KR100811856B1 - 측정신호 표시방법 및 그 방법을 채용한 테스터기 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 선로의 상태를 측정하기 위한 선로측정신호를 주기적으로 피드백받아 좌표축상에 표시하는 방법에 관한 것으로,
좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 상기 선로측정신호를 디지털 데이터로 변환하는 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변 설정하는 단계와;
주기적으로 피드백되는 선로측정신호를 상기 유효 샘플링 속도로 샘플링 취해 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리하는 단계와;
평균 연산처리된 각 샘플링 지점에서의 선로측정신호값들을 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 단계;를 포함함을 특징으로 한다.
선로 측정, 샘플링 속도, 반복측정.
Description
도 1은 임의 시간지연 측정방식과 수집데이터 평균 방식을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 테스터기의 일예인 선로 측정장치의 블럭구성도.
도 3은 도 2에 도시한 사용자 인터페이스부 예시도.
도 4는 측정 범위(화면표시구간)에 따른 측정 반복횟수를 도식화한 그래프.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 선로측정신호의 표시과정 흐름도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 선로측정신호의 파형 예시도.
본 발명은 신호 측정장치(tester)에 관한 것으로, 특히 피드백된 선로측정신호를 표시부상에 표시하는 방법과 그 방법을 채용한 테스터기에 관한 것이다.
A/D 변환기(converter)를 이용하여 아날로그 신호를 수집하는 시스템(예를 들면, 광/금속 복합 선로용 측정 장비(Metallic Time-Domain Reflectometer, Optical TDR, 오실로스코프)을 구성하는데 있어 중요한 사양으로서 활용되는 것이 바로 A/D 변환 속도를 나타내는 유효 샘플링 속도(sampling rate)와 비트로 표현되는 분해능(resolution)이다.
유효 샘플링 속도는 데이터의 수평축(시간)에 대한 조밀성(density)을 결정하게 되며, 분해능은 수직축(일반적으로 전압)에 대한 조밀성을 결정하게 된다. 이들 사양이 높을수록 해당 방향으로 신호를 보다 자세히 분석할 수 있다는 장점이 있으나, 사용용도 및 가격에 따라 제한되는 것이 일반적이다.
낮은 사양의 A/D 변환기를 사용하면서 유효 샘플링 속도와 분해능을 향상시킬 수 있는 방식으로 널리 알려진 기술로서 '임의 시간지연 측정'방식과 반복측정에 의한 '수집 데이터 평균'방식이 있다. 예시한 두 방식은 기본적으로 동일 신호에 대해 A/D 변환기를 반복 사용해야 한다는 전제가 요구되기 때문에, 일정 시간 이상 신호가 반복되어야 하고 트리거(trigger) 신호에 의해 데이터 수집 시점이 일정하게 유지되어야 한다는 것이다.
이하 예시한 두 방식중 '임의 시간지연 측정'방식에 대해 설명하면,
우선 A/D 변환기의 샘플링 주기를 도 1에 도시한 바와 같이 T(샘플링 속도는 1/T)라 할 경우, 가장 빠르게 데이터 수집을 실시했을 때 얻을 수 있는 데이터는 (가)-(가)-(가) 혹은 (나)-(나)-(나)가 된다. 만약 최초 데이터 수집을 (가)에서 진행한 후 ΔT만큼 시간을 지연시킨 후 (나)에서 데이터를 수집하는 방식으로 작업을 반복하면(T/ΔT = k(정수)), 실제 수집된 데이터의 샘플링 주기는 T에서 ΔT로 감소되어 유효 샘플링 속도가 k배 만큼 향상된 것과 같은 효과를 얻을 수 있다. 이러한 '임의 시간지연 측정'방식에서는 지연 시간인 ΔT가 정확히 유지되어야 하고 완전한 데이터를 얻기 위해서 k회 반복 측정이 시행되어야 한다.
한편 '수집 데이터 평균' 방식은 용어 그대로 동일한 데이터를 반복 측정하여 같은 지점에 해당하는 데이터를 누적한 후 평균을 구하는 것이다. 예로서, 도 1에 도시한 (가) 위치의 데이터를 n회 반복 측정한 후 평균을 구하는 것이다. 만일 데이터에 잡음이 포함되어 있는 경우라면 평균 회수에 따른 잡음의 세기(power)는 평균 회수의 제곱근에 반비례하여 나타날 것이다.
잡음뿐만 아니라 평균 회수가 증가하면 A/D 변환기의 분해능이 증가하는 효과도 동시에 얻을 수 있다. 역시 이 경우에도 측정하고자 하는 신호가 반복 측정되는 동안 일정하게 유지되어야 하고, 측정 지점이 정확히 일치해야 한다는 조건이 요구된다.
이상에서 설명한 바와 같이 제한된 사양의 A/D 변환기를 이용하여 수직(분행능), 수평(변환속도) 성능을 향상시키기 위해서는 동일한 측정이 반복되어야 하는데, 이는 한 가지 신호에 대한 측정 시간이 증가함을 의미한다. 예를 들어, 예시한 두 가지 방식을 모두 적용하는 경우 수평 성능에 대해 k회, 수직 성능에 대해 n회의 반복 측정이 이루어져야 하므로 총 k×n 회의 측정이 이루어져야 하므로 그 만큼 많은 시간이 소요된다.
특히, 화면 줌 인(zoom-in), 줌 아웃(zoom-out) 수행에 따라 선로측정신호를 좌표축상에 실시간으로 확대 혹은 축소 표시할 경우, 화면에 표시되어야 하는 측정 데이터의 수가 변경됨에도 불구하고 상술한 바와 같이 획일적으로 동일 신호에 대해 k×n 회의 측정이 이루어지기 때문에, 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 데이터 수집 시간을 가변시킴으로서 불필요한 화면표시시간의 지연을 방지하기 위한 새로운 기술이 요구되는 바이다.
이에 본 발명의 목적은 좌표축상의 화면표시구간에 맞게 데이터 수집 횟수를 가변시킴으로서 측정신호를 표시하는데 필요한 시간을 최소화하면서 그 측정신호를 정확하게 표시 처리할 수 있는 방법을 제공함에 있으며,
더 나아가 본 발명의 또 다른 목적은 선로 측정장치들에 있어서 표시구간 변동에 맞춰 신속히 선로측정신호를 가변 표시 처리할 수 있는 방법 및 그 방법이 채용된 테스터기를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 방법은 통신선로, 전력선로, PCB상의 전기선로와 같은 선로의 상태를 측정하기 위한 방법으로서,
표시부상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 선로측정신호를 디지털 데이터로 변환하는 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변 설정하는 단계와;
주기적으로 피드백되는 선로측정신호를 상기 유효 샘플링 속도로 샘플링 취해 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리하는 단계와;
평균 연산처리된 각 샘플링 지점에서의 선로측정신호값들을 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 단계;를 포함함을 특징으로 한다.
더 나아가 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 선로측정신호 표시방법은,
표시부상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 선로측정신호를 디지털 데이터로 변환하는 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정하는 단계와;
상기 샘플링 속도를 얻기 위해 필요한 샘플링 클럭 조절신호를 출력하는 단계와;
선로측정신호를 주기적으로 출력하는 단계와;
주기적으로 피드백되는 선로측정신호에 대하여 상기 유효 샘플링 속도로 샘플링하여 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리하는 단계와;
평균 연산처리된 각 샘플링 지점에서의 선로측정신호값들을 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 단계;를 포함함을 특징으로 한다.
상술한 구성을 가지는 본 발명은 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 데이터 수집 시간(측정 반복횟수)을 가변시킴으로서 화면표시시간을 단축시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있게 되는 것이다.
더 나아가 본 발명의 실시예에 따른 테스터기는,
선로측정신호가 표시되는 좌표축상의 화면표시구간을 가변시키기 위한 키버 튼이 포함된 사용자 인터페이스부와;
상기 선로측정신호를 표시하기 위한 표시부와;
선로측정신호에 해당하는 펄스를 발생시키기 위한 펄스 발생부와;
상기 선로측정신호를 선로로 인가하고 그로부터 피드백되는 선로측정신호를 감지하기 위한 신호 입출력부와;
샘플링 클럭조절신호에 따라 샘플링 클럭을 출력하는 시간을 조절하는 시간지연 조절기와;
상기 신호 입출력부를 통해 감지된 선로측정신호를 입력 샘플링 클럭에 맞춰 샘플링하여 선로측정신호값으로 출력하기 위한 A/D 변환기와;
상기 화면표시구간에 맞춰 상기 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정하고, 상기 펄스 발생부를 제어하여 펄스를 발생시키고 피드백되는 선로측정신호를 샘플링하여 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리한 연후에 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 제어부;를 포함함을 특징으로 한다.
이러한 구성의 테스터기 역시 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 데이터 수집 시간(측정 반복횟수)을 가변시킴으로서 화면표시시간을 단축시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다. 참고적으로 하기에서 설명될 '선로측정신호'는 통신선, 전력선을 측정하기 위한 신호는 물론, PCB보드상에 패턴화되어 있는 전기선로 및 그 보드상에 결합되어 있는 소자들의 상태를 측정하기 위한 신호인 것으로 정의하기로 한다. 오실로스코프의 경우 상기 선로측정신호는 보다 엄밀하게 말해 측정신호가 될 것이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 테스터기의 일예로서 선로 측정장치, 보다 구체적으로는 금속선로 결함 측정장치(이하 선로 측정장치라 함)의 블럭구성도를 도시한 것이며, 도 3은 도 2에 도시한 사용자 인터페이스부(100)의 일예를 각각 도시한 것이다.
도 2와 도 3을 함께 참조하면, 우선 선로 측정장치는 선로측정신호가 표시되는 좌표축상의 화면표시구간을 가변시키기 위한 키버튼(100a)이 포함된 사용자 인터페이스부(100)를 포함한다. 좌표축상의 화면표시구간을 가변시키기 위한 키버튼(100a)은 도 3에 도시한 바와 같이 화면표시구간을 확대(줌 인)하거나 축소(줌 아웃)하기 위한 키버튼(상,하 버튼으로 표시)과 좌표축을 수평방향으로 연장하거나 축소시키기 위한 키버튼(좌,우 버튼으로 표시)으로 이루어질 수 있다. 이러한 키버튼(100a) 외에 사용자 인터페이스부(100)에는 도 3에 도시한 바와 같이 파워(PWR)버튼, 메뉴(MENU)버튼, 커서(CSR1,CSR2) 버튼 등을 더 포함한다. 참고적으로 상기 커서 버튼(100b)은 도 5에 도시된 바와 같이 표시부(110)상에 위치하는 커서(1,2)의 위치를 이동시키는데 이용된다.
상술한 사용자 인터페이스부(100) 외에 선로 측정장치는 선로측정신호를 표 시하기 위한 표시부(110)와, 선로측정신호에 해당하는 펄스를 후술하는 제어부(105)의 제어에 따라 발생하여 출력하는 펄스 발생부(115)와, 상기 펄스 발생부(115)에서 출력되는 선로측정신호를 선로로 인가하고 그로부터 피드백되는 선로측정신호를 감지하는 신호 입출력부, 예를 들면 프로브(probe)(120)를 더 포함한다. 상기 프로브(120)는 내부에서 발생된 신호를 선로로 출력하되 그 선로로부터 유입 가능한 외부신호(잡음에 해당)를 차단하기 위한 일렉트리컬 버퍼(eletrical buffer)를 포함하는 것이 바람직하다.
더 나아가 본 발명의 실시예에 따른 선로 측정장치는 후술할 제어부(105)로부터 출력되는 샘플링 클럭조절신호에 따라 샘플링 클럭의 출력시간이 조절된, 보다 구체적으로는 시간 분주에 의해 시간 지연된 샘플링 클럭을 출력하는 시간지연 조절부(Time to Digital Converter)(130)와, 상기 프로부(120)를 통해 감지된 선로측정신호를 입력 샘플링 클럭에 맞춰 샘플링하여 디지털 형태의 선로측정신호값으로 출력하는 A/D 변환기(125)를 더 포함한다. 이러한 시간지연 조절부는 FPGA 형태로 구현 가능하다.
그리고 상기 선로 측정장치는 내부 메모리에 저장된 제어 프로그램 데이터에 기초하여 장치의 전반적인 동작을 제어하는 제어부(105)를 더 포함한다. 일예로 상기 제어부(105)는 표시부(110)상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 상기 A/D변환기(125)의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정한 후에, 상기 펄스 발생부(115)를 제어하여 피드백되는 선로측정신호를 샘플링하여 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리한 연후에 이를 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 일련의 제어동작을 수행한다.
이러한 제어부(105)는 표시 가능한 좌표축상의 화면표시구간에 맞는 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 매핑시켜 놓은 룩업 테이블을 내부 메모리에 저장하고 있다. 상기 룩업 테이블에 저장되는 데이터는 근거리의 선로상태를 표시하기 위한 화면표시구간일수록 유효 샘플링 속도가 높게 설정되고, 원거리의 선로상태를 표시하기 위한 화면표시구간일수록 측정 반복횟수가 높게 설정된다.
참고적으로 상술한 구성을 가지는 선로 측정장치의 변형 실시예로서 제어부(105)와 A/D 변환기(125) 및 시간지연 조절부(130)를 하나의 원 칩 IC로 패키지화한 시스템을 구현할 수도 있을 것이다.
이하 제어부(105)가 사용자에 의해 조절되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 A/D 변환기(125)의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정함으로서, 화면표시구간에 선로측정신호를 보다 빠르게 표시할 수 있게 되는 이론적 근거를 설명하기로 한다.
우선 A/D 변환기의 실제 샘플링 주기를 Ts, 1회 측정 후 데이터를 처리하는데 필요한 시간을 Td, 지연시간을 ΔT, 측정 반복횟수(평균회수)를 Na, 표시하고자 하는 신호의 시간 구간(신호를 측정하고자 하는 시간 구간일수도 있음)을 Tm이라고 정의한다.
이러한 정의하에 우선 표시하고자 하는 시간 구간의 신호를 1회 측정하는데 필요한 시간 T1은 하기 수학식 1로 표현될 수 있다.
그리고 시간지연을 이용한 측정(수평축)과 평균(수직축)을 모두 수행했을 때 소요되는 시간 Tt는 하기 수학식 2로 표현될 수 있다.
만약 1회 측정된 데이터를 표시하는데 요구되는 시간을 Ta라고 하면 Tt는 이보다 작아야 한다.
상기 수학식 3에서 ΔT가 변경될 수 없다고 가정하면, 실제 조절할 수 있는 값은 측정 반복횟수인 Na가 된다. 따라서 측정 반복횟수인 Na는 하기 수학식 4를 만족해야 한다.
일반적으로 측정한 데이터를 화면에 표시한다고 가정하면, 한 화면에 표시할 수 있는 데이터의 수가 제한되기 때문에 이 수보다 많은 수의 데이터를 표시하는 것은 무의미하다. 즉, 화면에 표시할 수 있는 데이터의 수를 Nd라고 가정하면 수집(측정)된 데이터중에서 Nd 만큼 표시하고 그 이상은 손실 처리된다. 따라서 사용자에게 의미 있는 데이터의 수는 Nd로 한정된다.
만약 줌인, 줌 아웃과 같이 사용자에 의해 표시하고자 하는 신호의 구간이 변경되면 Tm 역시 변경된다. 화면에 표시할 수 있는 데이터의 수는 Nd로 제한되므로 ΔT를 이에 맞추어 하기 수학식 5를 통해 변경한다.
상기 시간지연 ΔT를 상기 수학식 4에 대입하면 하기 수학식 6을 얻을 수 있다.
상기 수학식 6에서 Ta, Ts, Nd, Td는 모두 상수이므로 Na는 Tm에 의해 결정된다. 상기 수학식 6을 바탕으로 Na가 만족해야 할 조건을 그래프로 도시한 것이 바로 도 4이다. Na는 자연수이므로 상기 수학식 6을 만족시키는 범위중에서 최대의 정수로 Na를 선정하면 될 것이다.
이러한 이론적 근거에 기초하여 표시부에 표시되는 화면표시구간에 맞춰 A/D 변환기의 유효 샘플링 속도(1/ΔT)와 측정 반복횟수를 룩업 테이블로 구성하면, 제어부(105)는 화면표시구간에 맞춰 선로측정신호를 보다 빠르고 정확하게 표시할 수 있도록 시스템을 제어하게 되는 것이다.
이하 제어부(105)에 의해 실행 가능한 선로측정신호의 표시과정을 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 선로측정신호의 표시과정 흐름도를 도시한 것이며, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 선로측정신호의 파형 예시도를 도시한 것 이다.
도 5를 참조하면, 우선 통신선로의 상태를 점검하기 위한 장치 사용자는 프로브와 같은 신호 입출력장치(120)를 통신선로와 연결하고 선로상태를 측정 개시한다. 이러한 경우 장치 사용자는 표시부(110)상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간을 키버튼(100a)을 이용하여 확대 축소하거나, 수평방향으로 연장 혹은 축소할 수 있다.
예를 들어 키버튼(100a)의 조작에 따라 좌표축상의 화면표시구간이 확대 입력(S1단계)된 것으로 판명되면, 제어부(105)는 표시하고자 하는 신호의 시간 구간(Tm), 즉 좌표축상의 화면표시구간에 맞는 A/D변환부(125)의 유효 샘플링 속도(1/ΔT)와 측정 반복횟수(Na)를 룩업 테이블에 기초하여 가변설정(S2단계)한다.
유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수의 설정이 완료되면 제어부(105)는 설정된 상기 유효 샘플링 속도를 얻기 위해 필요한 샘플링 클럭조절신호(ΔT에 해당함)를 시간지연 조절부(130)로 출력(S3단계)한다. 그리고 펄스 발생부(115)를 제어하여 선로측정신호가 출력(S4단계)되도록 한다. 상기 S3단계와 S4단계는 화면표시구간에 표시하기 위한 선로측정신호를 샘플링하여 원 신호 복원까지 반복 수행되어야 한다.
한편 측정하고자 하는 선로로 선로측정신호가 유입되면 그에 따른 선로측정신호가 신호 입출력부인 프로브(120)를 통해 A/D 변환부(125)로 인가됨으로서, A/D 변환부(125)는 시간지연 조절부(130)에서 출력되는 샘플 클럭에 맞춰 상기 선로측정신호를 샘플링하여 출력한다. 샘플링 데이터에 해당하는 선로측정신호값들은 제어부(105)에 인가되어 연산(S5단계)처리된다.
제어부(105)에서 수행되는 연산처리 과정에 대해 구체적으로 설명하면,
우선 앞서 설명한 바와 같이 제어부(105)는 화면표시구간에 표시해야 하는 선로측정신호를 샘플링하여 원 신호로 복원하기까지 선로측정신호와 샘플링 클럭조절신호(ΔT=0,1,2..와 같이)를 주기적으로 발생시킨다. 그러면 제어부(105)는 주기적으로 피드백되는 선로측정신호에 대하여 샘플링되어 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리한다.
이와 같이 화면표시구간에 표시하기 위한 선로측정신호가 연산 완료되면, 제어부(105)는 평균 연산처리된 각 샘플링 지점에서의 선로측정신호값들을 좌표축상의 화면표시구간에 표시(S6단계)한다.
위와 같은 단계를 통해 연산된 선로측정신호값들이 표시되는 경우를 도 6에 도시하였다. 도 6에 도시된 두 화면을 비교해 보면 좌측의 화면표시구간이 우측의 화면표시구간 보다 넓다는 것을 알 수 있다. 이와 같이 좌표축상에서 수평축으로 화면표시구간이 넓게 표시된다는 것은 상대적으로 A/D 변환부(125)의 샘플링 간격이 넓다는 것을 나타내는 것이다. 반대로 좌표축상의 화면표시구간이 좁다는 것은 그 만큼 샘플링 간격이 좁다는 것(샘플링 속도가 높다)을 나타냄은 물론 수직축의 분해능을 높이기 위해 측정 반복횟수도 높다는 것을 나타내는 것이다.
이와 같이 본 발명은 표시부상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 A/D 변환부의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변시켜 측정신호에 대한 표시 데이터를 수집하기 때문에, 측정신호를 수집하여 표시하는데 필요한 시간을 최소화할 수 있게 되는 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명은 표시부상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 표시 데이터의 수집 시간(측정 반복횟수)을 가변시킴으로서 화면표시시간을 단축시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있는 장점이 있으며,
더 나아가 저급 사양의 A/D 변환부를 이용하는 경우에도 시간 분주에 의해 선로측정신호의 유효 샘플링 속도를 높일 수 있기 때문에, 선로측정신호의 분해능을 높일 수 있는 효과도 얻을 수 있다.
한편 본 발명은 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에 통상의 지식을 지닌자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 예를 들면, 본 발명의 실시예에서는 선로측정장치를 예로 들어 설명하였으나, 오실로스코프와 같은 테스터기 등에도 본 발명을 적용하여 측정신호를 모니터할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
Claims (9)
- 선로의 상태를 측정하기 위한 선로측정신호를 주기적으로 피드백받아 좌표축상에 표시하는 방법에 있어서,좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 상기 선로측정신호를 디지털 데이터로 변환하는 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변 설정하는 단계와;주기적으로 피드백되는 선로측정신호를 상기 유효 샘플링 속도로 샘플링 취해 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리하는 단계와;평균 연산처리된 각 샘플링 지점에서의 선로측정신호값들을 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 단계;를 포함함을 특징으로 하는 측정신호 표시방법.
- 좌표축상에 선로측정신호를 표시하는 방법에 있어서,표시부상에 표시되는 좌표축상의 화면표시구간에 맞춰 선로측정신호를 디지털 데이터로 변환하는 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정하는 단계와;상기 유효 샘플링 속도를 얻기 위해 필요한 샘플링 클럭조절신호를 출력하는 단계와;선로측정신호를 주기적으로 출력하는 단계와;주기적으로 피드백되는 선로측정신호에 대하여 상기 유효 샘플링 속도로 샘플링하여 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리하는 단계와;평균 연산처리된 각 샘플링 지점에서의 선로측정신호값들을 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 단계;를 포함함을 특징으로 하는 측정신호 표시방법.
- 청구항 2에 있어서, 근거리의 선로상태를 표시하기 위한 화면표시구간일수록 유효 샘플링 속도를 높게 설정하고, 원거리의 선로상태를 표시하기 위한 화면표시구간일수록 측정 반복횟수를 높게 설정함을 특징으로 하는 측정신호 표시방법.
- 청구항 2에 있어서, 화면표시구간에 맞춰 가변 설정되는 측정 반복횟수는 하기 수학식을 만족시키는 정수값으로 설정됨을 특징으로 하는 측정신호 표시방법.Na 〈 Ta / [(Ts × Nd)] × [Tm / (Tm + Td)]Na: 측정 반복횟수Ta: 1회 측정된 데이터를 표시하는데 요구되는 시간Ts: A/D변환기의 샘플링 주기,Nd: 화면표시구간에 표시할 수 있는 데이터 수Tm: 표시하고자 하는 신호의 시간구간Td: 1회 측정 후 데이터를 처리하는데 필요한 시간.
- 선로측정신호가 표시되는 좌표축상의 화면표시구간을 가변시키기 위한 키버튼이 포함된 사용자 인터페이스부와;상기 선로측정신호를 표시하기 위한 표시부와;선로측정신호에 해당하는 펄스를 발생시키기 위한 펄스 발생부와;상기 선로측정신호를 선로로 인가하고 그로부터 피드백되는 선로측정신호를 감지하기 위한 신호 입출력부와;샘플링 클럭조절신호에 따라 샘플링 클럭을 출력하는 시간을 조절하는 시간지연 조절부와;상기 신호 입출력부를 통해 감지된 선로측정신호를 입력 샘플링 클럭에 맞춰 샘플링하여 선로측정신호값으로 출력하기 위한 A/D 변환기와;상기 화면표시구간에 맞춰 상기 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정하고, 상기 펄스 발생부를 제어하여 펄스를 발생시키고 피드백되는 선로측정신호를 샘플링하여 얻어지는 동일 지점의 선로측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리한 연후에 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 제어부;를 포함함을 특징으로 하는 테스터기.
- 청구항 5에 있어서, 상기 제어부와 A/D 변환기 및 상기 시간지연 조절부는 원 칩 IC로 패키지화됨을 특징으로 하는 테스터기.
- 청구항 5에 있어서, 상기 제어부는 근거리의 선로상태를 표시하기 위한 화면표시구간일수록 유효 샘플링 속도를 높게 설정하고, 원거리의 선로상태를 표시하기 위한 화면표시구간일수록 측정 반복횟수를 높게 설정함을 특징으로 하는 테스터기.
- 청구항 5에 있어서, 상기 제어부는 표시 가능한 각 화면표시구간에 맞는 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 매핑시켜 놓은 룩업 테이블을 구비함을 특징으로 하는 테스터기.
- 측정신호가 표시되는 좌표축상의 화면표시구간을 가변시키기 위한 키버튼이 포함된 사용자 인터페이스부와;상기 측정신호를 표시하기 위한 표시부와;샘플링 클럭조절신호에 따라 샘플링 클럭을 출력하는 시간을 조절하는 시간지연 조절부와;프로부를 통해 감지된 측정신호를 입력 샘플링 클럭에 맞춰 샘플링하여 측정신호값으로 출력하기 위한 A/D 변환기와;상기 화면표시구간에 맞춰 상기 A/D변환기의 유효 샘플링 속도와 측정 반복횟수를 가변설정하고, 상기 A/D 변환기에서 출력되는 측정신호값중 동일 지점의 측정신호값들을 상기 측정 반복횟수 만큼 누적하여 평균 연산 처리한 연후에 좌표축상의 화면표시구간에 표시하는 제어부;를 포함함을 특징으로 하는 테스터기.
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KR1020060086606A KR100811856B1 (ko) | 2006-09-08 | 2006-09-08 | 측정신호 표시방법 및 그 방법을 채용한 테스터기 |
Applications Claiming Priority (1)
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990061874A (ko) * | 1997-12-31 | 1999-07-26 | 서평원 | 인쇄회로기판의 패턴 테스트장치 |
JP2001324552A (ja) | 2000-04-06 | 2001-11-22 | Advantest Corp | 電源電流測定ユニット及び半導体テストシステム |
KR20020044197A (ko) * | 2000-12-05 | 2002-06-15 | 홍삼표 | 착탈식 모듈을 이용한 다기능 측정 장치 및 측정 오차의보정 방법 |
KR20050049744A (ko) * | 2003-11-24 | 2005-05-27 | 엘지전자 주식회사 | 피드백 메모리 스코프 |
-
2006
- 2006-09-08 KR KR1020060086606A patent/KR100811856B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990061874A (ko) * | 1997-12-31 | 1999-07-26 | 서평원 | 인쇄회로기판의 패턴 테스트장치 |
JP2001324552A (ja) | 2000-04-06 | 2001-11-22 | Advantest Corp | 電源電流測定ユニット及び半導体テストシステム |
KR20020044197A (ko) * | 2000-12-05 | 2002-06-15 | 홍삼표 | 착탈식 모듈을 이용한 다기능 측정 장치 및 측정 오차의보정 방법 |
KR20050049744A (ko) * | 2003-11-24 | 2005-05-27 | 엘지전자 주식회사 | 피드백 메모리 스코프 |
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