JPH07209351A - スペクトラム・アナライザ用局部発振器 - Google Patents
スペクトラム・アナライザ用局部発振器Info
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- JPH07209351A JPH07209351A JP1584694A JP1584694A JPH07209351A JP H07209351 A JPH07209351 A JP H07209351A JP 1584694 A JP1584694 A JP 1584694A JP 1584694 A JP1584694 A JP 1584694A JP H07209351 A JPH07209351 A JP H07209351A
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- sweeping
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、掃引周波数の安定度を向上する為
にＹＴＯの掃引を、常に位相ロックのかかった状態でス
テップ的に連続して掃引する手段を講じることを目的と
する。 【構成】 基準クロック３１をもとにコントローラ３２
からのデータ設定によりデジタルサイン波信号を出力す
るＤＤＳ３３を設け、当該ＤＤＳ３３の出力をアナログ
の階段状サイン波信号に変換出力するＤＡ変換器３４を
設け、当該ＤＡ変換器３４のアナログの階段状サイン波
出力信号のうち高域周波数成分を削除するローパス・フ
ィルタ３５を設け、当該ローパス・フィルタ３５の出力
信号を位相比較器３６の一方に与えて高域周波数成分を
削除する手段とし、当該ＤＤＳ３３に掃引周波数データ
を設定して、周波数をステップ単位に発生して、掃引を
行うコントローラ３２を設け、周波数のステップ単位毎
に位相比較器３６により位相ロックしてＹＴＯ３８の出
力周波数をロックしてから測定する手段。
にＹＴＯの掃引を、常に位相ロックのかかった状態でス
テップ的に連続して掃引する手段を講じることを目的と
する。 【構成】 基準クロック３１をもとにコントローラ３２
からのデータ設定によりデジタルサイン波信号を出力す
るＤＤＳ３３を設け、当該ＤＤＳ３３の出力をアナログ
の階段状サイン波信号に変換出力するＤＡ変換器３４を
設け、当該ＤＡ変換器３４のアナログの階段状サイン波
出力信号のうち高域周波数成分を削除するローパス・フ
ィルタ３５を設け、当該ローパス・フィルタ３５の出力
信号を位相比較器３６の一方に与えて高域周波数成分を
削除する手段とし、当該ＤＤＳ３３に掃引周波数データ
を設定して、周波数をステップ単位に発生して、掃引を
行うコントローラ３２を設け、周波数のステップ単位毎
に位相比較器３６により位相ロックしてＹＴＯ３８の出
力周波数をロックしてから測定する手段。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、スペクトラム・アナ
ライザの測定器において、高精度・高安定な周波数の掃
引を実現する手段に関する。
ライザの測定器において、高精度・高安定な周波数の掃
引を実現する手段に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５に従来のスペクトラムアナライザの
構成ブロック図例を示して説明する。従来では、周波数
掃引手段として、ランプ電圧発生部５２を設け、このア
ナログのランプ電圧を局部発振器５３でアナログ電圧加
算することで、局部発振器５３内部のＹＴＯ４７の発振
周波数を掃引する。これによって周波数の掃引を実現し
ている。構成要素としては、ランプ電圧発生部５２と、
局部発振器５３を設けている。この局部発振器５３の内
部構成は、図６の詳細ブロック図に示すように、基準周
波数４１と、位相比較器４２と、分周器４３と、Ｓ／Ｈ
４４（サンプル・ホールド）と、アナログ加算器４５
と、ＹＴＯ４７とで構成している。スペクトラムアナラ
イザでは、この掃引周波数ｆ７３と外部入力信号ｆ７１
とをミキサ５４でミキシングし、この信号を発振器５６
とミキサ５５で再度ミキシングして中間周波数にした
後、ＢＰＦ５７で所定のフィルタ諸元でフィルタした
後、検波ＡＤ部５１で検波した後、ＡＤ変換後、演算装
置５８で所定の表示単位に演算した後、表示装置１２に
スペクトラム表示する。
構成ブロック図例を示して説明する。従来では、周波数
掃引手段として、ランプ電圧発生部５２を設け、このア
ナログのランプ電圧を局部発振器５３でアナログ電圧加
算することで、局部発振器５３内部のＹＴＯ４７の発振
周波数を掃引する。これによって周波数の掃引を実現し
ている。構成要素としては、ランプ電圧発生部５２と、
局部発振器５３を設けている。この局部発振器５３の内
部構成は、図６の詳細ブロック図に示すように、基準周
波数４１と、位相比較器４２と、分周器４３と、Ｓ／Ｈ
４４（サンプル・ホールド）と、アナログ加算器４５
と、ＹＴＯ４７とで構成している。スペクトラムアナラ
イザでは、この掃引周波数ｆ７３と外部入力信号ｆ７１
とをミキサ５４でミキシングし、この信号を発振器５６
とミキサ５５で再度ミキシングして中間周波数にした
後、ＢＰＦ５７で所定のフィルタ諸元でフィルタした
後、検波ＡＤ部５１で検波した後、ＡＤ変換後、演算装
置５８で所定の表示単位に演算した後、表示装置１２に
スペクトラム表示する。
【０００３】次に、この構成の掃引動作について説明す
る。最初に、ランプ電圧発生部５２からのランプ電圧４
６を変えない、即ち一定電圧にしておいて、ＹＴＯ４７
をロック状態にする。ここで、ロック状態とは、位相比
較器４２で比較した結果の出力信号でＹＴＯ４７が一定
の周波数を出力する状態をいう。つまり、ＹＴＯ４７の
出力を分周器４３で１／Ｎに分周した後、位相比較器４
２の一方の入力に与える。そして、位相比較器４２の他
方の入力には基準周波数４１を与える。これらの位相比
較後のアナログ出力電圧をＹＴＯ４７に与えて周波数を
ロック状態にする。この時、Ｓ／Ｈ４４はバイパス状態
にし、またアナログ加算器４５の他方のランプ電圧４６
の入力は一定電圧にしておく。次に、ロック状態の位相
比較器４２からのアナログ電圧を保持（ホールド）する
ためにＳ／Ｈ４４をＯＮ動作させる。これによりＹＴＯ
の発振周波数は、このＳ／Ｈの出力電圧に依存する一定
周波数に固定され、位相比較ループは形成されなくな
る。次に、この状態の周波数に対して掃引を与える為
に、ランプ電圧発生部５２からランプ電圧をアナログ加
算器４５に与えて加算した出力をＹＴＯ４７へ与える。
これにより、周波数の掃引を実現している。
る。最初に、ランプ電圧発生部５２からのランプ電圧４
６を変えない、即ち一定電圧にしておいて、ＹＴＯ４７
をロック状態にする。ここで、ロック状態とは、位相比
較器４２で比較した結果の出力信号でＹＴＯ４７が一定
の周波数を出力する状態をいう。つまり、ＹＴＯ４７の
出力を分周器４３で１／Ｎに分周した後、位相比較器４
２の一方の入力に与える。そして、位相比較器４２の他
方の入力には基準周波数４１を与える。これらの位相比
較後のアナログ出力電圧をＹＴＯ４７に与えて周波数を
ロック状態にする。この時、Ｓ／Ｈ４４はバイパス状態
にし、またアナログ加算器４５の他方のランプ電圧４６
の入力は一定電圧にしておく。次に、ロック状態の位相
比較器４２からのアナログ電圧を保持（ホールド）する
ためにＳ／Ｈ４４をＯＮ動作させる。これによりＹＴＯ
の発振周波数は、このＳ／Ｈの出力電圧に依存する一定
周波数に固定され、位相比較ループは形成されなくな
る。次に、この状態の周波数に対して掃引を与える為
に、ランプ電圧発生部５２からランプ電圧をアナログ加
算器４５に与えて加算した出力をＹＴＯ４７へ与える。
これにより、周波数の掃引を実現している。
【０００４】上記説明のような手段で掃引実施している
為に、掃引周波数の安定度が悪くなったり、スパン確度
が悪くなってしまう。この理由の第１は、ＹＴＯの掃引
が、非ロック状態である為、ＹＴＯの発振周波数が温
度、その他によりドリフトが生じてくる為である。ま
た、理由の第２は、Ｓ／Ｈ４４回路においてホールドし
たアナログ電圧が、時間経過に伴ってリークし、微少な
電圧低下をもたらす結果、ＹＴＯの発振周波数が変化し
てしまう点である。また、理由の第３は、ＹＴＯに印加
するアナログ入力電圧に対して、ＹＴＯ自身の発振周波
数特性が、完全には比例関係にはない点、つまり非リニ
ヤリティ特性を持っている点である。
為に、掃引周波数の安定度が悪くなったり、スパン確度
が悪くなってしまう。この理由の第１は、ＹＴＯの掃引
が、非ロック状態である為、ＹＴＯの発振周波数が温
度、その他によりドリフトが生じてくる為である。ま
た、理由の第２は、Ｓ／Ｈ４４回路においてホールドし
たアナログ電圧が、時間経過に伴ってリークし、微少な
電圧低下をもたらす結果、ＹＴＯの発振周波数が変化し
てしまう点である。また、理由の第３は、ＹＴＯに印加
するアナログ入力電圧に対して、ＹＴＯ自身の発振周波
数特性が、完全には比例関係にはない点、つまり非リニ
ヤリティ特性を持っている点である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、掃
引周波数の安定度が悪くなったり、スパン確度が悪くな
る問題がある。この為、測定精度の低下をもたらした
り、掃引の再現性が悪くなったりして好ましくない。
引周波数の安定度が悪くなったり、スパン確度が悪くな
る問題がある。この為、測定精度の低下をもたらした
り、掃引の再現性が悪くなったりして好ましくない。
【０００６】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、ＹＴＯの掃引を、フリーラン状態で掃引するのをや
めて、常に、位相ロックをかけて、連続してステップ的
に周波数を掃引する手段を講じて、これらの問題を解決
することを目的とする。
は、ＹＴＯの掃引を、フリーラン状態で掃引するのをや
めて、常に、位相ロックをかけて、連続してステップ的
に周波数を掃引する手段を講じて、これらの問題を解決
することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、スペクトラム・アナライザの局
部発振器３０に、周波数を掃引するＹＴＯ３８と分周器
３７と位相比較器３６を有して周波数を掃引する装置に
おいて、基準クロック３１をもとにコントローラ３２か
らのデジタルデータの設定入力により任意のデジタルサ
イン波信号を出力するＤＤＳ３３を設け、当該ＤＤＳ３
３のデジタルサイン波信号入力をアナログの階段状サイ
ン波形信号に変換出力するＤＡ変換器３４を設け、当該
ＤＡ変換器３４のアナログの階段状サイン波出力信号の
うち高域周波数成分を削除するローパス・フィルタ３５
を設け、当該ローパス・フィルタ３５の出力信号を位相
比較器３６の一方に与えて高域周波数成分を削除する手
段とし、当該ＤＤＳ３３に掃引周波数データを設定し
て、周波数をステップ単位に発生して、掃引を行うコン
トローラ３２を設け、周波数のステップ単位毎に位相比
較器３６により位相ロックしてＹＴＯ３８の出力周波数
をロックしてから測定する手段としている。
に、本発明の構成では、スペクトラム・アナライザの局
部発振器３０に、周波数を掃引するＹＴＯ３８と分周器
３７と位相比較器３６を有して周波数を掃引する装置に
おいて、基準クロック３１をもとにコントローラ３２か
らのデジタルデータの設定入力により任意のデジタルサ
イン波信号を出力するＤＤＳ３３を設け、当該ＤＤＳ３
３のデジタルサイン波信号入力をアナログの階段状サイ
ン波形信号に変換出力するＤＡ変換器３４を設け、当該
ＤＡ変換器３４のアナログの階段状サイン波出力信号の
うち高域周波数成分を削除するローパス・フィルタ３５
を設け、当該ローパス・フィルタ３５の出力信号を位相
比較器３６の一方に与えて高域周波数成分を削除する手
段とし、当該ＤＤＳ３３に掃引周波数データを設定し
て、周波数をステップ単位に発生して、掃引を行うコン
トローラ３２を設け、周波数のステップ単位毎に位相比
較器３６により位相ロックしてＹＴＯ３８の出力周波数
をロックしてから測定する手段としている。
【０００８】
【作用】ＤＤＳ３３内部の分周器に、コントローラ３２
から掃引ステップ周波数づつ加算した値を順次連続的に
設定していくことで、掃引周波数を位相ロックのかけら
れるロック・ループ系内に内包することが可能となる。
この結果、ＹＴＯの発振周波数は、常にロックをかけた
状態でステップ周波数毎に連続的な掃引を実現する作用
を得られる。
から掃引ステップ周波数づつ加算した値を順次連続的に
設定していくことで、掃引周波数を位相ロックのかけら
れるロック・ループ系内に内包することが可能となる。
この結果、ＹＴＯの発振周波数は、常にロックをかけた
状態でステップ周波数毎に連続的な掃引を実現する作用
を得られる。
【０００９】
【実施例】本実施例では、ＹＴＯを常に位相ロックのか
かった状態で、かつ掃引周波数を基準クロック３１を分
周してステップ的に掃引することで実現している。
かった状態で、かつ掃引周波数を基準クロック３１を分
周してステップ的に掃引することで実現している。
【００１０】これについて、具体的に順次説明する。本
発明の構成要素としては、局部発振器３０のみを設ける
構成で、ランプ電圧発生部は設けない。しかし、このラ
ンプ電圧発生機能の代わりを局部発振器３０内で行って
いる。局部発振器３０の内部構成は、図２の詳細ブロッ
ク図に示すように、ＤＤＳ３３と、コントローラ３２
と、ＤＡ変換器３４と、ＬＰＦ３５と、位相比較器３６
と、分周器３７と、ＹＴＯ３８とで構成している。
発明の構成要素としては、局部発振器３０のみを設ける
構成で、ランプ電圧発生部は設けない。しかし、このラ
ンプ電圧発生機能の代わりを局部発振器３０内で行って
いる。局部発振器３０の内部構成は、図２の詳細ブロッ
ク図に示すように、ＤＤＳ３３と、コントローラ３２
と、ＤＡ変換器３４と、ＬＰＦ３５と、位相比較器３６
と、分周器３７と、ＹＴＯ３８とで構成している。
【００１１】掃引手段については、従来のようなランプ
電圧とのアナログ加算手段を使用していない。代わり
に、位相比較器３６の一方の基準周波数側をステップ的
にかつ連続して掃引する手段に変更している。すなわ
ち、図３、図４に示すように、ＤＤＳ３３へ基準クロッ
ク３１を与え、コントローラ３２からＤＤＳ３３内部の
分周周波数設定レジスタ３３ａに、掃引周波数に対応し
たデータ値を設定する。これによりクロック・レート３
３ｃが変わる。これを、アドレス・カウンタ３３ｄに与
えて、ＲＯＭテーブル・メモリ３３ｅから、サイン波デ
ータ内容を順次読み出して、デジタル信号３３ｆを出力
する。この出力信号をＤＡ変換器３４に与えてアナログ
の階段状サイン波形２１電圧に変換し、更に、これをＬ
ＰＦ３５のローパス・フィルタにより高域成分を取り除
いたサイン波形２４に変換し、これを位相比較器３６の
他方の入力に与えている。
電圧とのアナログ加算手段を使用していない。代わり
に、位相比較器３６の一方の基準周波数側をステップ的
にかつ連続して掃引する手段に変更している。すなわ
ち、図３、図４に示すように、ＤＤＳ３３へ基準クロッ
ク３１を与え、コントローラ３２からＤＤＳ３３内部の
分周周波数設定レジスタ３３ａに、掃引周波数に対応し
たデータ値を設定する。これによりクロック・レート３
３ｃが変わる。これを、アドレス・カウンタ３３ｄに与
えて、ＲＯＭテーブル・メモリ３３ｅから、サイン波デ
ータ内容を順次読み出して、デジタル信号３３ｆを出力
する。この出力信号をＤＡ変換器３４に与えてアナログ
の階段状サイン波形２１電圧に変換し、更に、これをＬ
ＰＦ３５のローパス・フィルタにより高域成分を取り除
いたサイン波形２４に変換し、これを位相比較器３６の
他方の入力に与えている。
【００１２】ここで、図３のＤＤＳ３３の内部原理ブロ
ック図を示して、ＬＳＩの概要を説明する。ＤＤＳと
は、デジタル的に任意の周波数のデジタル・サイン波信
号を出力するシンセサイザである。例えば、３２ビット
長の分周周波数設定レジスタ３３ａと、分周器３３ｂ
と、サイン波形の一周回数２２のアドレスを発生するア
ドレス・カウンタ３３ｄと、サイン波形発生用の１２ビ
ットのデータを出力するＲＯＭテーブル・メモリ３３ｅ
で構成される。そして、設定データを分周周波数設定レ
ジスタ３３ａに設定すると、分周器３３ｂが基準クロッ
ク３１入力を設定データに対応したクロック・レート３
３ｃに変換して出力する。このクロック・レート３３ｃ
は、図４の２３の計算式に示すように高分解能ピッチで
発生でき、しかも、この設定の切替わり時においても、
出力波形の位相の連続性は保たれる。このクロック・レ
ート３３ｃを、アドレス・カウンタ３３ｄに与えて、カ
ウントさせる。そして、カウントしていくことで、ＲＯ
Ｍテーブル・メモリ３３ｅ用のアドレスを発生出力して
いる。このアドレス発生によって、ＲＯＭテーブル・メ
モリ３３ｅの内容、即ち１２ビット長のサイン波データ
内容を順次読み出して、デジタル信号３３ｆを出力す
る。これにより、図４に示すように、デジタル階段状サ
イン波形２１となるデジタル・データを発生出力するＬ
ＳＩである。
ック図を示して、ＬＳＩの概要を説明する。ＤＤＳと
は、デジタル的に任意の周波数のデジタル・サイン波信
号を出力するシンセサイザである。例えば、３２ビット
長の分周周波数設定レジスタ３３ａと、分周器３３ｂ
と、サイン波形の一周回数２２のアドレスを発生するア
ドレス・カウンタ３３ｄと、サイン波形発生用の１２ビ
ットのデータを出力するＲＯＭテーブル・メモリ３３ｅ
で構成される。そして、設定データを分周周波数設定レ
ジスタ３３ａに設定すると、分周器３３ｂが基準クロッ
ク３１入力を設定データに対応したクロック・レート３
３ｃに変換して出力する。このクロック・レート３３ｃ
は、図４の２３の計算式に示すように高分解能ピッチで
発生でき、しかも、この設定の切替わり時においても、
出力波形の位相の連続性は保たれる。このクロック・レ
ート３３ｃを、アドレス・カウンタ３３ｄに与えて、カ
ウントさせる。そして、カウントしていくことで、ＲＯ
Ｍテーブル・メモリ３３ｅ用のアドレスを発生出力して
いる。このアドレス発生によって、ＲＯＭテーブル・メ
モリ３３ｅの内容、即ち１２ビット長のサイン波データ
内容を順次読み出して、デジタル信号３３ｆを出力す
る。これにより、図４に示すように、デジタル階段状サ
イン波形２１となるデジタル・データを発生出力するＬ
ＳＩである。
【００１３】このＤＤＳ３３からの出力信号は、上記の
説明のように、設定データの切替わりの瞬間時において
も、出力波形の位相の連続性は保たれる為、位相比較器
３６側での位相比較検出の過渡的出力変動がなく、短時
間でロックがかかる。このＤＤＳからのデジタル信号
を、ＤＡ変換器３４でアナログの階段状サイン波形２１
に変換し、次段のＬＰＦ３５により、高調波成分による
ＹＴＯ４７のジッタの発生を減らす為に、なるべく高調
波成分を取り除いたサイン波形２４に変換した後、位相
比較器３６の一方に与える。
説明のように、設定データの切替わりの瞬間時において
も、出力波形の位相の連続性は保たれる為、位相比較器
３６側での位相比較検出の過渡的出力変動がなく、短時
間でロックがかかる。このＤＤＳからのデジタル信号
を、ＤＡ変換器３４でアナログの階段状サイン波形２１
に変換し、次段のＬＰＦ３５により、高調波成分による
ＹＴＯ４７のジッタの発生を減らす為に、なるべく高調
波成分を取り除いたサイン波形２４に変換した後、位相
比較器３６の一方に与える。
【００１４】上記説明のように、掃引する周波数を、Ｄ
ＤＳ内部のクロック・レート３３ｃを、掃引ステップ周
波数単位毎に、順次連続的にコントローラ３２から設定
していくことで、可変周波数３２ａが出力され、これに
より掃引機能を実現している。そして、この可変周波数
３２ａを位相比較器３６の一方の入力に与え、ＹＴＯ３
８の出力を分周器３７で１／Ｎに分周した後、位相比較
器３６の他方の入力に与えて位相を比較し、その出力信
号でＹＴＯの発振周波数を制御してロックをかけてい
る。これにより、ＹＴＯの発振周波数は常にロックのか
かった状態でステップ的に発振して出力する。また、ス
テップ周波数の設定変更直後から、ＹＴＯが次にロック
する迄に少しの時間がかかるので、このロック待ち時間
以上を経過してから検波ＡＤ部５１で検波し、ＡＤ変換
して測定する。
ＤＳ内部のクロック・レート３３ｃを、掃引ステップ周
波数単位毎に、順次連続的にコントローラ３２から設定
していくことで、可変周波数３２ａが出力され、これに
より掃引機能を実現している。そして、この可変周波数
３２ａを位相比較器３６の一方の入力に与え、ＹＴＯ３
８の出力を分周器３７で１／Ｎに分周した後、位相比較
器３６の他方の入力に与えて位相を比較し、その出力信
号でＹＴＯの発振周波数を制御してロックをかけてい
る。これにより、ＹＴＯの発振周波数は常にロックのか
かった状態でステップ的に発振して出力する。また、ス
テップ周波数の設定変更直後から、ＹＴＯが次にロック
する迄に少しの時間がかかるので、このロック待ち時間
以上を経過してから検波ＡＤ部５１で検波し、ＡＤ変換
して測定する。
【００１５】上記説明のように、常にロックした状態で
の測定が実現できる為、基準クロック３１と同じ周波数
精度で掃引して測定が可能となる。このことは、極めて
高精度の掃引測定が実現できることを意味する。例え
ば、従来では、掃引周波数軸として、対数スケールでの
掃引をした場合、ランプ電圧に対する周波数変化量を大
きく与える必要から掃引測定した結果のスペクトラム表
示画面に周波数目盛とのずれが生じたり、スペクトラム
再現性が悪くなったりして、測定上の問題がしばしばあ
ったが、本発明ではコントローラ３２に対数テーブルを
持たせることにより、その問題がなくなり、対数スケー
ルでの正確なスペクトラム測定が実現可能となる。
の測定が実現できる為、基準クロック３１と同じ周波数
精度で掃引して測定が可能となる。このことは、極めて
高精度の掃引測定が実現できることを意味する。例え
ば、従来では、掃引周波数軸として、対数スケールでの
掃引をした場合、ランプ電圧に対する周波数変化量を大
きく与える必要から掃引測定した結果のスペクトラム表
示画面に周波数目盛とのずれが生じたり、スペクトラム
再現性が悪くなったりして、測定上の問題がしばしばあ
ったが、本発明ではコントローラ３２に対数テーブルを
持たせることにより、その問題がなくなり、対数スケー
ルでの正確なスペクトラム測定が実現可能となる。
【００１６】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。基
準クロック３１を基にして、デジタル値で分周した周波
数でステップ掃引し、かつ位相ロックのかかった後、検
波ＡＤ部５１で検波測定する結果、常に、基準周波数と
同一精度の正確な周波数で掃引測定することが可能とな
る利点が得られる。無論、周波数スパン確度も、基準周
波数と同一精度の確度となり、従来とは比較にならない
程の超高安定な確度が得られる効果がある。ＤＤＳ３３
のプログラマブル分周機能により、位相比較器３６の一
方の基準周波数側自体に対して、周波数を掃引する手段
が得られることとなる。この結果、アナログ電圧による
掃引回路が不要となり、また、位相ロック・ループを形
成した状態での掃引が実現可能となった。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。基
準クロック３１を基にして、デジタル値で分周した周波
数でステップ掃引し、かつ位相ロックのかかった後、検
波ＡＤ部５１で検波測定する結果、常に、基準周波数と
同一精度の正確な周波数で掃引測定することが可能とな
る利点が得られる。無論、周波数スパン確度も、基準周
波数と同一精度の確度となり、従来とは比較にならない
程の超高安定な確度が得られる効果がある。ＤＤＳ３３
のプログラマブル分周機能により、位相比較器３６の一
方の基準周波数側自体に対して、周波数を掃引する手段
が得られることとなる。この結果、アナログ電圧による
掃引回路が不要となり、また、位相ロック・ループを形
成した状態での掃引が実現可能となった。
【００１７】また、デジタル値の設定により周波数を掃
引でき、かつ位相ロックのかかった状態で検波ＡＤ部５
１で検波測定できる為、基準周波数と同じ高精度な周波
数で掃引が可能である。この為、対数周波数での掃引で
も掃引周波数のずれが全く発生しない為、安定した対数
周波数スペクトラムの測定アプリケーション機能を提供
できる効果が得られる。
引でき、かつ位相ロックのかかった状態で検波ＡＤ部５
１で検波測定できる為、基準周波数と同じ高精度な周波
数で掃引が可能である。この為、対数周波数での掃引で
も掃引周波数のずれが全く発生しない為、安定した対数
周波数スペクトラムの測定アプリケーション機能を提供
できる効果が得られる。
【００１８】
【図１】本発明のスペクトラム・アナライザの構成ブロ
ック図例である。
ック図例である。
【図２】本発明の局部発振器３０の内部構成図である。
【図３】ＤＤＳ３３ＬＳＩの内部原理ブロック図であ
る。
る。
【図４】ＤＤＳ３３の出力信号を説明する図である。
【図５】従来のスペクトラム・アナライザの構成ブロッ
ク図例である。
ク図例である。
【図６】従来の局部発振器５３の内部構成図例である。
１２ 表示装置 ２１ 階段状サイン波形 ２２ サイン波形の一周回数 ２４ サイン波形 ３０、５３ 局部発振器 ３１ 基準クロック ３２ コントローラ ３２ａ 可変周波数 ３３ ＤＤＳ（Direct Digital Synthesiz
er） ３３ａ 分周周波数設定レジスタ ３３ｂ 分周器 ３３ｃ クロック・レート ３３ｄ アドレス・カウンタ ３３ｅ ＲＯＭテーブル・メモリ ３３ｆ デジタル信号 ３４ ＤＡ変換器 ３５ ローパス・フィルタ（ＬＰＦ） ３６、４２ 位相比較器 ３７、４３ 分周器 ３８、４７ ＹＴＯ（YIG-tuned Oscillator） ４１ 基準周波数 ４４ Ｓ／Ｈ（サンプル・ホールド） ４５ アナログ加算器 ４６ ランプ電圧 ５１ 検波ＡＤ部 ５２ ランプ電圧発生部 ５４、５５ ミキサ ５６ 発振器 ５７ ＢＰＦ ５８ 演算装置
er） ３３ａ 分周周波数設定レジスタ ３３ｂ 分周器 ３３ｃ クロック・レート ３３ｄ アドレス・カウンタ ３３ｅ ＲＯＭテーブル・メモリ ３３ｆ デジタル信号 ３４ ＤＡ変換器 ３５ ローパス・フィルタ（ＬＰＦ） ３６、４２ 位相比較器 ３７、４３ 分周器 ３８、４７ ＹＴＯ（YIG-tuned Oscillator） ４１ 基準周波数 ４４ Ｓ／Ｈ（サンプル・ホールド） ４５ アナログ加算器 ４６ ランプ電圧 ５１ 検波ＡＤ部 ５２ ランプ電圧発生部 ５４、５５ ミキサ ５６ 発振器 ５７ ＢＰＦ ５８ 演算装置
Claims (1)
- 【請求項１】 スペクトラム・アナライザの局部発振器
（３０）に、周波数を掃引するＹＴＯ（３８）（YIG-tu
ned Oscillator）と分周器（３７）と位相比較器（３
６）を有して周波数を掃引する装置において、 基準クロック（３１）をもとにコントローラ（３２）か
らのデジタルデータの設定入力により任意のデジタルサ
イン波信号を出力するＤＤＳ（３３）（DirectDigital
Synthesizer）を設け、 当該ＤＤＳ（３３）のデジタルサイン波信号入力をアナ
ログの階段状サイン波形信号に変換出力するＤＡ変換器
（３４）を設け、 当該ＤＡ変換器（３４）のアナログの階段状サイン波出
力信号のうち高域周波数を削除するローパス・フィルタ
（３５）を設け、 当該ローパス・フィルタ（３５）の出力信号を位相比較
器（３６）の一方に与えて高域周波数成分を削除する手
段とし、 当該ＤＤＳ（３３）に掃引周波数データを設定して、周
波数をステップ単位に発生して、掃引を行うコントロー
ラ（３２）を設け、 周波数のステップ単位毎に位相比較器（３６）により位
相ロックしてＹＴＯ（３８）の出力周波数をロックして
から測定する手段とし、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラム・ア
ナライザ用局部発振器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1584694A JPH07209351A (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | スペクトラム・アナライザ用局部発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1584694A JPH07209351A (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | スペクトラム・アナライザ用局部発振器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07209351A true JPH07209351A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=11900194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1584694A Pending JPH07209351A (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | スペクトラム・アナライザ用局部発振器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07209351A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996023231A1 (fr) * | 1995-01-24 | 1996-08-01 | Advantest Corporation | Analyseur de spectres |
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| DE19939036C2 (de) * | 1999-08-18 | 2003-11-20 | Rohde & Schwarz | Anordnung zum Wobbeln (Sweepen) eines Frequenzsynthesesizers |
| JP2007185000A (ja) * | 2005-12-29 | 2007-07-19 | Daihen Corp | 可変周波数増幅器 |
| KR100918977B1 (ko) * | 2007-08-09 | 2009-09-25 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 스위프 장치 |
| JP2009236818A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-15 | Yamaha Corp | 周波数特性測定装置 |
| KR100929877B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2009-12-04 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 와이티에프의 온도 보상 장치를 구비하는 스펙트럼 분석기 |
| KR100983805B1 (ko) * | 2008-09-24 | 2010-09-27 | 주식회사 케이티 | 스윕 방식을 이용한 스펙트럼 분석 방법 |
-
1994
- 1994-01-14 JP JP1584694A patent/JPH07209351A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
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