JPH0611414A - 光ファイバの損失測定方法 - Google Patents
光ファイバの損失測定方法Info
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- JPH0611414A JPH0611414A JP3131871A JP13187191A JPH0611414A JP H0611414 A JPH0611414 A JP H0611414A JP 3131871 A JP3131871 A JP 3131871A JP 13187191 A JP13187191 A JP 13187191A JP H0611414 A JPH0611414 A JP H0611414A
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- Japan
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- loss
- wavelength
- optical fiber
- measured
- measuring
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光ファイバの損失測定において、実際のレーザ
の波長による損失値から、所望波長に対する損失値を求
める。 【構成】レーザの波長を正確に測定し、測定結果を、測
定装置のＲＯＭの様なメモリに記憶する。操作者は、損
失測定のための所望の波長及び被測定ファイバの特性パ
ラメータを測定装置に入力する。次に、測定装置を使用
して、そのレーザを使用したファイバの損失を測定し、
実際のレーザ波長及び操作者の入力値に基づいて、マイ
クロプロセッサは、測定装置により得た実際の損失測定
値を補正し、所望波長での等価的損失を得る。次に、等
価的損失は、操作者の観察のために測定装置に表示され
る。
の波長による損失値から、所望波長に対する損失値を求
める。 【構成】レーザの波長を正確に測定し、測定結果を、測
定装置のＲＯＭの様なメモリに記憶する。操作者は、損
失測定のための所望の波長及び被測定ファイバの特性パ
ラメータを測定装置に入力する。次に、測定装置を使用
して、そのレーザを使用したファイバの損失を測定し、
実際のレーザ波長及び操作者の入力値に基づいて、マイ
クロプロセッサは、測定装置により得た実際の損失測定
値を補正し、所望波長での等価的損失を得る。次に、等
価的損失は、操作者の観察のために測定装置に表示され
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オプティカル・タイム
ドメイン・リフレクトメータ（ＯＴＤＲ）による光ファ
イルの損失測定方法、特に、特定の光波長での損失測定
の精度を高める光ファイバの損失測定方法に関する。
ドメイン・リフレクトメータ（ＯＴＤＲ）による光ファ
イルの損失測定方法、特に、特定の光波長での損失測定
の精度を高める光ファイバの損失測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】ＯＴＤ
Ｒにおいて、レーザから被試験光ファイバ内に光パルス
が送出される。光パルスに応答して、ファイバからレー
リー後方散乱、反射及び損失が検出され、ファイバの特
性を調べたり、欠陥箇所を検出するために、分析及び表
示が行われる。経済的理由で、レーザの仕様は、使用者
が通常要求する仕様よりもゆるい。あるいは、使用者が
損失測定のために指定する波長は、他の使用者が指定す
る波長とわずかに異なることもある。損失測定のための
使用者の仕様に適応するには、各特定の測定波長に対し
て高価な高精度波長のレーザを使用するか、又は損失測
定結果の誤差範囲が大きいことを容認しなければならな
い。
Ｒにおいて、レーザから被試験光ファイバ内に光パルス
が送出される。光パルスに応答して、ファイバからレー
リー後方散乱、反射及び損失が検出され、ファイバの特
性を調べたり、欠陥箇所を検出するために、分析及び表
示が行われる。経済的理由で、レーザの仕様は、使用者
が通常要求する仕様よりもゆるい。あるいは、使用者が
損失測定のために指定する波長は、他の使用者が指定す
る波長とわずかに異なることもある。損失測定のための
使用者の仕様に適応するには、各特定の測定波長に対し
て高価な高精度波長のレーザを使用するか、又は損失測
定結果の誤差範囲が大きいことを容認しなければならな
い。
【０００３】したがって、本発明の目的は、高価なレー
ザを必要とせずに、使用者が指定する波長に対して損失
測定の精度を高めることができる光ファイバの損失測定
方法の提供にある。
ザを必要とせずに、使用者が指定する波長に対して損失
測定の精度を高めることができる光ファイバの損失測定
方法の提供にある。
【０００４】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、実際
のレーザの波長及び操作者が指定した波長の違いを補償
する光ファイバの損失測定方法である。初めに、レーザ
の波長を正確に測定し、測定結果を、測定装置のリード
・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）の様なメモリに記憶する。
操作者は、損失測定のための所望の波長及び被測定ファ
イバの特性パラメータを測定装置に入力する。次に、測
定装置を使用して、そのレーザを使用したファイバの損
失を測定し、実際のレーザ波長及び操作者の入力に基づ
いて、マイクロプロセッサは、測定装置により得た実際
の損失測定値を補正し、所望波長での等価的損失を得
る。次に、等価的損失は、操作者の観察のために測定装
置に表示される。
のレーザの波長及び操作者が指定した波長の違いを補償
する光ファイバの損失測定方法である。初めに、レーザ
の波長を正確に測定し、測定結果を、測定装置のリード
・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）の様なメモリに記憶する。
操作者は、損失測定のための所望の波長及び被測定ファ
イバの特性パラメータを測定装置に入力する。次に、測
定装置を使用して、そのレーザを使用したファイバの損
失を測定し、実際のレーザ波長及び操作者の入力に基づ
いて、マイクロプロセッサは、測定装置により得た実際
の損失測定値を補正し、所望波長での等価的損失を得
る。次に、等価的損失は、操作者の観察のために測定装
置に表示される。
【０００５】
【実施例】図１は、本発明による光ファイバ損失測定の
波長正規化を実現するために好適なＯＴＤＲ１０を示
す。パルス・トリガ信号に応答して、レーザ１２は光パ
ルスを発生し、結合器１４を介してコネクタ１６に供給
する。コネクタ１６は、ハウジング１８に取り付けられ
ており、結合器１４からの光パルスを被試験光ファイバ
・ケーブルの一端に送出する。光ファイバ・ケーブルか
ら反射したエネルギーは、コネクタ１６及び結合器１４
を介してＯＴＤＲ１０に戻る。反射エネルギーは、結合
器１４により検出器／前置増幅器２０に送られる。検出
器２０は、付随する増幅器を有するアバランシェ・フォ
トダイオード（ＡＰＤ）でよい。検出器／前置増幅器２
０から得られる電気信号は、プログラム可能利得増幅器
２２に入力され、次に、サンプリング回路２４によりサ
ンプルされる。サンプリング回路２４からのデータ・サ
ンプルは、アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）に供給
され、デジタル化されたサンプルは制御器２８に供給さ
れて処理される。制御器２８は、操作者が適当な操作パ
ラメータを入力することにより、前面パネル３０から情
報を受け取る。制御器２８はリード・オンリー・メモリ
（ＲＯＭ）を含み、ＯＴＤＲの装置設定値を記憶するた
めに外部メモリ（ＲＡＭ）を有する。最終的に、制御器
２８で処理されたデータは、液晶表示器（ＬＣＤ）の様
な表示器３４に表示される。
波長正規化を実現するために好適なＯＴＤＲ１０を示
す。パルス・トリガ信号に応答して、レーザ１２は光パ
ルスを発生し、結合器１４を介してコネクタ１６に供給
する。コネクタ１６は、ハウジング１８に取り付けられ
ており、結合器１４からの光パルスを被試験光ファイバ
・ケーブルの一端に送出する。光ファイバ・ケーブルか
ら反射したエネルギーは、コネクタ１６及び結合器１４
を介してＯＴＤＲ１０に戻る。反射エネルギーは、結合
器１４により検出器／前置増幅器２０に送られる。検出
器２０は、付随する増幅器を有するアバランシェ・フォ
トダイオード（ＡＰＤ）でよい。検出器／前置増幅器２
０から得られる電気信号は、プログラム可能利得増幅器
２２に入力され、次に、サンプリング回路２４によりサ
ンプルされる。サンプリング回路２４からのデータ・サ
ンプルは、アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）に供給
され、デジタル化されたサンプルは制御器２８に供給さ
れて処理される。制御器２８は、操作者が適当な操作パ
ラメータを入力することにより、前面パネル３０から情
報を受け取る。制御器２８はリード・オンリー・メモリ
（ＲＯＭ）を含み、ＯＴＤＲの装置設定値を記憶するた
めに外部メモリ（ＲＡＭ）を有する。最終的に、制御器
２８で処理されたデータは、液晶表示器（ＬＣＤ）の様
な表示器３４に表示される。
【０００６】制御器２８はレーザ１２に送出イネーブル
信号を供給し、レーザが、制御器２８により制御される
タイムベース発生器３６からのパルス・トリガ信号に応
答するようにする。制御器２８は、更に、レーザ１２が
発生するパルスの幅、検出器／前置増幅器２０のバイア
ス、及びプログラム可能利得増幅器２２の利得を制御す
る。ＯＴＤＲ１０の電源３８は、前面パネル３０から制
御され、制御器２８により監視されて、電源エネルギー
が低すぎるか、又は公称範囲から外れているときに、電
源はオフされる。
信号を供給し、レーザが、制御器２８により制御される
タイムベース発生器３６からのパルス・トリガ信号に応
答するようにする。制御器２８は、更に、レーザ１２が
発生するパルスの幅、検出器／前置増幅器２０のバイア
ス、及びプログラム可能利得増幅器２２の利得を制御す
る。ＯＴＤＲ１０の電源３８は、前面パネル３０から制
御され、制御器２８により監視されて、電源エネルギー
が低すぎるか、又は公称範囲から外れているときに、電
源はオフされる。
【０００７】動作上、制御器２８は、操作者から前面パ
ネル３０を介して測定指示を受け取り、“試験開始”命
令に応答して、試験を開始する。タイムベース発生器３
６は、制御器２８により動作が開始し、制御器２８から
のパラメータに従い、パルス・トリガ信号をレーザ１２
に供給する。パルス・トリガ信号の間隔は、制御器２８
からのタイムベース制御パラメータにより決まる。サン
プリング回路２４は、タイムベース発生器３６からのサ
ンプリング・トリガ信号により動作を開始し、そのサン
プリング速度は、制御器２８により制御される。同様
に、ＡＤＣ２６によるデータ・サンプルのデジタル値へ
の変換は、タイムベース発生器３６からの変換開始信号
により開始し、その開始時間は制御器２８により制御さ
れる。ＡＤＣ２６から変換終了信号が制御器２８に送ら
れると、制御器２８はサンプルされたデジタル・データ
を処理する。光ファイバ・ケーブル全体に関するデータ
が処理されると、制御器２８は、ＬＣＤ３４上に記号形
式及び英数字形式の両方で表示できるように、データを
フォーマット化する。
ネル３０を介して測定指示を受け取り、“試験開始”命
令に応答して、試験を開始する。タイムベース発生器３
６は、制御器２８により動作が開始し、制御器２８から
のパラメータに従い、パルス・トリガ信号をレーザ１２
に供給する。パルス・トリガ信号の間隔は、制御器２８
からのタイムベース制御パラメータにより決まる。サン
プリング回路２４は、タイムベース発生器３６からのサ
ンプリング・トリガ信号により動作を開始し、そのサン
プリング速度は、制御器２８により制御される。同様
に、ＡＤＣ２６によるデータ・サンプルのデジタル値へ
の変換は、タイムベース発生器３６からの変換開始信号
により開始し、その開始時間は制御器２８により制御さ
れる。ＡＤＣ２６から変換終了信号が制御器２８に送ら
れると、制御器２８はサンプルされたデジタル・データ
を処理する。光ファイバ・ケーブル全体に関するデータ
が処理されると、制御器２８は、ＬＣＤ３４上に記号形
式及び英数字形式の両方で表示できるように、データを
フォーマット化する。
【０００８】光ファイバ・ケーブルの損失を測定すると
き、損失は波長と共に変化する。複数の測定装置の波長
が同じでないなら、測定値は装置間で異なる。光ファイ
バ・ケーブルの損失の主な要因は、レーリー散乱であ
り、残りの要因は、微少な曲がり、不純物及びＯＨイオ
ンである。後者の損失（Ｌａ）は、光ファイバ・ケーブ
ルの特性であり、製造工程で調節される。どの装置でも
一貫した測定を行うためには、装置で得た測定損失（Ｌ
ｍ）を所望の波長（λｄ）の測定損失に補正する必要が
ある。図２に示す様に、装置内のレーザの実際の波長
（λｍ）は、製造中に測定され、制御器２８のＲＯＭの
様なメモリに記憶される。測定を行うときは、操作者
は、測定しようとする光ファイバ・ケーブルの既知の損
失特性（Ｌａ）及びＲＡＭ３２に記憶された測定用の所
望の波長（λｄ）を入力する。
き、損失は波長と共に変化する。複数の測定装置の波長
が同じでないなら、測定値は装置間で異なる。光ファイ
バ・ケーブルの損失の主な要因は、レーリー散乱であ
り、残りの要因は、微少な曲がり、不純物及びＯＨイオ
ンである。後者の損失（Ｌａ）は、光ファイバ・ケーブ
ルの特性であり、製造工程で調節される。どの装置でも
一貫した測定を行うためには、装置で得た測定損失（Ｌ
ｍ）を所望の波長（λｄ）の測定損失に補正する必要が
ある。図２に示す様に、装置内のレーザの実際の波長
（λｍ）は、製造中に測定され、制御器２８のＲＯＭの
様なメモリに記憶される。測定を行うときは、操作者
は、測定しようとする光ファイバ・ケーブルの既知の損
失特性（Ｌａ）及びＲＡＭ３２に記憶された測定用の所
望の波長（λｄ）を入力する。
【０００９】波長に依存するレーリー散乱に関する１次
補正は、所望の波長（λｄ）に対して正規化することに
より為される。 Ｌｄ＝Ｌａ＋（Ｌｍ／ｌ−Ｌａ）（λｍ／λｄ）*４ （Ｎ*ｎは、Ｎのｎ乗を意味する。） ＬｄはｄＢで表す所望の波長での損失、ＬａはｄＢ／メ
ートルで表す光ファイバ・ケーブルの特性損失、Ｌｍは
ｄＢで表す実際の測定損失、ｌはメートルで表す光ファ
イバ・ケーブルの長さである。１９８９年１２月１２日
に出願され、「Method of Detecting and Characterizi
ng Anomalies in a Propagative Medium」と題したホル
ムボ他による米国特許出願番号０７／４５０１２０に記
載されている様に、Ｌｍに制御器２８で決まるスプライ
ス損失が含まれているとすると、次の式になる。 Ｌｄ＝Ｌａ＋（（Ｌｍ−Ｌｓ）／ｌ−Ｌａ）（λｍ／λ
ｄ）*４ 所望波長での実際の損失が決まれば、次にそれが表示器
３４に表示される。
補正は、所望の波長（λｄ）に対して正規化することに
より為される。 Ｌｄ＝Ｌａ＋（Ｌｍ／ｌ−Ｌａ）（λｍ／λｄ）*４ （Ｎ*ｎは、Ｎのｎ乗を意味する。） ＬｄはｄＢで表す所望の波長での損失、ＬａはｄＢ／メ
ートルで表す光ファイバ・ケーブルの特性損失、Ｌｍは
ｄＢで表す実際の測定損失、ｌはメートルで表す光ファ
イバ・ケーブルの長さである。１９８９年１２月１２日
に出願され、「Method of Detecting and Characterizi
ng Anomalies in a Propagative Medium」と題したホル
ムボ他による米国特許出願番号０７／４５０１２０に記
載されている様に、Ｌｍに制御器２８で決まるスプライ
ス損失が含まれているとすると、次の式になる。 Ｌｄ＝Ｌａ＋（（Ｌｍ−Ｌｓ）／ｌ−Ｌａ）（λｍ／λ
ｄ）*４ 所望波長での実際の損失が決まれば、次にそれが表示器
３４に表示される。
【００１０】
【発明の効果】この様に、本発明では、測定装置内のレ
ーザの既知の波長と、測定する光ファイバ・ケーブルの
既知の損失特性とを所望の測定波長と共に使用し、光フ
ァイバ・ケーブルから測定されるレーリー散乱に対する
補正を行うことにより、光ファイバ損失測定の波長の正
規化を行い、所望の測定波長での等価的損失を求めら
れ、表示される。
ーザの既知の波長と、測定する光ファイバ・ケーブルの
既知の損失特性とを所望の測定波長と共に使用し、光フ
ァイバ・ケーブルから測定されるレーリー散乱に対する
補正を行うことにより、光ファイバ損失測定の波長の正
規化を行い、所望の測定波長での等価的損失を求めら
れ、表示される。
【図１】 本発明の方法を実現するためのＯＴＤＲを示
すブロック図。
すブロック図。
【図２】 本発明の方法を説明するためのフローチャー
ト。
ト。
Claims (1)
- 【請求項１】レーザの測定した波長、所望の測定波長及
び被測定光ファイバの特性パラメータを記憶し、 上記レーザを使用して、上記被測定光ファイバの実際の
損失値を測定し、 記憶した上記レーザの波長、上記所望の測定波長及び上
記特性パラメータに基づき上記実際の損失値を補正し、
上記所望の測定波長での損失値を求めることを特徴とす
る光ファイバの損失測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/520,317 US5032025A (en) | 1990-05-07 | 1990-05-07 | Wavelength normalization of fiber-optic loss measurements |
| US520317 | 1995-08-28 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0611414A true JPH0611414A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=24072082
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3131871A Pending JPH0611414A (ja) | 1990-05-07 | 1991-05-07 | 光ファイバの損失測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5032025A (ja) |
| JP (1) | JPH0611414A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000035376A (ja) * | 1998-04-21 | 2000-02-02 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光学部品テスタ |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5534994A (en) * | 1994-06-29 | 1996-07-09 | Corning Incorporated | Optical waveguide spectral attenuation using an OTDR |
| US6064899A (en) * | 1998-04-23 | 2000-05-16 | Nellcor Puritan Bennett Incorporated | Fiber optic oximeter connector with element indicating wavelength shift |
| JP3999122B2 (ja) * | 2000-09-08 | 2007-10-31 | 富士通株式会社 | 光伝送装置 |
| US6946362B2 (en) * | 2002-09-06 | 2005-09-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for forming high surface area material films and membranes |
| US20130183035A1 (en) * | 2011-12-01 | 2013-07-18 | Joseph L. Smith | Enhanced PON And Splitter Module And Associated Method |
| US9341543B2 (en) | 2014-10-16 | 2016-05-17 | Texas Instruments Incorporated | Method and OTDR apparatus for optical cable defect location with reduced memory requirement |
| WO2019230720A1 (ja) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバの伝送損失測定方法およびｏｔｄｒ測定装置 |
-
1990
- 1990-05-07 US US07/520,317 patent/US5032025A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-05-07 JP JP3131871A patent/JPH0611414A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000035376A (ja) * | 1998-04-21 | 2000-02-02 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光学部品テスタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5032025A (en) | 1991-07-16 |
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