JPH11316246A - 電気光学サンプリングオシロスコープ、電気光学サンプリングオシロスコープシステム、測定データ表示方法、および、測定データ表示プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 得られた測定データがどのようなものか一見
して把握できるようにする。 【解決手段】 被測定信号によって発生する電界を電気
光学結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測
定する電気光学サンプリングオシロスコープであって、
このオシロスコープは測定した測定データの表示処理を
行う表示処理部１０を備える。そして、表示処理部１０
は、測定データおよび測定データに関連するデータを記
憶する測定データ記憶部３６と、表示する測定データの
選択を行わせるために測定データ記憶部３６に記憶され
た測定データの一覧表示処理を行う一覧表示部３２と、
選択された測定データのサンプルポイント数を減らした
概略波形の表示処理を行う概略波形表示部３３とを備え
ている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定信号によっ
て発生する電界を電気光学結晶に結合させ、該電気光学
結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状態により被
測定信号の波形を測定した測定データの表示を行う電気
光学サンプリングオシロスコープ、電気光学サンプリン
グオシロスコープシステム、測定データ表示方法、およ
び、測定データ表示プログラムを記録した記録媒体に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】被測定信号によって発生する電界を電気
光学結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観
測することができる。ここでレーザ光をパルス状にし、
被測定信号をサンプリングすると非常に高い時間分解能
で測定することができる。この現象を利用した電気光学
プローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコ
ープである。この電気光学サンプリングオシロスコープ
（以下「ＥＯＳオシロスコープ」と略記する）は、電気
式プローブを用いた従来のサンプリングオシロスコープ
と比較し、 １）信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易 ２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高入力インピーダンスを実現で
き、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことがない ３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまでの
広帯域測定が可能 といった特徴があり注目を集めている（品川ら：”ＥＯ
Ｓによるハンディ型ハイインピーダンスプローブ”、第
１５回光波センシング技術研究会 講演論文集応用物理
学会・光波センシング技術研究会、１９９５年５月、ｐ
ｐ．１２３−１２９）。従来、ＥＯＳオシロスコープに
おいて得られる測定データに関する表示として、測定
中、あるいは測定直後にその測定データの波形表示が行
われていた。あるいは、ＥＯＳオシロスコープにより得
られた測定データをパソコン等に取り込み、汎用ソフト
等を用いて測定データの数値表示を行ったり、測定デー
タの波形表示を行ったりする程度であった。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】以上のように、ＥＯＳ
オシロスコープにより高精度の測定データが得られるに
もかかわらず、得られた測定データがどのようなものか
一見して分かるような表示がなされていない。また、得
られた測定データや測定条件の比較が容易な表示環境が
整っていない。本発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、得られた測定データがどのようなものか一見
して把握できる、あるは、得られた測定データや測定条
件の比較が容易な表示環境をユーザに与える電気光学サ
ンプリングオシロスコープ、電気光学サンプリングオシ
ロスコープシステム、測定データ表示方法、および、測
定データ表示プログラムを記録した記録媒体を提供する
ことを目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のうち請求項１に記載の発明は、被測定信号
によって発生する電界を電気光学結晶に結合させ、該電
気光学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状態に
より被測定信号の波形を測定する電気光学サンプリング
オシロスコープであって、前記電気光学サンプリングオ
シロスコープは、前記測定した測定データの表示処理を
行う表示処理部を備え、前記表示処理部は、前記測定デ
ータおよび該測定データに関連するデータを記憶する測
定データ記憶部と、表示する測定データの選択を行わせ
るために前記測定データ記憶部に記憶された測定データ
ファイルの一覧表示処理を行う一覧表示部と、選択され
た測定データのサンプルポイント数を減らした概略波形
の表示処理を行う概略波形表示部とを備えたことを特徴
とする電気光学サンプリングオシロスコープである。ま
た、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の電気光
学サンプリングオシロスコープにおいて、前記概略波形
表示部が、選択された複数の測定データに対し、それぞ
れサンプルポイント数を減らした概略波形を並べて表示
する表示処理を行うことを特徴としている。

【０００５】また、請求項３に記載の発明は、請求項１
または請求項２に記載の電気光学サンプリングオシロス
コープにおいて、前記表示処理部が、前記測定データか
らサンプルポイント数を減らした概略波形データを作成
し、該測定データと関連付けて前記測定データ記憶部に
記憶させる概略波形データ作成部をさらに備え、前記概
略波形表示部が、前記選択された測定データに関連付け
られた概略波形データがある場合、該概略波形データを
用いて概略波形の表示処理を行い、前記選択された測定
データに関連付けられた概略波形データがない場合、前
記概略波形データ作成部により概略波形データの作成・
記憶をさせた後、該概略波形データを用いて概略波形の
表示処理を行うことを特徴としている。また、請求項４
に記載の発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記
載の電気光学サンプリングオシロスコープにおいて、前
記表示処理部が、前記選択された測定データに対しコメ
ント入力された場合、該コメントを前記測定データと関
連付けて前記測定データ記憶部に記憶させるコメント処
理部をさらに備え、前記概略波形表示部が、前記選択さ
れた測定データに関連付けられたコメントがある場合、
該コメントの表示も行うことを特徴としている。

【０００６】次に、請求項５に記載の発明は、被測定信
号によって発生する電界を電気光学結晶に結合させ、該
電気光学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状態
により被測定信号の波形を測定する電気光学サンプリン
グオシロスコープであって、前記電気光学サンプリング
オシロスコープは、前記測定した測定データの表示処理
を行う表示処理部を備え、前記表示処理部が、前記測定
データおよび該測定データの測定条件を記憶する測定デ
ータ記憶部と、測定条件を表示する測定データの選択を
行わせるために前記測定データ記憶部に記憶された測定
データファイルの一覧表示処理を行う一覧表示部と、選
択された測定データの測定条件を測定データごとに並べ
る表示処理を行う測定条件表示部とを備えたことを特徴
とする電気光学サンプリングオシロスコープである。ま
た、請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の電気光
学サンプリングオシロスコープにおいて、前記表示処理
部が、前記選択された測定データの測定条件の比較を行
い、前記測定条件表示部により表示処理された測定条件
に対し、測定条件の異なる部分を強調する表示処理を行
う強調表示処理部をさらに備えたことを特徴としてい
る。また、請求項７に記載の発明は、請求項６に記載の
電気光学サンプリングオシロスコープにおいて、前記表
示処理部が、前記強調表示処理部により強調表示された
測定条件がユーザにより選択された場合、電気光学サン
プリングオシロスコープの測定条件を比較対照となった
測定データの測定条件に変更する条件変更部をさらに備
えたことを特徴としている。

【０００７】次に、請求項８に記載の発明は、被測定信
号によって発生する電界を電気光学結晶に結合させ、該
電気光学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状態
により被測定信号の波形を測定する電気光学サンプリン
グオシロスコープと、該電気光学サンプリングオシロス
コープにより得られた測定データの表示処理を行う表示
処理装置とからなる電気光学サンプリングオシロスコー
プシステムであって、前記表示処理装置が、前記測定デ
ータおよび該測定データに関連するデータを記憶する測
定データ記憶部と、表示する測定データの選択を行わせ
るために前記測定データ記憶部に記憶された測定データ
ファイルの一覧表示処理を行う一覧表示部と、選択され
た測定データのサンプルポイント数を減らした概略波形
の表示処理を行う概略波形表示部とを備えたことを特徴
とする電気光学サンプリングオシロスコープシステムで
ある。また、請求項９に記載の発明は、被測定信号によ
って発生する電界を電気光学結晶に結合させ、該電気光
学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状態により
被測定信号の波形を測定する電気光学サンプリングオシ
ロスコープと、該電気光学サンプリングオシロスコープ
により得られた測定データの表示処理を行う表示処理装
置とからなる電気光学サンプリングオシロスコープシス
テムであって、前記表示処理装置が、前記測定データお
よび該測定データの測定条件を記憶する測定データ記憶
部と、測定条件を表示する測定データの選択を行わせる
ために前記測定データ記憶部に記憶された測定データフ
ァイルの一覧表示処理を行う一覧表示部と、選択された
測定データの測定条件を測定データごとに並べる表示処
理を行う測定条件表示部とを備えたことを特徴とする電
気光学サンプリングオシロスコープシステムである。

【０００８】次に、請求項１０に記載の発明は、被測定
信号によって発生する電界を電気光学結晶に結合させ、
該電気光学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状
態により被測定信号の波形を測定することにより得られ
た測定データおよび該測定データに関連するデータを記
憶し、表示する測定データの選択を行わせるために記憶
した測定データファイルの一覧表示を行い、選択された
測定データのサンプルポイント数を減らした概略波形の
表示を行うことを特徴とする測定データ表示方法であ
る。また、請求項１１に記載の発明は、被測定信号によ
って発生する電界を電気光学結晶に結合させ、該電気光
学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状態により
被測定信号の波形を測定することにより得られた測定デ
ータおよび該測定データの測定条件を記憶し、測定条件
を表示する測定データの選択を行わせるために記憶され
た測定データファイルの一覧表示処理を行い、選択され
た測定データの測定条件を測定データごとに並べて表示
することを特徴とする測定データ表示方法である。

【０００９】次に、請求項１２に記載の発明は、被測定
信号によって発生する電界を電気光学結晶に結合させ、
該電気光学結晶にレーザ光を入射し、レーザ光の偏光状
態により被測定信号の波形を測定することにより得られ
た測定データおよび該測定データに関連するデータを記
憶した記憶部から表示する測定データの選択を行わせる
ために記憶された測定データファイルの一覧表示を行う
機能と、選択された測定データのサンプルポイント数を
減らした概略波形の表示を行う機能とをコンピュータに
行わせる測定データ表示プログラムを記録したコンピュ
ータ読み取り可能な記録媒体である。また、請求項１３
に記載の発明は、被測定信号によって発生する電界を電
気光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測
定することにより得られた測定データおよび該測定デー
タの測定条件を記憶した記憶部から測定条件を表示する
測定データの選択を行わせるために記憶された測定デー
タファイルの一覧表示処理を行う機能と、選択された測
定データの測定条件を測定データごとに並べて表示する
機能とをコンピュータに行わせる測定データ表示プログ
ラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体で
ある。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
電気光学サンプリングオシロスコープ、電気光学サンプ
リングオシロスコープシステム、測定データ表示方法を
図面を参照して説明する。まず始めに、得られた測定デ
ータの表示処理部を含むＥＯＳオシロスコープ全体の動
作概要について説明する。図１は、本発明の一実施形態
によるＥＯＳオシロスコープの構成図である。図１よ
り、ＥＯＳオシロスコープは、信号処理を主に行うＥＯ
Ｓオシロスコープの本体１と、電気光学結晶を含み被測
定信号によって発生する電界を光パルス（レーザ光）利
用して測定するＥＯＳプローブ２とにより構成されてい
る。

【００１１】また、ＥＯＳオシロスコープは、被測定信
号と同期を取るためのトリガ信号に基づきサンプリング
タイミングを生成するタイミング発生回路３と、タイミ
ング発生回路３からのタイミング信号に基づいて光パル
スを発生する光パルス発生回路４と、ＥＯＳプローブ２
からの偏光を受けた光パルスを受光し、偏光量に応じた
電気信号を出力する受光増幅回路５と、所定タイミング
で受光増幅回路５からの電気信号をアナログ・デジタル
変換するＡ／Ｄ変換器６と、測定した測定データの表示
処理等を行う表示処理部１０と、測定データの表示を行
うための表示部８とにより構成される。なお、この表示
部８は、ＥＯＳオシロスコープの本体１に含まれず、Ｅ
ＯＳオシロスコープの本体１に設けられた接続端子を介
して外部の表示装置に表示する構成であってもよい。

【００１２】次に、図１のＥＯＳオシロスコープの動作
概要を説明する。外部からトリガ信号が入力されると、
タイミング発生回路４は、このトリガ信号等に基づきサ
ンプリングタイミングを生成し、出力する。なお、タイ
ミング発生回路４が出力するタイミング信号の出力タイ
ミングは、測定条件により異なってくる。そして、光パ
ルス発生回路４は、このタイミング発生回路３からのタ
イミング信号に基づき、例えば３０［ｐｓ］といった狭
いパルス幅の光パルスをＥＯＳプローブ２に対し供給す
る。

【００１３】ＥＯＳプローブ２では、光パルスが電気光
学結晶において、被測定信号によって発生する電界に応
じて偏光を受ける。そして、この偏光を受けた光パルス
はＥＯＳオシロスコープの本体１に戻り、受光増幅回路
５は、偏光量に応じた電気信号（受光信号）を出力す
る。Ａ／Ｄ変換器６は、光パルス発生回路４からの信号
に基づいて、受光増幅回路５からの信号をアナログ・デ
ジタル変換し、デジタル信号を出力する。

【００１４】表示処理部１０は、Ａ／Ｄ変換器６からの
デジタル信号を取り込み、被測定信号の波形の構成を行
うとともに、これを測定データとして表示処理部内の図
示しない測定データ記憶部に保存する。なお、表示処理
部１０は、被測定信号の測定中に、この測定波形の表示
処理も行うものとする。また、表示処理部１０は、保存
した測定データに関連付けて、その測定条件も測定デー
タ記憶部に保存する。なお、ここでは、ファイルとして
測定データごとに保存されるものとする。この測定デー
タのファイル名は、予めユーザにより指定されるもので
あっても、表示処理部１０が所定の命名規則により自動
的に決定するものであってもよい。なお、ＥＯＳオシロ
スコープでは、図示しない操作部もしくは外部からの制
御信号により、各種測定条件の設定が可能となってお
り、この設定された測定条件に基づいて測定が行われ
る。測定条件の一例としては、被測定信号に対てＬＰＦ
（ロー・パス・フィルタ）もしくはＨＰＦ（ハイ・パス
・フィルタ）を設定するか否か（ＯＮ、ＯＦＦ）等があ
る。また、ＥＯＳオシロスコープ特有の測定条件とし
て、測定帯域幅、検出感度、レーザダイオードのバイア
ス値の設定等がある。ここで、”測定帯域幅”とは、図
１の受光増幅回路５内の増幅回路で増幅する周波数帯域
に関する測定条件である。”検出感度”とはＥＯＳプロ
ーブ２内の電気光学素子や受光増幅回路５内の受光回路
の感度に関する測定条件である。また、”レーザダイオ
ードのバイアス値”とは、発光量等を調整するための光
パルス発生回路４内のレーザダイオードに掛けるバイア
ス値に関する測定条件である。以上のようにして、ＥＯ
Ｓオシロスコープが動作し、測定データの保存が行われ
る以下では、表示処理部１０による測定データ取得後に
おける測定データ表示処理について詳細に説明する。

【００１５】（第１の実施の形態）図２は、図１に示す
ＥＯＳオシロスコープにおいて、第１の実施の形態にお
ける表示処理部１０のブロック構成を示した図である。
図２より表示処理部１０は、保存された測定データ等の
表示処理を行うデータ処理部３１と、測定データおよび
この測定データに関連するデータを記憶する測定データ
記憶部３６とにより構成される。また、データ処理部３
１は、一覧表示部３２、概略波形表示部３３、コメント
処理部３４、概略波形データ作成部３５とを備えてい
る。

【００１６】ここで、一覧表示部３２は、表示する測定
データの選択を行わせるために測定データ記憶部３６に
記憶された測定データファイルの一覧表示処理を行う。
概略波形表示部３３は、選択された測定データのサンプ
ルポイント数を減らした概略波形の表示処理を行う。コ
メント処理部３４は、選択された測定データに対しコメ
ント入力された場合、このコメントを測定データと関連
付けて測定データ記憶部３６に記憶させる。また、概略
波形データ作成部３５は、測定データからサンプルポイ
ント数を減らした概略波形データを作成し、基となる測
定データと関連付けて測定データ記憶部３６に記憶させ
る。なお、このデータ処理部３１は、専用のハードウェ
アにより実現されるものであっても、プログラムとして
提供されデータ処理部３１を構成する図示しないＣＰＵ
（中央演算装置）により実行されることにより、その機
能が実現されるものであってもよい。一方、測定データ
記憶部３６は、ハードディスク、フロッピーディスク、
フラッシュメモリ等の不揮発性のメモリにより構成され
るものとする。

【００１７】次に、この表示処理部１０内のデータ処理
部３１の動作について説明する。図３は、図２のデータ
処理部３１の動作を示すフローチャートである。まず、
一覧表示部３２により、測定データ記憶部３６中の測定
データの保存された保存領域の検索が行われ、測定デー
タファイルの一覧表示を行う（ステップＳ１１）。例え
ば、図５の符号６１から６４に示す表示領域がこの処理
により表示された一覧表示の例である。図５の例では、
表示領域６１に測定データ記憶部３６の測定データの格
納されたディレクトリ構成が表示され、表示領域６２に
測定データのファイル名が表示されている。これによ
り、ユーザが確認したい測定データを容易に選択できる
ようになる。次に、データ処理部３１は、図１において
図示しない操作部を介してユーザにより行われた操作内
容の解釈を行い（ステップＳ１２）、その操作内容に応
じた処理を行う。操作内容が、図５の表示領域６２に表
示された測定データファイルの選択である”測定データ
指定”であるならば、この指定された測定データの波形
の概略を表示するために概略波形表示部３３を起動する
とともに、概略波形表示部３３に指定された測定データ
ファイル名を引き渡す（ステップＳ１３）。例えば、こ
の処理により図５の表示領域６５に示すような表示が行
われる。この例では、表示領域６５内の表示領域６５ａ
には、測定データの数値が、表示領域６５ｂには測定デ
ータと関連付けられたコメントがある場合、そのコメン
トの表示が、表示領域６５ｃには、測定データ全体の測
定波形を確認できる概略波形が表示される。なお、この
時、図５の表示領域６３に選択された測定データのファ
イル名を、表示領域６４にそのファイルの保存された日
時に関する情報を表示するようにしてもよい。このよう
に概略波形を表示することにより、選択した測定データ
のデータ内容を容易に理解できるようになり、必要とす
る測定データの選択の効率を高めることもできる。

【００１８】操作内容が、選択された測定データの”メ
モリ保存”であるならば、この選択された測定データの
ファイル情報もしくはステップＳ１３で行われた概略波
形等の表示内容もしくはそれら双方を図示しない所定の
メモリ領域に保存する（ステップＳ１４）。これによ
り、測定データの比較を行いたい場合、比較したい測定
データを迅速に表示可能となる。例えば、図５の符号６
６に示すボタンがクリックされることにより、現在表示
されている波形データに関する情報がメモリ１に保存さ
れるものとする。操作内容が、メモリに保存された測定
データの選択である”メモリ指定”であるならば、この
メモリ内の情報を用いて測定データの概略波形等の表示
を行うために概略波形表示部３３を起動するとともに、
指定されたメモリ番号を概略波形表示部３３に引き渡す
（ステップＳ１３）。例えば、図５の符号６７に示すボ
タンがクリックされることにより、メモリ１に保存され
た測定データの概略波形データ等の表示が行われる。操
作内容が、選択された測定データに対するコメントの入
力である”コメント入力”である場合には、コメント処
理部３４が起動され、コメント処理が行われる（ステッ
プＳ１５）。この起動されたコメント処理部３４は、入
力されたコメントを選択されている測定データと関連付
けて測定データ記憶部３６に記憶させる。なお、測定デ
ータとの関連付けの方法として、測定データのファイル
名にコメントを表す記号を加えたファイル名でコメント
を保存する等により行う。あるいは、測定データファイ
ル内にコメントであることが分かるように書き込むもの
であってもよい。測定データに関連する他の情報も同様
にして関連付けて記憶、保存されるものとする。このよ
うにコメント入力を可能とし、測定データと関連付けて
保存可能とすることにより、選択した測定データに関し
気がついたことを即座に入力でき、また後でコメントの
内容を確認できるようになり、測定データの有効活用が
図れるようになる。以上のようにして、データ処理部３
１が動作する。

【００１９】次に、図３のステップＳ１３で起動される
概略波形表示部３３の動作を図４を用いて説明する。始
めに、概略波形表示部３３は、引き渡された情報に基づ
き、選択された測定データの数値データの表示を行う
（ステップＳ２１）。これにより、例えば図５の表示領
域６５ａに数値データが表示される。次に、選択された
測定データに関連付けられた概略波形データがあるか確
認する（ステップＳ２２）。概略波形データがない場合
には、概略波形データ作成部３５を起動し、概略波形デ
ータを作成させる（ステップＳ２３）。この概略波形デ
ータ作成部３５は、まず、選択された測定データのサン
プルポイント数および概略波形を表示する表示領域の大
きさから概略波形を表示するためのサンプルポイント数
を決定する。次に、その決定されたサンプルポイント数
となるように、選択された波形データのサンプルポイン
ト数を間引き概略波形データの作成を行う。そして、こ
の概略波形データを選択された測定データと関連付けて
測定データ記憶部３６に記憶させる。次に、この概略波
形データを用いて概略波形の表示を行う（ステップＳ２
４）。これにより、例えば、図５の表示領域６５ｃのよ
うな表示が行われる。次に、選択された測定データに関
連付けられたコメントがある場合には、そのコメントの
表示を行う（ステップＳ２５）。コメントがある場合、
図５の表示領域６５ｂにコメントの表示が行われる。な
お、ここでは表示領域６５ｂが、コメントの表示・入力
領域となっている。以上のように概略波形表示部３３は
動作する。

【００２０】このように、概略波形データがない場合に
はステップＳ２３で概略波形データを作成することによ
り、次の概略波形データの表示においては、表示処理を
高速に行うことができるようになる。なお、概略波形表
示部３３において、ステップＳ２１の測定データの表示
およびステップＳ２５のコメントの表示は必須の処理内
容ではなく、オプション的な処理内容であり、図２のコ
メント処理部３４もしくは概略波形データ作成部３５の
一方、あるいは、これら双方がない構成であってよい。
また、概略波形データは、図４のステップＳ２３におい
て、初めてその波形データが選択された時に作成される
ものとしたが、これに限定されるものではく、例えば、
表示処理部１０が測定データを測定データ記憶部３６に
保存する際に、概略波形データ作成部３５により、概略
波形データの作成、保存を行ってもよい。

【００２１】（第２の実施の形態）第１の実施の形態で
は、１つの測定データの概略波形等の表示を行うのに対
し、本実施の形態では、選択した測定データの比較を容
易に行うことができるように、複数の測定データの概略
波形等の表示を行うようにする。図６は、図１に示すＥ
ＯＳオシロスコープにおいて、第２の実施の形態におけ
る表示処理部１０のブロック構成を示した図である。図
２の構成と比較すると、データ処理部３１において、図
６の一覧表示部４２の動作に一部違いがあること、図２
の概略波形表示部３３がなくなり、複数の概略波形の表
示に対応した複数概略波形表示部４３がある点が異な
る。なお、図６において図２の各部に対応する部分には
同一の符号を付け、その説明を省略し、以下では相違点
のみを説明する。

【００２２】本実施の形態におけるデータ処理部３１の
動作概要は、図３に示すフローチャートとほぼ同じであ
る。ただし、ステップＳ１３において、概略波形表示部
３３を起動するのではなく、複数概略波形表示部４３が
起動され、例えば図７に示すように選択された複数の測
定データの概略波形等の表示がなされる点において相違
する。なお、図７のような表示の場合、図３のステップ
Ｓ１１で表示される測定データの一覧は、図５の表示領
域６１から６４がポップアップウィンドウのように、図
７の表示内容にオーバーラップして表示されるものとす
る。また、本実施の形態では、図３のステップＳ１１で
表示された測定データの一覧に対応する処理が、測定デ
ータファイルの選択とともに、図７の符号８１〜８４の
いずれの表示領域に表示するかも選択できる項目を含め
て表示する処理を行うものとする。そして、この選択さ
れた表示領域に関する情報も複数概略波形表示部４３に
引き渡され、複数概略波形表示部４３により指定された
領域に測定データの概略波形等の表示がなされる。ま
た、操作内容が”メモリ指定”である場合、例えば図７
の符号８５に示すボタンのクリック等である場合には、
どの表示領域に表示するかの選択も行う。例えば、図７
においてボタン８５を押すと、符号８１から８４のいず
れの領域に表示するか選択するためのポップアップウィ
ンドが表示され、そのウィンドウにおいて表示領域の選
択を行うものとし、その選択された表示領域に関する情
報も複数概略波形表示部４３に引き渡され、複数概略波
形表示部４３は指定された領域に測定データの概略波形
等の表示を行う。以上のように、複数概略波形表示部４
３の動作も、図４に示す動作フロートとおほぼ同じであ
るが、指定された表示領域に対して表示する点において
異なる。

【００２３】以上のように、複数の測定データを概略波
形も含めて並べて表示することに、各測定データの比較
を容易に行うことができるようになる。なお、第１の実
施の形態との組み合わせとして、図７のような表示を行
う”複数表示”という操作があり、この操作が選択され
ると、第１の実施の形態において各メモリに保存された
測定データが、図７の各表示領域８１から８４に順次表
示されるものであってもよい。

【００２４】（第３の実施の形態）本実施の形態は、測
定データと関連付けて保存された測定条件の比較を容易
にできる表示処理部１０についてのものである。図８
は、図１に示すＥＯＳオシロスコープにおいて、第３の
実施の形態における表示処理部１０のブロック構成を示
した図である。本実施の形態の表示処理部１０内のデー
タ処理部３１は、一覧表示部５２、測定条件表示部５
３、強調表示処理部５４、条件変更部５５とを備えてい
る。

【００２５】ここで、一覧表示部５２は、測定条件を表
示する測定データの選択を行わせるために測定データ記
憶部３２に記憶された測定データファイルの一覧表示処
理を行う。測定条件表示部５３は、選択された測定デー
タの測定条件を測定データごとに並べる表示処理を行
う。そして、強調表示処理部５４は、選択された測定デ
ータの測定条件の比較を行い、測定条件表示部５３によ
り表示処理された測定条件に対し、測定条件の異なる部
分を強調する表示処理を行う。また、条件変更部５５
は、強調表示処理部５４により強調表示された測定条件
がユーザにより選択された場合、ＥＯＳオシロスコープ
の測定条件を比較対照となった測定データの測定条件に
変更する処理を行う。なお、図８において図２の各部に
対応する部分には同一の符号を付け、その説明を省略す
る。

【００２６】次に、本実施の形態におけるデータ処理部
３１の動作を図９を用いて説明する。始めに、一覧表示
部５２により、測定データの保存された保存領域の検索
が行われ、測定データのファイルの一覧表示が行われる
（ステップＳ３１）。例えば、図５の表示領域６１から
６４の表示内容を含むウィンドウが表示されるものとす
る。次に、測定条件の基となる測定データの選択をユー
ザに行わせ、その選択結果を記憶する（ステップＳ３
２）。なお、ステップＳ３１で表示されるウィンドウに
は基となる測定データの選択をユーザに行わせるための
選択ボタン等があるものとする。さらに、ステップＳ３
１で表示されるウィンドウには、現在ＥＯＳオシロスコ
ープにおいて設定されている測定条件を選択項目とする
選択ボタンもあるものとする。なお、設定されている測
定条件は、所定のメモリに記憶され、必要に応じて参照
できる構成となっている。次に、比較対照となる測定デ
ータの選択をユーザに行わせ、その選択結果を記憶する
（ステップＳ３３）。この処理のために、ステップＳ３
１で表示されるウィンドウには比較対照となる測定デー
タの選択をユーザに行わせるための選択ボタン等がある
ものとする。なお、ここで選択される比較対照となる測
定データは複数選択できるようにしてもよく、選択順に
選択番号（メモリ番号）が振られるものとする。

【００２７】次に、ステップＳ３２、Ｓ３３での選択を
終了すると、測定条件表示部５３により選択された測定
条件の表示が行われ、強調表示処理部５４により測定条
件の異なる部分の強調表示処理が行われる（ステップＳ
３４）。この表示例を図１０に示す。図１０において符
号１１１に示す表示領域にステップＳ３２で選択された
測定データの測定条件が表示され、符号１１２に示す表
示領域にステップＳ３３で選択された測定データの測定
条件が表示される。図１０の例では比較対照となる測定
データの測定条件表示領域が１つの例を示している。こ
のステップでの測定条件表示部５３および強調処理部５
４の動作を図１０を例に説明すると以下のようになる。
測定条件表示部５３は、始めに、ステップＳ３２で選択
された測定データに関連して記憶された測定条件を読み
込み、図１０の表示領域１１１に表示する。次に、ステ
ップＳ３３で選択された測定データに関連して記憶され
た測定条件を読み込み、図１０の表示領域１１２に表示
する。なお、図１０の例では、測定条件としてアベレー
ジ（ＡＶＥＲＡＧＥ）数、ロー・パス・フィルタ（ＬＰ
Ｆ）のオン、オフ条件、ハイ・パス・フィルタ（ＨＰ
Ｆ）のオン・オフ条件が表示されている。さらに、図１
０には示していないが、表示される測定条件として、前
述のＥＯＳオシロスコープ特有の測定帯域幅、検出感
度、レーザダイオードのバイアス値等がある。なお、表
示される測定条件は、全ての測定条件であっても、必要
となる測定条件のみであってもよい。強調表示処理部５
４は、表示領域１１１に表示された測定データの測定条
件と、表示領域１１２に表示された測定データの表示条
件の比較を行う。そして、測定条件表示部５３により表
示処理された測定条件に対し、測定条件の異なる部分を
強調する表示処理を行う。この強調表示の例として、色
を変える、網掛けを行う、下線を引く、点滅表示させる
等がある。

【００２８】次に、データ処理部３１は、図１において
図示しない操作部を介してユーザにより行われた操作内
容の解釈を行い（ステップＳ３５）、その操作内容に応
じた処理を行う。操作内容が、ステップＳ３３で選択し
た他の測定データの測定条件の表示である”他のメモ
リ”表示であれば（ここでは、複数の測定データがステ
ップＳ３３で選択されたものとする）、測定条件表示部
５３は選択された他の測定条件の表示を行い、強調表示
処理部５４は測定条件の異なる部分の強調表示処理を行
う（ステップＳ３６）。例えば、図１０の表示例におい
て符号１１３に示すボタンを押すと、表示領域１１２に
メモリ２に記憶された比較対照となる測定データ（２番
目に選択された表示データ）の測定条件が表示される。
そして、測定条件の異なる部分の強調表示が行われる。
なお、このステップＳ３６の処理はステップＳ３４の処
理とほぼ同じであり、ステップＳ３２で選択された測定
データの測定条件表示を行わない点において異なる。一
方、操作内容が強調表示された測定条件の選択であれ
ば、データ処理部３１は、条件変更部５５に選択された
測定条件項目およびその測定条件を引き渡す。条件変更
部５５は、ＥＯＳオシロスコープに対し、引き渡された
測定条件項目が引き渡された測定条件となるように測定
条件の変更制御をする（ステップＳ３７）。さらに、変
更した測定条件項目を変更した測定条件に変更する表示
処理を行う。図１０を例にすると、ユーザが図示しない
操作部により符号１１４に示す強調表示された測定条件
項目を選択すると、条件変更部５５によりＥＯＳオシロ
スコープのＨＰＦ（ハイ・パス・フィルタ）に関する設
定が符号１１５に示される比較対照となる測定条件と同
じく”ＯＮ”に設定変更される。さらに、符号１１４に
示す表示が”ＯＦＦ”から”ＯＮ”に変更される。な
お、表示画面内に一括変更ボタンを設け、このボタンが
押された場合、条件変更部５５は、ＥＯＳオシロスコー
プの全ての測定条件の設定がステップＳ３３で選択され
た測定データの測定条件と一致するよう測定条件の変更
制御をしても良い。そして、操作内容が測定条件の比較
表示の”終了”であれば、処理を終える。以上のように
して、本実施の形態におけるデータ処理部３１は動作す
る。

【００２９】このように、測定条件を並べて表示するこ
とにより、測定条件の比較が容易になり、過去に行われ
た測定条件の相違点を容易に把握することができるよう
になる。また、測定条件の異なる項目の強調表示を行う
ことにより、測定条件の相違点をより瞬時に認識するこ
とができるようになる。なお、本実施の形態において、
図９のステップＳ３２は行わず、比較の基となる測定条
件をＥＯＳオシロスコープの現在の測定条件とし、その
表示を行うようにしてもよい。このようにすることで、
過去に測定した際の測定条件と現在設定されている測定
条件との比較を容易に行うことができるようになる。こ
の場合、特に条件変更部５５を設けることで、ＥＯＳオ
シロスコープの測定条件の設定を過去に行った測定条件
に容易に変更でき、すぐに過去に行った測定条件下での
被測定信号の測定ができるようになる。また、第１の実
施の形態との組み合わせとして、図９のステップＳ３３
を行わず、第１の実施の形態においてメモリに記憶され
た測定データの測定条件を比較対照とするようにしても
よい。また、本実施の形態のデータ処理部３１に第１の
実施の形態のコメント処理部３４を加え、例えば図１０
の表示領域１１１、１１２でコメント表示およびコメン
ト入力が行えるようにしてもよい。

【００３０】（第４の実施の形態）第１から第３の実施
の形態では、表示処理部１０がＥＯＳオシロスコープの
本体に組み込まれている場合について説明したが、本実
施の形態では、この第１から第３の実施の形態で説明し
た表示処理を他の装置で行わせる場合について説明す
る。図１１は、第４の実施の形態におけるＥＯＳオシロ
スコープシステムの構成図である。図１１よりＥＯＳオ
シロスコープシステムは、ＥＯＳオシロスコープおよび
表示処理装置１６により構成される。図１１において、
ＥＯＳオシロスコープの本体１には、表示処理部１０に
おいて、第１から第３の実施の形態で説明した機能がな
く、測定データ記憶部３６に測定された測定データ等が
記憶されるのみであるものとする。そして、このデータ
記憶部１５に記憶された測定データは、通信あるいはフ
ロッピーディスク等の記録媒体を介して、表示処理装置
１６に記憶・保存される。また、この時必要に応じ測定
データの測定条件も表示処理装置１６に測定データと関
連付けて記憶・保存される。ここで、表示処理装置１６
は、専用の装置であってもよいが、パーソナルコンピュ
ータ等のコンピュータシステムを利用し、第１から第３
の実施の形態で説明したデータ処理部３１の機能を実現
するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記
録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラ
ムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行すること
により測定データに関する表示処理を行ってもよい。な
お、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや
周辺機器等のハードウェアを含むものとする。なお、表
示処理装置１６で行われる表示処理内容は、第１から第
３の実施の形態で説明した通りであり、その説明を省略
する。このように、コンピュータシステムを利用した表
示処理装置１６を別に設けることで、比較的低価格で表
示処理装置１６を提供できるようになる。また、選択し
た測定データを別名で保存する処理を加えた場合、デー
タの上書き保存間違いをなくすことができる。

【００３１】以上、４つの実施の形態で説明した表示処
理は、ＥＯＳオシロスコープにより得られた測定データ
に対する処理として説明したが、これに限定されるもの
ではなく、他のオシロスコープにより得られた測定デー
タに対しても行うことが可能である。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明による電気
光学サンプリングオシロスコープ、電気光学サンプリン
グオシロスコープシステム、測定データ表示方法、およ
び、測定データ表示プログラムを記録した記録媒体によ
れば、下記の効果を得ることができる。請求項１、請求
項８、請求項１０、請求項１２に記載の発明は、電気光
学サンプリングオシロスコープにより測定された測定デ
ータに対し、表示選択された測定データのサンプルポイ
ント数を減らした概略波形の表示処理を行う。このよう
に概略波形を表示することにより、選択した測定データ
のデータ内容を容易に理解できるようになり、必要とす
る測定データの選択の効率を高めることもできる。ま
た、請求項２に記載の発明は、選択された複数の測定デ
ータに対し、それぞれサンプルポイント数を減らした概
略波形を並べて表示する表示処理を行う。これにより、
各測定データの把握、比較を容易に行うことができるよ
うになる。

【００３３】また、請求項３に記載の発明は、測定デー
タからサンプルポイント数を減らした概略波形データを
作成し、この概略波形データを利用して概略波形の表示
処理を行う。これにより、次の概略波形データの表示に
おいては、表示処理を高速に行うことができるようにな
る。また、請求項４に記載の発明は、選択された測定デ
ータに対しコメント入力された場合、このコメントを測
定データと関連付けて記憶させる。このようにコメント
入力を可能とし、測定データと関連付けて保存可能とす
ることにより、選択した測定データに関し気がついたこ
とを即座に入力でき、また後でコメントの内容を確認で
きるようになり、測定データの有効活用が図れるように
なる。

【００３４】次に、請求項５、請求項９、請求項１１、
請求項１３に記載の発明は、電気光学サンプリングオシ
ロスコープにより測定された測定データに対し、選択さ
れた測定データの測定条件を測定データごとに並べる表
示処理を行う。これにより、測定条件の比較が容易にな
り、過去に行われた測定条件の相違点を容易に把握する
ことができるようになる。また、請求項６に記載の発明
は、選択された測定データの測定条件の比較を行い、測
定条件の異なる部分を強調する表示処理を行う。これに
より、測定条件の相違点をより瞬時に認識することがで
きるようになる。また、請求項７に記載の発明は、ユー
ザの選択により比較対照となった測定データの測定条件
に電気光学サンプリングオシロスコープの測定条件を変
更する。これにより、電気光学サンプリングオシロスコ
ープの測定条件の設定を過去に行った測定条件に容易に
変更でき、すぐに過去に行った測定条件下での測定がで
きるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態によるＥＯＳオシロスコ
ープの構成図である。

【図２】 第１の実施の形態における表示処理部のブロ
ック構成を示す図である。

【図３】 図２のデータ処理部の動作を示すフローチャ
ートである。

【図４】 概略波形表示部の動作を示すフローチャート
である。

【図５】 第１の実施の形態における表示例である。

【図６】 第２の実施の形態における表示処理部のブロ
ック構成を示す図である。

【図７】 第２の実施の形態における表示例である。

【図８】 第３の実施の形態における表示処理部のブロ
ック構成を示す図である。

【図９】 図８のデータ処理部の動作を示すフローチャ
ートである。

【図１０】 第３の実施の形態における表示例である。

【図１１】 第４の実施の形態におけるＥＯＳオシロス
コープシステムの構成図である。

【符号の説明】

１ ＥＯＳオシロスコープの本体 ２ ＥＯＳプ
ローブ ３ タイミング発生回路 ４ 光パルス
発生回路 ５ 受光増幅回路 ６ Ａ／Ｄ変
換器 ８ 表示部 １０ 表示処理
部 １６ 表示処理装置 ３１ データ処理部 ３２、４２、５２ 一
覧表示部 ３３ 概略波形表示部 ３４ コメン
ト処理部 ３５ 概略波形データ作成部 ３６ 測定デ
ータ記憶部 ４３ 複数概略波形表示部 ５３ 測定条件表示部 ５４ 強調表
示処理部 ５５ 条件変更部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳沢 幸樹 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 伴城 暢一 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 遠藤 善雄 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 山田 順三 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定信号によって発生する電界を電気
   光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入射
   し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測定
   する電気光学サンプリングオシロスコープであって、 前記電気光学サンプリングオシロスコープは、前記測定
   した測定データの表示処理を行う表示処理部を備え、 前記表示処理部は、 前記測定データおよび該測定データに関連するデータを
   関連付けて記憶する測定データ記憶部と、 表示する測定データの選択を行わせるために前記測定デ
   ータ記憶部に記憶された測定データファイルの一覧表示
   処理を行う一覧表示部と、 選択された測定データのサンプルポイント数を減らした
   概略波形の表示処理を行う概略波形表示部とを備えたこ
   とを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープ。
2. 【請求項２】 前記概略波形表示部は、 選択された複数の測定データに対し、それぞれサンプル
   ポイント数を減らした概略波形を並べて表示する表示処
   理を行うことを特徴とする請求項１記載の電気光学サン
   プリングオシロスコープ。
3. 【請求項３】 前記表示処理部は、 前記測定データからサンプルポイント数を減らした概略
   波形データを作成し、該測定データと関連付けて前記測
   定データ記憶部に記憶させる概略波形データ作成部をさ
   らに備え、 前記概略波形表示部は、 前記選択された測定データに関連付けられた概略波形デ
   ータがある場合、該概略波形データを用いて概略波形の
   表示処理を行い、 前記選択された測定データに関連付けられた概略波形デ
   ータがない場合、前記概略波形データ作成部により概略
   波形データの作成・記憶をさせた後、該概略波形データ
   を用いて概略波形の表示処理を行うことを特徴とする請
   求項１または請求項２に記載の電気光学サンプリングオ
   シロスコープ。
4. 【請求項４】 前記表示処理部は、 前記選択された測定データに対しコメント入力された場
   合、該コメントを前記測定データと関連付けて前記測定
   データ記憶部に記憶させるコメント処理部をさらに備
   え、 前記概略波形表示部は、 前記選択された測定データに関連付けられたコメントが
   ある場合、該コメントの表示も行うことを特徴とする請
   求項１から請求項３のいずれかに記載の電気光学サンプ
   リングオシロスコープ。
5. 【請求項５】 被測定信号によって発生する電界を電気
   光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入射
   し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測定
   する電気光学サンプリングオシロスコープであって、 前記電気光学サンプリングオシロスコープは、前記測定
   した測定データの表示処理を行う表示処理部を備え、 前記表示処理部は、 前記測定データおよび該測定データの測定条件を関連付
   けて記憶する測定データ記憶部と、 測定条件を表示する測定データの選択を行わせるために
   前記測定データ記憶部に記憶された測定データファイル
   の一覧表示処理を行う一覧表示部と、 選択された測定データの測定条件を測定データごとに並
   べる表示処理を行う測定条件表示部とを備えたことを特
   徴とする電気光学サンプリングオシロスコープ。
6. 【請求項６】 前記表示処理部は、 前記選択された測定データの測定条件の比較を行い、前
   記測定条件表示部により表示処理された測定条件に対
   し、測定条件の異なる部分を強調する表示処理を行う強
   調表示処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項５
   記載の電気光学サンプリングオシロスコープ。
7. 【請求項７】 前記表示処理部は、 前記強調表示処理部により強調表示された測定条件がユ
   ーザにより選択された場合、電気光学サンプリングオシ
   ロスコープの測定条件を比較対照となった測定データの
   測定条件に変更する条件変更部をさらに備えたことを特
   徴とする請求項６記載の電気光学サンプリングオシロス
   コープ。
8. 【請求項８】 被測定信号によって発生する電界を電気
   光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入射
   し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測定
   する電気光学サンプリングオシロスコープと、該電気光
   学サンプリングオシロスコープにより得られた測定デー
   タの表示処理を行う表示処理装置とからなる電気光学サ
   ンプリングオシロスコープシステムであって、 前記表示処理装置は、 前記測定データおよび該測定データに関連するデータを
   関連付けて記憶する測定データ記憶部と、 表示する測定データの選択を行わせるために前記測定デ
   ータ記憶部に記憶された測定データファイルの一覧表示
   処理を行う一覧表示部と、 選択された測定データのサンプルポイント数を減らした
   概略波形の表示処理を行う概略波形表示部とを備えたこ
   とを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープシ
   ステム。
9. 【請求項９】 被測定信号によって発生する電界を電気
   光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入射
   し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測定
   する電気光学サンプリングオシロスコープと、該電気光
   学サンプリングオシロスコープにより得られた測定デー
   タの表示処理を行う表示処理装置とからなる電気光学サ
   ンプリングオシロスコープシステムであって、 前記表示処理装置は、 前記測定データおよび該測定データの測定条件を関連付
   けて記憶する測定データ記憶部と、 測定条件を表示する測定データの選択を行わせるために
   前記測定データ記憶部に記憶された測定データファイル
   の一覧表示処理を行う一覧表示部と、 選択された測定データの測定条件を測定データごとに並
   べる表示処理を行う測定条件表示部とを備えたことを特
   徴とする電気光学サンプリングオシロスコープシステ
   ム。
10. 【請求項１０】 被測定信号によって発生する電界を電
    気光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入
    射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測
    定することにより得られた測定データおよび該測定デー
    タに関連するデータを記憶し、 表示する測定データの選択を行わせるために記憶した測
    定データファイルの一覧表示を行い、 選択された測定データのサンプルポイント数を減らした
    概略波形の表示を行うことを特徴とする測定データ表示
    方法。
11. 【請求項１１】 被測定信号によって発生する電界を電
    気光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入
    射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測
    定することにより得られた測定データおよび該測定デー
    タの測定条件を関連付けて記憶し、 測定条件を表示する測定データの選択を行わせるために
    記憶された測定データファイルの一覧表示処理を行い、 選択された測定データの測定条件を測定データごとに並
    べて表示することを特徴とする測定データ表示方法。
12. 【請求項１２】 被測定信号によって発生する電界を電
    気光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入
    射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測
    定することにより得られた測定データおよび該測定デー
    タに関連するデータを関連付けて記憶した記憶部から表
    示する測定データの選択を行わせるために記憶された測
    定データファイルの一覧表示を行う機能と、 選択された測定データのサンプルポイント数を減らした
    概略波形の表示を行う機能とをコンピュータに行わせる
    測定データ表示プログラムを記録したコンピュータ読み
    取り可能な記録媒体。
13. 【請求項１３】 被測定信号によって発生する電界を電
    気光学結晶に結合させ、該電気光学結晶にレーザ光を入
    射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を測
    定することにより得られた測定データおよび該測定デー
    タの測定条件を関連付けて記憶した記憶部から測定条件
    を表示する測定データの選択を行わせるために記憶され
    た測定データファイルの一覧表示処理を行う機能と、 選択された測定データの測定条件を測定データごとに並
    べて表示する機能とをコンピュータに行わせる測定デー
    タ表示プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能
    な記録媒体。