JP3355259B2 - 光反射減衰量を測定するotdr - Google Patents

光反射減衰量を測定するotdr

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    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の技術分野】この発明は、光線路の任意区間の
光反射減衰量を測定するOTDRについてのものであ
る。
【0002】
【従来の技術】次に、従来技術によるOTDRの構成を
図2に示す。図2の1はパルス発生回路、2は電気−光
変換回路、3は方向性結合器、4は被測定光ファイバ、
5は光−電気変換回路、6は増幅回路、7はA/D変換
器、12は演算回路、13はマーカ点入力回路、14は
表示回路である。
【0003】図2で、パルス発生回路1はパルスを発生
し、電気−光変換回路2に入力する。電気−光変換回路
2はパルス発生回路1のパルスを光パルスに変換し、方
向性結合器3を介して被測定光ファイバ4に送出する。
被測定光ファイバ4で発生した後方散乱光およびフレネ
ル反射光は送出光パルスとは逆方向に進み、再び方向性
結合器3を介して光−電気変換回路5に入力される。光
−電気変換回路5は後方散乱光およびフレネル反射光を
電気信号に変換し、増幅回路6に入力して増幅する。増
幅回路6で増幅された電気信号はA/D変換器7に入力
し、デジタル信号に変換され、信号波形が表示回路14
に表示される。
【0004】ここで、例として光ファイバを接続してい
る光コネクタの光反射減衰量を測定する場合、表示回路
14に表示された波形に対し、光コネクタのフレネル反
射光点とその直前の後方散乱光点に、マーカ点入力回路
13よりマーカを設定する。演算回路12は、マーカで
指定された2点のレベル差および後方散乱損失より光コ
ネクタの光反射減衰量を演算し、表示回路14に表示す
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】光通信で利用される光
ファイバは、一般に複数の光コネクタで接続されてい
る。例えばアナログ変調方式光通信では、光線路に反射
が生じると伝送信号のS/N比が劣化することがあり、
伝送路である光ファイバの光反射減衰量を求めることが
必要である。このような場合、図2の構成のOTDRで
は、マーカ点入力回路にマーカを設定することにより、
任意点における各々の光コネクタの光反射減衰量を求め
ることは可能であるが、異なった地点にある複数の光コ
ネクタの光反射減衰量の合計すなわち任意区間全体での
光反射減衰量の測定、あるいは後方散乱光を含めた光反
射減衰量の測定は困難であるという問題がある。
【0006】またCW光源とパワーメータを組み合わせ
て光反射減衰量を求める方法もあるが、この方法では、
光ファイバ全体の光反射減衰量は求められるが、同様
に、光ファイバ中の任意区間での光反射減衰量を求める
ことはできないという問題がある。
【0007】この発明は、光コネクタの有無に関わら
ず、後方散乱光による光反射減衰量も加味した光線路の
任意区間の光反射減衰量を簡便に求めるOTDRの提供
を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、パルスを発生するパルス発生回路1
と、パルス発生回路1の出力を光パルスに変換する電気
−光変換回路2と、電気−光変換回路2の出力を被測定
光ファイバ4に送出し、戻り光を光−電気変換回路5に
入力して電気信号に変換させる方向性結合器3と、光−
電気変換回路5の出力をA/D変換するA/D変換器7
と、A/D変換器7の出力を入力とし、測定波形データ
を表示する表示回路11と、表示回路11の表示波形デ
ータに測定区間を設定するマーカ点入力回路9と、マー
カ点入力回路9により設定された区間の光反射減衰量を
演算する演算回路8を備え、演算回路8の出力を表示す
るOTDRにおいて、既知の光反射減衰量を持つ校正用
光ファイバの光反射減衰量を入力する光反射減衰量入力
回路10を備え、まず、前記校正用光ファイバの既知の
光反射減衰量を光反射減衰量入力回路10に設定すると
ともに、前記既知の光反射減衰量を持つ校正用光ファイ
バを前記OTDRに接続して光反射減衰量を測定し、演
算回路8で光反射減衰量入力回路10に設定した前記既
知の光反射減衰量を前記測定値で割り受光利得補正値G
を求め、次に、被測定光ファイバ4を前記OTDRに接
続し、反射減衰量を求めたい任意区間をマーカ点入力回
路9で設定し、演算回路8は設定された区間の測定波形
データを距離で積分して光反射減衰量を求め、前記受光
利得補正値Gを乗算し、マーカ点入力回路9で設定され
た区間の被測定光ファイバ4の光反射減衰量Rを表示す
る。なお、戻り光は後方散乱光およびフレネル反射光で
ある。また、方向性結合器3と被測定光ファイバ4の間
にダミー光ファイバ29を挿入してもよい。
【0009】
【作用】光反射減衰量を求めるためには、出射光に対す
る反射光の相対値を求めることが必要である。従来のO
TDRでは後方散乱光およびフレネル反射光を受光しそ
の波形を表示する機能を持っているが、受光波形を相対
値として表示しており、出射光との相対値あるいは絶対
値を表示することはない。
【0010】この発明では、既知の光反射減衰量を持つ
校正用光ファイバの反射光を測定し、校正用光ファイバ
の既知の光反射減衰量を測定結果の光反射減衰量で割る
ことにより真値と実際の測定値の比、すなわちOTDR
の受光利得補正値Gを求めている。なお、校正用光ファ
イバの光反射減衰量はこのファイバ全体での光反射減衰
量がわかればよく、一般的なCW光源と光パワーメータ
を組み合わせた光反射減衰量測定器を使用すれば容易に
求められる。
【0011】次に、この発明によるOTDRの構成を図
1に示す。図1の8は演算回路、9はマーカ点入力回
路、10は光反射減衰量入力回路、11は表示回路であ
り、他は図2と同じである。すなわち、図1は図2の演
算回路12とマーカ入力回路13と表示回路14のかわ
りに、演算回路8とマーカ点入力回路9と光反射減衰量
入力回路10と表示回路11を接続したものである。
【0012】演算回路8はマーカ点入力回路9で指定し
た区間の積分を行う。一般論で説明すれば、測定波形を
マーカで指定した区間にわたり時間で積分すれば良い。
しかしOTDRは後方散乱光およびフレネル反射光等の
受光信号を時間の関数として測定する。さらに時間を光
が光ファイバ内を往復する距離に換算して表示する場合
が一般的である。このためマーカ点入力回路9で入力し
た区間を距離で積分すれば、時間で積分する事と等価で
ある。この発明では、アナログ信号である受光信号をA
/D変換器7でデジタル信号に変換し、演算回路8でこ
のデジタル信号を演算している。このため演算回路8で
行う積分は、実際には区分和による求積を行っている。
【0013】
【実施例】次に、この発明による動作を図1を参照して
説明する。図1で、パルス発生回路1はパルスを発生
し、電気−光変換回路2に入力する。電気−光変換回路
2はパルス発生回路1のパルスを光パルスに変換し、方
向性結合器3を介して被測定光ファイバ4に送出する。
被測定光ファイバ4で発生した後方散乱光およびフレネ
ル反射光は送出光パルスとは逆方向に進み、再び方向性
結合器3を介して光−電気変換回路5に入力される。光
−電気変換回路5は後方散乱光およびフレネル反射光を
電気信号に変換し、増幅回路6に入力して増幅する。増
幅回路6で増幅された電気信号はA/D変換器7に入力
し、デジタル信号に変換され、信号波形が表示回路11
に表示される。
【0014】次に、任意区間の光反射減衰量の求め方を
図1を参照して説明する。図1で、被測定光ファイバ4
の光反射減衰量を測定する前に、OTDRの受光利得補
正値Gを求める。そのためにまず、被測定光ファイバ4
のかわりに光反射減衰量が既知の校正用光ファイバを接
続し、後方散乱光およびフレネル反射光等の波形を測定
する。
【0015】つぎに、マーカ点入力回路9により校正用
光ファイバの全区間を設定する。演算回路8は、測定波
形データのうちマーカ点入力回路9で指定された全区間
を距離で積分する。すなわち、前述のように、後方散乱
光およびフレネル反射光等の波形は、A/D変換器7に
よりアナログ信号でなくデジタル信号に変換されている
ので、演算回路8は積分でなく、区分和による求積を求
める。この結果による光反射減衰量をRref とし、既知
の校正用光ファイバの光反射減衰量をRstd とする。既
知の光反射減衰量Rstd を校正用光ファイバの光反射減
衰量入力回路10により設定する。演算回路8は(1)
式の計算を行い、OTDRの受光利得補正値Gを求め
る。 G=Rstd /Rref ………(1)
【0016】次に、校正用光ファイバを取り外して被測
定光ファイバ4を接続する。校正用光ファイバの測定と
同様に被測定光ファイバ4を測定すると、その測定波形
は表示回路11に表示される。次に、マーカ点入力回路
9により光反射減衰量を求めたい任意区間を入力し、測
定波形のマーカ点入力回路9により入力された区間に対
して、演算回路8は区分和による求積を行う。この値を
光反射減衰量Rmes とし、演算回路8で(2)式の演算
を行い、光反射減衰量Rを求める。 R=Rmes ・G ………(2) 表示回路11は演算回路8で求めた光反射減衰量Rを表
示する。
【0017】次に、この発明によるOTDRの使用状態
を図3を参照して説明する。15はこの発明によるOT
DR、16・17は被測定光ファイバ、18・19は光
コネクタ、20は遠端である。図3で、被測定光ファイ
バ16の一端は光コネクタ18を介してOTDR15と
接続されている。また、被測定光ファイバ16の他の一
端は光コネクタ19を介して被測定光ファイバ17の一
端と接続されている。光ファイバ17の他の一端は光フ
ァイバの遠端20である。
【0018】次に、図3のOTDRによる表示波形の例
を図4に示し、任意区間の光反射減衰量の演算について
説明する。図4の縦軸は受光信号レベル、横軸は距離を
示している。受光信号はデジタル信号であるので、その
値は図4に示すように離散値であり、図4では「○」で
示している。図4の区間21は光コネクタ18のフレネ
ル反射光を示し、区間22は被測定光ファイバ16の後
方散乱光を示している。また、区間23は光コネクタ1
9のフレネル反射光を示し、区間24は被測定光ファイ
バ17の後方散乱光を示している。さらに、区間25は
光ファイバ遠端20のフレネル反射光を示し、区間26
は光ファイバがない区間をそれぞれ示している。
【0019】ここで、例えば図3の光コネクタ19と光
ファイバ遠端20との区間の光反射減衰量を求めたい場
合、図4の光コネクタ19のフレネル反射波形の始まり
点27と光ファイバ遠端20のフレネル反射光の終わり
点28をマーカ点入力回路9で設定する。信号波形はf
(x) であるとし、フレネル反射波形の始まり点27をX
1、フレネル反射波形の終わり点28をX2とし、信号波
形のサンプリング間隔はΔX とする。演算回路8では、
反射減衰量Rmes を(3)式の演算にて求める。
【0020】
【式3】 なお、校正用光ファイバを測定するときも全く同様であ
る。この場合はマーカ点を校正用光ファイバの近端フレ
ネル反射の始まりと、遠端フレネル反射光の終わりに設
定すれば良い。
【0021】演算回路8はさらに、(2)式に示すよう
に、(3)式で求めた光反射減衰量Rmes にOTDRの
受光利得補正値Gを乗じ、図4のポイント27・28の
区間の光反射減衰量Rを演算する。
【0022】次に、この発明による具体的実施例の構成
を図5を参照して説明する。図5は、光反射減衰量測定
精度向上のため、図1の方向性結合器3と被測定光ファ
イバ4の間にダミー光ファイバ29を追加したものであ
り、他は図1と同じである。図5で、電気−光変換回路
2の出力光パルスの一部分は方向性結合器3の漏話によ
り光−電気変換回路5に漏れ込み、光反射減衰量測定の
誤差要因になる。
【0023】図4の区間21のフレネル反射光は、方向
性結合器3と被測定光ファイバ4の接続光コネクタによ
るフレネル反射光と方向性結合器3の漏話光が合わさっ
たものであり、この光コネクタの光反射減衰量のみを示
すものではない。これを防止するために、図5に示すよ
うにダミー光ファイバ29を追加する。
【0024】次に、図5の実施例における測定波形例を
図6に示す。図6の30はダミー光ファイバ29の受光
波形、31は被測定光ファイバ4の受光波形である。被
測定光ファイバ4の光反射減衰量を求める場合は、マー
カ点32・マーカ点33のように被測定光ファイバ4の
受光波形の範囲を指定すればよい。方向性結合器3の漏
話光はダミー光ファイバ29による受光波形30の左端
フレネル反射光に含まれるが、被測定光ファイバ4によ
る受光波形31には影響を与えない。
【0025】一般的なOTDRでは、被測定光ファイバ
に送出する光パルス幅、受光回路の利得を階段状に可変
できる事例が多い。このような場合、各々の光パルス幅
に対し受光利得補正値Gを設定すれば良い。また受光回
路の利得の階段状の変化に対しても同様である。受光利
得の可変量が正確なOTDRでは、一つの受光利得につ
いて、受光利得補正値Gを決定し、他の受光利得の場合
においては、決定した受光利得補正値Gに受光利得と測
定時の受光利得の差分を加えた受光利得補正値を使用す
ればよい。
【0026】
【発明の効果】この発明によれば、従来技術では測定不
可能であった光ファイバの任意区間の光反射減衰量の測
定を容易にすることができる。また測定器であるOTD
Rの光反射減衰量を容易に校正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるOTDRの構成図である。
【図2】従来技術によるOTDRの構成図である。
【図3】この発明によるOTDRの使用状態を示す図で
ある。
【図4】図3によるOTDR表示波形の例である。
【図5】この発明による具体的実施例の構成図である。
【図6】図5の実施例における測定波形例である。
【符号の説明】
1 パルス発生回路 2 電気−光変換回路 3 方向性結合器 4 被測定光ファイバ 5 光−電気変換回路 6 増幅回路 7 A/D変換器 8・12 演算回路 9・13 マーカ点入力回路 10 光反射減衰量入力回路 11・14 表示回路 15 OTDR 16・17 被測定光ファイバ 18・19 コネクタ 20 光ファイバ遠端 29 ダミー光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−1527(JP,A) 特開 昭60−127443(JP,A) 特開 平6−102421(JP,A) 特開 昭61−129549(JP,A) 特開 昭62−212543(JP,A)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルスを発生するパルス発生回路(1)
    と、パルス発生回路(1) の出力を光パルスに変換する電
    気−光変換回路(2) と、電気−光変換回路(2)の出力を
    被測定光ファイバ(4) に送出し、戻り光を光−電気変換
    回路(5) に入力して電気信号に変換させる方向性結合器
    (3) と、光−電気変換回路(5) の出力をA/D変換する
    A/D変換器(7) と、A/D変換器(7) の出力を入力と
    し、測定波形データを表示する表示回路(11)と、表示回
    路(11)の表示波形データに測定区間を設定するマーカ点
    入力回路(9) と、マーカ点入力回路(9) により設定され
    た区間の光反射減衰量を演算する演算回路(8) を備え、
    演算回路(8) の出力を表示するOTDRにおいて、 既知の光反射減衰量を持つ校正用光ファイバの光反射減
    衰量を入力する光反射減衰量入力回路(10)を備え、 まず、前記校正用光ファイバの既知の光反射減衰量を光
    反射減衰量入力回路(10)に設定するとともに、前記既知
    の光反射減衰量を持つ校正用光ファイバを前記OTDR
    に接続して光反射減衰量を測定し、 演算回路(8) で光反射減衰量入力回路(10)に設定した前
    記既知の光反射減衰量を前記測定値で割り受光利得補正
    値Gを求め、 次に、被測定光ファイバ(4) を前記OTDRに接続し、
    反射減衰量を求めたい任意区間をマーカ点入力回路(9)
    で設定し、 演算回路(8) は設定された区間の測定波形データを距離
    で積分して光反射減衰量を求め、前記受光利得補正値G
    を乗算し、マーカ点入力回路(9) で設定された区間の被
    測定光ファイバ(4) の光反射減衰量Rを表示することを
    特徴とする光反射減衰量を測定するOTDR。
  2. 【請求項2】 戻り光は後方散乱光およびフレネル反射
    光であることを特徴とする請求光1に記載の光反射減衰
    量を測定するOTDR。
  3. 【請求項3】 方向性結合器(3) と被測定光ファイバ
    (4) の間にダミー光ファイバ(29)を挿入することを特徴
    とする請求項1に記載の光反射減衰量を測定するOTD
    R。
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US08/621,964 US5673108A (en) 1995-03-31 1996-03-26 Light return loss measurement system and method
DE19612436A DE19612436A1 (de) 1995-03-31 1996-03-28 Zeit-Bereichs-Reflexionsmeßeinrichtung zum Messen von Lichtrückwurfverlusten

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19649594A1 (de) * 1996-11-29 1998-06-04 Deutsche Telekom Ag Optisches Impulsreflektometer
EP1059518B1 (en) * 1998-02-23 2009-12-23 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Branch line monitoring system and branch line monitoring method
US6433558B1 (en) 1999-05-13 2002-08-13 Microtest, Inc. Method for diagnosing performance problems in cabling
KR100341932B1 (ko) * 1999-11-11 2002-06-24 박남규 전송신호의 역방향으로 진행하는 otdr 펄스를 이용한증폭 wdm 시스템의 모니터링방법
US7346313B2 (en) 2002-03-04 2008-03-18 Cafarella John H Calibration of I-Q balance in transceivers
JP4101024B2 (ja) * 2002-11-06 2008-06-11 富士通株式会社 ロスポイント有無判定方法及びそれを用いた分布型ラマン増幅装置
US7016024B2 (en) * 2004-05-18 2006-03-21 Net Test (New York) Inc. Accuracy automated optical time domain reflectometry optical return loss measurements using a “Smart” Test Fiber Module
TWI268668B (en) * 2005-09-05 2006-12-11 Ind Tech Res Inst Fiber-fault monitoring apparatus and method in an optical networks
JP2010091406A (ja) * 2008-10-08 2010-04-22 Sumitomo Electric Ind Ltd Otdrノンリニアリティ補正方法
GB0823688D0 (en) 2008-12-31 2009-02-04 Tyco Electronics Raychem Nv Unidirectional absolute optical attenuation measurement with OTDR
KR20140051495A (ko) * 2012-10-12 2014-05-02 한국전자통신연구원 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법
RU2628740C1 (ru) * 2016-11-22 2017-08-21 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Способ обнаружения локальных дополнительных потерь в оптическом волокне методом обратного рассеяния
CN107289978B (zh) * 2017-06-09 2019-05-07 南京大学 一种基于potdr的测扰动的系统及方法
CN109039442B (zh) * 2018-08-21 2024-01-30 中国信息通信研究院 光回波损耗的检定装置和检定方法
US11296784B1 (en) * 2021-04-07 2022-04-05 Ii-Vi Delaware, Inc. Optical time domain reflectometer having corrected optical return loss measurement

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4497575A (en) * 1982-11-01 1985-02-05 Tektronix, Inc. Optical fiber test instrument calibrator
FR2597986B1 (fr) * 1986-04-28 1990-09-21 Foucault Marc Dispositif a coupleur optique, pour calibrer ou etalonner un reflectometre, systeme d'echometrie et procedes de caracterisation d'un coupleur et de mesure d'attenuations utilisant ce dispositif
US4921347A (en) * 1988-01-25 1990-05-01 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for calibrating a lightwave component measurement system
US5062704A (en) * 1990-04-25 1991-11-05 Tektronix, Inc. Optical time domain reflectometer having pre and post front panel connector testing capabilities
FR2672754B1 (fr) * 1991-02-13 1992-12-24 Alcatel Cable Systeme de localisation de reflexions de fresnel le long d'une fibre optique.

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