人に示す
薄膜EL素子21を次の手順で作製した。透明なガラス
板22を基板とし、この上に電子ビーム蒸着法にて基板
温度300℃で膜厚0.2μmの酸化すずインンウム膜
(以下ITO膜と略す)を全面に形成し、写真食刻法を
用いて透明電極23を所望のパターンに形成する。次に
400°Cの基板温度で0.6μmの厚さにチタン酸ス
トロンチウム(5rTiOs ) 膜をスパッタリング
法にて蒸着し、第1誘電体層24を形成した。
次に真空チャンバを排気した後酸素ガスを1Torrの
分圧になるよう導入シ、13.56Ml1IZ。
分圧になるよう導入シ、13.56Ml1IZ。
400Wの高周波電力を印加して酸素プラズマを発生さ
せ、30分間第1誘電体層240表面を酸素プラズマに
さらした。
せ、30分間第1誘電体層240表面を酸素プラズマに
さらした。
次に、真空チャンバを排気した後、基板温度を250℃
に保って、ZnS : Mn (Mn濃度は1モル%)
を0.4μmの厚さに電子ビーム蒸着してEL発光体層
26を形成した。蒸着後、引き続いて真空チャンバ内に
おいて600°Cの温度で1時間”熱処理を施して、E
L発光体層26の特性を向上させた。それから、この上
にQ、06μm の厚さに酸化イッl−IJウム(Y2
O2) 膜を電子ビーム蒸着することにより、第2誘
電体層27を形成した。
に保って、ZnS : Mn (Mn濃度は1モル%)
を0.4μmの厚さに電子ビーム蒸着してEL発光体層
26を形成した。蒸着後、引き続いて真空チャンバ内に
おいて600°Cの温度で1時間”熱処理を施して、E
L発光体層26の特性を向上させた。それから、この上
にQ、06μm の厚さに酸化イッl−IJウム(Y2
O2) 膜を電子ビーム蒸着することにより、第2誘
電体層27を形成した。
なお、このときの基板温度は200’Cとした。さらに
その上に、アルミニウムを0,211mの厚すニ真空蒸
着して背面電極28を形成して、薄膜EL素子21を完
成した。
その上に、アルミニウムを0,211mの厚すニ真空蒸
着して背面電極28を形成して、薄膜EL素子21を完
成した。
このようにして作製した薄膜EL素子の発光輝度特性を
周波数5Kllzの正弦波電圧を用いて測定l、た入こ
ろ筆3明Bのよう力枯場力;程らh−奇一泣3図Bは透
明電極23と背面電極28との間に外部から印加する駆
動電圧とCd/rT11で表した発光輝度との関係を示
しており、実線(&)はこの薄膜EL素子21の電圧−
輝度特性、破線(b)は酸素プラズマ処理を行なわない
従来の薄膜EL素子の電圧輝度特性を示す。
周波数5Kllzの正弦波電圧を用いて測定l、た入こ
ろ筆3明Bのよう力枯場力;程らh−奇一泣3図Bは透
明電極23と背面電極28との間に外部から印加する駆
動電圧とCd/rT11で表した発光輝度との関係を示
しており、実線(&)はこの薄膜EL素子21の電圧−
輝度特性、破線(b)は酸素プラズマ処理を行なわない
従来の薄膜EL素子の電圧輝度特性を示す。
この図から判るように、本実施例による薄膜EL素子は
従来の素子に比較して高い輝度が得られた。
従来の素子に比較して高い輝度が得られた。
発明の効果
上述のように、本発明の製造方法によれば薄膜EL素子
において、誘電体層として高誘電率材料を用いたときに
も簡単な罹成で発光輝度の大きい薄膜EL素子を提供す
ることができ、その実用的価値は大である。
において、誘電体層として高誘電率材料を用いたときに
も簡単な罹成で発光輝度の大きい薄膜EL素子を提供す
ることができ、その実用的価値は大である。
第1図は従来の薄膜EL素子の製造方法を説明するだめ
の薄膜EL素子の一例溝成を示す模型的断面図、第2図
は本発明にかかる薄膜EL素子の製造方法を説明するだ
めの薄膜EL素子の−実施例の構成を示す模型的断面図
、第3図Aはその具体的な一例構成を示す模型的断面図
、第3図Bはその電圧輝度特性を示す図である。 12 、22・・・・・・ガラス基板、13.23・・
・・・・透明電極、14 、24・・・・・・第1誘電
体層、15 、25・・・・・・EL発光体層、16
、26・・・・・・第2誘電体層、17 、27・・・
・・・背面電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図
の薄膜EL素子の一例溝成を示す模型的断面図、第2図
は本発明にかかる薄膜EL素子の製造方法を説明するだ
めの薄膜EL素子の−実施例の構成を示す模型的断面図
、第3図Aはその具体的な一例構成を示す模型的断面図
、第3図Bはその電圧輝度特性を示す図である。 12 、22・・・・・・ガラス基板、13.23・・
・・・・透明電極、14 、24・・・・・・第1誘電
体層、15 、25・・・・・・EL発光体層、16
、26・・・・・・第2誘電体層、17 、27・・・
・・・背面電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図
Claims (5)
- (1)複数対の透明電極と背面電極間にすくなくとも
片側に誘電体層を介してEL発光体層が設けられてなる
薄膜EL素子の製造方法において、前記EL発光体層が
形成される前にすでに形成された前記誘電体層を酸化性
ガスのプラズマ雰囲気中にて酸化する工程を含むことを
特徴とする薄膜EL素子の製造方法。 - (2)EL発光体層が活性物質を含む硫化亜鉛からな
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜E
L素子の製造方法。 - (3)活性物質がMn,Gu,Ag,Au,TbF_
3,SmF_3,ErF_3,TmF_3,DyF_3
,PrF_3およびEuF_3のうちの少なくとも一つ
からなることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の
薄膜EL素子の製造方法。 - (4)前記誘電体層のすくなくとも一部が酸化物の誘
電体材料で形成されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (5)前記酸化物の誘電体材料がペロブスカイト構造
誘電体材料であることを特徴とする特許請求の範囲第4
項記載の薄膜EL素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59216633A JPS6196696A (ja) | 1984-10-16 | 1984-10-16 | 薄膜el素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59216633A JPS6196696A (ja) | 1984-10-16 | 1984-10-16 | 薄膜el素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6196696A true JPS6196696A (ja) | 1986-05-15 |
Family
ID=16691489
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59216633A Pending JPS6196696A (ja) | 1984-10-16 | 1984-10-16 | 薄膜el素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6196696A (ja) |
-
1984
- 1984-10-16 JP JP59216633A patent/JPS6196696A/ja active Pending
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