JP3002343B2 - 光パルス試験器 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被測定光ファイバに光
パルスを入射し、これに伴って被測定光ファイバ内で散
乱して戻ってくる後方散乱光およびフレネル反射光を受
光検出して信号処理することにより、被測定光ファイバ
の光損失や障害点位置等を測定する光パルス試験器に関
し、被測定光ファイバに入射される光パルスのパルス幅
を最適値に補正する光パルス試験器に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】被測定光ファイバに光パルスを入射し、
この光パルスの入射に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光を受光検出して信号処理することにより、
被測定光ファイバの光損失や障害点位置等の測定を行う
装置として光パルス試験器が知られている。

【０００３】この種の光パルス試験器は、図８に示すよ
うにパルス発生回路２１、光源２２、カプラ２３、Ｏ／
Ｅ変換回路２４、Ａ／Ｄ変換回路２５、データ処理部２
６、表示器２７を備えて概略構成されている。そして、
この光パルス試験器では、パルス発生回路２１が所定の
繰り返し周期による同期信号のタイミングで駆動パルス
を発生し、この駆動パルスの入力タイミングで光源２２
からカプラ２３を介して被測定光ファイバ２９に光パル
スを入射する。光パルスが被測定光ファイバ２９に入射
すると、被測定光ファイバ２９内でフレネル反射と後方
散乱光とが発生する。これらの反射光はカプラ２３を介
してＯ／Ｅ変換回路２４に受光検出されて電気信号に変
換される。そして、変換された信号は所定レベルまで増
幅されてＡ／Ｄ変換回路２５によりデジタル信号の波形
データに変換された後、データ処理部２６により積算平
均および対数変換の信号処理が行われ、その結果が表示
器２７の画面上に波形表示される。

【０００４】ところで、上述した光パルス試験器におい
て、被測定光ファイバ２９に入射される光パルスのパル
ス幅は、ダイナミックレンジと分解能に影響する。すな
わち、パルス幅を大きくすると、被測定光ファイバ２９
に対して光のエネルギーを多く入射できるため、ダイナ
ミックレンジが上がり、Ｓ／Ｎの良い測定波形を得るこ
とができる反面、分解能が悪くなり、細かい測定が困難
になる。逆に、パルス幅を小さくすると、分解能が良く
なり、被測定光ファイバ２９中の近接した障害点等の細
かい測定を行うことができる反面、ダイナミックレンジ
が下がるため、測定波形のＳ／Ｎが悪化する。このた
め、従来は測定者が表示器２７の測定波形を見ながら目
的に合う測定結果が得られるように適当なパルス幅を選
択してパルス幅の補正を行っていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た方法では、設定にあたっての操作が煩わしく時間を要
し、測定者にかかる作業の負担が大きく、迅速に測定動
作に移行できないという問題があった。

【０００６】そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その目的は、測定者にかかる作業を
軽減し、簡単な操作によりパルス幅を最適値に自動的に
補正設定して即座に測定動作に移行することができる光
パルス試験器を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による請求項１の光パルス試験器は、所定パ
ルス幅の光パルスを被測定光ファイバ９に入射し、この
光パルスの入射に伴って前記被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光を信号処理し、その結果を表示器７の画面
上に波形表示して前記被測定光ファイバの光損失や障害
点位置等の測定を行う光パルス試験器において、前記表
示器に表示される波形の測定範囲に応じて初期のパルス
幅Ｈ０を設定するパルス幅初期設定手段１８ａと、初期
設定されたパルス幅の光パルスを被測定光ファイバに入
射した時の波形データで予め設定されたしきい値を越え
る前記被測定光ファイバの遠端のポイントＰ１を検出す
るレベル検出手段１８ｂと、前記波形データの所定の差
分間隔による差分データを演算する差分演算手段１８ｃ
と、前記差分データで予め設定されたしきい値を越える
前記被測定光ファイバの遠端のポイントＰ２を検出する
差分検出手段１８ｄと、前記レベル検出手段によるレベ
ル検出点と前記差分検出手段による差分検出点との比較
に基づいてノイズレベルを越える信号レベルＬを測定す
るレベル測定手段１８ｆと、前記初期設定されたパルス
幅を前記信号レベルに基づいて算出された補正パルス幅
Ｈ１に可変するパルス幅可変手段１８ｇとを備えたこと
を特徴としている。

【０００８】

【０００９】

【作用】請求項１の光パルス試験器では、測定者により
被測定光ファイバの種類や測定箇所等に応じて測定範囲
が選択されると、パルス幅初期設定手段１８ａは測定範
囲に応じて初期のパルス幅Ｈ０を設定する。レベル検出
手段１８ｂは初期設定されたパルス幅の光パルスを被測
定光ファイバ９に入射した時の波形データで予め設定さ
れたしきい値を越える被測定光ファイバの遠端のポイン
トＰ１を検出する。また、差分データ演算手段１８ｃは
波形データの所定の差分間隔による差分データを演算
し、差分データ検出手段１８ｄは演算された差分データ
で予め設定されたしきい値を越える被測定光ファイバの
遠端のポイントＰ２を検出する。そして、レベル測定手
段１８ｆはレベル検出点と差分検出点とを比較してノイ
ズレベルを越える信号レベルＬを測定し、パルス幅可変
手段１８ｇは初期設定されたパルス幅Ｈ０を信号レベル
Ｌに基づいて算出された補正パルス幅Ｈ１に可変する。

【００１０】

【００１１】

【実施例】図１は本発明による光パルス試験器の第１実
施例を示すブロック構成図である。この実施例による光
パルス試験器は、パルス発生回路１、光源２、カプラ
３、Ｏ／Ｅ変換回路４、Ａ／Ｄ変換回路５、データ処理
部６、表示器７、パルス幅補正処理部８を備えて構成さ
れている。

【００１２】パルス発生回路１は予め設定された繰り返
し周期の同期信号のタイミングで駆動パルスを光源２に
出力している。光源２は例えばＬＤ（Laser Diode ）で
構成され、パルス発生回路１より入力される駆動パルス
のタイミングで光パルスをカプラ３に出力している。

【００１３】カプラ３は光源２からの光パルスを被測定
光ファイバ９に出射し、この光パルスの入射に伴って被
測定光ファイバ９から戻ってくる後方散乱光およびフレ
ネル反射光をＯ／Ｅ変換回路４に導いている。Ｏ／Ｅ変
換回路４は例えばＡＰＤ（Avalanche Photodiode）で構
成され、カプラ３によって導かれる被測定光ファイバ９
からの反射光を受光検出し電気信号に変換してＡ／Ｄ変
換回路５に出力している。

【００１４】Ａ／Ｄ変換回路５はパルス発生回路１に入
力される同期信号のタイミングでＯ／Ｅ変換回路４から
の電気信号を所定のサンプリング周期でサンプリングし
ており、被測定光ファイバ９の複数ポイントの波形デー
タと、被測定光ファイバ９からの反射光がない区間での
複数個のゼロデータとを得て、この波形データとゼロデ
ータをデータ処理部６に出力している。

【００１５】データ処理部６はＡ／Ｄ変換回路５から入
力される複数個のゼロデータを平均化してオフセットデ
ータとし、各ポイント毎にアベレージ処理により積算平
均された波形データからオフセットデータを差し引いて
対数変換している。表示器７はデータ処理部６で対数変
換されたデータを予め設定された測定範囲で画面に波形
表示している。

【００１６】パルス幅補正処理部８はパルス幅初期設定
手段８ａ、ポイント指定手段８ｂ、レベル演算手段８
ｃ、パルス幅可変手段８ｄを備えて構成されている。パ
ルス幅初期設定手段８ａはパルス幅を長さに置き換えた
時に、その長さが距離分解能以上でないとフレネル反射
の検出が行えないことから、例えば図２において測定範
囲が５Ｋｍ（距離分解能１ｍ）の時は２０nsec（２ｍに
相当）以上で１００nsec（１０ｍに相当）以下、１００
Ｋｍ（距離分解能２０ｍ）の時は５００nsec（５０ｍに
相当）以上で２μsec （２００ｍに相当）以下というよ
うに、測定者によって選択される表示器７の画面上での
測定範囲で設定可能な最大値のパルス幅を初期値として
設定している。ポイント指定手段８ｂは表示器７の画面
上において予め固定設定された任意のポイント、例えば
画面の右端や中央等を自動的に指定している。

【００１７】レベル演算手段８ｃはポイント指定手段８
ｂによって指定されたポイントの信号のレベルおよびそ
の信号に乗っているノイズレベルを演算している。パル
ス幅可変手段８ｄはレベル演算手段８ｃによって演算さ
れたノイズレベルが予め設定された規定値範囲内に収ま
るように被測定光ファイバ９に入射される光パルスのパ
ルス幅を自動的に可変して補正設定している。

【００１８】次に、上記のように構成された光パルス試
験器の動作を図３のフローチャート図に基づいて説明す
る。まず、測定者により被測定光ファイバの測定箇所に
応じて図２に示す５種類の測定範囲の中から所望の測定
範囲が選択され（ＳＴ１）、図示しないスタートボタン
が押下されると、その測定範囲の距離分解能で選べる最
大値にパルス幅が初期設定される（ＳＴ２）。初期設定
されたパルス幅の光パルスが光源２よりカプラ３を介し
て被測定光ファイバ９に入射すると、被測定光ファイバ
９からの反射光（後方散乱光およびフレネル反射光）は
カプラ３を介してＯ／Ｅ変換回路４に受光検出されて電
気信号に変換される。この電気信号はＡ／Ｄ変換回路５
により所定のサンプリング周期でサンプリングされ、被
測定光ファイバ９の位置に対応した複数ポイントの波形
データとしてデータ処理部６に取り込まれる（ＳＴ
３）。データ処理部６では波形データに対して積算平均
および対数変換の信号処理を行い、その結果は選択され
た測定範囲で表示器７の画面上に波形表示される。

【００１９】次に、ポイント指定手段８ｂは表示器７の
画面上において予め設定された任意のポイントを自動的
に指定し（ＳＴ４）、レベル演算手段８ｃは指定された
ポイントの信号のレベルおよびその信号に乗っているノ
イズレベルを演算する（ＳＴ５）。そして、パルス幅可
変手段８ｄは演算したノイズレベルが予め設定された規
定値範囲内に収まるようにパルス幅を自動的に可変して
補正設定する（ＳＴ６）。そして、このパルス幅の補正
設定後は、接続された被測定光ファイバ９の測定動作に
移行する。

【００２０】従って、上述した実施例によれば、測定者
が測定範囲を選択するだけで、画面上のあるポイントが
指定され、そのポイントにおける信号レベルおよびノイ
ズレベルが演算されてノイズレベルが規定値に収まるよ
うにパルス幅を最適値に自動的に補正設定することがで
きる。また、従来のように測定者は煩わしい設定を行う
必要がなく、操作性の向上が図れ、無駄な時間を削除し
て即座に測定動作に移行することができる。

【００２１】次に、図４に示すブロック構成図に基づい
て本発明による光パルス試験器の第２実施例について説
明する。この実施例による光パルス試験器は、第１実施
例において表示器７の画面上で指定されるポイントとし
て、被測定光ファイバ９の遠端を検出してパルス幅の補
正設定を行っており、図４に示すようにパルス幅補正処
理部１８がパルス幅初期設定手段１８ａ、レベル検出手
段１８ｂ、差分データ演算手段１８ｃ、差分データ検出
手段１８ｄ、遠端判定手段１８ｅ、レベル測定手段１８
ｆ、パルス幅可変手段１８ｇを備えて構成されている。
なお、その他の構成は、第１実施例と同一なので、同一
番号を付してその説明を省略する。

【００２２】パルス幅初期設定手段１８ａは第１実施例
の光パルス試験器と同様に、パルス幅を長さに置き換え
た時に、その長さが距離分解能以上でないとフレネル反
射の検出が行えないことから、例えば図２において測定
範囲が５Ｋｍ（距離分解能１ｍ）の時は２０nsec（２ｍ
に相当）以上で１００nsec（１０ｍに相当）以下、１０
０Ｋｍ（距離分解能２０ｍ）の時は５００nsec（５０ｍ
に相当）以上で２μsec （２００ｍに相当）以下という
ように、測定者によって選択される表示器７の画面上で
の測定範囲で設定可能な最大値のパルス幅を初期値とし
て設定している。

【００２３】レベル検出手段１８ｂは対数変換されて表
示器７の画面に表示される以前のリニア波形のノイズの
分散値に基づいて予め設定された信号検出レベルで、ノ
イズのピーク値よりも大きい値をしきい値とし、リニア
波形データでしきい値以上となる被測定光ファイバ９の
遠端のポイントをレベル検出点Ｐ１として検出し、その
データを遠端判定手段１８ｅに出力している。

【００２４】差分データ演算手段１８ｃは予め設定され
た差分間隔（例えば２０ポイント）でリニア波形データ
における近端側の波形データから遠端側の波形データを
差し引いて差分データを演算している。

【００２５】差分データ検出手段１８ｄはレベル検出手
段１８ｂと同様にリニア波形のノイズの分散値に基づい
て予め設定された信号検出レベルをしきい値とし、差分
データ演算手段１８ｃが演算した差分データの中からし
きい値以上となる被測定光ファイバ９の遠端のポイント
を差分検出点Ｐ２として検出し、そのデータを遠端判定
手段１８ｅに出力している。

【００２６】遠端判定手段１８ｅはレベル検出点Ｐ１と
差分検出点Ｐ２とを比較し、両方の検出点Ｐ１，Ｐ２が
ほぼ同一点の時に、レベル検出点Ｐ１に段差またはフレ
ネル反射点（多次反射点も含む）があると判断し、その
時のレベル検出点Ｐ１を遠端の検出点ＰＡと判定してい
る。

【００２７】なお、この遠端の判定にあたっては、アン
プの裾引き等でレベル検出点Ｐ１と差分検出点Ｐ２がず
れる場合もあるが、差分検出点Ｐ２の方が近端に出やす
いので、差分検出点Ｐ２に裾引きの距離を加えた範囲内
でレベル検出点Ｐ１があれば両方の検出点Ｐ１，Ｐ２を
同一点と判断している。

【００２８】レベル測定手段１８ｆは遠端判定手段１８
ｅによって判定された遠端の検出点ＰＡより手前の差分
データに基づき後方散乱光のレベルが検出可能な点ＰＢ
を検出してその点の信号レベルを測定しており、測定し
た信号レベルがノイズレベル以下の場合には、さらに手
前（近端寄り）で信号検出を行い、信号レベルがノイズ
レベルよりも大きいポイントの値を遠端の信号レベルと
している。これにより、多次反射を誤って検出するのを
防止している。

【００２９】さらに説明すると、後方散乱光の検出点Ｐ
Ｂは、遠端の検出点ＰＡから所定ポイント（例えば１３
０ポイントで、このポイント数はパルス幅、アンプの飽
和特性に基づく）手前までの範囲Ｚで差分データのピー
ク値（最大値、最小値）のポイントを検出することによ
って行われる。

【００３０】すなわち、遠端の検出点ＰＡが図５（ａ）
に示すようなフレネル反射の場合、同図（ｂ）に示すよ
うに差分データはプラスとマイナスの両方にピークを持
ち、この時の後方散乱光の検出点ＰＢは、マイナス側の
ピークの所定ポイント手前の点となり、この点ＰＢの信
号レベル（ノイズのピーク値とのレベル差をデシベルで
表したもの）を測定してパルス幅可変手段１８ｇに出力
している。

【００３１】また、遠端の検出点ＰＡが図６（ａ）に示
すような無反射の場合には、同図（ｂ）に示すように遠
端の差分データはプラス側にのみピークを持ち、この時
の後方散乱光の検出点ＰＢは、プラス側のピークの所定
ポイント手前の点となり、この点の信号レベル（ノイズ
のピーク値とのレベル差をデシベルで表したもの）を測
定してパルス幅可変手段１８ｇに出力している。

【００３２】さらに、レベル測定手段１８ｆは遠端判定
手段１８ｅにおいてレベル検出点Ｐ１と差分検出点Ｐ２
が一致せず、例えば後方散乱光がノイズに埋もれて遠端
の判別が不可能な時には、信号レベルを０ｄＢとしてパ
ルス幅可変手段１８ｇに出力している。

【００３３】パルス幅可変手段１８ｇはレベル測定手段
１８ｆからの信号レベルをＬ、初期設定されたパルス幅
（現在設定されているパルス幅）をＨ０、アベレージ後
の改善量をＣａ、最終的に得たいアベレージ終了後の遠
端レベルのしきい値をＣｂ、補正設定されるパルス幅を
Ｈ１とした時に、現在選ばれている測定範囲の距離分解
能において選択可能なＬ＋Ｃａ＋５ｌｏｇ（Ｈ１／Ｈ
０）≧Ｃｂ…（１）を満足する最小のパルス幅を補正パ
ルス幅Ｈ１として選択し、現在設定されているパルス幅
Ｈ０に代えて補正設定している。また、Ｌ＋Ｃａ＋５ｌ
ｏｇ（Ｈ１／Ｈ０）＜Ｃｂ…（２）の時は、現在選ばれ
ている測定範囲の距離分解能において選択可能な最大の
パルス幅を補正パルス幅Ｈ１として可変設定している。

【００３４】なお、この実施例において、初期あるいは
補正時に選択されるパルス幅Ｈ０，Ｈ１は、図２に示す
ように２０nsec，５０nsec，１００nsec，５００nsec，
１μsec ，２μsec の６種類で、測定範囲は５Ｋｍ，１
０Ｋｍ，２５Ｋｍ，５０Ｋｍ，１００Ｋｍの５種類であ
る。

【００３５】次に、上記のように構成された光パルス試
験器の動作を図７のフローチャート図に基づいて説明す
る。まず、測定者により被測定光ファイバの測定箇所に
応じて図２に示す５種類の測定範囲の中から所望の測定
範囲が選択され（ＳＴ１１）、図示しないスタートボタ
ンが押下されると、その測定範囲の距離分解能で選べる
最大値にパルス幅Ｈ０が初期設定される（ＳＴ１２）。
初期設定されたパルス幅Ｈ０の光パルスが光源２よりカ
プラ３を介して被測定光ファイバ９に入射すると、被測
定光ファイバ９からの反射光（後方散乱光およびフレネ
ル反射光）はカプラ３を介してＯ／Ｅ変換回路４に受光
検出されて電気信号に変換される。この電気信号はＡ／
Ｄ変換回路５により所定のサンプリング周期でサンプリ
ングされ、被測定光ファイバ９の位置に対応した複数ポ
イントの波形データとしてデータ処理部６に取り込まれ
る（ＳＴ１３）。データ処理部６では波形データに対し
て積算平均および対数変換の信号処理を行い、その結果
は選択された測定範囲で表示器７の画面上に波形表示さ
れる。

【００３６】次に、レベル検出手段１８ｂはデータ処理
部６からのリニア波形データでしきい値以上となる遠端
のポイントをレベル検出点Ｐ１として検出する（ＳＴ１
４）。次に、差分データ演算手段１８ｃはリニア波形デ
ータの所定の差分間隔で近端側の波形データから遠端側
の波形データを差し引いて差分データを演算し、差分デ
ータ検出手段１８ｄは差分データの中からしきい値以上
となる遠端のポイントを差分検出点Ｐ２として検出する
（ＳＴ１５）。次に、遠端判定手段１８ｅはレベル検出
点Ｐ１と差分検出点Ｐ２とを比較し、両方の検出点Ｐ
１，Ｐ２がほぼ同一点の時に（ＳＴ１６−Ｙｅｓ）、レ
ベル検出点Ｐ１に段差またはフレネル反射点（多次反射
点も含む）があると判断してレベル検出点を遠端の検出
点ＰＡと判定する（ＳＴ１７）。

【００３７】なお、レベル検出点Ｐ１と差分検出点Ｐ２
が一致せず（ＳＴ１６−Ｎｏ）、遠端の判別が不可能な
時には、信号レベルを０ｄＢとしている（ＳＴ１８）。
次に、レベル測定手段１８ｆは遠端判定手段１８ｅが判
定した遠端の検出点ＰＡから近端に向けて所定ポイント
の範囲で差分データの最大値、最小値のポイントを求
め、ノイズレベルを越える後方散乱光の検出点ＰＢを検
出する（ＳＴ１９）。

【００３８】ここで、図５（ｂ）に示すように差分デー
タがプラスとマイナスの両方にピークを持っていれば、
この時の後方散乱光の検出点ＰＢは、マイナス側のピー
クの所定ポイント手前であり、その点の信号レベルＬが
ノイズレベル以上か否かを測定する。また、図６（ｂ）
に示すように差分データがプラス側にのみピークを持っ
ていれば、この時の後方散乱光の検出点ＰＢは、プラス
側のピークの所定ポイント手前の点であり、その点の信
号レベルＬがノイズレベル以上か否かを測定する。

【００３９】そして、測定した信号レベルＬがノイズレ
ベル以下の場合には（ＳＴ２０−Ｎｏ）、ノイズレベル
を越えるポイントが見つかるまでさらに手前で検出点Ｐ
Ｂの信号検出を繰り返し行う。次に、パルス幅可変手段
１８ｇはレベル測定手段１８ｆからの信号レベルＬ、初
期設定されたパルス幅Ｈ０、アベレージ後の改善量Ｃ
ａ、最終的に得たいアベレージ終了後の遠端レベルのし
きい値Ｃｂに基づくＬ＋Ｃａ＋５ｌｏｇ（Ｈ１／Ｈ０）
≧Ｃｂ…（１）を満足していれば、現在選ばれている測
定範囲の距離分解能において選択可能な最小のパルス幅
を補正パルス幅Ｈ１として現在設定されているパルス幅
Ｈ０に代えて補正設定する（ＳＴ２１）。また、Ｌ＋Ｃ
ａ＋５ｌｏｇ（Ｈ１／Ｈ０）＜Ｃｂ…（２）を満足する
時は、現在選ばれている測定範囲の距離分解能において
選択可能な最大のパルス幅を補正パルス幅Ｈ１として補
正設定する。そして、このパルス幅の補正設定後は、接
続された被測定光ファイバ９の測定動作に移行する。

【００４０】従って、この第２実施例の光パルス試験器
によれば、測定者が測定範囲を選択するだけで、初期パ
ルス幅Ｈ０の光パルスの入射に伴う波形データのレベル
検出および差分データ検出を行うことにより、被測定光
ファイバ９の遠端の有無を多次反射と区別して確実に検
出でき、パルス幅を最適値に自動的に補正設定すること
ができる。また、従来のように測定者は煩わしい設定を
行う必要がなく、操作性の向上が図れ、無駄な時間を削
除して即座に測定動作に移行することができる。

【００４１】ところで、上述した各実施例では、初期あ
るいは補正時に選択されるパルス幅Ｈ０，Ｈ１が６種類
で、測定範囲が５種類の場合を図示して説明したが、パ
ルス幅を長さに置き換えた際に、その長さが距離分解能
よりも長く、かつ長すぎなければ、パルス幅および測定
範囲の種類の数は問わず、パルス幅および測定範囲の種
類を増加すれば、さらに細かいパルス幅の補正設定を行
うことができる。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器によれば、測定者が測定範囲を選択するだけで、
パルス幅を最適値に自動的に補正設定することができ、
従来のように測定者は煩わしい設定を行う必要がなく、
操作性の向上が図れ、無駄な時間を削除して即座に測定
動作に移行することができる。しかも、被測定光ファイ
バの遠端の有無を多次反射と区別して確実に検出でき、
最適なパルス幅に自動補正して設定を行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光パルス試験器の第１実施例を示
す図

【図２】距離分解能に対して設定可能なパルス幅を示す
図

【図３】第１実施例の光パルス試験器の動作を示すフロ
ーチャート図

【図４】本発明による光パルス試験器の第２実施例を示
す図

【図５】（ａ）表示器にフレネル反射光が波形表示され
た状態を示す図 （ｂ）フレネル反射光の差分データを示す図

【図６】（ａ）表示器に後方散乱光が波形表示された状
態を示す図 （ｂ）後方散乱光の差分データを示す図

【図７】第２実施例の光パルス試験器の動作を示すフロ
ーチャート図

【図８】従来の光パルス試験器のブロック構成図

【符号の説明】

７…表示器、８，１８…パルス幅補正処理部、８ａ，１
８ａ…パルス幅初期設定手段、８ｂ…ポイント指定手
段、８ｃ…レベル演算手段、８ｄ，１８ｇ…パルス幅可
変手段、９…被測定光ファイバ、１８ｂ…レベル検出手
段、１８ｃ…差分データ演算手段、１８ｄ…差分データ
検出手段、１８ｅ…遠端判定手段、１８ｆ…レベル測定
手段、Ｐ１…レベル検出点、Ｐ２…差分検出点、Ｌ…信
号レベル、Ｈ０…初期パルス幅、Ｈ１…補正パルス幅。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定パルス幅の光パルスを被測定光ファ
   イバ（９）に入射し、この光パルスの入射に伴って前記
   被測定光ファイバから戻ってくる反射光を信号処理し、
   その結果を表示器（７）の画面上に波形表示して前記被
   測定光ファイバの光損失や障害点位置等の測定を行う光
   パルス試験器において、 前記表示器に表示される波形の測定範囲に応じて初期の
   パルス幅（Ｈ０）を設定するパルス幅初期設定手段（１
   ８ａ）と、初期設定されたパルス幅の光パルスを被測定
   光ファイバに入射した時の波形データで予め設定された
   しきい値を越える前記被測定光ファイバの遠端のポイン
   ト（Ｐ１）を検出するレベル検出手段（１８ｂ）と、前
   記波形データの所定の差分間隔による差分データを演算
   する差分演算手段（１８ｃ）と、前記差分データで予め
   設定されたしきい値を越える前記被測定光ファイバの遠
   端のポイント（Ｐ２）を検出する差分検出手段（１８
   ｄ）と、前記レベル検出手段によるレベル検出点と前記
   差分検出手段による差分検出点との比較に基づいてノイ
   ズレベルを越える信号レベル（Ｌ）を測定するレベル測
   定手段（１８ｆ）と、前記初期設定されたパルス幅を前
   記信号レベルに基づいて算出された補正パルス幅（Ｈ
   １）に可変するパルス幅可変手段（１８ｇ）とを備えた
   ことを特徴とする光パルス試験器。