JP2003224528A - 光波形評価方法 - Google Patents
光波形評価方法Info
- Publication number
- JP2003224528A JP2003224528A JP2002023288A JP2002023288A JP2003224528A JP 2003224528 A JP2003224528 A JP 2003224528A JP 2002023288 A JP2002023288 A JP 2002023288A JP 2002023288 A JP2002023288 A JP 2002023288A JP 2003224528 A JP2003224528 A JP 2003224528A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- light
- measured
- frequency
- sampling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Abstract
定信号光のQ値を測定することができる光波形評価方法
を提供する。 【解決手段】 被測定信号光の繰り返し周波数の整数分
の1の周波数に位相同期させたサンプリングパルス光を
用いて、前記被測定信号光のQ値を測定する光波形評価
方法であって、前記サンプリングパルス光の繰り返し周
波数を前記被測定信号光の繰り返し周波数の整数分の1
に分周し同期させるステップと、前記被測定信号光のタ
イムスロット内の所定時間位置をサンプリングするよう
に、前記サンプリングパルス光の繰り返し位相を制御す
るステップと、サンプリングして得たデータから前記被
測定信号光に含まれるマーク信号及びスペース信号の振
幅とその標準偏差を求めてQ値を算出するステップとを
含む。
Description
係り、特に、超高周波の被測定信号光のQ値を測定する
ための光波形評価方法に関する。
を測定するための従来の光波形評価方法を示す図であ
り、縦軸は被測定信号光の振幅を示す光強度(Optical
power)、横軸は時間を示す。従来の光波形評価方法
は、オシロスコープ等を用いて、被測定信号光の波形を
取得した後に、図5の(a)に示すように、タイムスロ
ット内の波形の傾きが最も小さい部分に微少間隔の時間
窓TWを開けて、この時間窓TWに含まれるデータの分
布を調べて、Q値を算出していた。
ものである。図5の(a)に示した時間窓TW内のデー
タ数の分布を横軸にプロットすると、マーク信号とスペ
ース信号の分布は、図5の(b)に示すようになる。な
お、ここでのスペース信号はデジタルデータの“0”を
意味し、マーク信号はデジタルデータの“1”を意味す
る信号である。このマーク信号の平均μ1とマーク信号
の標準偏差σ1及びスペース信号の平均μ0とスペース信
号の標準偏差σ0により、以下の式(1)に示すように
してQ値が定義される。
光波形評価方法では、被測定光のパルス幅が狭くなる
と、時間窓TWの間隔を狭くしないと、パルスの立ち上
がりや立ち下がり部の一部の振幅を検出してしまい、真
のQ値より低い値を算出してしまうという問題点があ
る。また、時間窓TWを狭くすると1回の掃引で得られ
るデータ数が減るので掃引数を増やす必要があり、この
ため測定時間が増加するなどの問題点がある。
たものであり、その目的は、被測定信号光の繰り返し周
波数の整数分の1の周波数に位相同期させたサンプリン
グパルス光によって、測定時間を増加させることなく高
精度に被測定信号光のQ値を測定することができる光波
形評価方法を提供することである。
方法は、請求項1に記載したように、被測定信号光の繰
り返し周波数の整数分の1の周波数に位相同期させたサ
ンプリングパルス光を用いて、前記被測定信号光のQ値
を測定する光波形評価方法であって、前記サンプリング
パルス光の繰り返し周波数を前記被測定信号光の繰り返
し周波数の整数分の1に分周し同期させるステップと、
前記被測定信号光のタイムスロット内の所定時間位置を
サンプリングするように、前記サンプリングパルス光の
繰り返し位相を制御するステップと、サンプリングして
得たデータから前記被測定信号光に含まれるマーク信号
及びスペース信号の振幅とその標準偏差を求めてQ値を
算出するステップとを含むことを特徴とする。上記の光
波形評価方法によって、被測定信号光のアイ開口度が大
きい時間タイミングの振幅データを計測することがで
き、被測定信号光のパルス幅に依存せず常に真のQ値を
算出することができる。従って、測定時間を増加させる
ことなく高精度に被測定信号光のQ値を測定することが
できる。
求項2に記載したように、前記スペース信号はデジタル
データの“0”を意味し、前記マーク信号はデジタルデ
ータの“1”を意味する信号であること特徴とする。こ
れによって、デジタルデータの“0”を意味するスペー
ス信号と、デジタルデータの“1”を意味するマーク信
号とを識別することができる。
求項3に記載したように、前記サンプリングパルス光の
繰り返し周波数を前記被測定信号光の繰り返し周波数の
整数分の1に分周し同期させるステップは、分周器で分
周し、位相同期ループ回路を用いて同期させることを特
徴とする。これによって、サンプリングパルス光の繰り
返し周波数を前記被測定信号光の繰り返し周波数の整数
分の1に分周し同期させることができる。
求項4に記載したように、前記被測定信号光のタイムス
ロット内の所定時間位置をサンプリングするように、前
記サンプリングパルス光の繰り返し位相を制御するステ
ップは、遅延回路あるいは位相器を用いて制御すること
を特徴とする。これによって、被測定信号光のタイムス
ロット内の所定時間位置をサンプリングするように、サ
ンプリングパルス光の繰り返し位相を制御することがで
きる。
図面に基づいて詳細に説明する。図1は、本実施の形態
に係る光波形評価方法で用いる光波形評価装置の構成を
示すブロック図である。
被測定信号光を発生すると共に、発生する被測定信号光
の振幅の変化に同期した繰り返し信号を出力するものと
する。
信号は、周波数同期手段2に入力される。周波数同期手
段2は、入力した繰り返し信号の周波数の整数分の1の
周波数のサンプリング信号を出力する。
ング信号は、サンプリングパルス光源3に入力される。
サンプリングパルス光源3は、入力したサンプリング信
号に同期して光の強度すなわち振幅が変化するサンプリ
ングパルス光を発生する。
プリングパルス光と、被測定信号光源1が発生した被測
定信号光とは、合波器4に入射される。合波器4は、入
射したサンプリングパルス光と被測定信号とを合波し、
合波光を出射する。合波器4が出射した合波光は、非線
形光学結晶素子5に入射される。非線形光学結晶素子5
は、非線形光学効果により、入射した合波光から和周波
光を発生する。
ンプリングパルス光と被測定信号光の2つの光の周波数
の和に等しい周波数とを有する。非線形光学結晶素子5
が発生した和周波光は、受光器6に入射される。受光器
6は、入射した和周波光の強度に比例するアナログ信号
(電気信号)を出力する。
ング信号は、移相器7にも入力される。移相器7は、入
力したサンプリング信号を所定量だけ遅らせることによ
って位相を補正し、補正サンプリング信号を出力する。
すなわち、移相器7は、サンプリングパルス光源3、合
波器4、非線形光学結晶素子5および受光器6によって
構成される系における遅れと同量の遅れを発生させる。
信号と受光器6から出力されたアナログ信号とは、A/
D変換器8に入力される。A/D変換器8は、入力した
アナログ信号を、補正サンプリング信号に同期したタイ
ミングでサンプリングすることによりA/D変換(アナ
ログ/ディジタル変換)し、ディジタル信号を出力す
る。
信号は、コンピュータ9に入力される。コンピュータ9
は、入力したディジタル信号に基づいて、表示装置10
に被測定信号光の波形を表示させる。
すブロック図である。周波数同期手段2内には、分周器
2aと、周波数加算手段2bと、移相器2cと、定電圧
源2eとが設けられている。被測定信号光源1から出力
された繰り返し信号は、分周器2aに入力される。分周
器2aは、入力した繰り返し信号を分周し、入力した繰
り返し信号の周波数の整数分の1の周波数の分周繰り返
し信号を出力する。
号は、周波数加算手段2bに入力される。周波数加算手
段2bは、表示装置10に被測定信号光の波形を表示さ
せる場合は、入力した分周繰り返し信号の周波数にわず
かな周波数を加算した信号を移相器2cへ出力する。こ
れにより、サンプリング信号と被測定信号光の移相が少
しづつずれてゆく。
を加算する動作を停止し、入力した分周繰り返し信号を
そのままの形で出力することも可能である。この場合、
サンプリング信号と被測定信号光の移相関係は固定さ
れ、被測定信号光のある時間位置だけをサンプリングす
ることになる。定電圧源2eはコンピュータ9からのサ
ンプリング位置制御信号により、ある一定の電圧値の信
号を移相器2cに出力する。移相器2cは定電圧源2e
からの信号の電圧値に従って、周波数加算手段2bから
出力された信号の位相をシフトしサンプリング信号とし
て出力する。
数減算手段を設け、分周繰り返し信号の周波数からわず
かな周波数を減算した信号を移相器2cに出力してもよ
い。この場合にも、周波数減算手段は、周波数を減算す
る動作を停止し、入力した分周繰り返し信号をそのまま
の形で移相器2cに出力することが可能であるものとす
る。
の例を示すブロック図である。この例では、周波数加算
手段2b、移相器2cおよび定電圧源2eの組み合わせ
の代わりに、移相器2cと、鋸波発生器2dとが設けら
れている。
である。分周器2aから出力された分周繰り返し信号
は、移相器2cに入力される。移相器2cは、入力した
分周繰り返し信号の位相をシフトさせ、サンプリング信
号として出力する。鋸波発生器2dは、コンピュータ9
からのサンプリング位置制御信号により鋸波の初期電圧
をある一定の電圧に設定し、表示装置10に被測定信号
光の波形を表示させる場合は鋸波を発生する。鋸波発生
器2dが発生した鋸波は、移相器2cに入力される。移
相器2cは、入力した鋸波の振幅の変化に応じて、分周
繰り返し信号の位相のシフト量を変化させる。これによ
り、図2に示した構成から得られるサンプリング信号と
同様のサンプリング信号が得られる。
流波形すなわち一定の電圧を発生することも可能であ
る。また、移相器2cは、鋸波発生器2dから直流波形
すなわち一定の電圧を送られた場合には、分周繰り返し
信号の位相をシフトさせる機能を停止する。この場合、
サンプリング信号と被測定信号光の移相関係は固定さ
れ、被測定信号光のある時間位置だけをサンプリングす
ることになる。
えば前述の図1〜図3に示した光波形評価装置を用い
て、非線形光学効果を利用することにより、被測定信号
光をサンプリングパルス光でサンプリングするものであ
る。
法を説明する図であり、縦軸は被測定信号光の振幅を示
す光強度(Optical power)、サンプリングデータ番号
(Sampling number)を示す。まず、サンプリングパル
ス光の繰り返し周波数を被測定信号光の繰り返し周波数
の整数分の1に分周器2aで分周し、周波数同期手段2
(位相同期ループ(PLL)回路等)を用いて同期させ
る。
の所定の時間位置をサンプリングするように、周波数加
算手段2bの動作を停止し、入力周波数と同一の周波数
を移相器2cに出力する。あるいは、鋸波発生器2dか
ら一定電圧の直流波形を出力して制御する。
ータを、サンプリングデータ番号を横軸に、被測定信号
光の振幅を示す光強度を縦軸に取ってプロットすると、
図4の(a)に示すようにプロットされる。なお、ここ
でのスペース信号はデジタルデータの“0”を意味し、
マーク信号はデジタルデータの“1”を意味する信号で
ある。
分布を横軸にプロットすると、マーク信号とスペース信
号の分布は、図4の(b)に示すようになる。このマー
ク信号の平均μ1とマーク信号の標準偏差σ1及びスペー
ス信号の平均μ0とスペース信号の標準偏差σ0により、
前述の式(1)に代入してQ値を求める。
5の(b)に示す分布に比較して、マーク信号の標準偏
差σ1とスペース信号の標準偏差σ0がそれぞれ小さくな
っていることは明らかである。これにより、従来例に比
べてQ値が真の値に近くなっていることがわかる。
サンプリングパルス光の繰り返し周波数が被測定信号光
のクロック周波数に整数分の1に分周されかつ同期して
いるため、被測定信号光のタイムスロット内の所定時間
位置を常にサンプリングすることができる。したがっ
て、被測定信号光のアイ開口度が大きい時間タイミング
の振幅データを計測することができ、被測定信号光のパ
ルス幅に依存せず常に真のQ値を算出することができ
る。
よれば、被測定信号光の繰り返し周波数の整数分の1の
周波数に位相同期させたサンプリングパルス光を用い
て、被測定信号光のQ値を測定する光波形評価方法であ
って、サンプリングパルス光の繰り返し周波数を被測定
信号光の繰り返し周波数の整数分の1に分周し同期させ
るステップと、被測定信号光のタイムスロット内の所定
時間位置をサンプリングするように、サンプリングパル
ス光の繰り返し位相を制御するステップと、サンプリン
グして得たデータから被測定信号光に含まれるマーク信
号及びスペース信号の振幅とその標準偏差を求めてQ値
を算出するステップとを含むことによって、被測定信号
光のアイ開口度が大きい時間タイミングの振幅データを
計測することができ、被測定信号光のパルス幅に依存せ
ず常に真のQ値を算出することができる。従って、測定
時間を増加させることなく高精度に被測定信号光のQ値
を測定することができる光波形評価方法を提供できる。
データの“0”を意味するスペース信号と、デジタルデ
ータの“1”を意味するマーク信号とを識別することが
できる。
ングパルス光の繰り返し周波数を前記被測定信号光の繰
り返し周波数の整数分の1に分周し同期させることがで
きる。
号光のタイムスロット内の所定時間位置をサンプリング
するように、サンプリングパルス光の繰り返し位相を制
御することができる。
波形評価装置の構成を示すブロック図である。
すブロック図である。
の例を示すブロック図である。
図である。
波形評価方法を示す図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 被測定信号光の繰り返し周波数の整数分
の1の周波数に位相同期させたサンプリングパルス光を
用いて、前記被測定信号光のQ値を測定する光波形評価
方法であって、 前記サンプリングパルス光の繰り返し周波数を前記被測
定信号光の繰り返し周波数の整数分の1に分周し同期さ
せるステップと、 前記被測定信号光のタイムスロット内の所定時間位置を
サンプリングするように、前記サンプリングパルス光の
繰り返し位相を制御するステップと、 サンプリングして得たデータから前記被測定信号光に含
まれるマーク信号及びスペース信号の振幅とその標準偏
差を求めてQ値を算出するステップとを含むことを特徴
とする光波形評価方法。 - 【請求項2】 前記スペース信号はデジタルデータの
“0”を意味し、前記マーク信号はデジタルデータの
“1”を意味する信号であること特徴とする請求項1に
記載の光波形評価方法。 - 【請求項3】 前記サンプリングパルス光の繰り返し周
波数を前記被測定信号光の繰り返し周波数の整数分の1
に分周し同期させるステップは、分周器で分周し、位相
同期ループ回路を用いて同期させることを特徴とする請
求項1又は請求項2に記載の光波形評価方法。 - 【請求項4】 前記被測定信号光のタイムスロット内の
所定時間位置をサンプリングするように、前記サンプリ
ングパルス光の繰り返し位相を制御するステップは、遅
延回路あるいは位相器を用いて制御することを特徴とす
る請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光波形評価方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002023288A JP2003224528A (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | 光波形評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002023288A JP2003224528A (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | 光波形評価方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003224528A true JP2003224528A (ja) | 2003-08-08 |
Family
ID=27746037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002023288A Withdrawn JP2003224528A (ja) | 2002-01-31 | 2002-01-31 | 光波形評価方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003224528A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005173530A (ja) * | 2003-11-17 | 2005-06-30 | Osaka Industrial Promotion Organization | 光信号処理方法及び装置、非線形光ループミラーとその設計方法並びに光信号変換方法 |
WO2008154881A1 (fr) * | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Repère lumineux, procédé et dispositif pour moduler et démoduler un repère lumineux |
WO2010045866A1 (zh) * | 2008-10-21 | 2010-04-29 | 华为技术有限公司 | 光信号的标识或检测方法、装置以及标识及检测系统 |
JP2010204690A (ja) * | 2003-11-17 | 2010-09-16 | Osaka Industrial Promotion Organization | 非線形光ループミラーとその設計方法並びに光信号変換方法 |
JP4782889B1 (ja) * | 2010-12-21 | 2011-09-28 | 株式会社アドバンテスト | 繰り返し周波数制御装置 |
-
2002
- 2002-01-31 JP JP2002023288A patent/JP2003224528A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005173530A (ja) * | 2003-11-17 | 2005-06-30 | Osaka Industrial Promotion Organization | 光信号処理方法及び装置、非線形光ループミラーとその設計方法並びに光信号変換方法 |
JP2010204690A (ja) * | 2003-11-17 | 2010-09-16 | Osaka Industrial Promotion Organization | 非線形光ループミラーとその設計方法並びに光信号変換方法 |
WO2008154881A1 (fr) * | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Repère lumineux, procédé et dispositif pour moduler et démoduler un repère lumineux |
US8265480B2 (en) | 2007-06-20 | 2012-09-11 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Light mark, method and device for light mark modulation and demodulation |
WO2010045866A1 (zh) * | 2008-10-21 | 2010-04-29 | 华为技术有限公司 | 光信号的标识或检测方法、装置以及标识及检测系统 |
JP4782889B1 (ja) * | 2010-12-21 | 2011-09-28 | 株式会社アドバンテスト | 繰り返し周波数制御装置 |
US8306078B2 (en) | 2010-12-21 | 2012-11-06 | Advantest Corporation | Repetition frequency control device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10234483B2 (en) | Sampling circuit, sampling method, sampling oscilloscope, and waveform display method | |
US6407686B1 (en) | Waveform measuring apparatus | |
EP1184669B1 (en) | Waveform measuring method and apparatus | |
JP2000298447A (ja) | 画素同期回路 | |
JP2007024657A (ja) | 標本化装置および標本化方法 | |
JP4571283B2 (ja) | 波形測定装置 | |
JP2003224528A (ja) | 光波形評価方法 | |
US6856924B2 (en) | Mixer-based timebase for sampling multiple input signal references asynchronous to each other | |
JPH0783980A (ja) | ジッタ/ワンダ解析装置 | |
KR100242972B1 (ko) | 평판 디스플레이 장치의 트래킹 조정 회로 | |
JP3474308B2 (ja) | ジッタ測定装置 | |
JP2005337980A (ja) | 交流信号測定装置 | |
JP4074538B2 (ja) | 光サンプリング装置および光波形観測システム | |
JPH09196977A (ja) | スペクトラムアナライザ | |
US20030219086A1 (en) | Jitter identification using a wide bandwidth oscilloscope | |
JP3807285B2 (ja) | 光波形評価装置、光波形評価方法、光波形評価プログラムおよび光波形評価プログラムを記録した記録媒体 | |
JPH08262082A (ja) | サンプリング・デジタイザ | |
JPH01217220A (ja) | 光サンプリングオシロスコープ | |
JP2003130892A (ja) | 標本化方法及び標本化装置 | |
JP2001059852A (ja) | デジタル掃引型スペクトラムアナライザ | |
JP2010256235A (ja) | 光信号波形測定方法、装置及びプログラム | |
JPH02163679A (ja) | 信号発生装置 | |
JPH05119168A (ja) | 同期ジツタ量測定装置 | |
JPS63195575A (ja) | サンプリングオシロスコ−プ | |
JPH0534584U (ja) | 三角波信号校正装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20041001 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041217 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050121 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20050121 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060801 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060809 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20060906 |