JPS6290950A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS6290950A JPS6290950A JP60231715A JP23171585A JPS6290950A JP S6290950 A JPS6290950 A JP S6290950A JP 60231715 A JP60231715 A JP 60231715A JP 23171585 A JP23171585 A JP 23171585A JP S6290950 A JPS6290950 A JP S6290950A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wirings
- layer
- aluminum wiring
- layers
- aluminum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 31
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 31
- 238000010008 shearing Methods 0.000 claims 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 7
- 238000002161 passivation Methods 0.000 abstract description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/522—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
- H01L23/528—Geometry or layout of the interconnection structure
- H01L23/5283—Cross-sectional geometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/60—Attaching or detaching leads or other conductive members, to be used for carrying current to or from the device in operation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Geometry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置に関しとくにそのアルミ配線に
関するものである。
関するものである。
従来の技術では、1tffの上にPSGを配し、その上
にアルミニウムを配線する。
にアルミニウムを配線する。
従来のアルミニウム配線は、パッシペーションクラック
により、変形及び断線を生じ、伝達経路を断たれる問題
点があった0 上記のような問題点を解消するためになされたもので、
アルミニウム配線の2層化を行い、パッシペーションク
ラック忙よる上層のアルミニウム配線の断線が生じた場
合、PSGに埋めこまれているアルミニウム配線によシ
、伝達経路を断たれることがないことを目的とする。
により、変形及び断線を生じ、伝達経路を断たれる問題
点があった0 上記のような問題点を解消するためになされたもので、
アルミニウム配線の2層化を行い、パッシペーションク
ラック忙よる上層のアルミニウム配線の断線が生じた場
合、PSGに埋めこまれているアルミニウム配線によシ
、伝達経路を断たれることがないことを目的とする。
基板にPSGの層を作るとき疋アルミ配線を埋め込み、
従来のアルミニウム配線を行う前に、先程配したアルミ
ニウム配線を覆うPSGに、従来のアルミニウム配線(
ここでは上層のアルミニウム配線)と、連結できる穴を
あけ、従来の方法でアルミニウム配線を行う。
従来のアルミニウム配線を行う前に、先程配したアルミ
ニウム配線を覆うPSGに、従来のアルミニウム配線(
ここでは上層のアルミニウム配線)と、連結できる穴を
あけ、従来の方法でアルミニウム配線を行う。
アルミ配線の2層化は、パッシペーションクラックによ
る上層のアルミニウム配線の切断を生じた時、下層のア
ルミニウム配線と連結していることにより、伝達経路を
確保できる0 〔発明の実施例〕 以下、この発明の一実施例を第1図、第2図により説明
する。図は配線の断面図であって図においテ、PSGi
(2+中にアルミニウム配線(1)を設けこのPS()
層(2)の上に、アルミニウム配線(3)を設け、上層
のアルミニウム配線(3)と下層のアルミニウム配線(
1)とをPSC)層(2)に孔をあけることで図に示す
ように間隔を置いて連結する。(4)は半導体基板であ
る0 パッシペーションクラックによる上層のアルミニウム配
線(3)が切断されても、下層のアルミニウム配H(1
)を連結畜れていることで電流の伝達経路を確保できる
。
る上層のアルミニウム配線の切断を生じた時、下層のア
ルミニウム配線と連結していることにより、伝達経路を
確保できる0 〔発明の実施例〕 以下、この発明の一実施例を第1図、第2図により説明
する。図は配線の断面図であって図においテ、PSGi
(2+中にアルミニウム配線(1)を設けこのPS()
層(2)の上に、アルミニウム配線(3)を設け、上層
のアルミニウム配線(3)と下層のアルミニウム配線(
1)とをPSC)層(2)に孔をあけることで図に示す
ように間隔を置いて連結する。(4)は半導体基板であ
る0 パッシペーションクラックによる上層のアルミニウム配
線(3)が切断されても、下層のアルミニウム配H(1
)を連結畜れていることで電流の伝達経路を確保できる
。
下層のアルミニウム配線(11は、980層(2)に埋
め込まれているので何らかの内部応力に対し、影響を受
けない。
め込まれているので何らかの内部応力に対し、影響を受
けない。
以上のように、この発明によれば、アルミニウム配線の
2層化を行うことで、パッシペーションクラックでの伝
達経路の切断を防ぐことができる効果がある。
2層化を行うことで、パッシペーションクラックでの伝
達経路の切断を防ぐことができる効果がある。
第1図は、この発明の一実施例の断面図であり、第2図
は、第1図の横断面図である。 (1)は下層アルミニウム配線、(2)は980層、(
3)は上層アルミニウム配線、(4)は半導体基板であ
る。 図中同一符号は同一または相当部分を示す。
は、第1図の横断面図である。 (1)は下層アルミニウム配線、(2)は980層、(
3)は上層アルミニウム配線、(4)は半導体基板であ
る。 図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- パッシペーションクラックを生じた時のアルミ配線のせ
ん断を防ぐためにアルミ配線を上、下の2層に分け、下
層をPSG内に埋め込むと共にこの2層のアルミ配線を
間隔を置いて連結することを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60231715A JPS6290950A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 半導体装置 |
KR1019860004893A KR900001659B1 (ko) | 1985-10-16 | 1986-06-19 | 반도체 장치 |
GB8624497A GB2181894B (en) | 1985-10-16 | 1986-10-13 | Duplicate wiring in a semiconductor device |
DE19863635259 DE3635259A1 (de) | 1985-10-16 | 1986-10-16 | Redundante verdrahtung in einer halbleitervorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60231715A JPS6290950A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6290950A true JPS6290950A (ja) | 1987-04-25 |
Family
ID=16927878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60231715A Pending JPS6290950A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 半導体装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6290950A (ja) |
KR (1) | KR900001659B1 (ja) |
DE (1) | DE3635259A1 (ja) |
GB (1) | GB2181894B (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2584986B2 (ja) * | 1987-03-10 | 1997-02-26 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の配線構造 |
JPS63283040A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-18 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
EP0394520A1 (de) * | 1989-04-26 | 1990-10-31 | Richard Nicolaus | Verfahren zum Abtrennen von Rollenmaterialabschnitten von einem Rollenmaterial sowie Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens |
JPH05283467A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
US5835419A (en) * | 1996-03-01 | 1998-11-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device with clamping circuit for preventing malfunction |
EP0915421B1 (en) * | 1996-03-01 | 2001-03-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device capable of preventing malfunction due to disconnection of column select line or word select line |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3518506A (en) * | 1967-12-06 | 1970-06-30 | Ibm | Semiconductor device with contact metallurgy thereon,and method for making same |
GB1596907A (en) * | 1978-05-25 | 1981-09-03 | Fujitsu Ltd | Manufacture of semiconductor devices |
JPS55120150A (en) * | 1979-03-09 | 1980-09-16 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
EP0048610B1 (en) * | 1980-09-22 | 1986-01-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device and its manufacture |
JPS594050A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
US4617193A (en) * | 1983-06-16 | 1986-10-14 | Digital Equipment Corporation | Planar interconnect for integrated circuits |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP60231715A patent/JPS6290950A/ja active Pending
-
1986
- 1986-06-19 KR KR1019860004893A patent/KR900001659B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1986-10-13 GB GB8624497A patent/GB2181894B/en not_active Expired
- 1986-10-16 DE DE19863635259 patent/DE3635259A1/de not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3635259A1 (de) | 1987-04-16 |
KR900001659B1 (ko) | 1990-03-17 |
GB2181894A (en) | 1987-04-29 |
GB8624497D0 (en) | 1986-11-19 |
GB2181894B (en) | 1989-09-13 |
KR870004502A (ko) | 1987-05-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6290950A (ja) | 半導体装置 | |
IE822103L (en) | Lsi semiconductor device having monitor element | |
JPH02188942A (ja) | 多層配線構造を備えた半導体装置の製造方法 | |
JPH0546274Y2 (ja) | ||
JPS6340347A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2770390B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS6325951A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0143876Y2 (ja) | ||
JPS63275142A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS6088442A (ja) | 半導体装置 | |
JPS62262458A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPS61255038A (ja) | 半導体装置 | |
JPS57106146A (en) | Forming method for multilayer wire | |
JPS58191449A (ja) | 多層配線構造 | |
JPS61225836A (ja) | 半導体装置の配線製造方法 | |
JPS6412552A (en) | Wiring structure of semiconductor device | |
JPS63161642A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0289321A (ja) | 半導体装置 | |
JPH09283617A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH0267729A (ja) | 半導体装置 | |
JPS57201050A (en) | Multilayer wiring structure | |
JPH02192145A (ja) | 半導体装置 | |
JPS6340346A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS63307751A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPS59138255U (ja) | ジヨセフソン接合装置 |