JPH0815350A - ジッタ検出装置 - Google Patents
ジッタ検出装置Info
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- JPH0815350A JPH0815350A JP6166307A JP16630794A JPH0815350A JP H0815350 A JPH0815350 A JP H0815350A JP 6166307 A JP6166307 A JP 6166307A JP 16630794 A JP16630794 A JP 16630794A JP H0815350 A JPH0815350 A JP H0815350A
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 64
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/093—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using special filtering or amplification characteristics in the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B3/00—Line transmission systems
- H04B3/02—Details
- H04B3/46—Monitoring; Testing
- H04B3/462—Testing group delay or phase shift, e.g. timing jitter
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
- H04L1/205—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector jitter monitoring
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04J—MULTIPLEX COMMUNICATION
- H04J2203/00—Aspects of optical multiplex systems other than those covered by H04J14/05 and H04J14/07
- H04J2203/0001—Provisions for broadband connections in integrated services digital network using frames of the Optical Transport Network [OTN] or using synchronous transfer mode [STM], e.g. SONET, SDH
- H04J2203/0062—Testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高周波の被測定信号に大きな周波数変化があ
っても、これに追従して安定したジッタ測定を高精度に
行なえるようにする。 【構成】 電圧制御水晶発振器１１の出力信号をてい倍
回路１３でＭてい倍した信号によって、周波数変換回路
１４のミキサ回路１５に入力される被測定信号を低い周
波数に周波数変換し、その変換出力と電圧制御水晶発振
器１１の出力信号とを位相周波数比較器１７に入力し、
その誤差信号を受けたループフィルタ２０によって、周
波数変換回路１４の出力信号の位相に、電圧制御水晶発
振器１１の出力信号の位相をロックさせるようにループ
制御する。ループ帯域より高い周波数で位相変動する被
測定信号のジッタ成分は、ジッタ検出用フィルタ１８か
ら第２の分岐回路１９を介して出力される。
っても、これに追従して安定したジッタ測定を高精度に
行なえるようにする。 【構成】 電圧制御水晶発振器１１の出力信号をてい倍
回路１３でＭてい倍した信号によって、周波数変換回路
１４のミキサ回路１５に入力される被測定信号を低い周
波数に周波数変換し、その変換出力と電圧制御水晶発振
器１１の出力信号とを位相周波数比較器１７に入力し、
その誤差信号を受けたループフィルタ２０によって、周
波数変換回路１４の出力信号の位相に、電圧制御水晶発
振器１１の出力信号の位相をロックさせるようにループ
制御する。ループ帯域より高い周波数で位相変動する被
測定信号のジッタ成分は、ジッタ検出用フィルタ１８か
ら第２の分岐回路１９を介して出力される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、信号に含まれるジッタ
成分、即ち、位相変動成分を検出するためのジッタ検出
装置に関する。
成分、即ち、位相変動成分を検出するためのジッタ検出
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】信号に含まれるジッタ成分を検出するた
めに、図７に示すようなＰＬＬ回路１を有するジッタ検
出装置が従来より用いられている。
めに、図７に示すようなＰＬＬ回路１を有するジッタ検
出装置が従来より用いられている。
【０００３】即ち、ジッタの検出対象として入力される
周波数ｆ１の被測定信号と、電圧制御水晶発振器２から
出力される残留ジッタ成分の極めて少ない周波数ｆ２
（周波数ｆ１に近い周波数）の信号（基準信号）とを、
位相周波数比較器３に入力し、両信号の周波数差および
位相差に応じた誤差信号を出力させ、その誤差信号か
ら、ジッタ検出用フィルタ４によって位相周波数比較器
３に入力される信号の周波数以上の成分を除去して、被
測定信号に含まれるジッタ成分を含む信号を取り出す。
そして、その信号を被測定信号のジッタ成分の周波数よ
り低い遮断周波数をもつ低域通過型のループフィルタ５
に入力して、ループフィルタ５で検出される制御電圧に
よって、電圧制御水晶発振器２の出力信号を被測定信号
にロックさせる。
周波数ｆ１の被測定信号と、電圧制御水晶発振器２から
出力される残留ジッタ成分の極めて少ない周波数ｆ２
（周波数ｆ１に近い周波数）の信号（基準信号）とを、
位相周波数比較器３に入力し、両信号の周波数差および
位相差に応じた誤差信号を出力させ、その誤差信号か
ら、ジッタ検出用フィルタ４によって位相周波数比較器
３に入力される信号の周波数以上の成分を除去して、被
測定信号に含まれるジッタ成分を含む信号を取り出す。
そして、その信号を被測定信号のジッタ成分の周波数よ
り低い遮断周波数をもつ低域通過型のループフィルタ５
に入力して、ループフィルタ５で検出される制御電圧に
よって、電圧制御水晶発振器２の出力信号を被測定信号
にロックさせる。
【０００４】このようなＰＬＬ回路構成のジッタ検出装
置では、電圧制御水晶発振器２の出力信号が被測定信号
にロックされている状態で、被測定信号にジッタが生じ
ると、この電圧水晶発振器２の出力信号を基準として被
測定信号に含まれるジッタ成分がジッタ検出用フィルタ
４から出力される。
置では、電圧制御水晶発振器２の出力信号が被測定信号
にロックされている状態で、被測定信号にジッタが生じ
ると、この電圧水晶発振器２の出力信号を基準として被
測定信号に含まれるジッタ成分がジッタ検出用フィルタ
４から出力される。
【０００５】したがって、このジッタ検出用フィルタ４
の出力を画面に表示したり、メータに指示したり、ある
いは記録することによって、被測定信号の位相変動（ジ
ッタ）を知ることができる。
の出力を画面に表示したり、メータに指示したり、ある
いは記録することによって、被測定信号の位相変動（ジ
ッタ）を知ることができる。
【０００６】ところが、上記のようなＰＬＬ回路１によ
るジッタ検出装置で、周波数の高い（例えば数ＧＨｚ）
被測定信号のジッタを高精度に検出するためには、この
高い周波数帯で高い安定度を有し、しかも直線性の優れ
た電圧制御水晶発振器と位相周波数比較器とが必要とな
るが、これは実用上困難であり、たとえ実現し得たとし
ても装置全体が極めて高価になってしまう。
るジッタ検出装置で、周波数の高い（例えば数ＧＨｚ）
被測定信号のジッタを高精度に検出するためには、この
高い周波数帯で高い安定度を有し、しかも直線性の優れ
た電圧制御水晶発振器と位相周波数比較器とが必要とな
るが、これは実用上困難であり、たとえ実現し得たとし
ても装置全体が極めて高価になってしまう。
【０００７】これを解決する技術として、次の２つの方
法が従来よりあった。その第１の方法は、図８に示すよ
うに、被測定信号を分周器６でＮ分周してから、前記Ｐ
ＬＬ回路１へ入力し、この分周された信号にＰＬＬ回路
内の電圧制御水晶発振器２の出力信号をロックさせる方
法である。
法が従来よりあった。その第１の方法は、図８に示すよ
うに、被測定信号を分周器６でＮ分周してから、前記Ｐ
ＬＬ回路１へ入力し、この分周された信号にＰＬＬ回路
内の電圧制御水晶発振器２の出力信号をロックさせる方
法である。
【０００８】また、第２の方法は、図９に示すように、
被測定信号と周波数ｆ３の別の基準信号とを周波数変換
回路７のミキサ回路８で周波数混合して、その混合出力
のなかから、差の周波数の信号成分のみをフィルタ９で
検出して、前記ＰＬＬ回路１に入力し、この周波数変換
回路７で低い周波数に変換された信号に電圧制御水晶発
振器２の出力信号をロックさせる方法である。
被測定信号と周波数ｆ３の別の基準信号とを周波数変換
回路７のミキサ回路８で周波数混合して、その混合出力
のなかから、差の周波数の信号成分のみをフィルタ９で
検出して、前記ＰＬＬ回路１に入力し、この周波数変換
回路７で低い周波数に変換された信号に電圧制御水晶発
振器２の出力信号をロックさせる方法である。
【０００９】このように、被測定信号の周波数を、分周
あるいは周波数混合によって低い周波数に変換してか
ら、位相周波数比較器１に入力するようにすれば、電圧
制御水晶発振器および位相周波数比較器として、低い周
波数帯用の安価なものが使用できる。
あるいは周波数混合によって低い周波数に変換してか
ら、位相周波数比較器１に入力するようにすれば、電圧
制御水晶発振器および位相周波数比較器として、低い周
波数帯用の安価なものが使用できる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、被測定
信号を分周器で分周した信号に電圧制御水晶発振器の出
力信号をロックさせる前記第１の方法では、被測定信号
の位相変調度に対して、分周出力の位相変調度がこの分
周した分だけ小さくなってしまい、ジッタの検出感度が
低下するという問題がある。
信号を分周器で分周した信号に電圧制御水晶発振器の出
力信号をロックさせる前記第１の方法では、被測定信号
の位相変調度に対して、分周出力の位相変調度がこの分
周した分だけ小さくなってしまい、ジッタの検出感度が
低下するという問題がある。
【００１１】即ち、例えば、正弦波で位相変調された被
測定信号は、その初期位相を省略すると、 Ｅａ＝Ａ cos〔ω1 ｔ＋β cos（ωm ｔ）〕 で示される（ω1 は搬送波の角周波数、ωm は変調波の
角周波数、βは変調度である）のに対して、この被測定
信号がＮ分周された時の出力信号は、 Ｅｂ＝Ｂ cos〔（ω1 ｔ／Ｎ）＋（β／Ｎ） cos（ωm
ｔ）〕 となり、搬送波の周波数が１／Ｎになるとともに、変調
度もβ／Ｎに減少する。したがって、この信号の位相変
調分を検出したときに、その出力レベルは被測定信号の
位相変調分より分周比分だけ低下してしまう。
測定信号は、その初期位相を省略すると、 Ｅａ＝Ａ cos〔ω1 ｔ＋β cos（ωm ｔ）〕 で示される（ω1 は搬送波の角周波数、ωm は変調波の
角周波数、βは変調度である）のに対して、この被測定
信号がＮ分周された時の出力信号は、 Ｅｂ＝Ｂ cos〔（ω1 ｔ／Ｎ）＋（β／Ｎ） cos（ωm
ｔ）〕 となり、搬送波の周波数が１／Ｎになるとともに、変調
度もβ／Ｎに減少する。したがって、この信号の位相変
調分を検出したときに、その出力レベルは被測定信号の
位相変調分より分周比分だけ低下してしまう。
【００１２】これに対し、第２の方法の場合、被測定信
号Ｅａを周波数ｆ３の基準信号で周波数変換して得られ
る差の信号成分は、周波数ｆ３の基準信号の残留ジッタ
が極めて少ないとすれば、 Ｅｃ＝Ｃ cos〔（ω1 −ω3 ）ｔ＋β cos（ωm ｔ）〕 となり（ω3 は周波数ｆ３の搬送波の角周波数）、変換
出力の位相変調度は、被測定信号の位相変調度と変わら
ず、ジッタの検出感度の低下は起こらない。
号Ｅａを周波数ｆ３の基準信号で周波数変換して得られ
る差の信号成分は、周波数ｆ３の基準信号の残留ジッタ
が極めて少ないとすれば、 Ｅｃ＝Ｃ cos〔（ω1 −ω3 ）ｔ＋β cos（ωm ｔ）〕 となり（ω3 は周波数ｆ３の搬送波の角周波数）、変換
出力の位相変調度は、被測定信号の位相変調度と変わら
ず、ジッタの検出感度の低下は起こらない。
【００１３】しかし、この周波数変換による方法では、
被測定信号の周波数の変化範囲が、図９のＰＬＬ回路１
のロックレンジを決定する電圧制御水晶発振器の周波数
可変幅に制限されてしまうという問題がある。
被測定信号の周波数の変化範囲が、図９のＰＬＬ回路１
のロックレンジを決定する電圧制御水晶発振器の周波数
可変幅に制限されてしまうという問題がある。
【００１４】即ち、図７において、電圧制御水晶発振器
は、発振周波数の±０．０１パーセント程度の範囲しか
安定に可変させることができない。例えば、１００ＭＨ
ｚ帯の電圧制御水晶発振器の周波数可変幅は±１０ＫＨ
ｚ程度であるので、この発振周波数より格段に高い周波
数帯（数ＧＨｚ）の被測定信号の周波数変化に対して、
±１０ｋＨｚの幅でしかロックさせることができず、被
測定信号の周波数の許容される変化範囲が大きく制限さ
れてしまう。
は、発振周波数の±０．０１パーセント程度の範囲しか
安定に可変させることができない。例えば、１００ＭＨ
ｚ帯の電圧制御水晶発振器の周波数可変幅は±１０ＫＨ
ｚ程度であるので、この発振周波数より格段に高い周波
数帯（数ＧＨｚ）の被測定信号の周波数変化に対して、
±１０ｋＨｚの幅でしかロックさせることができず、被
測定信号の周波数の許容される変化範囲が大きく制限さ
れてしまう。
【００１５】また、図９の周波数ｆ３の基準信号とし
て、高い周波数帯で残留ジッタの少ない基準信号を得る
ことは現実には困難であり、その残留ジッタが、そのま
まミキサ回路８を通ってジッタ成分として検出されるの
で、高精度なジッタ検出を行なうことができなくなって
しまう。
て、高い周波数帯で残留ジッタの少ない基準信号を得る
ことは現実には困難であり、その残留ジッタが、そのま
まミキサ回路８を通ってジッタ成分として検出されるの
で、高精度なジッタ検出を行なうことができなくなって
しまう。
【００１６】本発明は、これらの問題を解決し、高周波
数帯の被測定信号のジッタ成分を、高感度、高精度に検
出でき、しかも、被測定信号の測定可能な周波数の範囲
を電圧制御水晶発振器の周波数可変幅より広くできるジ
ッタ検出装置を提供することを目的としている。
数帯の被測定信号のジッタ成分を、高感度、高精度に検
出でき、しかも、被測定信号の測定可能な周波数の範囲
を電圧制御水晶発振器の周波数可変幅より広くできるジ
ッタ検出装置を提供することを目的としている。
【００１７】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明のジッタ検出装置は、電圧制御水晶発振器
と、前記電圧制御水晶発振器の出力信号の周波数をＭて
い倍（Ｍは２以上の整数）して出力するてい倍回路と、
ジッタの検出対象となる被測定信号と前記てい倍回路の
出力信号とを周波数混合して、前記被測定信号の周波数
と前記てい倍回路の出力信号の周波数との差の周波数の
信号を出力する周波数変換回路と、前記周波数変換回路
からの出力信号と電圧制御水晶発振器からの出力信号と
の位相差に応じた誤差信号を出力する位相比較器と、前
記位相比較器から出力される誤差信号を受けて、前記被
測定信号のジッタ成分の周波数より低い周波数成分を取
り出して前記電圧制御水晶発振器に送出するループフィ
ルタと、前記被測定信号のジッタ成分の周波数より高
く、且つ、前記位相比較器に入力される信号の周波数よ
り低い遮断周波数をもつ低域通過型フィルタによって形
成され、前記位相比較器の誤差信号から前記被測定信号
のジッタ成分を出力するジッタ検出用フィルタとを備え
ている。
に、本発明のジッタ検出装置は、電圧制御水晶発振器
と、前記電圧制御水晶発振器の出力信号の周波数をＭて
い倍（Ｍは２以上の整数）して出力するてい倍回路と、
ジッタの検出対象となる被測定信号と前記てい倍回路の
出力信号とを周波数混合して、前記被測定信号の周波数
と前記てい倍回路の出力信号の周波数との差の周波数の
信号を出力する周波数変換回路と、前記周波数変換回路
からの出力信号と電圧制御水晶発振器からの出力信号と
の位相差に応じた誤差信号を出力する位相比較器と、前
記位相比較器から出力される誤差信号を受けて、前記被
測定信号のジッタ成分の周波数より低い周波数成分を取
り出して前記電圧制御水晶発振器に送出するループフィ
ルタと、前記被測定信号のジッタ成分の周波数より高
く、且つ、前記位相比較器に入力される信号の周波数よ
り低い遮断周波数をもつ低域通過型フィルタによって形
成され、前記位相比較器の誤差信号から前記被測定信号
のジッタ成分を出力するジッタ検出用フィルタとを備え
ている。
【００１８】
【作用】このように構成したため、本発明のジッタ検出
装置では、被測定信号は、電圧制御水晶発振器の出力信
号をＭてい倍した信号によって周波数混合されて、その
差の周波数の信号に変換され、電圧制御水晶発振器の出
力信号とともに、位相比較器に入力される。そして、位
相比較器の誤差信号からループフィルタによって検出さ
れる信号によって、電圧制御水晶発振器からの出力信号
は、周波数変換回路からの出力信号にロックされる。そ
して、被測定信号のジッタ成分は、位相比較器の誤差信
号に現れ、ジッタ検出用フィルタから出力される。
装置では、被測定信号は、電圧制御水晶発振器の出力信
号をＭてい倍した信号によって周波数混合されて、その
差の周波数の信号に変換され、電圧制御水晶発振器の出
力信号とともに、位相比較器に入力される。そして、位
相比較器の誤差信号からループフィルタによって検出さ
れる信号によって、電圧制御水晶発振器からの出力信号
は、周波数変換回路からの出力信号にロックされる。そ
して、被測定信号のジッタ成分は、位相比較器の誤差信
号に現れ、ジッタ検出用フィルタから出力される。
【００１９】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図１は、一実施例のジッタ検出装置の構成を示
している。
明する。図１は、一実施例のジッタ検出装置の構成を示
している。
【００２０】この図において、電圧制御水晶発振器１１
は、水晶発振回路の発振周波数を制御電圧にほぼ比例し
て連続可変させるように構成されている。この電圧制御
水晶発振器１１の出力信号の周波数ｆ２は、被測定信号
の周波数ｆ１に対して、その１／（Ｍ−１）または１／
（Ｍ＋１）（Ｍは２以上の整数で、例えば１２等）に近
い周波数に決められており、前述したようにその周波数
ｆ２（例えば数１００ＭＨｚ）の可変幅は例えば発振周
波数の±０．０１パーセント程度である。
は、水晶発振回路の発振周波数を制御電圧にほぼ比例し
て連続可変させるように構成されている。この電圧制御
水晶発振器１１の出力信号の周波数ｆ２は、被測定信号
の周波数ｆ１に対して、その１／（Ｍ−１）または１／
（Ｍ＋１）（Ｍは２以上の整数で、例えば１２等）に近
い周波数に決められており、前述したようにその周波数
ｆ２（例えば数１００ＭＨｚ）の可変幅は例えば発振周
波数の±０．０１パーセント程度である。
【００２１】電圧制御水晶発振器１１の出力信号は、第
１の分岐回路１２によって分岐され、その一方の分岐出
力は、てい倍回路１３に入力されている。
１の分岐回路１２によって分岐され、その一方の分岐出
力は、てい倍回路１３に入力されている。
【００２２】てい倍回路１３は、第１の分岐回路１２か
らの信号を、Ｍてい倍して出力する。このてい倍回路１
３のてい倍方法は、例えば、ＰＬＬ回路によって入力信
号にロックしたＭ倍の周波数の信号を出力する方法や、
入力信号を歪ませ、その高調波成分のうちＭ次（Ｍ・ｆ
２）成分のみをフィルタ等で抽出する方法などいずれで
あってもよい。
らの信号を、Ｍてい倍して出力する。このてい倍回路１
３のてい倍方法は、例えば、ＰＬＬ回路によって入力信
号にロックしたＭ倍の周波数の信号を出力する方法や、
入力信号を歪ませ、その高調波成分のうちＭ次（Ｍ・ｆ
２）成分のみをフィルタ等で抽出する方法などいずれで
あってもよい。
【００２３】てい倍回路１３の出力信号（周波数ｆ３）
は、被測定信号とともに周波数変換回路１４のミキサ回
路１５へ入力され周波数混合される。周波数変換回路１
４は、ミキサ回路１５から出力される信号成分のうち、
入力信号同士の差の周波数ｆ１−ｆ３またはｆ３−ｆ１
のいずれか一方の信号成分のみをフィルタ１６から出力
させて、被測定信号を低い周波数に周波数変換する。な
お、てい倍出力の周波数ｆ３がＭ・ｆ２に等しく、しか
も、ｆ２はｆ１の１／（Ｍ−１）または１／（Ｍ＋１）
に近いので、周波数変換回路１４からは、ｆ２に近い周
波数の信号が出力されることになる。
は、被測定信号とともに周波数変換回路１４のミキサ回
路１５へ入力され周波数混合される。周波数変換回路１
４は、ミキサ回路１５から出力される信号成分のうち、
入力信号同士の差の周波数ｆ１−ｆ３またはｆ３−ｆ１
のいずれか一方の信号成分のみをフィルタ１６から出力
させて、被測定信号を低い周波数に周波数変換する。な
お、てい倍出力の周波数ｆ３がＭ・ｆ２に等しく、しか
も、ｆ２はｆ１の１／（Ｍ−１）または１／（Ｍ＋１）
に近いので、周波数変換回路１４からは、ｆ２に近い周
波数の信号が出力されることになる。
【００２４】周波数変換回路１４の出力信号と、第１の
分岐回路１２の他方の分岐出力は、位相周波数比較器１
７に入力されている。
分岐回路１２の他方の分岐出力は、位相周波数比較器１
７に入力されている。
【００２５】位相周波数比較器１７は、２つの入力信号
の周波数差および位相差に応じたパルス状の誤差信号を
出力するものであり、その位相差検出部分は、例えば、
電圧制御水晶発振器１１からの信号の位相に対して、周
波数変換回路１４からの信号の位相が進んでいるときの
位相差を検出してその位相差に対応した幅のパルスを出
力する進み位相検出部と、周波数変換回路１４からの信
号の位相が遅れているときの位相差を検出してその位相
差に対応した幅のパルスを出力する遅れ位相検出部と、
進み位相検出部からの出力と遅れ位相検出部からの出力
の差信号を出力する作動増幅器で構成されている。ま
た、両入力信号の位相差が所定以上ある場合には、両信
号に周波数差があるものとして、その進みあるいは遅れ
に対応した位相検出部の出力をハイレベルに保持して、
一定の直流電圧を出力させる。
の周波数差および位相差に応じたパルス状の誤差信号を
出力するものであり、その位相差検出部分は、例えば、
電圧制御水晶発振器１１からの信号の位相に対して、周
波数変換回路１４からの信号の位相が進んでいるときの
位相差を検出してその位相差に対応した幅のパルスを出
力する進み位相検出部と、周波数変換回路１４からの信
号の位相が遅れているときの位相差を検出してその位相
差に対応した幅のパルスを出力する遅れ位相検出部と、
進み位相検出部からの出力と遅れ位相検出部からの出力
の差信号を出力する作動増幅器で構成されている。ま
た、両入力信号の位相差が所定以上ある場合には、両信
号に周波数差があるものとして、その進みあるいは遅れ
に対応した位相検出部の出力をハイレベルに保持して、
一定の直流電圧を出力させる。
【００２６】位相周波数比較器１７から出力される誤差
信号は、ジッタ検出用フィルタ１８に入力される。ジッ
タ検出用フィルタ１８は低域通過型のフィルタであり、
被測定信号の位相変動を検出するために、その遮断周波
数は、周波数位相比較器１７に入力される信号の周波数
より低く、しかも、測定しようとする被測定信号のジッ
タ成分の周波数（位相変動周波数）より高い周波数（例
えば数１０ＭＨｚ）に設定されている。
信号は、ジッタ検出用フィルタ１８に入力される。ジッ
タ検出用フィルタ１８は低域通過型のフィルタであり、
被測定信号の位相変動を検出するために、その遮断周波
数は、周波数位相比較器１７に入力される信号の周波数
より低く、しかも、測定しようとする被測定信号のジッ
タ成分の周波数（位相変動周波数）より高い周波数（例
えば数１０ＭＨｚ）に設定されている。
【００２７】したがって、このジッタ検出用フィルタ１
８からは、誤差信号に含まれる信号成分のうち、被測定
信号の位相変動に遅延することなく追従する信号が出力
される。
８からは、誤差信号に含まれる信号成分のうち、被測定
信号の位相変動に遅延することなく追従する信号が出力
される。
【００２８】ジッタ検出用フィルタ１８の出力信号は第
２の分岐回路１９によって分岐され、その一方の分岐出
力は、被測定信号のジッタ検出出力として図示しない表
示装置や指示装置へ入力され、他方はループフィルタ２
０に入力される。
２の分岐回路１９によって分岐され、その一方の分岐出
力は、被測定信号のジッタ検出出力として図示しない表
示装置や指示装置へ入力され、他方はループフィルタ２
０に入力される。
【００２９】ループフィルタ２０は、被測定信号のジッ
タ成分の周波数より低い遮断周波数（例えば数１０Ｈ
ｚ）をもつ低域通過型のアクティブフィルタで構成さ
れ、ジッタ検出用フィルタ１８を通過した信号を平均し
た直流の制御電圧を、電圧制御水晶発振器１１に入力
し、この電圧制御水晶発振器１１の出力信号の周波数お
よび位相を、周波数変換回路１４から出力される信号の
周波数および位相に一致させるようにループを制御す
る。このループフィルタ２０は、被測定信号のジッタ成
分の瞬時的な位相変動には応答しないで、電圧制御水晶
発振器１１の出力信号の周波数および位相を固定した状
態に維持させる。
タ成分の周波数より低い遮断周波数（例えば数１０Ｈ
ｚ）をもつ低域通過型のアクティブフィルタで構成さ
れ、ジッタ検出用フィルタ１８を通過した信号を平均し
た直流の制御電圧を、電圧制御水晶発振器１１に入力
し、この電圧制御水晶発振器１１の出力信号の周波数お
よび位相を、周波数変換回路１４から出力される信号の
周波数および位相に一致させるようにループを制御す
る。このループフィルタ２０は、被測定信号のジッタ成
分の瞬時的な位相変動には応答しないで、電圧制御水晶
発振器１１の出力信号の周波数および位相を固定した状
態に維持させる。
【００３０】このように構成されたジッタ検出装置に周
波数ｆ１の被測定信号が入力されると、その被測定信号
は、周波数変換回路１４で、てい倍回路１３の出力信号
によって低い周波数ｆ１−ｆ３またはｆ３−ｆ１に変換
されて、電圧制御水晶発振器１１の出力信号とともに、
位相周波数比較器１７へ入力される。
波数ｆ１の被測定信号が入力されると、その被測定信号
は、周波数変換回路１４で、てい倍回路１３の出力信号
によって低い周波数ｆ１−ｆ３またはｆ３−ｆ１に変換
されて、電圧制御水晶発振器１１の出力信号とともに、
位相周波数比較器１７へ入力される。
【００３１】位相周波数比較器１７からは、両入力信号
の周波数差および位相差に応じた誤差信号が出力され、
ジッタ検出用フィルタ１８に入力される。ジッタ検出用
フィルタ１８を通過した信号は、第２の分岐回路１９を
介してループフィルタ２０へ入力され、ループフィルタ
２０からは、電圧制御水晶発振器１１の出力信号の周波
数および位相を、周波数変換回路１４から出力される信
号の周波数および位相に一致させる制御電圧が出力さ
れ、このループ制御によって、周波数変換回路１４の出
力信号に電圧制御水晶発振器１１の出力信号がロックす
る。
の周波数差および位相差に応じた誤差信号が出力され、
ジッタ検出用フィルタ１８に入力される。ジッタ検出用
フィルタ１８を通過した信号は、第２の分岐回路１９を
介してループフィルタ２０へ入力され、ループフィルタ
２０からは、電圧制御水晶発振器１１の出力信号の周波
数および位相を、周波数変換回路１４から出力される信
号の周波数および位相に一致させる制御電圧が出力さ
れ、このループ制御によって、周波数変換回路１４の出
力信号に電圧制御水晶発振器１１の出力信号がロックす
る。
【００３２】そして、このロックした状態において、被
測定信号にループ帯域より高い周波数の位相変動が正弦
状に生じると、位相周波数比較器１７内の進み位相検出
部と遅れ位相検出部から、図２の（ａ）、（ｂ）に示す
ように、パルス幅が正弦状に変化するパルス信号が、そ
の位相変動の半周期毎に交互に出力され、位相周波数比
較器１７からは、その２つのパルス信号の差信号が図２
の（ｃ）に示すように出力される。
測定信号にループ帯域より高い周波数の位相変動が正弦
状に生じると、位相周波数比較器１７内の進み位相検出
部と遅れ位相検出部から、図２の（ａ）、（ｂ）に示す
ように、パルス幅が正弦状に変化するパルス信号が、そ
の位相変動の半周期毎に交互に出力され、位相周波数比
較器１７からは、その２つのパルス信号の差信号が図２
の（ｃ）に示すように出力される。
【００３３】そして、この誤差信号を受けたジッタ検出
用フィルタ１８からは、図２の（ｄ）に示すような被測
定信号の位相変動に同期した正弦状のジッタ検出信号が
出力されることになる。このジッタ検出信号は、第２の
分岐回路１９を介して、表示装置や指示装置あるいは記
録装置に出力され、そのジッタ量が表示や指示あるいは
記録されることになる。また、この位相変動の周波数は
ループ帯域より高く、しかもその平均値が一定なので、
ループフィルタ２０からの制御電圧は変化することな
く、電圧制御水晶発振器１１の出力信号の周波数および
位相は固定状態に維持される。
用フィルタ１８からは、図２の（ｄ）に示すような被測
定信号の位相変動に同期した正弦状のジッタ検出信号が
出力されることになる。このジッタ検出信号は、第２の
分岐回路１９を介して、表示装置や指示装置あるいは記
録装置に出力され、そのジッタ量が表示や指示あるいは
記録されることになる。また、この位相変動の周波数は
ループ帯域より高く、しかもその平均値が一定なので、
ループフィルタ２０からの制御電圧は変化することな
く、電圧制御水晶発振器１１の出力信号の周波数および
位相は固定状態に維持される。
【００３４】ここで、例えば、被測定信号の周波数ｆ１
がｆ３より高く設定されている場合には、ｆ１−ｆ３＝
ｆ２となり、ｆ３＝Ｍ・ｆ２であるから、電圧制御水晶
発振器１１の出力周波数ｆ２は、ｆ１／（Ｍ＋１）にロ
ックされることになる。
がｆ３より高く設定されている場合には、ｆ１−ｆ３＝
ｆ２となり、ｆ３＝Ｍ・ｆ２であるから、電圧制御水晶
発振器１１の出力周波数ｆ２は、ｆ１／（Ｍ＋１）にロ
ックされることになる。
【００３５】また、被測定信号の周波数ｆ１がｆ３より
低く設定されている場合には、ｆ３−ｆ１＝ｆ２とな
り、電圧制御水晶発振器１１の出力周波数ｆ２は、ｆ１
／（Ｍ−１）にロックされることになる。
低く設定されている場合には、ｆ３−ｆ１＝ｆ２とな
り、電圧制御水晶発振器１１の出力周波数ｆ２は、ｆ１
／（Ｍ−１）にロックされることになる。
【００３６】つまり、このジッタ検出装置は、計算上で
は、被測定信号をＭ＋１分周またはＭ−１分周した周波
数に、電圧制御水晶発振器１１の出力信号をロックさせ
ていることになる。
は、被測定信号をＭ＋１分周またはＭ−１分周した周波
数に、電圧制御水晶発振器１１の出力信号をロックさせ
ていることになる。
【００３７】したがって、被測定信号の周波数ｆ１の許
容変化幅は、電圧制御水晶発振器１１の周波数ｆ２の可
変幅の（Ｍ＋１）倍または（Ｍ−１）倍まで許容され
る。
容変化幅は、電圧制御水晶発振器１１の周波数ｆ２の可
変幅の（Ｍ＋１）倍または（Ｍ−１）倍まで許容され
る。
【００３８】例えば、電圧制御水晶発振器１１の周波数
可変幅が±１０ＫＨｚで、Ｍが１２のときには、被測定
信号の周波数の変化幅は、±１３０ＫＨｚまたは±１１
０ＫＨｚまで拡大され、周波数変換回路を用いているに
もかかわらず、電圧制御水晶発振器の周波数可変幅より
大きな許容変化幅が得られる。
可変幅が±１０ＫＨｚで、Ｍが１２のときには、被測定
信号の周波数の変化幅は、±１３０ＫＨｚまたは±１１
０ＫＨｚまで拡大され、周波数変換回路を用いているに
もかかわらず、電圧制御水晶発振器の周波数可変幅より
大きな許容変化幅が得られる。
【００３９】また、計算上ではＭ＋１分周またはＭ−１
分周している結果になっているが、実際には、周波数変
換回路１４によって被測定信号を低い周波数に変換して
いるので、被測定信号に含まれるジッタ成分は、その変
調度を維持したまま周波数変換回路１４の出力信号に含
まれる。したがって、電圧制御水晶発振器１１の出力信
号を基準にして、そのジッタ成分が、ジッタ検出用フィ
ルタ１８から出力されることになり、極めて高い周波数
帯の被測定信号のジッタ検出を高い感度で行なえる。
分周している結果になっているが、実際には、周波数変
換回路１４によって被測定信号を低い周波数に変換して
いるので、被測定信号に含まれるジッタ成分は、その変
調度を維持したまま周波数変換回路１４の出力信号に含
まれる。したがって、電圧制御水晶発振器１１の出力信
号を基準にして、そのジッタ成分が、ジッタ検出用フィ
ルタ１８から出力されることになり、極めて高い周波数
帯の被測定信号のジッタ検出を高い感度で行なえる。
【００４０】また、周波数変換に用いる周波数ｆ３の信
号は、残留ジッタの極めて少ない電圧制御水晶発振器１
１の出力信号をてい倍したものであるから、この信号に
よるジッタ検出への影響は極めて少ない。
号は、残留ジッタの極めて少ない電圧制御水晶発振器１
１の出力信号をてい倍したものであるから、この信号に
よるジッタ検出への影響は極めて少ない。
【００４１】また、たとえ、てい倍次数Ｍが大きくその
てい倍出力の残留ジッタが無視できない場合であって
も、そのてい倍出力の残留ジッタと、電圧制御水晶発振
器１１の出力信号の残留ジッタとは同一周波数であり、
しかもその位相変調周波数は、一般に通常ループ帯域内
にあるので、電圧制御水晶発振器１１の出力信号の残留
ジッタが打ち消されるように、定常的にループ制御がな
されることになる。
てい倍出力の残留ジッタが無視できない場合であって
も、そのてい倍出力の残留ジッタと、電圧制御水晶発振
器１１の出力信号の残留ジッタとは同一周波数であり、
しかもその位相変調周波数は、一般に通常ループ帯域内
にあるので、電圧制御水晶発振器１１の出力信号の残留
ジッタが打ち消されるように、定常的にループ制御がな
されることになる。
【００４２】即ち、電圧制御水晶発振器１１の出力信号
に含まれる位相変動の変調度をβ2、その角周波数をω
m2とすると、その出力信号は、 Ｅｄ＝Ｄ cos〔ω2 ｔ＋β2 cos （ωm2ｔ）〕 となり、これをＭてい倍した信号は、 Ｅｅ＝Ｅ cos〔Ｍω2 ｔ＋Ｍβ2 cos （ωm2ｔ）〕 となる。
に含まれる位相変動の変調度をβ2、その角周波数をω
m2とすると、その出力信号は、 Ｅｄ＝Ｄ cos〔ω2 ｔ＋β2 cos （ωm2ｔ）〕 となり、これをＭてい倍した信号は、 Ｅｅ＝Ｅ cos〔Ｍω2 ｔ＋Ｍβ2 cos （ωm2ｔ）〕 となる。
【００４３】このてい倍信号で被測定信号Ｅａ＝Ａ cos
〔ω1 ｔ＋β cos（ωm ｔ）〕を周波数変換して得られ
る差の信号成分は、 Ｅｆ＝Ｆ cos〔（ω1 −Ｍω2 ）ｔ＋β cos（ωm ｔ）
−Ｍβ2 cos（ωm2ｔ）〕 となる。
〔ω1 ｔ＋β cos（ωm ｔ）〕を周波数変換して得られ
る差の信号成分は、 Ｅｆ＝Ｆ cos〔（ω1 −Ｍω2 ）ｔ＋β cos（ωm ｔ）
−Ｍβ2 cos（ωm2ｔ）〕 となる。
【００４４】この信号Ｅｆと電圧制御水晶発振器１１の
出力信号Ｅｄとの位相差φは、 φ＝（ω1 −Ｍω2 −ω2 ）ｔ−β cos（ωm ｔ）−
（Ｍ＋１）β2 cos（ωm2ｔ） となる。
出力信号Ｅｄとの位相差φは、 φ＝（ω1 −Ｍω2 −ω2 ）ｔ−β cos（ωm ｔ）−
（Ｍ＋１）β2 cos（ωm2ｔ） となる。
【００４５】この位相差に応じた電圧Ｌ（φ）が電圧制
御水晶発振器１１に加えられるが、周波数に対するＰＬ
Ｌのループ制御によって、上式の第１項の（ω1 −Ｍω
2 −ω2 ）は０になるように制御され、さらに、第２項
の被測定信号のジッタ成分βcos（ωm ｔ）に対してＰ
ＬＬ回路は応答しないので、周波数がロックした後のＰ
ＬＬ回路のループ制御は、上式の第３項、即ち、 φ′＝（Ｍ＋１）β2 cos（ωm2ｔ） に対して応答することになる。
御水晶発振器１１に加えられるが、周波数に対するＰＬ
Ｌのループ制御によって、上式の第１項の（ω1 −Ｍω
2 −ω2 ）は０になるように制御され、さらに、第２項
の被測定信号のジッタ成分βcos（ωm ｔ）に対してＰ
ＬＬ回路は応答しないので、周波数がロックした後のＰ
ＬＬ回路のループ制御は、上式の第３項、即ち、 φ′＝（Ｍ＋１）β2 cos（ωm2ｔ） に対して応答することになる。
【００４６】ここで、電圧制御水晶発振器１１の感度を
Ｋ（Ｌ）（ラジアン／ボルト）とすれば、ＰＬＬループ
は、Ｌ1 （φ′）・Ｋ（Ｌ）により、電圧制御水晶発振
器１１の位相変動分β2 cos（ωm2ｔ）を打ち消すよう
に動作する。
Ｋ（Ｌ）（ラジアン／ボルト）とすれば、ＰＬＬループ
は、Ｌ1 （φ′）・Ｋ（Ｌ）により、電圧制御水晶発振
器１１の位相変動分β2 cos（ωm2ｔ）を打ち消すよう
に動作する。
【００４７】なお、電圧制御水晶発振器１１の位相変動
の周波数ωm2／２πは、主に温度変化等に起因するもの
であって、一般に数Ｈｚ程度であり、ＰＬＬ回路のルー
プ帯域内にある。
の周波数ωm2／２πは、主に温度変化等に起因するもの
であって、一般に数Ｈｚ程度であり、ＰＬＬ回路のルー
プ帯域内にある。
【００４８】したがって、このループ制御がないときに
は、図３の（ａ）に示すように、電圧制御水晶発振器１
１の出力信号にΔφの僅かな位相変動が生じた場合、周
波数変換出力は図３の（ｂ）のようにΔφのＭ倍だけ位
相変動しようとし、位相周波数比較器１７には、（Ｍ＋
1)・Δφ分の位相差をもつ信号が入力されることになる
が、実際にはこのループ制御によって、電圧水晶制御発
振器１１の残留ジッタによる位相変動Δφは、被測定信
号の位相変動成分に比べて、無視出来る大きさまで抑圧
されてしまう。このため、残留ジッタの影響のない測定
が行なえる。
は、図３の（ａ）に示すように、電圧制御水晶発振器１
１の出力信号にΔφの僅かな位相変動が生じた場合、周
波数変換出力は図３の（ｂ）のようにΔφのＭ倍だけ位
相変動しようとし、位相周波数比較器１７には、（Ｍ＋
1)・Δφ分の位相差をもつ信号が入力されることになる
が、実際にはこのループ制御によって、電圧水晶制御発
振器１１の残留ジッタによる位相変動Δφは、被測定信
号の位相変動成分に比べて、無視出来る大きさまで抑圧
されてしまう。このため、残留ジッタの影響のない測定
が行なえる。
【００４９】なお、ジッタ検出用フィルタ１８から出力
される信号には、電圧制御水晶発振器１１のジッタを抑
圧するための制御信号成分と、この制御信号成分によっ
て残留ジッタが抑圧された信号を基準とする被測定信号
のジッタ成分とが含まれることになるが、制御信号成分
の周波数は、前記したように被測定信号のジッタ成分の
周波数に比べて十分に低く離れているので、フィルタ等
によって被測定信号のジッタ成分と制御信号成分との分
離が容易にでき、電圧制御水晶発振器１１の残留ジッタ
に影響されない高精度のジッタ検出ができる。
される信号には、電圧制御水晶発振器１１のジッタを抑
圧するための制御信号成分と、この制御信号成分によっ
て残留ジッタが抑圧された信号を基準とする被測定信号
のジッタ成分とが含まれることになるが、制御信号成分
の周波数は、前記したように被測定信号のジッタ成分の
周波数に比べて十分に低く離れているので、フィルタ等
によって被測定信号のジッタ成分と制御信号成分との分
離が容易にでき、電圧制御水晶発振器１１の残留ジッタ
に影響されない高精度のジッタ検出ができる。
【００５０】
【他の実施例】前記実施例では、一つの位相周波数比較
器１７でジッタの検出とループの引込みのための誤差信
号の検出を行なっていたが、図４に示すように、ジッタ
検出用には位相比較器１７ａを用い、ループ制御のため
には、位相周波数比較器１７ｂを用いるようにしてもよ
い。
器１７でジッタの検出とループの引込みのための誤差信
号の検出を行なっていたが、図４に示すように、ジッタ
検出用には位相比較器１７ａを用い、ループ制御のため
には、位相周波数比較器１７ｂを用いるようにしてもよ
い。
【００５１】また、前記実施例では、位相周波数比較器
１７から出力される誤差信号をジッタ検出用フィルタ１
８を介してループフィルタ２０へ入力していたが、図５
に示すように、位相周波数比較器１１の出力を分岐し
て、その一方をジッタ検出用フィルタ１８へ入力し、他
方をループフィルタ２０へ入力するように構成してもよ
い。
１７から出力される誤差信号をジッタ検出用フィルタ１
８を介してループフィルタ２０へ入力していたが、図５
に示すように、位相周波数比較器１１の出力を分岐し
て、その一方をジッタ検出用フィルタ１８へ入力し、他
方をループフィルタ２０へ入力するように構成してもよ
い。
【００５２】また、前記実施例では、周波数変換回路１
４の出力信号と、電圧制御水晶発振器１１の出力信号と
をそのまま位相周波数比較器１７に入力するようにして
いたが、図６に示すように、両信号を分周器２５、２６
でともにＮ分周してから、位相周波数比較器１７に入力
してもよい。
４の出力信号と、電圧制御水晶発振器１１の出力信号と
をそのまま位相周波数比較器１７に入力するようにして
いたが、図６に示すように、両信号を分周器２５、２６
でともにＮ分周してから、位相周波数比較器１７に入力
してもよい。
【００５３】このようにした場合、前記実施例よりさら
に低い周波数帯用の位相周波数比較器を用いることがで
きる。また、このように分周器を用いた場合、前記した
ように分周出力の位相変動の変調度（ジッタの検出感度
に相当）が低下するが、被測定信号を直接低い周波数に
分周するよりは、少ない分周比で分周することができる
ので、大きな感度低下を招くことがなく、しかも、分周
したことによって、ジッタの検出範囲が分周比分（Ｎ・
２π）だけ広がり、大きなジッタ量を検出できる。な
お、分周器２５、２６の分周比は、位相変動の変調度お
よびジッタ量を考慮して決定すればよく、必ずしも同一
である必要はない。例えば、電圧制御水晶発振器１１側
の分周比を１、即ち、電圧制御水晶発振器１１の出力を
直接位相周波数比較器１７に入力して、周波数変換回路
１４の出力のみを分周するようにしてもよい。
に低い周波数帯用の位相周波数比較器を用いることがで
きる。また、このように分周器を用いた場合、前記した
ように分周出力の位相変動の変調度（ジッタの検出感度
に相当）が低下するが、被測定信号を直接低い周波数に
分周するよりは、少ない分周比で分周することができる
ので、大きな感度低下を招くことがなく、しかも、分周
したことによって、ジッタの検出範囲が分周比分（Ｎ・
２π）だけ広がり、大きなジッタ量を検出できる。な
お、分周器２５、２６の分周比は、位相変動の変調度お
よびジッタ量を考慮して決定すればよく、必ずしも同一
である必要はない。例えば、電圧制御水晶発振器１１側
の分周比を１、即ち、電圧制御水晶発振器１１の出力を
直接位相周波数比較器１７に入力して、周波数変換回路
１４の出力のみを分周するようにしてもよい。
【００５４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のジッタ検
出装置は、電圧制御水晶発振器の出力信号をＭてい倍し
た信号で被測定信号を低い周波数に周波数変換し、その
変換出力の位相に、電圧制御水晶発振器の出力信号の位
相をロックさせるようにループ制御して、両信号の誤差
信号から被測定信号のジッタ成分を検出するように構成
されている。
出装置は、電圧制御水晶発振器の出力信号をＭてい倍し
た信号で被測定信号を低い周波数に周波数変換し、その
変換出力の位相に、電圧制御水晶発振器の出力信号の位
相をロックさせるようにループ制御して、両信号の誤差
信号から被測定信号のジッタ成分を検出するように構成
されている。
【００５５】このため、ミキサによる周波数変換を用い
ているにもかかわらず、高周波の被測定信号の大きな周
波数変動があっても、安定したジッタ測定ができる。ま
た、被測定信号を電圧制御水晶発振器の周波数をＭてい
倍した信号で周波数混合して、周波数を下げているの
で、簡単な構成で精度よくジッタ測定ができる。
ているにもかかわらず、高周波の被測定信号の大きな周
波数変動があっても、安定したジッタ測定ができる。ま
た、被測定信号を電圧制御水晶発振器の周波数をＭてい
倍した信号で周波数混合して、周波数を下げているの
で、簡単な構成で精度よくジッタ測定ができる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図
【図２】一実施例の要部の動作を説明するための図
【図３】電圧制御水晶発振器の出力の位相変動と周波数
変換出力の位相変動を示す図
変換出力の位相変動を示す図
【図４】本発明の他の実施例を示す要部ブロック図
【図５】本発明の他の実施例を示す要部ブロック図
【図６】本発明の他の実施例を示すブロック図
【図７】従来装置の構成を示すブロック図
【図８】従来装置の構成を示すブロック図
【図９】従来装置の構成を示すブロック図
１１ 電圧制御水晶発振器 １３ てい倍回路 １４ 周波数変換回路 １５ ミキサ回路 １６ フィルタ １７ 位相周波数比較器 １８ ジッタ検出用フィルタ ２０ ループフィルタ
Claims (1)
- 【請求項１】電圧制御水晶発振器と、 前記電圧制御水晶発振器の出力信号の周波数をＭてい倍
（Ｍは２以上の整数）して出力するてい倍回路と、 ジッタの検出対象となる被測定信号と前記てい倍回路の
出力信号とを周波数混合して、前記被測定信号の周波数
と前記てい倍回路の出力信号の周波数との差の周波数の
信号を出力する周波数変換回路と、 前記周波数変換回路からの出力信号と電圧制御水晶発振
器からの出力信号との位相差に応じた誤差信号を出力す
る位相比較器と、 前記位相比較器から出力される誤差信号を受けて、前記
被測定信号のジッタ成分の周波数より低い周波数成分を
取り出して前記電圧制御水晶発振器に送出するループフ
ィルタと、 前記被測定信号のジッタ成分の周波数より高く、且つ、
前記位相比較器に入力される信号の周波数より低い遮断
周波数をもつ低域通過型フィルタによって形成され、前
記位相比較器の誤差信号から前記被測定信号のジッタ成
分を出力するジッタ検出用フィルタとを備えたジッタ検
出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6166307A JP3030598B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | ジッタ検出装置 |
| US08/490,474 US5563921A (en) | 1994-06-24 | 1995-06-14 | Jitter detection apparatus using double-PLL structure |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6166307A JP3030598B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | ジッタ検出装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815350A true JPH0815350A (ja) | 1996-01-19 |
| JP3030598B2 JP3030598B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=15828920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6166307A Expired - Fee Related JP3030598B2 (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | ジッタ検出装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5563921A (ja) |
| JP (1) | JP3030598B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010593A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
| JP2007108289A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドットクロック再生回路 |
| JP2010288085A (ja) * | 2009-06-11 | 2010-12-24 | Ntt Advanced Technology Corp | クロック供給装置 |
| JP5298382B2 (ja) * | 2009-03-23 | 2013-09-25 | 日本電気株式会社 | 回路、制御システム、制御方法及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100243489B1 (ko) * | 1995-11-22 | 2000-02-01 | 니시무로 타이죠 | 주파수 변환기 및 이를 이용한 무선 수신기 |
| US5970106A (en) * | 1997-02-25 | 1999-10-19 | Nec Corporation | Phase locked loop having a phase/frequency comparator block |
| US6738429B1 (en) * | 1999-06-01 | 2004-05-18 | Harris Corporation | Decision-directed carrier frequency detector and method for QAM |
| US6356129B1 (en) * | 1999-10-12 | 2002-03-12 | Teradyne, Inc. | Low jitter phase-locked loop with duty-cycle control |
| US6307411B1 (en) | 2000-10-13 | 2001-10-23 | Brookhaven Science Associates | Wide tracking range, auto ranging, low jitter phase lock loop for swept and fixed frequency systems |
| US7035325B2 (en) * | 2001-05-25 | 2006-04-25 | Tektronix, Inc. | Jitter measurement using mixed down topology |
| TW522654B (en) * | 2002-03-26 | 2003-03-01 | Via Tech Inc | Apparatus and method for measuring jitter of phase lock loop signal |
| US7209532B2 (en) * | 2002-03-28 | 2007-04-24 | Harris Corporation | Phase lock loop and method for coded waveforms |
| EP1504271B1 (en) * | 2002-05-03 | 2006-11-22 | Agilent Technologies Deutschland GmbH | Spectral jitter analysis |
| US6573769B1 (en) | 2002-06-27 | 2003-06-03 | Pericom Semiconductor Corp. | Phase-locked loop (PLL) with mixer for subtracting outer-band phase noise |
| DE10310015B4 (de) * | 2003-02-28 | 2006-07-06 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optoelektrischer Phasenregelkreis zur Rückgewinnung des Taktsignals in einem digitalen optischen Übertragungssystem |
| DE60311576T2 (de) * | 2003-08-20 | 2007-08-16 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Spektrale Jitter-Analyse mit Jitter-Modulation-Wellenform-Analyse |
| US7564897B2 (en) * | 2004-07-22 | 2009-07-21 | Advantest Corporation | Jitter measuring apparatus, jitter measuring method and PLL circuit |
| US7684533B2 (en) * | 2005-05-26 | 2010-03-23 | International Business Machines Corporation | Phase lock loop jitter measurement |
| US8327204B2 (en) * | 2005-10-27 | 2012-12-04 | Dft Microsystems, Inc. | High-speed transceiver tester incorporating jitter injection |
| US7681091B2 (en) * | 2006-07-14 | 2010-03-16 | Dft Microsystems, Inc. | Signal integrity measurement systems and methods using a predominantly digital time-base generator |
| US7813297B2 (en) * | 2006-07-14 | 2010-10-12 | Dft Microsystems, Inc. | High-speed signal testing system having oscilloscope functionality |
| US20080086656A1 (en) * | 2006-10-05 | 2008-04-10 | Kuo-Hsiung Chuang | Electronic Apparatus |
| US7760830B2 (en) * | 2006-10-19 | 2010-07-20 | Intel Corporation | Techniques to reduce the impact of jitter on communications system performance |
| US20080192814A1 (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | Dft Microsystems, Inc. | System and Method for Physical-Layer Testing of High-Speed Serial Links in their Mission Environments |
| US7917319B2 (en) * | 2008-02-06 | 2011-03-29 | Dft Microsystems Inc. | Systems and methods for testing and diagnosing delay faults and for parametric testing in digital circuits |
| GB201011620D0 (en) * | 2010-07-12 | 2010-08-25 | Vivax Metrotech Corp | Fault locator |
| US8704562B2 (en) * | 2012-07-16 | 2014-04-22 | Nanowave Technologies Inc. | Ultra low phase noise signal source |
| US8890585B2 (en) * | 2012-11-13 | 2014-11-18 | Mstar Semiconductor, Inc. | Frequency multiplier and associated method |
| US9065449B2 (en) * | 2013-10-28 | 2015-06-23 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | High-speed divide-by-1.5 circuit with 50 percent duty cycle |
| US9906227B2 (en) * | 2015-08-13 | 2018-02-27 | Maxlinear, Inc. | Method and system for a sampled loop filter in a phase locked loop (PLL) |
| US11209499B2 (en) * | 2018-04-13 | 2021-12-28 | Nitto Kogyo Corporation | Distribution board |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6031304B2 (ja) * | 1977-02-24 | 1985-07-22 | 日本ビクター株式会社 | ジツタ−測定方式 |
| JPS53130911A (en) * | 1977-04-20 | 1978-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pll synthesizer |
| US4412299A (en) * | 1981-02-02 | 1983-10-25 | Teltone Corporation | Phase jitter detector |
| US5254955A (en) * | 1989-08-25 | 1993-10-19 | Anritsu Corporation | Advanced phase locked loop circuit |
| US5146186A (en) * | 1991-05-13 | 1992-09-08 | Microsource, Inc. | Programmable-step, high-resolution frequency synthesizer which substantially eliminates spurious frequencies without adversely affecting phase noise |
| JPH04371024A (ja) * | 1991-06-19 | 1992-12-24 | Sony Corp | Ｐｌｌ周波数シンセサイザ |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP6166307A patent/JP3030598B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-06-14 US US08/490,474 patent/US5563921A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007010593A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
| JP2007108289A (ja) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドットクロック再生回路 |
| JP5298382B2 (ja) * | 2009-03-23 | 2013-09-25 | 日本電気株式会社 | 回路、制御システム、制御方法及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP2010288085A (ja) * | 2009-06-11 | 2010-12-24 | Ntt Advanced Technology Corp | クロック供給装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5563921A (en) | 1996-10-08 |
| JP3030598B2 (ja) | 2000-04-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090210 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 10 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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