JPS6244691B2 - - Google Patents

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JPS6244691B2
JPS6244691B2 JP55126838A JP12683880A JPS6244691B2 JP S6244691 B2 JPS6244691 B2 JP S6244691B2 JP 55126838 A JP55126838 A JP 55126838A JP 12683880 A JP12683880 A JP 12683880A JP S6244691 B2 JPS6244691 B2 JP S6244691B2
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JP
Japan
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plating
corrosion resistance
alloy
lead frame
less
Prior art date
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Application number
JP55126838A
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English (en)
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JPS5750457A (en
Inventor
Kazu Sasaki
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Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49579Lead-frames or other flat leads characterised by the materials of the lead frames or layers thereon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は半導体ICのリードフレーム(以下単
にICリードフレームという)として使用される
のに適したFe−Cr系合金に関するものである。 一般にICは (1) 素材ストリツプから打抜き加工により各種パ
ターンのリードフレームに成形し (2) ついで直接AuもしくはAgメツキを施すか、
あるいはNi,Cuメツキを下地とした上にAuも
しくはAgメツキを施し、 (3) 前記メツキしたリードフレームにSiチツプお
よびAu線のボンデイングを行ない、 (4) さらに上記半導体チツプを外部環境から保護
するためセラミツクや樹脂で封止する作業工程
により製造されている。 したがつてこの用途に使用されるリードフレー
ム材料にはパツケージング工程あるいは使用上か
らの要求特性としてメツキ性、耐食性、リードの
ビン強度が優れていることが要求される。この要
求を満たす材料として従来Fe−29Ni−17Co合金
(コバール)やFe−42Ni合金(42Ni合金)が広く
使用されている。しかしこれらの合金はNi、Co
等の原料を多量に含有するため高価であるという
欠点を有している。 しかるに最近は製品のコストダウンの厳しい要
求にともない安価な代替材として銅合金(Fe入
銅、りん青銅)純鉄が検討され使用されるに至つ
ている。これらの合金は一長一短の特性を有し、
銅合金ではIC製造工程中ボンデイング時の加熱
でCuが酸化し変色するため(耐熱性が悪い)、メ
ツキ厚を厚くする必要があることあるいは再結晶
温度が低く軟化するためピン強度が低下してしま
うという欠点を有している。 一方純鉄では安価ではあるが大気中で容易に発
錆し、打抜き加工後ただちにNiメツキ等のメツ
キを行なわなければならないという欠点を有して
いる。いずれもICリードフレームとして使用す
るには必ずしも好適な材料とは言えない。 本発明は以上のような欠点を解消するため6%
以上8%未満Cr−Fe合金にMoを添加することに
より安価でメツキ性を損うことなく、しかも耐食
性の優れたリードフレーム材料を得るもので、さ
らに耐食性を向上させる為にNi,Cuを添加する
ものである。すなわち本願はCr6%以上8%未
満、Mo0.3〜4%残部Feおよび不純物からなるこ
とまた該合金にNi0.4〜3.5%、Cu0.4〜2.5%の1
種又は2種(総量で0.4〜5%)を含有するICリ
ードフレーム材料に関するものである。 以下本発明を実施例により詳細に説明する。 重量比でCr7.1〜7.8%、Mo0.9〜2%および
Ni0.6〜2.6%、Cu0.6〜1.6%、残部Feおよび不純
物からなる合金を高周波誘導炉で溶解、鋳造し、
950℃以上の温度で鍛造、熱間圧延を行ない、厚
さ3mmの板に圧延した。そして800℃で1時間の
焼鈍と冷間圧延を数回行なつたのち最終的に厚さ
0.25mmに仕上げた。 上記仕上圧延板より、幅25mm×長さ20mm×厚さ
0.25mmの試料を採取し、後述する耐食性、メツキ
性および耐熱強度の各試験を行なつた。 なお最終焼鈍は酸化を防ぐため乾水素ガス雰囲
気中で処理した。 第1表は本発明合金8種類と比較合金2種類お
よび一般の42Ni合金、りん青銅について耐食
性、メツキ性および耐熱強度を表わしたものであ
る。 耐食性は5%食塩水による塩水噴霧試験および
3%HF+20%HNO3水による浸漬試験(浸漬時
間50時間)を行ない塩水噴霧試験結果はほとんど
発錆のない状態を〇印、表面積の20%程度の発
【表】 メツキ性を評価するためにはまず上記寸法の試
料を溶剤脱脂→電解脱脂→酸処理(HCl溶液中5
分間浸漬)の前処理工程を行なつた後厚さ1μで
大きさ巾6mm×長さ8mmの部分Auメツキを施し
た。そしてメツキの密着性は上記メツキ厚、1μ
の試料を用いAuメツキ面をナイフで素地面まで
切口2mm×2mmのマス目(12ケ)を付けスコツチ
テープによる剥離テストを行ない、1ケでも剥離
した場合を×印、剥離しない場合を〇印で示し
た。 メツキの耐熱性は上記メツキ試料を500℃で3
分間大気中で加熱し、Auメツキ表面の変色の程
度により評価したもので、〇印はほとんど色調の
変化しないもの、×印は酸化により大きく変化
(黒青色)したもの、△印は若干変化したものを
示す。 また耐熱強度は圧延板を上記500℃で5分間加
熱し、加熱前後の硬さにより評価した。 第1表から明らかなように本発明合金1〜8は
42Ni合金とほぼ同等のメツキ性(密着性、耐熱
性)、耐食性を有し、またCu合金より500℃加熱
後の硬さが高く耐熱強度が優れていることがわか
る。 これに対しCr量の少ないMoおよびNi、Cu無添
加の比較合金1では耐食性が劣り、Cr量が多く
MoおよびNi、Cu無添加の比較合金2ではメツキ
性が劣つている。 すなわち、6%以上8%未満Cr−Fe合金にMo
およびNiCuを添加することにより安価でメツキ
性が良くしかも耐熱強度、耐食性の優れたリード
フレーム材料を得ることができる。 以下本発明合金の成分限定理由について述べ
る。 Crは耐食性に効果があるが、その量が8%以
上となると生成する不働態皮膜が強固となり密着
性の優れたメツキが得られず、またCr量が少な
くなると良好な密着性を有するメツキが得られる
が耐食性が悪くなる。6%未満では著しく耐食性
が劣り本発明の効果が得られなくなることから、
6%以上8%未満とした。 本発明の特徴であるMoおよびNi、Cuの含有は
メツキの密着性を損うことなく耐食性の向上に大
きな効果を有するものでMo量が0.3%未満では耐
食性に効果がなく、一方4%を越えるとフレーム
の成形加工性および熱伝導性が悪くなり実用上好
ましくなく0.3〜4%とした。 NiおよびCuの含有によりMoとの共存で耐熱性
あるいは耐熱強度をそこなうことなく、一層優れ
た耐食性が得られる。 Cu量が0.4%未満ではその効果が少なく一方2.5
%を越えると成形加工性が著しく劣るため0.4〜
2.5%とした。NiもCu同様0.4%未満ではその効果
が少なく、一方3.5%以上では成形加工性が劣り
0.4〜3.5%とした。またNiおよびCuの複合添加に
よつても同様な効果が得られ、その総量が0.4%
未満ではその効果が少なく、一方5%を越えると
熱伝導性が著しく悪くなりリードフレームとして
実用上好ましくないことから0.4〜5%とした。 本発明合金の不純物量はできるだけ少ない方が
良いが、工業的に用いられているFe、Cr等の原
料に含まれる不純物および溶解時に脱酸、脱硫の
目的で添加されるMn、Si、Alなどの少量の含有
は実質的に本発明の特性に影響を与えることがな
い。しかしCについては多量の含有は耐食性を悪
くし、またメツキ性を損なうため通常0.1%以下
が望ましいが0.15%未満までは許容される。 以上に記述するように本発明は良好なメツキ性
および耐食性を有し安価なリードフレーム材料と
して適している。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 重量比でCr6%以上8%未満、Mo0.3〜4%
    残部Feおよび不可避的に混入する不純物からな
    るICリードフレーム材料。 2 重量比でCr6%以上8%未満、Mo0.3〜4%
    を含み、さらにNi0.4〜3.5%、Cu0.4〜2.5%の1
    種または2種(総量で0.4〜5%)残部Feおよび
    不可避的に混入する不純物からなるICリードフ
    レーム材料。
JP12683880A 1980-09-12 1980-09-12 Ic lead frame material Granted JPS5750457A (en)

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JPS5750457A JPS5750457A (en) 1982-03-24
JPS6244691B2 true JPS6244691B2 (ja) 1987-09-22

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS599149A (ja) * 1982-07-07 1984-01-18 Daido Steel Co Ltd リ−ドフレ−ム材料
AU577309B2 (en) * 1982-09-29 1988-09-22 Steven J. Fishman Method and apparatus for colouring fish
JPS61119653A (ja) * 1984-11-15 1986-06-06 Hitachi Metals Ltd Icリ−ドフレ−ム材料
JPS61239838A (ja) * 1985-04-15 1986-10-25 I P M:Kk 食肉への液体注入方法
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5215265A (en) * 1975-07-24 1977-02-04 Telcon Metals Ltd Lead frame for semicoductors

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