JP4782889B1 - 繰り返し周波数制御装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】2台のレーザの繰り返し周波数をそれぞれ独立して制御しないで、2台のレーザの繰り返し周波数の差を一定にする。
【解決手段】繰り返し周波数制御装置1は、スレーブレーザ光パルスを出力するスレーブレーザ12と、スレーブレーザ光パルスを受け、スレーブ電気信号に変換するスレーブ光電変換部16と、マスタレーザ光パルスを出力するマスタレーザ23と、マスタレーザ光パルスを受け、マスタ電気信号に変換するマスタ光電変換部26と、マスタ電気信号の繰り返し周波数を所定値だけ変更する周波数変更部28と、スレーブ電気信号と、周波数変更部の出力との位相差を検出する位相比較器32と、位相比較器32の出力の高周波成分を除去するループフィルタ34とを備える。マスタレーザ23の繰り返し周波数f1は、マスタ電気信号およびスレーブ電気信号の一方または双方に基づく制御を受けない(フリーラン状態)。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ光パルスの繰り返し周波数の制御に関する。
従来より、2台のレーザの繰り返し周波数をそれぞれ独立して制御することにより、2台のレーザの繰り返し周波数の差を一定にするシステムが知られている(例えば、特許文献1の図18、[0077]を参照)。
特許第4565198号公報
しかしながら、2台のレーザの繰り返し周波数をそれぞれ独立して制御することは、制御系を複雑にする。
そこで、本発明は、2台のレーザの繰り返し周波数をそれぞれ独立して制御しないで、2台のレーザの繰り返し周波数の差を一定にすることを課題とする。
本発明にかかる繰り返し周波数制御装置は、スレーブレーザ光パルスを出力するスレーブレーザと、前記スレーブレーザ光パルスを受け、スレーブ電気信号に変換するスレーブ光電変換部と、マスタレーザ光パルスを出力するマスタレーザと、前記マスタレーザ光パルスを受け、マスタ電気信号に変換するマスタ光電変換部と、前記マスタ電気信号の繰り返し周波数を所定値だけ変更する周波数変更部と、前記スレーブ電気信号と、前記周波数変更部の出力との位相差を検出する位相差検出器と、前記位相差検出器の出力の高周波成分を除去するループフィルタと、を備え、前記マスタレーザの繰り返し周波数は、前記マスタ電気信号および前記スレーブ電気信号の一方または双方に基づく制御を受けず、前記ループフィルタの出力に応じて、前記スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数が変化するように構成される。
上記のように構成された繰り返し周波数制御装置によれば、スレーブレーザが、スレーブレーザ光パルスを出力する。スレーブ光電変換部が、前記スレーブレーザ光パルスを受け、スレーブ電気信号に変換する。マスタレーザが、マスタレーザ光パルスを出力する。マスタ光電変換部が、前記マスタレーザ光パルスを受け、マスタ電気信号に変換する。周波数変更部が、前記マスタ電気信号の繰り返し周波数を所定値だけ変更する。位相差検出器が、前記スレーブ電気信号と、前記周波数変更部の出力との位相差を検出する。ループフィルタが、前記位相差検出器の出力の高周波成分を除去する。前記マスタレーザの繰り返し周波数は、前記マスタ電気信号および前記スレーブ電気信号の一方または双方に基づく制御を受けない。前記ループフィルタの出力に応じて、前記スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数が変化する。
なお、本発明にかかる繰り返し周波数制御装置は、前記スレーブレーザの共振器長が、前記ループフィルタの出力に応じて変化するようにしてもよい。
なお、本発明にかかる繰り返し周波数制御装置は、前記スレーブレーザは、ピエゾ素子を有し、前記ピエゾ素子に、前記ループフィルタの出力が与えられ、前記ピエゾ素子の伸縮により、前記スレーブレーザの共振器長が変化するようにしてもよい。
本発明の実施形態にかかる繰り返し周波数制御装置1の構成を示す機能ブロック図である。 周波数変更部28の構成を示す機能ブロック図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施形態にかかる繰り返し周波数制御装置1の構成を示す機能ブロック図である。
本発明の実施形態にかかる繰り返し周波数制御装置1は、スレーブレーザ12、モータドライバ12m、スレーブ光カプラ14、フォトダイオード(スレーブ光電変換部)16、マスタレーザ23、マスタ光カプラ24、フォトダイオード(マスタ光電変換部)26、周波数変更部28、位相比較器(位相差検出器)32、ループフィルタ34、ピエゾドライバ36を備える。
スレーブレーザ12は、レーザ光パルス(「スレーブレーザ光パルス」という)を出力する。なお、スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数は、例えば、おおむね50MHzである。
スレーブレーザ12は、ピエゾ素子12pを有する。ピエゾ素子12pは、ループフィルタ34の出力の電圧が、ピエゾドライバ36により増幅されて印加されることにより、X方向(図1における横方向)に伸縮する。ピエゾ素子12のX方向の伸縮によって、スレーブレーザ12のレーザ共振器長が変化する。レーザ共振器長の変化により、スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数が変化する。
モータドライバ12mは、スレーブレーザ12内のステッピングモータ(図示省略)を駆動することで、スレーブレーザ12のレーザ共振器長を粗く調整する。モータドライバ12mによる調整が行われた後で、ピエゾ素子12pにより細かな調整が行われる。
スレーブ光カプラ14は、スレーブレーザ12の出力するスレーブレーザ光パルスを受け、例えば、パワー比にして、1:9の割合で、フォトダイオード16と外部に出力する。例えば、フォトダイオード16に与えられるスレーブレーザ光パルスの光パワーが、スレーブレーザ12の出力するスレーブレーザ光パルスの光パワーの10%ということになる。
フォトダイオード(スレーブ光電変換部)16は、スレーブ光カプラ14からスレーブレーザ光パルスを受け、電気信号(「スレーブ電気信号」という)に変換する。
マスタレーザ23は、レーザ光パルス(「マスタレーザ光パルス」という)を出力する。なお、マスタレーザ光パルスの繰り返し周波数f1は、例えば、おおむね50MHzである。
また、繰り返し周波数制御装置1の使用開始前に、予め、マスタレーザ23の繰り返し周波数f1を、おおむね50MHzに調整しておく。例えば、100MHzで発振するOCXO(恒温槽付水晶発振器)(図示省略)の出力を1/2分周したものと、マスタレーザ23の出力とを、位相比較器(図示省略)により比較し、両者の繰り返し周波数がおおよそ同じ(約10Hz程度の差異)になるように、マスタレーザ23の出力の繰り返し周波数を調整する。マスタレーザ23の出力の繰り返し周波数の調整は、マスタレーザ23内のステッピングモータ(図示省略)を駆動し、マスタレーザ23のレーザ共振器長を調整することにより達成できる。
なお、マスタレーザ23の繰り返し周波数f1の調整は、繰り返し周波数制御装置1の使用をしない間に、数10分間隔で、数秒間行われる。
マスタ光カプラ24は、マスタレーザ23の出力するマスタレーザ光パルスを受け、例えば、パワー比にして、1:9の割合で、フォトダイオード24と外部に出力する。例えば、フォトダイオード24に与えられるマスタレーザ光パルスの光パワーが、マスタレーザ23の出力するマスタレーザ光パルスの光パワーの10%ということになる。
フォトダイオード(マスタ光電変換部)26は、マスタ光カプラ24からマスタレーザ光パルスを受け、電気信号(「マスタ電気信号」という)に変換する。
周波数変更部28は、マスタ電気信号の繰り返し周波数f1を所定値Δ(例えば、10〜20Hz)だけ変更する。例えば、マスタ電気信号の繰り返し周波数f1を、f2=f1−Δに変更する。
図2は、周波数変更部28の構成を示す機能ブロック図である。周波数変更部28は、DDS28a、OCXO28b、位相比較器28c、ループフィルタ28dを有する。
DDS(Direct Digital Synthesizer)28aは、マスタ電気信号(繰り返し周波数f1)を受け、マスタ電気信号(繰り返し周波数f2)を出力する。OCXO28bは、恒温槽付水晶発振器であり、その発振周波数はおおむね50MHzである。位相比較器28cは、DDS28aの出力と、OCXO28bの出力との位相を比較し、両者の位相差を検出して出力する。ループフィルタ28dは、位相比較器28cの出力の高周波成分を除去する。なお、「除去」といった場合、必ずしも完全な除去のみを意味するわけではなく、わずかに高周波成分が残ってしまっても「除去」に該当する。これ以降の「除去」も同じ意味である。
なお、OCXO28bは、ループフィルタ28dの出力(Vcont)を受け、Vcontに応じて、発振周波数を変化させる。ただし、位相比較器28cの出力する位相差が一定値(例えば、0度、90度または−90度)となるように、OCXO28bが発振周波数を変化させる。
これにより、OCXO28bから、マスタ電気信号(繰り返し周波数f2)が、周波数変更部28の出力として得られる。
位相比較器(位相差検出器)32は、スレーブ電気信号と、周波数変更部28の出力(マスタ電気信号:繰り返し周波数f2)との位相を比較し、両者の位相差を検出して出力する。
ループフィルタ34は、位相比較器32の出力の高周波成分を除去する。
ピエゾドライバ36は、例えば、パワーアンプであり、ループフィルタ34の出力を増幅する。ピエゾドライバ36の出力は、ピエゾ素子12pに与えられる。これにより、ピエゾ素子12pがX方向に伸縮する。ただし、位相比較器32の検出する位相差が一定値(例えば、0度、90度または−90度)になるように、ピエゾ素子12pを伸縮させるものとする。これにより、スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数を、正確に、繰り返し周波数f2(=f1−Δ)に合わせることができる。
なお、マスタレーザの繰り返し周波数f1は、マスタ電気信号およびスレーブ電気信号の一方または双方に基づく制御を受けない。すなわち、マスタレーザ23がフリーラン状態である。このため、マスタレーザの繰り返し周波数f1は、通常、10分間で数10Hz程度の周波数変動がある。これは、スレーブレーザ12の繰り返し周波数が、マスタ電気信号およびスレーブ電気信号に基づく制御を受けていることと対照的である。
次に、本発明の実施形態の動作を説明する。
まず、繰り返し周波数制御装置1の使用開始前に、予め、マスタレーザ23の繰り返し周波数f1を、おおむね50MHzに調整しておく。このとき、スレーブレーザ12の繰り返し周波数は、マスタ電気信号およびスレーブ電気信号の一方または双方に基づく制御を受けない。すなわち、スレーブレーザ12がフリーラン状態である。
その後、繰り返し周波数制御装置1の使用を開始する。
スレーブレーザ12の出力するスレーブレーザ光パルスは、スレーブ光カプラ14によりその一部がフォトダイオード16に導かれ、光電変換され、スレーブ電気信号となり、位相比較器32に与えられる。
マスタレーザ23の出力するマスタレーザ光パルス(繰り返し周波数f1)は、マスタ光カプラ24によりその一部がフォトダイオード26に導かれ、光電変換され、マスタ電気信号となる。マスタ電気信号は、周波数変更部28により、その繰り返し周波数が、f1からf2=f1−Δに変更されて、位相比較器32に与えられる。
位相比較器32は、スレーブ電気信号の位相と、周波数変更部28の出力(マスタ電気信号:繰り返し周波数f2)の出力の位相とを比較し、両者の位相差を検出して出力する。位相比較器32の出力は、ループフィルタ34により高周波成分が除去され、ピエゾドライバ36により増幅されて、ピエゾ素子12pに与えられる。位相比較器32の検出する位相差が一定値(例えば、0度、90度または−90度)になるように、ピエゾ素子12pが伸縮する。これにより、スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数を、正確に、繰り返し周波数f2(=f1−Δ)に合わせることができる。
本発明の実施形態によれば、2台のレーザ(マスタレーザ23およびスレーブレーザ12)の繰り返し周波数をそれぞれ独立して制御しなくても、スレーブレーザ12の繰り返し周波数を制御することにより、2台のレーザの繰り返し周波数の差を一定(所定値Δ)にすることができる。
なお、マスタレーザ光パルス(繰り返し周波数f1)およびスレーブレーザ光パルス(繰り返し周波数f2(=f1−Δ))は、THz光を用いた測定装置に使用できる。
例えば、マスタレーザ光パルスをTHz光発生器(例えば、光伝導スイッチ)に与えて、THz光を発生させて、被測定物に照射する。被測定物を透過し、または被測定物により反射されたTHz光をTHz光検出器(例えば、光伝導スイッチ)に与える。ここで、THz光検出器に、スレーブレーザ光パルスを与えることで、THz光の検出が可能となる。
1 繰り返し周波数制御装置
12 スレーブレーザ
12p ピエゾ素子
14 スレーブ光カプラ
16 フォトダイオード(スレーブ光電変換部)
23 マスタレーザ
24 マスタ光カプラ
26 フォトダイオード(マスタ光電変換部)
28 周波数変更部
32 位相比較器(位相差検出器)
34 ループフィルタ
36 ピエゾドライバ

Claims (3)

  1. スレーブレーザ光パルスを出力するスレーブレーザと、
    前記スレーブレーザ光パルスを受け、スレーブ電気信号に変換するスレーブ光電変換部と、
    マスタレーザ光パルスを出力するマスタレーザと、
    前記マスタレーザ光パルスを受け、マスタ電気信号に変換するマスタ光電変換部と、
    前記マスタ電気信号の繰り返し周波数を所定値だけ変更する周波数変更部と、
    前記スレーブ電気信号と、前記周波数変更部の出力との位相差を検出する位相差検出器と、
    前記位相差検出器の出力の高周波成分を除去するループフィルタと、
    を備え、
    前記マスタレーザの繰り返し周波数は、前記マスタ電気信号および前記スレーブ電気信号の一方または双方に基づく制御を受けず、
    前記ループフィルタの出力に応じて、前記スレーブレーザ光パルスの繰り返し周波数が変化する、
    繰り返し周波数制御装置であって、
    前記マスタレーザ光パルスがTHz光発生器に与えられ、
    前記THz光発生器がTHz光を発生し、
    前記THz光が被測定物に照射されて、前記被測定物を透過するか、または前記被測定物により反射された透過/反射光がTHz光検出器に与えられ、
    前記THz光検出器には、前記スレーブレーザ光パルスも与えられる、
    繰り返し周波数制御装置
  2. 請求項1に記載の繰り返し周波数制御装置であって、
    前記スレーブレーザの共振器長が、前記ループフィルタの出力に応じて変化する、
    繰り返し周波数制御装置。
  3. 請求項2に記載の繰り返し周波数制御装置であって、
    前記スレーブレーザは、ピエゾ素子を有し、
    前記ピエゾ素子に、前記ループフィルタの出力が与えられ、
    前記ピエゾ素子の伸縮により、前記スレーブレーザの共振器長が変化する、
    繰り返し周波数制御装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2487116A (en) * 2010-12-27 2012-07-11 Advantest Corp Repetition Frequency Control Device
WO2014024699A1 (ja) * 2012-08-07 2014-02-13 株式会社アドバンテスト パルス光源およびパルスレーザ光の位相差を安定に制御する方法
US9846120B2 (en) 2012-09-24 2017-12-19 Advantest Corporation Light measurement apparatus, method, program and recording medium

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106159668B (zh) * 2016-09-07 2019-01-01 上海理工大学 一种重复频率锁定装置及方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0829814A (ja) * 1994-07-18 1996-02-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光サンプリング光波形測定装置
JP2000151000A (ja) * 1998-11-06 2000-05-30 Anritsu Corp 周波数可変レーザ光源装置
JP2001194241A (ja) * 2000-01-11 2001-07-19 Nec Corp 光サンプリング波形測定方法及び光サンプリング波形測定装置
JP2003224528A (ja) * 2002-01-31 2003-08-08 Ando Electric Co Ltd 光波形評価方法
WO2006092874A1 (ja) * 2005-03-01 2006-09-08 Osaka University 高分解・高速テラヘルツ分光計測装置
JP2006245179A (ja) * 2005-03-02 2006-09-14 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 光周波数安定化装置
JP2009016454A (ja) * 2007-07-02 2009-01-22 Advantest Corp モードロックレーザ装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6687270B1 (en) 2002-08-14 2004-02-03 Coherent, Inc. Digital electronic synchronization of ultrafast lasers

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0829814A (ja) * 1994-07-18 1996-02-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光サンプリング光波形測定装置
JP2000151000A (ja) * 1998-11-06 2000-05-30 Anritsu Corp 周波数可変レーザ光源装置
JP2001194241A (ja) * 2000-01-11 2001-07-19 Nec Corp 光サンプリング波形測定方法及び光サンプリング波形測定装置
JP2003224528A (ja) * 2002-01-31 2003-08-08 Ando Electric Co Ltd 光波形評価方法
WO2006092874A1 (ja) * 2005-03-01 2006-09-08 Osaka University 高分解・高速テラヘルツ分光計測装置
JP2006245179A (ja) * 2005-03-02 2006-09-14 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 光周波数安定化装置
JP2009016454A (ja) * 2007-07-02 2009-01-22 Advantest Corp モードロックレーザ装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2487116A (en) * 2010-12-27 2012-07-11 Advantest Corp Repetition Frequency Control Device
GB2487116B (en) * 2010-12-27 2013-11-20 Advantest Corp Repetition frequency control device
US8718108B2 (en) 2010-12-27 2014-05-06 Advantest Corporation Repetition frequency control device
WO2014024699A1 (ja) * 2012-08-07 2014-02-13 株式会社アドバンテスト パルス光源およびパルスレーザ光の位相差を安定に制御する方法
US9190804B2 (en) 2012-08-07 2015-11-17 Advantest Corporation Pulse light source, and method for stably controlling phase difference between pulse laser lights
JPWO2014024699A1 (ja) * 2012-08-07 2016-07-25 株式会社アドバンテスト パルス光源およびパルスレーザ光の位相差を安定に制御する方法
US9846120B2 (en) 2012-09-24 2017-12-19 Advantest Corporation Light measurement apparatus, method, program and recording medium
DE112013004646B4 (de) 2012-09-24 2021-09-16 Advantest Corporation Lichtmessvorrichtung, Verfahren, Programm und Aufnahmemedium

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Publication number Publication date
FR2969403A1 (fr) 2012-06-22
US20120155500A1 (en) 2012-06-21
DE102011087725B4 (de) 2024-03-28
DE102011087725A1 (de) 2012-06-21
JP2012134283A (ja) 2012-07-12
US8306078B2 (en) 2012-11-06

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