JP3133025B2 - 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 - Google Patents
減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器Info
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- JP3133025B2 JP3133025B2 JP09338882A JP33888297A JP3133025B2 JP 3133025 B2 JP3133025 B2 JP 3133025B2 JP 09338882 A JP09338882 A JP 09338882A JP 33888297 A JP33888297 A JP 33888297A JP 3133025 B2 JP3133025 B2 JP 3133025B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、入射光を所望の減
衰量で減衰させる減衰量可変機能付線路及びそれを用い
た光パルス試験器に関する。
衰量で減衰させる減衰量可変機能付線路及びそれを用い
た光パルス試験器に関する。
【０００２】
【従来の技術】被測定光ファイバに光パルスを入射し、
この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光（後方散乱光、フレネル反射光）を信号処
理して被測定光ファイバの接続点や破断点における損失
や障害点位置などの測定を行う光パルス試験器は既に知
られている。
この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる反射光（後方散乱光、フレネル反射光）を信号処
理して被測定光ファイバの接続点や破断点における損失
や障害点位置などの測定を行う光パルス試験器は既に知
られている。
【０００３】ところで、上記光パルス試験器を使用する
に際し、その性能、特に接続点を自動的に検出し、その
接続損失を測定する能力を評価するためには、種々の接
続損失を持つ接続点を測定する必要がある。
に際し、その性能、特に接続点を自動的に検出し、その
接続損失を測定する能力を評価するためには、種々の接
続損失を持つ接続点を測定する必要がある。
【０００４】そこで、従来、以下に示す（１）〜（３）
のいずれかの方法により所望の接続損失による接続点を
得ていた。 （１）光ファイバ同志の端面をずらして融着した線路を
用いる方法 （２）光ファイバを曲げ、その曲げ径を可変する方法 （３）光ファイバ間に可変減衰器をコネクタ接続し、可
変減衰器の設定減衰量を変化させる方法
のいずれかの方法により所望の接続損失による接続点を
得ていた。 （１）光ファイバ同志の端面をずらして融着した線路を
用いる方法 （２）光ファイバを曲げ、その曲げ径を可変する方法 （３）光ファイバ間に可変減衰器をコネクタ接続し、可
変減衰器の設定減衰量を変化させる方法
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ここで、接続点として
は、その損失が０ｄＢから無限大まで０．０１ｄＢのス
テップ及び再現性で設定できるものが要求される。しか
しながら、上述した（１）〜（３）のいずれの方法にも
以下に示すような問題点があった。（１）の方法では、
融着部分の接合状態、すなわち端面のずれ量によって得
られる接続損失が決定し、その値を変動することはでき
ない。そのため、種々の接続損失を有する融着点をいく
つも作成する必要がある。
は、その損失が０ｄＢから無限大まで０．０１ｄＢのス
テップ及び再現性で設定できるものが要求される。しか
しながら、上述した（１）〜（３）のいずれの方法にも
以下に示すような問題点があった。（１）の方法では、
融着部分の接合状態、すなわち端面のずれ量によって得
られる接続損失が決定し、その値を変動することはでき
ない。そのため、種々の接続損失を有する融着点をいく
つも作成する必要がある。
【０００６】（２）の方法は、光ファイバの曲げによっ
て生ずる損失を利用するものである。そして、この
（２）の方法では、光ファイバの曲げ状態がクランプ部
材によって保持されるが、損失を０．０１ｄＢレベルで
安定して保持することができず、しかも、入射光の波長
によっても損失が変化するので、再現性に欠け、所望の
接続損失による接続点を得ることができない。
て生ずる損失を利用するものである。そして、この
（２）の方法では、光ファイバの曲げ状態がクランプ部
材によって保持されるが、損失を０．０１ｄＢレベルで
安定して保持することができず、しかも、入射光の波長
によっても損失が変化するので、再現性に欠け、所望の
接続損失による接続点を得ることができない。
【０００７】（３）の方法では、損失の設定ステップ、
再現性は使用する可変減衰器の性能に依存し、市販の可
変減衰器によって０．０１ｄＢのステップ、再現性が実
現できる。しかし、コネクタ接続による接続損失（０．
３ｄＢ程度）だけでなく、設定減衰量が０ｄＢの状態で
も可変減衰器自身に挿入損失（０．５〜２ｄＢ程度）が
あるため、可変減衰器の挿入箇所で光レベルに減衰が生
じ、挿入損失よりも低損失の接続損失による接続点を得
ることができない。
再現性は使用する可変減衰器の性能に依存し、市販の可
変減衰器によって０．０１ｄＢのステップ、再現性が実
現できる。しかし、コネクタ接続による接続損失（０．
３ｄＢ程度）だけでなく、設定減衰量が０ｄＢの状態で
も可変減衰器自身に挿入損失（０．５〜２ｄＢ程度）が
あるため、可変減衰器の挿入箇所で光レベルに減衰が生
じ、挿入損失よりも低損失の接続損失による接続点を得
ることができない。
【０００８】そこで、本発明は、上記の問題点を解消す
るためになされたものであって、可変減衰器の挿入損失
をみかけ上低減して０ｄＢから無限大まで所望の接続損
失を得ることができる減衰量可変機能付線路を提供し、
また、この減衰量可変機能付線路を用いて高精度な性能
評価を行なうことができる光パルス試験器を提供するこ
とを目的としている。
るためになされたものであって、可変減衰器の挿入損失
をみかけ上低減して０ｄＢから無限大まで所望の接続損
失を得ることができる減衰量可変機能付線路を提供し、
また、この減衰量可変機能付線路を用いて高精度な性能
評価を行なうことができる光パルス試験器を提供するこ
とを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明は、光入射側に設けられる第１の光
ファイバ９Ａと、前記第１の光ファイバの出力端に接続
され、該第１の光ファイバから入射される光の減衰量を
所定ステップ間隔で変動可能な可変減衰器１０と、前記
可変減衰器の出力側に接続され、該可変減衰器で減衰さ
れた光が入射される第２の光ファイバ９Ｂとを備え、前
記第１の光ファイバに光パルスを入射したときの前記第
１の光ファイバと前記第２の光ファイバとの間の後方散
乱光レベルの差が前記可変減衰器の挿入損失よりも大き
くなるように、前記第１の光ファイバの後方散乱光レベ
ルが前記第２の光ファイバの後方散乱光レベルよりも小
さく形成されていることを特徴とする。
め、請求項１の発明は、光入射側に設けられる第１の光
ファイバ９Ａと、前記第１の光ファイバの出力端に接続
され、該第１の光ファイバから入射される光の減衰量を
所定ステップ間隔で変動可能な可変減衰器１０と、前記
可変減衰器の出力側に接続され、該可変減衰器で減衰さ
れた光が入射される第２の光ファイバ９Ｂとを備え、前
記第１の光ファイバに光パルスを入射したときの前記第
１の光ファイバと前記第２の光ファイバとの間の後方散
乱光レベルの差が前記可変減衰器の挿入損失よりも大き
くなるように、前記第１の光ファイバの後方散乱光レベ
ルが前記第２の光ファイバの後方散乱光レベルよりも小
さく形成されていることを特徴とする。
【００１０】請求項２の発明は、請求項１の減衰量可変
機能付線路８と、所定波長の光を出射する発光部３と、
前記発光部からの光を前記第１の光ファイバ９Ａに入射
するとともに、前記発光部からの光の入射に伴う前記第
１の光ファイバからの反射光を分離する分岐部４と、前
記分岐部によって分離された前記第１の光ファイバから
の反射光を受光する受光部５と、受光部の受光信号に基
いて前記線路上の接続点における損失を測定する信号処
理部６とを備え、前記可変減衰器の設定減衰量を所定ス
テップで可変したときに受光検出される前記線路上の接
続点の損失に基いて光パルス試験器の性能を評価するこ
とを特徴とする。
機能付線路８と、所定波長の光を出射する発光部３と、
前記発光部からの光を前記第１の光ファイバ９Ａに入射
するとともに、前記発光部からの光の入射に伴う前記第
１の光ファイバからの反射光を分離する分岐部４と、前
記分岐部によって分離された前記第１の光ファイバから
の反射光を受光する受光部５と、受光部の受光信号に基
いて前記線路上の接続点における損失を測定する信号処
理部６とを備え、前記可変減衰器の設定減衰量を所定ス
テップで可変したときに受光検出される前記線路上の接
続点の損失に基いて光パルス試験器の性能を評価するこ
とを特徴とする。
【００１１】本発明による減衰量可変機能付線路８は、
所定ステップ間隔で減衰量の変動が可能な可変減衰器１
０の入力及び出力に対し、光パルスが入射された際の後
方散乱光レベルの差が可変減衰器１０の挿入損失よりも
大きくなるように、スポットサイズの異なる第１の光フ
ァイバ９Ａと第２の光ファイバ９Ｂが接続される。光フ
ァイバ９Ａ，９Ｂは、前記第１の光ファイバ９Ａの後方
散乱光レベルが前記第２の光ファイバ９Ｂの後方散乱光
レベルよりも小さく形成されている。すなわち、可変減
衰器１０の入力側に接続される第１の光ファイバ９Ａの
方が可変減衰器１０の出力側に接続される第２の光ファ
イバ９Ｂよりもスポットサイズが大きい。
所定ステップ間隔で減衰量の変動が可能な可変減衰器１
０の入力及び出力に対し、光パルスが入射された際の後
方散乱光レベルの差が可変減衰器１０の挿入損失よりも
大きくなるように、スポットサイズの異なる第１の光フ
ァイバ９Ａと第２の光ファイバ９Ｂが接続される。光フ
ァイバ９Ａ，９Ｂは、前記第１の光ファイバ９Ａの後方
散乱光レベルが前記第２の光ファイバ９Ｂの後方散乱光
レベルよりも小さく形成されている。すなわち、可変減
衰器１０の入力側に接続される第１の光ファイバ９Ａの
方が可変減衰器１０の出力側に接続される第２の光ファ
イバ９Ｂよりもスポットサイズが大きい。
【００１２】減衰量可変機能付線路８を光パルス試験器
に用いる場合には、第１の光ファイバ９Ａが光パルス試
験器の分岐部４に接続される。減衰量可変機能付線路８
に光パルスが入射されると、スポットサイズの異なる光
ファイバ９Ａ，９Ｂにより可変減衰器１０の挿入損失が
低減され、入射光に対して可変減衰器１０の設定減衰量
による所望損失の反射光が得られる。そして、可変減衰
器１０で可変設定される設定減衰量による種々の接続点
で測定された損失から光パルス試験器の性能が評価され
る。
に用いる場合には、第１の光ファイバ９Ａが光パルス試
験器の分岐部４に接続される。減衰量可変機能付線路８
に光パルスが入射されると、スポットサイズの異なる光
ファイバ９Ａ，９Ｂにより可変減衰器１０の挿入損失が
低減され、入射光に対して可変減衰器１０の設定減衰量
による所望損失の反射光が得られる。そして、可変減衰
器１０で可変設定される設定減衰量による種々の接続点
で測定された損失から光パルス試験器の性能が評価され
る。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は本発明による減衰量可変機
能付線路及びこの線路が用いられる光パルス試験器の一
実施の形態を示す図である。
能付線路及びこの線路が用いられる光パルス試験器の一
実施の形態を示す図である。
【００１４】図１に示すように、光パルス試験器は、入
力部１、タイミング発生部２、光パルス発光部３、分岐
部４、受光部５、信号処理部６、表示部７を備えて構成
される。また、信号処理部６は、増幅部６ａ、Ａ／Ｄ変
換部６ｂ、処理部６ｃを備えて構成される。
力部１、タイミング発生部２、光パルス発光部３、分岐
部４、受光部５、信号処理部６、表示部７を備えて構成
される。また、信号処理部６は、増幅部６ａ、Ａ／Ｄ変
換部６ｂ、処理部６ｃを備えて構成される。
【００１５】入力部１は、後述する減衰量可変機能付線
路８を接続して光パルス試験器の性能を評価するための
性能評価測定モード、被測定光ファイバ１２を接続して
損失測定などを行う被測定光ファイバ測定モードの選択
を例えばキー操作により行っている。また、入力部１
は、性能評価測定モードが選択された場合、手動測定、
自動測定の選択についても例えばキー操作により行って
いる。
路８を接続して光パルス試験器の性能を評価するための
性能評価測定モード、被測定光ファイバ１２を接続して
損失測定などを行う被測定光ファイバ測定モードの選択
を例えばキー操作により行っている。また、入力部１
は、性能評価測定モードが選択された場合、手動測定、
自動測定の選択についても例えばキー操作により行って
いる。
【００１６】入力部１は、手動測定を行う場合、表示部
７の表示画面上のカーソルを移動させて測定位置の設定
を行っている。これに対し、自動測定が選択された場合
には、予め設定された測定位置の損失が測定されるよう
になっている。さらに、入力部１からは、処理部６ｃに
おける信号処理に必要な各種測定パラメータの情報が入
力される。
７の表示画面上のカーソルを移動させて測定位置の設定
を行っている。これに対し、自動測定が選択された場合
には、予め設定された測定位置の損失が測定されるよう
になっている。さらに、入力部１からは、処理部６ｃに
おける信号処理に必要な各種測定パラメータの情報が入
力される。
【００１７】タイミング発生部２は、処理部６ｃからの
制御信号に基いて光パルス発光部３、Ａ／Ｄ変換部６ｂ
にタイミング信号を出力している。
制御信号に基いて光パルス発光部３、Ａ／Ｄ変換部６ｂ
にタイミング信号を出力している。
【００１８】光パルス発光部３は、タイミング発生部２
からのタイミング信号をトリガとして、例えば０．８５
μｍ、１．３３μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍ等の
所定波長帯の光パルスを出力している。この光パルス
は、後述する減衰量可変機能付線路８が接続された場
合、その線路８の長さに対応した周期、すなわち、減衰
量可変機能付線路８に光パルスを供給してから減衰量可
変機能付線路８の全長にわたって反射光が戻ってくるま
での時間より長い時間の周期毎に分岐部４を介して減衰
量可変機能付線路８に出射される。
からのタイミング信号をトリガとして、例えば０．８５
μｍ、１．３３μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍ等の
所定波長帯の光パルスを出力している。この光パルス
は、後述する減衰量可変機能付線路８が接続された場
合、その線路８の長さに対応した周期、すなわち、減衰
量可変機能付線路８に光パルスを供給してから減衰量可
変機能付線路８の全長にわたって反射光が戻ってくるま
での時間より長い時間の周期毎に分岐部４を介して減衰
量可変機能付線路８に出射される。
【００１９】また、光パルスは、被測定光ファイバ１２
が接続された場合にも同様に、被測定光ファイバ１２に
光パルスを供給してから被測定光ファイバ１２の全長に
わたって反射光が戻ってくるまでの時間より長い時間の
周期毎に分岐部４を介して被測定光ファイバ１２に出射
される。
が接続された場合にも同様に、被測定光ファイバ１２に
光パルスを供給してから被測定光ファイバ１２の全長に
わたって反射光が戻ってくるまでの時間より長い時間の
周期毎に分岐部４を介して被測定光ファイバ１２に出射
される。
【００２０】分岐部４は、例えば方向性結合器で構成さ
れており、光パルスの供給に伴って減衰量可変機能付線
路８（又は被測定光ファイバ１２）から戻ってくる反射
光（後方散乱光、フレネル反射光）を受光部５側に分離
している。
れており、光パルスの供給に伴って減衰量可変機能付線
路８（又は被測定光ファイバ１２）から戻ってくる反射
光（後方散乱光、フレネル反射光）を受光部５側に分離
している。
【００２１】受光部５は、例えばＡＰＤ等で構成されて
おり、分岐部４により分離される減衰量可変機能付線路
８（又は被測定光ファイバ１２）からの反射光を受光検
出している。
おり、分岐部４により分離される減衰量可変機能付線路
８（又は被測定光ファイバ１２）からの反射光を受光検
出している。
【００２２】増幅部６ａは、受光部５からの出力を所定
の増幅率で増幅してＡ／Ｄ変換部６ｂに出力している。
更に説明すると、増幅部６ａは、例えば電流・電圧変換
器と電圧増幅器を備えて構成され、受光部５から出力さ
れる電流信号を電流・電圧変換器によって電圧信号に変
換し、この変換された電圧信号を電圧増幅器により所定
の増幅率で増幅している。その際、電圧増幅器における
増幅率は、処理部６ｃからの制御信号によって可変制御
される。
の増幅率で増幅してＡ／Ｄ変換部６ｂに出力している。
更に説明すると、増幅部６ａは、例えば電流・電圧変換
器と電圧増幅器を備えて構成され、受光部５から出力さ
れる電流信号を電流・電圧変換器によって電圧信号に変
換し、この変換された電圧信号を電圧増幅器により所定
の増幅率で増幅している。その際、電圧増幅器における
増幅率は、処理部６ｃからの制御信号によって可変制御
される。
【００２３】Ａ／Ｄ変換部６ｂは、タイミング発生部２
からのタイミング信号をトリガとして、増幅部６ａで増
幅された信号を所定のサンプリング周期でサンプリング
してディジタル化し、このサンプリングされたディジタ
ル信号を処理部６ｃに出力している。
からのタイミング信号をトリガとして、増幅部６ａで増
幅された信号を所定のサンプリング周期でサンプリング
してディジタル化し、このサンプリングされたディジタ
ル信号を処理部６ｃに出力している。
【００２４】処理部６ｃは、Ａ／Ｄ変換部６ｂからのサ
ンプリング信号を対数変換する信号処理を行っている。
この信号処理によって得られるデータは、例えば図２に
示すような波形データ（後方散乱光レベル）として表示
部７の表示画面上に表示される。また、処理部６ｃは、
入力部１を操作したときの入力信号（モード選択信号）
に基いてタイミング発生部２に光パルスの出射を指令す
る制御信号を出力している。
ンプリング信号を対数変換する信号処理を行っている。
この信号処理によって得られるデータは、例えば図２に
示すような波形データ（後方散乱光レベル）として表示
部７の表示画面上に表示される。また、処理部６ｃは、
入力部１を操作したときの入力信号（モード選択信号）
に基いてタイミング発生部２に光パルスの出射を指令す
る制御信号を出力している。
【００２５】上記のように構成された光パルス試験器の
分岐部４には、例えばコネクタを介して減衰量可変機能
付線路８（又は被測定光ファイバ１２）が着脱可能に接
続される。
分岐部４には、例えばコネクタを介して減衰量可変機能
付線路８（又は被測定光ファイバ１２）が着脱可能に接
続される。
【００２６】減衰量可変機能付線路８は、スポットサイ
ズの異なる、言い換えると、後方散乱光レベルの異なる
２種類の光ファイバ９（第１の光ファイバ９Ａ，第２の
光ファイバ９Ｂ）と、例えばコネクタを介して光ファイ
バ９Ａ，９Ｂ間に着脱可能に接続される可変減衰器１０
とを備えて構成される。
ズの異なる、言い換えると、後方散乱光レベルの異なる
２種類の光ファイバ９（第１の光ファイバ９Ａ，第２の
光ファイバ９Ｂ）と、例えばコネクタを介して光ファイ
バ９Ａ，９Ｂ間に着脱可能に接続される可変減衰器１０
とを備えて構成される。
【００２７】可変減衰器１０は、所定ステップ（例えは
０．０１ｄＢ）間隔での減衰量の可変が可能であり、光
ファイバ９Ａから入射される光を設定減衰量で減衰させ
て光ファイバ９Ｂに入射している。
０．０１ｄＢ）間隔での減衰量の可変が可能であり、光
ファイバ９Ａから入射される光を設定減衰量で減衰させ
て光ファイバ９Ｂに入射している。
【００２８】ところで、光ファイバへの光パルスの入射
に伴う後方散乱光レベルは、Ｓ：後方散乱係数、αR ：
レイリー散乱による損失、Ｖ：光ファイバ内の群速度、
Ｗ：光パルス幅とすると、Ｓ・αR ・Ｖ・Ｗ／２…
（１）に比例することが既に知られている。
に伴う後方散乱光レベルは、Ｓ：後方散乱係数、αR ：
レイリー散乱による損失、Ｖ：光ファイバ内の群速度、
Ｗ：光パルス幅とすると、Ｓ・αR ・Ｖ・Ｗ／２…
（１）に比例することが既に知られている。
【００２９】また、上記後方散乱係数Ｓは、ｎ1 ：光フ
ァイバのコアの屈折率、ＷO ：光ファイバのスポットサ
イズ、ω：入射光の角周波数、ｃ：光速とすると、下記
（２）式で表されることも既に知られている。 Ｓ＝３／２ｎ1 2ＷO 2 （ω／ｃ）2 …（２）
ァイバのコアの屈折率、ＷO ：光ファイバのスポットサ
イズ、ω：入射光の角周波数、ｃ：光速とすると、下記
（２）式で表されることも既に知られている。 Ｓ＝３／２ｎ1 2ＷO 2 （ω／ｃ）2 …（２）
【００３０】したがって、上記（１）、（２）式からも
明らかなように、後方散乱光レベルが後方散乱係数
（Ｓ）に比例し、スポットサイズが後方散乱係数に反比
例するので、光ファイバのスポットサイズの小さい光フ
ァイバは、後方散乱光レベルが大きいことが判る。
明らかなように、後方散乱光レベルが後方散乱係数
（Ｓ）に比例し、スポットサイズが後方散乱係数に反比
例するので、光ファイバのスポットサイズの小さい光フ
ァイバは、後方散乱光レベルが大きいことが判る。
【００３１】そこで、本実施の形態では、第１の光ファ
イバ９Ａは、第２の光ファイバ９Ｂよりも大きいスポッ
トサイズ（ＷOA：９〜１０μｍ）、言い換えれば、第２
の光ファイバ９Ｂよりも後方散乱光レベルの小さい１．
３μｍ零分散ファイバで構成される。そして、この１．
３μｍ零分散ファイバ９Ａは、可変減衰器１０の入力端
子１０ａに接続される。
イバ９Ａは、第２の光ファイバ９Ｂよりも大きいスポッ
トサイズ（ＷOA：９〜１０μｍ）、言い換えれば、第２
の光ファイバ９Ｂよりも後方散乱光レベルの小さい１．
３μｍ零分散ファイバで構成される。そして、この１．
３μｍ零分散ファイバ９Ａは、可変減衰器１０の入力端
子１０ａに接続される。
【００３２】これに対し、第２の光ファイバ９Ｂは、第
１の光ファイバ９Ａよりも小さいスポットサイズ
（ＷOB：５〜７μｍ）、言い換えれば、第１の光ファイ
バ９Ａよりも後方散乱光レベルの大きい１．５５μｍ零
分散ファイバで構成される。そして、この１．５５μｍ
零分散ファイバ９Ｂは、可変減衰器１０の出力端子１０
ｂに接続される。
１の光ファイバ９Ａよりも小さいスポットサイズ
（ＷOB：５〜７μｍ）、言い換えれば、第１の光ファイ
バ９Ａよりも後方散乱光レベルの大きい１．５５μｍ零
分散ファイバで構成される。そして、この１．５５μｍ
零分散ファイバ９Ｂは、可変減衰器１０の出力端子１０
ｂに接続される。
【００３３】上記構成により、両光ファイバ９Ａ，９Ｂ
間における後方散乱光のレベル差は、設定減衰量０ｄＢ
のときの可変減衰器１０の挿入損失よりも大きく設定さ
れる。これにより、減衰量可変機能付線路８を光パルス
試験器に接続して所定の接続点の損失測定を行う場合、
可変減衰器１０の挿入位置での見かけ上の接続損失をほ
ぼ０ｄＢにすることができる。
間における後方散乱光のレベル差は、設定減衰量０ｄＢ
のときの可変減衰器１０の挿入損失よりも大きく設定さ
れる。これにより、減衰量可変機能付線路８を光パルス
試験器に接続して所定の接続点の損失測定を行う場合、
可変減衰器１０の挿入位置での見かけ上の接続損失をほ
ぼ０ｄＢにすることができる。
【００３４】ここで、図２（ａ）は従来の構成におい
て、可変減衰器の減衰量を０ｄＢに設定して光パルスを
入射したときの光レベル（後方散乱光）の波形図、図２
（ｂ）は本発明の構成において、可変減衰器の減衰量を
０ｄＢに設定して光パルスを入射したときの光レベル
（後方散乱光）の波形図を示している。
て、可変減衰器の減衰量を０ｄＢに設定して光パルスを
入射したときの光レベル（後方散乱光）の波形図、図２
（ｂ）は本発明の構成において、可変減衰器の減衰量を
０ｄＢに設定して光パルスを入射したときの光レベル
（後方散乱光）の波形図を示している。
【００３５】図２（ａ），（ｂ）からも明らかなよう
に、同一条件において、従来の構成では可変減衰器の挿
入箇所に０．８０ｄＢの接続損失があるのに対し、本発
明によれば可変減衰器の挿入箇所の接続損失を−０．３
２ｄＢまで大幅に低減することができる。
に、同一条件において、従来の構成では可変減衰器の挿
入箇所に０．８０ｄＢの接続損失があるのに対し、本発
明によれば可変減衰器の挿入箇所の接続損失を−０．３
２ｄＢまで大幅に低減することができる。
【００３６】その結果、光パルス試験器の性能評価用と
して、見かけ上の接続損失が０ｄＢから数十ｄＢまで
０．０１ｄＢ程度の精度で設定できる接続点を簡単に構
成することができる。
して、見かけ上の接続損失が０ｄＢから数十ｄＢまで
０．０１ｄＢ程度の精度で設定できる接続点を簡単に構
成することができる。
【００３７】そして、上記構成による減衰量可変機能付
線路８を用いて光パルス試験器の性能評価を行なう場合
には、減衰量可変機能付線路８を分岐部４にコネクタ接
続する。この状態で、入力部１のキー操作により性能評
価測定モードが選択され、自動測定モード又は手動測定
モードが選択されると、光パルスの出射を指示する制御
信号が処理部６ｃからタイミング発生部２に出力され
る。
線路８を用いて光パルス試験器の性能評価を行なう場合
には、減衰量可変機能付線路８を分岐部４にコネクタ接
続する。この状態で、入力部１のキー操作により性能評
価測定モードが選択され、自動測定モード又は手動測定
モードが選択されると、光パルスの出射を指示する制御
信号が処理部６ｃからタイミング発生部２に出力され
る。
【００３８】光パルス発光部３は、タイミング発生部２
からのタイミング信号をトリガとして、光パルスを分岐
部４を介して減衰量可変機能付線路８の第１の光ファイ
バ９Ａに出射する。この光パルスは、減衰量可変機能付
線路８の第１の光ファイバ９Ａに光パルスを供給してか
ら減衰量可変機能付線路８の全長にわたって反射光が戻
ってくるまでの時間より長い時間の周期毎に繰り返して
出射される。
からのタイミング信号をトリガとして、光パルスを分岐
部４を介して減衰量可変機能付線路８の第１の光ファイ
バ９Ａに出射する。この光パルスは、減衰量可変機能付
線路８の第１の光ファイバ９Ａに光パルスを供給してか
ら減衰量可変機能付線路８の全長にわたって反射光が戻
ってくるまでの時間より長い時間の周期毎に繰り返して
出射される。
【００３９】そして、この光パルスの入射に伴って減衰
量可変機能付線路８から戻ってくる反射光は、分岐部４
を介して受光部５に入射し、光−電気変換される。この
変換された信号は増幅部６ａで増幅され、Ａ／Ｄ変換部
６ｂでディジタル信号に変換された後に処理部６ｃに入
力される。処理部６ｃでは、入力されるディジタル信号
によるデータのサンプリングをして対数変換する信号処
理を行い、この信号処理の結果に基いて表示部７に波形
を表示する。
量可変機能付線路８から戻ってくる反射光は、分岐部４
を介して受光部５に入射し、光−電気変換される。この
変換された信号は増幅部６ａで増幅され、Ａ／Ｄ変換部
６ｂでディジタル信号に変換された後に処理部６ｃに入
力される。処理部６ｃでは、入力されるディジタル信号
によるデータのサンプリングをして対数変換する信号処
理を行い、この信号処理の結果に基いて表示部７に波形
を表示する。
【００４０】そして、上記動作を減衰量可変機能付線路
８における可変減衰器１０の設定減衰量を０ｄＢから所
定ステップ（例えば０．０１ｄＢ）間隔で可変し、各設
定減衰量による接続点での損失を複数回測定してその平
均値を算出し、これにより得られる平均値から接続点に
おける各減衰量での分散状態を測定する。また、接続点
にて測定される損失からどのくらいの距離（Ｓ／Ｎ）ま
で測定可能かを調べる。これにより光パルス試験器の性
能が評価される。
８における可変減衰器１０の設定減衰量を０ｄＢから所
定ステップ（例えば０．０１ｄＢ）間隔で可変し、各設
定減衰量による接続点での損失を複数回測定してその平
均値を算出し、これにより得られる平均値から接続点に
おける各減衰量での分散状態を測定する。また、接続点
にて測定される損失からどのくらいの距離（Ｓ／Ｎ）ま
で測定可能かを調べる。これにより光パルス試験器の性
能が評価される。
【００４１】次に、図３は上記減衰量可変機能付線路８
を用いた光パルス試験器の他の実施の形態を示す図であ
る。なお、図１と同一の構成要素には同一番号を付し、
その説明を省略する。
を用いた光パルス試験器の他の実施の形態を示す図であ
る。なお、図１と同一の構成要素には同一番号を付し、
その説明を省略する。
【００４２】図３の構成では、減衰量可変機能付線路８
を構成する可変減衰器１０とは別に、１．３μｍ零分散
ファイバ９Ａと光パルス試験器の分光部５との間に可変
減衰器１１が接続されている。そして、可変減衰器１１
を後段に位置する減衰量可変機能付線路８の可変減衰器
１０よりも大きいステップ（例えば１ｄＢ、５ｄＢ）間
隔で設定減衰量を可変している。
を構成する可変減衰器１０とは別に、１．３μｍ零分散
ファイバ９Ａと光パルス試験器の分光部５との間に可変
減衰器１１が接続されている。そして、可変減衰器１１
を後段に位置する減衰量可変機能付線路８の可変減衰器
１０よりも大きいステップ（例えば１ｄＢ、５ｄＢ）間
隔で設定減衰量を可変している。
【００４３】上記構成によれば、可変減衰器１１の設定
減衰量を所定ステップ間隔で可変して可変減衰器１０が
位置する接続点のＳ／Ｎを変化させる。そして、可変減
衰器１１が所定の減衰量に設定されている状態で、減衰
量可変機能付線路８における可変減衰器１０の設定減衰
量を所定ステップ間隔で可変する。これにより、種々の
パターンによる接続点の測定を行なうことができる。
減衰量を所定ステップ間隔で可変して可変減衰器１０が
位置する接続点のＳ／Ｎを変化させる。そして、可変減
衰器１１が所定の減衰量に設定されている状態で、減衰
量可変機能付線路８における可変減衰器１０の設定減衰
量を所定ステップ間隔で可変する。これにより、種々の
パターンによる接続点の測定を行なうことができる。
【００４４】ところで、上述した各実施の形態では、ス
ポットサイズの異なる２種類の光ファイバ９Ａ，９Ｂと
可変減衰器１０からなる減衰量可変機能付線路８を光パ
ルス試験器に接続した場合について説明したが、減衰量
可変機能付線路８を直列に多段接続して用いてもよい。
ポットサイズの異なる２種類の光ファイバ９Ａ，９Ｂと
可変減衰器１０からなる減衰量可変機能付線路８を光パ
ルス試験器に接続した場合について説明したが、減衰量
可変機能付線路８を直列に多段接続して用いてもよい。
【００４５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の減衰量可
変機能付線路によれば、可変減衰器の挿入位置での見か
け上の接続損失を大幅に低減して入射光に対する所望の
損失による反射光（後方散乱光）を得ることができる。
そして、上記減衰量可変機能付線路を光パルス試験器に
用いれば、可変減衰器の挿入箇所の見かけ上の接続損失
を０ｄＢから数十ｄＢの減衰量に任意に設定できるの
で、種々のパターンの接続点での接続損失の測定結果に
基いて光パルス試験器自身の性能評価を高精度に行うこ
とが可能となる。
変機能付線路によれば、可変減衰器の挿入位置での見か
け上の接続損失を大幅に低減して入射光に対する所望の
損失による反射光（後方散乱光）を得ることができる。
そして、上記減衰量可変機能付線路を光パルス試験器に
用いれば、可変減衰器の挿入箇所の見かけ上の接続損失
を０ｄＢから数十ｄＢの減衰量に任意に設定できるの
で、種々のパターンの接続点での接続損失の測定結果に
基いて光パルス試験器自身の性能評価を高精度に行うこ
とが可能となる。
【図１】本発明による減衰量可変機能付線路及びこの線
路が用いられる光パルス試験器の一実施の形態を示す図
路が用いられる光パルス試験器の一実施の形態を示す図
【図２】（ａ）従来の構成において、可変減衰量を０ｄ
Ｂに設定して光パルスを入射したときの光レベル（後方
散乱光）の波形図 （ｂ）本発明の構成において、可変減衰量を０ｄＢに設
定して光パルスを入射したときの光レベル（後方散乱
光）の波形図
Ｂに設定して光パルスを入射したときの光レベル（後方
散乱光）の波形図 （ｂ）本発明の構成において、可変減衰量を０ｄＢに設
定して光パルスを入射したときの光レベル（後方散乱
光）の波形図
【図３】本発明による減衰量可変機能付線路及びこの線
路が用いられる光パルス試験器の他の実施の形態を示す
図
路が用いられる光パルス試験器の他の実施の形態を示す
図
１…入力部、２…タイミング発生部、３…光パルス発光
部、４…分岐部、５…受光部、６…信号処理部、７…表
示部、８…減衰量可変機能付線路、９（９Ａ，９Ｂ）…
光ファイバ、１０…可変減衰器。
部、４…分岐部、５…受光部、６…信号処理部、７…表
示部、８…減衰量可変機能付線路、９（９Ａ，９Ｂ）…
光ファイバ、１０…可変減衰器。
Claims (2)
- 【請求項１】 光入射側に設けられる第１の光ファイバ
（９Ａ）と、 前記第１の光ファイバの出力端に接続され、該第１の光
ファイバから入射される光の減衰量を所定ステップ間隔
で変動可能な可変減衰器（１０）と、 前記可変減衰器の出力側に接続され、該可変減衰器で減
衰された光が入射される第２の光ファイバ（９Ｂ）とを
備え、 前記第１の光ファイバに光パルスを入射したときの前記
第１の光ファイバと前記第２の光ファイバとの間の後方
散乱光レベルの差が前記可変減衰器の挿入損失よりも大
きくなるように、前記第１の光ファイバの後方散乱光レ
ベルが前記第２の光ファイバの後方散乱光レベルよりも
小さく形成されていることを特徴とする減衰量可変機能
付線路。 - 【請求項２】 請求項１の減衰量可変機能付線路（８）
と、 所定波長の光を出射する発光部（３）と、 前記発光部からの光を前記第１の光ファイバ（９Ａ）に
入射するとともに、前記発光部からの光の入射に伴う前
記第１の光ファイバからの反射光を分離する分岐部
（４）と、 前記分岐部によって分離された前記第１の光ファイバか
らの反射光を受光する受光部（５）と、 受光部の受光信号に基いて前記線路上の接続点における
損失を測定する信号処理部（６）とを備え、 前記可変減衰器の設定減衰量を所定ステップで可変した
ときに受光検出される前記線路上の接続点の損失に基い
て光パルス試験器の性能を評価することを特徴とする光
パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09338882A JP3133025B2 (ja) | 1997-12-09 | 1997-12-09 | 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09338882A JP3133025B2 (ja) | 1997-12-09 | 1997-12-09 | 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11173945A JPH11173945A (ja) | 1999-07-02 |
| JP3133025B2 true JP3133025B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=18322279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09338882A Expired - Fee Related JP3133025B2 (ja) | 1997-12-09 | 1997-12-09 | 減衰量可変機能付線路及びそれを用いた光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3133025B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102412084B1 (ko) * | 2020-08-19 | 2022-06-21 | 임한복 | 온열 기능을 갖는 벤치 |
| KR102461034B1 (ko) | 2020-12-04 | 2022-11-01 | 안재우 | 온열 좌훈기 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008032592A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Central Japan Railway Co | 光ファイバ路線監視システム |
| CN112235665B (zh) * | 2020-10-26 | 2022-10-21 | 北京信而泰科技股份有限公司 | 光网络单元的测试方法、装置及系统 |
-
1997
- 1997-12-09 JP JP09338882A patent/JP3133025B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102412084B1 (ko) * | 2020-08-19 | 2022-06-21 | 임한복 | 온열 기능을 갖는 벤치 |
| KR102461034B1 (ko) | 2020-12-04 | 2022-11-01 | 안재우 | 온열 좌훈기 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11173945A (ja) | 1999-07-02 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |