JP3406491B2 - 電気光学サンプリングオシロスコープ - Google Patents
電気光学サンプリングオシロスコープInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定信号の波形
観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延回路から
の信号に基づいて生成される光パルスを利用して、被測
定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシロスコー
プであって、特にトリガ信号を遅延させる遅延回路に特
徴を有する電気光学サンプリングオシロスコープに関す
るものである。
観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延回路から
の信号に基づいて生成される光パルスを利用して、被測
定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシロスコー
プであって、特にトリガ信号を遅延させる遅延回路に特
徴を有する電気光学サンプリングオシロスコープに関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】被測定信号によって発生する電界を電気
光学結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観
測することができる。ここでレーザ光をパルス状にし、
被測定信号をサンプリングすると非常に高い時間分解能
で測定することができる。この現象を利用した電気光学
プローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコ
ープである。この電気光学サンプリングオシロスコープ
（以下「ＥＯＳオシロスコープ」と略記する）は、電気
式プローブを用いた従来のサンプリングオシロスコープ
と比較し、 １）信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易 ２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高入力インピーダンスを実現で
き、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことがない ３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまでの
広帯域測定が可能 といった特徴があり注目を集めている（品川ら：”ＥＯ
Ｓによるハンディ型ハイインピーダンスプローブ”、第
１５回光波センシング技術研究会 講演論文集応用物理
学会・光波センシング技術研究会、１９９５年５月、ｐ
ｐ．１２３−１２９）。
光学結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観
測することができる。ここでレーザ光をパルス状にし、
被測定信号をサンプリングすると非常に高い時間分解能
で測定することができる。この現象を利用した電気光学
プローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコ
ープである。この電気光学サンプリングオシロスコープ
（以下「ＥＯＳオシロスコープ」と略記する）は、電気
式プローブを用いた従来のサンプリングオシロスコープ
と比較し、 １）信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易 ２）電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高入力インピーダンスを実現で
き、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことがない ３）光パルスを利用することからＧＨｚオーダーまでの
広帯域測定が可能 といった特徴があり注目を集めている（品川ら：”ＥＯ
Ｓによるハンディ型ハイインピーダンスプローブ”、第
１５回光波センシング技術研究会 講演論文集応用物理
学会・光波センシング技術研究会、１９９５年５月、ｐ
ｐ．１２３−１２９）。
【０００３】まず、はじめに、ＥＯＳオシロスコープの
構成を図４を用いて説明する。ＥＯＳオシロスコープは
ＥＯＳオシロスコープの本体１および電気光学プローブ
２により構成される。そして、ＥＯＳオシロスコープの
本体１において、トリガ回路３は、測定信号に対する測
定開始となるトリガ信号を出力する。そして、遅延回路
４は、トリガ回路３からの信号を設定部９で設定された
時間の遅延を行う。なお、設定部９はスイッチ等で構成
され、設定部９で設定された遅延時間は、処理回路８を
介して遅延回路４に設定される。タイミング発生回路５
は、遅延回路４からの信号に基づいて、光パルスの発生
タイミングおよびＡ／Ｄ変換タイミングを発生し、光パ
ルス発生回路６は、タイミング発生回路５からのタイミ
ング信号に基づいて光パルスの発生を行う。そして、光
パルス出力回路６からの光パルスは、電気光学プローブ
２に供給され、電気光学素子により偏光変化を受ける。
この偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プローブ２
内の偏光検出光学系（図示せず）により偏光検出等が行
われ、その信号がＥＯＳオシロスコープの本体１に入力
される。そして、この信号は、Ａ／Ｄ変換回路７によ
り、信号の増幅やＡ／Ｄ変換が行われ、処理回路８によ
り測定対象となった信号の表示等のための処理等が行わ
れる。
構成を図４を用いて説明する。ＥＯＳオシロスコープは
ＥＯＳオシロスコープの本体１および電気光学プローブ
２により構成される。そして、ＥＯＳオシロスコープの
本体１において、トリガ回路３は、測定信号に対する測
定開始となるトリガ信号を出力する。そして、遅延回路
４は、トリガ回路３からの信号を設定部９で設定された
時間の遅延を行う。なお、設定部９はスイッチ等で構成
され、設定部９で設定された遅延時間は、処理回路８を
介して遅延回路４に設定される。タイミング発生回路５
は、遅延回路４からの信号に基づいて、光パルスの発生
タイミングおよびＡ／Ｄ変換タイミングを発生し、光パ
ルス発生回路６は、タイミング発生回路５からのタイミ
ング信号に基づいて光パルスの発生を行う。そして、光
パルス出力回路６からの光パルスは、電気光学プローブ
２に供給され、電気光学素子により偏光変化を受ける。
この偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プローブ２
内の偏光検出光学系（図示せず）により偏光検出等が行
われ、その信号がＥＯＳオシロスコープの本体１に入力
される。そして、この信号は、Ａ／Ｄ変換回路７によ
り、信号の増幅やＡ／Ｄ変換が行われ、処理回路８によ
り測定対象となった信号の表示等のための処理等が行わ
れる。
【０００４】次に、図５を用いて、遅延回路４によりト
リガ回路３からのトリガ信号を遅延させる理由を説明す
る。図５（ａ）および（ｂ）に示すように、トリガ回路
３からのトリガ信号は、一般的に被測定信号にほぼ同期
して発生させる。図５の場合、ＥＯＳオシロスコープの
本体１の表示部（図示せず）には、測定点Ａ１もしくは
測定点Ａ２からの波形が表示される。ここで、ＥＯＳオ
シロスコープの利用者が、測定点Ａ１もしくはＡ２から
の波形の表示ではなく、その測定点から少し遅れた測定
点Ｂ１もしくはＢ２からの波形の表示を望む場合があ
る。このように、波形の表示開始位置を移動させるため
に、遅延回路４が用いられる。例えば、ＥＯＳオシロス
コープの利用者が測定点Ａ１ではなく、測定点Ｂ１から
の波形の表示を望む場合、図４の設定部９より被測定信
号の表示開始位置を遅らせるように設定する。この設定
情報は、処理回路８で解析され、測定点Ａ１に対する測
定点Ｂ１の遅延時間Ｔ’が求められ、遅延回路４に遅延
時間Ｔ’が設定される。すると、遅延回路４は図５
（ｃ）に示すように、トリガ信号を遅延時間Ｔ’だけ遅
延させて出力する。そして、遅延回路４からの出力を用
いてサンプル用のタイミングが生成される。
リガ回路３からのトリガ信号を遅延させる理由を説明す
る。図５（ａ）および（ｂ）に示すように、トリガ回路
３からのトリガ信号は、一般的に被測定信号にほぼ同期
して発生させる。図５の場合、ＥＯＳオシロスコープの
本体１の表示部（図示せず）には、測定点Ａ１もしくは
測定点Ａ２からの波形が表示される。ここで、ＥＯＳオ
シロスコープの利用者が、測定点Ａ１もしくはＡ２から
の波形の表示ではなく、その測定点から少し遅れた測定
点Ｂ１もしくはＢ２からの波形の表示を望む場合があ
る。このように、波形の表示開始位置を移動させるため
に、遅延回路４が用いられる。例えば、ＥＯＳオシロス
コープの利用者が測定点Ａ１ではなく、測定点Ｂ１から
の波形の表示を望む場合、図４の設定部９より被測定信
号の表示開始位置を遅らせるように設定する。この設定
情報は、処理回路８で解析され、測定点Ａ１に対する測
定点Ｂ１の遅延時間Ｔ’が求められ、遅延回路４に遅延
時間Ｔ’が設定される。すると、遅延回路４は図５
（ｃ）に示すように、トリガ信号を遅延時間Ｔ’だけ遅
延させて出力する。そして、遅延回路４からの出力を用
いてサンプル用のタイミングが生成される。
【０００５】図６は、この遅延回路４の従来の一構成例
を示した図である。図６より、遅延回路４は、トリガ信
号を入力信号とするランプ回路３１、処理回路８からの
遅延時間設定信号をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換器３２、
ランプ回路３１とＤ／Ａ変換器３２からの出力信号の比
較を行う比較回路３３により構成される。次に図６に示
す遅延回路による動作を図７を用いて説明する。図７
（ａ）に示すようにトリガ信号がランプ回路３１に入力
されると、この信号をトリガとして、ランプ回路３１は
図７（ｃ）に示すようにランプ信号の出力を行う。一
方、Ｄ／Ａ変換器３２は、処理回路７からの遅延時間設
定信号をＤ／Ａ変換した出力信号を図７（ｂ）のように
出力する。なお、ここでは、遅延回路７から設定された
値は遅延時間Ｔ’であるとすると、Ｄ／Ａ変換器３２
は、基準レベルに対してこの遅延時間Ｔ’に相当する分
だけ高い信号を出力する。ランプ回路３１およびＤ／Ａ
変換器３２からの出力は、比較回路３３で比較され、図
７（ｃ）に示すようにトリガ信号を時間Ｔ’だけ遅延さ
せた信号を出力する。
を示した図である。図６より、遅延回路４は、トリガ信
号を入力信号とするランプ回路３１、処理回路８からの
遅延時間設定信号をＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換器３２、
ランプ回路３１とＤ／Ａ変換器３２からの出力信号の比
較を行う比較回路３３により構成される。次に図６に示
す遅延回路による動作を図７を用いて説明する。図７
（ａ）に示すようにトリガ信号がランプ回路３１に入力
されると、この信号をトリガとして、ランプ回路３１は
図７（ｃ）に示すようにランプ信号の出力を行う。一
方、Ｄ／Ａ変換器３２は、処理回路７からの遅延時間設
定信号をＤ／Ａ変換した出力信号を図７（ｂ）のように
出力する。なお、ここでは、遅延回路７から設定された
値は遅延時間Ｔ’であるとすると、Ｄ／Ａ変換器３２
は、基準レベルに対してこの遅延時間Ｔ’に相当する分
だけ高い信号を出力する。ランプ回路３１およびＤ／Ａ
変換器３２からの出力は、比較回路３３で比較され、図
７（ｃ）に示すようにトリガ信号を時間Ｔ’だけ遅延さ
せた信号を出力する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、測定信号に
よっては、比較的長い時間、例えばミリ秒［ｍｓ］や秒
［ｓ］といったオーダーの遅延を望む場合がある。しか
し、上述のＥＯＳオシロスコープの遅延回路４では、ラ
ンプ回路３１によるランプ信号を用いて遅延時間の設定
を行っているが、このような長い遅延時間の場合、ラン
プ信号に変動やジッタ等が生じ再現性がよくない。すな
わち、ミリ秒［ｍｓ］や秒［ｓ］といったオーダーの遅
延時間の設定は精度よく行うことができない。
よっては、比較的長い時間、例えばミリ秒［ｍｓ］や秒
［ｓ］といったオーダーの遅延を望む場合がある。しか
し、上述のＥＯＳオシロスコープの遅延回路４では、ラ
ンプ回路３１によるランプ信号を用いて遅延時間の設定
を行っているが、このような長い遅延時間の場合、ラン
プ信号に変動やジッタ等が生じ再現性がよくない。すな
わち、ミリ秒［ｍｓ］や秒［ｓ］といったオーダーの遅
延時間の設定は精度よく行うことができない。
【０００７】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、比較的長い遅延時間が設定されても、安定した
遅延時間の設定が可能な電気光学サンプリングオシロス
コープを提供することを目的とする。
もので、比較的長い遅延時間が設定されても、安定した
遅延時間の設定が可能な電気光学サンプリングオシロス
コープを提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のうち請求項１に記載の発明は、被測定信号
の波形観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延回
路からの信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、該被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオ
シロスコープであって、前記遅延回路は、前記トリガ信
号に対して基準クロック発生回路からの基準クロックの
遅れ時間に相当する値を検出する遅れ時間検出回路と、
前記遅れ時間検出回路で検出された値をもとに、前記基
準クロックの整数倍となるように補正時間を決定する補
正時間決定回路と、前記トリガ信号をトリガとして前記
基準クロックを所定値までカウントするカウンタ回路
と、前記補正時間決定回路からの補正時間に関する信号
を用いて、前記カウンタ回路からの出力信号に対して、
該補正時間分の遅延を行う遅延補正回路とを備えたこと
を特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープであ
る。
に、本発明のうち請求項１に記載の発明は、被測定信号
の波形観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延回
路からの信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、該被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオ
シロスコープであって、前記遅延回路は、前記トリガ信
号に対して基準クロック発生回路からの基準クロックの
遅れ時間に相当する値を検出する遅れ時間検出回路と、
前記遅れ時間検出回路で検出された値をもとに、前記基
準クロックの整数倍となるように補正時間を決定する補
正時間決定回路と、前記トリガ信号をトリガとして前記
基準クロックを所定値までカウントするカウンタ回路
と、前記補正時間決定回路からの補正時間に関する信号
を用いて、前記カウンタ回路からの出力信号に対して、
該補正時間分の遅延を行う遅延補正回路とを備えたこと
を特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープであ
る。
【０００９】また、請求項２に記載の発明は、請求項１
に記載の電気光学サンプリングオシロスコープにおい
て、前記遅れ時間検出回路が、前記トリガ信号をトリガ
としてランプ波形を出力するランプ回路と、前記トリガ
信号直後に入力される前記基準クロックをトリガとし
て、前記ランプ回路からの出力をアナログ・デジタル変
化するＡ／Ｄ変換回路とから構成され、前記補正時間決
定回路が、前記基準クロックの周期の整数倍に相当する
値から前記Ａ／Ｄ変換回路からの出力値を減算する演算
回路と、前記演算回路からの値をデジタル・アナログ変
換するＤ／Ａ変換回路とから構成されることを特徴とし
ている。
に記載の電気光学サンプリングオシロスコープにおい
て、前記遅れ時間検出回路が、前記トリガ信号をトリガ
としてランプ波形を出力するランプ回路と、前記トリガ
信号直後に入力される前記基準クロックをトリガとし
て、前記ランプ回路からの出力をアナログ・デジタル変
化するＡ／Ｄ変換回路とから構成され、前記補正時間決
定回路が、前記基準クロックの周期の整数倍に相当する
値から前記Ａ／Ｄ変換回路からの出力値を減算する演算
回路と、前記演算回路からの値をデジタル・アナログ変
換するＤ／Ａ変換回路とから構成されることを特徴とし
ている。
【００１０】また、請求項３に記載の発明は、請求項１
に記載の電気光学サンプリングオシロスコープにおい
て、前記遅れ時間検出回路が、前記トリガ信号をトリガ
としてランプ波形を出力するランプ回路と、前記トリガ
信号直後に入力される前記基準クロックをトリガとし
て、前記ランプ回路からの出力をホールドするサンプル
ホールド回路とから構成され、前記補正時間決定回路
が、前記基準クロックの周期の整数倍に相当する信号と
前記サンプルホール回路からの出力信号とを減算する減
算回路であることを特徴としている。
に記載の電気光学サンプリングオシロスコープにおい
て、前記遅れ時間検出回路が、前記トリガ信号をトリガ
としてランプ波形を出力するランプ回路と、前記トリガ
信号直後に入力される前記基準クロックをトリガとし
て、前記ランプ回路からの出力をホールドするサンプル
ホールド回路とから構成され、前記補正時間決定回路
が、前記基準クロックの周期の整数倍に相当する信号と
前記サンプルホール回路からの出力信号とを減算する減
算回路であることを特徴としている。
【００１１】次に、請求項４に記載の発明は、被測定信
号の波形観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延
回路からの信号に基づき生成される光パルスを利用し
て、該被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオ
シロスコープであって、前記遅延回路が、前記トリガ信
号をトリガとしてランプ波形を出力するランプ回路と、
前記トリガ信号直後に入力される基準クロック発生回路
からの基準クロックをトリガとして、前記ランプ回路か
らの出力をアナログ・デジタル変化するＡ／Ｄ変換回路
とからなる遅れ時間検出回路と、前記基準クロックの周
期の整数倍に相当する値から前記遅れ時間検出回路から
の出力値を減算して、設定された微調整値を加算する演
算回路と、前記演算回路からの値をデジタル・アナログ
変換するＤ／Ａ変換回路とからなる補正時間決定回路
と、前記トリガ信号をトリガとして前記基準クロックを
所定値までカウントするカウンタ回路と、前記補正時間
決定回路からの信号を用いて、前記カウンタ回路からの
出力信号に対して、前記補正時間決定回路からの信号に
より遅延を行う遅延補正回路とを備えたことを特徴とす
る電気光学サンプリングオシロスコープである。
号の波形観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延
回路からの信号に基づき生成される光パルスを利用し
て、該被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオ
シロスコープであって、前記遅延回路が、前記トリガ信
号をトリガとしてランプ波形を出力するランプ回路と、
前記トリガ信号直後に入力される基準クロック発生回路
からの基準クロックをトリガとして、前記ランプ回路か
らの出力をアナログ・デジタル変化するＡ／Ｄ変換回路
とからなる遅れ時間検出回路と、前記基準クロックの周
期の整数倍に相当する値から前記遅れ時間検出回路から
の出力値を減算して、設定された微調整値を加算する演
算回路と、前記演算回路からの値をデジタル・アナログ
変換するＤ／Ａ変換回路とからなる補正時間決定回路
と、前記トリガ信号をトリガとして前記基準クロックを
所定値までカウントするカウンタ回路と、前記補正時間
決定回路からの信号を用いて、前記カウンタ回路からの
出力信号に対して、前記補正時間決定回路からの信号に
より遅延を行う遅延補正回路とを備えたことを特徴とす
る電気光学サンプリングオシロスコープである。
【００１２】次に、請求項５に記載の発明は、被測定信
号の波形観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延
回路からの信号に基づき生成される光パルスを利用し
て、該被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオ
シロスコープであって、前記遅延回路が、前記トリガ信
号をトリガとしてランプ波形を出力するランプ回路と、
前記トリガ信号直後に入力される基準クロック発生回路
からの基準クロックをトリガとして、前記ランプ回路か
らの出力をホールドするサンプルホールド回路とからな
る遅れ時間検出回路と、前記基準クロックの周期の整数
倍に相当する信号と前記サンプルホール回路からの出力
信号とを減算し、設定された微調整値に関する信号を加
算する補正時間決定回路と、前記トリガ信号をトリガと
して前記基準クロックを所定値までカウントするカウン
タ回路と、前記補正時間決定回路からの信号を用いて、
前記カウンタ回路からの出力信号に対して、前記補正時
間決定回路からの信号により遅延を行う遅延補正回路と
を備えたことを特徴とする電気光学サンプリングオシロ
スコープである。
号の波形観測位置に応じてトリガ信号を遅延させる遅延
回路からの信号に基づき生成される光パルスを利用し
て、該被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオ
シロスコープであって、前記遅延回路が、前記トリガ信
号をトリガとしてランプ波形を出力するランプ回路と、
前記トリガ信号直後に入力される基準クロック発生回路
からの基準クロックをトリガとして、前記ランプ回路か
らの出力をホールドするサンプルホールド回路とからな
る遅れ時間検出回路と、前記基準クロックの周期の整数
倍に相当する信号と前記サンプルホール回路からの出力
信号とを減算し、設定された微調整値に関する信号を加
算する補正時間決定回路と、前記トリガ信号をトリガと
して前記基準クロックを所定値までカウントするカウン
タ回路と、前記補正時間決定回路からの信号を用いて、
前記カウンタ回路からの出力信号に対して、前記補正時
間決定回路からの信号により遅延を行う遅延補正回路と
を備えたことを特徴とする電気光学サンプリングオシロ
スコープである。
【００１３】また、請求項６に記載の発明は、請求項
１、請求項４、請求項５のいずれかに記載の電気光学サ
ンプリングオシロスコープにおいて、前記遅延補正回路
が、前記カウンタ回路からの出力信号をトリガとしてラ
ンプ波形を出力するランプ回路と、前記ランプ回路から
の出力と前記補正時間決定回路からの出力の比較を行う
比較回路とから構成されることを特徴としている。
１、請求項４、請求項５のいずれかに記載の電気光学サ
ンプリングオシロスコープにおいて、前記遅延補正回路
が、前記カウンタ回路からの出力信号をトリガとしてラ
ンプ波形を出力するランプ回路と、前記ランプ回路から
の出力と前記補正時間決定回路からの出力の比較を行う
比較回路とから構成されることを特徴としている。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
電気光学サンプリングオシロスコープを図面を参照して
説明する。はじめに、ＥＯＳオシロスコープの構成を図
４を用いて説明する。ＥＯＳオシロスコープは前述した
ように、ＥＯＳオシロスコープの本体１および電気光学
プローブ２により構成される。そして、ＥＯＳオシロス
コープ本体は、トリガ回路３、遅延回路４、タイミング
発生回路５、光パルス発生回路６、Ａ／Ｄ変換回路７、
処理回路８、設定部９により構成される。このＥＯＳオ
シロスコープの本体１において、トリガ回路３は、測定
信号に対する測定開始となるトリガ信号を出力する。そ
して、遅延回路４は、トリガ回路３からの信号を設定部
９で設定された時間だけ遅延させる。なお、設定部９は
スイッチ等で構成され、設定部９で設定された遅延時間
は、処理回路８を介して遅延回路４に設定される。タイ
ミング発生回路５は、遅延回路４からの信号に基づい
て、光パルスの発生タイミングやＡ／Ｄ変換タイミング
を発生し、光パルス発生回路６は、タイミング発生回路
５からのタイミング信号に基づいて光パルスの発生を行
う。
電気光学サンプリングオシロスコープを図面を参照して
説明する。はじめに、ＥＯＳオシロスコープの構成を図
４を用いて説明する。ＥＯＳオシロスコープは前述した
ように、ＥＯＳオシロスコープの本体１および電気光学
プローブ２により構成される。そして、ＥＯＳオシロス
コープ本体は、トリガ回路３、遅延回路４、タイミング
発生回路５、光パルス発生回路６、Ａ／Ｄ変換回路７、
処理回路８、設定部９により構成される。このＥＯＳオ
シロスコープの本体１において、トリガ回路３は、測定
信号に対する測定開始となるトリガ信号を出力する。そ
して、遅延回路４は、トリガ回路３からの信号を設定部
９で設定された時間だけ遅延させる。なお、設定部９は
スイッチ等で構成され、設定部９で設定された遅延時間
は、処理回路８を介して遅延回路４に設定される。タイ
ミング発生回路５は、遅延回路４からの信号に基づい
て、光パルスの発生タイミングやＡ／Ｄ変換タイミング
を発生し、光パルス発生回路６は、タイミング発生回路
５からのタイミング信号に基づいて光パルスの発生を行
う。
【００１５】光パルス出力回路６からの光パルスは、電
気光学プローブ２に供給され、電気光学素子により偏光
変化を受ける。この偏光変化を受けた光パルスは、電気
光学プローブ２内の偏光検出光学系（図示せず）により
偏光検出等が行われ、その信号がＥＯＳオシロスコープ
の本体１に入力される。電気光学プローブ２からの信号
は、Ａ／Ｄ変換回路７により、信号の増幅およびＡ／Ｄ
変換が行われ、処理回路８により測定対象となった信号
の表示等のための処理等が行われる。
気光学プローブ２に供給され、電気光学素子により偏光
変化を受ける。この偏光変化を受けた光パルスは、電気
光学プローブ２内の偏光検出光学系（図示せず）により
偏光検出等が行われ、その信号がＥＯＳオシロスコープ
の本体１に入力される。電気光学プローブ２からの信号
は、Ａ／Ｄ変換回路７により、信号の増幅およびＡ／Ｄ
変換が行われ、処理回路８により測定対象となった信号
の表示等のための処理等が行われる。
【００１６】次に、本実施の形態におけるＥＯＳオシロ
スコープにおける遅延回路４の回路構成を図１を用いて
説明する。図１より、遅延回路４には、入力信号とし
て、トリガ回路３からのトリガ信号および、処理回路７
からの遅延時間のほかに、ＥＯＳオシロスコープ内にあ
る基準クロック発生回路（図示せず）からの基準クロッ
クが入力される。一方、出力信号は、トリガ信号を設定
された時間だけ遅延させた信号となる。図において、上
記入力信号のほかに処理回路７を介して設定される微調
整値Ｔ３が入力されているが、この信号に付いては別途
説明を行うものとする。なお、トリガ信号と基準クロッ
クとは、別々の回路で生成されており、非同期である。
遅延回路４は、非同期なトリガ信号と基準信号との遅れ
時間に相当する値を検出する遅れ時間検出回路１１と、
遅れ時間検出回路１１で検出された値をもとに基準クロ
ックの周期の整数倍となるように補正時間を決定する補
正時間決定回路１２と、処理回路７から設定される遅延
時間に応じて、基準クロックのカウントを行うカウンタ
回路１３と、カウンタ回路１３により遅延された時間
を、さらに補正時間決定回路１２からの補正時間分遅延
させて、トリガ信号を基準クロックの整数倍遅延させた
信号を出力する遅延時間補正回路１４とにより構成され
る。
スコープにおける遅延回路４の回路構成を図１を用いて
説明する。図１より、遅延回路４には、入力信号とし
て、トリガ回路３からのトリガ信号および、処理回路７
からの遅延時間のほかに、ＥＯＳオシロスコープ内にあ
る基準クロック発生回路（図示せず）からの基準クロッ
クが入力される。一方、出力信号は、トリガ信号を設定
された時間だけ遅延させた信号となる。図において、上
記入力信号のほかに処理回路７を介して設定される微調
整値Ｔ３が入力されているが、この信号に付いては別途
説明を行うものとする。なお、トリガ信号と基準クロッ
クとは、別々の回路で生成されており、非同期である。
遅延回路４は、非同期なトリガ信号と基準信号との遅れ
時間に相当する値を検出する遅れ時間検出回路１１と、
遅れ時間検出回路１１で検出された値をもとに基準クロ
ックの周期の整数倍となるように補正時間を決定する補
正時間決定回路１２と、処理回路７から設定される遅延
時間に応じて、基準クロックのカウントを行うカウンタ
回路１３と、カウンタ回路１３により遅延された時間
を、さらに補正時間決定回路１２からの補正時間分遅延
させて、トリガ信号を基準クロックの整数倍遅延させた
信号を出力する遅延時間補正回路１４とにより構成され
る。
【００１７】ここで、遅れ時間検出回路１１は、トリガ
信号をトリガとしてランプ波形を出力するランプ回路１
・１１ａと、トリガ信号入力直後に入力される基準クロ
ックのタイミングで、ランプ回路１・１１ａのランプ信
号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路１１ｂから構成され
る。また、補正時間決定回路１２は、遅れ時間検出回路
１１からの出力に基づいてトリガ信号に対する基準信号
の遅れ時間Ｔ１を求め、既知である基準クロックの周期
Ｔから、求めた遅れ時間Ｔ１を引くことで、遅延回路４
による遅延時間が基準クロックの周期Ｔの整数倍となる
ように補正時間Ｔ２（＝Ｔ−Ｔ１）を求める演算回路１
２ａと、この演算回路１２ａからの出力をＤ／Ａ変換す
るＤ／Ａ変換回路１２ｂにより構成される。
信号をトリガとしてランプ波形を出力するランプ回路１
・１１ａと、トリガ信号入力直後に入力される基準クロ
ックのタイミングで、ランプ回路１・１１ａのランプ信
号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路１１ｂから構成され
る。また、補正時間決定回路１２は、遅れ時間検出回路
１１からの出力に基づいてトリガ信号に対する基準信号
の遅れ時間Ｔ１を求め、既知である基準クロックの周期
Ｔから、求めた遅れ時間Ｔ１を引くことで、遅延回路４
による遅延時間が基準クロックの周期Ｔの整数倍となる
ように補正時間Ｔ２（＝Ｔ−Ｔ１）を求める演算回路１
２ａと、この演算回路１２ａからの出力をＤ／Ａ変換す
るＤ／Ａ変換回路１２ｂにより構成される。
【００１８】また、遅延補正回路１４は、カウンタ回路
１３からの信号をトリガにランプ信号の出力を行うラン
プ回路２・１４ａと、このランプ回路２・１４ａと補正
時間決定回路１２からの信号の比較を行うことで、カウ
ンタ回路１３からの信号をさらに補正時間Ｔ２遅延させ
た信号を出力する比較回路１４ｂとにより構成される。
なお、以下で「ＥＯＳオシロスコープ」と言う場合、図
４におけるＥＯＳオシロスコープの本体１とともに電気
光学プローブ２を備える場合と、ＥＯＳオシロスコープ
の本体１のみの場合があるものとする。
１３からの信号をトリガにランプ信号の出力を行うラン
プ回路２・１４ａと、このランプ回路２・１４ａと補正
時間決定回路１２からの信号の比較を行うことで、カウ
ンタ回路１３からの信号をさらに補正時間Ｔ２遅延させ
た信号を出力する比較回路１４ｂとにより構成される。
なお、以下で「ＥＯＳオシロスコープ」と言う場合、図
４におけるＥＯＳオシロスコープの本体１とともに電気
光学プローブ２を備える場合と、ＥＯＳオシロスコープ
の本体１のみの場合があるものとする。
【００１９】次に、図１に示す遅延回路４の動作を図２
を用いて説明する。ここで、遅延回路４には図２（ａ）
に示すようなトリガ信号および図２（ｂ）に示すような
基準クロックが入力されるものとする。なお、基準クロ
ックの周波数はメガヘルツ［ＭＨｚ］もしくはキロヘル
ツ［ＫＨｚ］といった比較的高い周波数であるものとす
る。時刻ｔ１においてトリガ信号が入力されると、この
信号をトリガとして、ランプ回路１・１１ａは図２
（ｃ）に示すようにランプ信号の出力を開始する。そし
て、トリガ信号の入力後、時刻ｔ２においてはじめて基
準クロックの立ち上がりが生じたものとすると、この時
刻ｔ２のタイミングで、Ａ／Ｄ変換回路１１ｂによりラ
ンプ回路１・１１ａの出力値Ｄ１がＡ／Ｄ変換される。
なお、基準クロックは、比較的高い周波数なので、ラン
プ回路１・１１ａからのランプ信号が安定している範囲
内で、Ａ／Ｄ変換回路１１ｂによりＡ／Ｄ変換されるこ
とになる。
を用いて説明する。ここで、遅延回路４には図２（ａ）
に示すようなトリガ信号および図２（ｂ）に示すような
基準クロックが入力されるものとする。なお、基準クロ
ックの周波数はメガヘルツ［ＭＨｚ］もしくはキロヘル
ツ［ＫＨｚ］といった比較的高い周波数であるものとす
る。時刻ｔ１においてトリガ信号が入力されると、この
信号をトリガとして、ランプ回路１・１１ａは図２
（ｃ）に示すようにランプ信号の出力を開始する。そし
て、トリガ信号の入力後、時刻ｔ２においてはじめて基
準クロックの立ち上がりが生じたものとすると、この時
刻ｔ２のタイミングで、Ａ／Ｄ変換回路１１ｂによりラ
ンプ回路１・１１ａの出力値Ｄ１がＡ／Ｄ変換される。
なお、基準クロックは、比較的高い周波数なので、ラン
プ回路１・１１ａからのランプ信号が安定している範囲
内で、Ａ／Ｄ変換回路１１ｂによりＡ／Ｄ変換されるこ
とになる。
【００２０】またトリガ信号の入力をトリガとして、カ
ウンタ回路１３は、設定された遅延時間に相当する回数
基準クロックのカウントを行う。なお、ここでは、基準
クロックのカウントを信号の立ち上がりを基準にカウン
トするものとする。例えば、図４の設定部９で設定され
た遅延時間に基づいて、処理回路８で判断されたカウン
ト数が”Ｎ”であるとすると、遅延補正回路１４で補正
される基準信号の１周期分を除いたカウント数”Ｎ−
１”がカウンタ回路１３に設定され、図２（ｄ）に示す
ように、カウンタ回路１３は、このカウント数”Ｎ−
１”だけ基準クロックのカウントを行う。カウンタ回路
１３によるカウント動作が終了する時刻ｔ３に、カウン
タ回路１３は信号を出力し、この信号をトリガとして、
ランプ回路２・１４ａは、図２（ｅ）に示すように、ラ
ンプ信号の出力を行う。
ウンタ回路１３は、設定された遅延時間に相当する回数
基準クロックのカウントを行う。なお、ここでは、基準
クロックのカウントを信号の立ち上がりを基準にカウン
トするものとする。例えば、図４の設定部９で設定され
た遅延時間に基づいて、処理回路８で判断されたカウン
ト数が”Ｎ”であるとすると、遅延補正回路１４で補正
される基準信号の１周期分を除いたカウント数”Ｎ−
１”がカウンタ回路１３に設定され、図２（ｄ）に示す
ように、カウンタ回路１３は、このカウント数”Ｎ−
１”だけ基準クロックのカウントを行う。カウンタ回路
１３によるカウント動作が終了する時刻ｔ３に、カウン
タ回路１３は信号を出力し、この信号をトリガとして、
ランプ回路２・１４ａは、図２（ｅ）に示すように、ラ
ンプ信号の出力を行う。
【００２１】一方、遅れ時間検出回路１１から図２
（ｃ）に示す値Ｄ１を受けた演算回路１２ａは、この値
Ｄ１から、トリガ信号に対する基準クロックの遅れ時間
Ｔ１（ｔ２−ｔ１）を求める。なお、遅れ時間Ｔ１と値
Ｄ１は比例関係にあり、この比例定数はランプ回路１・
１１ａにより決定できる。そして、演算回路１２ａは、
ランプ回路１・１１ａにより決定できる比例定数を既知
情報として記憶しているものとする。また、演算回路１
２ａは、基準クロックの周期Ｔも予め既知の値として記
憶しており、補正時間Ｔ２を Ｔ２＝Ｔ−Ｔ１ により算出する。この算出結果は、ランプ回路２の特性
に応じてＤ／Ａ変換回路１２ｂにより変換され、図２
（ｅ）に示すように、基準レベルよりＤ２高い信号が出
力される。
（ｃ）に示す値Ｄ１を受けた演算回路１２ａは、この値
Ｄ１から、トリガ信号に対する基準クロックの遅れ時間
Ｔ１（ｔ２−ｔ１）を求める。なお、遅れ時間Ｔ１と値
Ｄ１は比例関係にあり、この比例定数はランプ回路１・
１１ａにより決定できる。そして、演算回路１２ａは、
ランプ回路１・１１ａにより決定できる比例定数を既知
情報として記憶しているものとする。また、演算回路１
２ａは、基準クロックの周期Ｔも予め既知の値として記
憶しており、補正時間Ｔ２を Ｔ２＝Ｔ−Ｔ１ により算出する。この算出結果は、ランプ回路２の特性
に応じてＤ／Ａ変換回路１２ｂにより変換され、図２
（ｅ）に示すように、基準レベルよりＤ２高い信号が出
力される。
【００２２】比較回路１４ｂは、図２（ｅ）に示すラン
プ回路２・１４ａからの信号と補正時間決定回路１２か
らの信号の比較を行い、ランプ回路２・１４ａがカウン
タ回路１３から信号を受けた時刻ｔ３よりさらに補正時
間Ｔ２遅延させた時刻ｔ４のタイミングで信号を出力す
る。なお、トリガ信号に対する遅れ時間Ｔ１と補正時間
決定回路１２で決定された補正時間Ｔ２との和は、基準
クロックの周期Ｔに一致する。また、カウンタ回路１３
では、基準クロックを（Ｎ−１）回カウントした後に信
号の出力を行っている。よって、トリガ信号が入力され
た時刻ｔ１と、遅延回路４から信号が出力された時刻ｔ
４との差は、 ｔ４−ｔ１＝Ｔ×Ｎ となり、トリガ信号は、遅延回路４により基準クロック
を整数倍（Ｎ）遅延させられて出力されることになる。
プ回路２・１４ａからの信号と補正時間決定回路１２か
らの信号の比較を行い、ランプ回路２・１４ａがカウン
タ回路１３から信号を受けた時刻ｔ３よりさらに補正時
間Ｔ２遅延させた時刻ｔ４のタイミングで信号を出力す
る。なお、トリガ信号に対する遅れ時間Ｔ１と補正時間
決定回路１２で決定された補正時間Ｔ２との和は、基準
クロックの周期Ｔに一致する。また、カウンタ回路１３
では、基準クロックを（Ｎ−１）回カウントした後に信
号の出力を行っている。よって、トリガ信号が入力され
た時刻ｔ１と、遅延回路４から信号が出力された時刻ｔ
４との差は、 ｔ４−ｔ１＝Ｔ×Ｎ となり、トリガ信号は、遅延回路４により基準クロック
を整数倍（Ｎ）遅延させられて出力されることになる。
【００２３】図１の遅延回路４において、遅れ時間検出
回路１１と補正時間決定回路１２は、途中の処理をデジ
タル信号で行っているが、これをすべてアナログ信号で
行う場合の遅れ時間検出回路１１および補正時間決定回
路１２の構成を図３に示す。図３の場合に、遅れ時間検
出回路１１はランプ回路１・１１ａと、ランプ回路１・
１１ａからの出力をトリガ信号が入力された直後の基準
クロックの立ち上がりのタイミングでホールドするサン
プルホールド回路・１１ｃにより構成される。また、補
正時間決定回路１２は、基準クロックの周期Ｔに応じた
信号レベルからサンプルホールド回路１１ｃからの信号
レベルを減算する減算回路１２ｃにより構成され、この
減算回路１２ｃからの出力が補正時間Ｔ２に関する信号
として遅延 正回路１４に入力される。
回路１１と補正時間決定回路１２は、途中の処理をデジ
タル信号で行っているが、これをすべてアナログ信号で
行う場合の遅れ時間検出回路１１および補正時間決定回
路１２の構成を図３に示す。図３の場合に、遅れ時間検
出回路１１はランプ回路１・１１ａと、ランプ回路１・
１１ａからの出力をトリガ信号が入力された直後の基準
クロックの立ち上がりのタイミングでホールドするサン
プルホールド回路・１１ｃにより構成される。また、補
正時間決定回路１２は、基準クロックの周期Ｔに応じた
信号レベルからサンプルホールド回路１１ｃからの信号
レベルを減算する減算回路１２ｃにより構成され、この
減算回路１２ｃからの出力が補正時間Ｔ２に関する信号
として遅延 正回路１４に入力される。
【００２４】以上のように、遅れ時間検出回路１１を構
成するランプ回路１・１１ａや遅延補正回路１４を構成
するランプ回路２・１４ａは、信号が安定している範囲
で利用されるので精度よく遅れ時間の検出、および、カ
ウンタ回路１３からの信号の遅延を行うことができる。
さらに、遅延時間が長い場合であっても、主にカウンタ
回路１３により遅延時間の設定が行われるので、精度よ
く、基準クロックの周期の整数倍の遅延が実現できる。
成するランプ回路１・１１ａや遅延補正回路１４を構成
するランプ回路２・１４ａは、信号が安定している範囲
で利用されるので精度よく遅れ時間の検出、および、カ
ウンタ回路１３からの信号の遅延を行うことができる。
さらに、遅延時間が長い場合であっても、主にカウンタ
回路１３により遅延時間の設定が行われるので、精度よ
く、基準クロックの周期の整数倍の遅延が実現できる。
【００２５】とろこで、図１において、設定部９で設定
された微調整値Ｔ３（０≦Ｔ３≦Ｔ：Ｔは基準クロック
の周期）も処理回路７を介して演算回路１２ａに入力さ
れるものとし、この微調整値Ｔ３を用いて、演算回路１
２ａは、補正時間Ｔ２を Ｔ２＝Ｔ−Ｔ１＋Ｔ３ により求めるようにしてもよい。これにより、基準クロ
ックの周期Ｔよりも細かく遅延時間を設定できるように
なる。同様に、図３に示す減算回路１２ｃにも微調整値
Ｔ３に対応したレベル信号を入力するものとし、減算回
路１２ｃはこの信号をさらに加えることで、基準クロッ
クの周期Ｔよりも細かく遅延時間を設定できるようにな
る。
された微調整値Ｔ３（０≦Ｔ３≦Ｔ：Ｔは基準クロック
の周期）も処理回路７を介して演算回路１２ａに入力さ
れるものとし、この微調整値Ｔ３を用いて、演算回路１
２ａは、補正時間Ｔ２を Ｔ２＝Ｔ−Ｔ１＋Ｔ３ により求めるようにしてもよい。これにより、基準クロ
ックの周期Ｔよりも細かく遅延時間を設定できるように
なる。同様に、図３に示す減算回路１２ｃにも微調整値
Ｔ３に対応したレベル信号を入力するものとし、減算回
路１２ｃはこの信号をさらに加えることで、基準クロッ
クの周期Ｔよりも細かく遅延時間を設定できるようにな
る。
【００２６】なお、本実施の形態におて、遅延回路４内
の補正時間決定回路１２は、好ましくは基準クロックの
１周期分の”Ｔ”を基準として補正時間Ｔ２を求めるも
のとしているが、これに限定されるものではなく、ラン
プ回路２・１４ａからのランプ信号が安定している範囲
内で周期Ｔの整数倍を基準として補正時間Ｔ２を求める
ようにしてもよい。また、補正時間決定回路１２に入力
される微調整値Ｔ３は、好ましい範囲として基準クロッ
クの１周期Ｔ内として説明したが、これに限定されるも
のではない。また、上述の遅延回路４は、トリガ信号の
遅延のみでなく、ＥＯＳオシロスコープ内で遅延が必要
な信号に対する遅延処理も行うようにしてもよい。
の補正時間決定回路１２は、好ましくは基準クロックの
１周期分の”Ｔ”を基準として補正時間Ｔ２を求めるも
のとしているが、これに限定されるものではなく、ラン
プ回路２・１４ａからのランプ信号が安定している範囲
内で周期Ｔの整数倍を基準として補正時間Ｔ２を求める
ようにしてもよい。また、補正時間決定回路１２に入力
される微調整値Ｔ３は、好ましい範囲として基準クロッ
クの１周期Ｔ内として説明したが、これに限定されるも
のではない。また、上述の遅延回路４は、トリガ信号の
遅延のみでなく、ＥＯＳオシロスコープ内で遅延が必要
な信号に対する遅延処理も行うようにしてもよい。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による電気
光学サンプリングオシロスコープによれば、下記の効果
を得ることができる。遅れ時間検出回路１１を構成する
ランプ回路１・１１ａや遅延補正回路１４を構成するラ
ンプ回路２・１４ａは、信号が安定している範囲で利用
されるので精度よく遅れ時間の検出、および、カウンタ
回路１３からの信号の遅延を行うことができ、さらに、
遅延時間が長い場合であっても、主にカウンタ回路１３
により遅延時間の設定が行われるので、精度よく、安定
して基準クロックの周期の整数倍の遅延が実現できる。
さらに、微調整値Ｔ３を遅延回路４に設定できるように
することで、基準クロックの周期Ｔよりも細かく遅延時
間を設定できるようになる。
光学サンプリングオシロスコープによれば、下記の効果
を得ることができる。遅れ時間検出回路１１を構成する
ランプ回路１・１１ａや遅延補正回路１４を構成するラ
ンプ回路２・１４ａは、信号が安定している範囲で利用
されるので精度よく遅れ時間の検出、および、カウンタ
回路１３からの信号の遅延を行うことができ、さらに、
遅延時間が長い場合であっても、主にカウンタ回路１３
により遅延時間の設定が行われるので、精度よく、安定
して基準クロックの周期の整数倍の遅延が実現できる。
さらに、微調整値Ｔ３を遅延回路４に設定できるように
することで、基準クロックの周期Ｔよりも細かく遅延時
間を設定できるようになる。
【図１】 本発明の一実施形態によるＥＯＳオシロスコ
ープにおける遅延回路の回路構成図である。
ープにおける遅延回路の回路構成図である。
【図２】 図１の遅延回路の動作を説明するための図で
ある。
ある。
【図３】 図１の遅延回路における遅れ時間検出回路お
よび補正時間決定回路の他の回路構成図である。
よび補正時間決定回路の他の回路構成図である。
【図４】 ＥＯＳオシロスコープの構成を示す図であ
る。
る。
【図５】 ＥＯＳオシロスコープにおける遅延回路の役
割を説明するための図である。
割を説明するための図である。
【図６】 ＥＯＳオシロスコープにおける遅延回路の一
従来例における回路構成を示す図である。
従来例における回路構成を示す図である。
【図７】 図６の遅延回路の動作を説明するための図で
ある。
ある。
１ ＥＯＳオシロスコープの本体 ２ 電気光学
プローブ ３ トリガ回路 ４ 遅延回路 ５ タイミング発生回路 ６ 光パルス
発生回路 ７ Ａ／Ｄ変換回路 ８ 処理回路 ９ 設定部 １１ 遅れ時間検出回路 １１ａ ランプ回路１ １１ｂ Ａ／Ｄ
変換回路 １２ 補正時間決定回路 １２ａ 演算回路 １２ｂ Ｄ／Ａ
変換回路 １３ カウンタ回路 １４ 遅延補正回路 １４ａ ランプ回路２ １４ｂ 比較回
路 １１ｃ サンプルホールド回路 １２ｃ 減算回
路
プローブ ３ トリガ回路 ４ 遅延回路 ５ タイミング発生回路 ６ 光パルス
発生回路 ７ Ａ／Ｄ変換回路 ８ 処理回路 ９ 設定部 １１ 遅れ時間検出回路 １１ａ ランプ回路１ １１ｂ Ａ／Ｄ
変換回路 １２ 補正時間決定回路 １２ａ 演算回路 １２ｂ Ｄ／Ａ
変換回路 １３ カウンタ回路 １４ 遅延補正回路 １４ａ ランプ回路２ １４ｂ 比較回
路 １１ｃ サンプルホールド回路 １２ｃ 減算回
路
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 菊池 潤
東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤
電気株式会社内
(72)発明者 遠藤 善雄
東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤
電気株式会社内
(72)発明者 品川 満
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(72)発明者 永妻 忠夫
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(72)発明者 松広 一良
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(56)参考文献 特開 平１−98973（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−109171（ＪＰ，Ａ)
特開 昭55−42003（ＪＰ，Ａ)
実開 平５−52770（ＪＰ，Ｕ)
特公 昭45−40876（ＪＰ，Ｂ１)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 13/00 - 13/42
Claims (6)
- 【請求項１】 被測定信号の波形観測位置に応じてトリ
ガ信号を遅延させる遅延回路からの信号に基づいて生成
される光パルスを利用して、該被測定信号の測定を行う
電気光学サンプリングオシロスコープであって、 前記遅延回路は、 前記トリガ信号に対して基準クロック発生回路からの基
準クロックの遅れ時間に相当する値を検出する遅れ時間
検出回路と、 前記遅れ時間検出回路で検出された値をもとに、前記基
準クロックの整数倍となるように補正時間を決定する補
正時間決定回路と、 前記トリガ信号をトリガとして前記基準クロックを所定
値までカウントするカウンタ回路と、 前記補正時間決定回路からの補正時間に関する信号を用
いて、前記カウンタ回路からの出力信号に対して、該補
正時間分の遅延を行う遅延補正回路とを備えたことを特
徴とする電気光学サンプリングオシロスコープ。 - 【請求項２】 前記遅れ時間検出回路は、 前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するラ
ンプ回路と、 前記トリガ信号直後に入力される前記基準クロックをト
リガとして、前記ランプ回路からの出力をアナログ・デ
ジタル変化するＡ／Ｄ変換回路とから構成され、 前記補正時間決定回路は、 前記基準クロックの周期の整数倍に相当する値から前記
Ａ／Ｄ変換回路からの出力値を減算する演算回路と、 前記演算回路からの値をデジタル・アナログ変換するＤ
／Ａ変換回路とから構成されることを特徴とする請求項
１に記載の電気光学サンプリングオシロスコープ。 - 【請求項３】 前記遅れ時間検出回路は、 前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するラ
ンプ回路と、 前記トリガ信号直後に入力される前記基準クロックをト
リガとして、前記ランプ回路からの出力をホールドする
サンプルホールド回路とから構成され、 前記補正時間決定回路は、 前記基準クロックの周期の整数倍に相当する信号と前記
サンプルホール回路からの出力信号とを減算する減算回
路であることを特徴とする請求項１に記載の電気光学サ
ンプリングオシロスコープ。 - 【請求項４】 被測定信号の波形観測位置に応じてトリ
ガ信号を遅延させる遅延回路からの信号に基づき生成さ
れる光パルスを利用して、該被測定信号の測定を行う電
気光学サンプリングオシロスコープであって、 前記遅延回路は、 前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するラ
ンプ回路と、前記トリガ信号直後に入力される基準クロ
ック発生回路からの基準クロックをトリガとして、前記
ランプ回路からの出力をアナログ・デジタル変化するＡ
／Ｄ変換回路とからなる遅れ時間検出回路と、 前記基準クロックの周期の整数倍に相当する値から前記
遅れ時間検出回路からの出力値を減算して、設定された
微調整値を加算する演算回路と、前記演算回路からの値
をデジタル・アナログ変換するＤ／Ａ変換回路とからな
る補正時間決定回路と、 前記トリガ信号をトリガとして前記基準クロックを所定
値までカウントするカウンタ回路と、 前記補正時間決定回路からの信号を用いて、前記カウン
タ回路からの出力信号に対して、前記補正時間決定回路
からの信号により遅延を行う遅延補正回路とを備えたこ
とを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープ。 - 【請求項５】 被測定信号の波形観測位置に応じてトリ
ガ信号を遅延させる遅延回路からの信号に基づき生成さ
れる光パルスを利用して、該被測定信号の測定を行う電
気光学サンプリングオシロスコープであって、 前記遅延回路は、 前記トリガ信号をトリガとしてランプ波形を出力するラ
ンプ回路と、前記トリガ信号直後に入力される基準クロ
ック発生回路からの基準クロックをトリガとして、前記
ランプ回路からの出力をホールドするサンプルホールド
回路とからなる遅れ時間検出回路と、 前記基準クロックの周期の整数倍に相当する信号と前記
サンプルホール回路からの出力信号とを減算し、設定さ
れた微調整値に関する信号を加算する補正時間決定回路
と、 前記トリガ信号をトリガとして前記基準クロックを所定
値までカウントするカウンタ回路と、 前記補正時間決定回路からの信号を用いて、前記カウン
タ回路からの出力信号に対して、前記補正時間決定回路
からの信号により遅延を行う遅延補正回路とを備えたこ
とを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコープ。 - 【請求項６】 前記遅延補正回路は、 前記カウンタ回路からの出力信号をトリガとしてランプ
波形を出力するランプ回路と、 前記ランプ回路からの出力と前記補正時間決定回路から
の出力の比較を行う比較回路とから構成されることを特
徴とする請求項１、請求項４、請求項５のいずれかにに
記載の電気光学サンプリングオシロスコープ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27315897A JP3406491B2 (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
| EP98308132A EP0908733A3 (en) | 1997-10-06 | 1998-10-06 | Electro-optic sampling oscilloscope |
| US09/167,307 US6377036B1 (en) | 1997-10-06 | 1998-10-06 | Electro-optic sampling oscilloscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27315897A JP3406491B2 (ja) | 1997-10-06 | 1997-10-06 | 電気光学サンプリングオシロスコープ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11108960A JPH11108960A (ja) | 1999-04-23 |
| JP3406491B2 true JP3406491B2 (ja) | 2003-05-12 |
Family
ID=17523921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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