JP3139644B2 - 集積回路の電圧信号測定装置 - Google Patents
集積回路の電圧信号測定装置Info
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
て変化する電気光学材料で形成されたプローブを集積回
路のような被測定回路に近接させることにより電気光学
効果およびレーザ光を利用して集積回路の電圧信号を測
定する集積回路の電圧信号測定装置に関する。
学材料を集積回路に近接させ、集積回路の動作によって
生じる電界中に置き、この電気光学材料にレーザ光を入
射すると、材料の複屈折率変化によりレーザ光の偏光が
変化する。この偏光変化を受けたレーザ光をポラライザ
を用いた一般によく知られた偏光検出光学系に通すと、
レーザ光の偏光変化をレーザ光の光強度変化に変換でき
る。このレーザ光の光強度変化(以後、光強度変化とす
る)を測定することにより電気光学材料に結合した電
界、すなわち測定点での電圧信号が測定できる。
光学サンプリングと呼んでいる。この電気光学サンプリ
ングはプローブと被測定回路の間隔(以後、離間距離と
する)によって電気光学材料と電界の結合量が異なるの
で、検出される光強度変化は離間距離に強く依存し、S
/N(信号対雑音比)を向上させるためには、プローブ
を被測定回路に可能な限り近づけることが必要である。
しかし、プローブと被測定回路が近接した状態では、そ
の距離の変化に対して信号変化が敏感であるため、測定
の精度をあげるにはプローブと被測定回路の距離を再現
性よく高精度に定める必要がある。
に、プローブと被測定回路との間の離間距離を定めるた
めのプローブ位置決めに関する技術はなく、これまでは
電圧信号を測定するのに十分なS/Nが得られるまでプ
ローブを被測定回路に近づけるか、または接触した状態
で測定していた。そのため、プローブの繰り返し位置決
めに対して離間距離にばらつきがあり、測定の再現性が
悪いという問題がある。
その目的とするところは、プローブおよび被測定回路を
損傷することなく、プローブと被測定回路の間隔を高精
度に定めることができ、測定の再現性を向上し、高精度
測定を可能とする集積回路の電圧信号測定装置を提供す
ることにある。
め、本発明の集積回路の電圧信号測定装置は、被測定回
路に近接し得るように設けられ、電界によって複屈折率
が変化する電気光学材料で形成され、レーザ光を照射さ
れることにより被測定回路の電圧信号を電気光学的に測
定するプローブと、該プローブを被測定回路に対して接
離させ得るようにプローブを支持するシリンダと、該シ
リンダの外径よりも僅かに大きな内径を有し、前記シリ
ンダの移動を案内するように前記シリンダが該内径内に
挿入されるガイドと、前記シリンダが摩擦の極めて少な
い状態で前記ガイド内を微動し得るように前記ガイドと
前記シリンダとの間に気体を流す手段と、前記ガイドを
被測定回路に対して接離させるべく移動させるガイド移
動手段と、前記プローブを被測定回路に対して接離させ
るべく前記シリンダを被測定回路に対して接離させる前
記ガイドに設定されたシリンダ移動手段と、前記シリン
ダの前記ガイドに対する位置を測定する位置測定手段
と、腕の中程を支点として1側に重りを設け、他方の側
で前記シリンダを保持することで当該シリンダおよびプ
ローブの実効重量を軽くする天秤機構とを有することを
要旨とする。
イド移動手段によりガイドを被測定回路に接近させるよ
うに移動して、シリンダ、ひいてはシリンダに支持され
たプローブを被測定回路に接近させ、更にシリンダ移動
手段でプローブを被測定回路に向けて移動させて、天秤
機構の作用でプローブを被測定回路に損傷なく接触させ
た後、この接触点を基準にプローブを離隔させて、離間
距離を定めることで、プローブと被測定回路との間の離
間距離を高精度に定めている。
る。
路の電圧信号測定装置の全体構成を示す斜視図である。
微動機構、3は電圧信号測定用のプローブ、4はプロー
ブホルダ、5はシリンダ、6はエアガイド、7はシリン
ダとエアガイドに空気を流し込むための流入口、8はシ
リンダを高精度に上下微動できるピエゾアクチュエー
タ、9はシリンダ5に固定されているプローブ3とプロ
ーブホルダ4の実効重量を軽くするための天秤機構、1
0はシリンダの位置を測定するポジションスケール、1
1はエアガイドを上下に移動できる上下粗動機構、12
はシリンダを固定するシリンダロックである。
料を透明な材料で固定し、先端を集積回路測定用に針状
に加工したものである。プローブ3に用いる電気光学材
料は、たとえばLiNbO3 ,LiTaO3 ,KTP,
GaAs,KD* P,ZnTe,CdTeなどの結晶や
有機光学材料などを用いる。
リンダ5に固定されている。また、シリンダ5の外径よ
り、わずかに大きな内径を有するエアガイド6にシリン
ダ5を挿入し、シリンダ5とエアガイド6のすき間に流
入口7から空気を送り込み、シリンダ5が摩擦が極めて
少ない状態で上下方向にスライドできる機構になってい
る。また、天秤機構9は、天秤の腕の中程に支点を設
け、この腕の1側(力点側)に重りを設け、他方の側
(作用点)でシリンダ5を保持することによりシリンダ
5に固定されているプローブ3とプローブホルダ4の実
効重量を軽くしてある。
粗動機構11によりエアガイド6を上昇させて天秤機構
9からシリンダ5が離れた退避状態にしておく。この状
態ではシリンダ5は自重とプローブ3およびプローブホ
ルダ4の合計の重量である数100グラムの重量がかか
るため、多少の衝撃が装置に加わってもシリンダ5が上
下に動くことはなく、装置へのダメージを防げる。ま
た、シリンダロック12でシリンダを固定してもよい。
りシリンダ5が固定されている場合はその固定を解除
し、上下粗動機構11によりエアガイドを下げ、図3に
示すような状態で、測定点(接触点)の上方にプローブ
3を配置する。上下微動機構2は固定しておき、シリン
ダ5をピエゾアクチュエータ8により徐々に下降させ、
プローブ3を被測定回路に近付ける。プローブ3の下降
の様子はシリンダ5に接続されているポジションスケー
ル10をモニタすることによりわかる。プローブ3を下
降し続けると、図4に示すように、ある位置でプローブ
3が被測定回路1に接触し、プローブ3が止まり、ポジ
ションスケール10の表示に変化がなくなる。この位置
を接触点とし、ピエゾアクチュエータ8による下降を停
止する。ここで、天秤機構9によりシリンダ5に固定さ
れているプローブ3とプローブホルダ4の実効重量を
0.1〜0.2グラムと軽くしているため、プローブ3
と被測定回路1の接触時にプローブ3と被測定回路1へ
のダメージを軽減できる。また、接触後、プローブ3を
下げすぎた場合でも、天秤の傾きは接触時と変わらない
ので、プローブの傾きおよび接触圧の変化がない。さら
にシリンダとエアガイド間のすべり摩擦がないため、プ
ローブ3が被測定回路1に接触時のダメージを軽減し、
接触を高感度に検出できる。
ローブ3を上昇させて離間距離を定める。このとき接触
状態でポジションスケール10をリセットしておけば、
ポジションスケール10の表示値からプローブ3と被測
定回路1の離間距離を任意に設定できる。離間距離を定
めた後、振動に対するプローブ3の安定性を保つためシ
リンダロック12によりシリンダ5を固定し、図5に示
すようにプローブ3が上下に移動できないようにする。
ガイド移動手段によりガイドを被測定回路に接近させる
ように移動して、シリンダ、ひいてはシリンダに支持さ
れたプローブを被測定回路に接近させ、更にガイドに設
けられたシリンダ移動手段でプローブを被測定回路に向
けて移動させて、天秤機構の作用でプローブを被測定回
路に損傷なく接触させた後、この接触点を基準にプロー
ブを離隔させて、離間距離を定めているので、プローブ
と被測定回路を損傷させることなく、プローブと被測定
回路との離間距離を高精度に定めることができ、この結
果プローブの繰り返し位置決めに伴う検出信号強度のば
らつきを低減し、再現性のよい高精度な電気信号の測定
が可能である。
測定装置の全体構成を示す斜視図である。
リンダを退避させた状態を示す断面図である。
ローブと被測定回路が接触する直前の状態を示す断面図
である。
ローブと被測定回路が接触した状態を示す断面図であ
る。
ローブと被測定回路との間の離間距離を定めた状態を示
す断面図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 被測定回路に近接し得るように設けら
れ、電界によって複屈折率が変化する電気光学材料で形
成され、レーザ光を照射されることにより被測定回路の
電圧信号を電気光学的に測定するプローブと、 該プローブを被測定回路に対して接離させ得るようにプ
ローブを支持するシリンダと、 該シリンダの外径よりも僅かに大きな内径を有し、前記
シリンダの移動を案内するように前記シリンダが該内径
内に挿入されるガイドと、 前記シリンダが摩擦の極めて少ない状態で前記ガイド内
を微動し得るように前記ガイドと前記シリンダとの間に
気体を流す手段と、 前記ガイドを被測定回路に対して接離させるべく移動さ
せるガイド移動手段と、 前記プローブを被測定回路に
対して接離させるべく前記シリンダを被測定回路に対し
て接離させる前記ガイドに設定されたシリンダ移動手段
と、 前記シリンダの前記ガイドに対する位置を測定する位置
測定手段と、腕の中程を支点として1側に重りを設け、他方の側で前
記シリンダを保持することで当該 シリンダおよびプロー
ブの実効重量を軽くする天秤機構とを有することを特徴
とする集積回路の電圧信号測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04243326A JP3139644B2 (ja) | 1992-09-11 | 1992-09-11 | 集積回路の電圧信号測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04243326A JP3139644B2 (ja) | 1992-09-11 | 1992-09-11 | 集積回路の電圧信号測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0694807A JPH0694807A (ja) | 1994-04-08 |
JP3139644B2 true JP3139644B2 (ja) | 2001-03-05 |
Family
ID=17102169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04243326A Expired - Lifetime JP3139644B2 (ja) | 1992-09-11 | 1992-09-11 | 集積回路の電圧信号測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3139644B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102426661B1 (ko) | 2020-07-15 | 2022-07-29 | 고유미 | 마스크 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3406497B2 (ja) * | 1997-11-10 | 2003-05-12 | 安藤電気株式会社 | 電気光学プローブの信号処理回路 |
JPH11271363A (ja) | 1998-03-19 | 1999-10-08 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
JPH11316245A (ja) | 1998-05-01 | 1999-11-16 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
JP3492521B2 (ja) | 1998-05-06 | 2004-02-03 | 安藤電気株式会社 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
JPH11337589A (ja) * | 1998-05-28 | 1999-12-10 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ用プローブ |
JPH11352156A (ja) | 1998-06-03 | 1999-12-24 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
-
1992
- 1992-09-11 JP JP04243326A patent/JP3139644B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102426661B1 (ko) | 2020-07-15 | 2022-07-29 | 고유미 | 마스크 |
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JPH0694807A (ja) | 1994-04-08 |
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