JPH11352156A - 電気光学サンプリングオシロスコープ - Google Patents
電気光学サンプリングオシロスコープInfo
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- JPH11352156A JPH11352156A JP10155046A JP15504698A JPH11352156A JP H11352156 A JPH11352156 A JP H11352156A JP 10155046 A JP10155046 A JP 10155046A JP 15504698 A JP15504698 A JP 15504698A JP H11352156 A JPH11352156 A JP H11352156A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/347—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies using electro-optic elements
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/32—Circuits for displaying non-recurrent functions such as transients; Circuits for triggering; Circuits for synchronisation; Circuits for time-base expansion
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 タイミング信号の精度を向上することができ
る電気光学サンプリングオシロスコープを提供する。 【解決手段】 ファーストランプ回路41はトリガ信号
Strが入力される度にランプ波形を出力する。スロー
ランプ回路42は、タイミング信号Stmが入力される
度に階段状に出力が増加する。比較回路43はファース
トランプ回路41とスローランプ回路42の出力を比較
して一致した場合に出力する。ゲート回路44は、トリ
ガ信号Str及びタイミング信号Stmを入力して、比
較回路43の出力が不安定になる時間を計測して信号を
出力するタイマ44a及びNOT回路44bと、比較回
路43とNOT回路44bの論理積を出力するAND回
路からなり、比較回路43の出力が不安定になる時間だ
けゲートを閉じることによってタイミング信号Stmの
精度を向上する。
る電気光学サンプリングオシロスコープを提供する。 【解決手段】 ファーストランプ回路41はトリガ信号
Strが入力される度にランプ波形を出力する。スロー
ランプ回路42は、タイミング信号Stmが入力される
度に階段状に出力が増加する。比較回路43はファース
トランプ回路41とスローランプ回路42の出力を比較
して一致した場合に出力する。ゲート回路44は、トリ
ガ信号Str及びタイミング信号Stmを入力して、比
較回路43の出力が不安定になる時間を計測して信号を
出力するタイマ44a及びNOT回路44bと、比較回
路43とNOT回路44bの論理積を出力するAND回
路からなり、比較回路43の出力が不安定になる時間だ
けゲートを閉じることによってタイミング信号Stmの
精度を向上する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、タイミング発生回
路からのタイミング信号に基づいて生成される光パルス
を利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリ
ングオシロスコープに係わり、特にタイミング信号を発
生させるタイミング発生回路の改良を図った電気光学サ
ンプリングオシロスコープに関する。
路からのタイミング信号に基づいて生成される光パルス
を利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリ
ングオシロスコープに係わり、特にタイミング信号を発
生させるタイミング発生回路の改良を図った電気光学サ
ンプリングオシロスコープに関する。
【0002】
【従来の技術】被測定信号から発生する電界を電気光学
結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入射
し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観測
することができる。この現象を利用して、レーザ光をパ
ルス状にし、被測定信号をサンプリングすることによっ
て非常に高い時間分解能で測定を可能にした電気光学プ
ローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコー
プ(以下、EOSオシロスコープという)である。この
EOSオシロスコープは、電気式プローブを用いた従来
のサンプリングオシロスコープと比較して以下のような
特徴を有している。 1)信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易。 2)電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高い入力インピーダンスを実現で
き、その結果測定時に被測定点の状態をほとんど乱すこ
とがない。 3)光パルスを利用することからGHzオーダーまでの
広帯域測定が可能。
結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入射
し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観測
することができる。この現象を利用して、レーザ光をパ
ルス状にし、被測定信号をサンプリングすることによっ
て非常に高い時間分解能で測定を可能にした電気光学プ
ローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコー
プ(以下、EOSオシロスコープという)である。この
EOSオシロスコープは、電気式プローブを用いた従来
のサンプリングオシロスコープと比較して以下のような
特徴を有している。 1)信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易。 2)電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高い入力インピーダンスを実現で
き、その結果測定時に被測定点の状態をほとんど乱すこ
とがない。 3)光パルスを利用することからGHzオーダーまでの
広帯域測定が可能。
【0003】次に、EOSオシロスコープの構成を図3
を参照して説明する。EOSオシロスコープは、EOS
オシロスコープ本体1及び電気光学プローブ2により構
成される。EOSオシロスコープの本体1において、ト
リガ回路3は、外部から信号を受けて、被測定信号に対
する測定開始となるトリガ信号を出力する。タイミング
発生回路4は、光パルスの発生タイミング及びA/D変
換のタイミングを発生し、光パルス発生回路5は、タイ
ミング発生回路4からのタイミング信号に基づいて光パ
ルスの発生を行う。光パルス発生回路5からの光パルス
は、電気光学プローブ2に供給され、電気光学素子によ
り偏光変化を受ける。この偏光変化を受けた光パルス
は、電気光学プローブ2内で偏光検出が行われ電気信号
に変換される。その信号をEOSオシロスコープ本体1
に入力され、A/D変換回路6によって信号の増幅やA
/D変換が行われ、処理回路7により測定対象となった
信号を表示等のための処理が行われて、表示部8へ表示
される。
を参照して説明する。EOSオシロスコープは、EOS
オシロスコープ本体1及び電気光学プローブ2により構
成される。EOSオシロスコープの本体1において、ト
リガ回路3は、外部から信号を受けて、被測定信号に対
する測定開始となるトリガ信号を出力する。タイミング
発生回路4は、光パルスの発生タイミング及びA/D変
換のタイミングを発生し、光パルス発生回路5は、タイ
ミング発生回路4からのタイミング信号に基づいて光パ
ルスの発生を行う。光パルス発生回路5からの光パルス
は、電気光学プローブ2に供給され、電気光学素子によ
り偏光変化を受ける。この偏光変化を受けた光パルス
は、電気光学プローブ2内で偏光検出が行われ電気信号
に変換される。その信号をEOSオシロスコープ本体1
に入力され、A/D変換回路6によって信号の増幅やA
/D変換が行われ、処理回路7により測定対象となった
信号を表示等のための処理が行われて、表示部8へ表示
される。
【0004】図4は、タイミング発生回路4の従来の一
構成例を示したブロック図である。図4において、符号
41はトリガ信号Strをトリガとして逐次増加するラ
ンプ波形を出力するファーストランプ回路であり、符号
42は、入力される信号をアップカウントするカウンタ
42aと、このカウンタ42aのカウント値をD/A変
換して出力するD/A変換回路からなるスローランプ回
路である。符号43は、ファーストランプ回路41の出
力とスローランプ回路42の出力とを比較して、一致し
た場合にタイミング信号Stmを出力する比較回路であ
り、このタイミング信号Stmがタイミング発生回路4
の出力信号となる。また、タイミング信号Stmはカウ
ンタ42aに入力される。
構成例を示したブロック図である。図4において、符号
41はトリガ信号Strをトリガとして逐次増加するラ
ンプ波形を出力するファーストランプ回路であり、符号
42は、入力される信号をアップカウントするカウンタ
42aと、このカウンタ42aのカウント値をD/A変
換して出力するD/A変換回路からなるスローランプ回
路である。符号43は、ファーストランプ回路41の出
力とスローランプ回路42の出力とを比較して、一致し
た場合にタイミング信号Stmを出力する比較回路であ
り、このタイミング信号Stmがタイミング発生回路4
の出力信号となる。また、タイミング信号Stmはカウ
ンタ42aに入力される。
【0005】次に、図4に示すタイミング発生回路4の
動作を図5を参照して説明する。先ず、ファーストラン
プ回路41は、トリガ信号Strが入力されると、ラン
プ波形を出力する(図5(b)参照)。一方、スローラ
ンプ回路42は比較回路43の出力が入力されるとカウ
ンタ42aが「1」ずつアップカウントされ、そのカウ
ント値をD/A変換回路42bでアナログ値にして出力
されるため、比較回路43の出力が入力される度に階段
状の波形が生成される(図5(c)参照)。比較回路4
3は、ファーストランプ回路41の出力とスローランプ
回路42の出力を比較してトリガ信号Strが入力され
てから最初に一致した時点で立ち上がり、一定時間のパ
ルス幅のパルスを出力する(図5(d)参照)。これが
タイミング信号Stmとなる。
動作を図5を参照して説明する。先ず、ファーストラン
プ回路41は、トリガ信号Strが入力されると、ラン
プ波形を出力する(図5(b)参照)。一方、スローラ
ンプ回路42は比較回路43の出力が入力されるとカウ
ンタ42aが「1」ずつアップカウントされ、そのカウ
ント値をD/A変換回路42bでアナログ値にして出力
されるため、比較回路43の出力が入力される度に階段
状の波形が生成される(図5(c)参照)。比較回路4
3は、ファーストランプ回路41の出力とスローランプ
回路42の出力を比較してトリガ信号Strが入力され
てから最初に一致した時点で立ち上がり、一定時間のパ
ルス幅のパルスを出力する(図5(d)参照)。これが
タイミング信号Stmとなる。
【0006】タイミング信号Stmは、初期状態では、
ファーストランプ回路41の出力及びスローランプ回路
42の出力が0(ゼロ)であるため、トリガ信号Str
の立ち上がりとほぼ同時に立ち上がる。続いて、スロー
ランプ回路42の出力が、比較回路43からタイミング
信号Stmが出力される度に順次大きくなるため、ファ
ーストランプ回路41の出力とスローランプ回路42の
出力との一致する時刻が、トリガ信号Strの立ち上が
りから時間T5だけ遅くなる。同様に、トリガ信号St
rが入力される度に、時間T6、T7というように、立
ち上がりが遅くなる。この動作によってトリガ信号St
rからの経過時間を変化させて被測定信号のサンプリン
グのタイミングを得ている。
ファーストランプ回路41の出力及びスローランプ回路
42の出力が0(ゼロ)であるため、トリガ信号Str
の立ち上がりとほぼ同時に立ち上がる。続いて、スロー
ランプ回路42の出力が、比較回路43からタイミング
信号Stmが出力される度に順次大きくなるため、ファ
ーストランプ回路41の出力とスローランプ回路42の
出力との一致する時刻が、トリガ信号Strの立ち上が
りから時間T5だけ遅くなる。同様に、トリガ信号St
rが入力される度に、時間T6、T7というように、立
ち上がりが遅くなる。この動作によってトリガ信号St
rからの経過時間を変化させて被測定信号のサンプリン
グのタイミングを得ている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図3、4に
示すEOSオシロスコープにあっては、スローランプ4
2の出力をD/A変換回路42bにより得ているため、
D/A変換の動作中はスローランプ回路42の出力が不
安定になることがあり(図2(c)の符号S1で示した
部分)、結果的に比較回路43の出力も同様に不安定に
なる(図2(d)の符号S2で示した部分)。また、フ
ァーストランプ回路の出力は、ランプ波形であるため、
一定時間で最大値になった後、最小値に戻るといった動
作を繰り返している。したがって、最大値から最小値へ
戻る時点で、スローランプ回路42の出力と一致するタ
イミングがあるため、このときに比較回路43から不要
な信号(図2(d)の符号S3で示した部分)が出力さ
れてしまう。比較回路43の出力は、タイミング信号S
tmであるため、不安定な信号や不要な信号が出力され
ると、正確なサンプリングが行えないという問題があ
る。本発明は、このような事情に鑑みてなされたもの
で、比較回路43の不安定な出力値の出力を防止でき、
タイミング信号の精度を向上することができるEOSオ
シロスコープを提供することを目的とする。
示すEOSオシロスコープにあっては、スローランプ4
2の出力をD/A変換回路42bにより得ているため、
D/A変換の動作中はスローランプ回路42の出力が不
安定になることがあり(図2(c)の符号S1で示した
部分)、結果的に比較回路43の出力も同様に不安定に
なる(図2(d)の符号S2で示した部分)。また、フ
ァーストランプ回路の出力は、ランプ波形であるため、
一定時間で最大値になった後、最小値に戻るといった動
作を繰り返している。したがって、最大値から最小値へ
戻る時点で、スローランプ回路42の出力と一致するタ
イミングがあるため、このときに比較回路43から不要
な信号(図2(d)の符号S3で示した部分)が出力さ
れてしまう。比較回路43の出力は、タイミング信号S
tmであるため、不安定な信号や不要な信号が出力され
ると、正確なサンプリングが行えないという問題があ
る。本発明は、このような事情に鑑みてなされたもの
で、比較回路43の不安定な出力値の出力を防止でき、
タイミング信号の精度を向上することができるEOSオ
シロスコープを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、トリガ信号に同期してタイミング発生回路から発生
するタイミング信号に基づいて生成される光パルスを利
用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリング
オシロスコープにおいて、前記タイミング発生回路は、
前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するフ
ァーストランプ回路と、前記タイミング信号に応じて出
力値を順次階段状に増加させるスローランプ回路と、前
記ファーストランプ回路の出力と前記スローランプ回路
の出力とを比較し、その比較結果を出力する比較回路
と、前記比較回路の出力が不安定になる時間だけゲート
を閉じて、前記比較回路の出力を制限するゲート回路と
を備えたことを特徴とする。
は、トリガ信号に同期してタイミング発生回路から発生
するタイミング信号に基づいて生成される光パルスを利
用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリング
オシロスコープにおいて、前記タイミング発生回路は、
前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するフ
ァーストランプ回路と、前記タイミング信号に応じて出
力値を順次階段状に増加させるスローランプ回路と、前
記ファーストランプ回路の出力と前記スローランプ回路
の出力とを比較し、その比較結果を出力する比較回路
と、前記比較回路の出力が不安定になる時間だけゲート
を閉じて、前記比較回路の出力を制限するゲート回路と
を備えたことを特徴とする。
【0009】請求項2に記載の発明は、前記ゲート回路
は、前記トリガ信号を入力して、前記ファーストランプ
回路の出力が最大値から最小値になるまでの時間を計測
し、さらに前記タイミング信号を入力して、前記スロー
ランプ回路の出力が不安定になる時間を計測して、前記
ゲートを閉じる信号を出力するタイマと、前記タイマの
出力を反転するNOT回路と、前記NOT回路の出力と
前記比較回路の出力との論理積を出力するAND回路と
を備えたことを特徴とする。
は、前記トリガ信号を入力して、前記ファーストランプ
回路の出力が最大値から最小値になるまでの時間を計測
し、さらに前記タイミング信号を入力して、前記スロー
ランプ回路の出力が不安定になる時間を計測して、前記
ゲートを閉じる信号を出力するタイマと、前記タイマの
出力を反転するNOT回路と、前記NOT回路の出力と
前記比較回路の出力との論理積を出力するAND回路と
を備えたことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
EOSオシロスコープを図面を参照して説明する。初め
に、EOSオシロスコープの構成を図3を参照して説明
する。EOSオシロスコープは前述したように、EOS
オシロスコープ本体1及び電気光学プローブ2により構
成される。EOSオシロスコープの本体1において、ト
リガ回路3は、外部から信号を受けて、被測定信号に対
する測定開始となるトリガ信号を出力する。タイミング
発生回路4は光パルスの発生タイミング及びA/D変換
のタイミングを発生し、光パルス発生回路5はタイミン
グ発生回路4からのタイミング信号に基づいて光パルス
の発生を行う。
EOSオシロスコープを図面を参照して説明する。初め
に、EOSオシロスコープの構成を図3を参照して説明
する。EOSオシロスコープは前述したように、EOS
オシロスコープ本体1及び電気光学プローブ2により構
成される。EOSオシロスコープの本体1において、ト
リガ回路3は、外部から信号を受けて、被測定信号に対
する測定開始となるトリガ信号を出力する。タイミング
発生回路4は光パルスの発生タイミング及びA/D変換
のタイミングを発生し、光パルス発生回路5はタイミン
グ発生回路4からのタイミング信号に基づいて光パルス
の発生を行う。
【0011】光パルス出力回路5からの光パルスは、電
気光学プローブ2に供給され、電気光学素子により偏光
変化を受ける。この偏光変化を受けた光パルスは、電気
光学プローブ2内で偏光検出が行われ電気信号に変換さ
れる。その信号をEOSオシロスコープ本体1に入力さ
れ、A/D変換回路6によって信号の増幅やA/D変換
が行われ、処理回路8により測定対象となった信号を表
示等のための処理が行われて、表示部8へ表示される。
本発明は、タイミング発生回路4を改良したものであ
る。
気光学プローブ2に供給され、電気光学素子により偏光
変化を受ける。この偏光変化を受けた光パルスは、電気
光学プローブ2内で偏光検出が行われ電気信号に変換さ
れる。その信号をEOSオシロスコープ本体1に入力さ
れ、A/D変換回路6によって信号の増幅やA/D変換
が行われ、処理回路8により測定対象となった信号を表
示等のための処理が行われて、表示部8へ表示される。
本発明は、タイミング発生回路4を改良したものであ
る。
【0012】次に、本発明の一実施形態によるEOSオ
シロスコープにおけるタイミング発生回路4を図1を参
照して説明する。この図において、図4に示す従来の回
路と同一の部分には同一の符号を付し、その説明を省略
する。この図に示すタイミング発生回路が従来の回路と
異なる点は、ゲート回路44が設けられている点であ
る。このゲート回路44は、トリガ信号Str及びAN
D回路44cの出力をトリガとしてゲートの開閉してタ
イミング信号Stmの出力を制限する回路である。ゲー
ト回路44は、トリガ信号Str及びAND回路44c
の出力を入力して、入力したそれぞれの信号の立ち上が
りから一定時間を計測してその間だけ”H”(ハイ)に
なるタイマ44aと、タイマ44aの出力を反転して出
力するNOT回路44bと、NOT回路44bの出力と
比較回路43の論理積を出力するAND回路44cから
なる。AND回路44cの出力がタイミング信号Stm
となる。
シロスコープにおけるタイミング発生回路4を図1を参
照して説明する。この図において、図4に示す従来の回
路と同一の部分には同一の符号を付し、その説明を省略
する。この図に示すタイミング発生回路が従来の回路と
異なる点は、ゲート回路44が設けられている点であ
る。このゲート回路44は、トリガ信号Str及びAN
D回路44cの出力をトリガとしてゲートの開閉してタ
イミング信号Stmの出力を制限する回路である。ゲー
ト回路44は、トリガ信号Str及びAND回路44c
の出力を入力して、入力したそれぞれの信号の立ち上が
りから一定時間を計測してその間だけ”H”(ハイ)に
なるタイマ44aと、タイマ44aの出力を反転して出
力するNOT回路44bと、NOT回路44bの出力と
比較回路43の論理積を出力するAND回路44cから
なる。AND回路44cの出力がタイミング信号Stm
となる。
【0013】次に、図1に示すタイミング発生回路4の
動作を図2を参照して説明する。図2の(c)スローラ
ンプ回路出力及び(d)比較回路出力において示した波
形は、動作を分かりやすくするために出力の変動をデフ
ォルメして示してある。先ず、トリガ信号Strがファ
ーストランプ回路41へ入力されると、ファーストラン
プ回路41はランプ波形を出力する。このランプ波形
は、トリガ信号Strの立ち上がりから時間T3後に最
大値になり、ここから時間T4後に最小値になる波形で
ある(図2(b)参照)。一方、スローランプ回路42
は、タイミング信号Stmを入力する度に出力値が増加
する、階段状の波形を出力する。この波形は、カウンタ
42aのカウント値をD/A変換して出力した値であ
り、D/A変換の動作中は不安定な出力となる(図2
(c)符号S1参照)。
動作を図2を参照して説明する。図2の(c)スローラ
ンプ回路出力及び(d)比較回路出力において示した波
形は、動作を分かりやすくするために出力の変動をデフ
ォルメして示してある。先ず、トリガ信号Strがファ
ーストランプ回路41へ入力されると、ファーストラン
プ回路41はランプ波形を出力する。このランプ波形
は、トリガ信号Strの立ち上がりから時間T3後に最
大値になり、ここから時間T4後に最小値になる波形で
ある(図2(b)参照)。一方、スローランプ回路42
は、タイミング信号Stmを入力する度に出力値が増加
する、階段状の波形を出力する。この波形は、カウンタ
42aのカウント値をD/A変換して出力した値であ
り、D/A変換の動作中は不安定な出力となる(図2
(c)符号S1参照)。
【0014】比較回路43は、ファーストランプ回路4
1の出力とスローランプ回路42の出力とを比較して一
致した場合に”H”(ハイ)になる。比較回路43は、
スローランプ回路42の不安定な出力が入力されるた
め、結果的に出力も不安定な出力変動がある。また、フ
ァーストランプ回路41の出力が最小値へ戻る時にスロ
ーランプ回路42の出力値を横切るために、比較回路4
3の出力は不安定になる(図2(d)参照)。ただし、
この不安定な出力変動が発生する時間は、D/A変換の
動作中とファーストランプ回路41の出力が最小値へ戻
る時間である。したがって、この不安定な出力となる時
間は、D/A変換回路42bのD/A変換時間とファー
ストランプ回路41の出力波形とから決まる時間であ
る。この時間をタイマで計測してゲートを閉じ、比較回
路43の出力値を制限すれば正確なタイミング信号を生
成することができる。
1の出力とスローランプ回路42の出力とを比較して一
致した場合に”H”(ハイ)になる。比較回路43は、
スローランプ回路42の不安定な出力が入力されるた
め、結果的に出力も不安定な出力変動がある。また、フ
ァーストランプ回路41の出力が最小値へ戻る時にスロ
ーランプ回路42の出力値を横切るために、比較回路4
3の出力は不安定になる(図2(d)参照)。ただし、
この不安定な出力変動が発生する時間は、D/A変換の
動作中とファーストランプ回路41の出力が最小値へ戻
る時間である。したがって、この不安定な出力となる時
間は、D/A変換回路42bのD/A変換時間とファー
ストランプ回路41の出力波形とから決まる時間であ
る。この時間をタイマで計測してゲートを閉じ、比較回
路43の出力値を制限すれば正確なタイミング信号を生
成することができる。
【0015】次に、タイマ44aによってゲートを閉じ
る動作を説明する。タイマ44aは、タイミング信号S
tmの立ち上がりから時間T1後に立ち上がり、ここか
らD/A変換回路42bの出力が不安定である時間T2
後に立ち下がる信号を出力する。すなわち、スローラン
プ回路42の出力が不安定な時(図2(c)符号S1に
示した部分)に”H”(ハイ)になる(図2(e)の符
号S4参照)信号を出力する。さらに、タイマ44a
は、トリガ信号の立ち上がりからファーストランプ回路
41のランプ波形が最大値になるまでの時間T3(図2
(b)参照)後に立ち上がり、ここからファーストラン
プ回路41のランプ波形が最小値になるまでの時間T4
後に立ち下がる信号を出力する。すなわち、ファースト
ランプ回路41の出力が最大値から最小値へ戻る場合に
スローランプ回路42の出力と一致して比較回路43か
ら不要な出力値が出力される時(図2(d)符号S3に
示した部分)に”H”(ハイ)になる(図2(e)の符
号S5参照)信号を出力する。なお、タイマ44aの出
力は、スローランプ回路42の出力が不安定になる時
に”H”(ハイ)になる(図2(e)符号S4)信号
と、比較回路43から不要な出力値が出力される時に”
H”(ハイ)になる(図2(e)符号S5)信号とを各
々のタイマで生成して、それらの信号の論理和としても
よい。
る動作を説明する。タイマ44aは、タイミング信号S
tmの立ち上がりから時間T1後に立ち上がり、ここか
らD/A変換回路42bの出力が不安定である時間T2
後に立ち下がる信号を出力する。すなわち、スローラン
プ回路42の出力が不安定な時(図2(c)符号S1に
示した部分)に”H”(ハイ)になる(図2(e)の符
号S4参照)信号を出力する。さらに、タイマ44a
は、トリガ信号の立ち上がりからファーストランプ回路
41のランプ波形が最大値になるまでの時間T3(図2
(b)参照)後に立ち上がり、ここからファーストラン
プ回路41のランプ波形が最小値になるまでの時間T4
後に立ち下がる信号を出力する。すなわち、ファースト
ランプ回路41の出力が最大値から最小値へ戻る場合に
スローランプ回路42の出力と一致して比較回路43か
ら不要な出力値が出力される時(図2(d)符号S3に
示した部分)に”H”(ハイ)になる(図2(e)の符
号S5参照)信号を出力する。なお、タイマ44aの出
力は、スローランプ回路42の出力が不安定になる時
に”H”(ハイ)になる(図2(e)符号S4)信号
と、比較回路43から不要な出力値が出力される時に”
H”(ハイ)になる(図2(e)符号S5)信号とを各
々のタイマで生成して、それらの信号の論理和としても
よい。
【0016】タイマ44aの出力の立ち上がり、立ち下
がりの時刻は、時間T1、T2、T3、T4で決まる
が、これらはファーストランプ回路41の出力波形やス
ローランプ回路42で用いるD/A変換器に合わせて任
意に設定すれば良い。
がりの時刻は、時間T1、T2、T3、T4で決まる
が、これらはファーストランプ回路41の出力波形やス
ローランプ回路42で用いるD/A変換器に合わせて任
意に設定すれば良い。
【0017】次に、NOT回路44bはタイマ44aの
出力を反転した信号を出力する。すなわち、比較回路4
3から不要な出力値が出力される時間だけ”L”(ロ
ー)となる信号を出力する(図2(f)参照)。次に、
AND回路44cは、NOT回路44bの出力と比較回
路43の出力の論理積を出力することによって、ファー
ストランプ回路42の出力とスローランプ回路42の出
力とが一致したときのみ、タイミング信号Stmを出力
することができる(図2(g)参照)。
出力を反転した信号を出力する。すなわち、比較回路4
3から不要な出力値が出力される時間だけ”L”(ロ
ー)となる信号を出力する(図2(f)参照)。次に、
AND回路44cは、NOT回路44bの出力と比較回
路43の出力の論理積を出力することによって、ファー
ストランプ回路42の出力とスローランプ回路42の出
力とが一致したときのみ、タイミング信号Stmを出力
することができる(図2(g)参照)。
【0018】このように比較回路43の次段にゲート回
路44を設け、比較回路43から不要な出力値が出力さ
れる時間において、ゲートを閉じるようにしたので正確
なタイミング信号Stmが得られる。
路44を設け、比較回路43から不要な出力値が出力さ
れる時間において、ゲートを閉じるようにしたので正確
なタイミング信号Stmが得られる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の発
明によれば、比較回路の出力をゲート回路で受け、ファ
ーストランプ回路の出力が最大値から最小値へ戻る時間
と、スローランプ回路の出力となるD/A変換回路のD
/A変換動作の時間において、ゲートを閉じるようにし
て、不要なタイミング信号を出力しないようにしたた
め、タイミング信号の精度を向上できるという効果が得
られる。また、請求項2記載の発明によれば、ゲート回
路にタイマを設け、トリガ信号とタイミング信号を入力
してゲートを開放する時刻と閉鎖する時刻を任意に設定
できるようにしたため、各回路の出力値が不安定になる
時刻と時間が変わっても対応できるという効果も得られ
る。
明によれば、比較回路の出力をゲート回路で受け、ファ
ーストランプ回路の出力が最大値から最小値へ戻る時間
と、スローランプ回路の出力となるD/A変換回路のD
/A変換動作の時間において、ゲートを閉じるようにし
て、不要なタイミング信号を出力しないようにしたた
め、タイミング信号の精度を向上できるという効果が得
られる。また、請求項2記載の発明によれば、ゲート回
路にタイマを設け、トリガ信号とタイミング信号を入力
してゲートを開放する時刻と閉鎖する時刻を任意に設定
できるようにしたため、各回路の出力値が不安定になる
時刻と時間が変わっても対応できるという効果も得られ
る。
【図1】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図2】図1に示す実施形態においてスローランプ回路
42の動作のタイミング図である。
42の動作のタイミング図である。
【図3】EOSオシロスコープの構成を示すブロック図
である。
である。
【図4】EOSオシロスコープにおけるタイミング発生
回路の一従来例の回路構成を示すブロック図である。
回路の一従来例の回路構成を示すブロック図である。
【図5】図4に示す従来例においてタイミング信号を発
生する動作のタイミング図である。
生する動作のタイミング図である。
4・・・タイミング発生回路、41・・・ファーストラ
ンプ回路、42・・・スローランプ回路、42a・・・
カウンタ、42b・・・D/A変換回路、43・・・比
較回路、44・・・ゲート回路、44a・・・タイマ、
44b・・・NOT回路、44c・・・AND回路。
ンプ回路、42・・・スローランプ回路、42a・・・
カウンタ、42b・・・D/A変換回路、43・・・比
較回路、44・・・ゲート回路、44a・・・タイマ、
44b・・・NOT回路、44c・・・AND回路。
フロントページの続き (72)発明者 菊池 潤 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 伴城 暢一 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 遠藤 善雄 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 山田 順三 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】 トリガ信号に同期してタイミング発生回
路から発生するタイミング信号に基づいて生成される光
パルスを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サ
ンプリングオシロスコープにおいて、 前記タイミング発生回路は、 前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するフ
ァーストランプ回路と、 前記タイミング信号に応じて出力値を順次階段状に増加
させるスローランプ回路と、 前記ファーストランプ回路の出力と前記スローランプ回
路の出力とを比較し、その比較結果を出力する比較回路
と、 入力される前記トリガ信号及び前記タイミング信号に基
づき、前記比較回路の出力が不安定になる時間だけゲー
トを閉じて、前記比較回路の出力を制限するゲート回路
と、 を備えたことを特徴とする電気光学サンプリングオシロ
スコープ。 - 【請求項2】 前記ゲート回路は、 前記トリガ信号を入力して、前記ファーストランプ回路
の出力が最大値から最小値になるまでの時間を計測し、
さらに前記タイミング信号を入力して、前記スローラン
プ回路の出力が不安定になる時間を計測して、前記ゲー
トを閉じる信号を出力するタイマと、 前記タイマの出力と前記比較回路の出力との論理積を出
力するAND回路と、を備えたことを特徴とする請求項
1記載の電気光学サンプリングオシロスコープ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10155046A JPH11352156A (ja) | 1998-06-03 | 1998-06-03 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
US09/323,942 US6288529B1 (en) | 1998-06-03 | 1999-06-02 | Timing generation circuit for an electro-optic oscilloscope |
EP99304356A EP0962782A1 (en) | 1998-06-03 | 1999-06-03 | Electro-optic sampling oscilloscope |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10155046A JPH11352156A (ja) | 1998-06-03 | 1998-06-03 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
US09/323,942 US6288529B1 (en) | 1998-06-03 | 1999-06-02 | Timing generation circuit for an electro-optic oscilloscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11352156A true JPH11352156A (ja) | 1999-12-24 |
Family
ID=26483155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10155046A Pending JPH11352156A (ja) | 1998-06-03 | 1998-06-03 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6288529B1 (ja) |
EP (1) | EP0962782A1 (ja) |
JP (1) | JPH11352156A (ja) |
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JP2001099717A (ja) * | 1999-09-30 | 2001-04-13 | Ando Electric Co Ltd | 波長計のデータ処理装置、及びそのデータ処理方法 |
US6711954B2 (en) * | 2001-01-19 | 2004-03-30 | Lockheed Martin Corporation | Method and apparatus for improving the dynamic range of laser detected ultrasound in attenuative materials |
JP2005249690A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Agilent Technol Inc | 信号保持方法、アナログ・ディジタル変換方法、信号保持装置、アナログ・ディジタル変換装置、および、信号観測装置 |
US7045992B1 (en) * | 2004-06-22 | 2006-05-16 | National Semiconductor Corporation | Apparatus and method for start-up for a synchronous switching regulator |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4219762A (en) * | 1979-01-26 | 1980-08-26 | Gilbert Raine M | Wideband self-calibrated fiber-optic data link with fiber-optic storage |
JPH0769351B2 (ja) | 1988-05-30 | 1995-07-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電気信号観測装置 |
JP2598458B2 (ja) * | 1988-05-31 | 1997-04-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電気信号観測装置 |
JP2607798B2 (ja) | 1991-03-18 | 1997-05-07 | 日本電信電話株式会社 | 集積回路の電圧信号測定方法および測定装置 |
JPH04295028A (ja) * | 1991-03-26 | 1992-10-20 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 濃色ガラスおよびその製造法 |
JP2542754B2 (ja) | 1991-08-05 | 1996-10-09 | 日本電信電話株式会社 | 集積回路の電界測定用プロ―ブ位置決め方法および位置決め装置 |
JPH0547883A (ja) | 1991-08-12 | 1993-02-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 集積回路の回路試験装置および回路試験方法 |
JPH0582606A (ja) | 1991-09-19 | 1993-04-02 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路試験装置 |
JPH0580083A (ja) | 1991-09-20 | 1993-03-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 集積回路の試験方法および装置 |
JP3187505B2 (ja) | 1992-03-02 | 2001-07-11 | 日本電信電話株式会社 | 集積回路の電界測定装置 |
JP3139644B2 (ja) | 1992-09-11 | 2001-03-05 | 日本電信電話株式会社 | 集積回路の電圧信号測定装置 |
US5546325A (en) * | 1993-02-04 | 1996-08-13 | International Business Machines Corporation | Automated system, and corresponding method, for testing electro-optic modules |
JP3165873B2 (ja) | 1993-08-06 | 2001-05-14 | 日本電信電話株式会社 | 電気信号測定方法および装置 |
JPH0755891A (ja) | 1993-08-09 | 1995-03-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 集積回路の試験方法および試験装置 |
US5844288A (en) * | 1994-07-06 | 1998-12-01 | The Regents Of The University Of Michigan | Photoconductive element and method for measuring high frequency signals |
JPH0843499A (ja) | 1994-08-03 | 1996-02-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ティップ型回路試験用電界センサおよびその電界検出方法 |
JP3489701B2 (ja) | 1994-08-04 | 2004-01-26 | 日本電信電話株式会社 | 電気信号測定装置 |
JPH08152361A (ja) | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光信号波形の測定装置 |
JPH08160110A (ja) | 1994-12-06 | 1996-06-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電気信号測定装置 |
JP3326317B2 (ja) | 1995-12-05 | 2002-09-24 | 横河電機株式会社 | 電圧測定装置 |
JP3334743B2 (ja) | 1996-01-19 | 2002-10-15 | 日本電信電話株式会社 | 電気信号測定装置 |
JPH09211035A (ja) | 1996-01-30 | 1997-08-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電界測定装置 |
JP3352376B2 (ja) * | 1997-12-15 | 2002-12-03 | 安藤電気株式会社 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
JP3377943B2 (ja) * | 1998-01-13 | 2003-02-17 | 安藤電気株式会社 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
JP3372467B2 (ja) * | 1998-01-13 | 2003-02-04 | 安藤電気株式会社 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
JP3372468B2 (ja) * | 1998-01-13 | 2003-02-04 | 安藤電気株式会社 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
-
1998
- 1998-06-03 JP JP10155046A patent/JPH11352156A/ja active Pending
-
1999
- 1999-06-02 US US09/323,942 patent/US6288529B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-06-03 EP EP99304356A patent/EP0962782A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0962782A1 (en) | 1999-12-08 |
US6288529B1 (en) | 2001-09-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021029 |