JP4074538B2 - 光サンプリング装置および光波形観測システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、高速な繰り返し周期の信号で変調された光信号の波形を観測するためのシステムにおいて、光信号の波形の繰り返し周期の変更等に対応でき、しかも、そのシステムを簡易に構成できるようにするための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
高速な繰り返し周期の信号で変調された光信号の波形のデータを取得して観測するために、図13に示す光波形観測装置10が用いられている。
【0003】
この光波形観測装置10は、入力される光信号Pの波形の繰り返し周期TxのN倍(Nは1以上の任意の整数で例えば100、1000等)より所定値(オフセット遅延時間)ΔTだけ長い繰り返し周期Ts(=N・Tx+ΔT)をもち、パルス幅が狭い光サンプリングパルスPsを光サンプリングパルス発生手段11によって生成する。
【0004】
そして、その生成された光サンプリングパルスPsを光サンプリング部12に入力し、光信号Pを光サンプリングパルスPsでサンプリングし、そのサンプリングによって得られたパルス光を光電変換して電気のパルス信号Eoに変換し、このパルス信号Eoの振幅強度をA/D変換器13によってディジタルのデータに変換して波形データメモリ14に記憶し、この波形データメモリ14に記憶された一連の波形データを表示制御手段15が読み出して表示器16に波形表示する。
【0005】
このようなサンプリング方式の光波形観測装置10では、図14の(a)に示すように、光信号Pの繰り返し波形がN回連続して入力される毎に、光サンプリングパルスPsによるサンプリングタイミングが図14の(b)のように、ΔT時間ずつシフトしていくため、周期Txに比べて格段に低速なサンプリングで、光信号Pの波形を高分解能でサンプリングすることができ、これを表示器16の画面上で観測することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記のような波形観測装置10に要求される観測モードには、パーシステンスモード、平均化モード等がある。
【0007】
パーシステンスモードは、光信号Pをサンプリングしてその取得データを表示器の画面上にある一定時間表示し、その残像によって測定波形を表示するという動作を繰り返すモードであり、光信号の波形の変化をほぼリアルタイムに観測することができる。
【0008】
また、平均化モードは、複数のデータ取得期間分の波形データの平均化処理を行い、その平均化された波形を表示するモードであり、ノイズ成分を除去した波形観測が可能となる。
【0009】
上記のように光信号の波形を残像によって表示していく観測モードの場合、サンプリングが光信号Pの繰り返し波形の同一位相位置から開始されないと、表示される波形が時間軸方向に毎回ずれたり、平均化モードでは平均化処理が正しく行なえず波形を正しく再現できなくなり、また、波形の位相や振幅の変動の大きさを正しく把握できなくなる。
【0010】
このため、上記した各観測モードの場合には、データ取得の開始タイミングが、光信号Pの繰り返し波形の同一位相位置となるように設定する必要がある。
【0011】
その方法の一つとして、サンプリングのオフセット遅延時間ΔTの整数倍が光信号Pの波形の繰り返し周期Txに等しくなる、即ち、整数Kについて、
K・ΔT=Tx
が成立するように設定する方法が考えられる。
【0012】
このように設定した場合、サンプリング周期Tsは、
と表すことができる。
【0013】
したがってK+1回目のサンプリングタイミングは、1回目のサンプリングタイミングから、
が経過したタイミングとなる。
【0014】
上記(K・N+1)は整数だから、光信号Pの1周期分の波形のうち、K+1回目にサンプリングされる位置は、1回目にサンプリングされた位置と一致しており、同様に、2K+1回目、3K+1回目、…にサンプリングされる位置も1回目にサンプリングされた位置と一致する。
【0015】
したがって、前記した各観測モードの場合、上記のようにK・ΔT=Txが成立するように設定して、最初のデータ取得期間の開始タイミングから(M・K+1)Ts(Mは複数)が経過したタイミングに次のデータ取得期間を開始すれば、各データ取得期間の開始タイミングを合わせることができる。なお、このタイミングの検出は、例えば光サンプリングパルスの数を計数し、その計数結果に基づいて行なうことができる。
【0016】
しかし、サンプリングのオフセット遅延時間ΔTは、表示画面上の時間軸の最小単位を示すものであり、一般的に0.1ps、0.2ps、1ps等のようにきりのよい値に限定されるので、繰り返し周期Txもこのオフセット遅延時間ΔTの整数倍に限定されてしまう。
【0017】
したがって、次の非特許文献1に示した文献で報告されているように、2のn乗でしか分周できないようなハードウエア構成のものでは、任意の繰り返し周期の光信号に対応することができず、観測対象が限定されてしまうという問題があった。
【0018】
【非特許文献1】
H.Takara, S.Kawanishi, A.Yokoo, S.Tomaru, T.Kitoh, and M.Saruwatari:
“100 Gbit/s optical signal eye-diagram measurement with optical sampl-ing using nonlinear optical crystal”,Electron. Lett, Vol. 32, pp.2256〜2258(1996)
【0019】
また、たとえ、計算上で上記条件を満たす場合であっても、実際の装置には設定できる数値の桁に制限があり、その桁制限によってサンプリングタイミングに誤差が生じその誤差が累積されて、各期間のサンプリング開始タイミングがずれてしまい、表示波形がずれたり、波形再現性が悪化してしまう。
【0020】
また、この種の光波形観測装置では、狭い幅の光サンプリングパルスを生成したり、光同士のミキシングを行なう光ミキサ等が必要であり、表示部を含めると装置全体が複雑化し高価になるという別の問題がある。
【0021】
本発明は、これらの問題を解決して、光信号の波形の繰り返し周期の可変に対応でき、また、システム全体を簡易に構成することができる光サンプリング装置および光波形観測システムを提供することを目的としている。
【0022】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の請求項1の光サンプリング装置は、
光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記信号発生手段から出力された前記クロック信号を外部へ出力するための第1の出力端子(50a)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を外部へ出力するための第2の出力端子(50b)とを備えている。
【0023】
また、本発明の請求項2の光サンプリング装置は、請求項1の光サンプリング装置において、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を受け、該パルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の正弦波信号を出力する基本波成分信号出力手段(26)と、
前記基本波成分信号出力手段から出力される基本波成分信号を外部へ出力するための第3の出力端子(50c)とを備え、
該第3の出力端子から出力される基本波成分信号を、前記包絡線波の波形を表示するためのオシロスコープへトリガ用信号として与えることができるようにしたことを特徴としている。
【0024】
また、本発明の請求項3の光波形観測システムは、
光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を前記クロック信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力するA/D変換器(31)と、
任意のしきい値を設定するためのしきい値設定手段(32′)と、
前記A/D変換器から出力されるデータと前記しきい値とを比較するコンパレータ(33′)と、
波形データを記憶するための波形データメモリ(35)と、
前記コンパレータの出力を受け、前記A/D変換器から出力されるデータの値が前記しきい値を所定方向に越えるタイミングから前記A/D変換器が出力するデータの前記波形データメモリに対する書込みを開始するデータ取得制御手段(34)と、
前記波形データメモリに記憶された一連の波形データを読み出して前記オフセット遅延時間間隔の時間軸上に波形表示する波形表示手段(36、37)とを備えている。
【0025】
また、本発明の請求項4の光波形観測システムは、
光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を受け、該パルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の正弦波信号を出力する基本波成分信号出力手段(26)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を前記クロック信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力するA/D変換器(31)と、
任意のしきい値を設定するためのしきい値設定手段(32)と、
前記基本波成分信号出力手段から出力される基本波成分信号と前記しきい値とを比較するコンパレータ(33)と、
波形データを記憶するための波形データメモリ(35)と、
前記コンパレータの出力を受け、前記基本波成分信号の電圧が前記しきい値を所定方向に越えるタイミングから前記A/D変換器が出力するデータの前記波形データメモリに対する書込みを開始するデータ取得制御手段(34)と、
前記波形データメモリに記憶された一連の波形データを読み出して前記オフセット遅延時間間隔の時間軸上に波形表示する波形表示手段(36、37)とを備えている。
【0026】
また、本発明の請求項5の光波形観測システムは、
光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を受け、該パルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の正弦波信号を出力する基本波成分信号出力手段(26)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を前記クロック信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力する第1のA/D変換器(31)と、
前記基本波成分信号出力手段から出力される基本波成分信号を前記クロック信号または該クロック信号より周期が短い信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力する第2のA/D変換器(41)と、
任意のしきい値を設定するためのしきい値設定手段(32′)と、
前記第2のA/D変換器から出力されるデータと前記しきい値とを比較するコンパレータ(33′)と、
波形データを記憶するための波形データメモリ(35)と、
前記コンパレータの出力を受け、前記第2のA/D変換器から出力されるデータが前記しきい値を所定方向に越えるタイミングから前記第1のA/D変換器が出力するデータの前記波形データメモリに対する書込みを開始するデータ取得制御手段(34)と、
前記波形データメモリに記憶された一連の波形データを読み出して前記オフセット遅延時間間隔の時間軸上に波形表示する波形表示手段(36、37)とを備えている。
【0027】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施形態を説明する。
図1は、本発明を適用した光波形観測システム20の構成を示している。
【0028】
この光波形観測システム20は、入力端子20aから入力される光信号Pをサンプリングしてその波形データを取得し、波形表示するためのものであり、パラメータ指定手段21は、図示しない操作部の操作等によって光信号Pの繰り返し周期Txとサンプリングのオフセット遅延時間ΔTとに対応する情報を指定するためのものである。
【0029】
なお、この情報は、繰り返し周期Txとオフセット遅延時間ΔTとを特定できる情報であればよく、例えば繰り返し周期Txに対応した情報は、繰り返し周期Txそのものの値だけでなく、繰り返し周波数fx(=1/Tx)であってもよく、また、予め設定されている複数のものから一つを指定する番号等の情報であってもよい。
【0030】
また、信号の周期と周波数とは、その一方が決まれば他方が一義的に特定されるので、本明細書において「周期」およびその関係を「周波数」およびその関係に置き換えたものや、逆に「周波数」およびその関係を「周期」およびその関係に置き換えたものも本発明に含まれるものとする。
【0031】
演算手段22は、パラメータ指定手段21によって指定された情報に基づいて、光信号Pの繰り返し周期Txの整数(N)倍に対してオフセット遅延時間ΔTだけ差のある周期Tsを光信号Pに対するサンプリング周期として算出する。
【0032】
なお、このサンプリング周期Tsに対応するサンプリング周波数fsは、後述する信号発生手段23が出力することができるクロック信号Cの周波数可変範囲内に設定される。
【0033】
例えば、光信号Pの繰り返し周波数fx(=1/Tx)が10GHz、オフセット遅延時間ΔTが0.1psで、信号発生手段23の周波数可変範囲が10MHz±1kHzの場合、整数Nを例えば1000とすれば、サンプリング周期Tsは、
となる。
【0034】
また、サンプリング周波数fsは、
となり、この周波数は10MHz±1kHzの範囲内に入る。
【0035】
信号発生手段23は、演算手段22で算出されたサンプリング周期Tsのクロック信号Cと、後述する光サンプリングパルス発生手段24で幅の狭いパルス光を生成させるために必要な高い周波数の信号Uとを生成して出力する。
【0036】
この信号発生手段23としては、安定で高い周波数(例えば1GHz±1MHz)の高周波信号を逓倍して信号Uを生成し、その信号Uを分周して上記クロック信号Cを発生するように構成されている。ただし、信号発生手段23が出力するクロック信号Cの周期は演算手段22で算出された周期に対して桁数制限等による誤差が含まれている場合もある。
【0037】
また、図1で点線で示しているように、観測対象の光信号Pを出力する機器がその光信号Pを生成するのに必要な基準信号Rをこの信号発生手段23で生成して機器に与える場合もある。
【0038】
光サンプリングパルス発生手段24は、信号発生手段23が出力するクロック信号Cと等しい周期の光サンプリングパルスPsを発生する。
【0039】
この光サンプリングパルス発生手段24が発生する光サンプリングパルスPsのパルス幅は、サンプリングの時間分解能の上限を決定するものであり、パルス幅が狭い程、高い時間分解能でサンプリングを行なうことができる。
【0040】
この狭い光サンプリングパルスを得るために、光サンプリングパルス発生手段24は、例えば図2に示しているように、光源24aから出射される連続光CWを変調器24bに入射して信号Uで変調して、図3の(a)のように比較的狭い幅のパルス光Paを信号Uの周期Tuで生成し、そのパルス光Paを間引き手段24cに入力する。
【0041】
間引き手段24cは、クロック信号Cの周期で短時間だけオンする光スイッチを有し、図3の(b)のようにクロック信号Cの周期Tsのパルス光Pbを出力する。このパルス光Pbは分散減少ファイバ24dに入射され、分散減少ファイバ24dからは、図3の(c)のように幅が狭い(例えば0.1ps以下)の光サンプリングパルスPsが周期Tsで出射される。
【0042】
なお、この光サンプリングパルス発生手段24から出射される光サンプリングパルスPsは、クロック信号Cに同期するように設定されている。
【0043】
この光サンプリングパルスPsは、光サンプリング部25に入射される。
光サンプリング部25は、例えば、図4に示しているように、光ミキサ25aと光電変換器25bとからなり、入力端子20aから入力される光信号Pと光サンプリングパルスPsとを光ミキサ25aに入力して、光信号Pを光サンプリングパルスPsでサンプリングし、そのサンプリングによって得られたパルス光Poを光電変換器25bによって電気のパルス信号Eoに変換して出力する。
【0044】
また、基本波成分信号出力手段26は、光サンプリング部25から出力されるパルス信号Eoを受け、そのパルス信号Eoの包絡線波の基本波成分と等しい周波数の基本波成分信号Qを出力するためのものである。
【0045】
基本波成分信号出力手段26としては、例えば、図5の(a)に示すように、パルス信号Eoの包絡線波の基本波成分の周波数と等しい中心通過周波数の狭帯域な帯域通過フィルタ26aによってパルス信号Eoから正弦波の基本波成分信号Qを抽出する。
【0046】
また、図5の(b)に示すように帯域通過フィルタ26aの出力信号Q′と電圧制御発振器26bの出力信号Qとを位相比較器26cに入力し、その位相比較器26cの出力で電圧制御発振器26bを制御して、電圧制御発振器26bから信号Q′に位相同期し振幅が安定した正弦波の基本波成分信号Qを出力するように構成してもよい。
【0047】
ここで、パルス信号Eoの包絡線波は光信号Pの繰り返し波形を、時間軸方向に波形拡大率S(=Ts/ΔT)だけ拡大したものであり、その基本波である基本波成分信号Qの周期Tqは、繰り返し波形の周期TxのS倍となる。
【0048】
なお、例えば、光信号Pの繰り返し波形の周波数fxを10GHz、オフセット遅延時間ΔTを0.1psとすれば、光信号Pの波形1周期分のデータを得るのに1000(=10−10/10−13)回のサンプリングが必要となり、その1000回のサンプリングをほぼ10MHzの周波数fsで行なうために必要な時間はおよそ0.1ms(=1000×0.1μs)となり、この時間がパルス信号Eoの包絡線波の基本波成分の周期Tqに等しく、基本波成分信号Qの周波数fqはおよそ10kHzとなる。
【0049】
一方、光サンプリング部25から出力されるパルス信号Eoは、A/D変換器31に入力される。
【0050】
A/D変換器31は、光サンプリング部25から出力されるパルス信号Eoに対するA/D変換処理をクロック信号Cを受ける毎に行い、そのA/D変換処理によって得られたパルス信号Eoのピーク値のデータDpを後述するデータ取得制御手段34に出力する。
【0051】
しきい値設定手段32は、図示しない操作部の操作等によって指定された電圧のしきい値Vをコンパレータ33に出力する。
【0052】
コンパレータ33は、しきい値設定手段32によって設定されたしきい値Vと包絡線波の基本波成分信号Qの電圧の大小を比較し、例えば、基本波成分信号Qの電圧がしきい値V以上のときには「1」、基本波成分信号Qがしきい値Vより小さいときには「0」となる信号Yをデータ取得制御手段34に出力する。
【0053】
データ取得制御手段34は、コンパレータ33の出力信号Yに基づいて、A/D変換器31から出力されるデータDpを波形データメモリ35に書き込む。
【0054】
即ち、コンパレータ33の出力信号Yが例えば「0」から「1」に変化したタイミング(逆に「1」から「0」に変化したタイミングでもよい)から波形データメモリ35に対するデータDpの書き込みを開始し、所定数のデータの書き込みが終了すると、次に出力信号Yが再び「0」から「1」に変化するまで待機するという動作を繰り返す。なお、波形データメモリ35に書き込むデータの数は、後述する表示器37に表示される時間軸の表示ポイント数に対応する。
【0055】
表示制御手段36は、表示器37とともに波形表示手段を形成するものであり、時間軸と電圧軸とからなる座標画面を表示器37に表示させ、波形データメモリ35に記憶された一連のデータDpを読み出して、座標画面上にプロット表示して、その読み出した一連のデータDpに対応する波形を表示する。
【0056】
なお、この表示制御手段36は、観測モード指定手段38によって指定された観測モードに応じて、波形データメモリ35に記憶されたデータDpに対する加工処理および表示処理を行う。
【0057】
即ち、パーシステンスモードでは、波形データメモリ35に記憶された一連のデータDpを残像を残すことで波形表示し、平均化モードでは、波形データメモリ35に記憶された一連のデータDpを所定組求めて、その平均化処理を行い、その平均化処理で得られた一連のデータを重ねて波形として表示する。
【0058】
次に上記光波形観測システム20の動作を説明する。
始めに、例えば図6の(a)に示す波形の光信号Pを入力端子20aに入力し、その波形の繰り返し周期Txおよびサンプリングのオフセット遅延時間ΔTに対応した情報をパラメータ指定手段21によって指定する。
【0059】
この指定された情報に基づいて、サンプリング周期Tsが算出され、その算出されたサンプリング周期Tsのクロック信号Cおよび光サンプリングパルスPsが図6の(b)、(c)のように生成される。
【0060】
そして、その光サンプリングパルスPsが光サンプリング部25に入力され、光サンプリング部25で光信号Pがサンプリングされて、そのサンプリングで得られた電気のパルス信号Eoが、図6の(d)のように光サンプリング部25からA/D変換器31に出力される。
【0061】
また、図7の(a)に示すパルス信号Eoを受けた基本波成分信号出力手段26からは、その包絡線波Wの基本波成分と等しい周波数fq(=1/Tq)の基本波成分信号Qが図7の(b)のように出力され、その基本波成分信号Qがコンパレータ33に入力される。なお、図7の(a)は図6の(d)の波形の時間軸を縮めて示したものである。
【0062】
A/D変換器31は、入力されるパルス信号Eoに対するA/D変換処理をクロック信号Cに同期して行ない、パルス信号Eoの各パルスのピーク値を順次ディジタルのデータDpに変換する。
【0063】
そして、図7の(b)に示しているように、ある時刻t0に、基本波成分信号Qの電圧がしきい値Vを低い方から高い方に越えると、コンパレータ33の出力信号Yが図7の(c)のように、「0」から「1」に変化する。
【0064】
このため、この変化を検知したデータ取得制御手段34の制御によって、時刻t0のタイミングから波形データメモリ35へのデータDpの書き込み処理が開始される。
【0065】
このとき、パーシステンスモードが指定されていれば、波形データメモリ35に所定数書き込まれた一連の波形データが読み出されて、表示器37の画面上に例えば図8のように、光信号Pの波形がオフセット遅延時間ΔT間隔のポイントで残像表示される。
【0066】
なお、表示器37に表示される時間軸の表示ポイント数が例えば1001ポイントであれば、1回のデータ取得期間で取得されて波形データメモリ35に書き込まれるデータDpの数も1001個となり、この1001個目のデータDpを波形データメモリ35に書き込んだ後に、基本波成分信号Qが次にしきい値Vを低い方から高い方へ越えるタイミングまで待機し、前記同様に基本波成分信号Qがしきい値Vを低い方から高い方へ越えるタイミングから波形データの取得を開始することになる。
【0067】
ここで、このデータの取得開始タイミングは基本波成分信号Qの位相変動の影響を受けない。即ち、データの取得タイミングは、クロック信号Cで決定されていることから、ジッタはクロック信号Cの位相変動値で決まり、しかも、前記したように、基本波成分信号の周期はクロック信号Cの1000倍程度と非常に長い周期であるため、サンプリング周期の誤差等の影響をほとんど無視できる。
【0068】
したがって、光信号Pに対する波形データの取得の開始タイミングの間隔は、繰り返し波形の周期Txの整数倍だけ正確にずれており、波形1周期内の同一位相位置から開始されることになる。
【0069】
そして、新たに取得された一連の波形データは、前の取得期間の波形データの代わりに読み出されて、オフセット遅延時間ΔTの間隔で時間軸上にプロットされて、その波形が残像表示される。
【0070】
以下同様に、基本波成分信号Qがしきい値Vを低い方から高い方へ越えるタイミングから波形データの取得が開始され、その取得された一連の波形データに対応する残像波形が前の残像波形に代わって表示される。
【0071】
また、しきい値Vを可変すれば、それに応じてデータ取得の開始タイミングが変化し、表示器37の画面上に表示される波形が時間軸上で移動するので、観測した部分を画面の任意の位置にずらすことができる。
【0072】
なお、観測モード指定手段38によって平均化モードが指定されている場合には、表示制御手段36によって複数のデータ取得期間に取得された複数組の波形データの平均化処理が行なわれ、その平均化処理された波形が表示器37に表示され、パーシステンスモードが指定されている場合には、複数のデータが同一時間軸上に重ね書きされ、波形が残像表示されるが、いずれのモードの場合でも、包絡線波Wの基本波成分信号Qでトリガをかけて各データの取得を開始している。
【0073】
したがって、光信号Pの繰り返し波形の周期Txが変更された場合でも、また、桁数制限にともなうサンプリングタイミングの誤差がある場合でも、各データ取得の開始タイミングを包絡線波Wと同期させることができ、表示波形のずれや波形再現性の悪化が起こらない。
【0074】
なお、この光波形観測システム20では、光サンプリング部25から出力されるパルス信号Eoの包絡線波Wの基本波成分と等しい周波数の正弦波の基本波成分信号Qの電圧としきい値Vとをアナログ型のコンパレータ33で比較し、その出力信号Yに基づいてデータの取得を開始していたが、図9に示すように、基本波成分信号QをA/D変換器41によってディジタルのデータDqに変換し、このデータDqとしきい値設定手段32′からディジタル値で設定されたしきい値V′とをディジタル型のコンパレータ33′で比較し、例えば、データDqがしきい値Vを低い方から高い方(逆でもよい)に超えたタイミングから波形データメモリ35へのデータDpの書き込みを開始してもよい。
【0075】
なお、この場合、A/D変換器41のサンプリングタイミングを決める信号としては、図9に示しているようにクロック信号Cを用いる場合と、クロック信号Cより短い周期の別の信号を用いる場合のいずれでもよい。
【0076】
また、前記した波形の例のように、周期的な振幅変化しか起こらないことが予め判っている波形を観測対象とする場合には、基本波成分信号出力手段26を省略し、図10に示すように、A/D変換器31から出力されるデータDpとしきい値V′とをディジタル型のコンパレータ33′で比較し、例えばデータDpがしきい値V′を低い方から高い方に超えたタイミングから波形データメモリ35へのデータDpの書き込みを開始してもよい。
【0077】
また、上記A/D変換器31の入力信号に対するA/D変換処理機能、入力信号の電圧としきい値Vとを比較して、その比較結果でデータの取得を開始する機能、取得したデータの波形を順次残像を残しながら表示するパーシステンス表示機能、平均化処理して表示する平均化表示機能は、多チャネル型のディジタルオシロスコープで代用することができる。
【0078】
この場合、図11に示すように、光サンプリング装置50とディジタルオシロスコープ60とで光波形観測システム20′を構成することができる。
【0079】
この光サンプリング装置50は、ディジタルオシロスコープ60と独立した筐体(図示せず)を有し、また、前記した光波形観測システム20の入力端子20a、パラメータ指定手段21、演算手段22、信号発生手段23、光サンプリングパルス発生手段24、光サンプリング部25、基本波成分信号出力手段26の他に、クロック信号Cを外部へ出力するための第1の出力端子50a、光サンプリング部25から出力されるパルス信号Eoを外部へ出力するための第2の出力端子50b、基本波成分信号Qを外部へ出力するための第3の出力端子50cが設けられている。
【0080】
上記の入力端子20a、パラメータ指定手段21、演算手段22、信号発生手段23、光サンプリングパルス発生手段24、光サンプリング部25、基本波成分信号出力手段26は、前記した光波形観測システム20のものと同一であるため、その説明は省略する。
【0081】
この光サンプリング装置50の第1の出力端子50a、第2の出力端子50bおよび第3の出力端子50cは、ディジタルオシロスコープ60の外部クロック入力端子60a、第1チャネル入力端子60bおよび第2チャネル入力端子60cにそれぞれケーブル接続されている。
【0082】
ディジタルオシロスコープ60は、各チャネル入力端子60b、60cから入力される信号に対するA/D変換処理を外部クロック入力端子60aに入力されるクロック信号に同期して行う外部クロック同期機能、任意に指定したチャネル入力端子の入力信号の電圧が任意に設定したしきい値を所定方向に越えたタイミングから一定時間(後述する時間軸の表示幅および表示ポイント数等に依存する)が経過する間にA/D変換処理によって得られたデータを波形データとしてチャネル毎に記憶し、その記憶した波形データを任意に指定した間隔の時間軸上に表示する外部トリガ機能を有しており、さらに、前記したパーシステンス表示機能、平均化表示機能のいずれかを任意に選択できるように構成されている。
【0083】
上記光サンプリング装置50の各部の動作は、前記した光波形観測システム20で説明したのと同一であり、この光サンプリング装置50からのクロック信号C、パルス信号Eoおよび基本波成分信号Qを受けたディジタルオシロスコープ60は、第1チャネル入力端子60bに入力されるパルス信号Eoに対するA/D変換処理を、外部クロック入力端子60aに入力されているクロック信号Cに同期して行ない、パルス信号Eoの各パルスのピーク値に対応したデータ値Dpに変換する。
【0084】
そして、ある時刻に、第2チャネル入力端子60cに入力されている基本波成分信号Qの電圧(ディジタル値)が例えばしきい値Vを低い方から高い方に越えると、そのタイミングから一定時間の間に第1チャネルのA/D変換処理で得られるデータを波形データとして内部メモリに順次記憶し、その記憶した一連の波形データを読み出して前記同様に表示部の時間軸上にプロットして光信号Pの波形を、指定されたモードに応じて表示する。
【0085】
このように構成した場合でも、基本波成分信号Qの位相は光サンプリングのサンプリング周期の誤差の影響を受けず安定しており、各データ取得の開始タイミングは、包絡線波Wと同期している。
【0086】
したがって、光信号Pの繰り返し波形の周期Txが変更された場合でも、また、桁数制限にともなうサンプリングタイミングの誤差がある場合でも、表示波形のずれや波形再現性の悪化が起こらない。
【0087】
また、この波形観測システム20′では、データ取得と波形表示の機能をディジタルオシロスコープ60で実現しているので、このオシロスコープ60の各端子にクロック信号C、パルス信号Eoおよび基本波成分信号Qを与えるための各出力端子50a〜50cから与えることで、前記した波形観測システム20と同一の動作をさせることができ、ディジタルオシロスコープ60を所有していれば、上記光サンプリング装置50を新たに用意するだけで、光信号の観測が行なえ、システム全体を安価に構成することができる。
【0088】
なお、上記した光サンプリング装置50では、基本波成分信号出力手段26から、光サンプリング部25から出力されたパルス信号Eoの包絡線波の基本波と等しい周波数の基本波成分信号Qを出力し、これを第3の出力端子50cを介してディジタルオシロスコープ60の第2チャネル入力端子60bに入力していたが、ディジタルオシロスコープ60では任意のチャネルに入力される信号に対してトリガをかけることができるので、トリガ対象を第1チャネルに指定して、パルス信号EoのA/D変換出力としきい値Vとの比較結果でデータの取得を開始させることもでき、この場合には、図12の光サンプリング装置50′のように、基本波成分信号出力手段26および第3の出力端子50cを省略することができる。
【0089】
また、上記の光波形観測システム20′では、データの取得と波形の表示の処理をディジタルオシロスコープ60で行なっていたが、このディジタルオシロスコープ60の代わりに、入力信号をクロック信号Cに同期してA/D変換するA/D変換機能を有し、前記したコンパレータ33、データ取得制御手段34、波形データメモリ35、表示制御手段36と同等の機能をプログラム処理で行なうパーソナルコンピュータを用いてもよい。
【0090】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光サンプリング装置は、パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、光信号の繰り返し周期の整数倍に対してオフセット遅延時間分だけ差のある周期を光信号に対するサンプリング周期として算出し、その算出されたサンプリング周期のクロック信号を生成して第1の出力端子から出力し、また、算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを生成して、その光サンプリングパルスで入力端子から入力された光信号をサンプリングし、そのサンプリングによって得られた電気のパルス信号を第2の出力端子から出力するように構成されている。
【0091】
このため、例えば、第1の出力端子から出力されるクロック信号をディジタルオシロスコープの外部クロック入力端子に入力し、第2の出力端子から出力されるパルス信号をディジタルオシロスコープのチャネル入力端子に入力し、そのチャネルをトリガ指定することで、光信号の任意の周期の繰り返し波形を正しく表示させることができ、光波形観測システムを簡単に構成することができる。
【0092】
また、光サンプリング部から出力されるパルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の基本波成分信号を第3の出力端子から出力できるようにしたものでは、その第3の出力端子から出力される基本波成分信号をディジタルオシロスコープの第2チャネル入力端子に入力し、この第2チャネルをトリガ指定することで、光信号の任意の周期の繰り返し波形を、その波形の大きな振幅変動の数によらずに、正しく表示させることができ、光波形観測システムを簡単に構成することができる。
【0093】
また、光サンプリング部から出力されるパルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の基本波成分信号が、予め設定されたしきい値を所定方向に越えたタイミングから、A/D変換されたデータの波形メモリへの書込みを開始し、波形データに記憶された一連の波形データを読み出してオフセット遅延時間間隔で時間軸上に波形表示するように構成された光波形観測システムでは、光信号の任意の周期の繰り返し波形を、その波形の大きな振幅変動の数によらずに、正しく表示させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の構成を示すブロック図
【図2】実施形態の要部の構成例を示す図
【図3】実施形態の要部の動作説明図
【図4】実施形態の要部の構成例を示す図
【図5】実施形態の要部の構成例を示す図
【図6】実施形態の動作説明図
【図7】実施形態の動作説明図
【図8】実施形態の表示波形例を示す図
【図9】他の実施形態の構成例を示す図
【図10】他の実施形態の構成例を示す図
【図11】他の実施形態の構成例を示す図
【図12】他の実施形態の構成例を示す図
【図13】従来装置の構成を示す図
【図14】従来装置の動作説明図
【符号の説明】
20、20′……光波形観測システム、20a……入力端子、21……パラメータ指定手段、22……演算手段、23……信号発生手段、24……光サンプリングパルス発生手段、25……光サンプリング部、26……基本波成分信号出力手段、31……A/D変換器、32、32′……しきい値設定手段、33、33′……コンパレータ、34……データ取得制御手段、35……波形データメモリ、36……表示制御手段、37……表示器、38……観測モード指定手段、41……A/D変換器、50、50′……光サンプリング装置、50a……第1の出力端子、50b……第2出力端子、50c……第3の出力端子、60……ディジタルオシロスコープ、60a……クロック入力端子、60b……第1チャネル入力端子、60c……第2チャネル入力端子
Claims (5)
- 光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記信号発生手段から出力された前記クロック信号を外部へ出力するための第1の出力端子(50a)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を外部へ出力するための第2の出力端子(50b)とを備えた光サンプリング装置。 - 前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を受け、該パルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の正弦波信号を出力する基本波成分信号出力手段(26)と、
前記基本波成分信号出力手段から出力される基本波成分信号を外部へ出力するための第3の出力端子(50c)とを備え、
該第3の出力端子から出力される基本波成分信号を、前記包絡線波の波形を表示するためのオシロスコープへトリガ用信号として与えることができるようにしたことを特徴とする請求項1記載の光サンプリング装置。 - 光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を前記クロック信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力するA/D変換器(31)と、
任意のしきい値を設定するためのしきい値設定手段(32′)と、
前記A/D変換器から出力されるデータと前記しきい値とを比較するコンパレータ(33′)と、
波形データを記憶するための波形データメモリ(35)と、
前記コンパレータの出力を受け、前記A/D変換器から出力されるデータの値が前記しきい値を所定方向に越えるタイミングから前記A/D変換器が出力するデータの前記波形データメモリに対する書込みを開始するデータ取得制御手段(34)と、
前記波形データメモリに記憶された一連の波形データを読み出して前記オフセット遅延時間間隔の時間軸上に波形表示する波形表示手段(36、37)とを備えた光波形観測システム。 - 光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を受け、該パルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の正弦波信号を出力する基本波成分信号出力手段(26)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を前記クロック信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力するA/D変換器(31)と、
任意のしきい値を設定するためのしきい値設定手段(32)と、
前記基本波成分信号出力手段から出力される基本波成分信号と前記しきい値とを比較するコンパレータ(33)と、
波形データを記憶するための波形データメモリ(35)と、
前記コンパレータの出力を受け、前記基本波成分信号の電圧が前記しきい値を所定方向に越えるタイミングから前記A/D変換器が出力するデータの前記波形データメモリに対する書込みを開始するデータ取得制御手段(34)と、
前記波形データメモリに記憶された一連の波形データを読み出して前記オフセット遅延時間間隔の時間軸上に波形表示する波形表示手段(36、37)とを備えた光波形観測システム。 - 光信号を入力するための入力端子(20a)と、
前記光信号の繰り返し周期とサンプリングのオフセット遅延時間とに対応する情報を指定するためのパラメータ指定手段(21)と、
特定範囲内で指定された周期のクロック信号を発生する信号発生手段(23)と、
前記パラメータ指定手段によって指定された情報に基づいて、前記光信号の繰り返し周期の整数倍に対して前記オフセット遅延時間だけ差のある周期で且つ前記特定範囲に入る周期を前記光信号に対するサンプリング周期として算出し、該算出値を前記信号発生手段に指定して、前記信号発生手段から前記サンプリング周期と等しい周期のクロック信号を出力させる演算手段(22)と、
前記演算手段によって算出されたサンプリング周期の光サンプリングパルスを発生する光サンプリングパルス発生手段(24)と、
前記入力端子から入力された光信号を、前記光サンプリングパルス発生手段から出射された光サンプリングパルスによってサンプリングし、該サンプリングによって得られたパルス光を光電変換して出力する光サンプリング部(25)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を受け、該パルス信号の包絡線波の基本波成分と等しい繰り返し周波数の正弦波信号を出力する基本波成分信号出力手段(26)と、
前記光サンプリング部から出力されるパルス信号を前記クロック信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力する第1のA/D変換器(31)と、
前記基本波成分信号出力手段から出力される基本波成分信号を前記クロック信号または該クロック信号より周期が短い信号に同期してサンプリングしてディジタルのデータに変換して出力する第2のA/D変換器(41)と、
任意のしきい値を設定するためのしきい値設定手段(32′)と、
前記第2のA/D変換器から出力されるデータと前記しきい値とを比較するコンパレータ(33′)と、
波形データを記憶するための波形データメモリ(35)と、
前記コンパレータの出力を受け、前記第2のA/D変換器から出力されるデータが前記しきい値を所定方向に越えるタイミングから前記第1のA/D変換器が出力するデータの前記波形データメモリに対する書込みを開始するデータ取得制御手段(34)と、
前記波形データメモリに記憶された一連の波形データを読み出して前記オフセット遅延時間間隔の時間軸上に波形表示する波形表示手段(36、37)とを備えた光波形観測システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003077290A JP4074538B2 (ja) | 2003-03-20 | 2003-03-20 | 光サンプリング装置および光波形観測システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003077290A JP4074538B2 (ja) | 2003-03-20 | 2003-03-20 | 光サンプリング装置および光波形観測システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004286511A JP2004286511A (ja) | 2004-10-14 |
JP4074538B2 true JP4074538B2 (ja) | 2008-04-09 |
Family
ID=33292081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003077290A Expired - Fee Related JP4074538B2 (ja) | 2003-03-20 | 2003-03-20 | 光サンプリング装置および光波形観測システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4074538B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4686272B2 (ja) * | 2005-06-29 | 2011-05-25 | アンリツ株式会社 | サンプリング装置および波形観測システム |
EP2128577A4 (en) * | 2007-01-09 | 2013-11-06 | Anritsu Corp | SENSING DEVICE FOR SYNCHRONIZING OPTICAL SIGNALS, METHOD, USED MONITORING DEVICE FOR OPTICAL SIGNALS AND METHOD |
CA2634671A1 (en) * | 2007-01-15 | 2008-07-15 | Anritsu Corporation | Optical signal quality monitoring apparatus and method |
CA2658012A1 (en) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Anritsu Corporation | Optical signal sampling apparatus and method and optical signal monitor apparatus and method using the same |
JP5372447B2 (ja) * | 2008-09-22 | 2013-12-18 | アンリツ株式会社 | サンプリング装置および信号モニタ |
-
2003
- 2003-03-20 JP JP2003077290A patent/JP4074538B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004286511A (ja) | 2004-10-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050204 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070604 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110201 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120201 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120201 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130201 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140201 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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