JPS6097634A - マイクロパツク製作方法 - Google Patents

マイクロパツク製作方法

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JPS6097634A
JPS6097634A JP59209593A JP20959384A JPS6097634A JP S6097634 A JPS6097634 A JP S6097634A JP 59209593 A JP59209593 A JP 59209593A JP 20959384 A JP20959384 A JP 20959384A JP S6097634 A JPS6097634 A JP S6097634A
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リユデイガー、ウイルデ
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Siemens AG
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は第1のキャリヤ上に粘着させられている細分化
′されたウェハのチップが第2のテープ・キャリヤには
んだ付けされるマイクロバック製作方法に関する。
〔従来の技術〕
マイクロバックを製作する際には、薄片がたとえばフィ
ルム材料から成るテープ・キャリヤ上に置かれ、エツチ
ングプロセスによりプリント配線板上へのチップの内部
はんだ付は用接続部および4部はんだ付は用接続部が形
成されるように部分的にすずメッキされる。チップ表面
には良好にはんだ可能なバンブが設けられ、このバンブ
が熱パルスによりテープ・キャリヤにはんだ付けされる
〔発明が解決しようとする問題点〕
ウェハからテープ・キャリヤにはんだ伺けされるまでの
チップ工程に関する製作ステップにおいては、チップは
一方では非常に小さいが機械的および熱的作用に対して
は非常に敏感であり、他方では大量の個数が扱われると
いうことが考慮されなければならない。それゆえ、従来
の製作方法においては、製作中チップ操作は非常に精密
に行なわれなければならず、すなわち労力のかかる調整
が行なわれなければならず、しかも回路に作用する負荷
は小さくしなければならないことが必要であった。
従って、本発明は、製作ステップの個数が僅かであり、
しかも機械的および熱的ストレスが極端に少ない冒頭で
述べた種類の製作方法を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、かかる目的を達するために、次のステップ、
すなわち (a) ウェハが、少なくとも短時間はんだ付は温度に
耐えることができて接着剤を有しかつ突き抜くことので
きる薄片状の第1のキャリヤ上に置かれるステップ、 (b) ウェハな細分化してチップを別々にするステッ
プ、 (C)第2のテープ・キャリヤ上にてチップに付属する
はんだ接続線をチップの対応するはんだバンブ上に整列
させるステップ、 (d) はんだ接合を行なうステップ、(e) チップ
背面に向けられた心棒を前記薄片状キャリヤの下に置く
ステップ、 (f) 前記心棒と前記薄片状キャリヤとの間の相対運
動によって前記心棒が薄片状キャリヤを突き抜↓〕て薄
片状キャリヤからチップを取り外すステップ、 を含むことを特徴とする。
本発明の一つの実施態様によれば、相対運動中薄片状キ
ャリヤは平坦状に保持される。
本発明の他の実施態様によれば、薄片状キャリヤは相対
運動中・1′11j面に作用する負圧によって保持され
る。
本発明のさらに他の実施態様によれば、薄片状キャリヤ
として、シリコン接着剤がコーティングされているポリ
イミド薄片が使用される。
〔実施例〕
次に、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図に示すように、ウェハ1は固定リング2に強固に
張設されている平面状の第1のキャリヤ3上に置かれて
いる。このキャリヤ3は薄片状イΔ料から成り、表面に
接着剤を有しており、この接着剤がウェハ1を1呆持す
るためて使われる。この粘着層はたとえば導1ト性接着
剤から成る。さらに、キャリヤニ)は少なくとも短時間
はんだイJc′j浴i度に耐えることができ、それゆえ
はんだイJけはキャリーl−:3の破壊り生しることな
〈実施することができる。キャリヤニ3の強度は後述す
る先の尖った心棒がそのキャリー1− :l t、:突
き抜くことのできるような強さである。このようなすべ
ての性質はたとえばポリイミド薄片が有している。
第2の製作ステップにおいては、ウェハ1はソーによっ
て細分化され、その結果チップ5が第1のキャリヤ3上
に個別に粘着せしめられるようになる。その後キャリヤ
3と、接続線4を有する第2のテープ・キャリヤ6とが
、チップ5上のはんだバンプ11とキャリヤ6上の接続
線4の自由端との間のはんだ接合を行なうことが出来る
ように、相kJ的罵互いに整列せしめられる。接続線4
はチップ5を収容するためて備えられているテープ・キ
ャリヤ6の空所12内に突出している。
第2図に示されている次のステップにおいては、はんだ
バンプ11にてはんだ接続が行なわれているチップ5の
下で、押し具9が第1のキャリヤ3と接触させられてい
る。この押し具9の接触面には貫通孔10が設けられて
おり、この貫通孔10は押し具9の内部の中空室13内
に連通している。
この中空室13は真空引きされており、従ってキャリヤ
3が押し具9上に強く押されるように作用する。チップ
5の反対側にははんだ押し具7が備えられており、この
はんだ押し具7を用いて熱パルスによってバンプ11と
接続線4との間のはんだ接合が行なわれる。
押し具9の内部には心棒8が取付けられており、その尖
端は押し具9内の別の開口部14を通してチップ背面に
向けられている。
はんだ個所の冷却後、第3図に示されているように、押
し具9は吸引されているキャリヤ3と共にはんだ押し具
7から矢印方向に移動させられて離される。その際心棒
8はその位置にとどまっている。
キャリヤ3とこのキャリヤ3に対して垂直に延びている
心棒8との間のこの相対運動によって、第4図に示され
ているように、チップ5がキャリヤ3から引離されるよ
うに、心棒8の尖端がキャリヤ3を突き抜ける。その際
チップ5は心棒8とはんだ押し具7との間の圧力によっ
てその位置に固定されている。
第5図に示されているように、キャリヤ3がらチップ5
が引離された後、はんだ押し具7が矢印方向に持ち上げ
られ、かつ心棒8が下方に下げられる。その後、テープ
・キャリヤ6が矢印方向に送られる。
〔発明の効果〕
以上に説明したように本発明によれば、はんだ温度はは
んだプロセスに最適に合わせることができるという利点
が得られる。しかもチップの取り外しの際に粘着層は第
1のキャリヤ上に残されるので、接着剤残留物による汚
染がなくなる。それ1φえ、接着剤残留物に対する洗浄
ステップは省略することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は平面状チップキャリヤおよびテープ・キャリヤ
の概略平面図、第2図ないし第5図は製作方法のステッ
プについて説明するための概略図である。 1・・・ウェハ、3・・・薄片状キャリヤ、4・・・接
続線、5・・・チップ、6・・・テープ・キャリヤ、8
・・・心棒、11・・・はんだバンプ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)第1のキャリヤ上に粘着させられている細分化され
    たウェハのチップがテープ・キャリヤにはんだ付けされ
    るマイクロパック製作方法において、次のステップ、す
    なわち (a) ウェハ(1)が、少なくとも短時間はんだ付は
    温度に耐えることができて接着剤を有しかつ突き抜くこ
    とのできる薄片状の第1のキャリヤ(3)上に置かれる
    ステップ、(b) 前記ウェハ(1)を細分化してチッ
    プ(5)を別々にするステップ、 (C) テープ・キャリヤ(6)上にて前記チップ(5
    )に付属するはんだ接続線(4)を前記チップ(5)の
    対応するはんだバンプ(11)上に整列させるステップ
    、 (d) はんだ接合を行なうステップ、(e) 前記チ
    ップ背面に向けられた心棒(8)を前記薄片状キャリヤ
    (3)の下に置くステップ、 (f) 前記心棒(8)と前記薄片状キャリヤ(3)と
    の間の相対運動によって前記心棒(8)が前記薄片状キ
    ャリヤ(3)を突き抜けて前記薄片状キャリヤ(3)か
    ら前記チップ(5)を取り外すステップ、 を含むことを特徴とするマイクロパック製作方法。 2)前記相対運動中前記薄片状キャリヤ(3)は平坦状
    に保持されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のマイクロパック製作方法。 3)前記薄片状キャリヤは前記相対運動中平坦面に作、
    弔する負圧によって保持されることを特徴とする特許請
    求の範囲第2項記載のマイクロパック製作方法。 4)前記薄片状キャリヤ(3)としてシリコン接着剤が
    コニティン外されているポリイミド薄片が使用されるこ
    とを特徴とする特許請求の範凹第1項ないし第3項のい
    ずれかの項記載のマイクロバック製作方法。
JP59209593A 1983-10-07 1984-10-05 マイクロパツク製作方法 Pending JPS6097634A (ja)

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DE3336606.3 1983-10-07
DE3336606A DE3336606A1 (de) 1983-10-07 1983-10-07 Verfahren zur mikropackherstellung

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JPS6097634A true JPS6097634A (ja) 1985-05-31

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ID=6211308

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JP59209593A Pending JPS6097634A (ja) 1983-10-07 1984-10-05 マイクロパツク製作方法

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US (1) US4667402A (ja)
EP (1) EP0140126B1 (ja)
JP (1) JPS6097634A (ja)
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DE (2) DE3336606A1 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5328236A (en) * 1992-09-29 1994-07-12 Tachi-S Col. Ltd. Side support device in seat back of an automotive seat
JP2014517500A (ja) * 2011-04-15 2014-07-17 ミュールバウアー アクチェンゲゼルシャフト 電子部品を第1担体から第2担体へと移し換えるデバイス及び方法
JP2014517539A (ja) * 2011-06-15 2014-07-17 ミュールバウアー アクチェンゲゼルシャフト 電子部品及び/又はキャリアを放出機器に対して位置決めする装置及び方法
WO2020043613A1 (de) 2018-08-27 2020-03-05 Muehlbauer GmbH & Co. KG Übertragen elektronischer bauteile von einem ersten zu einem zweiten träger
WO2020043612A1 (de) 2018-08-27 2020-03-05 Muehlbauer GmbH & Co. KG Inspektion beim übertragen elektronischer bauteile von einem ersten zu einem zweiten träger
JP2020053708A (ja) * 2015-03-20 2020-04-02 ロヒンニ リミテッド ライアビリティ カンパニー 半導体デバイスの転写方法
DE102020001439B3 (de) * 2020-02-21 2021-06-10 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zum Übertragen elektronischer Bauteile von einem ersten zu einem zweiten Träger
US11069551B2 (en) 2016-11-03 2021-07-20 Rohinni, LLC Method of dampening a force applied to an electrically-actuatable element
US11094571B2 (en) 2018-09-28 2021-08-17 Rohinni, LLC Apparatus to increase transferspeed of semiconductor devices with micro-adjustment
DE102020005484A1 (de) 2020-09-07 2022-03-10 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Vorrichtungen und Verfahren zum Betreiben von mindestens zwei Werkzeugen
US11462433B2 (en) 2016-11-23 2022-10-04 Rohinni, LLC Direct transfer apparatus for a pattern array of semiconductor device die

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4627151A (en) * 1984-03-22 1986-12-09 Thomson Components-Mostek Corporation Automatic assembly of integrated circuits
US4896418A (en) * 1987-08-07 1990-01-30 Texas Instrument Incorporated Direct mounting method for semiconductors
FR2625067A1 (fr) * 1987-12-22 1989-06-23 Sgs Thomson Microelectronics Procede pour fixer sur un support un composant electronique et ses contacts
US4845335A (en) * 1988-01-28 1989-07-04 Microelectronics And Computer Technology Corporation Laser Bonding apparatus and method
USRE35385E (en) * 1988-12-12 1996-12-03 Sgs-Thomson Microelectronics, Sa. Method for fixing an electronic component and its contacts to a support
USRE35578E (en) * 1988-12-12 1997-08-12 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Method to install an electronic component and its electrical connections on a support, and product obtained thereby
US5270260A (en) * 1990-08-23 1993-12-14 Siemens Aktiengesellschaft Method and apparatus for connecting a semiconductor chip to a carrier system
IT1242420B (it) * 1990-09-03 1994-03-04 Ri Co Srl Metodo di montaggio per l'applicazione di componenti elettronici su circuiti stampati flessibili.
JP2994510B2 (ja) * 1992-02-10 1999-12-27 ローム株式会社 半導体装置およびその製法
JPH0837395A (ja) * 1994-07-21 1996-02-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体チップ供給装置および供給方法
JP3197788B2 (ja) * 1995-05-18 2001-08-13 株式会社日立製作所 半導体装置の製造方法
JP3498877B2 (ja) 1995-12-05 2004-02-23 株式会社東芝 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
US6204092B1 (en) * 1999-04-13 2001-03-20 Lucent Technologies, Inc. Apparatus and method for transferring semiconductor die to a carrier
EP1049140B1 (de) * 1999-04-30 2005-08-10 Unaxis International Trading Ltd Einrichtung und Verfahren zur Montage von Halbleiterchips auf einem Substrat
SG83785A1 (en) 1999-04-30 2001-10-16 Esec Trading Sa Apparatus and method for mounting semiconductor chips on a substrate
US6889427B2 (en) * 2002-02-15 2005-05-10 Freescale Semiconductor, Inc. Process for disengaging semiconductor die from an adhesive film
DE10349847B3 (de) * 2003-10-25 2005-05-25 Mühlbauer Ag Positionierungsvorrichtung und -Verfahren für die Übertragung elektronischer Bauteile
DE102004009901B4 (de) * 2004-02-26 2005-12-01 Infineon Technologies Ag Vorrichtung zum Singulieren und Bonden von Halbleiterchips und Verfahren zum Singulieren und Bonden
US7491101B2 (en) * 2004-06-17 2009-02-17 Illinois Tool Works Inc. Self-locking wire terminal and shape memory wire termination system
FR2926890B1 (fr) * 2008-01-30 2011-01-07 St Microelectronics Grenoble Procede et dispositif de transport de modules electroniques et equipements de manipulation et de test de modules electroniques
US8474681B1 (en) * 2012-03-01 2013-07-02 Antaya Technologies Corp. Solder apparatus
US9111984B2 (en) 2013-10-28 2015-08-18 Freescale Semiconductor Inc. Devices and methods of operation for separating semiconductor die from adhesive tape
US9196520B1 (en) 2014-08-01 2015-11-24 Freescale Semiconductor, Inc. Tape release systems and methods for semiconductor dies
US10163675B2 (en) * 2016-06-24 2018-12-25 Invensas Corporation Method and apparatus for stacking devices in an integrated circuit assembly
US10471545B2 (en) 2016-11-23 2019-11-12 Rohinni, LLC Top-side laser for direct transfer of semiconductor devices
US10297478B2 (en) * 2016-11-23 2019-05-21 Rohinni, LLC Method and apparatus for embedding semiconductor devices
US10062588B2 (en) 2017-01-18 2018-08-28 Rohinni, LLC Flexible support substrate for transfer of semiconductor devices
US10573543B2 (en) 2018-04-30 2020-02-25 Cree, Inc. Apparatus and methods for mass transfer of electronic die
US10410905B1 (en) 2018-05-12 2019-09-10 Rohinni, LLC Method and apparatus for direct transfer of multiple semiconductor devices

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3698076A (en) * 1970-08-03 1972-10-17 Motorola Inc Method of applying leads to an integrated circuit
US3724068A (en) * 1971-02-25 1973-04-03 Du Pont Semiconductor chip packaging apparatus and method
US3871936A (en) * 1971-10-01 1975-03-18 Western Electric Co Loading of compliant tape
US3722072A (en) * 1971-11-15 1973-03-27 Signetics Corp Alignment and bonding method for semiconductor components
US4079509A (en) * 1972-01-29 1978-03-21 Ferranti Limited Method of manufacturing semi-conductor devices
US3859723A (en) * 1973-11-05 1975-01-14 Microsystems Int Ltd Bonding method for multiple chip arrays
US3887996A (en) * 1974-05-01 1975-06-10 Gen Motors Corp iconductor loading apparatus for bonding
US3973682A (en) * 1974-12-20 1976-08-10 International Business Machines Corporation Pick up assembly for fragile devices
JPS608426Y2 (ja) * 1976-12-08 1985-03-25 シャープ株式会社 半導体ウエハ−の保持基板
JPS58180031A (ja) * 1982-04-15 1983-10-21 Nec Corp ペレツトのボンデイング方法
JPS58180030A (ja) * 1982-04-15 1983-10-21 Nec Corp ペレツトのボンデイング方法
JPS59161040A (ja) * 1983-03-03 1984-09-11 Shinkawa Ltd インナ−リ−ドボンダ−

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5328236A (en) * 1992-09-29 1994-07-12 Tachi-S Col. Ltd. Side support device in seat back of an automotive seat
JP2014517500A (ja) * 2011-04-15 2014-07-17 ミュールバウアー アクチェンゲゼルシャフト 電子部品を第1担体から第2担体へと移し換えるデバイス及び方法
DE102011017218B4 (de) 2011-04-15 2018-10-31 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zum Übertragen elektronischer Bauteile von einem ersten Träger zu einem zweiten Träger
JP2014517539A (ja) * 2011-06-15 2014-07-17 ミュールバウアー アクチェンゲゼルシャフト 電子部品及び/又はキャリアを放出機器に対して位置決めする装置及び方法
US11562990B2 (en) 2015-03-20 2023-01-24 Rohinni, Inc. Systems for direct transfer of semiconductor device die
JP2020053708A (ja) * 2015-03-20 2020-04-02 ロヒンニ リミテッド ライアビリティ カンパニー 半導体デバイスの転写方法
US11515293B2 (en) 2015-03-20 2022-11-29 Rohinni, LLC Direct transfer of semiconductor devices from a substrate
US11488940B2 (en) 2015-03-20 2022-11-01 Rohinni, Inc. Method for transfer of semiconductor devices onto glass substrates
US11069551B2 (en) 2016-11-03 2021-07-20 Rohinni, LLC Method of dampening a force applied to an electrically-actuatable element
US11462433B2 (en) 2016-11-23 2022-10-04 Rohinni, LLC Direct transfer apparatus for a pattern array of semiconductor device die
WO2020043612A1 (de) 2018-08-27 2020-03-05 Muehlbauer GmbH & Co. KG Inspektion beim übertragen elektronischer bauteile von einem ersten zu einem zweiten träger
DE102018006771B4 (de) 2018-08-27 2022-09-08 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zum Übertragen elektronischer Bauteile von einem ersten zu einem zweiten Träger
US11545374B2 (en) 2018-08-27 2023-01-03 Muehlbauer GmbH & Co. KG Transferring of electronic components from a first to a second carrier
WO2020043613A1 (de) 2018-08-27 2020-03-05 Muehlbauer GmbH & Co. KG Übertragen elektronischer bauteile von einem ersten zu einem zweiten träger
US11094571B2 (en) 2018-09-28 2021-08-17 Rohinni, LLC Apparatus to increase transferspeed of semiconductor devices with micro-adjustment
US11728195B2 (en) 2018-09-28 2023-08-15 Rohinni, Inc. Apparatuses for executing a direct transfer of a semiconductor device die disposed on a first substrate to a second substrate
WO2021165450A1 (de) 2020-02-21 2021-08-26 Muehlbauer GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum übertragen elektronischer bauteile von einem ersten zu einem zweiten träger
DE102020001439B3 (de) * 2020-02-21 2021-06-10 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zum Übertragen elektronischer Bauteile von einem ersten zu einem zweiten Träger
DE102020005484A1 (de) 2020-09-07 2022-03-10 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Vorrichtungen und Verfahren zum Betreiben von mindestens zwei Werkzeugen
WO2022048950A1 (de) 2020-09-07 2022-03-10 Muehlbauer GmbH & Co. KG Vorrichtungen und verfahren zum betreiben von mindestens zwei werkzeugen

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US4667402A (en) 1987-05-26
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EP0140126A1 (de) 1985-05-08

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