JPH02163679A - 信号発生装置 - Google Patents
信号発生装置Info
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- JPH02163679A JPH02163679A JP63318006A JP31800688A JPH02163679A JP H02163679 A JPH02163679 A JP H02163679A JP 63318006 A JP63318006 A JP 63318006A JP 31800688 A JP31800688 A JP 31800688A JP H02163679 A JPH02163679 A JP H02163679A
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 59
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
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- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
例えば通信機器の性能などを測定する場合、第２図に示
すように、信号発生装置１０から、例えば正弦波信号、
矩形波信号、三角波信号などの測定用波形信号ＳＡを測
定対象機器１１に供給する。そして、この測定対象機器
１１を通った波形信号を波形観測用のストレージスコー
プなどの測定装置１２に供給する。 測定装置１２においては、測定対象機器１１を通った波
形信号をサンプリングし、そのサンプリング値をデジタ
ル信号に変換し、このデジタル信号を処理して測定波形
表示などを行う。 この場合に、波形信号ＳＡに非同期のサンプリングパル
スで測定対象機器からの信号をサンプリングすると、測
定波形は、静止波形として観測することができない。こ
のため、波形信号のサンプリングパルスは、波形信号の
繰り返し周期に同期している必要がある。 従来は、信号発生装置１０からその出力波形信号に同期
し、波形信号の繰り返し周波数のパルスＰＡか得られ、
このパルスＰＡが測定装置１２に供給される。測定装置
１２では、このパルスＰＡからサンプリングパルスを形
成する。測定装置で、いわゆるリアルタイムサンプリン
グを行う場合には、波形信号の１周期当たりのサンプル
数を例えば１０２４とした時、波形信号の繰り返し周波
数の１０２４倍の周波数のサンプリングパルスを必要と
する。そこで、測定装置ではパルスＰＡを逓倍してサン
プリングパルスを形成する。 ここで、信号発生装Ｗ１０では、一般にその出力波形信
号の繰り返し周波数を変えることができる。 このため、測定装置１２では、どの様な繰り返し周波数
の波形信号が入力されるかは判らない。そこで、測定装
置１２では、信号発生装置１０からのパルスＰＡの周期
を計測して波形信号の周波数を検知し、この検知した周
波数を逓倍してリアルタイムサンプリングのサンプリン
グパルスを形成するようにしている。
すように、信号発生装置１０から、例えば正弦波信号、
矩形波信号、三角波信号などの測定用波形信号ＳＡを測
定対象機器１１に供給する。そして、この測定対象機器
１１を通った波形信号を波形観測用のストレージスコー
プなどの測定装置１２に供給する。 測定装置１２においては、測定対象機器１１を通った波
形信号をサンプリングし、そのサンプリング値をデジタ
ル信号に変換し、このデジタル信号を処理して測定波形
表示などを行う。 この場合に、波形信号ＳＡに非同期のサンプリングパル
スで測定対象機器からの信号をサンプリングすると、測
定波形は、静止波形として観測することができない。こ
のため、波形信号のサンプリングパルスは、波形信号の
繰り返し周期に同期している必要がある。 従来は、信号発生装置１０からその出力波形信号に同期
し、波形信号の繰り返し周波数のパルスＰＡか得られ、
このパルスＰＡが測定装置１２に供給される。測定装置
１２では、このパルスＰＡからサンプリングパルスを形
成する。測定装置で、いわゆるリアルタイムサンプリン
グを行う場合には、波形信号の１周期当たりのサンプル
数を例えば１０２４とした時、波形信号の繰り返し周波
数の１０２４倍の周波数のサンプリングパルスを必要と
する。そこで、測定装置ではパルスＰＡを逓倍してサン
プリングパルスを形成する。 ここで、信号発生装Ｗ１０では、一般にその出力波形信
号の繰り返し周波数を変えることができる。 このため、測定装置１２では、どの様な繰り返し周波数
の波形信号が入力されるかは判らない。そこで、測定装
置１２では、信号発生装置１０からのパルスＰＡの周期
を計測して波形信号の周波数を検知し、この検知した周
波数を逓倍してリアルタイムサンプリングのサンプリン
グパルスを形成するようにしている。
【発明が解決しようとする課題１
以上のように従来は、測定対象機器を通った信号のサン
プリングパルスを測定装置で形成するため、信号発生装
置からの波形信号に同期したパルスの周波数を測定する
必要があり、サンプリングパルスの発生回路が複雑とな
ってしまっていた。 また、リアルタイムサンプリングは、波形信号の周波数
が高いときは測定装置の処理速度が高速である必要があ
り、測定装置として高価なものが必要になっていた。 従来より低速の処理に適するサンプリング方式として、
等価サンプリング方式や多数サンプリング方式が知られ
ている。 等価サンプリング方式は、波形信号の１〜複数周期毎に
１サンプルずつサンプリングすると共に、サンプリング
点を１サンプル毎にずらすようにするものである。した
がって、１波形当たりのデータを得るための時間は、リ
アルタイムサンプリングに比べて（１波形についてのサ
ンプル数＠）の時間かかることとなり、処理速度が遅い
もので良い。 多数サンプリング方式は、１周期の波形について複数個
ずつサンプリングすると共に、サンプリング位置を各周
期の波形でずらすもので、リアルタイムサンプリング方
式と等価サンプリング方式の中間の処理速度で良い。 以上のようなサンプリング方式を、測定装置で取り得る
ようにすれば、波形信号の周波数が高くても処理速度か
低速の測定装置で測定が可能になる。 しかし、このような低速のサンプリング方式を採用した
場合、測定用波形信号の周波数が低いときには処理時間
が非常に長くなってしまう。 以上の３種のサンプリング方式に対応したサンプリング
信号発生手段を測定装置にそれぞれ設け、処理速度に応
じてそのサンプリング信号発生手段を切り替えるように
することも考えられるが、それでは、測定装置の構成が
複雑になると共に、コスト高となってしまう。 この発明は、以上の欠点を改善できる信号発生装置を提
供することを目的とする。 【課題を解決するための手段】 この発明による信号発生装置は、 繰り返し周波数が可変の所定の波形の信号を発生する波
形信号発生器と、 この波形信号発生器からの波形信号の繰り返し周波数の
パルスを得る手段と、 上記パルスを分周する第１の可変分周回路と、可変周波
数発振器と、 この可変周波数発振器の出力信号を分周する第２の可変
分周回路と、 これら第１及び第２の分周回路の出力信号を位相比較す
る位相比較回路と、 Ｊ−、記波形信号発生器からの波形信号の繰り返し周波
数を決定するだめの信号及び上記第１及び第２の可変分
周回路の分周比を定める信号を発生する制御手段とを備
え、 上記波形信号発生器から上記設定された周波数の波形信
号か得られると共に、上記位相比較回路の出力に基づい
て」１記可変周波数発振器の発振周波数か制御され、こ
の可変周波数発振器より上記波形信号に同期したクロッ
クパルスか得られるようにする。
プリングパルスを測定装置で形成するため、信号発生装
置からの波形信号に同期したパルスの周波数を測定する
必要があり、サンプリングパルスの発生回路が複雑とな
ってしまっていた。 また、リアルタイムサンプリングは、波形信号の周波数
が高いときは測定装置の処理速度が高速である必要があ
り、測定装置として高価なものが必要になっていた。 従来より低速の処理に適するサンプリング方式として、
等価サンプリング方式や多数サンプリング方式が知られ
ている。 等価サンプリング方式は、波形信号の１〜複数周期毎に
１サンプルずつサンプリングすると共に、サンプリング
点を１サンプル毎にずらすようにするものである。した
がって、１波形当たりのデータを得るための時間は、リ
アルタイムサンプリングに比べて（１波形についてのサ
ンプル数＠）の時間かかることとなり、処理速度が遅い
もので良い。 多数サンプリング方式は、１周期の波形について複数個
ずつサンプリングすると共に、サンプリング位置を各周
期の波形でずらすもので、リアルタイムサンプリング方
式と等価サンプリング方式の中間の処理速度で良い。 以上のようなサンプリング方式を、測定装置で取り得る
ようにすれば、波形信号の周波数が高くても処理速度か
低速の測定装置で測定が可能になる。 しかし、このような低速のサンプリング方式を採用した
場合、測定用波形信号の周波数が低いときには処理時間
が非常に長くなってしまう。 以上の３種のサンプリング方式に対応したサンプリング
信号発生手段を測定装置にそれぞれ設け、処理速度に応
じてそのサンプリング信号発生手段を切り替えるように
することも考えられるが、それでは、測定装置の構成が
複雑になると共に、コスト高となってしまう。 この発明は、以上の欠点を改善できる信号発生装置を提
供することを目的とする。 【課題を解決するための手段】 この発明による信号発生装置は、 繰り返し周波数が可変の所定の波形の信号を発生する波
形信号発生器と、 この波形信号発生器からの波形信号の繰り返し周波数の
パルスを得る手段と、 上記パルスを分周する第１の可変分周回路と、可変周波
数発振器と、 この可変周波数発振器の出力信号を分周する第２の可変
分周回路と、 これら第１及び第２の分周回路の出力信号を位相比較す
る位相比較回路と、 Ｊ−、記波形信号発生器からの波形信号の繰り返し周波
数を決定するだめの信号及び上記第１及び第２の可変分
周回路の分周比を定める信号を発生する制御手段とを備
え、 上記波形信号発生器から上記設定された周波数の波形信
号か得られると共に、上記位相比較回路の出力に基づい
て」１記可変周波数発振器の発振周波数か制御され、こ
の可変周波数発振器より上記波形信号に同期したクロッ
クパルスか得られるようにする。
この発明による信号発生装置からは、制御手段からの信
号により設定された周波数の波形信号が得られると共に
、この波形信号に同期したクロックパルスが得られる。 このタロツクパルスは、制御手段からの信号により第１
及び第２の可変分周回路の分周比を適宜設定することに
より、種々の周波数とすることができる。 したがって、この発明の信号発生装置を前述した測定用
信号の発生装置に使用した場合には、出力波形信号と共
に、リアルタイムサンプリング用のサンプリングクロッ
ク、等価サンプリング用のサンプリングクロック、多数
サンブリング用のサンプリングクロックのいずれかを選
択的に得ることが容易にできる。 【実施例） 以下、この発明の一実施例を第１図を参照しながら説明
しよう。 ２１は、波形信号発生器で、これよりは例えば正弦波、
矩形波、三角波の波形信号ＳＡが選択的に得られ、その
出力波形信号が出力端子２０に導出される。この波形信
号発生器２１の出力信号である波形信号ＳＡの周波数は
可変である。これは、例えば、可変周波数発振器及び分
周回路を設け、分周回路の分周比を変えることで可能で
ある。 ２２は、例えはマイクロコンピュータなどのコンピュー
タ（以下ＣＰＵという）である、このＣＰＵ２２にはセ
レクトボタンなどを備える入力手段２３からの信号が供
給される。そして、この入力手段２３のセレクトボタン
などの操作に応じて、ＣＰＵ２２から波形信号発生器２
１に、波形の選択信号が供給されると共に出力波形信号
ＳＡの繰り返し周波数ｆを決定するための信号、例えば
波形信号発生器２１に設けられる分周回路の分周比を設
定する信号が供給される。 波形信号発生器２１からの波形信号ＳＡは、また、この
波形信号の繰り返し周波数のパルスＰＩの形成手段２４
に供給される。この形成手段２４は、例えばレベル比較
回路で構成でき、波形信号ＳＡを例えばゼロレベルと比
較して波形信号のゼロクロスを検出することで波形信号
ＳＡの繰り返し周波数でのパルスＰＩを得ることができ
る。 このパルスＰＩは、第１の可変分周回路２５に供給され
る。この分周図＆＠２５の分周比１／には、ＣＰＵ２２
から与えられる。この分周回路２５の出力信号は、位相
比較口Ｆ＃１２６の一方の入力端に供給される。 ２７は可変周波数発振器（以下ｖＣＯという）で、この
ＶＣＯ２７の発振出力は第２の分周図１ｉ２８に供給さ
れる。この分周回路２８の分周比１／Ｓも、また、ＣＰ
Ｕ２２から与えられる。この分周回路２８の出力信号は
、位相比較回路２６の他方の入力端に供給される。 位相比較回路２６では、第１及び第２の分周回路２５及
び２８からの出力信号が位相比較され、その位相比較誤
差出力がローパスフィルタ２９を介してＶＣ０２７に供
給され、このＶＣＯ２７の発振周波数が制御され、この
ＶＣＯ２７の出力信号であるクロックパルスＳＰが波形
信号発生器２１の出力波形信号ＳＡに同期するようにさ
れる。このタロツクパルスＳＰは、出力端子３０に導出
される。 そして、この第１図の信号発生装置を、前述した測定用
信号の発生装置として用いる場合、出力端子２０に得ら
れた波形信号ＳＡは測定対象機器に供給する。また、出
力端子３０に得られたクロックパルスＳＰは、測定装置
のサンプリング信号の入力端子に供給する。この場合に
は、測定装置にはサンプリング信号の形成回路は不要で
ある。 このＶＣＯ２７の出力信号ＳＰの周波数ｆｓは、波形信
号の周波数ｆと、分周回路２５及び２８の分周比により
定まる。 今、何波形毎にサンプリングするかの波形数をＮ（−１
，／２ｎ、または−Ｏｗｎは正の整数）、また、１周期
当なりのサンプリングデータ数をＭ（＝２” ； ｍは
正の整数）とした時、ｆｓ−Ｍ ｆ−旦ｆ Ｍ）Ｊ＋Ｉ Ｋ と表される。 第１及び第２の分周回路２５及び２８の分周比は、Ｓ＝
Ｍ、に＝ＭＮ＋１として設定される。 ここで、Ｎ＝Ｏであれば、ｆ ５＝ｓＸｆとなって、出
力クロックパルスＳＰは、リアルタイムサンプリングの
サンプリングパルスとなる。 また、０＜Ｎ＜１であれば、出力クロックパルスＳＰは
、多数サンプリングのサンプリングパルスとなる。 さらに、Ｎ＞１であれば、出力クロックパルスＳＰは、
等価サンプリングのサンプリングパルスとなる。 この場合、Ｍの値は、測定装置での波形信号の１周期当
たりのサンプルデータ数に応じて設定される。このため
、この例では、入力手段２３にＭの値の設定手段を設け
、これにより適宜Ｍの値を設定することができるように
している。測定装置での１周期当たりのサンプルデータ
数が予め定められた複数通りであるときには、このＭの
値の設定手段としては、その複数通りのサンプルデータ
数の選択手段でよい。もっとも、測定装置で、１周期当
たりのサンプルデータ数が固定であれば、そのＭの値を
予めＣＰＵ２１に記憶させておき、Ｍの値の設定手段は
設けなくても良い。 同様に、入力手段２３にＮの値の設定手段を設け、これ
により適宜Ｎの値を設定することができる。 また、Ｎの値の設定手段を設ける代わりに、入力手段２
３にリアルタイムサンプリングと、多数サンプリングと
、等価サンプリングとのいずれかを選択するセレクト手
段を設け、このセレクト手段により選択されたサンプリ
ング方式に応じたＮの値を、ＣＰＵ２１で設定するよう
にすることもできる。 その場合に、等価サンプリングのときと多数サンプリン
グのときには、Ｎの値を希望値に設定できるようにして
も良い。 また、Ｎの値の設定手段やセレクト手段は設けずに、Ｃ
ＰＵ２１からの信号により定められる出力波形信号の繰
り返し周波数に応じて、ＣＰＵ２１において、Ｎの値を
自動的に設定するようにしても良い、つまり、例えばＮ
の値を、波形信号ＳＡが高い周波数のときは出力タロツ
クパルスＳＰが等価サンプリング用のサンプリングパル
スとなるような値にし、波形信号ＳＡが低い周波数のと
きは出力クロックパルスＳＰがリアルサンプリングのサ
ンプリングパルスとなるような値にし、波形信号ＳＡが
その中間の周波数のときは出力クロックパルスＳＰが多
数サンプリング用のサンプリングパルスとなるようにす
る。 このようにすれば、処理速度が比較的遅い測定装置であ
っても、測定用信号の高い周波数から低い周波数まで、
効率的に測定を行うことができる。 なお、以上は、この発明による信号発生装置を、測定用
信号の発生装置として使用する場合を例にとって説明し
たが、この発明による信号発生装置は、その他種々の用
途に用いることができることはいうまでもない。 【発明の効果ン 以上のように、この発明によれば、波形信号と共に、こ
の波形信号に同期するクロックパルスを得ることができ
る。しかも、第１及び第２の可変分周回路の分周比を変
えることで、このクロックパルスの周波数を変えること
ができる。 したがって、このクロックパルスを、出力波形信号のサ
ンプリングパルスとして用いるようにする場合、出力波
形信号のサンプリング方式に応じてこのクロックパルス
の周波数を選定することが容易にできる。特に、この発
明の信号発生装置を測定用信号の発生装置として使用す
る場合、測定対象機器を通った波形信号のサンプリング
を行う測定装置の処理速度に応じて、クロックパルスを
リアルタイムサンプリング、多数サンプリング、等価サ
ンプリングの各サンプリング方式に応じたパルスとする
ことかできる。 また、測定装置が比較的処理速度が遅いものであった場
合、出力波形信号の周波数に応じて第１及び第２の可変
分周回路の分周比を設定することによって、測定用波形
信号の広帯域の周波数範囲に渡って、効率の良い測定を
行うことができる。
号により設定された周波数の波形信号が得られると共に
、この波形信号に同期したクロックパルスが得られる。 このタロツクパルスは、制御手段からの信号により第１
及び第２の可変分周回路の分周比を適宜設定することに
より、種々の周波数とすることができる。 したがって、この発明の信号発生装置を前述した測定用
信号の発生装置に使用した場合には、出力波形信号と共
に、リアルタイムサンプリング用のサンプリングクロッ
ク、等価サンプリング用のサンプリングクロック、多数
サンブリング用のサンプリングクロックのいずれかを選
択的に得ることが容易にできる。 【実施例） 以下、この発明の一実施例を第１図を参照しながら説明
しよう。 ２１は、波形信号発生器で、これよりは例えば正弦波、
矩形波、三角波の波形信号ＳＡが選択的に得られ、その
出力波形信号が出力端子２０に導出される。この波形信
号発生器２１の出力信号である波形信号ＳＡの周波数は
可変である。これは、例えば、可変周波数発振器及び分
周回路を設け、分周回路の分周比を変えることで可能で
ある。 ２２は、例えはマイクロコンピュータなどのコンピュー
タ（以下ＣＰＵという）である、このＣＰＵ２２にはセ
レクトボタンなどを備える入力手段２３からの信号が供
給される。そして、この入力手段２３のセレクトボタン
などの操作に応じて、ＣＰＵ２２から波形信号発生器２
１に、波形の選択信号が供給されると共に出力波形信号
ＳＡの繰り返し周波数ｆを決定するための信号、例えば
波形信号発生器２１に設けられる分周回路の分周比を設
定する信号が供給される。 波形信号発生器２１からの波形信号ＳＡは、また、この
波形信号の繰り返し周波数のパルスＰＩの形成手段２４
に供給される。この形成手段２４は、例えばレベル比較
回路で構成でき、波形信号ＳＡを例えばゼロレベルと比
較して波形信号のゼロクロスを検出することで波形信号
ＳＡの繰り返し周波数でのパルスＰＩを得ることができ
る。 このパルスＰＩは、第１の可変分周回路２５に供給され
る。この分周図＆＠２５の分周比１／には、ＣＰＵ２２
から与えられる。この分周回路２５の出力信号は、位相
比較口Ｆ＃１２６の一方の入力端に供給される。 ２７は可変周波数発振器（以下ｖＣＯという）で、この
ＶＣＯ２７の発振出力は第２の分周図１ｉ２８に供給さ
れる。この分周回路２８の分周比１／Ｓも、また、ＣＰ
Ｕ２２から与えられる。この分周回路２８の出力信号は
、位相比較回路２６の他方の入力端に供給される。 位相比較回路２６では、第１及び第２の分周回路２５及
び２８からの出力信号が位相比較され、その位相比較誤
差出力がローパスフィルタ２９を介してＶＣ０２７に供
給され、このＶＣＯ２７の発振周波数が制御され、この
ＶＣＯ２７の出力信号であるクロックパルスＳＰが波形
信号発生器２１の出力波形信号ＳＡに同期するようにさ
れる。このタロツクパルスＳＰは、出力端子３０に導出
される。 そして、この第１図の信号発生装置を、前述した測定用
信号の発生装置として用いる場合、出力端子２０に得ら
れた波形信号ＳＡは測定対象機器に供給する。また、出
力端子３０に得られたクロックパルスＳＰは、測定装置
のサンプリング信号の入力端子に供給する。この場合に
は、測定装置にはサンプリング信号の形成回路は不要で
ある。 このＶＣＯ２７の出力信号ＳＰの周波数ｆｓは、波形信
号の周波数ｆと、分周回路２５及び２８の分周比により
定まる。 今、何波形毎にサンプリングするかの波形数をＮ（−１
，／２ｎ、または−Ｏｗｎは正の整数）、また、１周期
当なりのサンプリングデータ数をＭ（＝２” ； ｍは
正の整数）とした時、ｆｓ−Ｍ ｆ−旦ｆ Ｍ）Ｊ＋Ｉ Ｋ と表される。 第１及び第２の分周回路２５及び２８の分周比は、Ｓ＝
Ｍ、に＝ＭＮ＋１として設定される。 ここで、Ｎ＝Ｏであれば、ｆ ５＝ｓＸｆとなって、出
力クロックパルスＳＰは、リアルタイムサンプリングの
サンプリングパルスとなる。 また、０＜Ｎ＜１であれば、出力クロックパルスＳＰは
、多数サンプリングのサンプリングパルスとなる。 さらに、Ｎ＞１であれば、出力クロックパルスＳＰは、
等価サンプリングのサンプリングパルスとなる。 この場合、Ｍの値は、測定装置での波形信号の１周期当
たりのサンプルデータ数に応じて設定される。このため
、この例では、入力手段２３にＭの値の設定手段を設け
、これにより適宜Ｍの値を設定することができるように
している。測定装置での１周期当たりのサンプルデータ
数が予め定められた複数通りであるときには、このＭの
値の設定手段としては、その複数通りのサンプルデータ
数の選択手段でよい。もっとも、測定装置で、１周期当
たりのサンプルデータ数が固定であれば、そのＭの値を
予めＣＰＵ２１に記憶させておき、Ｍの値の設定手段は
設けなくても良い。 同様に、入力手段２３にＮの値の設定手段を設け、これ
により適宜Ｎの値を設定することができる。 また、Ｎの値の設定手段を設ける代わりに、入力手段２
３にリアルタイムサンプリングと、多数サンプリングと
、等価サンプリングとのいずれかを選択するセレクト手
段を設け、このセレクト手段により選択されたサンプリ
ング方式に応じたＮの値を、ＣＰＵ２１で設定するよう
にすることもできる。 その場合に、等価サンプリングのときと多数サンプリン
グのときには、Ｎの値を希望値に設定できるようにして
も良い。 また、Ｎの値の設定手段やセレクト手段は設けずに、Ｃ
ＰＵ２１からの信号により定められる出力波形信号の繰
り返し周波数に応じて、ＣＰＵ２１において、Ｎの値を
自動的に設定するようにしても良い、つまり、例えばＮ
の値を、波形信号ＳＡが高い周波数のときは出力タロツ
クパルスＳＰが等価サンプリング用のサンプリングパル
スとなるような値にし、波形信号ＳＡが低い周波数のと
きは出力クロックパルスＳＰがリアルサンプリングのサ
ンプリングパルスとなるような値にし、波形信号ＳＡが
その中間の周波数のときは出力クロックパルスＳＰが多
数サンプリング用のサンプリングパルスとなるようにす
る。 このようにすれば、処理速度が比較的遅い測定装置であ
っても、測定用信号の高い周波数から低い周波数まで、
効率的に測定を行うことができる。 なお、以上は、この発明による信号発生装置を、測定用
信号の発生装置として使用する場合を例にとって説明し
たが、この発明による信号発生装置は、その他種々の用
途に用いることができることはいうまでもない。 【発明の効果ン 以上のように、この発明によれば、波形信号と共に、こ
の波形信号に同期するクロックパルスを得ることができ
る。しかも、第１及び第２の可変分周回路の分周比を変
えることで、このクロックパルスの周波数を変えること
ができる。 したがって、このクロックパルスを、出力波形信号のサ
ンプリングパルスとして用いるようにする場合、出力波
形信号のサンプリング方式に応じてこのクロックパルス
の周波数を選定することが容易にできる。特に、この発
明の信号発生装置を測定用信号の発生装置として使用す
る場合、測定対象機器を通った波形信号のサンプリング
を行う測定装置の処理速度に応じて、クロックパルスを
リアルタイムサンプリング、多数サンプリング、等価サ
ンプリングの各サンプリング方式に応じたパルスとする
ことかできる。 また、測定装置が比較的処理速度が遅いものであった場
合、出力波形信号の周波数に応じて第１及び第２の可変
分周回路の分周比を設定することによって、測定用波形
信号の広帯域の周波数範囲に渡って、効率の良い測定を
行うことができる。
第１図は、この発明の一実錐例のブロック図、第２図は
、この発明の使用例の一例の測定システムを説明するた
めの図である。 ２０、波形信号の出力端子 ２１：波形信号発生器 ２２、ＣＰＵ ２４；波形信号の繰り返し周波数のパルスＰ■の形成手
段 ２５；第１の分周回路 ２６； ２７： ２８； ３０； 位相比較回路 ＣＯ 第２の分周回路 クロックパルスの出力端子
、この発明の使用例の一例の測定システムを説明するた
めの図である。 ２０、波形信号の出力端子 ２１：波形信号発生器 ２２、ＣＰＵ ２４；波形信号の繰り返し周波数のパルスＰ■の形成手
段 ２５；第１の分周回路 ２６； ２７： ２８； ３０； 位相比較回路 ＣＯ 第２の分周回路 クロックパルスの出力端子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 繰り返し周波数が可変の所定の波形の信号を発生する波
形信号発生器と、 この波形信号発生器からの波形信号の繰り返し周波数の
パルスを得る手段と、 上記パルスを分周する第１の可変分周回路と、可変周波
数発振器と、 この可変周波数発振器の出力信号を分周する第２の可変
分周回路と、 これら第１及び第２の分周回路の出力信号を位相比較す
る位相比較回路と、 上記波形信号発生器からの波形信号の繰り返し周波数を
決定するための信号及び上記第１及び第２の可変分周回
路の分周比を定める信号を発生する制御手段とを備え、 上記波形信号発生器から上記設定された周波数の波形信
号が得られると共に、上記位相比較回路の出力に基づい
て上記可変周波数発振器の発振周波数が制御され、この
可変周波数発振器より上記波形信号に同期したクロック
パルスが得られるようにした信号発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63318006A JP2508226B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63318006A JP2508226B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 信号発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02163679A true JPH02163679A (ja) | 1990-06-22 |
| JP2508226B2 JP2508226B2 (ja) | 1996-06-19 |
Family
ID=18094436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63318006A Expired - Fee Related JP2508226B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 信号発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2508226B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04372871A (ja) * | 1991-06-24 | 1992-12-25 | Fujitsu Denso Ltd | 可変サンプリング測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58164342U (ja) * | 1982-04-23 | 1983-11-01 | 古野電気株式会社 | 周波数シンセサイザ− |
| JPS60246122A (ja) * | 1984-05-22 | 1985-12-05 | Nec Corp | 微分利得測定回路 |
-
1988
- 1988-12-16 JP JP63318006A patent/JP2508226B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58164342U (ja) * | 1982-04-23 | 1983-11-01 | 古野電気株式会社 | 周波数シンセサイザ− |
| JPS60246122A (ja) * | 1984-05-22 | 1985-12-05 | Nec Corp | 微分利得測定回路 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04372871A (ja) * | 1991-06-24 | 1992-12-25 | Fujitsu Denso Ltd | 可変サンプリング測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2508226B2 (ja) | 1996-06-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |