JP2987953B2 - 波形観測装置 - Google Patents
波形観測装置Info
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- JP2987953B2 JP2987953B2 JP3021015A JP2101591A JP2987953B2 JP 2987953 B2 JP2987953 B2 JP 2987953B2 JP 3021015 A JP3021015 A JP 3021015A JP 2101591 A JP2101591 A JP 2101591A JP 2987953 B2 JP2987953 B2 JP 2987953B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は波形観測装置に関し、特
に立ち上がり時間，行き過ぎ量，２乗和等の波形パラメ
ータの自動測定を高速に実行する波形観測装置に関す
る。
に立ち上がり時間，行き過ぎ量，２乗和等の波形パラメ
ータの自動測定を高速に実行する波形観測装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の波形観測装置の構成を図５に示
す。この種の波形観測装置は、波形の立ち上がり時間，
行き過ぎ量，２乗和等のパラメータの自動測定を行うこ
とができる。
す。この種の波形観測装置は、波形の立ち上がり時間，
行き過ぎ量，２乗和等のパラメータの自動測定を行うこ
とができる。
【０００３】外部より与えられる波形は波形メモリ１に
記憶され、更に画像処理装置２により表示に適したデー
タに変換され、表示装置３に画像として表示される。一
方、この波形の波形パラメータを自動測定する場合は、
パラメータ測定用の演算装置４が波形メモリ１内の波形
データにアクセスし、所定の演算を実行して波形パラメ
ータを求める。
記憶され、更に画像処理装置２により表示に適したデー
タに変換され、表示装置３に画像として表示される。一
方、この波形の波形パラメータを自動測定する場合は、
パラメータ測定用の演算装置４が波形メモリ１内の波形
データにアクセスし、所定の演算を実行して波形パラメ
ータを求める。
【０００４】例えば、オシロスコープで波形の行き過ぎ
量を求める場合について説明する。この場合、波形メモ
リには、時系列のデータが記憶されている。表示される
波形が図６に示すようなものである場合を考える。ま
ず、最もデータが集中しているレベルを２箇所見つけ
る。そして、下位レベルｃと上位レベルｂを求める。次
に、最大値ａをサーチして、以下の式より行き過ぎ量Ａ
を求める。
量を求める場合について説明する。この場合、波形メモ
リには、時系列のデータが記憶されている。表示される
波形が図６に示すようなものである場合を考える。ま
ず、最もデータが集中しているレベルを２箇所見つけ
る。そして、下位レベルｃと上位レベルｂを求める。次
に、最大値ａをサーチして、以下の式より行き過ぎ量Ａ
を求める。
【０００５】 Ａ［％］＝（ａ−ｂ）／（ｂ−ｃ）×１００
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来の方法では、演算装置４が波形メモリ１内の全デー
タをアクセスすることになる。従って、データ点数が多
いような場合は波形データのアクセスに時間がかかり、
演算の動作速度が低下する問題がある。また、この波形
パラメータ観測中は波形メモリ１内の波形データの更新
を停止する必要があるため、波形の更新そのものが遅く
なる。
従来の方法では、演算装置４が波形メモリ１内の全デー
タをアクセスすることになる。従って、データ点数が多
いような場合は波形データのアクセスに時間がかかり、
演算の動作速度が低下する問題がある。また、この波形
パラメータ観測中は波形メモリ１内の波形データの更新
を停止する必要があるため、波形の更新そのものが遅く
なる。
【０００７】本発明はこのような点に着目してなされた
ものであり、その目的は、高速な波形パラメータの測定
が可能な波形観測装置を提供することにある。
ものであり、その目的は、高速な波形パラメータの測定
が可能な波形観測装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明は、波形データを記憶する波形メモリと、波形データ
を表示データに変換する画像処理装置と、波形データの
レベル毎のデータ数からなる頻度情報を生成し保持する
自動測定用データバッファと、頻度情報を用いて波形パ
ラメータを算出する演算装置とを備えたことを特徴とす
るものである。
明は、波形データを記憶する波形メモリと、波形データ
を表示データに変換する画像処理装置と、波形データの
レベル毎のデータ数からなる頻度情報を生成し保持する
自動測定用データバッファと、頻度情報を用いて波形パ
ラメータを算出する演算装置とを備えたことを特徴とす
るものである。
【０００９】
【作用】本発明において、波形データのレベル毎のデー
タ数からなる頻度情報が生成され、この頻度情報に基づ
いて演算装置が波形パラメータを測定する。このため、
演算装置は全波形データにアクセスする必要がなくな
り、波形パラメータの測定が高速に行われる。
タ数からなる頻度情報が生成され、この頻度情報に基づ
いて演算装置が波形パラメータを測定する。このため、
演算装置は全波形データにアクセスする必要がなくな
り、波形パラメータの測定が高速に行われる。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
【００１１】図１は本発明の一実施例を示す構成図であ
り、図２は図１に示した要部の構成を詳細に示す構成図
である。また、図３は測定の状態を示すタイムチャート
であり、図４は測定の際の動作を示す説明図である。
り、図２は図１に示した要部の構成を詳細に示す構成図
である。また、図３は測定の状態を示すタイムチャート
であり、図４は測定の際の動作を示す説明図である。
【００１２】図１において、図５と同一物には同一番号
を付し再度の説明は省略する。本実施例では、波形メモ
リ１に記憶された波形データより頻度情報を生成して保
持する自動測定用データバッファ５と、頻度情報を使用
して波形パラメータ算出の演算を行う演算装置６とを備
えている。また、自動測定用データバッファ５は、波形
データＷD をデコードするデコーダ７、頻度情報をカウ
ントするカウンタ群８、頻度情報を一区画毎に項新する
データバッファ群を備えている。
を付し再度の説明は省略する。本実施例では、波形メモ
リ１に記憶された波形データより頻度情報を生成して保
持する自動測定用データバッファ５と、頻度情報を使用
して波形パラメータ算出の演算を行う演算装置６とを備
えている。また、自動測定用データバッファ５は、波形
データＷD をデコードするデコーダ７、頻度情報をカウ
ントするカウンタ群８、頻度情報を一区画毎に項新する
データバッファ群を備えている。
【００１３】また、図３（ａ）のＶs バーは波形の更新
タイミングを示す信号であり、一画面毎に発生する信号
である。Ｃk は波形データの読み出しタイミング信号、
Ｄe バーは有効データの出力期間を示す信号であり、Ｗ
D は波形データ、Ｃexは波形データをデコードしたもの
である。例えば、波形データが８ビットの場合、ＷD は
パラレル８ビットの信号であり、Ｘは０〜２５５の数字
である。
タイミングを示す信号であり、一画面毎に発生する信号
である。Ｃk は波形データの読み出しタイミング信号、
Ｄe バーは有効データの出力期間を示す信号であり、Ｗ
D は波形データ、Ｃexは波形データをデコードしたもの
である。例えば、波形データが８ビットの場合、ＷD は
パラレル８ビットの信号であり、Ｘは０〜２５５の数字
である。
【００１４】この場合、Ｖs バーの立ち下がりによっ
て、一つの画面の表示が始まる。画像処理装置２は、Ｃ
k のタイミングで、波形メモリ１より波形データを読み
出し、読み出したデータＷD を逐次表示装置３に出力し
ている。
て、一つの画面の表示が始まる。画像処理装置２は、Ｃ
k のタイミングで、波形メモリ１より波形データを読み
出し、読み出したデータＷD を逐次表示装置３に出力し
ている。
【００１５】一方、自動測定用データバッファ５内のカ
ウンタ群８は、Ｖs バーによってリセットされる。読み
出された波形データＷD はデコーダ７によってデコード
され、カウンタ群８のうち一つだけが選択されカウント
アップする。カウンタ群８のカウント値は、有効データ
の終了信号によってバッファ群９に出力され頻度情報Ｃ
x となる。頻度情報Ｃx は、例えば波形データの全デー
タ数が10,000個ある場合は、１４ビットのデータとな
る。演算装置６は、この頻度情報Ｃx を読み取って波形
パラメータの自動測定を行う。
ウンタ群８は、Ｖs バーによってリセットされる。読み
出された波形データＷD はデコーダ７によってデコード
され、カウンタ群８のうち一つだけが選択されカウント
アップする。カウンタ群８のカウント値は、有効データ
の終了信号によってバッファ群９に出力され頻度情報Ｃ
x となる。頻度情報Ｃx は、例えば波形データの全デー
タ数が10,000個ある場合は、１４ビットのデータとな
る。演算装置６は、この頻度情報Ｃx を読み取って波形
パラメータの自動測定を行う。
【００１６】図４は観測波形と頻度情報との関係を示す
図である。この頻度情報Ｃx を用いて波形パラメータを
求める例を以下に示す。
図である。この頻度情報Ｃx を用いて波形パラメータを
求める例を以下に示す。
【００１７】 平均値 ：ΣＣx ・Ｘ／Ｎ （Ｎ：波形データ
の総数） ２乗和 ：ΣＣx ・Ｘ2 最大値 ：ａ 最小値 ：ｄ オーバーシュート：（ａ−ｂ）／（ｂ−ｃ）×１００
［％］ アンダーシュート：（ｃ−ｄ）／（ｂ−ｃ）×１００
［％］ また、立ち上がり時間は、０．９ｃ＋０．１ｂとなるデ
ータと０．１ｃ＋０．９ｂとなる波形データをサーチし
て、その時間差を求める。従って、波形メモリ１をアク
セスすることになるが、上位レベルｂと下位レベルｃを
頻度情報を用いて容易に見つけることができ、パラメー
タ測定は高速に行える。
の総数） ２乗和 ：ΣＣx ・Ｘ2 最大値 ：ａ 最小値 ：ｄ オーバーシュート：（ａ−ｂ）／（ｂ−ｃ）×１００
［％］ アンダーシュート：（ｃ−ｄ）／（ｂ−ｃ）×１００
［％］ また、立ち上がり時間は、０．９ｃ＋０．１ｂとなるデ
ータと０．１ｃ＋０．９ｂとなる波形データをサーチし
て、その時間差を求める。従って、波形メモリ１をアク
セスすることになるが、上位レベルｂと下位レベルｃを
頻度情報を用いて容易に見つけることができ、パラメー
タ測定は高速に行える。
【００１８】ここで、本実施例の処理速度を従来のもの
と比較する。例えば、８ビット×１０，０００データの
波形の場合、従来装置では１０，０００回のアクセスが
必要である。これに対し、本実施例では２５６（＝
２8 ）で済むため、アクセス回数は１／４０になる。処
理時間の大部分は、波形メモリ１に対するアクセスに要
する時間であるので、約４０倍の高速化を実現できるこ
とになる。尚、波形データの量が多くなるほど、より高
速化を達成することができる。
と比較する。例えば、８ビット×１０，０００データの
波形の場合、従来装置では１０，０００回のアクセスが
必要である。これに対し、本実施例では２５６（＝
２8 ）で済むため、アクセス回数は１／４０になる。処
理時間の大部分は、波形メモリ１に対するアクセスに要
する時間であるので、約４０倍の高速化を実現できるこ
とになる。尚、波形データの量が多くなるほど、より高
速化を達成することができる。
【００１９】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明で
は、波形データを記憶する波形メモリと、波形データを
表示データに変換する画像処理装置と、波形データのレ
ベル毎のデータ数からなる頻度情報を生成し保持する自
動測定用データバッファと、頻度情報を用いて波形パラ
メータを算出する演算装置とを備えるように構成した。
この結果、演算装置が全波形データをアクセスすること
なく波形パラメータを求めることができるようになっ
た。従って、波形パラメータの測定を高速に実行するこ
とが可能な波形観測装置を実現できる。
は、波形データを記憶する波形メモリと、波形データを
表示データに変換する画像処理装置と、波形データのレ
ベル毎のデータ数からなる頻度情報を生成し保持する自
動測定用データバッファと、頻度情報を用いて波形パラ
メータを算出する演算装置とを備えるように構成した。
この結果、演算装置が全波形データをアクセスすること
なく波形パラメータを求めることができるようになっ
た。従って、波形パラメータの測定を高速に実行するこ
とが可能な波形観測装置を実現できる。
【図１】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図２】本発明の一実施例の要部の構成を示す構成図で
ある。
ある。
【図３】本発明の一実施例にかかる装置の測定状態を示
す説明図である。
す説明図である。
【図４】本発明の一実施例にかかる装置の測定状態を示
すタイムチャートである。
すタイムチャートである。
【図５】従来装置の構成を示す構成図である。
【図６】図５に示した装置の測定動作時の説明のための
説明図である。
説明図である。
１ 波形メモリ ２ 画像処理装置 ３ 表示装置 ５ 自動測定用データバッファ ６ 演算装置 ７ デコーダ ８ カウンタ群 ９ バッファ群
Claims (1)
- 【請求項１】 波形データを記憶する波形メモリ（１）
と、波形データを表示データに変換する画像処理装置
（２）と、波形データのレベル毎のデータ数からなる頻
度情報を生成し保持する自動測定用データバッファ
（５）と、頻度情報を用いて波形パラメータを算出する
演算装置（６）とを備えたことを特徴とする波形観測装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3021015A JP2987953B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 波形観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3021015A JP2987953B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 波形観測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04259861A JPH04259861A (ja) | 1992-09-16 |
| JP2987953B2 true JP2987953B2 (ja) | 1999-12-06 |
Family
ID=12043225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3021015A Expired - Fee Related JP2987953B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | 波形観測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2987953B2 (ja) |
-
1991
- 1991-02-14 JP JP3021015A patent/JP2987953B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04259861A (ja) | 1992-09-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081008 Year of fee payment: 9 |
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