JP3377943B2 - 電気光学サンプリングオシロスコープ - Google Patents
電気光学サンプリングオシロスコープInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気光学サンプリ
ングオシロスコープに関する。
ングオシロスコープに関する。
【０００２】
【従来の技術】近時、例えば、２．４Ｇｂｐｓという超
高速なビットレートの信号を扱う被測定回路の信号測定
には、被測定回路に擾乱を与えることなく測定可能な電
気光学サンプリングオシロスコープが用いられている。
ここで、上記電気光学サンプリングオシロスコープに
は、電気光学効果を利用して被測定信号を検出する電気
光学プローブが用いられる。
高速なビットレートの信号を扱う被測定回路の信号測定
には、被測定回路に擾乱を与えることなく測定可能な電
気光学サンプリングオシロスコープが用いられている。
ここで、上記電気光学サンプリングオシロスコープに
は、電気光学効果を利用して被測定信号を検出する電気
光学プローブが用いられる。
【０００３】また、上述した電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、 （１）信号を測定する際に、グランド線を必要としない
ため、測定が容易 （２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系
から各々絶縁されているので高入力インピーダンスを実
現でき、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことが
ない （３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまで
の広帯域測定が可能 といった特徴があることから、高速化が進む通信情報シ
ステムの測定に特に用いられている。
ロスコープは、 （１）信号を測定する際に、グランド線を必要としない
ため、測定が容易 （２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系
から各々絶縁されているので高入力インピーダンスを実
現でき、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことが
ない （３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまで
の広帯域測定が可能 といった特徴があることから、高速化が進む通信情報シ
ステムの測定に特に用いられている。
【０００４】図５は、上述した測定原理を用いた従来の
電気光学サンプリングオシロスコープの構成を示すブロ
ック図である。この図に示す電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、本体１および電気光学プローブ２から構
成されている。上記本体１は、トリガ回路３、タイミン
グ発生回路４、光パルス発生回路５、Ａ／Ｄ（アナログ
／ディジタル）変換器６、処理回路７、設定部８から構
成されている。
電気光学サンプリングオシロスコープの構成を示すブロ
ック図である。この図に示す電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、本体１および電気光学プローブ２から構
成されている。上記本体１は、トリガ回路３、タイミン
グ発生回路４、光パルス発生回路５、Ａ／Ｄ（アナログ
／ディジタル）変換器６、処理回路７、設定部８から構
成されている。
【０００５】トリガ回路３は、外部から入力されるトリ
ガ信号に基づいて設定部８で設定された周波数のトリガ
信号を生成する。タイミング発生回路４は、光パルスを
発生するタイミングおよびＡ／Ｄ変換器６におけるＡ／
Ｄ変換のタイミングをとるためのタイミング信号を発生
する。このタイミング信号は、希望サンプルレート、ト
リガ回路３より入力されるトリガ信号、内部クロックか
らのクロック信号から生成される。ここで、上記サンプ
ルレートとは、設定部８で設定された測定信号の時間方
向の拡大率であるｘ軸スケールに基づいて処理回路７に
おいて決定されるレートをいう。
ガ信号に基づいて設定部８で設定された周波数のトリガ
信号を生成する。タイミング発生回路４は、光パルスを
発生するタイミングおよびＡ／Ｄ変換器６におけるＡ／
Ｄ変換のタイミングをとるためのタイミング信号を発生
する。このタイミング信号は、希望サンプルレート、ト
リガ回路３より入力されるトリガ信号、内部クロックか
らのクロック信号から生成される。ここで、上記サンプ
ルレートとは、設定部８で設定された測定信号の時間方
向の拡大率であるｘ軸スケールに基づいて処理回路７に
おいて決定されるレートをいう。
【０００６】光パルス発生回路５は、タイミング発生回
路４により発生されたタイミング信号に基づいて、光パ
ルスを発生し、これを電気光学プローブ２へ供給する。
そして、偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プロー
ブ２内の偏光検出光学系（図示略）により検出され、こ
の検出結果たる検出信号は、Ａ／Ｄ変換器６により増幅
およびＡ／Ｄ変換された後、処理回路７へ入力される。
そして、処理回路７は、被測定信号を表示する等の処理
を行う。
路４により発生されたタイミング信号に基づいて、光パ
ルスを発生し、これを電気光学プローブ２へ供給する。
そして、偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プロー
ブ２内の偏光検出光学系（図示略）により検出され、こ
の検出結果たる検出信号は、Ａ／Ｄ変換器６により増幅
およびＡ／Ｄ変換された後、処理回路７へ入力される。
そして、処理回路７は、被測定信号を表示する等の処理
を行う。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の電気
光学サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信
号が不安定であったり、ランダムであったりすると、測
定結果たる被測定信号の波形が乱れるという測定エラー
が発生する。しかしながら、従来の電気光学サンプリン
グオシロスコープにおいては、測定者から見れば、トリ
ガ信号が不安定、ランダムになっていることに起因して
いる測定エラーが発生しているのか、または被測定信号
自体が不安定であって正常に測定されているのかを区別
することができないという欠点があった。本発明はこの
ような背景の下になされたもので、トリガ信号が不安定
になっていることに起因する測定エラーを測定者に報知
することができる電気光学サンプリングオシロスコープ
を提供することを目的とする。
光学サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信
号が不安定であったり、ランダムであったりすると、測
定結果たる被測定信号の波形が乱れるという測定エラー
が発生する。しかしながら、従来の電気光学サンプリン
グオシロスコープにおいては、測定者から見れば、トリ
ガ信号が不安定、ランダムになっていることに起因して
いる測定エラーが発生しているのか、または被測定信号
自体が不安定であって正常に測定されているのかを区別
することができないという欠点があった。本発明はこの
ような背景の下になされたもので、トリガ信号が不安定
になっていることに起因する測定エラーを測定者に報知
することができる電気光学サンプリングオシロスコープ
を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、前記トリガ信号の周波数スペクト
ルを一定周期毎に求める周波数スペクトル演算手段と、
２つの前記周波数スペクトルの比較結果に基づいて、前
記トリガ信号が安定しているか否かを判断する判断手段
と、前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具
備することを特徴とする。また、請求項２に記載の発明
は、請求項１に記載の電気光学サンプリングオシロスコ
ープにおいて、前記周波数スペクトル演算手段は、各々
異なる周波数帯域通過特性を有し、前記トリガ信号に対
してバンドパス処理を各々行う複数のバンドパスフィル
タと、前記複数のバンドパスフィルタの各出力信号のレ
ベルを検出する複数のレベル検出手段とから構成されて
いることを特徴とする。また、請求項３に記載の発明
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、所定の特性を有するフィルタと、
前記フィルタを通過した前記トリガ信号のレベルを検出
するレベル検出手段と、一定周期毎に、前回周期の前記
レベル検出手段の検出結果と、今回周期の前記レベル検
出手段の検出結果との比較結果に基づいて、前記トリガ
信号が安定しているか否かを判断する判断手段と、前記
判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備するこ
とを特徴とする。また、請求項４に記載の発明は、トリ
ガ信号に基づいて生成される光パルスを利用して、被測
定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシロスコー
プにおいて、第１の特性を有する第１のフィルタと、前
記第１の特性と異なる第２の特性を有する第２のフィル
タと、前記第１のフィルタを通過した前記トリガ信号の
レベルを検出する第１のレベル検出手段と、前記第２の
フィルタを通過した前記トリガ信号のレベルを検出する
第２のレベル検出手段と、一定周期毎に、前回周期の前
記第１および第２のレベル検出手段の各検出結果と、今
回周期の前記第１および第２のレベル検出手段の各検出
結果との比較結果に基づいて、前記トリガ信号が安定し
ているか否かを判断する判断手段と、前記判断手段の判
断結果を表示する表示手段とを具備することを特徴とす
る。また、請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の
電気光学サンプリングオシロスコープにおいて、前記第
１のフィルタの前記第１の特性は、その挿入損失が周波
数の増加に伴って増加する単調増加特性であり、前記第
２のフィルタの前記第２の特性は、その挿入損失が周波
数の増加に伴って減少する単調減少特性であることを特
徴とする。
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、前記トリガ信号の周波数スペクト
ルを一定周期毎に求める周波数スペクトル演算手段と、
２つの前記周波数スペクトルの比較結果に基づいて、前
記トリガ信号が安定しているか否かを判断する判断手段
と、前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具
備することを特徴とする。また、請求項２に記載の発明
は、請求項１に記載の電気光学サンプリングオシロスコ
ープにおいて、前記周波数スペクトル演算手段は、各々
異なる周波数帯域通過特性を有し、前記トリガ信号に対
してバンドパス処理を各々行う複数のバンドパスフィル
タと、前記複数のバンドパスフィルタの各出力信号のレ
ベルを検出する複数のレベル検出手段とから構成されて
いることを特徴とする。また、請求項３に記載の発明
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、所定の特性を有するフィルタと、
前記フィルタを通過した前記トリガ信号のレベルを検出
するレベル検出手段と、一定周期毎に、前回周期の前記
レベル検出手段の検出結果と、今回周期の前記レベル検
出手段の検出結果との比較結果に基づいて、前記トリガ
信号が安定しているか否かを判断する判断手段と、前記
判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備するこ
とを特徴とする。また、請求項４に記載の発明は、トリ
ガ信号に基づいて生成される光パルスを利用して、被測
定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシロスコー
プにおいて、第１の特性を有する第１のフィルタと、前
記第１の特性と異なる第２の特性を有する第２のフィル
タと、前記第１のフィルタを通過した前記トリガ信号の
レベルを検出する第１のレベル検出手段と、前記第２の
フィルタを通過した前記トリガ信号のレベルを検出する
第２のレベル検出手段と、一定周期毎に、前回周期の前
記第１および第２のレベル検出手段の各検出結果と、今
回周期の前記第１および第２のレベル検出手段の各検出
結果との比較結果に基づいて、前記トリガ信号が安定し
ているか否かを判断する判断手段と、前記判断手段の判
断結果を表示する表示手段とを具備することを特徴とす
る。また、請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の
電気光学サンプリングオシロスコープにおいて、前記第
１のフィルタの前記第１の特性は、その挿入損失が周波
数の増加に伴って増加する単調増加特性であり、前記第
２のフィルタの前記第２の特性は、その挿入損失が周波
数の増加に伴って減少する単調減少特性であることを特
徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】＜第１実施形態＞以下、図面を参
照して本発明の実施形態について説明する。図１は本発
明の第１実施形態による電気光学サンプリングオシロス
コープの要部の構成を示すブロック図である。この図に
おいて、１０は、上述した内部クロックから生成される
一定周期の同期信号Ｓsに同期させて、上述した外部か
ら入力されるトリガ信号Ｓtの波高値を一定にするリミ
ッタ回路である。
照して本発明の実施形態について説明する。図１は本発
明の第１実施形態による電気光学サンプリングオシロス
コープの要部の構成を示すブロック図である。この図に
おいて、１０は、上述した内部クロックから生成される
一定周期の同期信号Ｓsに同期させて、上述した外部か
ら入力されるトリガ信号Ｓtの波高値を一定にするリミ
ッタ回路である。
【００１０】１１1は、中心周波数がｆ1の所定周波数帯
域の信号のみを通過させるバンドパスフィルタであり、
リミッタ回路１０の出力信号のうち上記所定周波数帯域
の信号を第１のバンドパス信号Ｓf1として出力する。１
２1は、上記第１のバンドパス信号Ｓf1の電力レベルを
検出する電力計であり、検出結果を第１の電力レベル検
出信号Ｓp1として出力する。
域の信号のみを通過させるバンドパスフィルタであり、
リミッタ回路１０の出力信号のうち上記所定周波数帯域
の信号を第１のバンドパス信号Ｓf1として出力する。１
２1は、上記第１のバンドパス信号Ｓf1の電力レベルを
検出する電力計であり、検出結果を第１の電力レベル検
出信号Ｓp1として出力する。
【００１１】１３1は、アナログ／ディジタル変換機能
を有するＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換器であ
り、第１の電力レベル検出信号Ｓp1を第１の電力レベル
データＤf1に変換する。１４1は、同期信号Ｓsに同期し
て順次入力される第１の電力レベルデータＤf1をラッチ
するラッチ回路である。
を有するＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換器であ
り、第１の電力レベル検出信号Ｓp1を第１の電力レベル
データＤf1に変換する。１４1は、同期信号Ｓsに同期し
て順次入力される第１の電力レベルデータＤf1をラッチ
するラッチ回路である。
【００１２】１１2〜１１nは、中心周波数がｆ2〜ｆnの
各所定周波数帯域の信号のみを各々通過させるバンドパ
スフィルタであり、リミッタ回路１０の出力信号のうち
中心周波数がｆ2〜ｆnの周波数帯域の各信号を第２のバ
ンドパス信号Ｓf2〜第ｎのバンドパス信号Ｓfnとして各
々出力する。
各所定周波数帯域の信号のみを各々通過させるバンドパ
スフィルタであり、リミッタ回路１０の出力信号のうち
中心周波数がｆ2〜ｆnの周波数帯域の各信号を第２のバ
ンドパス信号Ｓf2〜第ｎのバンドパス信号Ｓfnとして各
々出力する。
【００１３】ここで、上述したバンドパスフィルタ１１
1〜１１nの中心周波数ｆ1〜ｆnは、それぞれ異なるよう
に設定されている。なお、上記中心周波数ｆ1〜ｆnの各
周波数帯域は、隣接する周波数帯域の一部が重複するよ
うに設定されているが、重複しないように設定してもよ
い。
1〜１１nの中心周波数ｆ1〜ｆnは、それぞれ異なるよう
に設定されている。なお、上記中心周波数ｆ1〜ｆnの各
周波数帯域は、隣接する周波数帯域の一部が重複するよ
うに設定されているが、重複しないように設定してもよ
い。
【００１４】１２2〜１２nは、バンドパスフィルタ１１
2〜１１nに対応して各々設けられた電力計であり、第２
のバンドパス信号Ｓf2〜第ｎのバンドパス信号Ｓfnの各
電力レベルを各々検出する。これらの電力計１２2〜１
２nは、各検出結果を第２の電力レベル検出信号Ｓp2〜
第ｎの電力レベル検出信号Ｓpnとして各々出力する。
2〜１１nに対応して各々設けられた電力計であり、第２
のバンドパス信号Ｓf2〜第ｎのバンドパス信号Ｓfnの各
電力レベルを各々検出する。これらの電力計１２2〜１
２nは、各検出結果を第２の電力レベル検出信号Ｓp2〜
第ｎの電力レベル検出信号Ｓpnとして各々出力する。
【００１５】１３2〜１３nは、電力計１２2〜１２nに対
応して各々設けられたＡ／Ｄ変換器であり、第２の電力
レベル検出信号Ｓp2〜第ｎの電力レベル検出信号Ｓpnを
第２の電力レベルデータＤf2〜第ｎの電力レベルデータ
Ｄfnに各々変換する。１４2〜１４nは、Ａ／Ｄ変換器１
３2〜１３nに対応して各々設けられたラッチ回路であ
り、同期信号Ｓsに同期して順次入力される第２の電力
レベルデータＤf2〜第ｎの電力レベルデータＤfnを各々
ラッチする。
応して各々設けられたＡ／Ｄ変換器であり、第２の電力
レベル検出信号Ｓp2〜第ｎの電力レベル検出信号Ｓpnを
第２の電力レベルデータＤf2〜第ｎの電力レベルデータ
Ｄfnに各々変換する。１４2〜１４nは、Ａ／Ｄ変換器１
３2〜１３nに対応して各々設けられたラッチ回路であ
り、同期信号Ｓsに同期して順次入力される第２の電力
レベルデータＤf2〜第ｎの電力レベルデータＤfnを各々
ラッチする。
【００１６】１５は、同期信号Ｓsに同期して入力され
るラッチ回路１４1の出力データと第１の電力レベルデ
ータＤf1とを比較する比較部である。すなわち、比較部
１５は、中心周波数ｆ1に関する、前回周期の第１の電
力レベルデータＤf1と今回周期の第１の電力レベルデー
タＤf1とを比較する。これと同様にして、比較部１５
は、同期信号Ｓsに同期して入力されるラッチ回路１４2
〜１４nの各出力データと第２の電力レベルデータＤf2
〜第ｎの電力レベルデータＤfnとを比較する。
るラッチ回路１４1の出力データと第１の電力レベルデ
ータＤf1とを比較する比較部である。すなわち、比較部
１５は、中心周波数ｆ1に関する、前回周期の第１の電
力レベルデータＤf1と今回周期の第１の電力レベルデー
タＤf1とを比較する。これと同様にして、比較部１５
は、同期信号Ｓsに同期して入力されるラッチ回路１４2
〜１４nの各出力データと第２の電力レベルデータＤf2
〜第ｎの電力レベルデータＤfnとを比較する。
【００１７】つまり、比較部１５は、周波数ｆ1〜ｆn毎
に前回周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnと今回周期の第１の電力レベルデータ
Ｄf1〜第ｎの電力レベルデータＤfnとを同期信号Ｓsに
同期して順次比較する。また、比較部１５は、上述した
比較結果を比較結果信号Ｓcとして出力する。１６は、
比較部１５の比較結果を表示する表示部である。
に前回周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnと今回周期の第１の電力レベルデータ
Ｄf1〜第ｎの電力レベルデータＤfnとを同期信号Ｓsに
同期して順次比較する。また、比較部１５は、上述した
比較結果を比較結果信号Ｓcとして出力する。１６は、
比較部１５の比較結果を表示する表示部である。
【００１８】次に、上述した第１実施形態による電気光
学サンプリングオシロスコープの動作について説明す
る。図１において、外部よりトリガ信号Ｓtが入力され
ると、該トリガ信号Ｓtは第１周期（図２（ａ）参照）
の同期信号Ｓsに同期してリミッタ回路１０により波形
生成処理が施された後、バンドパスフィルタ１１1〜１
１nへ各々入力される。
学サンプリングオシロスコープの動作について説明す
る。図１において、外部よりトリガ信号Ｓtが入力され
ると、該トリガ信号Ｓtは第１周期（図２（ａ）参照）
の同期信号Ｓsに同期してリミッタ回路１０により波形
生成処理が施された後、バンドパスフィルタ１１1〜１
１nへ各々入力される。
【００１９】これにより、バンドパスフィルタ１１1〜
１１nからは、中心周波数ｆ1〜ｆnの各所定周波数帯域
の第１のバンドパス信号Ｓf1〜第ｎのバンドパス信号Ｓ
fnが各々出力される。そして、これらの第１のバンドパ
ス信号Ｓf1〜第ｎのバンドパス信号Ｓfnは、電力計１２
1〜１２nにより第１の電力レベル検出信号Ｓp1〜第ｎの
電力レベル検出信号Ｓpnに各々変換された後、さらに、
これらの第１の電力レベル検出信号Ｓp1〜第ｎの電力レ
ベル検出信号Ｓpnは、Ａ／Ｄ変換器１３1〜１３nにより
図２（ａ）に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの
電力レベルデータＤfnに各々変換される。
１１nからは、中心周波数ｆ1〜ｆnの各所定周波数帯域
の第１のバンドパス信号Ｓf1〜第ｎのバンドパス信号Ｓ
fnが各々出力される。そして、これらの第１のバンドパ
ス信号Ｓf1〜第ｎのバンドパス信号Ｓfnは、電力計１２
1〜１２nにより第１の電力レベル検出信号Ｓp1〜第ｎの
電力レベル検出信号Ｓpnに各々変換された後、さらに、
これらの第１の電力レベル検出信号Ｓp1〜第ｎの電力レ
ベル検出信号Ｓpnは、Ａ／Ｄ変換器１３1〜１３nにより
図２（ａ）に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの
電力レベルデータＤfnに各々変換される。
【００２０】そして、上記第１の電力レベルデータＤf1
〜第ｎの電力レベルデータＤfnは、ラッチ回路１４1〜
１４nに、第１の周期（図２（ａ）参照）の同期信号Ｓs
に同期して各々ラッチされるとともに、比較部１５へ各
々入力される。また、上記ラッチ動作と同時に、ラッチ
回路１４1〜１４nからは、前回の周期においてラッチさ
れていた第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベ
ルデータＤfnが比較部１５へ出力される。ただし、今の
場合、前回の周期において、ラッチ回路１４1〜１４nに
は、いずれのデータもラッチされていないものとし、従
って、ラッチ回路１４1〜１４nからは、いずれのデータ
も出力されない。
〜第ｎの電力レベルデータＤfnは、ラッチ回路１４1〜
１４nに、第１の周期（図２（ａ）参照）の同期信号Ｓs
に同期して各々ラッチされるとともに、比較部１５へ各
々入力される。また、上記ラッチ動作と同時に、ラッチ
回路１４1〜１４nからは、前回の周期においてラッチさ
れていた第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベ
ルデータＤfnが比較部１５へ出力される。ただし、今の
場合、前回の周期において、ラッチ回路１４1〜１４nに
は、いずれのデータもラッチされていないものとし、従
って、ラッチ回路１４1〜１４nからは、いずれのデータ
も出力されない。
【００２１】そして、第２の周期（図２（ｂ）参照）の
同期信号Ｓsに同期して、リミッタ回路１０からは、波
形整形処理が施されたトリガ信号Ｓtがバンドパスフィ
ルタ１１1〜１１nへ出力される。これにより、上述した
動作を経て、Ａ／Ｄ変換器１３1からは、例えば、図２
（ｂ）に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnが各々ラッチ回路１４1〜１４nおよび
比較部１５へ各々出力される。
同期信号Ｓsに同期して、リミッタ回路１０からは、波
形整形処理が施されたトリガ信号Ｓtがバンドパスフィ
ルタ１１1〜１１nへ出力される。これにより、上述した
動作を経て、Ａ／Ｄ変換器１３1からは、例えば、図２
（ｂ）に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnが各々ラッチ回路１４1〜１４nおよび
比較部１５へ各々出力される。
【００２２】これにより、ラッチ回路１４1〜１４nに
は、図２（ｂ）に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第
ｎの電力レベルデータＤfnが各々ラッチされる。また、
これと同時に、ラッチ回路１４1〜１４nからは、図２
（ａ）に示す第１周期の第１の電力レベルデータＤf1〜
第ｎの電力レベルデータＤfnが比較部１５へ出力され
る。
は、図２（ｂ）に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第
ｎの電力レベルデータＤfnが各々ラッチされる。また、
これと同時に、ラッチ回路１４1〜１４nからは、図２
（ａ）に示す第１周期の第１の電力レベルデータＤf1〜
第ｎの電力レベルデータＤfnが比較部１５へ出力され
る。
【００２３】これにより、比較部１５は、図２（ａ）に
示す第１周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電
力レベルデータＤfnと、図２（ｂ）に示す第２周期の第
１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデータＤ
fnとを周波数毎にレベル比較する。
示す第１周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電
力レベルデータＤfnと、図２（ｂ）に示す第２周期の第
１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデータＤ
fnとを周波数毎にレベル比較する。
【００２４】すなわち、比較部１５は、前回周期の第１
の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデータＤfn
と今回周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnとの周波数毎の各レベルが一致してい
る場合、トリガ信号Ｓtが安定している旨を表す比較結
果信号Ｓcを出力する一方、各レベルが不一致である場
合、トリガ信号Ｓtが不安定であることを表す比較結果
信号Ｓcを出力する。
の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデータＤfn
と今回周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnとの周波数毎の各レベルが一致してい
る場合、トリガ信号Ｓtが安定している旨を表す比較結
果信号Ｓcを出力する一方、各レベルが不一致である場
合、トリガ信号Ｓtが不安定であることを表す比較結果
信号Ｓcを出力する。
【００２５】また、トリガ信号Ｓtが安定である旨を表
す比較結果信号Ｓcが出力された場合、表示部１６に
は、トリガ信号Ｓtが安定している旨が表示されるか、
またはいずれの表示もされない。一方、トリガ信号Ｓt
が不安定である旨を表す比較結果信号Ｓcが出力された
場合、表示部１６には、トリガ信号Ｓtが不安定である
旨が表示される。
す比較結果信号Ｓcが出力された場合、表示部１６に
は、トリガ信号Ｓtが安定している旨が表示されるか、
またはいずれの表示もされない。一方、トリガ信号Ｓt
が不安定である旨を表す比較結果信号Ｓcが出力された
場合、表示部１６には、トリガ信号Ｓtが不安定である
旨が表示される。
【００２６】今の場合、比較部１５は、図２（ａ）に示
す第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデー
タＤfnと、図２（ｂ）に示す第１の電力レベルデータＤ
f1〜第ｎの電力レベルデータＤfnとの各周波数毎のレベ
ルが不一致であるため、トリガ信号Ｓtが不安定である
旨を表す比較結果信号Ｓcを表示部１６へ出力する。こ
れにより、表示部１６には、トリガ信号Ｓtが不安定で
ある旨が表示される。
す第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデー
タＤfnと、図２（ｂ）に示す第１の電力レベルデータＤ
f1〜第ｎの電力レベルデータＤfnとの各周波数毎のレベ
ルが不一致であるため、トリガ信号Ｓtが不安定である
旨を表す比較結果信号Ｓcを表示部１６へ出力する。こ
れにより、表示部１６には、トリガ信号Ｓtが不安定で
ある旨が表示される。
【００２７】また、比較部１５からは、図２（ａ）に示
す第１周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnと、図２（ｂ）に示す第１周期の第１
の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデータＤfn
が表示部１６へ各々出力される。これにより、表示部１
６には、図２（ａ）および（ｂ）に示す周波数スペクト
ルが各々表示される。
す第１周期の第１の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力
レベルデータＤfnと、図２（ｂ）に示す第１周期の第１
の電力レベルデータＤf1〜第ｎの電力レベルデータＤfn
が表示部１６へ各々出力される。これにより、表示部１
６には、図２（ａ）および（ｂ）に示す周波数スペクト
ルが各々表示される。
【００２８】以上説明したように、本発明の第１実施形
態による電気光学サンプリングオシロスコープによれ
ば、トリガ信号Ｓtにおける前回周期の周波数スペクト
ルと、今回周期の周波数スペクトルとの比較結果によ
り、トリガ信号Ｓtが安定しているか、不安定であるか
を表示部１６に表示するように構成したので、トリガ信
号Ｓtが不安定になっていることに起因する測定エラー
を測定者に報知することができる。
態による電気光学サンプリングオシロスコープによれ
ば、トリガ信号Ｓtにおける前回周期の周波数スペクト
ルと、今回周期の周波数スペクトルとの比較結果によ
り、トリガ信号Ｓtが安定しているか、不安定であるか
を表示部１６に表示するように構成したので、トリガ信
号Ｓtが不安定になっていることに起因する測定エラー
を測定者に報知することができる。
【００２９】また、上述した第１実施形態による電気光
学サンプリングオシロスコープによれば、トリガ信号Ｓ
tにおける前回周期の周波数スペクトルと、今回周期の
周波数スペクトルとを比較しているので、トリガ信号Ｓ
tの周期およびパルス幅の変動をも検出することができ
る。
学サンプリングオシロスコープによれば、トリガ信号Ｓ
tにおける前回周期の周波数スペクトルと、今回周期の
周波数スペクトルとを比較しているので、トリガ信号Ｓ
tの周期およびパルス幅の変動をも検出することができ
る。
【００３０】さらに、上述した第１実施形態による電気
光学サンプリングオシロスコープによれば、トリガ信号
Ｓtの周波数スペクトルを得るように構成したので、ト
リガ信号Ｓtの周波数が高い場合であっても、トリガ信
号Ｓtの安定、不安定を判断することができる。
光学サンプリングオシロスコープによれば、トリガ信号
Ｓtの周波数スペクトルを得るように構成したので、ト
リガ信号Ｓtの周波数が高い場合であっても、トリガ信
号Ｓtの安定、不安定を判断することができる。
【００３１】なお、上述した第１実施形態による電気光
学サンプリングオシロスコープにおいては、Ａ／Ｄ変換
器１３1〜１３n、ラッチ回路１４1〜１４nとしてサンプ
ルホールド型のものを用いてもよい。
学サンプリングオシロスコープにおいては、Ａ／Ｄ変換
器１３1〜１３n、ラッチ回路１４1〜１４nとしてサンプ
ルホールド型のものを用いてもよい。
【００３２】＜第２実施形態＞図３は本発明の第２実施
形態による電気光学サンプリングオシロスコープの要部
の構成を示すブロック図である。この図において、２０
は、リミッタ回路１０と同一構成のリミッタ回路であ
り、トリガ信号Ｓtの波高値を一定にする。２１1は、図
４（ａ）に示すように周波数の増加に伴ってその挿入損
失が単調減少する、というフィルタ特性を有するフィル
タ回路であり、リミッタ回路２０の出力信号に対してフ
ィルタリングを施す。２２1は、フィルタ回路２１1の出
力信号Ｓh1の電力レベルを検出する電力計であり、検出
結果を第１の電力レベル検出信号Ｓp1として出力する。
形態による電気光学サンプリングオシロスコープの要部
の構成を示すブロック図である。この図において、２０
は、リミッタ回路１０と同一構成のリミッタ回路であ
り、トリガ信号Ｓtの波高値を一定にする。２１1は、図
４（ａ）に示すように周波数の増加に伴ってその挿入損
失が単調減少する、というフィルタ特性を有するフィル
タ回路であり、リミッタ回路２０の出力信号に対してフ
ィルタリングを施す。２２1は、フィルタ回路２１1の出
力信号Ｓh1の電力レベルを検出する電力計であり、検出
結果を第１の電力レベル検出信号Ｓp1として出力する。
【００３３】２３1は、第１の電力レベル検出信号Ｓp1
を第１の電力レベルデータＤf1に変換するＡ／Ｄ変換器
である。２４1は、同期信号Ｓsに同期して順次入力され
る第１の電力レベルデータＤf1をラッチするラッチ回路
である。
を第１の電力レベルデータＤf1に変換するＡ／Ｄ変換器
である。２４1は、同期信号Ｓsに同期して順次入力され
る第１の電力レベルデータＤf1をラッチするラッチ回路
である。
【００３４】２１2は、図４（ｂ）に示すように周波数
の増加に伴ってその挿入損失が単調増加する、というフ
ィルタ特性を有するフィルタ回路であり、リミッタ回路
２０の出力信号に対してフィルタリングを施す。２２2
は、フィルタ回路２１2の第２の出力信号Ｓh2の電力レ
ベルを検出する電力計であり、検出結果を第２の電力レ
ベル検出信号Ｓp2として出力する。
の増加に伴ってその挿入損失が単調増加する、というフ
ィルタ特性を有するフィルタ回路であり、リミッタ回路
２０の出力信号に対してフィルタリングを施す。２２2
は、フィルタ回路２１2の第２の出力信号Ｓh2の電力レ
ベルを検出する電力計であり、検出結果を第２の電力レ
ベル検出信号Ｓp2として出力する。
【００３５】２３2は、第２の電力レベル検出信号Ｓp2
を第２の電力レベルデータＤf2に変換するＡ／Ｄ変換器
である。２４2は、同期信号Ｓsに同期して順次入力され
る第２の電力レベルデータＤf2をラッチするラッチ回路
である。２５は、同期信号Ｓsに同期して入力されるラ
ッチ回路２４1の出力データと第１の電力レベルデータ
Ｄf1とを比較する比較部である。さらに、これと同様に
して比較部２５は、同期信号Ｓsに同期して入力される
ラッチ回路２４2の出力データと第２の電力レベルデー
タＤf2とを比較する。また、比較部２５は、上述した比
較結果を比較結果信号Ｓcとして出力する。２６は、比
較部２５の比較結果を表示する表示部である。
を第２の電力レベルデータＤf2に変換するＡ／Ｄ変換器
である。２４2は、同期信号Ｓsに同期して順次入力され
る第２の電力レベルデータＤf2をラッチするラッチ回路
である。２５は、同期信号Ｓsに同期して入力されるラ
ッチ回路２４1の出力データと第１の電力レベルデータ
Ｄf1とを比較する比較部である。さらに、これと同様に
して比較部２５は、同期信号Ｓsに同期して入力される
ラッチ回路２４2の出力データと第２の電力レベルデー
タＤf2とを比較する。また、比較部２５は、上述した比
較結果を比較結果信号Ｓcとして出力する。２６は、比
較部２５の比較結果を表示する表示部である。
【００３６】次に、上述した第２実施形態による電気光
学サンプリングオシロスコープの動作について説明す
る。図３において、外部よりトリガ信号Ｓtが入力され
ると、該トリガ信号Ｓtは、第１周期の同期信号Ｓsに同
期してリミッタ回路２０により波形整形処理が施された
後、フィルタ回路２１1〜２１2へ各々入力される。
学サンプリングオシロスコープの動作について説明す
る。図３において、外部よりトリガ信号Ｓtが入力され
ると、該トリガ信号Ｓtは、第１周期の同期信号Ｓsに同
期してリミッタ回路２０により波形整形処理が施された
後、フィルタ回路２１1〜２１2へ各々入力される。
【００３７】これにより、フィルタ回路２１1からは、
図４（ａ）に示す特性でフィルタリングされた信号が、
第１の出力信号Ｓh1として出力される一方、フィルタ回
路２１2からは、図４（ｂ）に示す特性でフィルタリン
グされた信号が第２の出力信号Ｓh2として出力される。
これにより、電力計２２1および２２2からは、第１の出
力信号Ｓh1および第２の出力信号Ｓh2の各電力レベルを
示す第１の電力レベル検出信号Ｓp1および第２の電力レ
ベル検出信号Ｓp2が各々出力される。
図４（ａ）に示す特性でフィルタリングされた信号が、
第１の出力信号Ｓh1として出力される一方、フィルタ回
路２１2からは、図４（ｂ）に示す特性でフィルタリン
グされた信号が第２の出力信号Ｓh2として出力される。
これにより、電力計２２1および２２2からは、第１の出
力信号Ｓh1および第２の出力信号Ｓh2の各電力レベルを
示す第１の電力レベル検出信号Ｓp1および第２の電力レ
ベル検出信号Ｓp2が各々出力される。
【００３８】そして、上記第１の電力レベル検出信号Ｓ
p1および第２の電力レベル検出信号Ｓp2は、Ａ／Ｄ変換
器２３1および２３2により第１の電力レベルデータＤf1
および第２の電力レベルデータＤf2に各々変換され、該
第１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベルデ
ータＤf2は、ラッチ回路２４1および２４2に入力される
とともに、比較部２５へ各々入力される。
p1および第２の電力レベル検出信号Ｓp2は、Ａ／Ｄ変換
器２３1および２３2により第１の電力レベルデータＤf1
および第２の電力レベルデータＤf2に各々変換され、該
第１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベルデ
ータＤf2は、ラッチ回路２４1および２４2に入力される
とともに、比較部２５へ各々入力される。
【００３９】また、上記ラッチ動作と同時に、ラッチ回
路２４1および２４2からは、前回の周期においてラッチ
されていた第１の電力レベルデータＤf1および第２の電
力レベルデータＤf2が比較部２５へ出力される。ただ
し、今の場合、前回の周期において、ラッチ回路２４1
および２４2には、いずれのデータもラッチされていな
いものとし、従って、ラッチ回路２４1および２４2から
は、いずれのデータも出力されない。
路２４1および２４2からは、前回の周期においてラッチ
されていた第１の電力レベルデータＤf1および第２の電
力レベルデータＤf2が比較部２５へ出力される。ただ
し、今の場合、前回の周期において、ラッチ回路２４1
および２４2には、いずれのデータもラッチされていな
いものとし、従って、ラッチ回路２４1および２４2から
は、いずれのデータも出力されない。
【００４０】そして、第２の周期の同期信号Ｓsに同期
して、リミッタ回路２０からは、波形整形処理が施され
たトリガ信号Ｓtがフィルタ回路２１1および２１2へ出
力される。これにより、上述した動作を経て、Ａ／Ｄ変
換器２３1および２３2からは、第１の電力レベルデータ
Ｄf1および第２の電力レベルデータＤf2がラッチ回路２
４1および２４2、ならびに比較部２５へ各々出力され
る。
して、リミッタ回路２０からは、波形整形処理が施され
たトリガ信号Ｓtがフィルタ回路２１1および２１2へ出
力される。これにより、上述した動作を経て、Ａ／Ｄ変
換器２３1および２３2からは、第１の電力レベルデータ
Ｄf1および第２の電力レベルデータＤf2がラッチ回路２
４1および２４2、ならびに比較部２５へ各々出力され
る。
【００４１】これにより、ラッチ回路２４1および２４2
には、第２周期の第１の電力レベルデータＤf1および第
２の電力レベルデータＤf2が各々ラッチされると同時
に、ラッチ回路２４1および２４2からは、第１周期の第
１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベルデー
タＤf2が比較部２５へ出力される。
には、第２周期の第１の電力レベルデータＤf1および第
２の電力レベルデータＤf2が各々ラッチされると同時
に、ラッチ回路２４1および２４2からは、第１周期の第
１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベルデー
タＤf2が比較部２５へ出力される。
【００４２】これにより、比較部２５は、第１周期にお
ける第１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベ
ルデータＤf2と、第２周期における第１の電力レベルデ
ータＤf1および第２の電力レベルデータＤf2とを各々レ
ベル比較する。
ける第１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベ
ルデータＤf2と、第２周期における第１の電力レベルデ
ータＤf1および第２の電力レベルデータＤf2とを各々レ
ベル比較する。
【００４３】すなわち、比較部２５は、前回周期におけ
る第１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベル
データＤf2と今回周期における第１の電力レベルデータ
Ｄf1および第２の電力レベルデータＤf2との各レベルが
一致している場合、トリガ信号Ｓtが安定している旨を
表す比較結果信号Ｓcを出力する。一方、比較部２５
は、上記各レベルが一致していない場合、トリガ信号Ｓ
tが不安定である旨を表す比較結果信号Ｓcを出力する。
る第１の電力レベルデータＤf1および第２の電力レベル
データＤf2と今回周期における第１の電力レベルデータ
Ｄf1および第２の電力レベルデータＤf2との各レベルが
一致している場合、トリガ信号Ｓtが安定している旨を
表す比較結果信号Ｓcを出力する。一方、比較部２５
は、上記各レベルが一致していない場合、トリガ信号Ｓ
tが不安定である旨を表す比較結果信号Ｓcを出力する。
【００４４】また、トリガ信号Ｓtが安定である旨を表
す比較結果信号Ｓcが出力された場合、表示部２６に
は、トリガ信号Ｓtが安定している旨が表示されるか、
またはいずれの表示もされない。一方、トリガ信号Ｓt
が不安定である旨を表す比較結果信号Ｓcが出力された
場合、表示部２６には、トリガ信号Ｓtが不安定である
旨が表示される。
す比較結果信号Ｓcが出力された場合、表示部２６に
は、トリガ信号Ｓtが安定している旨が表示されるか、
またはいずれの表示もされない。一方、トリガ信号Ｓt
が不安定である旨を表す比較結果信号Ｓcが出力された
場合、表示部２６には、トリガ信号Ｓtが不安定である
旨が表示される。
【００４５】以上説明したように、上述した第２実施形
態による電気光学サンプリングオシロスコープによれ
ば、フィルタリング特性が各々異なるフィルタ回路２１
1および２１2を用いているので、第１実施形態による電
気光学サンプリングオシロスコープの効果に加えて構成
を簡易にすることができるという効果が得られる。
態による電気光学サンプリングオシロスコープによれ
ば、フィルタリング特性が各々異なるフィルタ回路２１
1および２１2を用いているので、第１実施形態による電
気光学サンプリングオシロスコープの効果に加えて構成
を簡易にすることができるという効果が得られる。
【００４６】以上、本発明の第１および第２実施形態を
図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれら
の第１および第２実施形態に限られるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等があっても本
発明に含まれる。例えば、上述した第２実施形態による
電気光学サンプリングオシロスコープにおいては、図３
に示す２つのフィルタ回路２１1および２１2を用いた例
について説明したが、これに限定されることなくフィル
タ回路２１1および２１2のうちいずれか一方を用いる構
成としてもよい。
図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれら
の第１および第２実施形態に限られるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等があっても本
発明に含まれる。例えば、上述した第２実施形態による
電気光学サンプリングオシロスコープにおいては、図３
に示す２つのフィルタ回路２１1および２１2を用いた例
について説明したが、これに限定されることなくフィル
タ回路２１1および２１2のうちいずれか一方を用いる構
成としてもよい。
【００４７】すなわち、フィルタ回路２１1のみを用い
る場合には、フィルタ回路２１2、電力計２２2、Ａ／Ｄ
変換器２３2およびラッチ回路２４2が不要となる。一
方、フィルタ回路２１2のみを用いる場合には、フィル
タ回路２１1、電力計２２1、Ａ／Ｄ変換器２３1および
ラッチ回路２４1が不要となる。従って、この変形例の
場合には、第２実施形態による電気光学サンプリングオ
シロスコープに比してさらに構成を簡略化することがで
きるという効果が得られる。
る場合には、フィルタ回路２１2、電力計２２2、Ａ／Ｄ
変換器２３2およびラッチ回路２４2が不要となる。一
方、フィルタ回路２１2のみを用いる場合には、フィル
タ回路２１1、電力計２２1、Ａ／Ｄ変換器２３1および
ラッチ回路２４1が不要となる。従って、この変形例の
場合には、第２実施形態による電気光学サンプリングオ
シロスコープに比してさらに構成を簡略化することがで
きるという効果が得られる。
【００４８】ただし、１個のフィルタ回路２１1（また
は２１2）を用いた場合には、トリガ信号Ｓｔの周波数
とデューティ比が同時に変化したときに周波数成分の総
和が、そのフィルタ特性と逆特性に変化すると、電力計
２３1（または２３2）により検出される出力信号Ｓh1
（またはＳh2）の電力値が検出できないという状況がま
れであるが発生する。このような状況が発生する場合に
は、第２実施形態による電気光学サンプリングオシロス
コープのごとき２個のフィルタ回路２１1および２１2を
用いた構成を採用すればよい。
は２１2）を用いた場合には、トリガ信号Ｓｔの周波数
とデューティ比が同時に変化したときに周波数成分の総
和が、そのフィルタ特性と逆特性に変化すると、電力計
２３1（または２３2）により検出される出力信号Ｓh1
（またはＳh2）の電力値が検出できないという状況がま
れであるが発生する。このような状況が発生する場合に
は、第２実施形態による電気光学サンプリングオシロス
コープのごとき２個のフィルタ回路２１1および２１2を
用いた構成を採用すればよい。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、表
示手段にトリガ信号が安定であるか否かを表示するよう
にしたので、トリガ信号が不安定になっていることに起
因する測定エラーを測定者に報知することができるとい
う効果が得られる。
示手段にトリガ信号が安定であるか否かを表示するよう
にしたので、トリガ信号が不安定になっていることに起
因する測定エラーを測定者に報知することができるとい
う効果が得られる。
【図１】 本発明の第１実施形態による電気光学サンプ
リングオシロスコープの要部の構成を示すブロック図で
ある。
リングオシロスコープの要部の構成を示すブロック図で
ある。
【図２】 図１に示す第１の電力レベルデータＤf1〜第
ｎの電力レベルデータＤfnを示す図である。
ｎの電力レベルデータＤfnを示す図である。
【図３】 同第２実施形態による電気光学サンプリング
オシロスコープの要部の構成を示すブロック図である。
オシロスコープの要部の構成を示すブロック図である。
【図４】 図３に示すフィルタ回路２１1、２１2の各フ
ィルタ特性を示す図である。
ィルタ特性を示す図である。
【図５】 従来の電気光学サンプリングオシロスコープ
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
１０ リミッタ回路
１１1〜１１n バンドパスフィルタ
１２1〜１２n 電力計
１３1〜１３n Ａ／Ｄ変換器
１４1〜１４n ラッチ回路
１５ 比較部
１６ 表示部
２０ リミッタ回路
２１1、２１2 フィルタ回路
２２1、２２2 電力計
２３1、２３2 Ａ／Ｄ変換器
２４1、２４2 ラッチ回路
２５ 比較部
２６ 表示部
フロントページの続き
(72)発明者 菊池 潤
東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤
電気株式会社内
(72)発明者 伴城 暢一
東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤
電気株式会社内
(72)発明者 遠藤 善雄
東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤
電気株式会社内
(72)発明者 品川 満
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(72)発明者 永妻 忠夫
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(72)発明者 山田 順三
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(56)参考文献 特開 平６−201803（ＪＰ，Ａ)
特開 平９−211032（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−234250（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−372869（ＪＰ，Ａ)
特開 昭56−31654（ＪＰ，Ａ)
実開 平５−75680（ＪＰ，Ｕ)
実開 平５−17569（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 13/00 - 13/42
Claims (5)
- 【請求項１】 トリガ信号に基づいて生成される光パル
スを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプ
リングオシロスコープにおいて、 前記トリガ信号の周波数スペクトルを一定周期毎に求め
る周波数スペクトル演算手段と、 ２つの前記周波数スペクトルの比較結果に基づいて、前
記トリガ信号が安定しているか否かを判断する判断手段
と、 前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコー
プ。 - 【請求項２】 前記周波数スペクトル演算手段は、 各々異なる周波数帯域通過特性を有し、前記トリガ信号
に対してバンドパス処理を各々行う複数のバンドパスフ
ィルタと、 前記複数のバンドパスフィルタの各出力信号のレベルを
検出する複数のレベル検出手段とから構成されているこ
とを特徴とする請求項１に記載の電気光学サンプリング
オシロスコープ。 - 【請求項３】 トリガ信号に基づいて生成される光パル
スを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプ
リングオシロスコープにおいて、 所定の特性を有するフィルタと、 前記フィルタを通過した前記トリガ信号のレベルを検出
するレベル検出手段と、 一定周期毎に、前回周期の前記レベル検出手段の検出結
果と、今回周期の前記レベル検出手段の検出結果との比
較結果に基づいて、前記トリガ信号が安定しているか否
かを判断する判断手段と、 前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコー
プ。 - 【請求項４】 トリガ信号に基づいて生成される光パル
スを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプ
リングオシロスコープにおいて、 第１の特性を有する第１のフィルタと、 前記第１の特性と異なる第２の特性を有する第２のフィ
ルタと、 前記第１のフィルタを通過した前記トリガ信号のレベル
を検出する第１のレベル検出手段と、 前記第２のフィルタを通過した前記トリガ信号のレベル
を検出する第２のレベル検出手段と、 一定周期毎に、前回周期の前記第１および第２のレベル
検出手段の各検出結果と、今回周期の前記第１および第
２のレベル検出手段の各検出結果との比較結果に基づい
て、前記トリガ信号が安定しているか否かを判断する判
断手段と、 前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコー
プ。 - 【請求項５】 前記第１のフィルタの前記第１の特性
は、その挿入損失が周波数の増加に伴って増加する単調
増加特性であり、 前記第２のフィルタの前記第２の特性は、その挿入損失
が周波数の増加に伴って減少する単調減少特性であるこ
とを特徴とする請求項４に記載の電気光学サンプリング
オシロスコープ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00512698A JP3377943B2 (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00512698A JP3377943B2 (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11201996A JPH11201996A (ja) | 1999-07-30 |
| JP3377943B2 true JP3377943B2 (ja) | 2003-02-17 |
Family
ID=11602634
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00512698A Expired - Fee Related JP3377943B2 (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3377943B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11352156A (ja) * | 1998-06-03 | 1999-12-24 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
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