JPS63299186A - 発光素子 - Google Patents

発光素子

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JPS63299186A
JPS63299186A JP62131125A JP13112587A JPS63299186A JP S63299186 A JPS63299186 A JP S63299186A JP 62131125 A JP62131125 A JP 62131125A JP 13112587 A JP13112587 A JP 13112587A JP S63299186 A JPS63299186 A JP S63299186A
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light
ingaas
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Naoki Kayane
茅根 直樹
Hisao Nakajima
尚男 中島
Makoto Okai
誠 岡井
Shinji Tsuji
伸二 辻
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、発光素子に係り、特に光分布を局所的に閉込
めるに好適な構造を有する発光素子に関する。
〔従来の技術〕
組成の異なるInA jl Asよりなる多層の超薄膜
中に部分的にZn、GaあるいはSiなどを拡散あるい
はイオン打込して熱処理すると、それらの元素の拡散に
より、構成元素が相互に移動して、平均した組成の均一
な膜になることが良く知られている。これは拡散による
無秩序化と呼ばれている。
これを利用して多層膜部分と組成の均一化した部分との
間の屈折率差によって光分布を閉込めた構造の発光素子
が報告されている0例えば、アプライド・フイズイツク
ス・レターズ第45巻(1984年)第1項から第3項
(Appl、Phys、Letts、 45(1984
)Pp 1−3参照、この方法は、拡散やイオン打込み
などのプレーナプロセスで屈折率閉込構造を実現する有
力な方法である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、主として光通信システムでは1.1〜1.6
 μmの波長を有する発光素子が重要であるが、従来か
らこの波長帯で良く用いられているInGaAsP系の
材料では無秩序化が生じ難いことが見出されている。こ
のため1.1〜1.6μm帯の波長では無秩序化を利用
した光分布の閉じ込めができないという問題があった。
本発明の目的は従来技術の問題点を解決し、上記の波長
帯でも無秩序化による光分布の閉じ込めを可能とする発
光素子を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
ところで、元素による無秩序化は、多層膜中にPがなけ
れば生ずることを見出した。Pがなくても、InP基板
上に成長した、InA Q As / InGaAs5
 。
InA jI As/ InGaA 41 As、 I
nGaA fi As/ InGaAs5などの多層超
薄膜中の組成と厚みを調整すれば、1.1〜1.6μm
帯の発光は可能となる。即ち多層膜中にInを含み、P
を含まなければ、拡散による無秩序化と、1.1〜1.
6μm帯の発光の双方が可能となる。
〔作用〕
ZnやSi、Gaなどの元素が拡散すると。
100〜200Å以下の多層超薄膜中では、構成元素の
移動が生じ、多層膜を平均化して組成の均一な膜が生ず
る。ところが、多層膜中にPが存在するとこのような現
象は生じ難い、一方1.1〜1.6 μm帯の発光波長
を有する材料はInGaAsPが有力であるが、InG
aA Q Asでも可能である。またInAρAs/I
nGaAsの超薄膜の多層膜、いわゆる量子井戸構造に
おいてもInGaAs層の厚みによって上記の波長にお
ける発光が可能である。これらの材料ではPを含まず、
また共通にInを含んでいる。これらを用いれば元素の
拡散やイオン打込みにより、無秩序化が生じ、屈折率差
による光閉込めが生ずる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図は本発明を用いた半導体レーザ素子の断面図である。
p型InP基板1の上に、有機金属気相成長法により、
p型InPクラッド層2(厚みlpm)、アンドープI
nGa^(i As/InGaAs超格子層3(厚みI
nGaA 11 As 100人、InAjlAs:1
00人、各々5層)、n型InPクラッド層5(厚み1
.5  prr3)、 n型InGaAa層6(厚み0
.5μm)を順次積層する。この後1選択拡散法により
Znを領域7に拡散する。この時、超格子層のZn拡散
部分4は無秩序化により平均組成のInGaAsAs層
となる。この後、絶縁膜8を被着し、AnGaNi −
A u電極9を蒸着する6次にp型InP基板裏面にC
r−Au電極10を蒸着し、へき開とスクライブにより
チップに切り離す。
この素子に電流を流すと、超格子層3のInGaAs層
にキャリアが注入され1発光する0発光波長は1.55
μmである。レーザ光は領域3と4の間の屈折率段差に
よって閉込められ、基本横モードとなる。また注入され
たキャリアは領域3のInGaAs層と領域4の間にあ
るバンドギャップ差によって閉込められ、効率良くレー
ザ発振に寄与する。
本発明の第2の実施例を第2図によって説明する。第2
図は本発明を用いた半導体レーザ素子の断面図である。
n型InP基板11の上に、有機金属成長法によりn型
InPクラッド層12(厚みlpm)、アンドープIn
GaAsP/ I n P超格子層13(厚みInGa
AsP : 100人、Ink:100人、各々5層)
p型InPクラッド層14(厚み0.2層m)、Siド
ープInA n As / InGaAs超格子層15
(厚みTnAjlAs: 100人、 InGaAs 
: 100人、各々10M)を成長する0次に図中領域
15のみにBeのイオン打込みを行ない、熱処理する。
この際Beの打込まれた領域15は無秩序化せず、それ
以外の領域16はドープしたSiによって無秩序化する
。この後、さらにp型InP層17(厚みlum)、p
型InGaAg層18を順次積層する0次にCr−Au
nt極19、AuGoNi −A u TtiI422
0を蒸着し、へき開とスクライブによってチップに分離
する。
この素子に電流を流すと、超格子層13中のInGaA
sP層にキャリアが注入され1発光する。レーザ光は、
領域15と領域16の屈折率差によって領域15の下の
領域に閉込められる。この場合は所望の屈折率差を得る
ための超格子層15の組成比、厚みあるいは暦数の制御
が、レーザ発振を効率良く行なわせるための制御や波長
の制御と別個に行なえるという利点がある。さらにこの
場合、活性層となるInGaAsP/ I n P超格
子層13は。
InGaAgP(厚み0.1  μm)の単一の層でも
良い。
〔発明の効果〕
以上述べた如く、本発明によれば1発光波長が1.1〜
1.6μm帯の場合においても、元素の拡散、イオン打
込み、あるいはドーピングにより部分的に化合物半導体
多層薄膜の無秩序化を生じさせることができ、光通信用
発光素子において、屈折率差による光閉じ込めが容易に
実現できる。無秩序化を生じせしめる元素は、Zn、G
as Siに限らない、また化合物半導体薄膜の構成元
素として、Sbを含む系も本発明に含まれる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の半導体レーザの断面図、第
2図は他の実施例の半導体レーザの断面図である。 1.11・・・基板、2,5,12.14・・・クラッ
ド層、3,13,15・・・超格子層、7.16・・・
無秩序化領域、9,10,17.18・・・電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一部分に不純物元素を含有させて部分的に構造を異
    ならしめた多層の化合物半導体膜を有する発光素子であ
    つて、上記化合物半導体膜の構成元素はInを含んでお
    りかつPを含まないことを特徴とする発光素子。 2、特許請求の範囲第1項記載の発光素子において、前
    記不純物元素は拡散、注入あるいは添加による不純物元
    素であることを特徴とする発光素子。 3、特許請求の範囲第1項記載の発光素子において、前
    記化合物半導体膜はInGaAs、InGaAlAs、
    InAlAsのいずれかあるいはそれらの組み合せより
    成ることを特徴とする発光素子。
JP62131125A 1987-05-29 1987-05-29 発光素子 Pending JPS63299186A (ja)

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EP88108524A EP0293000B1 (en) 1987-05-29 1988-05-27 Light emitting device
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03296289A (ja) * 1990-04-13 1991-12-26 Mitsubishi Electric Corp 半導体光素子

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3840717A1 (de) * 1988-12-02 1990-06-07 Max Planck Gesellschaft Lichtemittierendes bauelement aus verbindungs-halbleiter
JPH03151684A (ja) * 1989-11-08 1991-06-27 Mitsubishi Electric Corp 多波長集積化半導体レーザの製造方法
US5138626A (en) * 1990-09-12 1992-08-11 Hughes Aircraft Company Ridge-waveguide buried-heterostructure laser and method of fabrication
US5146297A (en) * 1991-10-25 1992-09-08 Raytheon Company Precision voltage reference with lattice damage
KR100292308B1 (ko) * 1992-06-19 2001-09-17 이데이 노부유끼 반도체장치
JPH11506273A (ja) * 1996-03-28 1999-06-02 フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ 最高30%のアルミニウムを含む半導体材料又はアルミニウムを含まない半導体材料から成る個別の閉じ込め層を有する放射放出半導体ダイオード
TW383508B (en) * 1996-07-29 2000-03-01 Nichia Kagaku Kogyo Kk Light emitting device and display
JP2009212336A (ja) * 2008-03-05 2009-09-17 Mitsubishi Electric Corp 窒化物系半導体レーザの製造方法および窒化物系半導体レーザ
KR101688043B1 (ko) * 2010-11-08 2016-12-20 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 발광 소자 패키지

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60189280A (ja) * 1984-03-07 1985-09-26 Nec Corp 半導体レ−ザの製造方法
JPS60189984A (ja) * 1984-03-12 1985-09-27 Nec Corp 半導体レ−ザとその製造方法
JPS60210892A (ja) * 1984-04-04 1985-10-23 Nec Corp 半導体レ−ザ

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54107285A (en) * 1978-02-10 1979-08-22 Nec Corp Semiconductor light emission diode
JPS56103485A (en) * 1980-01-22 1981-08-18 Fujitsu Ltd Semiconductor light emission element
JPS5853873A (ja) * 1981-09-25 1983-03-30 Nec Corp 表面発光型発光ダイオ−ド
JPS5929484A (ja) * 1982-08-12 1984-02-16 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
US4599728A (en) * 1983-07-11 1986-07-08 At&T Bell Laboratories Multi-quantum well laser emitting at 1.5 μm
GB8322235D0 (en) * 1983-08-18 1983-09-21 Standard Telephones Cables Ltd Photodetector
JPS6050983A (ja) * 1983-08-30 1985-03-22 Sharp Corp 半導体レ−ザ素子の製造方法
JPS60206081A (ja) * 1984-03-29 1985-10-17 Sharp Corp 半導体レ−ザ装置
JPS6267890A (ja) * 1985-09-20 1987-03-27 Hitachi Ltd 半導体レ−ザ

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60189280A (ja) * 1984-03-07 1985-09-26 Nec Corp 半導体レ−ザの製造方法
JPS60189984A (ja) * 1984-03-12 1985-09-27 Nec Corp 半導体レ−ザとその製造方法
JPS60210892A (ja) * 1984-04-04 1985-10-23 Nec Corp 半導体レ−ザ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03296289A (ja) * 1990-04-13 1991-12-26 Mitsubishi Electric Corp 半導体光素子

Also Published As

Publication number Publication date
EP0293000A3 (en) 1990-08-08
DE3888575T2 (de) 1994-06-30
EP0293000A2 (en) 1988-11-30
US4905060A (en) 1990-02-27
EP0293000B1 (en) 1994-03-23
DE3888575D1 (de) 1994-04-28

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