JPH0258578B2 - - Google Patents
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- JPH0258578B2 JPH0258578B2 JP30775886A JP30775886A JPH0258578B2 JP H0258578 B2 JPH0258578 B2 JP H0258578B2 JP 30775886 A JP30775886 A JP 30775886A JP 30775886 A JP30775886 A JP 30775886A JP H0258578 B2 JPH0258578 B2 JP H0258578B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 19
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 101100262374 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CDC21 gene Proteins 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は発光源からの所定の光パルスを送出
し、被測定物から反射してくる後方散乱光を促え
て被測定物の特性を検出する光パルス試験器に関
する。
し、被測定物から反射してくる後方散乱光を促え
て被測定物の特性を検出する光パルス試験器に関
する。
［従来の技術］
光フアイバの普及に伴つて、光フアイバの接続
点における接続損失、光フアイバの伝送損失、あ
るいは光フアイバが途中で破断やひび割れを起こ
した時のその位置等を正確に評価できる測定器が
大変重要な役割を持つようになつてきている。
点における接続損失、光フアイバの伝送損失、あ
るいは光フアイバが途中で破断やひび割れを起こ
した時のその位置等を正確に評価できる測定器が
大変重要な役割を持つようになつてきている。
光パルス試験器は、このような光フアイバ特性
を評価する測定器の一種で、光フアイバに光パル
スを入射し、光フアイバのコアに本質的に存在す
る屈折率の不均一性により散乱して戻つてくるい
わゆる後方散乱光を促えて伝送損失量の測定を行
うとともに、入射パルスと障害点で発生するフレ
ネル反射との時間差を求め障害点までの距離を測
定するものである。
を評価する測定器の一種で、光フアイバに光パル
スを入射し、光フアイバのコアに本質的に存在す
る屈折率の不均一性により散乱して戻つてくるい
わゆる後方散乱光を促えて伝送損失量の測定を行
うとともに、入射パルスと障害点で発生するフレ
ネル反射との時間差を求め障害点までの距離を測
定するものである。
以下、従来の光パルス試験器の構成とその動作
原理を説明する。
原理を説明する。
第３図は従来の光パルス試験器の構成図であ
る。図において１は全体の制御を司どる処理装置
（CPUという）、２はCPU１の制御に従つて所定
のタイミング信号を発生するタイミング発生部、
３はタイミング発生部２から出力されたタイミン
グ信号に従つて一定の間隔で光パルスを発生する
レーザダイオード（LD）等で構成される発光部、
４は光の通過方向によつて光の進路方向を変化さ
せる方向性光結合器、５は測定の対象となる被測
定物としての光フアイバ、６は光フアイバ５から
反射して戻つてくる後方散乱光を捉える受光部、
７は受光部６で捉えた微少の後方散乱光を増幅す
る増幅器、８は増幅器７によつて増幅された後方
散乱光をサンプリングしてデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換部、９はＡ／Ｄ変換部８によつてデ
ジタル信号に変換された後方散乱光をCPU１で
処理し、その結果を波形として表示する表示装置
（CRTという）である。
る。図において１は全体の制御を司どる処理装置
（CPUという）、２はCPU１の制御に従つて所定
のタイミング信号を発生するタイミング発生部、
３はタイミング発生部２から出力されたタイミン
グ信号に従つて一定の間隔で光パルスを発生する
レーザダイオード（LD）等で構成される発光部、
４は光の通過方向によつて光の進路方向を変化さ
せる方向性光結合器、５は測定の対象となる被測
定物としての光フアイバ、６は光フアイバ５から
反射して戻つてくる後方散乱光を捉える受光部、
７は受光部６で捉えた微少の後方散乱光を増幅す
る増幅器、８は増幅器７によつて増幅された後方
散乱光をサンプリングしてデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換部、９はＡ／Ｄ変換部８によつてデ
ジタル信号に変換された後方散乱光をCPU１で
処理し、その結果を波形として表示する表示装置
（CRTという）である。
ここにおいてCPU１は雑音に埋れた後方散乱
光を検出するためアベレージングによるＳ／Ｎ改
善を行うアベレージング部１１を内部に有してい
る。
光を検出するためアベレージングによるＳ／Ｎ改
善を行うアベレージング部１１を内部に有してい
る。
次に動作について説明する。
タイミング発生部２からタイミング信号が出力
されると、レーザダイオード等からなる発光部３
はそのタイミング信号により光パルスを出力す
る。
されると、レーザダイオード等からなる発光部３
はそのタイミング信号により光パルスを出力す
る。
出力された光パルスは方向性結合器４を介して
被測定物としての光フアイバ５に入力される。
被測定物としての光フアイバ５に入力される。
光フアイバ５から反射して戻つてくる後方散乱
光は再び方向性結合器４を介して受光部６に入力
される。
光は再び方向性結合器４を介して受光部６に入力
される。
受光部６によつて促えられた後方散乱光は増幅
器７によつて増幅されてＡ／Ｄ変換部８に入力さ
れる。
器７によつて増幅されてＡ／Ｄ変換部８に入力さ
れる。
このＡ／Ｄ変換部８はタイミング発生部２で発
生するサンプリングタイミングで後方散乱光をサ
ンプリングしＡ／Ｄ変換を行なつた後、CPU１
にデジタル信号に変換した後方散乱光の光信号を
出力する。
生するサンプリングタイミングで後方散乱光をサ
ンプリングしＡ／Ｄ変換を行なつた後、CPU１
にデジタル信号に変換した後方散乱光の光信号を
出力する。
CPU１はＡ／Ｄ変換部８から入力された後方
散乱光を内部にあるアベレージング部１１等を用
いて処理し、CRT９にその処理した結果を波形
として表示する。
散乱光を内部にあるアベレージング部１１等を用
いて処理し、CRT９にその処理した結果を波形
として表示する。
第４図ａ，ｂはCRT９上に表示された波形の
１例を示す図で、第４図ａはアベレージングの回
数が少ない時の波形を示す図、第４図ｂはアベレ
ージングの回数が多い時の波形を示す図である。
１例を示す図で、第４図ａはアベレージングの回
数が少ない時の波形を示す図、第４図ｂはアベレ
ージングの回数が多い時の波形を示す図である。
図に示すようにアベレージング回数が多ければ
多い程Ｓ／Ｎ比は改善され、雑音に埋れた後方散
乱光の光信号を検出することが可能となる。
多い程Ｓ／Ｎ比は改善され、雑音に埋れた後方散
乱光の光信号を検出することが可能となる。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで従来の光パルス試験器におけるアベレ
ージングはオペレータが予めアベレージングの回
数を定めておき、この定めた回数だけアベレージ
ングするとか、あるいはCRT９上に表示される
波形の収束度を見ながら適当なところでアベレー
ジングを停止するとかの方法をとつている。
ージングはオペレータが予めアベレージングの回
数を定めておき、この定めた回数だけアベレージ
ングするとか、あるいはCRT９上に表示される
波形の収束度を見ながら適当なところでアベレー
ジングを停止するとかの方法をとつている。
それ故測定者によつてアベレージングの回数や
時間が異なると、波形のＳ／Ｎ比が異なり、その
結果測定者によつて測定結果の精度が異なるとい
う問題点があつた。
時間が異なると、波形のＳ／Ｎ比が異なり、その
結果測定者によつて測定結果の精度が異なるとい
う問題点があつた。
またアベレージングに要する時間が不明でアベ
レージングを停止するまで測定者は常に光パルス
試験器のCRT画面を監視していなければならな
いという問題があつた。
レージングを停止するまで測定者は常に光パルス
試験器のCRT画面を監視していなければならな
いという問題があつた。
この発明は上記問題点を解決するためになされ
たもので、予め定められたＳ／Ｎ比に到達するま
でのアベレージング回数や時間を測定者に知ら
せ、また自動的にアベレージングを停止させるこ
とによつて測定者が常にCRT画面を監視しなく
てもよい光パルス試験器を得ることを目的として
いる。
たもので、予め定められたＳ／Ｎ比に到達するま
でのアベレージング回数や時間を測定者に知ら
せ、また自動的にアベレージングを停止させるこ
とによつて測定者が常にCRT画面を監視しなく
てもよい光パルス試験器を得ることを目的として
いる。
また測定者が誰であつても常にＳ／Ｎ比が一定
の、すなわち測定の精度が一定のパルス試験器を
得ることを目的としている。
の、すなわち測定の精度が一定のパルス試験器を
得ることを目的としている。
［問題点を解決するための手段］
このため第１の発明によるパルス試験器は、表
示画面上の特定の位置をマーカの移動によつて指
定するマーカ指定手段と、このマーカ指定手段に
よつて指定された位置のＳ／Ｎ比を検出する検出
手段と、予め設定された所定のＳ／Ｎ比と上記検
出手段によつて検出されたＳ／Ｎ比とを比較する
比較手段と、この比較結果に基づいてＳ／Ｎ改善
曲線から所定のアベレージング回数・時間を算出
する計算手段と、計算手段によつて計算された結
果に従つてアベレージングを停止する停止手段と
を備えたことを特徴とし、また、第２の発明によ
る光パルス試験器は、表示画面上の特定の位置を
マーカの移動によつて指定するマーカ指定手段
と、このマーカ指定手段によつて指定された位置
のＳ／Ｎ比を検出する検出手段と、予め設定され
た所定のＳ／Ｎ比と上記検出手段によつて検出さ
れたＳ／Ｎ比とを比較する比較手段と、この比較
結果に基づいてＳ／Ｎ改善曲線から所定のアベレ
ージング回数・時間を算出する計算手段と、該計
算手段によつて計算された結果に従つてアベレー
ジングを停止する停止手段と、前記計算手段によ
つて計算された結果に従つてその旨表示する表示
手段とを備えたことを特徴としている。
示画面上の特定の位置をマーカの移動によつて指
定するマーカ指定手段と、このマーカ指定手段に
よつて指定された位置のＳ／Ｎ比を検出する検出
手段と、予め設定された所定のＳ／Ｎ比と上記検
出手段によつて検出されたＳ／Ｎ比とを比較する
比較手段と、この比較結果に基づいてＳ／Ｎ改善
曲線から所定のアベレージング回数・時間を算出
する計算手段と、計算手段によつて計算された結
果に従つてアベレージングを停止する停止手段と
を備えたことを特徴とし、また、第２の発明によ
る光パルス試験器は、表示画面上の特定の位置を
マーカの移動によつて指定するマーカ指定手段
と、このマーカ指定手段によつて指定された位置
のＳ／Ｎ比を検出する検出手段と、予め設定され
た所定のＳ／Ｎ比と上記検出手段によつて検出さ
れたＳ／Ｎ比とを比較する比較手段と、この比較
結果に基づいてＳ／Ｎ改善曲線から所定のアベレ
ージング回数・時間を算出する計算手段と、該計
算手段によつて計算された結果に従つてアベレー
ジングを停止する停止手段と、前記計算手段によ
つて計算された結果に従つてその旨表示する表示
手段とを備えたことを特徴としている。
［作用］
マーカ指定手段によつて表示画面上の特定の位
置に指定すると、検出手段はこの指定された位置
におけるＳ／Ｎ比を検出する。
置に指定すると、検出手段はこの指定された位置
におけるＳ／Ｎ比を検出する。
ここで比較手段が予め設定されている所定の
Ｓ／Ｎ比と検出されたＳ／Ｎ比とを比較すると、
計算手段はＳ／Ｎ改善曲線からアベレージングの
回数や時間を算出する。停止手段は上記算出され
た結果に従つて所定のアベレージング回数や時間
がくると、自動的にアベレージングを停止する。
Ｓ／Ｎ比と検出されたＳ／Ｎ比とを比較すると、
計算手段はＳ／Ｎ改善曲線からアベレージングの
回数や時間を算出する。停止手段は上記算出され
た結果に従つて所定のアベレージング回数や時間
がくると、自動的にアベレージングを停止する。
［実施例］
以下この発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図はこの発明の一実施例を示す構成図で、
図において１２は表示画面上の特定の位置をマー
カの移動によつて指定するマーカ指定手段、１３
はこのマーカ指定手段１２によつて指定された位
置のＳ／Ｎ比を検出する検出手段、１４は予め設
定された所定のＳ／Ｎ比と上記検出手段１３によ
つて検出されたＳ／Ｎ比とを比較する比較手段、
１５はこの比較手段１４に基づいてＳ／Ｎ改善曲
線から所定のアベレージング回数・時間を算出す
る計算手段、１６は計算手段１５によつて計算さ
れた結果に従つてその旨表示画面上に表示する表
示手段、１７は計算手段１５によつて計算された
結果に従つてアベレージングを停止する停止手段
である。
図において１２は表示画面上の特定の位置をマー
カの移動によつて指定するマーカ指定手段、１３
はこのマーカ指定手段１２によつて指定された位
置のＳ／Ｎ比を検出する検出手段、１４は予め設
定された所定のＳ／Ｎ比と上記検出手段１３によ
つて検出されたＳ／Ｎ比とを比較する比較手段、
１５はこの比較手段１４に基づいてＳ／Ｎ改善曲
線から所定のアベレージング回数・時間を算出す
る計算手段、１６は計算手段１５によつて計算さ
れた結果に従つてその旨表示画面上に表示する表
示手段、１７は計算手段１５によつて計算された
結果に従つてアベレージングを停止する停止手段
である。
ここにおいて、比較手段１４は予め所定のＳ／
Ｎ比設定されているメモリ等で構成される設定器
１４Ａと、この設定器１４Ａに設定されている所
定のＳ／Ｎ比と検出手段１３によつて検出された
Ｓ／Ｎ比とを比較してその比較の結果を計算手段
１５に出力する比較器１４Ｂとで構成され、計算
手段１５はメモリテーブルや計算サブルーチン等
で構成されるＳ／Ｎ改善曲線収納部１５Ａと、
Ｓ／Ｎ改善曲線収納部１５Ａに保持されている
Ｓ／Ｎ改善曲線を参照しつつ比較器１４Ｂから出
力される比較結果に基づいてアベレージング回数
や時間を計算する計算部１５Ｂとで構成されてい
る。
Ｎ比設定されているメモリ等で構成される設定器
１４Ａと、この設定器１４Ａに設定されている所
定のＳ／Ｎ比と検出手段１３によつて検出された
Ｓ／Ｎ比とを比較してその比較の結果を計算手段
１５に出力する比較器１４Ｂとで構成され、計算
手段１５はメモリテーブルや計算サブルーチン等
で構成されるＳ／Ｎ改善曲線収納部１５Ａと、
Ｓ／Ｎ改善曲線収納部１５Ａに保持されている
Ｓ／Ｎ改善曲線を参照しつつ比較器１４Ｂから出
力される比較結果に基づいてアベレージング回数
や時間を計算する計算部１５Ｂとで構成されてい
る。
ここでＳ／Ｎ改善曲線について第２図を基にし
て説明する。
て説明する。
ｉ回のアベレージングによる雑音電力減少率
NRは次に示す式 NR＝（Ｎ−１／Ｎ）2(i-1)＋１−（Ｎ−１／Ｎ）2(i-1)
／2N−１ Ｎ：任意の整数 ｉ：アベレージング回数 で表わせることがわかつている。
NRは次に示す式 NR＝（Ｎ−１／Ｎ）2(i-1)＋１−（Ｎ−１／Ｎ）2(i-1)
／2N−１ Ｎ：任意の整数 ｉ：アベレージング回数 で表わせることがわかつている。
この式から指数形アベレージングでの改善量
（Ｓ／Ｎ）Aは （Ｓ／Ｎ）A＝−10log（NR） で表わされる。
（Ｓ／Ｎ）Aは （Ｓ／Ｎ）A＝−10log（NR） で表わされる。
Ｎをパラメータとして（Ｓ／Ｎ）Aを大きくとる
にはＮが大きい方が良いのでアベレージング回数
に応じてＮの値を次のように変化させる。
にはＮが大きい方が良いのでアベレージング回数
に応じてＮの値を次のように変化させる。
の範囲 ｉ＝５〜64 N1＝32
の範囲 ｉ＝65〜4228
N2＝1024
の範囲 ｉ＝4229〜∞
N3＝8192
この結果Ｓ／Ｎ改善曲線は第２図に示すように
なる。
なる。
この第２図に示すグラフから現在のＳ／Ｎ比が
わかると、所定のＳ／Ｎ比に達するまでにはどれ
だけのアベレージ回数が必要かの解答が得られる
ことになる。
わかると、所定のＳ／Ｎ比に達するまでにはどれ
だけのアベレージ回数が必要かの解答が得られる
ことになる。
次に動作について説明する。
まず測定に先立つて設定器１４Ａに所定のＳ／
Ｎ比を設定し、Ｓ／Ｎ改善曲線をＳ／Ｎ改善曲線
収納部１５Ａに記憶させておく。
Ｎ比を設定し、Ｓ／Ｎ改善曲線をＳ／Ｎ改善曲線
収納部１５Ａに記憶させておく。
ここで光パルス試験器を動作させるとCRT９
には第４図ａに示すような後方散乱光の波形が表
示されるので、マーカ指定手段１２を用いて表示
画面上の特定の位置をマーカの移動によつて指定
する。
には第４図ａに示すような後方散乱光の波形が表
示されるので、マーカ指定手段１２を用いて表示
画面上の特定の位置をマーカの移動によつて指定
する。
この時マーカ指定手段１２は検出手段１３に特
定の位置が指定されたことを示す指定信号S1を出
力するので、検出手段１３は指定信号S1に従つて
特定の位置における現在のＳ／Ｎ比を検出して検
出信号S2を比較器１４Ｂに出力する。
定の位置が指定されたことを示す指定信号S1を出
力するので、検出手段１３は指定信号S1に従つて
特定の位置における現在のＳ／Ｎ比を検出して検
出信号S2を比較器１４Ｂに出力する。
比較器１４Ｂは設定器１４Ａに設定されている
所定のＳ／Ｎ比を表わす設定信号S3と検出信号S2
とを比較し、現在のＳ／Ｎ比と設定器に設定され
ているＳ／Ｎ比との差をとつて比較信号S4として
計算部１５Ｂに渡す。
所定のＳ／Ｎ比を表わす設定信号S3と検出信号S2
とを比較し、現在のＳ／Ｎ比と設定器に設定され
ているＳ／Ｎ比との差をとつて比較信号S4として
計算部１５Ｂに渡す。
計算部１５Ｂは比較信号S4を受取ると、Ｓ／Ｎ
改善曲線収納部１５Ａを参照しつつ検出信号S2の
表わす現在のＳ／Ｎ比が設定信号S3の表わす所定
のＳ／Ｎ比に達するまで、どのくらいアベレージ
ング回数が必要かあるいはどのくらいアベレージ
ングに時間がかかるかを算出し、算出信号S5を表
示手段１６及び停止手段１７に出力する。
改善曲線収納部１５Ａを参照しつつ検出信号S2の
表わす現在のＳ／Ｎ比が設定信号S3の表わす所定
のＳ／Ｎ比に達するまで、どのくらいアベレージ
ング回数が必要かあるいはどのくらいアベレージ
ングに時間がかかるかを算出し、算出信号S5を表
示手段１６及び停止手段１７に出力する。
ここに表示手段１６は計算手段１５から出力さ
れる算出信号S5に従つてその旨CRT９の表示画
面上に表示する。
れる算出信号S5に従つてその旨CRT９の表示画
面上に表示する。
ここでいうその旨とはアベレージング回数、ア
ベレージングに必要な時間、アベレージングが終
わる時刻、アベレージングが終わるまでの残り時
間等である。
ベレージングに必要な時間、アベレージングが終
わる時刻、アベレージングが終わるまでの残り時
間等である。
一方計算手段１５によつて計算されたアベレー
ジング回数までアベレージングを行うと、停止手
段１７は算出信号S5に基づき自動的にアベレージ
ングを停止する。
ジング回数までアベレージングを行うと、停止手
段１７は算出信号S5に基づき自動的にアベレージ
ングを停止する。
なおこの実施例ではＳ／Ｎ改善曲線収納部１５
Ａに第２図に示すＳ／Ｎ改善曲線のグラフをメモ
リテーブルとして収納した例を示してあるが、計
算式を収納し、計算サブルーチンを用いてアベレ
ージング回数や時間を計算する構成としても良
い。
Ａに第２図に示すＳ／Ｎ改善曲線のグラフをメモ
リテーブルとして収納した例を示してあるが、計
算式を収納し、計算サブルーチンを用いてアベレ
ージング回数や時間を計算する構成としても良
い。
またここでいうＳ／Ｎ改善曲線とはグラフ、計
算式のみならず、比較手段が出力する比較信号と
アベレージング回数や時間との対応関係を表わす
ものを総称している。
算式のみならず、比較手段が出力する比較信号と
アベレージング回数や時間との対応関係を表わす
ものを総称している。
［発明の効果］
以上説明したようにこの発明にによれば所定の
Ｓ／Ｎ比に達するまでのアベレージング回数や時
間を計算し、表示画面上に計算結果を表示し、ま
た所定のＳ／Ｎ比に達するとアベレージングを自
動的に停止するように構成したので、測定者は、
常にCRT画面を監視することなく、また測定者
によつて測定結果の精度が異ならない効果を有す
る。
Ｓ／Ｎ比に達するまでのアベレージング回数や時
間を計算し、表示画面上に計算結果を表示し、ま
た所定のＳ／Ｎ比に達するとアベレージングを自
動的に停止するように構成したので、測定者は、
常にCRT画面を監視することなく、また測定者
によつて測定結果の精度が異ならない効果を有す
る。
また測定者が常にCRT画面上の後方散乱光の
Ｓ／Ｎ比の改善状態を監視する必要がなく、表示
画面に表示されたアベレージング回数や時間にア
ベレージングが自動的に停止する効果がある。
Ｓ／Ｎ比の改善状態を監視する必要がなく、表示
画面に表示されたアベレージング回数や時間にア
ベレージングが自動的に停止する効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す構成図、第
２図はＳ／Ｎ改善曲線のグラフを示す図、第３図
は従来の光パルス試験器の構成を示す図、第４図
は光パルス試験器のCRTに写し出される後方散
乱光の波形を示す図である。 １……CPU、２……タイミング発生部、３…
…発光部、４……方向性結合器、６……受光部、
７……増幅器、８……Ａ／Ｄ変換部、１２……マ
ーカ指定手段、１３……検出手段、１４……比較
手段、１５……計算手段、１６……表示手段、１
７……停止手段。
２図はＳ／Ｎ改善曲線のグラフを示す図、第３図
は従来の光パルス試験器の構成を示す図、第４図
は光パルス試験器のCRTに写し出される後方散
乱光の波形を示す図である。 １……CPU、２……タイミング発生部、３…
…発光部、４……方向性結合器、６……受光部、
７……増幅器、８……Ａ／Ｄ変換部、１２……マ
ーカ指定手段、１３……検出手段、１４……比較
手段、１５……計算手段、１６……表示手段、１
７……停止手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 発光源から所定の光パルスを送出し、被測定
物から反射してくる後方散乱光及びフレネル反射
光をサンプリングしてデジタル信号に変換し、表
示画面上に被測定物の特性を表示する光パルス試
験器において、 表示画面上の特定の位置をマーカの移動によつ
て指定するマーカ指定手段と、このマーカ指定手
段によつて指定された位置のＳ／Ｎ比を検出する
検出手段と、予め設定された所定のＳ／Ｎ比と上
記検出手段によつて検出されたＳ／Ｎ比とを比較
する比較手段と、この比較結果に基づいてＳ／Ｎ
改善曲線から所定のアベレージング回数・時間を
算出する計算手段と、該計算手段によつて計算さ
れた結果に従つてアベレージングを停止する停止
手段とを備えたことを特徴とする光パルス試験
器。 ２ 発光源から所定の光パルスを送出し、被測定
物から、反射してくる後方散乱光及びフレネル反
射光をサンプリングしてデジタル信号に変換し、
表示画面上に被測定物の特性を表示する光パルス
試験器において、 表示画面上の特定の位置をマーカの移動によつ
て指定するマーカ指定手段と、このマーカ指定手
段によつて指定された位置のＳ／Ｎ比を検出する
検出手段と、予め設定された所定のＳ／Ｎ比と上
記検出手段によつて検出されたＳ／Ｎ比とを比較
する比較手段と、この比較結果に基づいてＳ／Ｎ
改善曲線から所定のアベレージング回数・時間を
算出する計算手段と、該計算手段によつて計算さ
れた結果に従つてアベレージングを停止する停止
手段と、前記計算手段によつて計算された結果に
従つてその旨表示する表示手段とを備えたことを
特徴とする光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30775886A JPS63163139A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30775886A JPS63163139A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63163139A JPS63163139A (ja) | 1988-07-06 |
| JPH0258578B2 true JPH0258578B2 (ja) | 1990-12-10 |
Family
ID=17972919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30775886A Granted JPS63163139A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63163139A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4688231B2 (ja) * | 2006-07-03 | 2011-05-25 | アンリツ株式会社 | オプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法 |
-
1986
- 1986-12-25 JP JP30775886A patent/JPS63163139A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63163139A (ja) | 1988-07-06 |
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