JP3352376B2 - 電気光学サンプリングオシロスコープ - Google Patents
電気光学サンプリングオシロスコープInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気光学サンプリ
ングオシロスコープに関する。
ングオシロスコープに関する。
【０００２】
【従来の技術】近時、例えば、２．４Ｇｂｐｓという超
高速なビットレートの信号を扱う被測定回路の信号測定
には、被測定回路に擾乱を与えることなく測定可能な電
気光学サンプリングオシロスコープが用いられている。
ここで、上記電気光学サンプリングオシロスコープに
は、電気光学効果を利用して被測定信号を検出する電気
光学プローブが用いられる。
高速なビットレートの信号を扱う被測定回路の信号測定
には、被測定回路に擾乱を与えることなく測定可能な電
気光学サンプリングオシロスコープが用いられている。
ここで、上記電気光学サンプリングオシロスコープに
は、電気光学効果を利用して被測定信号を検出する電気
光学プローブが用いられる。
【０００３】また、上述した電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、 （１）信号を測定する際に、グランド線を必要としない
ため、測定が容易 （２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系
から各々絶縁されているので高入力インピーダンスを実
現でき、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことが
ない （３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまで
の広帯域測定が可能 といった特徴があることから、高速化が進む通信情報シ
ステムの測定に特に用いられている。
ロスコープは、 （１）信号を測定する際に、グランド線を必要としない
ため、測定が容易 （２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系
から各々絶縁されているので高入力インピーダンスを実
現でき、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことが
ない （３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまで
の広帯域測定が可能 といった特徴があることから、高速化が進む通信情報シ
ステムの測定に特に用いられている。
【０００４】図４は、上述した測定原理を用いた従来の
電気光学サンプリングオシロスコープの構成を示すブロ
ック図である。この図に示す電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、本体１および電気光学プローブ２から構
成されている。上記本体１は、トリガ回路３、タイミン
グ発生回路４、光パルス発生回路５、Ａ／Ｄ（アナログ
／ディジタル）変換器６、処理回路７、設定部８から構
成されている。
電気光学サンプリングオシロスコープの構成を示すブロ
ック図である。この図に示す電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、本体１および電気光学プローブ２から構
成されている。上記本体１は、トリガ回路３、タイミン
グ発生回路４、光パルス発生回路５、Ａ／Ｄ（アナログ
／ディジタル）変換器６、処理回路７、設定部８から構
成されている。
【０００５】トリガ回路３は、外部から入力されるトリ
ガ信号に基づいて設定部８で設定された周波数のトリガ
信号を生成する。タイミング発生回路４は、光パルスを
発生するタイミングおよびＡ／Ｄ変換器６におけるＡ／
Ｄ変換のタイミングをとるためのタイミング信号を発生
する。このタイミング信号は、希望サンプルレート、ト
リガ回路３より入力されるトリガ信号、内部クロックか
らのクロック信号から生成される。ここで、上記サンプ
ルレートとは、設定部８で設定された測定信号の時間方
向の拡大率であるｘ軸スケールに基づいて処理回路７に
おいて決定されるレートをいう。
ガ信号に基づいて設定部８で設定された周波数のトリガ
信号を生成する。タイミング発生回路４は、光パルスを
発生するタイミングおよびＡ／Ｄ変換器６におけるＡ／
Ｄ変換のタイミングをとるためのタイミング信号を発生
する。このタイミング信号は、希望サンプルレート、ト
リガ回路３より入力されるトリガ信号、内部クロックか
らのクロック信号から生成される。ここで、上記サンプ
ルレートとは、設定部８で設定された測定信号の時間方
向の拡大率であるｘ軸スケールに基づいて処理回路７に
おいて決定されるレートをいう。
【０００６】光パルス発生回路５は、タイミング発生回
路４により発生されたタイミング信号に基づいて、光パ
ルスを発生し、これを電気光学プローブ２へ供給する。
そして、偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プロー
ブ２内の偏光検出光学系（図示略）により検出され、こ
の検出結果たる検出信号は、Ａ／Ｄ変換器６により増幅
およびＡ／Ｄ変換された後、処理回路７へ入力される。
そして、処理回路７は、被測定信号を表示する等の処理
を行う。
路４により発生されたタイミング信号に基づいて、光パ
ルスを発生し、これを電気光学プローブ２へ供給する。
そして、偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プロー
ブ２内の偏光検出光学系（図示略）により検出され、こ
の検出結果たる検出信号は、Ａ／Ｄ変換器６により増幅
およびＡ／Ｄ変換された後、処理回路７へ入力される。
そして、処理回路７は、被測定信号を表示する等の処理
を行う。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の電気
光学サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信
号が不安定であったり、ランダムであったりすると、測
定結果たる被測定信号の波形が乱れるという測定エラー
が発生する。しかしながら、従来の電気光学サンプリン
グオシロスコープにおいては、測定者から見れば、トリ
ガ信号が不安定、ランダムになっていることに起因して
いる測定エラーが発生しているのか、または被測定信号
自体が不安定であって正常に測定されているのかを区別
することができないという欠点があった。本発明はこの
ような背景の下になされたもので、トリガ信号が不安定
になっていることに起因する測定エラーを測定者に報知
することができる電気光学サンプリングオシロスコープ
を提供することを目的とする。
光学サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信
号が不安定であったり、ランダムであったりすると、測
定結果たる被測定信号の波形が乱れるという測定エラー
が発生する。しかしながら、従来の電気光学サンプリン
グオシロスコープにおいては、測定者から見れば、トリ
ガ信号が不安定、ランダムになっていることに起因して
いる測定エラーが発生しているのか、または被測定信号
自体が不安定であって正常に測定されているのかを区別
することができないという欠点があった。本発明はこの
ような背景の下になされたもので、トリガ信号が不安定
になっていることに起因する測定エラーを測定者に報知
することができる電気光学サンプリングオシロスコープ
を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、一定周期毎に、前記トリガ信号に
おける”１”ビットの数を順次カウントするカウント手
段と、前記カウント手段における複数のカウント結果の
ばらつき具合を示すヒストグラムを求める演算手段と、
前記演算手段により演算された前記ヒストグラムを表示
する表示手段とを具備することを特徴とする。また、請
求項２に記載の発明は、トリガ信号に基づいて生成され
る光パルスを利用して、被測定信号の測定を行う電気光
学サンプリングオシロスコープにおいて、一定周期毎
に、前記トリガ信号における”１”ビットの数を順次カ
ウントするカウント手段と、前記カウント手段における
複数のカウント結果のばらつき具合に基づいて、前記ト
リガ信号が安定しているか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする。また、請求項３に記載の発明は、
請求項１または２に記載の電気光学サンプリングオシロ
スコープにおいて、前記カウント手段の２つのカウント
結果を比較する比較手段を具備し、前記表示手段は、前
記比較手段の比較結果が一致であるとき、前記トリガ信
号が安定している旨を表示する一方、前記比較手段の比
較結果が不一致であるとき、前記トリガ信号が不安定で
ある旨および測定エラーが発生している旨を表示するこ
とを特徴とする。また、請求項４に記載の発明は、請求
項１〜３のいずれかに記載の電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、前記カウント手段は、前記”１”
ビットに代えて”０”ビットをカウントすることを特徴
とする。
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、一定周期毎に、前記トリガ信号に
おける”１”ビットの数を順次カウントするカウント手
段と、前記カウント手段における複数のカウント結果の
ばらつき具合を示すヒストグラムを求める演算手段と、
前記演算手段により演算された前記ヒストグラムを表示
する表示手段とを具備することを特徴とする。また、請
求項２に記載の発明は、トリガ信号に基づいて生成され
る光パルスを利用して、被測定信号の測定を行う電気光
学サンプリングオシロスコープにおいて、一定周期毎
に、前記トリガ信号における”１”ビットの数を順次カ
ウントするカウント手段と、前記カウント手段における
複数のカウント結果のばらつき具合に基づいて、前記ト
リガ信号が安定しているか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする。また、請求項３に記載の発明は、
請求項１または２に記載の電気光学サンプリングオシロ
スコープにおいて、前記カウント手段の２つのカウント
結果を比較する比較手段を具備し、前記表示手段は、前
記比較手段の比較結果が一致であるとき、前記トリガ信
号が安定している旨を表示する一方、前記比較手段の比
較結果が不一致であるとき、前記トリガ信号が不安定で
ある旨および測定エラーが発生している旨を表示するこ
とを特徴とする。また、請求項４に記載の発明は、請求
項１〜３のいずれかに記載の電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、前記カウント手段は、前記”１”
ビットに代えて”０”ビットをカウントすることを特徴
とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。図１は本発明の一実施形態に
よる電気光学サンプリングオシロスコープの要部の構成
を示すブロック図である。この図において、１０は、前
述した内部クロックＳckから図２（ａ）に示す同期信号
Ｓsを生成する制御部である。この同期信号Ｓsの周期
は、８ビット分のディジタル信号の周期に相当する。な
お、同期信号Ｓsの周期は、８ビットに限定されること
なく、１６、３２ビット等いかなるビット数であっても
よい。
施形態について説明する。図１は本発明の一実施形態に
よる電気光学サンプリングオシロスコープの要部の構成
を示すブロック図である。この図において、１０は、前
述した内部クロックＳckから図２（ａ）に示す同期信号
Ｓsを生成する制御部である。この同期信号Ｓsの周期
は、８ビット分のディジタル信号の周期に相当する。な
お、同期信号Ｓsの周期は、８ビットに限定されること
なく、１６、３２ビット等いかなるビット数であっても
よい。
【００１０】１１は、前述したトリガ信号Ｓt（図２
（ｂ）参照）が、上記同期信号Ｓsの１周期において”
Ｈ”レベルとなっているビット数をカウントするカウン
タであり、カウント結果をカウントデータＤとして出力
する。１２は、同期信号Ｓsに同期してカウンタ１１か
ら順次入力される１周期分のカウントデータＤを記憶す
るメモリであり、第１周期から第ｎ周期（ｎ：自然数）
までのｎ個のカウントデータＤをカウントデータＤ1〜
Ｄnとして記憶する。
（ｂ）参照）が、上記同期信号Ｓsの１周期において”
Ｈ”レベルとなっているビット数をカウントするカウン
タであり、カウント結果をカウントデータＤとして出力
する。１２は、同期信号Ｓsに同期してカウンタ１１か
ら順次入力される１周期分のカウントデータＤを記憶す
るメモリであり、第１周期から第ｎ周期（ｎ：自然数）
までのｎ個のカウントデータＤをカウントデータＤ1〜
Ｄnとして記憶する。
【００１１】１３は、メモリ１２に記憶されているカウ
ントデータＤ1〜Ｄnに基づいて、図３（ａ）および
（ｂ）に示すようなヒストグラムを求めた後、このヒス
トグラムのデータ（以下、演算結果データＤsと称す
る）を出力する。ここで、図３（ａ）に示すヒストグラ
ムは、ｎ個のカウントデータＤ1〜Ｄnから得られるｎ個
のカウント値のばらつきを示すものであり、同図におい
ては、横軸がカウント値、縦軸が当該カウント値の発生
頻度である。１４は、演算部１３における演算結果（ヒ
ストグラム：図３（ａ）参照）等を表示する表示部であ
り、例えば、ランプ、発光ダイオード、液晶ディスプレ
イ等である。
ントデータＤ1〜Ｄnに基づいて、図３（ａ）および
（ｂ）に示すようなヒストグラムを求めた後、このヒス
トグラムのデータ（以下、演算結果データＤsと称す
る）を出力する。ここで、図３（ａ）に示すヒストグラ
ムは、ｎ個のカウントデータＤ1〜Ｄnから得られるｎ個
のカウント値のばらつきを示すものであり、同図におい
ては、横軸がカウント値、縦軸が当該カウント値の発生
頻度である。１４は、演算部１３における演算結果（ヒ
ストグラム：図３（ａ）参照）等を表示する表示部であ
り、例えば、ランプ、発光ダイオード、液晶ディスプレ
イ等である。
【００１２】次に、上述した一実施形態による電気光学
サンプリングオシロスコープの動作について説明する。
図２（ａ）に示す時刻ｔ1において、内部クロックＳck
が制御部１０に入力されると、制御部１０は、内部クロ
ックＳckから図２（ａ）に示す同期信号Ｓsを生成し
て、これをカウンタ１１、メモリ１２、演算部１３へ各
々出力する。
サンプリングオシロスコープの動作について説明する。
図２（ａ）に示す時刻ｔ1において、内部クロックＳck
が制御部１０に入力されると、制御部１０は、内部クロ
ックＳckから図２（ａ）に示す同期信号Ｓsを生成し
て、これをカウンタ１１、メモリ１２、演算部１３へ各
々出力する。
【００１３】これにより、カウンタ１１は、図２（ｂ）
に示すトリガ信号Ｓtが”Ｈ”レベルとなっているビッ
ト数のカウントを開始する。ここで、上記トリガ信号Ｓ
tは、長時間に亙って安定しているものとする。そし
て、今、図２（ａ）に示す時刻ｔ2になると、カウンタ
１１は、時刻ｔ1から時刻ｔ2までの期間Ｔ1における、
トリガ信号Ｓtが”Ｈ”となっているビット数のカウン
ト結果をカウントデータＤとして出力する。図２（ｂ）
に示す例では、期間Ｔ1におけるトリガ信号Ｓtのビット
が”１１００００００”であるため、カウントデータＤ
は、「２」である。この「２」のカウントデータＤは、
メモリ１２にカウントデータＤ1として記憶される。
に示すトリガ信号Ｓtが”Ｈ”レベルとなっているビッ
ト数のカウントを開始する。ここで、上記トリガ信号Ｓ
tは、長時間に亙って安定しているものとする。そし
て、今、図２（ａ）に示す時刻ｔ2になると、カウンタ
１１は、時刻ｔ1から時刻ｔ2までの期間Ｔ1における、
トリガ信号Ｓtが”Ｈ”となっているビット数のカウン
ト結果をカウントデータＤとして出力する。図２（ｂ）
に示す例では、期間Ｔ1におけるトリガ信号Ｓtのビット
が”１１００００００”であるため、カウントデータＤ
は、「２」である。この「２」のカウントデータＤは、
メモリ１２にカウントデータＤ1として記憶される。
【００１４】また、時刻ｔ2において、カウンタ１１
は、図２（ｂ）に示すトリガ信号Ｓtが”Ｈ”レベルと
なっているビット数のカウントを再び開始する。そし
て、今、図２（ａ）に示す時刻ｔ3になると、カウンタ
１１は、時刻ｔ2から時刻ｔ3までの期間Ｔ2において、
トリガ信号Ｓtが”Ｈ”となっているビット数のカウン
ト結果をカウントデータＤとして出力する。
は、図２（ｂ）に示すトリガ信号Ｓtが”Ｈ”レベルと
なっているビット数のカウントを再び開始する。そし
て、今、図２（ａ）に示す時刻ｔ3になると、カウンタ
１１は、時刻ｔ2から時刻ｔ3までの期間Ｔ2において、
トリガ信号Ｓtが”Ｈ”となっているビット数のカウン
ト結果をカウントデータＤとして出力する。
【００１５】図２（ｂ）に示す例では、期間Ｔ2におけ
るトリガ信号Ｓtのビットが、期間Ｔ1と同一の”１１０
０００００”であるため、カウントデータＤは、「２」
である。この「２」のカウントデータＤは、メモリ１２
にカウントデータＤ2として記憶される。以下、同様の
動作により図２（ａ）に示す期間Ｔ3〜Ｔnのカウントデ
ータＤ3（＝「４」）〜カウントデータＤn（＝「２」）
が、同期信号Ｓsに同期して、メモリ１２に順次記憶さ
れる。今の場合、上述したカウントデータＤ1〜Ｄnにお
いては、「２」の発生頻度が最も多く、かつ「２」以外
のカウント値の発生頻度が「２」に比して非常に少ない
ものとする。
るトリガ信号Ｓtのビットが、期間Ｔ1と同一の”１１０
０００００”であるため、カウントデータＤは、「２」
である。この「２」のカウントデータＤは、メモリ１２
にカウントデータＤ2として記憶される。以下、同様の
動作により図２（ａ）に示す期間Ｔ3〜Ｔnのカウントデ
ータＤ3（＝「４」）〜カウントデータＤn（＝「２」）
が、同期信号Ｓsに同期して、メモリ１２に順次記憶さ
れる。今の場合、上述したカウントデータＤ1〜Ｄnにお
いては、「２」の発生頻度が最も多く、かつ「２」以外
のカウント値の発生頻度が「２」に比して非常に少ない
ものとする。
【００１６】そして、図２（ａ）に示す時刻ｔn+1にお
いて、演算部１３は、メモリ１２に記憶されているカウ
ントデータＤ1〜Ｄnを読みだした後、該カウントデータ
Ｄ1〜Ｄnから得られるｎ個のカウント値の発生頻度を図
３（ａ）に示すヒストグラムとして演算する。ここで、
図３（ａ）においては、「２」のカウント値の発生頻度
が、他のカウント値に比して非常に多いことがわかる。
いて、演算部１３は、メモリ１２に記憶されているカウ
ントデータＤ1〜Ｄnを読みだした後、該カウントデータ
Ｄ1〜Ｄnから得られるｎ個のカウント値の発生頻度を図
３（ａ）に示すヒストグラムとして演算する。ここで、
図３（ａ）においては、「２」のカウント値の発生頻度
が、他のカウント値に比して非常に多いことがわかる。
【００１７】次に、演算部１３は、図３（ａ）に示すヒ
ストグラムにおいて、発生頻度が最も最も高いカウント
値（以下、最頻カウント値と称する）を認識する。図３
（ａ）に示す例では、上記最頻カウント値は、「２」で
ある。次に、演算部１３は、最頻カウント値（「２」）
の発生頻度の例えば５０％の値を示す５０％ライン（図
３（ａ）参照）を認識した後、ヒストグラムにおいて最
頻カウント値を中心値とする所定の範囲Ｈ以外の範囲に
上記５０％ライン以上の発生頻度のカウント値が存在す
るか否かを判断する。図３（ａ）に示す例では、範囲Ｈ
以外に、５０％ライン以上の発生頻度のカウント値が存
在しないため、演算部１３は、トリガ信号Ｓtが安定し
ていると判断する。
ストグラムにおいて、発生頻度が最も最も高いカウント
値（以下、最頻カウント値と称する）を認識する。図３
（ａ）に示す例では、上記最頻カウント値は、「２」で
ある。次に、演算部１３は、最頻カウント値（「２」）
の発生頻度の例えば５０％の値を示す５０％ライン（図
３（ａ）参照）を認識した後、ヒストグラムにおいて最
頻カウント値を中心値とする所定の範囲Ｈ以外の範囲に
上記５０％ライン以上の発生頻度のカウント値が存在す
るか否かを判断する。図３（ａ）に示す例では、範囲Ｈ
以外に、５０％ライン以上の発生頻度のカウント値が存
在しないため、演算部１３は、トリガ信号Ｓtが安定し
ていると判断する。
【００１８】次に、演算部１３は、図３（ａ）に示すヒ
ストグラムに対応する演算結果データＤsおよび上記判
断結果のデータを表示部１４へ出力する。これにより、
表示部１４には、図３（ａ）に示すヒストグラムが表示
される。また、表示部１４には、トリガ信号Ｓtが安定
している旨が表示されるか、またまいずれも表示されな
い。そして、測定者は、図３（ａ）に示すヒストグラム
において、特定のカウント値（「２」）の発生頻度が、
他のカウント値の発生頻度に比して非常に多いことか
ら、トリガ信号Ｓtが安定していることを認識する。こ
れと同時に測定者は、表示部１４の表示を見てトリガ信
号Ｓtが安定していることを認識する。
ストグラムに対応する演算結果データＤsおよび上記判
断結果のデータを表示部１４へ出力する。これにより、
表示部１４には、図３（ａ）に示すヒストグラムが表示
される。また、表示部１４には、トリガ信号Ｓtが安定
している旨が表示されるか、またまいずれも表示されな
い。そして、測定者は、図３（ａ）に示すヒストグラム
において、特定のカウント値（「２」）の発生頻度が、
他のカウント値の発生頻度に比して非常に多いことか
ら、トリガ信号Ｓtが安定していることを認識する。こ
れと同時に測定者は、表示部１４の表示を見てトリガ信
号Ｓtが安定していることを認識する。
【００１９】一方、トリガ信号Ｓtが不安定である場
合、演算部１３により、例えば、図３（ｂ）に示すよう
なカウント値のばらつきが非常に大きいヒストグラムが
求められる。これにより、演算部１３は、図３（ｂ）に
示す「５」を上述した最頻カウント値として認識した
後、該最頻カウント値（「５」）の発生頻度の例えば５
０％の値を示す５０％ラインを認識する。次いで、演算
部１３は、ヒストグラムにおいて最頻カウント値「５」
を中心値とする範囲Ｈ以外の範囲に上記５０％ライン以
上の発生頻度のカウント値が存在するか否かを判断す
る。図３（ｂ）に示す例では、範囲Ｈ以外に、５０％ラ
イン以上の発生頻度のカウント値が多数存在しているた
め、演算部１３は、トリガ信号Ｓtが不安定であると判
断する。
合、演算部１３により、例えば、図３（ｂ）に示すよう
なカウント値のばらつきが非常に大きいヒストグラムが
求められる。これにより、演算部１３は、図３（ｂ）に
示す「５」を上述した最頻カウント値として認識した
後、該最頻カウント値（「５」）の発生頻度の例えば５
０％の値を示す５０％ラインを認識する。次いで、演算
部１３は、ヒストグラムにおいて最頻カウント値「５」
を中心値とする範囲Ｈ以外の範囲に上記５０％ライン以
上の発生頻度のカウント値が存在するか否かを判断す
る。図３（ｂ）に示す例では、範囲Ｈ以外に、５０％ラ
イン以上の発生頻度のカウント値が多数存在しているた
め、演算部１３は、トリガ信号Ｓtが不安定であると判
断する。
【００２０】これにより、上述した動作と同様にして、
表示部１４には、図３（ｂ）に示すようにカウント値の
ばらつきが大きいヒストグラムが表示されるとともに、
トリガ信号Ｓtが不安定である旨が表示される。この結
果、測定者は、図３（ｂ）に示すヒストグラムにおい
て、カウント値が非常にばらついていること、および不
安定である旨の表示から、トリガ信号Ｓtが不安定であ
ることを認識する。
表示部１４には、図３（ｂ）に示すようにカウント値の
ばらつきが大きいヒストグラムが表示されるとともに、
トリガ信号Ｓtが不安定である旨が表示される。この結
果、測定者は、図３（ｂ）に示すヒストグラムにおい
て、カウント値が非常にばらついていること、および不
安定である旨の表示から、トリガ信号Ｓtが不安定であ
ることを認識する。
【００２１】以上説明したように本発明の一実施形態に
よる電気光学サンプリングオシロスコープによれば、ト
リガ信号Ｓtが安定度が表示部１４に表示されるように
構成されているので、トリガ信号の不安定になっている
ことに起因する測定エラーを測定者に報知することがで
きる。
よる電気光学サンプリングオシロスコープによれば、ト
リガ信号Ｓtが安定度が表示部１４に表示されるように
構成されているので、トリガ信号の不安定になっている
ことに起因する測定エラーを測定者に報知することがで
きる。
【００２２】以上、本発明の一実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設
計変更等があっても本発明に含まれる。例えば、上述し
た一実施形態による電気光学サンプリングオシロスコー
プにおいては、メモリ１２に記憶されている、隣接する
カウントデータＤnの値とカウントデータＤn+1の値と
を、同期信号Ｓsに同期させて比較することにより、ト
リガ信号Ｓtの安定度を判定するようにしてもよい。こ
の場合、演算部１３は、図２（ａ）に示す時刻ｔ3にお
いてメモリ１２に記憶されている、カウントデータＤ1
（「２」）とカウントデータＤ2（「２」）とを比較す
る。今の場合、両者が一致しているため、演算部１３
は、一致していることを示す演算結果データＤsを出力
する。この結果、表示部１４には、トリガ信号Ｓtが安
定している旨が表示される。
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設
計変更等があっても本発明に含まれる。例えば、上述し
た一実施形態による電気光学サンプリングオシロスコー
プにおいては、メモリ１２に記憶されている、隣接する
カウントデータＤnの値とカウントデータＤn+1の値と
を、同期信号Ｓsに同期させて比較することにより、ト
リガ信号Ｓtの安定度を判定するようにしてもよい。こ
の場合、演算部１３は、図２（ａ）に示す時刻ｔ3にお
いてメモリ１２に記憶されている、カウントデータＤ1
（「２」）とカウントデータＤ2（「２」）とを比較す
る。今の場合、両者が一致しているため、演算部１３
は、一致していることを示す演算結果データＤsを出力
する。この結果、表示部１４には、トリガ信号Ｓtが安
定している旨が表示される。
【００２３】そして、図２（ａ）に示す時刻ｔ4におい
て演算部１３は、メモリ１２に記憶されている、カウン
トデータＤ2（「２」）とカウントデータＤ3とを比較す
る。今の場合、両者が一致していないため、演算部１３
は、不一致であることを示す演算結果データＤsを出力
する。この結果、表示部１４には、トリガ信号Ｓtが不
安定である旨が表示される。
て演算部１３は、メモリ１２に記憶されている、カウン
トデータＤ2（「２」）とカウントデータＤ3とを比較す
る。今の場合、両者が一致していないため、演算部１３
は、不一致であることを示す演算結果データＤsを出力
する。この結果、表示部１４には、トリガ信号Ｓtが不
安定である旨が表示される。
【００２４】また、上述した一実施形態による電気光学
サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信号Ｓ
tにおける”１”ビットの数をカウントする例について
説明したが、これに限定されることなく、上記”１”ビ
ットに代えて”０”ビットをカウントするようにしても
よい。さらに、上述した電気光学サンプリングオシロス
コープにおいては、カウント値に関するヒストグラムを
求める例について説明したが、これに限定されることな
く、上記カウント値を周波数に変換したものに関するヒ
ストグラムを求めるようにしてもよい。
サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信号Ｓ
tにおける”１”ビットの数をカウントする例について
説明したが、これに限定されることなく、上記”１”ビ
ットに代えて”０”ビットをカウントするようにしても
よい。さらに、上述した電気光学サンプリングオシロス
コープにおいては、カウント値に関するヒストグラムを
求める例について説明したが、これに限定されることな
く、上記カウント値を周波数に変換したものに関するヒ
ストグラムを求めるようにしてもよい。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ト
リガ信号が不安定になっていることに起因する測定エラ
ーを測定者に報知することができるという効果が得られ
る。
リガ信号が不安定になっていることに起因する測定エラ
ーを測定者に報知することができるという効果が得られ
る。
【図１】 本発明の一実施形態による電気光学サンプリ
ングオシロスコープの要部の構成を示すブロック図であ
る。
ングオシロスコープの要部の構成を示すブロック図であ
る。
【図２】 同一実施形態による電気光学サンプリングオ
シロスコープの動作を説明する信号波形図である。
シロスコープの動作を説明する信号波形図である。
【図３】 図１に示す表示部１４の表示例（ヒストグラ
ム）を示す図である。
ム）を示す図である。
【図４】 従来の電気光学サンプリングオシロスコープ
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
１０ 制御部 １１ カウンタ １２ メモリ １３ 演算部 １４ 表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊池 潤 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 伴城 暢一 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 遠藤 善雄 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 山田 順三 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日 本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平１−98973（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−151790（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−26073（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−171663（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−276075（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−178964（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−14076（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 13/00 - 13/42
Claims (4)
- 【請求項１】 トリガ信号に基づいて生成される光パル
スを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプ
リングオシロスコープにおいて、 一定周期毎に、前記トリガ信号における”１”ビットの
数を順次カウントするカウント手段と、 前記カウント手段における複数のカウント結果のばらつ
き具合を示すヒストグラムを求める演算手段と、 前記演算手段により演算された前記ヒストグラムを表示
する表示手段とを具備することを特徴とする電気光学サ
ンプリングオシロスコープ。 - 【請求項２】 トリガ信号に基づいて生成される光パル
スを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプ
リングオシロスコープにおいて、 一定周期毎に、前記トリガ信号における”１”ビットの
数を順次カウントするカウント手段と、 前記カウント手段における複数のカウント結果のばらつ
き具合に基づいて、前記トリガ信号が安定しているか否
かを判断する判断手段と、 前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコー
プ。 - 【請求項３】 前記カウント手段の２つのカウント結果
を比較する比較手段を具備し、 前記表示手段は、前記比較手段の比較結果が一致である
とき、前記トリガ信号が安定している旨を表示する一
方、前記比較手段の比較結果が不一致であるとき、前記
トリガ信号が不安定である旨および測定エラーが発生し
ている旨を表示することを特徴とする請求項１または２
に記載の電気光学サンプリングオシロスコープ。 - 【請求項４】 前記カウント手段は、前記”１”ビット
に代えて”０”ビットをカウントすることを特徴とする
請求項１〜３のいずれかに記載の電気光学サンプリング
オシロスコープ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34557297A JP3352376B2 (ja) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34557297A JP3352376B2 (ja) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11174090A JPH11174090A (ja) | 1999-07-02 |
| JP3352376B2 true JP3352376B2 (ja) | 2002-12-03 |
Family
ID=18377507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34557297A Expired - Fee Related JP3352376B2 (ja) | 1997-12-15 | 1997-12-15 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3352376B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11352156A (ja) * | 1998-06-03 | 1999-12-24 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
-
1997
- 1997-12-15 JP JP34557297A patent/JP3352376B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11174090A (ja) | 1999-07-02 |
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