JP3664914B2 - 光パルス試験システム - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数本の光ファイバを所定の区間毎でコネクタ接続、又は融着接続して伝送線路を形成する際に、光ファイバに対して光源から光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴って被測定光ファイバから戻ってくる反射光（後方散乱光、フレネル反射光）を光−電気変換して信号処理することにより光ファイバの損失や障害点等の各種測定を行う光パルス試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ファイバを用いた光通信システムでは、複数本の光ファイバを所定の区間毎でコネクタ接続、又は融着接続することにより１つの伝送線路が形成されている。
【０００３】
そして、上記伝送線路の敷設時には、試験対象となる伝送線路の光ファイバに光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴う反射光を信号処理して各種測定を行う光パルス試験器が用いられる。
【０００４】
図５はこの種の測定に用いられる光パルス試験器の概略構成を示すブロック図である。
【０００５】
図５に示すように、光パルス試験器は、タイミング発生部１１、発光部（光源）１２、光結合器１３、受光部１４、増幅部１５、Ａ／Ｄコンバータ部１６、加算回路部１７、演算制御部１８、表示部１９を備えて構成される。
【０００６】
光パルス試験器では、タイミング発生部１１からの信号で駆動される発光部１２より出射された光パルスが光結合器１３を介して被測定光ファイバＷに入射される。そして、この光パルスの入射に伴って被測定光ファイバＷから反射して戻ってくる反射光を再び光結合器１３を介して受光部１４で受光し、増幅部１５で所定の増幅率で増幅してＡ／Ｄコンバータ部１６に導く。Ａ／Ｄコンバータ部１６では、増幅部１５の出力を所定のサンプリング周期でサンプリングした後、このサンプリングされた各データを加算回路部１７に供給する。加算回路部１７では、サンプリングされた各データを所定時間加算してアベレージング処理する。このアベレージング処理された各データは演算制御部１８に供給される。演算制御部１８では、アベレージング処理された各データに基づいて各種測定に関する演算を行い、その結果が波形データや数値データとして表示部１９に表示される。
【０００７】
ところで、上記光パルス試験器を用いた伝送線路の試験は、例えば光ファイバが多芯で形成される場合、個々の光ファイバについて各種測定を行い、不良の光ファイバについては再度試験が行われる。そして、全ての光ファイバの測定結果が正常であれば、引き続いて連続測定による通し試験が行われる。
【０００８】
ここで、連続測定とは、基本設定を変えずに同一条件で光パルス試験器に接続される光ファイバを順次切り替えて連続的に測定したり、１本の光ファイバに入射される光パルスの波長を順次切り替えて連続的に測定することである。その他の変更項目としては距離レンジなどがある。
【０００９】
また、上記伝送線路の良否を評価する上で、接続箇所でのスプライスロスやリターンロス、光ファイバの区間毎の単位長損失、光ファイバの口元から終端までのトータルロスやトータルリターンロスなどの測定が行われる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の光パルス試験器は、伝送線路が敷設される現場で連続測定によって得られるデータをフロッピーディスクなどの外部記憶媒体に保存することに止まり、これらのデータにより伝送線路の評価処理を現場で行うことができなかった。このため、保存したデータを現場から持ち帰り、データ解析して伝送線路の評価を行った後、不良と評価された伝送線路に関して再度現場で測定を行う必要があった。
【００１１】
このように、従来の光パルス試験器では、現場で得られる測定データに基づいてその場で伝送線路の評価作業を現場で行うことができず、作業効率が悪いという課題があった。
【００１２】
そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、連続測定で測定した各種測定データをファイル単位で一覧表示し、作業者による現場での伝送線路の評価作業の効率化が図れる光パルス試験システムを提供することを目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、被測定光ファイバに入射される光パルスのパルス幅、前記被測定光ファイバに入射される光パルスの波長、距離レンジの少なくとも一つを変え、連続して前記被測定光ファイバの損失や障害点等の各種測定を行う光パルス試験システムにおいて、
１回の前記各種測定毎に、前記各種測定によって得られた個々の測定結果の中から、損失が最大となる点におけるスプライスロス及びリターンロスの測定データと単位長損失の最大値の測定データとを代表値として抽出するとともに、前記各種測定によって得られた個々の測定結果からトータルロス、トータルリターンロスの測定データをそれぞれ算出して、それら５つの測定データを１つのファイルとしてテーブル形式で表示画面上に一覧表示する手段を備えたことを特徴とする。
【００１４】
請求項２の発明は、請求項１の光パルス試験システムにおいて、
前記テーブル形式で表示画面上に一覧表示された前記測定データと予め測定項目毎に設定された基準データとを比較し、該基準データの値を越える前記測定データを強調表示することを特徴とする。
【００１５】
請求項３の発明は、請求項１又は２の光パルス試験システムにおいて、
前記テーブル形式で表示画面上に一覧表示された複数の前記ファイルの中から選択されたファイルに対応する前記個々の測定結果及び該測定結果に基づく波形データを前記表示画面上に表示することを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】
図１は本発明による光パルス試験システムの機能ブロック図、図２は同システムにおける連続測定の設定画面の一例を示す図、図３は同システムにおける基本測定の設定画面の一例を示す図、図４は連続測定に関する各種測定項目の測定データのテーブル画面を示す図である。
【００１７】
本例における光パルス試験システムは、通常の測定に関する構成及び動作に関して、図５に示す光パルス試験器とほぼ同等であるので、その説明を省略している。なお、連続測定を行う場合には、発光部１２から出射される光パルスの波長（例えば１．３１μｍと１．５５μｍ）の切り替え制御、又は複数本の被測定光ファイバＷが接続された光スイッチユニット（不図示）を光結合器１３に取り付け、光スイッチユニットのチャンネル切り替え制御がなされる。
【００１８】
図１に示すように、光パルス試験システム１は、測定条件設定手段２、制御手段（ＣＰＵ）３、記憶手段４を備えている。
【００１９】
測定条件設定手段２は、被測定光ファイバＷの測定に関する各種設定条件を操作パネル５からの入力操作により設定しており、これらの設定情報は制御手段３の後述する測定実行手段３ａと表示制御手段３ｄに入力される。
【００２０】
具体的に、被測定光ファイバＷの各種特性を測定するにあたって、基本設定となる例えば入射される光パルスの波長、距離レンジ、アベレージ回数等が表示部１９の不図示のセットアップ画面から操作パネル５の入力操作により設定されるようになっている。
【００２１】
すなわち、測定条件設定手段２では、後述する連続測定の基本となる条件を設定している。この場合の測定条件とは、まず、最初に１回だけ測定を行い、被測定光ファイバＷに適切な距離レンジ、パルス幅、波長、アベレージ回数を求める。そして、被測定光ファイバＷに対して、マーカ位置を設定する。又はイベント点を設定する。なお、マーカの設定はユーザが自身で行うこともできるし、装置が自動で設定することもできる。
【００２２】
具体的には、図３に示すような画面が表示部１９の表示画面に表示されている状態で、被測定光ファイバＷにあった測定条件を設定する。この測定条件は、ユーザが設定するか、又は装置が自動的に適切な条件として設定する。続いて、スタートキーを押し、被測定光ファイバＷに光を出射してデータを作成する。その後、測定結果に対してユーザはマーカ位置を設定する。又はイベント位置を設定する。このマーカ位置、イベント位置は装置が自動的に設定することもできる。以上の動作により基本測定条件が決定される。
【００２３】
また、測定条件設定手段２は、連続測定を行う際、上記基本設定における変更部分の設定が必要に応じて行えるようになっている。具体的には、図２に示すような連続測定設定画面１９ａが表示部１９の表示画面に表示されている状態で、光入力ポートのチャンネル、波長、セーブディレクトリ、ファイルタイプ、ファイル名、プリントのオン・オフ、連続測定実行回数などの連続測定を行うために必要な各種測定条件が操作パネル５の入力操作により設定できるようになっている。
【００２４】
さらに、測定条件設定手段２は、連続測定に関する各種測定項目（スプライスロス、リターンロス、単位長損失、トータルロス、トータルリターンロス）毎の基準データ（警告レベル）が操作パネル５からの入力操作により設定できるようになっている。この基準データは、規格値を元にユーザの入力操作により任意に設定される。
【００２５】
図２に示すように、操作パネル５には、表示部１９に表示される設定画面の所定の項目に位置するカーソル２０を移動させるための矢印キー５ａ、カーソル２０が位置する項目を選択するためのセレクトキー５ｂ、複数のファンクションキー５ｃ（以下、Ｆキーと略称する）、測定の開始を指示するためのスタートキー５ｄなどが設けられている。
【００２６】
なお、各Ｆキー５ｃ（Ｆ１〜Ｆ５）は、表示部１９の表示画面に表示される項目メニューと対応付けして機能が割り当てられており、押下されたＦキー５ｃの機能に対応する画面（例えば図２に示すような連続測定設定画面１９ａ）が表示部１９に表示されるようになっている。
【００２７】
制御手段３は、測定実行手段３ａ、代表値抽出手段３ｂ、ファイル選択手段３ｃ、表示制御手段３ｄを備えて構成される。
【００２８】
測定実行手段３ａは、図５の一点鎖線で囲んだ部分の構成（タイミング発生部１１、発光部１２、光結合器１３、受光部１４、増幅部１５、Ａ／Ｄコンバータ部１６、加算回路部１７、演算制御部１８）に該当するものである。
【００２９】
すなわち、測定実行手段３ａは、測定条件設定手段２の設定に基づき、被測定光ファイバＷに光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴う被測定光ファイバＷからの反射光を光−電気変換して信号処理している。これにより、測定条件設定手段２の設定に基づく各種測定項目の測定結果を得ている。そして、この各種測定項目の測定結果を１回の測定毎に記憶手段４の後述する測定データ記憶手段４ａに記憶している。
【００３０】
代表値抽出手段３ｂは、測定実行手段３ａによって１回の測定毎に得られて測定データ記憶手段４ａに記憶される測定結果の中から各種測定項目の測定データを読み出し、この読み出した測定データの中から代表値を抽出している。
【００３１】
さらに説明すると、代表値抽出手段３ｂは、スプライスロス及びリターンロスの測定項目の測定データについては損失が最大となる点における測定データを、単位長損失の測定項目の測定データについては最大値の測定データを抽出している。これに対し、トータルロス、トータルリターンロスの測定項目の測定データについては、読み出した測定データをそのまま抽出している。
【００３２】
ファイル選択手段３ｃは、図４に示すように、連続測定に関する各種測定項目の測定データがテーブル形式で画面表示されている状態で、記憶手段４の後述する履歴テーブル記憶手段４ｂの所望のファイルを操作パネル５からの入力操作により選択しており、このときの選択情報は表示制御手段３ｄに入力される。
【００３３】
具体的には、図４に示す連続測定結果のテーブル画面１９ｂ上のカーソル２０を操作パネル５の矢印キー５ａで操作して所望のファイル上に位置させ、その状態で「View trace」に対応するＦキー５ｃ（Ｆ３）を押下することによりファイルを選択している。
【００３４】
表示制御手段３ｄは、測定条件設定手段２からの測定条件、代表値抽出手段３ｂで抽出された測定毎のファイルデータ、ファイル選択手段３ｃからの選択情報、記憶手段４の後述する測定データ記憶手段４ａに記憶された測定結果に基づいて表示部１９の画面内容の表示を制御している。
【００３５】
また、表示制御手段３ｄは、記憶手段４の後述する測定データ記憶手段４ａに記憶された測定結果の中から連続測定に関する各種項目の測定データと、測定条件設定手段２で設定された基準データとの比較結果に基づいて表示部１９に表示される連続測定結果のテーブル画面１９ｂの表示を制御している。
【００３６】
具体的には、表示部１９に連続測定結果のテーブル画面１９ｂを一覧表示する際、基準データを越える測定項目の測定データ及びその測定データを含むファイルを強調表示している。この強調表示としては、例えばウインドゥ内を反転表示したり、ウインドゥ内の測定データの文字色（例えば赤色）を変える等の手法がある。
【００３７】
記憶手段４は、例えば外付けのハードディスクなどで構成され、測定データ記憶手段４ａと履歴テーブル記憶手段４ｂを備えて構成される。測定データ記憶手段４ａは、測定実行手段３ａによって得られる各種測定項目に関する測定結果を記憶している。履歴テーブル記憶手段４ｂは、代表値抽出手段３ｂで抽出された連続測定に関する各種測定項目の測定データを１回の測定毎にファイル単位のデータ（図４に示すテーブル画面の各ファイル単位のデータ）として記憶している。
【００３８】
次に、上記構成によるパルス試験システム１において、制御手段３の制御の元に実行される連続測定時の動作について説明する。
【００３９】
（１）まず、図３に示すような画面が表示部１９の表示画面に表示されている状態で、被測定光ファイバＷに入射される光パルスの波長、距離レンジ、アベレージ回数等の基本測定条件の設定を行う。その後、操作パネル５のスタートキー５ｄを押下して測定を１回実行し、波形をサンプリングして各種測定項目に関する測定結果を得る。
【００４０】
（２）続いて、連続測定を行うために必要な測定条件として、前記基本測定条件の変更部分の設定を行う。具体的には、光入力ポートのチャンネル、波長、ファイルのセーブディレクトリ、ファイルタイプ、プリントのオン・オフ、連続測定実行回数などの測定条件を操作パネル５からの入力操作により設定する。この設定を終えた後、操作パネル５のスタートキー５ｄを押下して連続測定を開始する。
【００４１】
（３）上記測定によって得られる測定結果を測定データ記憶手段４ａに記憶すると同時に、スプライスロス、リターンロス、単位長損失については測定データの中から損失が最大となる点におけるスプライスロス及びリターンロスの値と単位長損失の最大値とを算出し、この算出された値を抽出する。また、トータルロス及びトータルリターンロスについては、測定データ自身が伝送線路全体の値なので、測定データの値をそのまま抽出する。
【００４２】
（４）次に、抽出した各種測定項目（スプライスロス、リターンロス、単位長損失、トータルロス、トータルリターンロス）の測定データをテーブル形式に展開し、表示部１９に連続測定結果のテーブル画面１９ｂとして一覧表示する。このとき、抽出した各種測定項目の測定データは、予め設定された基準データ（警告レベル）と比較され、基準データを越える測定データと、その測定データを含むファイル名とが強調表示される。
【００４３】
以下、上記（３）、（４）による測定を繰り返す（連続測定）。そして、連続測定が終了し、表示部１９の表示画面上に連続測定結果のテーブル画面１９ｂが表示されている状態で、操作パネル５の矢印キー５ａにより初期値を越えた測定データを含むファイルが選択され、表示画面上の「View trace」に対応するＦキー５ｃ（Ｆ３）が押下されると、そのファイルに関する測定結果が測定データ記憶手段４ａから読み出され、その測定結果とともに波形が表示部１９の表示画面上に表示される。その際、連続測定結果のテーブル画面１９ａは表示部１９の表示画面上から消える。
【００４４】
なお、連続測定結果のテーブル画面１９ｂを表示部１９に表示する機能を、例えば表示部１９にポップアップ表示される項目の一つとしてＦキーに割り当てたり、操作パネル５に設けられる独立キーに割り当てておけば、上記Ｆキーや独立キーの操作により、上記測定結果とともに波形が表示されている状態で、再び連続測定結果のテーブル画面１９ｂを表示部１９に表示させることができる。
【００４５】
このように、本実施の形態によれば、連続測定が行われると、その測定結果の中から損失が最大となる点におけるスプライスロス及びリターンロスの測定データと単位長損失の最大値の測定データとを、またトータルロス、トータルリターンロスについては測定データをそれぞれ抽出して１つのファイルとして１回の測定毎にテーブル画面１９ｂとして表示部１９に一覧表示される。
【００４６】
これにより、現場の作業者は、表示部１９に一覧表示されたテーブル画面１９ｂを見るだけで、連続測定結果をその場で容易に把握することができる。
【００４７】
また、テーブル画面１９ｂに表示される連続測定の各種測定データは、１回の測定が行われる毎に予め設定された基準データと比較され、基準データを越える測定データについては強調表示されるので、異常データを一目で把握することができ、伝送線路の評価をそのまま現場で行うことができる。しかも、異常データを含むファイルに関する再測定を即座に実行でき、作業効率の向上を図ることができる。具体的には、テーブル画面１９ｂが表示されている状態で、操作パネル５の矢印キー５ａにより初期値を越えた測定データを含むファイルが選択され、表示画面上の「View trace」に対応するＦキー５ｃ（Ｆ３）が押下されると、そのファイルに関する測定結果が測定データ記憶手段４ａから読み出され、スタートキー５ｄを押下することにより再測定を行うことができる。
【００４８】
さらに、テーブル画面１９ｂにおける複数のファイルの中から所定のファイルが操作パネルの入力操作により選択されると、この選択されたファイルの個々の測定データ及び波形データが測定データ記憶手段４ｂから読み出されて表示部１９に表示されるので、異常データを含むファイルに関する詳細なデータについても、現場に居ながら即座に解析して評価することができる。
【００４９】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明の請求項１に係る光パルス試験システムによれば、連続測定で得られる各種測定項目の測定データがファイル単位で一覧表示されるので、現場の作業者は、一覧表示されたテーブル画面を見るだけで、連続測定結果をその場で容易に把握することができる。
【００５０】
請求項２に係る光パルス試験システムによれば、テーブル画面に表示される連続測定の各種測定データは、１回の測定が行われる毎に予め設定された基準データと比較され、基準データを越える測定データについては強調表示されるので、異常データを一目で把握することができ、伝送線路の評価をそのまま現場で行うことができる。しかも、異常データを含むファイルに関する再測定を即座に実行でき、作業効率の向上を図ることができる。
【００５１】
請求項３に係る光パルス試験システムによれば、テーブル画面における複数のファイルの中から所定のファイルが選択されると、この選択されたファイルの測定結果及び波形データが表示されるので、異常データを含むファイルに関する詳細なデータについても、現場に居ながら即座に解析して評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光パルス試験システムの機能ブロック図
【図２】同システムにおける連続測定の設定画面の一例を示す図
【図３】同システムにおける基本測定の設定画面の一例を示す図
【図４】連続測定に関する各種測定項目の測定データのテーブル画面を示す図
【図５】光パルス試験器の概略構成を示すブロック図
【符号の説明】
１…光パルス試験システム、２…測定条件設定手段、３…制御手段、３ａ…測定実行手段、３ｂ…代表値抽出手段、３ｃ…ファイル選択手段、３ｄ…表示制御手段、４…記憶手段、４ａ…測定データ記憶手段、４ｂ…履歴テーブル記憶手段、５…操作パネル、１９…表示部。

Claims (3)

1. 被測定光ファイバに入射される光パルスのパルス幅、前記被測定光ファイバに入射される光パルスの波長、距離レンジの少なくとも一つを変え、連続して前記被測定光ファイバの損失や障害点等の各種測定を行う光パルス試験システムにおいて、
   １回の前記各種測定毎に、前記各種測定によって得られた個々の測定結果の中から、損失が最大となる点におけるスプライスロス及びリターンロスの測定データと単位長損失の最大値の測定データとを代表値として抽出するとともに、前記各種測定によって得られた個々の測定結果からトータルロス、トータルリターンロスの測定データをそれぞれ算出して、それら５つの測定データを１つのファイルとしてテーブル形式で表示画面上に一覧表示する手段を備えたことを特徴とする光パルス試験システム。
2. 前記テーブル形式で表示画面上に一覧表示された前記測定データと予め測定項目毎に設定された基準データとを比較し、該基準データの値を越える前記測定データを強調表示することを特徴とする請求項１記載の光パルス試験システム。
3. 前記テーブル形式で表示画面上に一覧表示された複数の前記ファイルの中から選択されたファイルに対応する前記個々の測定結果及び該測定結果に基づく波形データを前記表示画面上に表示することを特徴とする請求項１又は２記載の光パルス試験システム。

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