JPH01141331A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JPH01141331A JPH01141331A JP62297803A JP29780387A JPH01141331A JP H01141331 A JPH01141331 A JP H01141331A JP 62297803 A JP62297803 A JP 62297803A JP 29780387 A JP29780387 A JP 29780387A JP H01141331 A JPH01141331 A JP H01141331A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野１
本発明は被測定ファイバに対し光パルスを供給し、これ
に伴って被測定ファイバから反射してくる後方散乱光お
よびフレネル反射光を検出し所定の信号処理を行うこと
で、被測定ファイバの光損失や障害点等を測定する光パ
ルス試験器に関するものである。
に伴って被測定ファイバから反射してくる後方散乱光お
よびフレネル反射光を検出し所定の信号処理を行うこと
で、被測定ファイバの光損失や障害点等を測定する光パ
ルス試験器に関するものである。
［従来の技術］
被測定ファイバに光パルスを供給し、この光パルスの供
給に伴うて被測定ファイバから反射してくる後方散乱光
およびフレネル反射光を検出し、この検出した信号に対
し所定の演算を行い信号処理することによりて被測定フ
ァイバの光損失や障害点等の測定を行う装置として光パ
ルス試験器が知られている。
給に伴うて被測定ファイバから反射してくる後方散乱光
およびフレネル反射光を検出し、この検出した信号に対
し所定の演算を行い信号処理することによりて被測定フ
ァイバの光損失や障害点等の測定を行う装置として光パ
ルス試験器が知られている。
第６図はこうした光パルス試験器の概略構造を示してい
る。
る。
この光パルス試験器は発光部１、分岐部２、受光部３、
処理部４、表示部５を備えて構成されており、発光部１
より被測定ファイバ６に対し光パルスが供給されると、
この光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６からは後
方散乱光およびフレネル反射光が反射し、この反射光は
分岐部２で分岐された後、受光部３によって受光検出さ
れる。
処理部４、表示部５を備えて構成されており、発光部１
より被測定ファイバ６に対し光パルスが供給されると、
この光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６からは後
方散乱光およびフレネル反射光が反射し、この反射光は
分岐部２で分岐された後、受光部３によって受光検出さ
れる。
そして、この受光検出された信号は処理部４において所
定の信号処理、すなわち、受光検出した光パルスに基づ
く信号をレベル増幅した後、所定のサンプリング周期で
測定ポイント毎にサンプリングし、このサンプリングし
た各データを対数変換し波形処理することによってその
結果を表示部５の表示画面上に表示していた。
定の信号処理、すなわち、受光検出した光パルスに基づ
く信号をレベル増幅した後、所定のサンプリング周期で
測定ポイント毎にサンプリングし、このサンプリングし
た各データを対数変換し波形処理することによってその
結果を表示部５の表示画面上に表示していた。
ところで、この種の従来の光パルス試験器においては、
被測定ファイバ６におけるスプライス点等の障害点を測
定する場合、オペレータが表示部５の表示画面上に写し
出された後方散乱光およびフレネル反射光のトレースを
１１測し、パネルの前面に設けられたスイッチ、操作キ
ー等を操作して表示画面上のマーカを障害点位置だと思
われるところまで移動させ、このマーカ間におけるレベ
ル差が規定の損失以上であれば、カーソル線を表示画面
りのその地点に合わせ、そのときの表示距離を読取フて
いた。
被測定ファイバ６におけるスプライス点等の障害点を測
定する場合、オペレータが表示部５の表示画面上に写し
出された後方散乱光およびフレネル反射光のトレースを
１１測し、パネルの前面に設けられたスイッチ、操作キ
ー等を操作して表示画面上のマーカを障害点位置だと思
われるところまで移動させ、このマーカ間におけるレベ
ル差が規定の損失以上であれば、カーソル線を表示画面
りのその地点に合わせ、そのときの表示距離を読取フて
いた。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、上述した従来の光パルス試験器では、特
に、予め決められた損失以上の障害点のみを検索したい
場合、オペレータによる操作が多く面倒なため測定に時
間がかかるとともに、操作するオペレータによって測定
値に対し個人差が生じ、常に安定した正確な測定を行う
ことができなかった。
に、予め決められた損失以上の障害点のみを検索したい
場合、オペレータによる操作が多く面倒なため測定に時
間がかかるとともに、操作するオペレータによって測定
値に対し個人差が生じ、常に安定した正確な測定を行う
ことができなかった。
そこで、本発明は上述した問題点に鑑みてなされたもの
であって、その目的はオペレータの操作が極めて簡単に
なり、測定時間の短縮が図れると同時に常に安定した正
確な各種測定が行える光パルス試験器を提供することに
ある。
であって、その目的はオペレータの操作が極めて簡単に
なり、測定時間の短縮が図れると同時に常に安定した正
確な各種測定が行える光パルス試験器を提供することに
ある。
［問題点を解決するための手段］
上記目的を達成するため本発明による光パルス試験器は
、被測定ファイバ６に光パルスを供給することによって
上記被測定ファイバから反射してくる後方散乱光および
フレネル反射光を受光検出し、この受光検出によって得
られる検出信号を測定ポイント毎に信号処理してその処
理結果を表示画面５ａ上に波形表示し、前記被測定ファ
イバの光損失や障害点等の測定を行う光パルス試験器に
おいて、 前記表示画面５ａ上に表示された後方散乱光およびフレ
ネル反射光に基づく波形データの二点間のレベル差を算
出するレベル演算部７と、該レベル演算部の演算結果に
よって得られる各データと予め設定されるしきい値ＴＨ
とを比較する比較部８と、該比較部の比較結果によって
得られるデータを基準にその前後のデータを検索して最
大値Ｌｍａｘ、最小値Ｌ ｗｉｎを検出し、この最大値
、最小値に基づいて障害点位置に対応するデータを検出
する検出部９と、該検出部の検出結果に基づいて１ｉη
記障害点における測定結果を表示する表示部５とを備え
たことを特徴としている。
、被測定ファイバ６に光パルスを供給することによって
上記被測定ファイバから反射してくる後方散乱光および
フレネル反射光を受光検出し、この受光検出によって得
られる検出信号を測定ポイント毎に信号処理してその処
理結果を表示画面５ａ上に波形表示し、前記被測定ファ
イバの光損失や障害点等の測定を行う光パルス試験器に
おいて、 前記表示画面５ａ上に表示された後方散乱光およびフレ
ネル反射光に基づく波形データの二点間のレベル差を算
出するレベル演算部７と、該レベル演算部の演算結果に
よって得られる各データと予め設定されるしきい値ＴＨ
とを比較する比較部８と、該比較部の比較結果によって
得られるデータを基準にその前後のデータを検索して最
大値Ｌｍａｘ、最小値Ｌ ｗｉｎを検出し、この最大値
、最小値に基づいて障害点位置に対応するデータを検出
する検出部９と、該検出部の検出結果に基づいて１ｉη
記障害点における測定結果を表示する表示部５とを備え
たことを特徴としている。
［作用］
被測定ファイバ６に対し光パルスが供給されると、この
光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６から出力され
る後方散乱光およびフレネル反射光が受光検出され、こ
の検出信号を測定ポイント毎に信号処理された後、その
処理結果が表示画面５ａ上に波形表示される。レベル演
算部７は表示画面５ａ上に表示された後方散乱光および
フレネル反射光に基づく波形データの二点間のレベル差
を算出する。比較部８ではこの演算結果によって１ラ−
られる各データを予め設定されるしきい値ＴＨと比較す
る。検出部９ではこの比較結果によって得られるデータ
を基準にその前後のデータを検索して最大値Ｌａ＋ａｘ
、最小値Ｌ ｓｉｎを検出し、この最大値Ｌｍａｘ、最
小値Ｌ ｆｆｌ１ｎに基づいて前記フレネル反射光の出
力位置に対応するデータを検出する。そして、この検出
したデータに基づいて障害点における測定結果を表示部
５の表示画面５ａ上に表示する。
光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６から出力され
る後方散乱光およびフレネル反射光が受光検出され、こ
の検出信号を測定ポイント毎に信号処理された後、その
処理結果が表示画面５ａ上に波形表示される。レベル演
算部７は表示画面５ａ上に表示された後方散乱光および
フレネル反射光に基づく波形データの二点間のレベル差
を算出する。比較部８ではこの演算結果によって１ラ−
られる各データを予め設定されるしきい値ＴＨと比較す
る。検出部９ではこの比較結果によって得られるデータ
を基準にその前後のデータを検索して最大値Ｌａ＋ａｘ
、最小値Ｌ ｓｉｎを検出し、この最大値Ｌｍａｘ、最
小値Ｌ ｆｆｌ１ｎに基づいて前記フレネル反射光の出
力位置に対応するデータを検出する。そして、この検出
したデータに基づいて障害点における測定結果を表示部
５の表示画面５ａ上に表示する。
［実施例］
第１図は本発明による光パルス試験器の一実施例を示す
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
なお、この実施例において従来の光パルス試験器と同一
の構成要素には同一番号を付し、その説明を簡略する。
の構成要素には同一番号を付し、その説明を簡略する。
この実施例による光パルス試験器は、発光部１、分岐部
２、受光部３、処理部４、表示部５、レベル演算部７、
比較部８、検出部９、判別部１０、カーソル位置設定部
１１を備えて構成されており、光パルスの供給に伴って
被測定ファイバ６から出力される後方散乱光およびフレ
ネル反射光の信号処理を行い、その処理結果を表示画面
５ａ上に波形データとして波形表示し、この波形表示さ
れた後方散乱光およびフレネル反射光に基づく波形デー
タに対し、所定の演算処理を行って障害点位置における
光損失およびこの障害位置までの距離を自動的に検出測
定し、これらの結果を表示画面５ａ上に表示している。
２、受光部３、処理部４、表示部５、レベル演算部７、
比較部８、検出部９、判別部１０、カーソル位置設定部
１１を備えて構成されており、光パルスの供給に伴って
被測定ファイバ６から出力される後方散乱光およびフレ
ネル反射光の信号処理を行い、その処理結果を表示画面
５ａ上に波形データとして波形表示し、この波形表示さ
れた後方散乱光およびフレネル反射光に基づく波形デー
タに対し、所定の演算処理を行って障害点位置における
光損失およびこの障害位置までの距離を自動的に検出測
定し、これらの結果を表示画面５ａ上に表示している。
発光部！は被測定ファイバ６に対し所定レベルの光パル
スを分岐部２を介して供給している。
スを分岐部２を介して供給している。
分岐部２は光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６か
ら反射される後方散乱光およびフレネル反射光を受光部
３側に分岐している。
ら反射される後方散乱光およびフレネル反射光を受光部
３側に分岐している。
受光部３は分岐部２を介して被測定ファイバ６から出力
される後方散乱光およびフレネル反射光を受光検出し、
この受光検出した光パルスを電気信号に変換し、この変
換した信号を検出信号として処理部４に出力している。
される後方散乱光およびフレネル反射光を受光検出し、
この受光検出した光パルスを電気信号に変換し、この変
換した信号を検出信号として処理部４に出力している。
処理部４は受光部３から供給される検出信号の信号処理
を行っており、検出信号が処理部４に供給されると、こ
の信号はレベル増幅された後、所定のサンプリング周期
で測定ポイント毎にサンプリングされＡ／Ｄ変換される
。さらに、このＡ／Ｄ変換された各データは、平均化処
理され対数変換された後、波形処理されて表示部５の表
示画面５ａ上に波形表示され、オペレータが目視できる
ようになっている。
を行っており、検出信号が処理部４に供給されると、こ
の信号はレベル増幅された後、所定のサンプリング周期
で測定ポイント毎にサンプリングされＡ／Ｄ変換される
。さらに、このＡ／Ｄ変換された各データは、平均化処
理され対数変換された後、波形処理されて表示部５の表
示画面５ａ上に波形表示され、オペレータが目視できる
ようになっている。
レベル演算部７は表示部５の表示画面５ａ上に表示され
た波形データを予め設定される区間ａ毎に順次微分演算
することによフてこの波形データの二点間のレベル差を
所定のデータ数演算している。なお、演算されるデータ
の二点間の幅ａは、受光検出されるフレネル反射光のパ
ルス幅に基づいて設定されるようになっており、フレネ
ル反射光のパルス幅すよりもやや大きく設定されている
。
た波形データを予め設定される区間ａ毎に順次微分演算
することによフてこの波形データの二点間のレベル差を
所定のデータ数演算している。なお、演算されるデータ
の二点間の幅ａは、受光検出されるフレネル反射光のパ
ルス幅に基づいて設定されるようになっており、フレネ
ル反射光のパルス幅すよりもやや大きく設定されている
。
比較部８はレベル演算部７の演算結果によって得られる
各データと予め設定されるしきい値ＴＨ（例えば３ｄＢ
）とを比較している。そして、この実施例ではしきい値
ＴＨを越えるデータのうち、光パルスが投光される入力
に一番近いデータを基準データとして検出部９に出力し
ている。
各データと予め設定されるしきい値ＴＨ（例えば３ｄＢ
）とを比較している。そして、この実施例ではしきい値
ＴＨを越えるデータのうち、光パルスが投光される入力
に一番近いデータを基準データとして検出部９に出力し
ている。
なお、しきい値ＴＨは測定する損失量に応じて外部から
可変設定できるようになっている。
可変設定できるようになっている。
検出部９は比較部８から供給される基準データに基づい
て微分曲線上の最大値および最小値を示すデータＬ ｍ
ａｘ、 Ｌ ｓｉｎを検出し、さらに、この最大値およ
び最小値の各データＬ ａ＋ａｘ、 Ｌ ａｋｉｎを基
準とし、その前後のデータを検索して最初にレベルが一
定になる点のデータＸＩ 、Ｘ２を検出し、データＸ、
＋ａ、Ｘ２に対応する微分面の波形データ上の点ＦＰＩ
、ＦＰ２を検出する。
て微分曲線上の最大値および最小値を示すデータＬ ｍ
ａｘ、 Ｌ ｓｉｎを検出し、さらに、この最大値およ
び最小値の各データＬ ａ＋ａｘ、 Ｌ ａｋｉｎを基
準とし、その前後のデータを検索して最初にレベルが一
定になる点のデータＸＩ 、Ｘ２を検出し、データＸ、
＋ａ、Ｘ２に対応する微分面の波形データ上の点ＦＰＩ
、ＦＰ２を検出する。
判別部１０は検出部９によって検出されるデータ間のレ
ベル差ＦＰ１−ＦＰ２を算出し、この結果骨られる差分
データとしきい値ＴＨとを比較して差分データがしきい
値ＴＨを越えているか否かを判別している。
ベル差ＦＰ１−ＦＰ２を算出し、この結果骨られる差分
データとしきい値ＴＨとを比較して差分データがしきい
値ＴＨを越えているか否かを判別している。
カーソル位置設定部１１は判別部ｌＯの結果に基づいて
供給される信号によって表示画面５ａ上にあるマーカを
移動させるとともに、このマーカの動きに同期してカー
ソル１３を所定の位置まで移動させてその設定を行うも
ので、判別部１０より供給される差分データがしきい値
ＴＨを越えている場合には、これを障害点と判定し、検
出部９によって検出されたデータと対応する各々の位置
（Ｘ＋ ＋ａ、Ｘ２ ）までマーカ１２を移動させた後
、基準となる一方のマーカ１２の位置までカ−ツル１３
を移動させる制御が行われ、この結果障害点における光
損失と距離が表示部５の表示画面５ａ上に表示されるよ
うになっている。
供給される信号によって表示画面５ａ上にあるマーカを
移動させるとともに、このマーカの動きに同期してカー
ソル１３を所定の位置まで移動させてその設定を行うも
ので、判別部１０より供給される差分データがしきい値
ＴＨを越えている場合には、これを障害点と判定し、検
出部９によって検出されたデータと対応する各々の位置
（Ｘ＋ ＋ａ、Ｘ２ ）までマーカ１２を移動させた後
、基準となる一方のマーカ１２の位置までカ−ツル１３
を移動させる制御が行われ、この結果障害点における光
損失と距離が表示部５の表示画面５ａ上に表示されるよ
うになっている。
次に、上述した構成による光パルス試験器の動作を、第
３図（ａ）に示すような波形データが表示部に表示され
た場合を例にとって説明する。
３図（ａ）に示すような波形データが表示部に表示され
た場合を例にとって説明する。
被測定ファイバ６に対し光パルスが供給される（ＳＴＩ
）と、この光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６か
らは後方散乱光およびフレネル反射光が反射され、この
反射光は受光部３によって受光検出される（ＳＴ２）。
）と、この光パルスの供給に伴って被測定ファイバ６か
らは後方散乱光およびフレネル反射光が反射され、この
反射光は受光部３によって受光検出される（ＳＴ２）。
この受光検出された光パルスは、処理部４を介して上述
した所定の信号処理（ＳＴ３）が行われた後、波形処理
されて第３図（ａ）に示す波形データが表示部５の表示
画面５ａ上に表示される（ＳＴ４）。次に、レベル演算
部７が表示部５に表示された波形データを微分演算して
二点間のレベル差を算出する（ＳＴ５）。このときの演
算結果を第３図（ｂ）に示す。続いて、比較部８がレベ
ル演算部７によって得られる各データと予め設定された
しきい値ＴＨとを比較し、基準データを選定する（ＳＴ
６）。この基準データは、しきい値ＴＨを越えるデータ
のうち、光パルスが供給される入力側に一番近いデータ
とする。次に、検出部９ではこの基準データに基づいて
その前後のデータを検索して最大値Ｌｍａｘ、最小値Ｌ
１ｎを検出する（ＳＴ７）。さらに、この最大値Ｌｍ
ａｘ、最小値Ｌ ｓｉｎのデータを基準としてその前後
のデータを検索し、最初にレベルが一定になる点のデー
タ（Ｘｌ、Ｘ２）を検出して、データ（Ｘ、＋ａ。
した所定の信号処理（ＳＴ３）が行われた後、波形処理
されて第３図（ａ）に示す波形データが表示部５の表示
画面５ａ上に表示される（ＳＴ４）。次に、レベル演算
部７が表示部５に表示された波形データを微分演算して
二点間のレベル差を算出する（ＳＴ５）。このときの演
算結果を第３図（ｂ）に示す。続いて、比較部８がレベ
ル演算部７によって得られる各データと予め設定された
しきい値ＴＨとを比較し、基準データを選定する（ＳＴ
６）。この基準データは、しきい値ＴＨを越えるデータ
のうち、光パルスが供給される入力側に一番近いデータ
とする。次に、検出部９ではこの基準データに基づいて
その前後のデータを検索して最大値Ｌｍａｘ、最小値Ｌ
１ｎを検出する（ＳＴ７）。さらに、この最大値Ｌｍ
ａｘ、最小値Ｌ ｓｉｎのデータを基準としてその前後
のデータを検索し、最初にレベルが一定になる点のデー
タ（Ｘｌ、Ｘ２）を検出して、データ（Ｘ、＋ａ。
Ｘ２）に対応する微分前の波形データ上の点ＦＰＩ、Ｆ
Ｐ２を検出する（ＳＴ８）。次に、検出部９によって得
られたデータＦＰＩ、ＦＰ２のレベル差による差分デー
タとしきい値ＴＨとを比較する（ＳＴ９）。これにより
、障害点における損失−レベルが、本当にしきい値ＴＨ
を越えているか否かを確認する。そして、差分データが
しきい値ＴＨを越えている場合には、この部分を障害点
と判定し、データＦＰＩ、ＦＰ２を示す位置（Ｘ、＋ａ
、Ｘ２）にマーカ１２を移動させた後、カーソルをデー
タＦＰＩの位置（ｘ＋ ＋ａ）まで移動して設定しく５
ＴＩＯ）、この障害点における損失値およびその位置ま
での距離を表示画面５ａ上に表示する（ｓＴｔｔ）。
Ｐ２を検出する（ＳＴ８）。次に、検出部９によって得
られたデータＦＰＩ、ＦＰ２のレベル差による差分デー
タとしきい値ＴＨとを比較する（ＳＴ９）。これにより
、障害点における損失−レベルが、本当にしきい値ＴＨ
を越えているか否かを確認する。そして、差分データが
しきい値ＴＨを越えている場合には、この部分を障害点
と判定し、データＦＰＩ、ＦＰ２を示す位置（Ｘ、＋ａ
、Ｘ２）にマーカ１２を移動させた後、カーソルをデー
タＦＰＩの位置（ｘ＋ ＋ａ）まで移動して設定しく５
ＴＩＯ）、この障害点における損失値およびその位置ま
での距離を表示画面５ａ上に表示する（ｓＴｔｔ）。
なお、上述した動作は図示しない装置のパネル前面に設
けられた外部の操作キーあるいは電源を投入することに
よって行われ、これ以後の動作は自動的に行われるので
、従来のような面倒な操作を必要とせず、また、オペレ
ータによって灘定値に対し個人差が生じることなく、常
に安定した高精度な測定を行うことができると同時に測
定時間の短縮が図れる。
けられた外部の操作キーあるいは電源を投入することに
よって行われ、これ以後の動作は自動的に行われるので
、従来のような面倒な操作を必要とせず、また、オペレ
ータによって灘定値に対し個人差が生じることなく、常
に安定した高精度な測定を行うことができると同時に測
定時間の短縮が図れる。
さらに、この実施例ではある規定以上の損失をを有する
部分のレベルおよびその位置までの距離の測定を自動的
に行えることから、障害点の測定に対して有効であり、
例えば、実際の光フアイバ回線において、ファイバケー
ブルの断線等により不通が生じた場合でも、断線地点を
短時間で検出でき回線の復旧時間が短縮される。
部分のレベルおよびその位置までの距離の測定を自動的
に行えることから、障害点の測定に対して有効であり、
例えば、実際の光フアイバ回線において、ファイバケー
ブルの断線等により不通が生じた場合でも、断線地点を
短時間で検出でき回線の復旧時間が短縮される。
次に、上述した動作において、基準データに基づいて障
害点位置に対応する波形データ上のデータＦＰＩ、ＦＰ
２を検出するまでの間の動作を、第４図に示すフローチ
ャート図にしたがってさらに説明する。
害点位置に対応する波形データ上のデータＦＰＩ、ＦＰ
２を検出するまでの間の動作を、第４図に示すフローチ
ャート図にしたがってさらに説明する。
基準データが選定されたら、まず、この基準データ以前
のデータを検索する（ＳＴ１２）。この操作は最大値デ
ータＬ ｔａａｘが見つかるまで行われる。最大値デー
タＬ ｗａｘが検出されたら（ＳＴ、１３）、さらに、
この最大値データＬ ｍａｘ以而の面−タを検索する（
ＳＴ１４）。この検索により最小値データＬ ｗｉｎが
検出されたら（ＳＴ１５）、この最小値データＬ ｓｉ
ｎに対応する波形データをＦＰＩとする（ＳＴ１６）。
のデータを検索する（ＳＴ１２）。この操作は最大値デ
ータＬ ｔａａｘが見つかるまで行われる。最大値デー
タＬ ｗａｘが検出されたら（ＳＴ、１３）、さらに、
この最大値データＬ ｍａｘ以而の面−タを検索する（
ＳＴ１４）。この検索により最小値データＬ ｗｉｎが
検出されたら（ＳＴ１５）、この最小値データＬ ｓｉ
ｎに対応する波形データをＦＰＩとする（ＳＴ１６）。
また、最小値データＬ ｗｉｎが検出されなければ、以
前に検出された最大値データＬ ｗａｘに対応する波形
データをＦＰＩとする（ＳＴ１７）。データＦＰＩが決
定したら、次に基準データ以後のデータを検索する（Ｓ
Ｔ１８）。この検索により最小値データＬ ｗｉｎ。が
検出されたら（ＳＴ１９）、さらに、この最小値データ
Ｌ ｍｉｎ以後のデータを検索する（ＳＴ２０）。この
検索により最大値データＬＬＩｌａｘが検出されたら（
ＳＴ２１）、この最大値データＬ ｎａｘに対応する波
形データをＦＰ２とする（ＳＴ２２）。
前に検出された最大値データＬ ｗａｘに対応する波形
データをＦＰＩとする（ＳＴ１７）。データＦＰＩが決
定したら、次に基準データ以後のデータを検索する（Ｓ
Ｔ１８）。この検索により最小値データＬ ｗｉｎ。が
検出されたら（ＳＴ１９）、さらに、この最小値データ
Ｌ ｍｉｎ以後のデータを検索する（ＳＴ２０）。この
検索により最大値データＬＬＩｌａｘが検出されたら（
ＳＴ２１）、この最大値データＬ ｎａｘに対応する波
形データをＦＰ２とする（ＳＴ２２）。
ところで、上述した実施例では第３図（ａ）に示すよう
な波形データが表示画面５ａ上に表示され、この波形デ
ータを微分演算により二点間のレベル差を算出すること
で第３図（ｂ）に示すデータを得、このデータに基づい
て障害点での損失量およびその点までの距離を検出する
例について説明したが、これに限らず第５図（ａ）に示
すようなパターンの波形データが表示画面５ａ上に表示
されることもある。この場合もまったく同様にしてＦＰ
Ｉ、ＦＰ２等のデータが検出され、これに応じてマーカ
１２、カーソル１３の位置が設定され、検出されたデー
タ間のレベル差およびその点までの距離が表示部５に表
示される。
な波形データが表示画面５ａ上に表示され、この波形デ
ータを微分演算により二点間のレベル差を算出すること
で第３図（ｂ）に示すデータを得、このデータに基づい
て障害点での損失量およびその点までの距離を検出する
例について説明したが、これに限らず第５図（ａ）に示
すようなパターンの波形データが表示画面５ａ上に表示
されることもある。この場合もまったく同様にしてＦＰ
Ｉ、ＦＰ２等のデータが検出され、これに応じてマーカ
１２、カーソル１３の位置が設定され、検出されたデー
タ間のレベル差およびその点までの距離が表示部５に表
示される。
なお、上述した波形データの尖頭値近辺のデータは、フ
ァイバの損失の違いによってその傾斜の度合が異なる場
合もある。
ァイバの損失の違いによってその傾斜の度合が異なる場
合もある。
また、上述した実施例では比較部８が出力する基準デー
タを光パルスが供給される入力側に一番近いしきい値Ｔ
Ｈと同値のデータとして説明したが、これとは反対側の
データを基準データとしてもよい。
タを光パルスが供給される入力側に一番近いしきい値Ｔ
Ｈと同値のデータとして説明したが、これとは反対側の
データを基準データとしてもよい。
［発明の効果］
以上説明したように本発明の光パルウ試験器によれば、
ある規定以上の損失を有するスプライス点等の障害点を
自動的に検出し、その地点における損失およびその点ま
での距離を表示画面上に表示する構成なので、オペレー
タの操作による数が減って操作が極めて簡単になり、操
作するオペレータによって測定値に対する個人差が生じ
ることなく、常に安定した正確な測定を行うことができ
るという効果がある。
ある規定以上の損失を有するスプライス点等の障害点を
自動的に検出し、その地点における損失およびその点ま
での距離を表示画面上に表示する構成なので、オペレー
タの操作による数が減って操作が極めて簡単になり、操
作するオペレータによって測定値に対する個人差が生じ
ることなく、常に安定した正確な測定を行うことができ
るという効果がある。
また、本発明の装置は、特に、予め決められた損失以上
の障害点のみを検索したい場合に有効的に用いることが
できる。
の障害点のみを検索したい場合に有効的に用いることが
できる。
第１図は本発明による光パルス試験器の一実施例を・示
すブロック図、第２図は同実施例による光パルス試験器
における信号処理の概要を示すフローチャート図、第３
図（ａ）は同実施例による光パルス試験器の表示部に表
示される波形データを示す図、第３図（ｂ）は第３図（
ａ）の波形データを微分演算することによって得られる
データを示す図、第４図は同実施例による光パルス試験
器の検出部での信号処理の概要を示すフローチャート図
、第５図（ａ）は同実施例による光パルス試験器の表示
部に表示される波形データの他のパターンを示す図、第
５図（ｂ）は第５図（ａ）の波形データを微分演算する
ことによって得られるデータを示す図、第６図は従来の
光パルス試験器の概略を示すブロック図である。 ５・−表示部、６−被測定ファイバ、７・・・レベル演
算部、８・−比較部、９・−検出部。 特許出願人 アンリツ株式会社 代理人・弁理士 西 村 教 光 第１図 第 ２ 図 第 ４ 図 滅麿 第５ 図（ａ） ５ａ５＋２ １２ 第６図
すブロック図、第２図は同実施例による光パルス試験器
における信号処理の概要を示すフローチャート図、第３
図（ａ）は同実施例による光パルス試験器の表示部に表
示される波形データを示す図、第３図（ｂ）は第３図（
ａ）の波形データを微分演算することによって得られる
データを示す図、第４図は同実施例による光パルス試験
器の検出部での信号処理の概要を示すフローチャート図
、第５図（ａ）は同実施例による光パルス試験器の表示
部に表示される波形データの他のパターンを示す図、第
５図（ｂ）は第５図（ａ）の波形データを微分演算する
ことによって得られるデータを示す図、第６図は従来の
光パルス試験器の概略を示すブロック図である。 ５・−表示部、６−被測定ファイバ、７・・・レベル演
算部、８・−比較部、９・−検出部。 特許出願人 アンリツ株式会社 代理人・弁理士 西 村 教 光 第１図 第 ２ 図 第 ４ 図 滅麿 第５ 図（ａ） ５ａ５＋２ １２ 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定ファイバ（６）に光パルスを供給することによっ
て上記被測定ファイバから反射してくる後方散乱光およ
びフレネル反射光を受光検出し、この受光検出によって
得られる検出信号を測定ポイント毎に信号処理してその
処理結果を表示画面（５ａ）上に波形表示し、前記被測
定ファイバの光損失や障害点等の測定を行う光パルス試
験器において、 前記表示画面（５ａ）上に表示された後方散乱光および
フレネル反射光に基づく波形データの二点間のレベル差
を算出するレベル演算部（７）と、該レベル演算部の演
算結果によって得られる各データと予め設定されるしき
い値ＴＨとを比較する比較部（８）と、該比較部の比較
結果によって得られるデータを基準にその前後のデータ
を検索して最大値Ｌｍａｘ、最小値Ｌｍｉｎを検出し、
この最大値、最小値に基づいて障害点位置に対応するデ
ータを検出する検出部（９）と、該検出部の検出結果に
基づいて前記障害点における測定結果を表示する表示部
（５）とを備えたことを特徴とする光パルス試験器。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62297803A JPH01141331A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 光パルス試験器 |
| US07/276,231 US4898463A (en) | 1987-11-27 | 1988-11-23 | Optical time domain reflectometer with automatic measuring function of optical fiber defects |
| EP88119720A EP0318043B1 (en) | 1987-11-27 | 1988-11-25 | Optical time domain reflectometer with automatic measuring function of optical fiber defects |
| DE8888119720T DE3868491D1 (de) | 1987-11-27 | 1988-11-25 | Otdr mit automatischer messfunktion von fehlern in optischer faser. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62297803A JPH01141331A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01141331A true JPH01141331A (ja) | 1989-06-02 |
Family
ID=17851372
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62297803A Pending JPH01141331A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 光パルス試験器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4898463A (ja) |
| EP (1) | EP0318043B1 (ja) |
| JP (1) | JPH01141331A (ja) |
| DE (1) | DE3868491D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010008143A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Yokogawa Electric Corp | 光線路監視装置及び光線路監視システム |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8923933D0 (en) * | 1989-10-24 | 1989-12-13 | British Aerospace | Apparatus and methods for testing optical communications networks |
| US5155439A (en) * | 1989-12-12 | 1992-10-13 | Tektronix, Inc. | Method of detecting and characterizing anomalies in a propagative medium |
| US5069544A (en) * | 1990-04-12 | 1991-12-03 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Adaptive pulse width optical fault finder |
| JP2909159B2 (ja) * | 1990-07-10 | 1999-06-23 | アンリツ株式会社 | 平滑化処理方法および平滑化処理による雑音除去装置およびそれを用いる光パルス試験装置 |
| JP2951701B2 (ja) * | 1990-07-25 | 1999-09-20 | 株式会社アドバンテスト | 光パルス試験器 |
| US5093568A (en) * | 1990-12-14 | 1992-03-03 | John Maycock | Monitoring system for fiber optic cables utilizing an OTDR for detection of signal loss and automatic location of faults in the cable |
| US5129722A (en) * | 1991-05-16 | 1992-07-14 | Tektronix, Inc. | Expansion windowing system for a measurement test instrument |
| WO1994016347A1 (en) * | 1992-12-31 | 1994-07-21 | Gte Laboratories Incorporated | Electrically switched, remote optical time domain reflectometry system and fiber analysis method |
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| US5552881A (en) * | 1994-03-17 | 1996-09-03 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for scanning a fiber optic network |
| US5528356A (en) * | 1995-03-20 | 1996-06-18 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for displaying multiple sample spacing waveform segments |
| JP2914217B2 (ja) * | 1995-04-28 | 1999-06-28 | 安藤電気株式会社 | 光線路試験装置およびその方法 |
| JPH09318492A (ja) * | 1996-05-30 | 1997-12-12 | Ando Electric Co Ltd | Ｏｔｄｒ測定装置 |
| WO1998004895A1 (fr) * | 1996-07-25 | 1998-02-05 | Anritsu Corporation | Appareil de controle de fibres optiques faisant appel a un reflectometre optique temporel et procede de controle |
| JP3664914B2 (ja) * | 1999-07-12 | 2005-06-29 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験システム |
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| CA2800361C (en) | 2010-05-27 | 2013-07-23 | Exfo Inc. | Multiple-acquisition otdr method and device |
| RU2503939C1 (ru) * | 2012-07-17 | 2014-01-10 | Федеральное государственное образовательное бюджетное учреждение высшего профессионального образования "Поволжский государственный университет телекоммуникаций и информатики" (ФГОБУ ВПО ПГУТИ) | Способ определения места повреждения оптического волокна |
| KR102285347B1 (ko) * | 2015-02-13 | 2021-08-03 | 한국전자통신연구원 | 듀얼 광원을 이용한 광 선로 감시 장치 및 방법 |
| US9641243B2 (en) | 2015-02-23 | 2017-05-02 | Exfo Inc. | Safe-mode OTDR method |
| CN104867479B (zh) * | 2015-06-12 | 2017-05-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 拼接显示装置屏幕亮度的调节装置和方法 |
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| JPS6479637A (en) * | 1987-09-22 | 1989-03-24 | Nippon Telegraph & Telephone | Detection of position of defect and of open end of optical fiber |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| FR2520114A1 (fr) * | 1982-01-18 | 1983-07-22 | Lignes Telegraph Telephon | Dispositif de localisation d'une cassure d'une fibre optique et utilisation d'un tel dispositif |
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| JPS6150033A (ja) * | 1984-08-18 | 1986-03-12 | Iwatsu Electric Co Ltd | タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ |
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-
1987
- 1987-11-27 JP JP62297803A patent/JPH01141331A/ja active Pending
-
1988
- 1988-11-23 US US07/276,231 patent/US4898463A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-25 DE DE8888119720T patent/DE3868491D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-25 EP EP88119720A patent/EP0318043B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0318043B1 (en) | 1992-02-19 |
| US4898463A (en) | 1990-02-06 |
| EP0318043A1 (en) | 1989-05-31 |
| DE3868491D1 (de) | 1992-03-26 |
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