JPH07174666A - パルス幅とゲインを自動設定するotdr - Google Patents

パルス幅とゲインを自動設定するotdr

Info

Publication number
JPH07174666A
JPH07174666A JP34418593A JP34418593A JPH07174666A JP H07174666 A JPH07174666 A JP H07174666A JP 34418593 A JP34418593 A JP 34418593A JP 34418593 A JP34418593 A JP 34418593A JP H07174666 A JPH07174666 A JP H07174666A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse
optical
circuit
pulse width
optical fiber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP34418593A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3161198B2 (ja
Inventor
Nobunari Takeuchi
伸成 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP34418593A priority Critical patent/JP3161198B2/ja
Publication of JPH07174666A publication Critical patent/JPH07174666A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3161198B2 publication Critical patent/JP3161198B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ファイバ3の測定波形が一定以上のS/N
比で得られ、光出力のパルス幅およびゲインを自動的に
選択するOTDRを提供する。 【構成】 LD1は光パルスのパルス幅を最小に、波高
値を最大にして光パルスを光ファイバ3に出射する。レ
ベル判定回路8は測定波形のレベルを判定し、CPU1
1は測定値が飽和しなくなるまで段階的に波高値を下げ
るよう波高値可変回路1Bに指令する。S/N比演算回
路9Bは測定波形の信号レベルと雑音レベルからS/N
比を計算し、S/N比出力が規定値以上のときは、測定
波形を表示器に表示する。S/N比出力が規定値未満の
ときは、光パルスのパルス幅が最大値の範囲内において
段階的にパルス幅を広げるようパルス幅可変ジェネレー
タ1Aに指令する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光ファイバの測定波
形が一定以上のS/N比で得られ、光出力のパルス幅お
よびゲインを自動的に選択する光パルス試験器(以下、
OTDRという。)についてのものである。
【0002】
【従来の技術】OTDRは、光方向性結合器を通して光
パルスを光ファイバに入射し、戻り光を検出することに
より光ファイバの長さ・損失・破断点を測定する。
【0003】次に、従来技術のOTDRの構成を図4に
より説明する。図4の1は半導体レーザダイオード(以
下、LDという。)、2は光方向性結合器、3は測定さ
れる光ファイバ、4Aは受光素子、4Bは増幅回路、5
はA/D変換器、6はメモリ、7は表示器、10はタイ
ミング発生器である。
【0004】図4では、タイミング発生器10からのパ
ルス電流により、LD1を発光させる。LD1から出射
した光パルスは光方向性結合器2を通過し、光ファイバ
3に入射する。光ファイバ3からの後方散乱光や反射光
などの戻り光は光方向性結合器2から受光素子4Aに送
られる。受光素子4Aでは戻り光の出力を光電変換し、
受光素子4Aの電気出力は増幅回路4Bで増幅され、A
/D変換器5に入る。
【0005】A/D変換器5に入力されたアナログ信号
はディジタル信号に変換され、メモリ6に書き込まれ
る。メモリ6に書き込まれた測定データは図示されない
CPUの指令で表示器7に表示される。。
【0006】後方散乱光の減衰特性で光ファイバ3の損
失がわかり、タイミング発生器10からのパルス信号と
受光素子4Aからの検出信号による時間差を計測するこ
とにより、光ファイバ3の後方散乱光が発生した位置を
検出することができる。
【0007】光方向性結合器2には方解石のような偏波
分離型のものや、A/O(アコースティックオプティカ
ル)スイッチのような高速光スイッチなどを用いる。受
光素子4AにはAPD(アバランシェフォトダイオー
ド)を用いる。
【0008】次に、図4で得られる光ファイバ3の測定
波形を図5により説明する。図5アは光ファイバ3の状
態図であり、図5アの左端が入射端、右端が開放端(ま
たは、破断端)であり、中間に接続点が2つある。
【0009】図5イは光ファイバ3に入射する光パルス
による測定波形である。図5イの縦軸は光ファイバ3の
受光レベルであり、デシベル表示される。図5イの横軸
は光ファイバ3に光パルスが伝搬する時間を距離に換算
して表示する。図5イの入射端ではフレネル反射による
パルス状の波形が観測される。後方散乱光が検出され、
後方散乱光は入射端から開放端に向かって減衰する。接
続点前後では波形に段差が生じ、接続損に対応する。開
放端では反射によるパルス状の波形が観測される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図4に示されるOTD
Rは、図5イに表示される測定波形を見て、LD1のパ
ルス幅、ゲインを決定する。すなわち、画面を見なが
ら、測定される光ファイバの測定条件を手動で設定しな
ければならない。したがって、図5イに示される光パル
スのパルス幅と波高値を決定するのは時間がかかり、作
業者によるばらつきも生じる。
【0011】この発明は、LDの出射光を変えるパルス
幅可変ジェネレータと波高値可変回路を予め備えてい
る。また、測定波形のレベルを判定する回路と、測定波
形のS/N比を判定する回路を備えている。この発明
は、CPUが測定波形を演算し、LDの出射光を制御す
ることにより、光パルスのパルス幅とゲインを自動設定
するOTDRを提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、レーザダイオード1から出射する光パ
ルスを光方向性結合器2に入射し、前記光パルスを光フ
ァイバ3に入射し、光ファイバ3からの戻り光を光方向
性結合器2で分離し、受光素子4Aで光電変換し、受光
素子4Aの出力を増幅回路4Bで増幅し、増幅回路4B
のアナログ出力をA/D変換器5でディジタル出力に変
換し、前記ディジタル出力をメモリ6に書き込み、メモ
リ6を読み込み光ファイバ3の状態を表示器7に表示す
るOTDRにおいて、前記光パルスのパルス幅を変える
パルス信号を出力するパルス幅可変ジェネレータ1A
と、前記パルス信号によるパルス出力をレーザダイオー
ド1に出力し、前記パルス信号の電流値を変えることに
より前記光パルスの波高値を変える波高値可変回路1B
と、A/D変換器5のディジタル出力が入力され、前記
ディジタル出力が飽和しているかを判定するレベル判定
回路8と、A/D変換器5のディジタル出力が入力さ
れ、光ファイバ3の測定波形を微分し、前記測定波形の
雑音成分を抽出する微分回路9Aと、微分回路9Aの雑
音レベルとメモリ6から読み込まれた信号レベルからS
/N比を計算するS/N比演算回路9Bとを備え、CP
U11は前記光パルスのパルス幅を最小となるように、
前記光パルスの波高値が最大となるようそれぞれパルス
幅可変ジェネレータ1Aと波高値可変回路1Bに指令
し、前記設定で光パルスを出射してレベル判定回路8の
判定出力からCPU11は光ファイバ3の測定波形が飽
和しなくなるまで段階的に波高値を下げるよう波高値可
変回路1Bに指令し、S/N比演算回路9BのS/N比
出力が規定値以上のときは、CPU11は光ファイバ3
の状態を表示器7に表示指令し、S/N比演算回路9B
のS/N比出力が規定値未満のときは、CPU11は前
記光パルスのパルス幅が最大値の範囲内において段階的
にパルス幅を拡げるようパルス幅可変ジェネレータ1A
に指令し、最適条件で光ファイバ3の状態を表示器7に
表示指令する。
【0013】
【作用】前記構成によれば、LDは光パルスのパルス幅
を最小に、波高値を最大にして光パルスを光ファイバに
出射する。レベル判定回路は測定波形のレベルを判定
し、測定値が飽和しなくなるまで段階的に波高値を下げ
るよう波高値可変回路に指令する。S/N比演算回路は
測定波形の信号レベルと雑音レベルからS/N比を計算
し、S/N比出力が規定値以上のときは、光ファイバの
状態を表示器に表示する。S/N比出力が規定値未満の
ときは、光パルスのパルス幅が最大値の範囲内において
段階的にパルス幅を拡げるようパルス幅可変ジェネレー
タに指令する。このように、最適条件で光ファイバの状
態を表示器に表示することができる。
【0014】
【実施例】次に、この発明によるOTDRの実施例によ
る構成を図1により説明する。図1の1Aはパルス幅可
変ジェネレータ、1Bは波高値可変回路、8はレベル判
定回路、9Aは微分回路、9BはS/N比演算回路、1
1はCPUであり、その他は図4と同じものである。
【0015】図1では、パルス幅可変ジェネレータ1A
は波高値可変回路1Bを介してLD1に接続され、LD
1が出射する光パルスのパルス幅を変えるパルス信号を
出力する。波高値可変回路1Bはパルス幅可変ジェネレ
ータ1Aに接続し、前記パルス信号によるパルス出力を
LD1に出力し、前記パルス信号の電流値を変えること
により前記光パルスの波高値を変える。
【0016】レベル判定回路8はA/D変換器5のディ
ジタル出力が入力され、前記ディジタル出力が飽和して
いるかを判定する。微分回路9AはA/D変換器5のデ
ィジタル出力が入力され、光ファイバ3の測定波形を微
分し、前記測定波形の雑音成分を抽出する。
【0017】S/N比演算回路9Bは、微分回路9Aの
雑音レベルとメモリ6から読み込まれた信号レベルから
S/N比を計算する。CPU11はレベル判定回路8の
出力が入力され、S/N比演算回路9Bの出力が入力さ
れる。また、CPU11はパルス幅可変ジェネレータ1
Aと波高値可変回路1Bを指令により制御する。
【0018】次に、図1の動作を図2のフローチャート
により説明する。OTDRのS/N比は送出光パルスの
エネルギ(パルス幅×波高値)に比例する。また、光パ
ルスのエネルギが同じであれば、パルス幅の狭い程分解
能がよい。したがって、図2のステップ101では、初
期値としてCPU11は光パルスのパルス幅を最小とな
るように、光パルスの波高値が最大となるようそれぞれ
パルス幅可変ジェネレータ1Aと波高値可変回路1Bに
指令する。
【0019】ステップ102では、光ファイバ3の戻り
光を測定する。ステップ103では、レベル判定回路8
により、測定波形が飽和しているかを判定する。ステッ
プ103で測定波形が飽和しているときはステップ10
4に進む。ステップ104では光パルスのレベルを下げ
るため、CPU11は波高値を下げるよう波高値可変回
路1Bに指令しステップ102の前段に戻る。
【0020】ステップ103で測定波形が飽和していな
いときは、ステップ105に進む。ステップ105で
は、S/N比演算回路9BのS/N比出力と規定値とを
比較する。ステップ105で測定波形のS/N出力が規
定値以上であれば、ステップ106で測定波形を表示器
7に表示して一連の動作を終了する。
【0021】ステップ105で測定波形のS/N比出力
が規定値未満のときは、ステップ107に進む。ステッ
プ107では、パルス幅が最大かを判定する。ステップ
107でパルス幅が最大であれば、OTDRの最高性能
であるためS/N比が規定値以下であっても、ステップ
106の前段に進み、測定波形を表示器7に表示して動
作を終了する。
【0022】ステップ107でパルス幅が最大でなけれ
ば、ステップ108では、CPU11はパルス幅可変ジ
ェネレータ1Aにパルス幅を拡げるよう指令し、ステッ
プ102の前段に戻る。前述の手順により、最適条件で
光ファイバ3の状態を表示器7に表示できる。
【0023】図1では、パルス幅可変ジェネレータ1A
は光パルスのパルス幅を例えば、10nsから10μsまでロ
グスケールで段階的に10ステップで変えることができ
る。また、波高値可変回路1Bは、光パルスの波高値を
例えば、1mWから100 mWまで10ステップに可変す
る。このようにパルス幅と波高値を組み合わせれば100
通りの中から最適値を選択できる。また、光パルスの波
高値を可変する代わりに受光器の利得あるいは増幅器の
利得を可変してもこの発明と同様に結果が得られる。な
お、図3は波高値可変回路1Bの実施回路である。
【0024】
【発明の効果】この発明は、LDの出射光を変えるパル
ス幅可変ジェネレータと波高値可変回路を予め備えてい
る。また、測定波形のレベルを判定する回路と、測定波
形のS/N比を判定する回路を備えている。CPUが測
定波形を演算し、LDの出射光を制御することにより、
光パルスのパルス幅とゲインを自動設定するOTDRを
提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるOTDRの実施例による構成図
である。
【図2】図1の動作を示すフローチャートである。
【図3】波高値可変回路1Bの実施回路である。
【図4】従来技術のOTDRの構成図である。
【図5】図4で得られる光ファイバ3の測定波形図であ
る。
【符号の説明】
1 レーザダイオード(LD) 1A パルス幅可変ジェネレータ 1B 波高値可変回路 2 光方向性結合器 3 光ファイバ 4A 受光素子 4B 増幅回路 5 A/D変換器 6 メモリ 7 表示器 8 レベル判定回路 9A 微分回路 9B S/N比演算回路 11 CPU

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザダイオード(1) から出射する光パ
    ルスを光方向性結合器(2) に入射し、前記光パルスを光
    ファイバ(3) に入射し、光ファイバ(3) からの戻り光を
    光方向性結合器(2) で分離し、受光素子(4A)で光電変換
    し、受光素子(4A)の出力を増幅回路(4B)で増幅し、増幅
    回路(4B)のアナログ出力をA/D変換器(5) でディジタ
    ル出力に変換し、前記ディジタル出力をメモリ(6) に書
    き込み、メモリ(6) を読み込み光ファイバ(3) の状態を
    表示器(7) に表示するOTDRにおいて、 前記光パルスのパルス幅を変えるパルス信号を出力する
    パルス幅可変ジェネレータ(1A)と、 前記パルス信号によるパルス出力をレーザダイオード
    (1) に出力し、前記パルス信号の電流値を変えることに
    より前記光パルスの波高値を変える波高値可変回路(1B)
    と、 A/D変換器(5) のディジタル出力が入力され、前記デ
    ィジタル出力が飽和しているかを判定するレベル判定回
    路(8) と、 A/D変換器(5) のディジタル出力が入力され、光ファ
    イバ(3) の測定波形を微分し、前記測定波形の雑音成分
    を抽出する微分回路(9A)と、 微分回路(9A)の雑音レベルとメモリ(6) から読み込まれ
    た信号レベルからS/N比を計算するS/N比演算回路
    (9B)とを備え、 CPU(11)は前記光パルスのパルス幅を最小となるよう
    に、前記光パルスの波高値が最大となるようそれぞれパ
    ルス幅可変ジェネレータ(1A)と波高値可変回路(1B)に指
    令し、 前記設定で光パルスを出射してレベル判定回路(8) の判
    定出力からCPU(11)は光ファイバ(3) の測定波形が飽
    和しなくなるまで段階的に波高値を下げるよう波高値可
    変回路(1B)に指令し、 S/N比演算回路(9B)のS/N比出力が規定値以上のと
    きは、CPU(11)は光ファイバ(3) の状態を表示器(7)
    に表示指令し、 S/N比演算回路(9B)のS/N比出力が規定値未満のと
    きは、CPU(11)は前記光パルスのパルス幅が最大値の
    範囲内において段階的にパルス幅を拡げるようパルス幅
    可変ジェネレータ(1A)に指令し、最適条件で光ファイバ
    (3) の状態を表示器(7) に表示指令することを特徴とす
    るパルス幅とゲインを自動設定するOTDR。
JP34418593A 1993-12-17 1993-12-17 パルス幅とゲインを自動設定するotdr Expired - Fee Related JP3161198B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34418593A JP3161198B2 (ja) 1993-12-17 1993-12-17 パルス幅とゲインを自動設定するotdr

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34418593A JP3161198B2 (ja) 1993-12-17 1993-12-17 パルス幅とゲインを自動設定するotdr

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07174666A true JPH07174666A (ja) 1995-07-14
JP3161198B2 JP3161198B2 (ja) 2001-04-25

Family

ID=18367290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34418593A Expired - Fee Related JP3161198B2 (ja) 1993-12-17 1993-12-17 パルス幅とゲインを自動設定するotdr

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3161198B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5748302A (en) * 1996-02-22 1998-05-05 Ando Electric Co., Ltd. Optical power meter
JP2006303923A (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Sharp Corp 回路装置およびこれを備えた電子機器
JP2007205967A (ja) * 2006-02-03 2007-08-16 Fujikura Ltd 光線路監視装置及び方法
JP2008122108A (ja) * 2006-11-08 2008-05-29 Anritsu Corp 光パルス試験装置
JP2010133867A (ja) * 2008-12-05 2010-06-17 Anritsu Corp 光パルス試験器
US8270828B2 (en) 2006-02-03 2012-09-18 Fujikura Ltd. Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method
JP2019023580A (ja) * 2017-07-24 2019-02-14 株式会社フジクラ 光線路監視システム及び光線路の監視方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5748302A (en) * 1996-02-22 1998-05-05 Ando Electric Co., Ltd. Optical power meter
JP2006303923A (ja) * 2005-04-20 2006-11-02 Sharp Corp 回路装置およびこれを備えた電子機器
JP2007205967A (ja) * 2006-02-03 2007-08-16 Fujikura Ltd 光線路監視装置及び方法
US8270828B2 (en) 2006-02-03 2012-09-18 Fujikura Ltd. Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method
US8290363B2 (en) 2006-02-03 2012-10-16 Fujikura Ltd. Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method
US8315517B2 (en) 2006-02-03 2012-11-20 Fujikura, Ltd Optical line monitoring apparatus and optical line monitoring method
JP2008122108A (ja) * 2006-11-08 2008-05-29 Anritsu Corp 光パルス試験装置
JP2010133867A (ja) * 2008-12-05 2010-06-17 Anritsu Corp 光パルス試験器
JP2019023580A (ja) * 2017-07-24 2019-02-14 株式会社フジクラ 光線路監視システム及び光線路の監視方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3161198B2 (ja) 2001-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4901128B2 (ja) 距離測定装置、及び距離測定方法
US5062704A (en) Optical time domain reflectometer having pre and post front panel connector testing capabilities
US9170173B2 (en) Multiple-acquisition otdr method and device
US5708500A (en) Multimode optical time domain reflectometer having improved resolution
US5963313A (en) Optical time domain reflectometer with bandwidth correction
JPH021527A (ja) 光パルス試験器
JPH07174666A (ja) パルス幅とゲインを自動設定するotdr
JPH06201482A (ja) 光パルス試験器
US5933227A (en) Testing method for optical fiber
JP2011007618A (ja) 光パルス試験装置
US11029232B2 (en) Optical time domain reflectometer and testing method of optical time domain reflectometer
JP3002343B2 (ja) 光パルス試験器
JP2001305017A (ja) 光パルス試験器
JP2972973B2 (ja) 光パルス試験器
JPS58113831A (ja) 損失分布測定装置
JP2002221467A (ja) 光パルス試験器における光ファイバの遠端位置判定方法
JP3133025B2 (ja) 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器
JP2003207413A (ja) 光線路試験装置及び伝送損失特性の補正方法
US10305586B1 (en) Combined signal responses in an optical time-domain reflectometer
JP2711104B2 (ja) 光パルス試験器
CN115128639B (zh) 一种实时调整种子光功率的差分吸收激光雷达
JP5325848B2 (ja) 光パルス試験装置および光伝送路試験方法
JPH06273273A (ja) ラマン散乱光を表示する光パルス試験器
JPH033175B2 (ja)
JPH0194236A (ja) 光パルス試験器

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees