|
JPS58106821A
(ja)
*
|
1981-12-18 |
1983-06-25 |
Fujitsu Ltd |
導電配線層の形成方法
|
|
JPH0635323B2
(ja)
*
|
1982-06-25 |
1994-05-11 |
株式会社日立製作所 |
表面処理方法
|
|
JPS5947733A
(ja)
*
|
1982-09-13 |
1984-03-17 |
Hitachi Ltd |
プラズマプロセス方法および装置
|
|
JPS60116781A
(ja)
*
|
1983-11-28 |
1985-06-24 |
Kyocera Corp |
高硬度窒化ホウ素膜の製造方法
|
|
JPS60116780A
(ja)
*
|
1983-11-28 |
1985-06-24 |
Kyocera Corp |
高硬度窒化ホウ素膜の製造方法
|
|
JPS60120525A
(ja)
*
|
1983-12-02 |
1985-06-28 |
Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> |
反応性イオンエツチング方法
|
|
JPH0638401B2
(ja)
*
|
1984-08-13 |
1994-05-18 |
日本電信電話株式会社 |
半導体薄膜形成法
|
|
JPH0652716B2
(ja)
*
|
1984-08-24 |
1994-07-06 |
日本電信電話株式会社 |
半導体結晶性膜製造装置
|
|
US6113701A
(en)
*
|
1985-02-14 |
2000-09-05 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, manufacturing method, and system
|
|
JPH0697660B2
(ja)
*
|
1985-03-23 |
1994-11-30 |
日本電信電話株式会社 |
薄膜形成方法
|
|
JPS61267324A
(ja)
*
|
1985-05-21 |
1986-11-26 |
Fuji Electric Co Ltd |
乾式薄膜加工装置
|
|
JPS61281872A
(ja)
*
|
1985-06-07 |
1986-12-12 |
Matsushita Electric Ind Co Ltd |
非晶質シリコンゲルマニウム膜の形成方法
|
|
JPS627859A
(ja)
*
|
1985-07-05 |
1987-01-14 |
Hitachi Ltd |
アモルフアスシリコン膜の形成方法
|
|
JPS6289882A
(ja)
*
|
1985-10-14 |
1987-04-24 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
気相エツチング方法
|
|
JPS6289875A
(ja)
*
|
1985-10-14 |
1987-04-24 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
薄膜形成装置
|
|
JPS62116774A
(ja)
*
|
1985-11-15 |
1987-05-28 |
Canon Inc |
成膜装置
|
|
JPS62150726A
(ja)
*
|
1985-12-24 |
1987-07-04 |
Fuji Electric Co Ltd |
半導体装置の製造方法
|
|
JPS62172714A
(ja)
*
|
1986-01-25 |
1987-07-29 |
Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> |
化合物半導体薄膜の製造方法
|
|
JPH064916B2
(ja)
*
|
1986-01-27 |
1994-01-19 |
新電元工業株式会社 |
気相より金属合金を堆積させる方法および装置
|
|
JPS62229823A
(ja)
*
|
1986-03-29 |
1987-10-08 |
Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> |
不純物添加化合物半導体結晶の成長方法
|
|
JPS6333575A
(ja)
*
|
1986-07-28 |
1988-02-13 |
Nippon Soken Inc |
電子サイクロトロンプラズマcvd装置
|
|
JPS6343324A
(ja)
*
|
1986-08-09 |
1988-02-24 |
Anelva Corp |
プラズマシヤワ−装置
|
|
JPS6350028A
(ja)
*
|
1986-08-20 |
1988-03-02 |
Fujitsu Ltd |
薄膜形成方法
|
|
JPS6369221A
(ja)
*
|
1986-09-10 |
1988-03-29 |
Fujitsu Ltd |
エピタキシヤル成長装置
|
|
JPS6383273A
(ja)
*
|
1986-09-26 |
1988-04-13 |
Res Dev Corp Of Japan |
窒化ホウ素膜の合成方法
|
|
US6677001B1
(en)
|
1986-11-10 |
2004-01-13 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Microwave enhanced CVD method and apparatus
|
|
EP0273741B1
(en)
*
|
1986-12-29 |
1991-10-23 |
Sumitomo Metal Industries, Ltd. |
Plasma apparatus
|
|
US5433788A
(en)
*
|
1987-01-19 |
1995-07-18 |
Hitachi, Ltd. |
Apparatus for plasma treatment using electron cyclotron resonance
|
|
KR960015609B1
(ko)
*
|
1987-01-19 |
1996-11-18 |
미쓰다 가쓰시게 |
플라즈마 처리장치 및 방법
|
|
JPS63217620A
(ja)
*
|
1987-03-06 |
1988-09-09 |
Hitachi Ltd |
プラズマ処理装置
|
|
JPS63221623A
(ja)
*
|
1987-03-10 |
1988-09-14 |
Fujitsu Ltd |
乾式薄膜加工装置
|
|
JPS6456874A
(en)
*
|
1987-03-27 |
1989-03-03 |
Canon Kk |
Microwave plasma cvd device
|
|
JPS63286579A
(ja)
*
|
1987-05-19 |
1988-11-24 |
Raimuzu:Kk |
薄膜の形成方法
|
|
JP2644764B2
(ja)
*
|
1987-08-21 |
1997-08-25 |
松下電器産業株式会社 |
ヘテロ接合素子の製造方法
|
|
JPH0216731A
(ja)
*
|
1988-07-05 |
1990-01-19 |
Mitsubishi Electric Corp |
プラズマ反応装置
|
|
JPH0252422A
(ja)
*
|
1988-08-17 |
1990-02-22 |
Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> |
薄膜製造方法及び装置
|
|
JPH0273977A
(ja)
*
|
1988-09-09 |
1990-03-13 |
Sony Corp |
プラズマ装置
|
|
JPH0362517A
(ja)
*
|
1989-03-27 |
1991-03-18 |
Anelva Corp |
マイクロ波プラズマ処理装置
|
|
US4990229A
(en)
*
|
1989-06-13 |
1991-02-05 |
Plasma & Materials Technologies, Inc. |
High density plasma deposition and etching apparatus
|
|
JPH03232224A
(ja)
*
|
1990-02-07 |
1991-10-16 |
Mitsubishi Electric Corp |
プラズマ処理装置
|
|
JPH0460556U
(en:Method)
*
|
1990-10-03 |
1992-05-25 |
|
|
|
JPH05251356A
(ja)
*
|
1991-11-06 |
1993-09-28 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
被膜形成方法
|
|
US5366586A
(en)
*
|
1992-02-03 |
1994-11-22 |
Nec Corporation |
Plasma formation using electron cyclotron resonance and method for processing substrate by using the same
|
|
JP2972477B2
(ja)
*
|
1993-01-27 |
1999-11-08 |
日本電気株式会社 |
Rf・ecrプラズマエッチング装置
|
|
JP2546596B2
(ja)
*
|
1993-02-19 |
1996-10-23 |
株式会社日立製作所 |
プラズマ処理装置
|
|
US5468341A
(en)
*
|
1993-12-28 |
1995-11-21 |
Nec Corporation |
Plasma-etching method and apparatus therefor
|
|
JPH07161700A
(ja)
*
|
1994-07-11 |
1995-06-23 |
Hitachi Ltd |
プラズマ処理方法
|
|
JP2703184B2
(ja)
*
|
1994-07-11 |
1998-01-26 |
株式会社日立製作所 |
プラズマ処理方法
|
|
JP2845163B2
(ja)
*
|
1994-10-27 |
1999-01-13 |
日本電気株式会社 |
プラズマ処理方法及びその装置
|
|
JP2685418B2
(ja)
*
|
1994-11-28 |
1997-12-03 |
松下電器産業株式会社 |
薄膜形成方法及びエッチング方法
|
|
JPH1081971A
(ja)
|
1996-07-10 |
1998-03-31 |
Suzuki Motor Corp |
高分子基材へのプラズマCVDによるSiC薄膜形成方法及び装置
|
|
JP2899254B2
(ja)
*
|
1996-11-08 |
1999-06-02 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
プラズマcvd装置
|