JPS60160012A - 磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
磁気ヘツドの製造方法Info
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- JPS60160012A JPS60160012A JP1636984A JP1636984A JPS60160012A JP S60160012 A JPS60160012 A JP S60160012A JP 1636984 A JP1636984 A JP 1636984A JP 1636984 A JP1636984 A JP 1636984A JP S60160012 A JPS60160012 A JP S60160012A
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- head
- substrate
- gap
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/147—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive with cores being composed of metal sheets, i.e. laminated cores with cores composed of isolated magnetic layers, e.g. sheets
- G11B5/1475—Assembling or shaping of elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は磁気ヘッドの製造方法に関し、特に少なくとも
1つの磁気コア構成体の形成に磁性体膜の被着技術を用
いる磁気ヘッドの製造方法に関するものである。
1つの磁気コア構成体の形成に磁性体膜の被着技術を用
いる磁気ヘッドの製造方法に関するものである。
〈従来技術の説明〉
近年、高密度磁気記録に対応して磁気ヘッドのヘッド幅
の狭小化が進められている。ところが、従来のへラドコ
ア半休の突合せによる製造方法によれば、轡械加工によ
る磁性材の欠け、加工歪みによる磁気ギャップのうね〕
、突合せ用接着材の磁性材への拡散等による磁気ヘッド
ギャップの不安定が生じてしまう。そのためヘッド幅3
0丸以下の磁気ヘッドの量産はこの方法では困難であっ
た。七とで近年、磁性薄膜の被着技術を用いて少なくと
も1つの磁気コア構成体を形成する様にした製′造方法
がクローズアップされてきた。
の狭小化が進められている。ところが、従来のへラドコ
ア半休の突合せによる製造方法によれば、轡械加工によ
る磁性材の欠け、加工歪みによる磁気ギャップのうね〕
、突合せ用接着材の磁性材への拡散等による磁気ヘッド
ギャップの不安定が生じてしまう。そのためヘッド幅3
0丸以下の磁気ヘッドの量産はこの方法では困難であっ
た。七とで近年、磁性薄膜の被着技術を用いて少なくと
も1つの磁気コア構成体を形成する様にした製′造方法
がクローズアップされてきた。
第1図四〜(G)は磁性薄膜の被着技術を用いた一般的
な磁気ヘッドの製造方法を示す図である0以下順を追っ
て説明する。第1回置に於いて20は結晶化ガラス等の
非磁性基板である0まずこの基板20に対し第1図(B
)に示す如く磁気へラドコア半体21を装置する。21
&はヘッドギャップ形成面である。このコア半休の装置
方法として畝センダスト等の軟磁性材薄膜をス・くツタ
−等でヘッドの幅と同じ程度の厚み付着させた後イオン
ミーリング等のエツチング技術でヘッドギャップ形成面
2iaを形成する方法、センダスト等のインゴットよシ
切削、研摩して接着する方法、またスパッター等で他の
基板に付着させたセンダスト等の軟磁性材薄膜被着部を
剥がした後接着する方法等があるが、いずれの方法でも
よい。
な磁気ヘッドの製造方法を示す図である0以下順を追っ
て説明する。第1回置に於いて20は結晶化ガラス等の
非磁性基板である0まずこの基板20に対し第1図(B
)に示す如く磁気へラドコア半体21を装置する。21
&はヘッドギャップ形成面である。このコア半休の装置
方法として畝センダスト等の軟磁性材薄膜をス・くツタ
−等でヘッドの幅と同じ程度の厚み付着させた後イオン
ミーリング等のエツチング技術でヘッドギャップ形成面
2iaを形成する方法、センダスト等のインゴットよシ
切削、研摩して接着する方法、またスパッター等で他の
基板に付着させたセンダスト等の軟磁性材薄膜被着部を
剥がした後接着する方法等があるが、いずれの方法でも
よい。
そして第1図(C)に示す様に、このコア半体21の装
置された基板にギャップ材22としてSiへ等の非磁性
材22をC,V、D(ケミカル=ベイパーディポジット
)等で0.2μm〜0.5μm程度の厚みで付着させる
。との時ギャップ材22はギャップ形成面21aのヘッ
ドギャップとなる部分を含む少なくとも一部に付着され
ねばならない。
置された基板にギャップ材22としてSiへ等の非磁性
材22をC,V、D(ケミカル=ベイパーディポジット
)等で0.2μm〜0.5μm程度の厚みで付着させる
。との時ギャップ材22はギャップ形成面21aのヘッ
ドギャップとなる部分を含む少なくとも一部に付着され
ねばならない。
次に他方のコア半休を形成するのであるが、まず第1図
(2)に示す如くセンダスト等の軟質磁性材23を前述
のギャップ材22の上からスパッター等によって磁気ヘ
ッド幅(トラック幅)よ)数μ〜10μm程度厚めに被
着させる。そしてこの軟磁性材23及び不要なギャップ
材22をヘッド幅になるまで除去してやり、第1図(E
)に示す如く他方のコア半体24を得る。
(2)に示す如くセンダスト等の軟質磁性材23を前述
のギャップ材22の上からスパッター等によって磁気ヘ
ッド幅(トラック幅)よ)数μ〜10μm程度厚めに被
着させる。そしてこの軟磁性材23及び不要なギャップ
材22をヘッド幅になるまで除去してやり、第1図(E
)に示す如く他方のコア半体24を得る。
次にfs1図(Flに示す如くこのコア半体24の一部
を巻線用窓25としてエツチング等によシ除去し、更に
第13図に示す如く補強部材としての非磁性材26を配
し、この非磁性材26及び前述の非磁性基板20にレー
ザー等にて巻線窓用の孔27を設ける。そして前出の窓
25、孔2,7を介して巻線を施してやることによって
1磁きヘッドが得られることになる。
を巻線用窓25としてエツチング等によシ除去し、更に
第13図に示す如く補強部材としての非磁性材26を配
し、この非磁性材26及び前述の非磁性基板20にレー
ザー等にて巻線窓用の孔27を設ける。そして前出の窓
25、孔2,7を介して巻線を施してやることによって
1磁きヘッドが得られることになる。
上述の如き磁気ヘッドの製造方法によればヘッド幅の狭
い磁気ヘッドにおいてもヘッドギャップ長を正確に決定
でき、ギャップ幅も安定する。しかしながら実際に磁性
体膜を被着すゐ場合、被着面に対するスパッタ方向によ
〕、ステップカバレージや磁気特性の劣化等の問題を生
じる。以下、この問題について簡単に説明する。。
い磁気ヘッドにおいてもヘッドギャップ長を正確に決定
でき、ギャップ幅も安定する。しかしながら実際に磁性
体膜を被着すゐ場合、被着面に対するスパッタ方向によ
〕、ステップカバレージや磁気特性の劣化等の問題を生
じる。以下、この問題について簡単に説明する。。
第2図に示す如く第1図(C)に示す如き中間形成分に
対して基板20に垂直な方向矢印28に示すからスパッ
タを行うと、ステップカバレージを生じてしまう。また
ギャップ形成面21aに対して軟質磁性材の結晶成長方
向が大きく傾いてしまうので磁気特性が劣化してしまう
OJ!には磁性体膜に割れを生じることもあった。
対して基板20に垂直な方向矢印28に示すからスパッ
タを行うと、ステップカバレージを生じてしまう。また
ギャップ形成面21aに対して軟質磁性材の結晶成長方
向が大きく傾いてしまうので磁気特性が劣化してしまう
OJ!には磁性体膜に割れを生じることもあった。
〈発明の目的〉
本゛発明は上述の如、き欠点に鑑みなされたものであっ
て、磁性体膜による磁気コア構成体の形成時に於いて磁
気特性の劣化、磁性体膜の割れ等の諸問題を解決して、
良好な狭少ギャップ幅の磁気ヘッドを得ることのできる
磁気ヘッドの製造方法を提供することを目的とする。
て、磁性体膜による磁気コア構成体の形成時に於いて磁
気特性の劣化、磁性体膜の割れ等の諸問題を解決して、
良好な狭少ギャップ幅の磁気ヘッドを得ることのできる
磁気ヘッドの製造方法を提供することを目的とする。
〈実施例による説明〉
以下、本発明の製造方法を適用した実施例の説明を行う
。
。
第3図囚、(B)は被スパツタ面に対する磁性体膜とし
てのセンダスト薄膜の被着方向と磁気特性の関係を示す
図である。第3図(5)に示す如く磁性体板1に対して
矢印2の方向からセンダスト膜をスパッタにより被着し
た場合、磁性体板面とスパッタ方向とのなす角が90で
ある時の磁気特性を第3図(B)に示す。即ち第3図(
四に於ける横軸はψ(’)であシ、縦軸は両磁柱体の単
位磁極間にl d7mの力を働かせる時の磁場の強さ(
単位6e )である。
てのセンダスト薄膜の被着方向と磁気特性の関係を示す
図である。第3図(5)に示す如く磁性体板1に対して
矢印2の方向からセンダスト膜をスパッタにより被着し
た場合、磁性体板面とスパッタ方向とのなす角が90で
ある時の磁気特性を第3図(B)に示す。即ち第3図(
四に於ける横軸はψ(’)であシ、縦軸は両磁柱体の単
位磁極間にl d7mの力を働かせる時の磁場の強さ(
単位6e )である。
第3図に示す如くψを9σとするのが磁気萱性上社最も
望ましい。しかしながら、第1図に示した磁性材21の
ギャップ形成面21aに対して90°の方向からスパッ
タを行うと、非磁性体基板20の被スパツタ面に対する
角度が小さすぎ、センダスト薄膜に割れ等が生じてしま
い、結果的にヘッドの磁気特性は良くならない。
望ましい。しかしながら、第1図に示した磁性材21の
ギャップ形成面21aに対して90°の方向からスパッ
タを行うと、非磁性体基板20の被スパツタ面に対する
角度が小さすぎ、センダスト薄膜に割れ等が生じてしま
い、結果的にヘッドの磁気特性は良くならない。
第4図、第5図、第6図及び第7図線夫々本!
発明の一実施例の製造方法を説明するための図である。
第4図〜第7図は第1図(C)から第1図(9)へ至る
工程を示すものであって、第1図と同様の構成要素につ
いては同一番号を付しである。
工程を示すものであって、第1図と同様の構成要素につ
いては同一番号を付しである。
第4図〜第7図に於いて38〜3dは磁性体膜のスパッ
タ方向を示す矢印、5はコア半体21のギャップ形成面
、6は非磁性基板20のうち磁性体薄膜が被着される被
着面、7は非磁性基板20が装置に取付けられる取付面
である。尚、以下回転ヘッド型磁気記録再性装置では一
般的に取付面7がヘッドと媒体との相対移動方向と平行
であるので、これを前提とする。8はゴ7牛体21LJ
Z)装置される装置面である。
タ方向を示す矢印、5はコア半体21のギャップ形成面
、6は非磁性基板20のうち磁性体薄膜が被着される被
着面、7は非磁性基板20が装置に取付けられる取付面
である。尚、以下回転ヘッド型磁気記録再性装置では一
般的に取付面7がヘッドと媒体との相対移動方向と平行
であるので、これを前提とする。8はゴ7牛体21LJ
Z)装置される装置面である。
第4図紘被着面6と装置面8とが同一平面でこれらが取
付面7と平行であシ、かつギャップ形成面5が取付面7
と垂直(アジマス角が0)である場合の例である。この
時ギャップ形成面5と被着面6との開角(図中Fsa+
921)は9σである。ここで矢印3aで示すスパッタ
方向は、ヘッドの磁性特性が劣化せずかつセンダスト薄
膜に割れが生じない様に、開角の中間方向付近とする。
付面7と平行であシ、かつギャップ形成面5が取付面7
と垂直(アジマス角が0)である場合の例である。この
時ギャップ形成面5と被着面6との開角(図中Fsa+
921)は9σである。ここで矢印3aで示すスパッタ
方向は、ヘッドの磁性特性が劣化せずかつセンダスト薄
膜に割れが生じない様に、開角の中間方向付近とする。
即ちヘッドの磁気特性を20e以上にするにはψ1.〉
4σにする必要があシ、また割れを生じないためにはψ
、1もできるだけ大きくする必要がある(例えば最低3
5″以上)。即ちψ1゜=9.、 = 45’程度にす
るのが好ましいと云える。
4σにする必要があシ、また割れを生じないためにはψ
、1もできるだけ大きくする必要がある(例えば最低3
5″以上)。即ちψ1゜=9.、 = 45’程度にす
るのが好ましいと云える。
第5図は被着面6と装置面8とが同一平面でこれらが取
付面7と平行で1りシ、かつアジマス角がθ。であると
する。今θ。=10°とすれば開角(ψ1b+9.b)
はlOσであシスバッタ方向3bはψxb =ψ、b=
5σ程度にするのが望ましく、アジマス角0の場合よシ
磁気特性を向上させることができると云える。
付面7と平行で1りシ、かつアジマス角がθ。であると
する。今θ。=10°とすれば開角(ψ1b+9.b)
はlOσであシスバッタ方向3bはψxb =ψ、b=
5σ程度にするのが望ましく、アジマス角0の場合よシ
磁気特性を向上させることができると云える。
第6図は更に磁気特性を向上させることのできる例で基
板20の一部を斜めに切削加工して被着面6を形成した
ものである。これによって被着面6はヘッドと媒体との
相対移動方向に対し交差する。またギャップ形成面5と
被着面6との開角は切削した角度だけ広がる。今アジマ
乞 ス角を10°、切削角20°とすれば開角(ψ1c+八 ψte )は120°となシ、スノ(ツタをその中間方
向から行えばψ1゜=ψ、=6σとなる。従って磁気特
性も良好で、センダスト膜の結晶の成長方向も近くなる
ので割れやステップカッ(レージ等が生じることはない
。
板20の一部を斜めに切削加工して被着面6を形成した
ものである。これによって被着面6はヘッドと媒体との
相対移動方向に対し交差する。またギャップ形成面5と
被着面6との開角は切削した角度だけ広がる。今アジマ
乞 ス角を10°、切削角20°とすれば開角(ψ1c+八 ψte )は120°となシ、スノ(ツタをその中間方
向から行えばψ1゜=ψ、=6σとなる。従って磁気特
性も良好で、センダスト膜の結晶の成長方向も近くなる
ので割れやステップカッ(レージ等が生じることはない
。
第7図も同様に被着面6をヘッドと媒体の相対移動方向
に対して交差させて開角(ψ1d+ψZa)を広げたも
のである。また被着面6と装置面8とを同一平面として
いる。第7図に示す如き薄膜被着によれば第6図と同様
、磁気特性に優れ、結晶が安定することは云うまでもな
い。
に対して交差させて開角(ψ1d+ψZa)を広げたも
のである。また被着面6と装置面8とを同一平面として
いる。第7図に示す如き薄膜被着によれば第6図と同様
、磁気特性に優れ、結晶が安定することは云うまでもな
い。
次に上述の如き方向からのセンダスト膜の被着を行うた
めの装置について簡単に説明する。
めの装置について簡単に説明する。
第8図囚、(B)は夫々本発明に係るスパッタ装置の構
造を示す図である。第8装置は周知のイオンビーム法に
よるスパッタ装置であJ、31゜32.33,34は夫
々コイル、35は真空槽、36はヒータ、37はアノー
ド、38はイオンビーム、39社ターゲット、40は製
造工程中のヘッド、41は基板、42は排気口である。
造を示す図である。第8装置は周知のイオンビーム法に
よるスパッタ装置であJ、31゜32.33,34は夫
々コイル、35は真空槽、36はヒータ、37はアノー
ド、38はイオンビーム、39社ターゲット、40は製
造工程中のヘッド、41は基板、42は排気口である。
ψ、はスパッタ方向に対する基板41の傾きを示し、こ
の角度ψ、が被着面とスパッタ方向のなす角となる。金
波着面とギャップ形成面との開角をψとするとギャップ
形成面とスパッタ方向のなす角はψ−9,と決定される
。
の角度ψ、が被着面とスパッタ方向のなす角となる。金
波着面とギャップ形成面との開角をψとするとギャップ
形成面とスパッタ方向のなす角はψ−9,と決定される
。
第8図(B)は2極RFグロー放電を用いたスノくツタ
装置を示しておj5.51は真空槽、52はRF−電源
、53はターゲット、54はプラズマ、55は製造工程
中のヘッド、56は基板、5 ’Iは7/−ド、58は
スパッタガス注入口、59社排気口である。第8図但)
に於いてもψ!社被着面とスパッタ方向のなす角となシ
、ギャップ形成面とスパッタ方向のなす角ψ1は開角(
ψ)−ψ、で与えられる。
装置を示しておj5.51は真空槽、52はRF−電源
、53はターゲット、54はプラズマ、55は製造工程
中のヘッド、56は基板、5 ’Iは7/−ド、58は
スパッタガス注入口、59社排気口である。第8図但)
に於いてもψ!社被着面とスパッタ方向のなす角となシ
、ギャップ形成面とスパッタ方向のなす角ψ1は開角(
ψ)−ψ、で与えられる。
次に本発明の他の実施例として大量生産に適した磁気ヘ
ッドの製造方法について説明する。
ッドの製造方法について説明する。
第9図(5)〜(L)は本発明の他の実施例としての磁
気ヘッドの製造方法を示す図であ夛、以下類を追って説
明する。第9回置に於いて60は、センダスト合金やア
モルファス材等の飽和磁束密度が高くかつ低保磁力の軟
磁性材から断面が略正方形の角柱状に形成された磁性体
である。この磁性体60の一方の側面に切削、エツチン
グ、研磨等の加工を施こして、第9図(B)にθよて示
すマ アジヘス角の傾斜を形成する。
気ヘッドの製造方法を示す図であ夛、以下類を追って説
明する。第9回置に於いて60は、センダスト合金やア
モルファス材等の飽和磁束密度が高くかつ低保磁力の軟
磁性材から断面が略正方形の角柱状に形成された磁性体
である。この磁性体60の一方の側面に切削、エツチン
グ、研磨等の加工を施こして、第9図(B)にθよて示
すマ アジヘス角の傾斜を形成する。
次に磁性体60のアジマス角θ、をつけた一側面(ギャ
ップ形成面)上に、第4図TC)に示すようにスパッタ
リング等の方法で例えばシリカSiへ等のギャップ材を
付着させ、0.1〜0.5μm程度の非磁性材層61を
形成する。
ップ形成面)上に、第4図TC)に示すようにスパッタ
リング等の方法で例えばシリカSiへ等のギャップ材を
付着させ、0.1〜0.5μm程度の非磁性材層61を
形成する。
次に以上の様に加工した磁性体ブロックを第9図(Dl
に示すように結晶化ガラス等よシなる非磁性基板62上
に所定間隔で同方向に揃えて装置し、低融点ガラス等の
接着剤で接着する。この場合低融点ガラスは融点が比較
的高いものが好ましい。
に示すように結晶化ガラス等よシなる非磁性基板62上
に所定間隔で同方向に揃えて装置し、低融点ガラス等の
接着剤で接着する。この場合低融点ガラスは融点が比較
的高いものが好ましい。
次に第9図(E)に示すように磁性体6oを所定の厚み
t+△tの部材rOaになるまでその上面を研磨する。
t+△tの部材rOaになるまでその上面を研磨する。
ここでtはヘッドのトラック幅で、5〜60μm程度で
sb、△tは後のトラック幅を形成する工程での研磨式
である。
sb、△tは後のトラック幅を形成する工程での研磨式
である。
ここでスパッタリング等によシ磁柱体薄膜を被着するの
であるが、第8図に示した様な方法によシ、そのスパッ
タを第9図(E)の矢印S方向から行う。この時ギャッ
プ形成面とスパッタ方向のなす角をψ1、被着面とスパ
ッタ方向のなす角をψ、とする。アジマス角θ2のとき
ψ、+ψ、=(90+θ)°となるので、ψ、=ψ、=
(90−H)O程度に設定してやる。こうして磁性体
膜63が形成される。
であるが、第8図に示した様な方法によシ、そのスパッ
タを第9図(E)の矢印S方向から行う。この時ギャッ
プ形成面とスパッタ方向のなす角をψ1、被着面とスパ
ッタ方向のなす角をψ、とする。アジマス角θ2のとき
ψ、+ψ、=(90+θ)°となるので、ψ、=ψ、=
(90−H)O程度に設定してやる。こうして磁性体
膜63が形成される。
この場合の磁性体膜63の厚みは少なくとも上述の部材
60&の厚みt+Δtよシ大きくする。すなわち部材6
0mの上面全体が完全に被覆されるように形成する。
60&の厚みt+Δtよシ大きくする。すなわち部材6
0mの上面全体が完全に被覆されるように形成する。
次に第9図(G)に示すように、基板62上の磁性体膜
23をトラック幅tの厚みになるまで研磨等によって除
去する。この場合研磨に従って、部材60aの上面が露
出するが、ともにトラック幅tの厚みまで研磨する。
23をトラック幅tの厚みになるまで研磨等によって除
去する。この場合研磨に従って、部材60aの上面が露
出するが、ともにトラック幅tの厚みまで研磨する。
以上の研磨の後、夫々が非磁性材層21の線に対し所定
間隔で互いに平行な線に沿って切断し、第9図(6)に
64で示すブロックを得る。しかる後ブロック64をそ
の軸方向に直交する方向で、すなわち同図において示す
点線に沿って切断する。この切断は所定の間隔6g十g
で行なう。この場合、6gは磁気ギャップデプス長で3
0〜40/1m程度であシ、gは巻線窓のワク分として
数組である。
間隔で互いに平行な線に沿って切断し、第9図(6)に
64で示すブロックを得る。しかる後ブロック64をそ
の軸方向に直交する方向で、すなわち同図において示す
点線に沿って切断する。この切断は所定の間隔6g十g
で行なう。この場合、6gは磁気ギャップデプス長で3
0〜40/1m程度であシ、gは巻線窓のワク分として
数組である。
この切断によシ形成されたそれぞれの断片を、第9図I
I)に示すように基板62の断片である基板部分62′
とそれぞれが磁性体60a、63の断片である磁気コア
構成体60a’、63’とが交互になるように一列に配
置した後、互いに接着し、ブロック64′を形成する。
I)に示すように基板62の断片である基板部分62′
とそれぞれが磁性体60a、63の断片である磁気コア
構成体60a’、63’とが交互になるように一列に配
置した後、互いに接着し、ブロック64′を形成する。
この接着には、第9図(D)の工程において磁性体6o
と基板62との接着に用いた低融点ガラスよシも融点が
100℃以上低い低融点ガラスを用いる。
と基板62との接着に用いた低融点ガラスよシも融点が
100℃以上低い低融点ガラスを用いる。
この接着の後、ブロック64′の下面の略中夫に断面が
三角形状で軸線方向に平行な長溝65を切削等で形成す
る。
三角形状で軸線方向に平行な長溝65を切削等で形成す
る。
一方第9図(J)に符号66で示すものは軟磁性材から
なる直方体形状のブロックであシ、廊−Znフェライト
等の透磁率が高くまた電気抵抗の高い特性を有する軟磁
性材から形成されている。
なる直方体形状のブロックであシ、廊−Znフェライト
等の透磁率が高くまた電気抵抗の高い特性を有する軟磁
性材から形成されている。
このブロック66の上面の幅寸法は第9図(1)に示す
ブロック64′の幅寸法に略等しい。このブロック66
の上面の略中夫に断面がコの字状で軸線方向に平行な長
867を切削等で形成する。
ブロック64′の幅寸法に略等しい。このブロック66
の上面の略中夫に断面がコの字状で軸線方向に平行な長
867を切削等で形成する。
以上の加工を施したブロック66の上面に第9図(1)
に示すブロック64′の下面を重ね、第9図(転)に示
すように両者を低融点ガラスあるいは有機接着剤等で接
着し、同図に全体を符号68で示すコアブロックを得る
。とのコアブロック68においてブロック64′、66
のそれぞれの長溝65.67が重なることによシ、後に
電磁変換用のコイルを巻回するだめの巻線窓69が予多 構成される。
に示すブロック64′の下面を重ね、第9図(転)に示
すように両者を低融点ガラスあるいは有機接着剤等で接
着し、同図に全体を符号68で示すコアブロックを得る
。とのコアブロック68においてブロック64′、66
のそれぞれの長溝65.67が重なることによシ、後に
電磁変換用のコイルを巻回するだめの巻線窓69が予多 構成される。
さらに、このコアブロック68をその軸線方向に直交す
る方向で、すなわち同図に示される点線に沿って、基板
部分62′の略中央を通って所定間隔Tで切断し、第9
図(L)に符号70で示す磁気コア単体が得られる。こ
の磁気コア単体70のブロック64の断片側の頭部面す
なわち磁気記録媒体との摺動面等を研磨加工によシ仕上
げて磁気コア単体70が完成する。
る方向で、すなわち同図に示される点線に沿って、基板
部分62′の略中央を通って所定間隔Tで切断し、第9
図(L)に符号70で示す磁気コア単体が得られる。こ
の磁気コア単体70のブロック64の断片側の頭部面す
なわち磁気記録媒体との摺動面等を研磨加工によシ仕上
げて磁気コア単体70が完成する。
以上の工程で得られたコア単体の構造においては、非磁
性材の基板部分62′によル両側から挾持され、ギャッ
プ材部分6fを介して互いの端面を突き合わされたコア
構成体としての磁性体部分60 a’ 、 63’が磁
気記録媒体摺動面に臨んだ磁気回路部分を構成する◇ま
たギャップ材部分6fが磁気ギャップとなる。また磁性
体部分60m’、63’と異なる磁性体で形成されたブ
ロック66の断辺である第3の磁気コア構成体としての
ブロック部分66′が磁性体部分60a’ 。
性材の基板部分62′によル両側から挾持され、ギャッ
プ材部分6fを介して互いの端面を突き合わされたコア
構成体としての磁性体部分60 a’ 、 63’が磁
気記録媒体摺動面に臨んだ磁気回路部分を構成する◇ま
たギャップ材部分6fが磁気ギャップとなる。また磁性
体部分60m’、63’と異なる磁性体で形成されたブ
ロック66の断辺である第3の磁気コア構成体としての
ブロック部分66′が磁性体部分60a’ 。
63′と磁気的に接続されることによって磁気回路部分
を構成する。さらに両方の磁気回路部分の互いの接合面
に形成された長溝65.67が巻線窓69を警戒する。
を構成する。さらに両方の磁気回路部分の互いの接合面
に形成された長溝65.67が巻線窓69を警戒する。
上述の如き工程で製造された磁気ヘッドも、もちろん磁
気特性の劣化は生じず、またセンダスト薄膜の結晶も安
定している。またこの磁気ヘッドも薄膜被着技術を用い
ている為狭少なヘッド幅にすることが極めて容易である
。
気特性の劣化は生じず、またセンダスト薄膜の結晶も安
定している。またこの磁気ヘッドも薄膜被着技術を用い
ている為狭少なヘッド幅にすることが極めて容易である
。
〈効果の説明〉
以上説明した様に本発明によれば少なくとも1つの磁気
コア構成体を薄膜被着技術を用いて形成し、磁気ヘッド
のヘッド幅の狭少化を容易にした磁気ヘッドの製造方法
に於いて、磁気特性が劣化せずかつまたへラドコア構成
体となる磁性膜部分に割れ等の不都合の生じることがな
くなった。
コア構成体を薄膜被着技術を用いて形成し、磁気ヘッド
のヘッド幅の狭少化を容易にした磁気ヘッドの製造方法
に於いて、磁気特性が劣化せずかつまたへラドコア構成
体となる磁性膜部分に割れ等の不都合の生じることがな
くなった。
的な磁気ヘッドの製造方法を示す図、
第2図は従来の血遣方法による問題点を説明するだめの
図、 第3図囚、(B)は被スパツタ面に対する磁性体膜の被
着方向と磁気特性の関係を示す図、第4図、第5図、第
6図及び第7図は夫々本発明の一実施例としての製造方
法を説明するための図、 一8回置、(B)は夫々本発明に係る薄膜被着装磁気ヘ
ッドの製造方法を示す図である。
図、 第3図囚、(B)は被スパツタ面に対する磁性体膜の被
着方向と磁気特性の関係を示す図、第4図、第5図、第
6図及び第7図は夫々本発明の一実施例としての製造方
法を説明するための図、 一8回置、(B)は夫々本発明に係る薄膜被着装磁気ヘ
ッドの製造方法を示す図である。
3はスパッタ方向を示す矢印、5はギャップ形成面、6
は磁性体膜被着面、7は取付面、20は非磁性基板、2
1は第1の磁気コア構成体としてのへラドコア半体、2
1aはギャップ形成面、22は磁気ギャップ材、23は
磁性体膜、24拡第2の磁気コア構成体、60は第1の
磁気コア構成体となる磁性体、61はギャップ材として
の非磁極体層、62は非磁性基板、63は第2の磁気コ
ア構成体となる磁性体膜、66は第3の磁気コア構成体
となる磁性体ブロック、Sは磁性薄膜被着方向を示す矢
印である。
は磁性体膜被着面、7は取付面、20は非磁性基板、2
1は第1の磁気コア構成体としてのへラドコア半体、2
1aはギャップ形成面、22は磁気ギャップ材、23は
磁性体膜、24拡第2の磁気コア構成体、60は第1の
磁気コア構成体となる磁性体、61はギャップ材として
の非磁極体層、62は非磁性基板、63は第2の磁気コ
ア構成体となる磁性体膜、66は第3の磁気コア構成体
となる磁性体ブロック、Sは磁性薄膜被着方向を示す矢
印である。
鞠)9g円(ハ)
第q口(0
0
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)非磁性基板上に磁性体よシなルその側面の少なくと
も一方を磁気ギャップ形成面とした第1の磁気コア構成
体を装置する工程と、前記ギャップ形成面の少なくとも
一部に磁気ギャップ材を配する工程と、前記基板の被着
面と前記ギャップ形成面とのなす開角の中間方向付近よ
シこれらの面に対して磁性体膜を被着する工程と、該被
着された磁性体膜にて第2の磁気コア構成体を得るべく
該磁性体膜の不要部分を除去して磁気コアブロックを得
る工程とを含む磁気ヘッドの製造方法。 2)前記第1の磁気コア構成体の装置される前記基板上
の装置面の向きが前記被着面の向きとは異なることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載0磁気″テド0製造
方法・ 3)頁に各々が前記非磁性基板、前記第10磁気コア構
成体及び前記第2の磁気コア構成体を含む小ブロックと
なる様に前記磁気コアブロックを切断する工程と、磁性
体よりなる第3の磁気コア構成体を前記小ブロックの前
記第1の磁気コア構成体及び前記第2の磁気コア構成体
と磁課的に接続する工程とを含む特許請求の範囲第1項
記載の磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59016369A JP2575097B2 (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59016369A JP2575097B2 (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60160012A true JPS60160012A (ja) | 1985-08-21 |
JP2575097B2 JP2575097B2 (ja) | 1997-01-22 |
Family
ID=11914390
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59016369A Expired - Fee Related JP2575097B2 (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2575097B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60243810A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | Sony Corp | 磁気ヘツド |
JPS61202314A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-08 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
JPS63217507A (ja) * | 1987-03-06 | 1988-09-09 | Canon Electronics Inc | 磁気ヘツド製造装置 |
JPH0210508A (ja) * | 1988-03-09 | 1990-01-16 | Digital Equip Corp <Dec> | 磁気記録用の磁極を製造する方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS581821A (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-07 | Comput Basic Mach Technol Res Assoc | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
JPS58100213A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-14 | Hitachi Ltd | 磁気ヘツドの製造方法 |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP59016369A patent/JP2575097B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS581821A (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-07 | Comput Basic Mach Technol Res Assoc | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
JPS58100213A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-14 | Hitachi Ltd | 磁気ヘツドの製造方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60243810A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | Sony Corp | 磁気ヘツド |
JPH0522963B2 (ja) * | 1984-05-18 | 1993-03-31 | Sony Corp | |
JPS61202314A (ja) * | 1985-03-04 | 1986-09-08 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
JPS63217507A (ja) * | 1987-03-06 | 1988-09-09 | Canon Electronics Inc | 磁気ヘツド製造装置 |
JPH0210508A (ja) * | 1988-03-09 | 1990-01-16 | Digital Equip Corp <Dec> | 磁気記録用の磁極を製造する方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2575097B2 (ja) | 1997-01-22 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |