JP3133025B2 - 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 - Google Patents
減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器Info
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- JP3133025B2 JP3133025B2 JP09338882A JP33888297A JP3133025B2 JP 3133025 B2 JP3133025 B2 JP 3133025B2 JP 09338882 A JP09338882 A JP 09338882A JP 33888297 A JP33888297 A JP 33888297A JP 3133025 B2 JP3133025 B2 JP 3133025B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入射光を所望の減
衰量で減衰させる減衰量可変機能付線路及びそれを用い
た光パルス試験器に関する。
衰量で減衰させる減衰量可変機能付線路及びそれを用い
た光パルス試験器に関する。
【0002】
【従来の技術】被測定光ファイバに光パルスを入射し、
この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光(後方散乱光、フレネル反射光)を信号処
理して被測定光ファイバの接続点や破断点における損失
や障害点位置などの測定を行う光パルス試験器は既に知
られている。
この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光(後方散乱光、フレネル反射光)を信号処
理して被測定光ファイバの接続点や破断点における損失
や障害点位置などの測定を行う光パルス試験器は既に知
られている。
【0003】ところで、上記光パルス試験器を使用する
に際し、その性能、特に接続点を自動的に検出し、その
接続損失を測定する能力を評価するためには、種々の接
続損失を持つ接続点を測定する必要がある。
に際し、その性能、特に接続点を自動的に検出し、その
接続損失を測定する能力を評価するためには、種々の接
続損失を持つ接続点を測定する必要がある。
【0004】そこで、従来、以下に示す(1)〜(3)
のいずれかの方法により所望の接続損失による接続点を
得ていた。 (1)光ファイバ同志の端面をずらして融着した線路を
用いる方法 (2)光ファイバを曲げ、その曲げ径を可変する方法 (3)光ファイバ間に可変減衰器をコネクタ接続し、可
変減衰器の設定減衰量を変化させる方法
のいずれかの方法により所望の接続損失による接続点を
得ていた。 (1)光ファイバ同志の端面をずらして融着した線路を
用いる方法 (2)光ファイバを曲げ、その曲げ径を可変する方法 (3)光ファイバ間に可変減衰器をコネクタ接続し、可
変減衰器の設定減衰量を変化させる方法
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ここで、接続点として
は、その損失が0dBから無限大まで0.01dBのス
テップ及び再現性で設定できるものが要求される。しか
しながら、上述した(1)〜(3)のいずれの方法にも
以下に示すような問題点があった。(1)の方法では、
融着部分の接合状態、すなわち端面のずれ量によって得
られる接続損失が決定し、その値を変動することはでき
ない。そのため、種々の接続損失を有する融着点をいく
つも作成する必要がある。
は、その損失が0dBから無限大まで0.01dBのス
テップ及び再現性で設定できるものが要求される。しか
しながら、上述した(1)〜(3)のいずれの方法にも
以下に示すような問題点があった。(1)の方法では、
融着部分の接合状態、すなわち端面のずれ量によって得
られる接続損失が決定し、その値を変動することはでき
ない。そのため、種々の接続損失を有する融着点をいく
つも作成する必要がある。
【0006】(2)の方法は、光ファイバの曲げによっ
て生ずる損失を利用するものである。そして、この
(2)の方法では、光ファイバの曲げ状態がクランプ部
材によって保持されるが、損失を0.01dBレベルで
安定して保持することができず、しかも、入射光の波長
によっても損失が変化するので、再現性に欠け、所望の
接続損失による接続点を得ることができない。
て生ずる損失を利用するものである。そして、この
(2)の方法では、光ファイバの曲げ状態がクランプ部
材によって保持されるが、損失を0.01dBレベルで
安定して保持することができず、しかも、入射光の波長
によっても損失が変化するので、再現性に欠け、所望の
接続損失による接続点を得ることができない。
【0007】(3)の方法では、損失の設定ステップ、
再現性は使用する可変減衰器の性能に依存し、市販の可
変減衰器によって0.01dBのステップ、再現性が実
現できる。しかし、コネクタ接続による接続損失(0.
3dB程度)だけでなく、設定減衰量が0dBの状態で
も可変減衰器自身に挿入損失(0.5〜2dB程度)が
あるため、可変減衰器の挿入箇所で光レベルに減衰が生
じ、挿入損失よりも低損失の接続損失による接続点を得
ることができない。
再現性は使用する可変減衰器の性能に依存し、市販の可
変減衰器によって0.01dBのステップ、再現性が実
現できる。しかし、コネクタ接続による接続損失(0.
3dB程度)だけでなく、設定減衰量が0dBの状態で
も可変減衰器自身に挿入損失(0.5〜2dB程度)が
あるため、可変減衰器の挿入箇所で光レベルに減衰が生
じ、挿入損失よりも低損失の接続損失による接続点を得
ることができない。
【0008】そこで、本発明は、上記の問題点を解消す
るためになされたものであって、可変減衰器の挿入損失
をみかけ上低減して0dBから無限大まで所望の接続損
失を得ることができる減衰量可変機能付線路を提供し、
また、この減衰量可変機能付線路を用いて高精度な性能
評価を行なうことができる光パルス試験器を提供するこ
とを目的としている。
るためになされたものであって、可変減衰器の挿入損失
をみかけ上低減して0dBから無限大まで所望の接続損
失を得ることができる減衰量可変機能付線路を提供し、
また、この減衰量可変機能付線路を用いて高精度な性能
評価を行なうことができる光パルス試験器を提供するこ
とを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明は、光入射側に設けられる第1の光
ファイバ9Aと、前記第1の光ファイバの出力端に接続
され、該第1の光ファイバから入射される光の減衰量を
所定ステップ間隔で変動可能な可変減衰器10と、前記
可変減衰器の出力側に接続され、該可変減衰器で減衰さ
れた光が入射される第2の光ファイバ9Bとを備え、前
記第1の光ファイバに光パルスを入射したときの前記第
1の光ファイバと前記第2の光ファイバとの間の後方散
乱光レベルの差が前記可変減衰器の挿入損失よりも大き
くなるように、前記第1の光ファイバの後方散乱光レベ
ルが前記第2の光ファイバの後方散乱光レベルよりも小
さく形成されていることを特徴とする。
め、請求項1の発明は、光入射側に設けられる第1の光
ファイバ9Aと、前記第1の光ファイバの出力端に接続
され、該第1の光ファイバから入射される光の減衰量を
所定ステップ間隔で変動可能な可変減衰器10と、前記
可変減衰器の出力側に接続され、該可変減衰器で減衰さ
れた光が入射される第2の光ファイバ9Bとを備え、前
記第1の光ファイバに光パルスを入射したときの前記第
1の光ファイバと前記第2の光ファイバとの間の後方散
乱光レベルの差が前記可変減衰器の挿入損失よりも大き
くなるように、前記第1の光ファイバの後方散乱光レベ
ルが前記第2の光ファイバの後方散乱光レベルよりも小
さく形成されていることを特徴とする。
【0010】請求項2の発明は、請求項1の減衰量可変
機能付線路8と、所定波長の光を出射する発光部3と、
前記発光部からの光を前記第1の光ファイバ9Aに入射
するとともに、前記発光部からの光の入射に伴う前記第
1の光ファイバからの反射光を分離する分岐部4と、前
記分岐部によって分離された前記第1の光ファイバから
の反射光を受光する受光部5と、受光部の受光信号に基
いて前記線路上の接続点における損失を測定する信号処
理部6とを備え、前記可変減衰器の設定減衰量を所定ス
テップで可変したときに受光検出される前記線路上の接
続点の損失に基いて光パルス試験器の性能を評価するこ
とを特徴とする。
機能付線路8と、所定波長の光を出射する発光部3と、
前記発光部からの光を前記第1の光ファイバ9Aに入射
するとともに、前記発光部からの光の入射に伴う前記第
1の光ファイバからの反射光を分離する分岐部4と、前
記分岐部によって分離された前記第1の光ファイバから
の反射光を受光する受光部5と、受光部の受光信号に基
いて前記線路上の接続点における損失を測定する信号処
理部6とを備え、前記可変減衰器の設定減衰量を所定ス
テップで可変したときに受光検出される前記線路上の接
続点の損失に基いて光パルス試験器の性能を評価するこ
とを特徴とする。
【0011】本発明による減衰量可変機能付線路8は、
所定ステップ間隔で減衰量の変動が可能な可変減衰器1
0の入力及び出力に対し、光パルスが入射された際の後
方散乱光レベルの差が可変減衰器10の挿入損失よりも
大きくなるように、スポットサイズの異なる第1の光フ
ァイバ9Aと第2の光ファイバ9Bが接続される。光フ
ァイバ9A,9Bは、前記第1の光ファイバ9Aの後方
散乱光レベルが前記第2の光ファイバ9Bの後方散乱光
レベルよりも小さく形成されている。すなわち、可変減
衰器10の入力側に接続される第1の光ファイバ9Aの
方が可変減衰器10の出力側に接続される第2の光ファ
イバ9Bよりもスポットサイズが大きい。
所定ステップ間隔で減衰量の変動が可能な可変減衰器1
0の入力及び出力に対し、光パルスが入射された際の後
方散乱光レベルの差が可変減衰器10の挿入損失よりも
大きくなるように、スポットサイズの異なる第1の光フ
ァイバ9Aと第2の光ファイバ9Bが接続される。光フ
ァイバ9A,9Bは、前記第1の光ファイバ9Aの後方
散乱光レベルが前記第2の光ファイバ9Bの後方散乱光
レベルよりも小さく形成されている。すなわち、可変減
衰器10の入力側に接続される第1の光ファイバ9Aの
方が可変減衰器10の出力側に接続される第2の光ファ
イバ9Bよりもスポットサイズが大きい。
【0012】減衰量可変機能付線路8を光パルス試験器
に用いる場合には、第1の光ファイバ9Aが光パルス試
験器の分岐部4に接続される。減衰量可変機能付線路8
に光パルスが入射されると、スポットサイズの異なる光
ファイバ9A,9Bにより可変減衰器10の挿入損失が
低減され、入射光に対して可変減衰器10の設定減衰量
による所望損失の反射光が得られる。そして、可変減衰
器10で可変設定される設定減衰量による種々の接続点
で測定された損失から光パルス試験器の性能が評価され
る。
に用いる場合には、第1の光ファイバ9Aが光パルス試
験器の分岐部4に接続される。減衰量可変機能付線路8
に光パルスが入射されると、スポットサイズの異なる光
ファイバ9A,9Bにより可変減衰器10の挿入損失が
低減され、入射光に対して可変減衰器10の設定減衰量
による所望損失の反射光が得られる。そして、可変減衰
器10で可変設定される設定減衰量による種々の接続点
で測定された損失から光パルス試験器の性能が評価され
る。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明による減衰量可変機
能付線路及びこの線路が用いられる光パルス試験器の一
実施の形態を示す図である。
能付線路及びこの線路が用いられる光パルス試験器の一
実施の形態を示す図である。
【0014】図1に示すように、光パルス試験器は、入
力部1、タイミング発生部2、光パルス発光部3、分岐
部4、受光部5、信号処理部6、表示部7を備えて構成
される。また、信号処理部6は、増幅部6a、A/D変
換部6b、処理部6cを備えて構成される。
力部1、タイミング発生部2、光パルス発光部3、分岐
部4、受光部5、信号処理部6、表示部7を備えて構成
される。また、信号処理部6は、増幅部6a、A/D変
換部6b、処理部6cを備えて構成される。
【0015】入力部1は、後述する減衰量可変機能付線
路8を接続して光パルス試験器の性能を評価するための
性能評価測定モード、被測定光ファイバ12を接続して
損失測定などを行う被測定光ファイバ測定モードの選択
を例えばキー操作により行っている。また、入力部1
は、性能評価測定モードが選択された場合、手動測定、
自動測定の選択についても例えばキー操作により行って
いる。
路8を接続して光パルス試験器の性能を評価するための
性能評価測定モード、被測定光ファイバ12を接続して
損失測定などを行う被測定光ファイバ測定モードの選択
を例えばキー操作により行っている。また、入力部1
は、性能評価測定モードが選択された場合、手動測定、
自動測定の選択についても例えばキー操作により行って
いる。
【0016】入力部1は、手動測定を行う場合、表示部
7の表示画面上のカーソルを移動させて測定位置の設定
を行っている。これに対し、自動測定が選択された場合
には、予め設定された測定位置の損失が測定されるよう
になっている。さらに、入力部1からは、処理部6cに
おける信号処理に必要な各種測定パラメータの情報が入
力される。
7の表示画面上のカーソルを移動させて測定位置の設定
を行っている。これに対し、自動測定が選択された場合
には、予め設定された測定位置の損失が測定されるよう
になっている。さらに、入力部1からは、処理部6cに
おける信号処理に必要な各種測定パラメータの情報が入
力される。
【0017】タイミング発生部2は、処理部6cからの
制御信号に基いて光パルス発光部3、A/D変換部6b
にタイミング信号を出力している。
制御信号に基いて光パルス発光部3、A/D変換部6b
にタイミング信号を出力している。
【0018】光パルス発光部3は、タイミング発生部2
からのタイミング信号をトリガとして、例えば0.85
μm、1.33μm、1.55μm、1.65μm等の
所定波長帯の光パルスを出力している。この光パルス
は、後述する減衰量可変機能付線路8が接続された場
合、その線路8の長さに対応した周期、すなわち、減衰
量可変機能付線路8に光パルスを供給してから減衰量可
変機能付線路8の全長にわたって反射光が戻ってくるま
での時間より長い時間の周期毎に分岐部4を介して減衰
量可変機能付線路8に出射される。
からのタイミング信号をトリガとして、例えば0.85
μm、1.33μm、1.55μm、1.65μm等の
所定波長帯の光パルスを出力している。この光パルス
は、後述する減衰量可変機能付線路8が接続された場
合、その線路8の長さに対応した周期、すなわち、減衰
量可変機能付線路8に光パルスを供給してから減衰量可
変機能付線路8の全長にわたって反射光が戻ってくるま
での時間より長い時間の周期毎に分岐部4を介して減衰
量可変機能付線路8に出射される。
【0019】また、光パルスは、被測定光ファイバ12
が接続された場合にも同様に、被測定光ファイバ12に
光パルスを供給してから被測定光ファイバ12の全長に
わたって反射光が戻ってくるまでの時間より長い時間の
周期毎に分岐部4を介して被測定光ファイバ12に出射
される。
が接続された場合にも同様に、被測定光ファイバ12に
光パルスを供給してから被測定光ファイバ12の全長に
わたって反射光が戻ってくるまでの時間より長い時間の
周期毎に分岐部4を介して被測定光ファイバ12に出射
される。
【0020】分岐部4は、例えば方向性結合器で構成さ
れており、光パルスの供給に伴って減衰量可変機能付線
路8(又は被測定光ファイバ12)から戻ってくる反射
光(後方散乱光、フレネル反射光)を受光部5側に分離
している。
れており、光パルスの供給に伴って減衰量可変機能付線
路8(又は被測定光ファイバ12)から戻ってくる反射
光(後方散乱光、フレネル反射光)を受光部5側に分離
している。
【0021】受光部5は、例えばAPD等で構成されて
おり、分岐部4により分離される減衰量可変機能付線路
8(又は被測定光ファイバ12)からの反射光を受光検
出している。
おり、分岐部4により分離される減衰量可変機能付線路
8(又は被測定光ファイバ12)からの反射光を受光検
出している。
【0022】増幅部6aは、受光部5からの出力を所定
の増幅率で増幅してA/D変換部6bに出力している。
更に説明すると、増幅部6aは、例えば電流・電圧変換
器と電圧増幅器を備えて構成され、受光部5から出力さ
れる電流信号を電流・電圧変換器によって電圧信号に変
換し、この変換された電圧信号を電圧増幅器により所定
の増幅率で増幅している。その際、電圧増幅器における
増幅率は、処理部6cからの制御信号によって可変制御
される。
の増幅率で増幅してA/D変換部6bに出力している。
更に説明すると、増幅部6aは、例えば電流・電圧変換
器と電圧増幅器を備えて構成され、受光部5から出力さ
れる電流信号を電流・電圧変換器によって電圧信号に変
換し、この変換された電圧信号を電圧増幅器により所定
の増幅率で増幅している。その際、電圧増幅器における
増幅率は、処理部6cからの制御信号によって可変制御
される。
【0023】A/D変換部6bは、タイミング発生部2
からのタイミング信号をトリガとして、増幅部6aで増
幅された信号を所定のサンプリング周期でサンプリング
してディジタル化し、このサンプリングされたディジタ
ル信号を処理部6cに出力している。
からのタイミング信号をトリガとして、増幅部6aで増
幅された信号を所定のサンプリング周期でサンプリング
してディジタル化し、このサンプリングされたディジタ
ル信号を処理部6cに出力している。
【0024】処理部6cは、A/D変換部6bからのサ
ンプリング信号を対数変換する信号処理を行っている。
この信号処理によって得られるデータは、例えば図2に
示すような波形データ(後方散乱光レベル)として表示
部7の表示画面上に表示される。また、処理部6cは、
入力部1を操作したときの入力信号(モード選択信号)
に基いてタイミング発生部2に光パルスの出射を指令す
る制御信号を出力している。
ンプリング信号を対数変換する信号処理を行っている。
この信号処理によって得られるデータは、例えば図2に
示すような波形データ(後方散乱光レベル)として表示
部7の表示画面上に表示される。また、処理部6cは、
入力部1を操作したときの入力信号(モード選択信号)
に基いてタイミング発生部2に光パルスの出射を指令す
る制御信号を出力している。
【0025】上記のように構成された光パルス試験器の
分岐部4には、例えばコネクタを介して減衰量可変機能
付線路8(又は被測定光ファイバ12)が着脱可能に接
続される。
分岐部4には、例えばコネクタを介して減衰量可変機能
付線路8(又は被測定光ファイバ12)が着脱可能に接
続される。
【0026】減衰量可変機能付線路8は、スポットサイ
ズの異なる、言い換えると、後方散乱光レベルの異なる
2種類の光ファイバ9(第1の光ファイバ9A,第2の
光ファイバ9B)と、例えばコネクタを介して光ファイ
バ9A,9B間に着脱可能に接続される可変減衰器10
とを備えて構成される。
ズの異なる、言い換えると、後方散乱光レベルの異なる
2種類の光ファイバ9(第1の光ファイバ9A,第2の
光ファイバ9B)と、例えばコネクタを介して光ファイ
バ9A,9B間に着脱可能に接続される可変減衰器10
とを備えて構成される。
【0027】可変減衰器10は、所定ステップ(例えは
0.01dB)間隔での減衰量の可変が可能であり、光
ファイバ9Aから入射される光を設定減衰量で減衰させ
て光ファイバ9Bに入射している。
0.01dB)間隔での減衰量の可変が可能であり、光
ファイバ9Aから入射される光を設定減衰量で減衰させ
て光ファイバ9Bに入射している。
【0028】ところで、光ファイバへの光パルスの入射
に伴う後方散乱光レベルは、S:後方散乱係数、αR :
レイリー散乱による損失、V:光ファイバ内の群速度、
W:光パルス幅とすると、S・αR ・V・W/2…
(1)に比例することが既に知られている。
に伴う後方散乱光レベルは、S:後方散乱係数、αR :
レイリー散乱による損失、V:光ファイバ内の群速度、
W:光パルス幅とすると、S・αR ・V・W/2…
(1)に比例することが既に知られている。
【0029】また、上記後方散乱係数Sは、n1 :光フ
ァイバのコアの屈折率、WO :光ファイバのスポットサ
イズ、ω:入射光の角周波数、c:光速とすると、下記
(2)式で表されることも既に知られている。 S=3/2n1 2WO 2 (ω/c)2 …(2)
ァイバのコアの屈折率、WO :光ファイバのスポットサ
イズ、ω:入射光の角周波数、c:光速とすると、下記
(2)式で表されることも既に知られている。 S=3/2n1 2WO 2 (ω/c)2 …(2)
【0030】したがって、上記(1)、(2)式からも
明らかなように、後方散乱光レベルが後方散乱係数
(S)に比例し、スポットサイズが後方散乱係数に反比
例するので、光ファイバのスポットサイズの小さい光フ
ァイバは、後方散乱光レベルが大きいことが判る。
明らかなように、後方散乱光レベルが後方散乱係数
(S)に比例し、スポットサイズが後方散乱係数に反比
例するので、光ファイバのスポットサイズの小さい光フ
ァイバは、後方散乱光レベルが大きいことが判る。
【0031】そこで、本実施の形態では、第1の光ファ
イバ9Aは、第2の光ファイバ9Bよりも大きいスポッ
トサイズ(WOA:9〜10μm)、言い換えれば、第2
の光ファイバ9Bよりも後方散乱光レベルの小さい1.
3μm零分散ファイバで構成される。そして、この1.
3μm零分散ファイバ9Aは、可変減衰器10の入力端
子10aに接続される。
イバ9Aは、第2の光ファイバ9Bよりも大きいスポッ
トサイズ(WOA:9〜10μm)、言い換えれば、第2
の光ファイバ9Bよりも後方散乱光レベルの小さい1.
3μm零分散ファイバで構成される。そして、この1.
3μm零分散ファイバ9Aは、可変減衰器10の入力端
子10aに接続される。
【0032】これに対し、第2の光ファイバ9Bは、第
1の光ファイバ9Aよりも小さいスポットサイズ
(WOB:5〜7μm)、言い換えれば、第1の光ファイ
バ9Aよりも後方散乱光レベルの大きい1.55μm零
分散ファイバで構成される。そして、この1.55μm
零分散ファイバ9Bは、可変減衰器10の出力端子10
bに接続される。
1の光ファイバ9Aよりも小さいスポットサイズ
(WOB:5〜7μm)、言い換えれば、第1の光ファイ
バ9Aよりも後方散乱光レベルの大きい1.55μm零
分散ファイバで構成される。そして、この1.55μm
零分散ファイバ9Bは、可変減衰器10の出力端子10
bに接続される。
【0033】上記構成により、両光ファイバ9A,9B
間における後方散乱光のレベル差は、設定減衰量0dB
のときの可変減衰器10の挿入損失よりも大きく設定さ
れる。これにより、減衰量可変機能付線路8を光パルス
試験器に接続して所定の接続点の損失測定を行う場合、
可変減衰器10の挿入位置での見かけ上の接続損失をほ
ぼ0dBにすることができる。
間における後方散乱光のレベル差は、設定減衰量0dB
のときの可変減衰器10の挿入損失よりも大きく設定さ
れる。これにより、減衰量可変機能付線路8を光パルス
試験器に接続して所定の接続点の損失測定を行う場合、
可変減衰器10の挿入位置での見かけ上の接続損失をほ
ぼ0dBにすることができる。
【0034】ここで、図2(a)は従来の構成におい
て、可変減衰器の減衰量を0dBに設定して光パルスを
入射したときの光レベル(後方散乱光)の波形図、図2
(b)は本発明の構成において、可変減衰器の減衰量を
0dBに設定して光パルスを入射したときの光レベル
(後方散乱光)の波形図を示している。
て、可変減衰器の減衰量を0dBに設定して光パルスを
入射したときの光レベル(後方散乱光)の波形図、図2
(b)は本発明の構成において、可変減衰器の減衰量を
0dBに設定して光パルスを入射したときの光レベル
(後方散乱光)の波形図を示している。
【0035】図2(a),(b)からも明らかなよう
に、同一条件において、従来の構成では可変減衰器の挿
入箇所に0.80dBの接続損失があるのに対し、本発
明によれば可変減衰器の挿入箇所の接続損失を−0.3
2dBまで大幅に低減することができる。
に、同一条件において、従来の構成では可変減衰器の挿
入箇所に0.80dBの接続損失があるのに対し、本発
明によれば可変減衰器の挿入箇所の接続損失を−0.3
2dBまで大幅に低減することができる。
【0036】その結果、光パルス試験器の性能評価用と
して、見かけ上の接続損失が0dBから数十dBまで
0.01dB程度の精度で設定できる接続点を簡単に構
成することができる。
して、見かけ上の接続損失が0dBから数十dBまで
0.01dB程度の精度で設定できる接続点を簡単に構
成することができる。
【0037】そして、上記構成による減衰量可変機能付
線路8を用いて光パルス試験器の性能評価を行なう場合
には、減衰量可変機能付線路8を分岐部4にコネクタ接
続する。この状態で、入力部1のキー操作により性能評
価測定モードが選択され、自動測定モード又は手動測定
モードが選択されると、光パルスの出射を指示する制御
信号が処理部6cからタイミング発生部2に出力され
る。
線路8を用いて光パルス試験器の性能評価を行なう場合
には、減衰量可変機能付線路8を分岐部4にコネクタ接
続する。この状態で、入力部1のキー操作により性能評
価測定モードが選択され、自動測定モード又は手動測定
モードが選択されると、光パルスの出射を指示する制御
信号が処理部6cからタイミング発生部2に出力され
る。
【0038】光パルス発光部3は、タイミング発生部2
からのタイミング信号をトリガとして、光パルスを分岐
部4を介して減衰量可変機能付線路8の第1の光ファイ
バ9Aに出射する。この光パルスは、減衰量可変機能付
線路8の第1の光ファイバ9Aに光パルスを供給してか
ら減衰量可変機能付線路8の全長にわたって反射光が戻
ってくるまでの時間より長い時間の周期毎に繰り返して
出射される。
からのタイミング信号をトリガとして、光パルスを分岐
部4を介して減衰量可変機能付線路8の第1の光ファイ
バ9Aに出射する。この光パルスは、減衰量可変機能付
線路8の第1の光ファイバ9Aに光パルスを供給してか
ら減衰量可変機能付線路8の全長にわたって反射光が戻
ってくるまでの時間より長い時間の周期毎に繰り返して
出射される。
【0039】そして、この光パルスの入射に伴って減衰
量可変機能付線路8から戻ってくる反射光は、分岐部4
を介して受光部5に入射し、光−電気変換される。この
変換された信号は増幅部6aで増幅され、A/D変換部
6bでディジタル信号に変換された後に処理部6cに入
力される。処理部6cでは、入力されるディジタル信号
によるデータのサンプリングをして対数変換する信号処
理を行い、この信号処理の結果に基いて表示部7に波形
を表示する。
量可変機能付線路8から戻ってくる反射光は、分岐部4
を介して受光部5に入射し、光−電気変換される。この
変換された信号は増幅部6aで増幅され、A/D変換部
6bでディジタル信号に変換された後に処理部6cに入
力される。処理部6cでは、入力されるディジタル信号
によるデータのサンプリングをして対数変換する信号処
理を行い、この信号処理の結果に基いて表示部7に波形
を表示する。
【0040】そして、上記動作を減衰量可変機能付線路
8における可変減衰器10の設定減衰量を0dBから所
定ステップ(例えば0.01dB)間隔で可変し、各設
定減衰量による接続点での損失を複数回測定してその平
均値を算出し、これにより得られる平均値から接続点に
おける各減衰量での分散状態を測定する。また、接続点
にて測定される損失からどのくらいの距離(S/N)ま
で測定可能かを調べる。これにより光パルス試験器の性
能が評価される。
8における可変減衰器10の設定減衰量を0dBから所
定ステップ(例えば0.01dB)間隔で可変し、各設
定減衰量による接続点での損失を複数回測定してその平
均値を算出し、これにより得られる平均値から接続点に
おける各減衰量での分散状態を測定する。また、接続点
にて測定される損失からどのくらいの距離(S/N)ま
で測定可能かを調べる。これにより光パルス試験器の性
能が評価される。
【0041】次に、図3は上記減衰量可変機能付線路8
を用いた光パルス試験器の他の実施の形態を示す図であ
る。なお、図1と同一の構成要素には同一番号を付し、
その説明を省略する。
を用いた光パルス試験器の他の実施の形態を示す図であ
る。なお、図1と同一の構成要素には同一番号を付し、
その説明を省略する。
【0042】図3の構成では、減衰量可変機能付線路8
を構成する可変減衰器10とは別に、1.3μm零分散
ファイバ9Aと光パルス試験器の分光部5との間に可変
減衰器11が接続されている。そして、可変減衰器11
を後段に位置する減衰量可変機能付線路8の可変減衰器
10よりも大きいステップ(例えば1dB、5dB)間
隔で設定減衰量を可変している。
を構成する可変減衰器10とは別に、1.3μm零分散
ファイバ9Aと光パルス試験器の分光部5との間に可変
減衰器11が接続されている。そして、可変減衰器11
を後段に位置する減衰量可変機能付線路8の可変減衰器
10よりも大きいステップ(例えば1dB、5dB)間
隔で設定減衰量を可変している。
【0043】上記構成によれば、可変減衰器11の設定
減衰量を所定ステップ間隔で可変して可変減衰器10が
位置する接続点のS/Nを変化させる。そして、可変減
衰器11が所定の減衰量に設定されている状態で、減衰
量可変機能付線路8における可変減衰器10の設定減衰
量を所定ステップ間隔で可変する。これにより、種々の
パターンによる接続点の測定を行なうことができる。
減衰量を所定ステップ間隔で可変して可変減衰器10が
位置する接続点のS/Nを変化させる。そして、可変減
衰器11が所定の減衰量に設定されている状態で、減衰
量可変機能付線路8における可変減衰器10の設定減衰
量を所定ステップ間隔で可変する。これにより、種々の
パターンによる接続点の測定を行なうことができる。
【0044】ところで、上述した各実施の形態では、ス
ポットサイズの異なる2種類の光ファイバ9A,9Bと
可変減衰器10からなる減衰量可変機能付線路8を光パ
ルス試験器に接続した場合について説明したが、減衰量
可変機能付線路8を直列に多段接続して用いてもよい。
ポットサイズの異なる2種類の光ファイバ9A,9Bと
可変減衰器10からなる減衰量可変機能付線路8を光パ
ルス試験器に接続した場合について説明したが、減衰量
可変機能付線路8を直列に多段接続して用いてもよい。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の減衰量可
変機能付線路によれば、可変減衰器の挿入位置での見か
け上の接続損失を大幅に低減して入射光に対する所望の
損失による反射光(後方散乱光)を得ることができる。
そして、上記減衰量可変機能付線路を光パルス試験器に
用いれば、可変減衰器の挿入箇所の見かけ上の接続損失
を0dBから数十dBの減衰量に任意に設定できるの
で、種々のパターンの接続点での接続損失の測定結果に
基いて光パルス試験器自身の性能評価を高精度に行うこ
とが可能となる。
変機能付線路によれば、可変減衰器の挿入位置での見か
け上の接続損失を大幅に低減して入射光に対する所望の
損失による反射光(後方散乱光)を得ることができる。
そして、上記減衰量可変機能付線路を光パルス試験器に
用いれば、可変減衰器の挿入箇所の見かけ上の接続損失
を0dBから数十dBの減衰量に任意に設定できるの
で、種々のパターンの接続点での接続損失の測定結果に
基いて光パルス試験器自身の性能評価を高精度に行うこ
とが可能となる。
【図1】本発明による減衰量可変機能付線路及びこの線
路が用いられる光パルス試験器の一実施の形態を示す図
路が用いられる光パルス試験器の一実施の形態を示す図
【図2】(a)従来の構成において、可変減衰量を0d
Bに設定して光パルスを入射したときの光レベル(後方
散乱光)の波形図 (b)本発明の構成において、可変減衰量を0dBに設
定して光パルスを入射したときの光レベル(後方散乱
光)の波形図
Bに設定して光パルスを入射したときの光レベル(後方
散乱光)の波形図 (b)本発明の構成において、可変減衰量を0dBに設
定して光パルスを入射したときの光レベル(後方散乱
光)の波形図
【図3】本発明による減衰量可変機能付線路及びこの線
路が用いられる光パルス試験器の他の実施の形態を示す
図
路が用いられる光パルス試験器の他の実施の形態を示す
図
1…入力部、2…タイミング発生部、3…光パルス発光
部、4…分岐部、5…受光部、6…信号処理部、7…表
示部、8…減衰量可変機能付線路、9(9A,9B)…
光ファイバ、10…可変減衰器。
部、4…分岐部、5…受光部、6…信号処理部、7…表
示部、8…減衰量可変機能付線路、9(9A,9B)…
光ファイバ、10…可変減衰器。
Claims (2)
- 【請求項1】 光入射側に設けられる第1の光ファイバ
(9A)と、 前記第1の光ファイバの出力端に接続され、該第1の光
ファイバから入射される光の減衰量を所定ステップ間隔
で変動可能な可変減衰器(10)と、 前記可変減衰器の出力側に接続され、該可変減衰器で減
衰された光が入射される第2の光ファイバ(9B)とを
備え、 前記第1の光ファイバに光パルスを入射したときの前記
第1の光ファイバと前記第2の光ファイバとの間の後方
散乱光レベルの差が前記可変減衰器の挿入損失よりも大
きくなるように、前記第1の光ファイバの後方散乱光レ
ベルが前記第2の光ファイバの後方散乱光レベルよりも
小さく形成されていることを特徴とする減衰量可変機能
付線路。 - 【請求項2】 請求項1の減衰量可変機能付線路(8)
と、 所定波長の光を出射する発光部(3)と、 前記発光部からの光を前記第1の光ファイバ(9A)に
入射するとともに、前記発光部からの光の入射に伴う前
記第1の光ファイバからの反射光を分離する分岐部
(4)と、 前記分岐部によって分離された前記第1の光ファイバか
らの反射光を受光する受光部(5)と、 受光部の受光信号に基いて前記線路上の接続点における
損失を測定する信号処理部(6)とを備え、 前記可変減衰器の設定減衰量を所定ステップで可変した
ときに受光検出される前記線路上の接続点の損失に基い
て光パルス試験器の性能を評価することを特徴とする光
パルス試験器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09338882A JP3133025B2 (ja) | 1997-12-09 | 1997-12-09 | 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09338882A JP3133025B2 (ja) | 1997-12-09 | 1997-12-09 | 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11173945A JPH11173945A (ja) | 1999-07-02 |
JP3133025B2 true JP3133025B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=18322279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09338882A Expired - Fee Related JP3133025B2 (ja) | 1997-12-09 | 1997-12-09 | 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3133025B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102412084B1 (ko) * | 2020-08-19 | 2022-06-21 | 임한복 | 온열 기능을 갖는 벤치 |
KR102461034B1 (ko) | 2020-12-04 | 2022-11-01 | 안재우 | 온열 좌훈기 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008032592A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Central Japan Railway Co | 光ファイバ路線監視システム |
CN112235665B (zh) * | 2020-10-26 | 2022-10-21 | 北京信而泰科技股份有限公司 | 光网络单元的测试方法、装置及系统 |
-
1997
- 1997-12-09 JP JP09338882A patent/JP3133025B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102412084B1 (ko) * | 2020-08-19 | 2022-06-21 | 임한복 | 온열 기능을 갖는 벤치 |
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JPH11173945A (ja) | 1999-07-02 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |