JP3355259B2 - 光反射減衰量を測定するｏｔｄｒ - Google Patents
光反射減衰量を測定するｏｔｄｒInfo
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- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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Description
【０００１】
【産業上の技術分野】この発明は、光線路の任意区間の
光反射減衰量を測定するＯＴＤＲについてのものであ
る。
光反射減衰量を測定するＯＴＤＲについてのものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるＯＴＤＲの構成を
図２に示す。図２の１はパルス発生回路、２は電気−光
変換回路、３は方向性結合器、４は被測定光ファイバ、
５は光−電気変換回路、６は増幅回路、７はＡ／Ｄ変換
器、１２は演算回路、１３はマーカ点入力回路、１４は
表示回路である。
図２に示す。図２の１はパルス発生回路、２は電気−光
変換回路、３は方向性結合器、４は被測定光ファイバ、
５は光−電気変換回路、６は増幅回路、７はＡ／Ｄ変換
器、１２は演算回路、１３はマーカ点入力回路、１４は
表示回路である。
【０００３】図２で、パルス発生回路１はパルスを発生
し、電気−光変換回路２に入力する。電気−光変換回路
２はパルス発生回路１のパルスを光パルスに変換し、方
向性結合器３を介して被測定光ファイバ４に送出する。
被測定光ファイバ４で発生した後方散乱光およびフレネ
ル反射光は送出光パルスとは逆方向に進み、再び方向性
結合器３を介して光−電気変換回路５に入力される。光
−電気変換回路５は後方散乱光およびフレネル反射光を
電気信号に変換し、増幅回路６に入力して増幅する。増
幅回路６で増幅された電気信号はＡ／Ｄ変換器７に入力
し、デジタル信号に変換され、信号波形が表示回路１４
に表示される。
し、電気−光変換回路２に入力する。電気−光変換回路
２はパルス発生回路１のパルスを光パルスに変換し、方
向性結合器３を介して被測定光ファイバ４に送出する。
被測定光ファイバ４で発生した後方散乱光およびフレネ
ル反射光は送出光パルスとは逆方向に進み、再び方向性
結合器３を介して光−電気変換回路５に入力される。光
−電気変換回路５は後方散乱光およびフレネル反射光を
電気信号に変換し、増幅回路６に入力して増幅する。増
幅回路６で増幅された電気信号はＡ／Ｄ変換器７に入力
し、デジタル信号に変換され、信号波形が表示回路１４
に表示される。
【０００４】ここで、例として光ファイバを接続してい
る光コネクタの光反射減衰量を測定する場合、表示回路
１４に表示された波形に対し、光コネクタのフレネル反
射光点とその直前の後方散乱光点に、マーカ点入力回路
１３よりマーカを設定する。演算回路１２は、マーカで
指定された２点のレベル差および後方散乱損失より光コ
ネクタの光反射減衰量を演算し、表示回路１４に表示す
る。
る光コネクタの光反射減衰量を測定する場合、表示回路
１４に表示された波形に対し、光コネクタのフレネル反
射光点とその直前の後方散乱光点に、マーカ点入力回路
１３よりマーカを設定する。演算回路１２は、マーカで
指定された２点のレベル差および後方散乱損失より光コ
ネクタの光反射減衰量を演算し、表示回路１４に表示す
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】光通信で利用される光
ファイバは、一般に複数の光コネクタで接続されてい
る。例えばアナログ変調方式光通信では、光線路に反射
が生じると伝送信号のＳ／Ｎ比が劣化することがあり、
伝送路である光ファイバの光反射減衰量を求めることが
必要である。このような場合、図２の構成のＯＴＤＲで
は、マーカ点入力回路にマーカを設定することにより、
任意点における各々の光コネクタの光反射減衰量を求め
ることは可能であるが、異なった地点にある複数の光コ
ネクタの光反射減衰量の合計すなわち任意区間全体での
光反射減衰量の測定、あるいは後方散乱光を含めた光反
射減衰量の測定は困難であるという問題がある。
ファイバは、一般に複数の光コネクタで接続されてい
る。例えばアナログ変調方式光通信では、光線路に反射
が生じると伝送信号のＳ／Ｎ比が劣化することがあり、
伝送路である光ファイバの光反射減衰量を求めることが
必要である。このような場合、図２の構成のＯＴＤＲで
は、マーカ点入力回路にマーカを設定することにより、
任意点における各々の光コネクタの光反射減衰量を求め
ることは可能であるが、異なった地点にある複数の光コ
ネクタの光反射減衰量の合計すなわち任意区間全体での
光反射減衰量の測定、あるいは後方散乱光を含めた光反
射減衰量の測定は困難であるという問題がある。
【０００６】またＣＷ光源とパワーメータを組み合わせ
て光反射減衰量を求める方法もあるが、この方法では、
光ファイバ全体の光反射減衰量は求められるが、同様
に、光ファイバ中の任意区間での光反射減衰量を求める
ことはできないという問題がある。
て光反射減衰量を求める方法もあるが、この方法では、
光ファイバ全体の光反射減衰量は求められるが、同様
に、光ファイバ中の任意区間での光反射減衰量を求める
ことはできないという問題がある。
【０００７】この発明は、光コネクタの有無に関わら
ず、後方散乱光による光反射減衰量も加味した光線路の
任意区間の光反射減衰量を簡便に求めるＯＴＤＲの提供
を目的とする。
ず、後方散乱光による光反射減衰量も加味した光線路の
任意区間の光反射減衰量を簡便に求めるＯＴＤＲの提供
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、パルスを発生するパルス発生回路１
と、パルス発生回路１の出力を光パルスに変換する電気
−光変換回路２と、電気−光変換回路２の出力を被測定
光ファイバ４に送出し、戻り光を光−電気変換回路５に
入力して電気信号に変換させる方向性結合器３と、光−
電気変換回路５の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器７
と、Ａ／Ｄ変換器７の出力を入力とし、測定波形データ
を表示する表示回路１１と、表示回路１１の表示波形デ
ータに測定区間を設定するマーカ点入力回路９と、マー
カ点入力回路９により設定された区間の光反射減衰量を
演算する演算回路８を備え、演算回路８の出力を表示す
るＯＴＤＲにおいて、既知の光反射減衰量を持つ校正用
光ファイバの光反射減衰量を入力する光反射減衰量入力
回路１０を備え、まず、前記校正用光ファイバの既知の
光反射減衰量を光反射減衰量入力回路１０に設定すると
ともに、前記既知の光反射減衰量を持つ校正用光ファイ
バを前記ＯＴＤＲに接続して光反射減衰量を測定し、演
算回路８で光反射減衰量入力回路１０に設定した前記既
知の光反射減衰量を前記測定値で割り受光利得補正値Ｇ
を求め、次に、被測定光ファイバ４を前記ＯＴＤＲに接
続し、反射減衰量を求めたい任意区間をマーカ点入力回
路９で設定し、演算回路８は設定された区間の測定波形
データを距離で積分して光反射減衰量を求め、前記受光
利得補正値Ｇを乗算し、マーカ点入力回路９で設定され
た区間の被測定光ファイバ４の光反射減衰量Ｒを表示す
る。なお、戻り光は後方散乱光およびフレネル反射光で
ある。また、方向性結合器３と被測定光ファイバ４の間
にダミー光ファイバ２９を挿入してもよい。
め、この発明は、パルスを発生するパルス発生回路１
と、パルス発生回路１の出力を光パルスに変換する電気
−光変換回路２と、電気−光変換回路２の出力を被測定
光ファイバ４に送出し、戻り光を光−電気変換回路５に
入力して電気信号に変換させる方向性結合器３と、光−
電気変換回路５の出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器７
と、Ａ／Ｄ変換器７の出力を入力とし、測定波形データ
を表示する表示回路１１と、表示回路１１の表示波形デ
ータに測定区間を設定するマーカ点入力回路９と、マー
カ点入力回路９により設定された区間の光反射減衰量を
演算する演算回路８を備え、演算回路８の出力を表示す
るＯＴＤＲにおいて、既知の光反射減衰量を持つ校正用
光ファイバの光反射減衰量を入力する光反射減衰量入力
回路１０を備え、まず、前記校正用光ファイバの既知の
光反射減衰量を光反射減衰量入力回路１０に設定すると
ともに、前記既知の光反射減衰量を持つ校正用光ファイ
バを前記ＯＴＤＲに接続して光反射減衰量を測定し、演
算回路８で光反射減衰量入力回路１０に設定した前記既
知の光反射減衰量を前記測定値で割り受光利得補正値Ｇ
を求め、次に、被測定光ファイバ４を前記ＯＴＤＲに接
続し、反射減衰量を求めたい任意区間をマーカ点入力回
路９で設定し、演算回路８は設定された区間の測定波形
データを距離で積分して光反射減衰量を求め、前記受光
利得補正値Ｇを乗算し、マーカ点入力回路９で設定され
た区間の被測定光ファイバ４の光反射減衰量Ｒを表示す
る。なお、戻り光は後方散乱光およびフレネル反射光で
ある。また、方向性結合器３と被測定光ファイバ４の間
にダミー光ファイバ２９を挿入してもよい。
【０００９】
【作用】光反射減衰量を求めるためには、出射光に対す
る反射光の相対値を求めることが必要である。従来のＯ
ＴＤＲでは後方散乱光およびフレネル反射光を受光しそ
の波形を表示する機能を持っているが、受光波形を相対
値として表示しており、出射光との相対値あるいは絶対
値を表示することはない。
る反射光の相対値を求めることが必要である。従来のＯ
ＴＤＲでは後方散乱光およびフレネル反射光を受光しそ
の波形を表示する機能を持っているが、受光波形を相対
値として表示しており、出射光との相対値あるいは絶対
値を表示することはない。
【００１０】この発明では、既知の光反射減衰量を持つ
校正用光ファイバの反射光を測定し、校正用光ファイバ
の既知の光反射減衰量を測定結果の光反射減衰量で割る
ことにより真値と実際の測定値の比、すなわちＯＴＤＲ
の受光利得補正値Ｇを求めている。なお、校正用光ファ
イバの光反射減衰量はこのファイバ全体での光反射減衰
量がわかればよく、一般的なＣＷ光源と光パワーメータ
を組み合わせた光反射減衰量測定器を使用すれば容易に
求められる。
校正用光ファイバの反射光を測定し、校正用光ファイバ
の既知の光反射減衰量を測定結果の光反射減衰量で割る
ことにより真値と実際の測定値の比、すなわちＯＴＤＲ
の受光利得補正値Ｇを求めている。なお、校正用光ファ
イバの光反射減衰量はこのファイバ全体での光反射減衰
量がわかればよく、一般的なＣＷ光源と光パワーメータ
を組み合わせた光反射減衰量測定器を使用すれば容易に
求められる。
【００１１】次に、この発明によるＯＴＤＲの構成を図
１に示す。図１の８は演算回路、９はマーカ点入力回
路、１０は光反射減衰量入力回路、１１は表示回路であ
り、他は図２と同じである。すなわち、図１は図２の演
算回路１２とマーカ入力回路１３と表示回路１４のかわ
りに、演算回路８とマーカ点入力回路９と光反射減衰量
入力回路１０と表示回路１１を接続したものである。
１に示す。図１の８は演算回路、９はマーカ点入力回
路、１０は光反射減衰量入力回路、１１は表示回路であ
り、他は図２と同じである。すなわち、図１は図２の演
算回路１２とマーカ入力回路１３と表示回路１４のかわ
りに、演算回路８とマーカ点入力回路９と光反射減衰量
入力回路１０と表示回路１１を接続したものである。
【００１２】演算回路８はマーカ点入力回路９で指定し
た区間の積分を行う。一般論で説明すれば、測定波形を
マーカで指定した区間にわたり時間で積分すれば良い。
しかしＯＴＤＲは後方散乱光およびフレネル反射光等の
受光信号を時間の関数として測定する。さらに時間を光
が光ファイバ内を往復する距離に換算して表示する場合
が一般的である。このためマーカ点入力回路９で入力し
た区間を距離で積分すれば、時間で積分する事と等価で
ある。この発明では、アナログ信号である受光信号をＡ
／Ｄ変換器７でデジタル信号に変換し、演算回路８でこ
のデジタル信号を演算している。このため演算回路８で
行う積分は、実際には区分和による求積を行っている。
た区間の積分を行う。一般論で説明すれば、測定波形を
マーカで指定した区間にわたり時間で積分すれば良い。
しかしＯＴＤＲは後方散乱光およびフレネル反射光等の
受光信号を時間の関数として測定する。さらに時間を光
が光ファイバ内を往復する距離に換算して表示する場合
が一般的である。このためマーカ点入力回路９で入力し
た区間を距離で積分すれば、時間で積分する事と等価で
ある。この発明では、アナログ信号である受光信号をＡ
／Ｄ変換器７でデジタル信号に変換し、演算回路８でこ
のデジタル信号を演算している。このため演算回路８で
行う積分は、実際には区分和による求積を行っている。
【００１３】
【実施例】次に、この発明による動作を図１を参照して
説明する。図１で、パルス発生回路１はパルスを発生
し、電気−光変換回路２に入力する。電気−光変換回路
２はパルス発生回路１のパルスを光パルスに変換し、方
向性結合器３を介して被測定光ファイバ４に送出する。
被測定光ファイバ４で発生した後方散乱光およびフレネ
ル反射光は送出光パルスとは逆方向に進み、再び方向性
結合器３を介して光−電気変換回路５に入力される。光
−電気変換回路５は後方散乱光およびフレネル反射光を
電気信号に変換し、増幅回路６に入力して増幅する。増
幅回路６で増幅された電気信号はＡ／Ｄ変換器７に入力
し、デジタル信号に変換され、信号波形が表示回路１１
に表示される。
説明する。図１で、パルス発生回路１はパルスを発生
し、電気−光変換回路２に入力する。電気−光変換回路
２はパルス発生回路１のパルスを光パルスに変換し、方
向性結合器３を介して被測定光ファイバ４に送出する。
被測定光ファイバ４で発生した後方散乱光およびフレネ
ル反射光は送出光パルスとは逆方向に進み、再び方向性
結合器３を介して光−電気変換回路５に入力される。光
−電気変換回路５は後方散乱光およびフレネル反射光を
電気信号に変換し、増幅回路６に入力して増幅する。増
幅回路６で増幅された電気信号はＡ／Ｄ変換器７に入力
し、デジタル信号に変換され、信号波形が表示回路１１
に表示される。
【００１４】次に、任意区間の光反射減衰量の求め方を
図１を参照して説明する。図１で、被測定光ファイバ４
の光反射減衰量を測定する前に、ＯＴＤＲの受光利得補
正値Ｇを求める。そのためにまず、被測定光ファイバ４
のかわりに光反射減衰量が既知の校正用光ファイバを接
続し、後方散乱光およびフレネル反射光等の波形を測定
する。
図１を参照して説明する。図１で、被測定光ファイバ４
の光反射減衰量を測定する前に、ＯＴＤＲの受光利得補
正値Ｇを求める。そのためにまず、被測定光ファイバ４
のかわりに光反射減衰量が既知の校正用光ファイバを接
続し、後方散乱光およびフレネル反射光等の波形を測定
する。
【００１５】つぎに、マーカ点入力回路９により校正用
光ファイバの全区間を設定する。演算回路８は、測定波
形データのうちマーカ点入力回路９で指定された全区間
を距離で積分する。すなわち、前述のように、後方散乱
光およびフレネル反射光等の波形は、Ａ／Ｄ変換器７に
よりアナログ信号でなくデジタル信号に変換されている
ので、演算回路８は積分でなく、区分和による求積を求
める。この結果による光反射減衰量をＲref とし、既知
の校正用光ファイバの光反射減衰量をＲstd とする。既
知の光反射減衰量Ｒstd を校正用光ファイバの光反射減
衰量入力回路１０により設定する。演算回路８は（１）
式の計算を行い、ＯＴＤＲの受光利得補正値Ｇを求め
る。 Ｇ＝Ｒstd ／Ｒref ………（１）
光ファイバの全区間を設定する。演算回路８は、測定波
形データのうちマーカ点入力回路９で指定された全区間
を距離で積分する。すなわち、前述のように、後方散乱
光およびフレネル反射光等の波形は、Ａ／Ｄ変換器７に
よりアナログ信号でなくデジタル信号に変換されている
ので、演算回路８は積分でなく、区分和による求積を求
める。この結果による光反射減衰量をＲref とし、既知
の校正用光ファイバの光反射減衰量をＲstd とする。既
知の光反射減衰量Ｒstd を校正用光ファイバの光反射減
衰量入力回路１０により設定する。演算回路８は（１）
式の計算を行い、ＯＴＤＲの受光利得補正値Ｇを求め
る。 Ｇ＝Ｒstd ／Ｒref ………（１）
【００１６】次に、校正用光ファイバを取り外して被測
定光ファイバ４を接続する。校正用光ファイバの測定と
同様に被測定光ファイバ４を測定すると、その測定波形
は表示回路１１に表示される。次に、マーカ点入力回路
９により光反射減衰量を求めたい任意区間を入力し、測
定波形のマーカ点入力回路９により入力された区間に対
して、演算回路８は区分和による求積を行う。この値を
光反射減衰量Ｒmes とし、演算回路８で（２）式の演算
を行い、光反射減衰量Ｒを求める。 Ｒ＝Ｒmes ・Ｇ ………（２） 表示回路１１は演算回路８で求めた光反射減衰量Ｒを表
示する。
定光ファイバ４を接続する。校正用光ファイバの測定と
同様に被測定光ファイバ４を測定すると、その測定波形
は表示回路１１に表示される。次に、マーカ点入力回路
９により光反射減衰量を求めたい任意区間を入力し、測
定波形のマーカ点入力回路９により入力された区間に対
して、演算回路８は区分和による求積を行う。この値を
光反射減衰量Ｒmes とし、演算回路８で（２）式の演算
を行い、光反射減衰量Ｒを求める。 Ｒ＝Ｒmes ・Ｇ ………（２） 表示回路１１は演算回路８で求めた光反射減衰量Ｒを表
示する。
【００１７】次に、この発明によるＯＴＤＲの使用状態
を図３を参照して説明する。１５はこの発明によるＯＴ
ＤＲ、１６・１７は被測定光ファイバ、１８・１９は光
コネクタ、２０は遠端である。図３で、被測定光ファイ
バ１６の一端は光コネクタ１８を介してＯＴＤＲ１５と
接続されている。また、被測定光ファイバ１６の他の一
端は光コネクタ１９を介して被測定光ファイバ１７の一
端と接続されている。光ファイバ１７の他の一端は光フ
ァイバの遠端２０である。
を図３を参照して説明する。１５はこの発明によるＯＴ
ＤＲ、１６・１７は被測定光ファイバ、１８・１９は光
コネクタ、２０は遠端である。図３で、被測定光ファイ
バ１６の一端は光コネクタ１８を介してＯＴＤＲ１５と
接続されている。また、被測定光ファイバ１６の他の一
端は光コネクタ１９を介して被測定光ファイバ１７の一
端と接続されている。光ファイバ１７の他の一端は光フ
ァイバの遠端２０である。
【００１８】次に、図３のＯＴＤＲによる表示波形の例
を図４に示し、任意区間の光反射減衰量の演算について
説明する。図４の縦軸は受光信号レベル、横軸は距離を
示している。受光信号はデジタル信号であるので、その
値は図４に示すように離散値であり、図４では「○」で
示している。図４の区間２１は光コネクタ１８のフレネ
ル反射光を示し、区間２２は被測定光ファイバ１６の後
方散乱光を示している。また、区間２３は光コネクタ１
９のフレネル反射光を示し、区間２４は被測定光ファイ
バ１７の後方散乱光を示している。さらに、区間２５は
光ファイバ遠端２０のフレネル反射光を示し、区間２６
は光ファイバがない区間をそれぞれ示している。
を図４に示し、任意区間の光反射減衰量の演算について
説明する。図４の縦軸は受光信号レベル、横軸は距離を
示している。受光信号はデジタル信号であるので、その
値は図４に示すように離散値であり、図４では「○」で
示している。図４の区間２１は光コネクタ１８のフレネ
ル反射光を示し、区間２２は被測定光ファイバ１６の後
方散乱光を示している。また、区間２３は光コネクタ１
９のフレネル反射光を示し、区間２４は被測定光ファイ
バ１７の後方散乱光を示している。さらに、区間２５は
光ファイバ遠端２０のフレネル反射光を示し、区間２６
は光ファイバがない区間をそれぞれ示している。
【００１９】ここで、例えば図３の光コネクタ１９と光
ファイバ遠端２０との区間の光反射減衰量を求めたい場
合、図４の光コネクタ１９のフレネル反射波形の始まり
点２７と光ファイバ遠端２０のフレネル反射光の終わり
点２８をマーカ点入力回路９で設定する。信号波形はｆ
(x) であるとし、フレネル反射波形の始まり点２７をX
1、フレネル反射波形の終わり点２８をX2とし、信号波
形のサンプリング間隔はΔX とする。演算回路８では、
反射減衰量Ｒmes を（３）式の演算にて求める。
ファイバ遠端２０との区間の光反射減衰量を求めたい場
合、図４の光コネクタ１９のフレネル反射波形の始まり
点２７と光ファイバ遠端２０のフレネル反射光の終わり
点２８をマーカ点入力回路９で設定する。信号波形はｆ
(x) であるとし、フレネル反射波形の始まり点２７をX
1、フレネル反射波形の終わり点２８をX2とし、信号波
形のサンプリング間隔はΔX とする。演算回路８では、
反射減衰量Ｒmes を（３）式の演算にて求める。
【００２０】
【式３】 なお、校正用光ファイバを測定するときも全く同様であ
る。この場合はマーカ点を校正用光ファイバの近端フレ
ネル反射の始まりと、遠端フレネル反射光の終わりに設
定すれば良い。
る。この場合はマーカ点を校正用光ファイバの近端フレ
ネル反射の始まりと、遠端フレネル反射光の終わりに設
定すれば良い。
【００２１】演算回路８はさらに、（２）式に示すよう
に、（３）式で求めた光反射減衰量Ｒmes にＯＴＤＲの
受光利得補正値Ｇを乗じ、図４のポイント２７・２８の
区間の光反射減衰量Ｒを演算する。
に、（３）式で求めた光反射減衰量Ｒmes にＯＴＤＲの
受光利得補正値Ｇを乗じ、図４のポイント２７・２８の
区間の光反射減衰量Ｒを演算する。
【００２２】次に、この発明による具体的実施例の構成
を図５を参照して説明する。図５は、光反射減衰量測定
精度向上のため、図１の方向性結合器３と被測定光ファ
イバ４の間にダミー光ファイバ２９を追加したものであ
り、他は図１と同じである。図５で、電気−光変換回路
２の出力光パルスの一部分は方向性結合器３の漏話によ
り光−電気変換回路５に漏れ込み、光反射減衰量測定の
誤差要因になる。
を図５を参照して説明する。図５は、光反射減衰量測定
精度向上のため、図１の方向性結合器３と被測定光ファ
イバ４の間にダミー光ファイバ２９を追加したものであ
り、他は図１と同じである。図５で、電気−光変換回路
２の出力光パルスの一部分は方向性結合器３の漏話によ
り光−電気変換回路５に漏れ込み、光反射減衰量測定の
誤差要因になる。
【００２３】図４の区間２１のフレネル反射光は、方向
性結合器３と被測定光ファイバ４の接続光コネクタによ
るフレネル反射光と方向性結合器３の漏話光が合わさっ
たものであり、この光コネクタの光反射減衰量のみを示
すものではない。これを防止するために、図５に示すよ
うにダミー光ファイバ２９を追加する。
性結合器３と被測定光ファイバ４の接続光コネクタによ
るフレネル反射光と方向性結合器３の漏話光が合わさっ
たものであり、この光コネクタの光反射減衰量のみを示
すものではない。これを防止するために、図５に示すよ
うにダミー光ファイバ２９を追加する。
【００２４】次に、図５の実施例における測定波形例を
図６に示す。図６の３０はダミー光ファイバ２９の受光
波形、３１は被測定光ファイバ４の受光波形である。被
測定光ファイバ４の光反射減衰量を求める場合は、マー
カ点３２・マーカ点３３のように被測定光ファイバ４の
受光波形の範囲を指定すればよい。方向性結合器３の漏
話光はダミー光ファイバ２９による受光波形３０の左端
フレネル反射光に含まれるが、被測定光ファイバ４によ
る受光波形３１には影響を与えない。
図６に示す。図６の３０はダミー光ファイバ２９の受光
波形、３１は被測定光ファイバ４の受光波形である。被
測定光ファイバ４の光反射減衰量を求める場合は、マー
カ点３２・マーカ点３３のように被測定光ファイバ４の
受光波形の範囲を指定すればよい。方向性結合器３の漏
話光はダミー光ファイバ２９による受光波形３０の左端
フレネル反射光に含まれるが、被測定光ファイバ４によ
る受光波形３１には影響を与えない。
【００２５】一般的なＯＴＤＲでは、被測定光ファイバ
に送出する光パルス幅、受光回路の利得を階段状に可変
できる事例が多い。このような場合、各々の光パルス幅
に対し受光利得補正値Ｇを設定すれば良い。また受光回
路の利得の階段状の変化に対しても同様である。受光利
得の可変量が正確なＯＴＤＲでは、一つの受光利得につ
いて、受光利得補正値Ｇを決定し、他の受光利得の場合
においては、決定した受光利得補正値Ｇに受光利得と測
定時の受光利得の差分を加えた受光利得補正値を使用す
ればよい。
に送出する光パルス幅、受光回路の利得を階段状に可変
できる事例が多い。このような場合、各々の光パルス幅
に対し受光利得補正値Ｇを設定すれば良い。また受光回
路の利得の階段状の変化に対しても同様である。受光利
得の可変量が正確なＯＴＤＲでは、一つの受光利得につ
いて、受光利得補正値Ｇを決定し、他の受光利得の場合
においては、決定した受光利得補正値Ｇに受光利得と測
定時の受光利得の差分を加えた受光利得補正値を使用す
ればよい。
【００２６】
【発明の効果】この発明によれば、従来技術では測定不
可能であった光ファイバの任意区間の光反射減衰量の測
定を容易にすることができる。また測定器であるＯＴＤ
Ｒの光反射減衰量を容易に校正することができる。
可能であった光ファイバの任意区間の光反射減衰量の測
定を容易にすることができる。また測定器であるＯＴＤ
Ｒの光反射減衰量を容易に校正することができる。
【図１】この発明によるＯＴＤＲの構成図である。
【図２】従来技術によるＯＴＤＲの構成図である。
【図３】この発明によるＯＴＤＲの使用状態を示す図で
ある。
ある。
【図４】図３によるＯＴＤＲ表示波形の例である。
【図５】この発明による具体的実施例の構成図である。
【図６】図５の実施例における測定波形例である。
１ パルス発生回路 ２ 電気−光変換回路 ３ 方向性結合器 ４ 被測定光ファイバ ５ 光−電気変換回路 ６ 増幅回路 ７ Ａ／Ｄ変換器 ８・１２ 演算回路 ９・１３ マーカ点入力回路 １０ 光反射減衰量入力回路 １１・１４ 表示回路 １５ ＯＴＤＲ １６・１７ 被測定光ファイバ １８・１９ コネクタ ２０ 光ファイバ遠端 ２９ ダミー光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−1527（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−127443（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−102421（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−129549（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−212543（ＪＰ，Ａ)
Claims (3)
- 【請求項１】 パルスを発生するパルス発生回路(1)
と、パルス発生回路(1) の出力を光パルスに変換する電
気−光変換回路(2) と、電気−光変換回路(2)の出力を
被測定光ファイバ(4) に送出し、戻り光を光−電気変換
回路(5) に入力して電気信号に変換させる方向性結合器
(3) と、光−電気変換回路(5) の出力をＡ／Ｄ変換する
Ａ／Ｄ変換器(7) と、Ａ／Ｄ変換器(7) の出力を入力と
し、測定波形データを表示する表示回路(11)と、表示回
路(11)の表示波形データに測定区間を設定するマーカ点
入力回路(9) と、マーカ点入力回路(9) により設定され
た区間の光反射減衰量を演算する演算回路(8) を備え、
演算回路(8) の出力を表示するＯＴＤＲにおいて、 既知の光反射減衰量を持つ校正用光ファイバの光反射減
衰量を入力する光反射減衰量入力回路(10)を備え、 まず、前記校正用光ファイバの既知の光反射減衰量を光
反射減衰量入力回路(10)に設定するとともに、前記既知
の光反射減衰量を持つ校正用光ファイバを前記ＯＴＤＲ
に接続して光反射減衰量を測定し、 演算回路(8) で光反射減衰量入力回路(10)に設定した前
記既知の光反射減衰量を前記測定値で割り受光利得補正
値Ｇを求め、 次に、被測定光ファイバ(4) を前記ＯＴＤＲに接続し、
反射減衰量を求めたい任意区間をマーカ点入力回路(9)
で設定し、 演算回路(8) は設定された区間の測定波形データを距離
で積分して光反射減衰量を求め、前記受光利得補正値Ｇ
を乗算し、マーカ点入力回路(9) で設定された区間の被
測定光ファイバ(4) の光反射減衰量Ｒを表示することを
特徴とする光反射減衰量を測定するＯＴＤＲ。 - 【請求項２】 戻り光は後方散乱光およびフレネル反射
光であることを特徴とする請求光１に記載の光反射減衰
量を測定するＯＴＤＲ。 - 【請求項３】 方向性結合器(3) と被測定光ファイバ
(4) の間にダミー光ファイバ(29)を挿入することを特徴
とする請求項１に記載の光反射減衰量を測定するＯＴＤ
Ｒ。
Priority Applications (3)
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|---|---|---|---|
| JP10030895A JP3355259B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 光反射減衰量を測定するｏｔｄｒ |
| US08/621,964 US5673108A (en) | 1995-03-31 | 1996-03-26 | Light return loss measurement system and method |
| DE19612436A DE19612436A1 (de) | 1995-03-31 | 1996-03-28 | Zeit-Bereichs-Reflexionsmeßeinrichtung zum Messen von Lichtrückwurfverlusten |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP10030895A JP3355259B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 光反射減衰量を測定するｏｔｄｒ |
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|---|---|
| JPH08271753A JPH08271753A (ja) | 1996-10-18 |
| JP3355259B2 true JP3355259B2 (ja) | 2002-12-09 |
Family
ID=14270553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10030895A Expired - Fee Related JP3355259B2 (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 光反射減衰量を測定するｏｔｄｒ |
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|---|---|---|---|---|
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| AU741723B2 (en) * | 1998-02-23 | 2001-12-06 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Branch line monitoring system and branch line monitoring method |
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| KR100341932B1 (ko) * | 1999-11-11 | 2002-06-24 | 박남규 | 전송신호의 역방향으로 진행하는 ｏｔｄｒ 펄스를 이용한증폭 ｗｄｍ 시스템의 모니터링방법 |
| US7346313B2 (en) | 2002-03-04 | 2008-03-18 | Cafarella John H | Calibration of I-Q balance in transceivers |
| JP4101024B2 (ja) * | 2002-11-06 | 2008-06-11 | 富士通株式会社 | ロスポイント有無判定方法及びそれを用いた分布型ラマン増幅装置 |
| US7016024B2 (en) * | 2004-05-18 | 2006-03-21 | Net Test (New York) Inc. | Accuracy automated optical time domain reflectometry optical return loss measurements using a “Smart” Test Fiber Module |
| TWI268668B (en) * | 2005-09-05 | 2006-12-11 | Ind Tech Res Inst | Fiber-fault monitoring apparatus and method in an optical networks |
| JP2010091406A (ja) * | 2008-10-08 | 2010-04-22 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Ｏｔｄｒノンリニアリティ補正方法 |
| GB0823688D0 (en) | 2008-12-31 | 2009-02-04 | Tyco Electronics Raychem Nv | Unidirectional absolute optical attenuation measurement with OTDR |
| KR20140051495A (ko) * | 2012-10-12 | 2014-05-02 | 한국전자통신연구원 | 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법 |
| RU2628740C1 (ru) * | 2016-11-22 | 2017-08-21 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Способ обнаружения локальных дополнительных потерь в оптическом волокне методом обратного рассеяния |
| CN107289978B (zh) * | 2017-06-09 | 2019-05-07 | 南京大学 | 一种基于potdr的测扰动的系统及方法 |
| CN109039442B (zh) * | 2018-08-21 | 2024-01-30 | 中国信息通信研究院 | 光回波损耗的检定装置和检定方法 |
| US11296784B1 (en) * | 2021-04-07 | 2022-04-05 | Ii-Vi Delaware, Inc. | Optical time domain reflectometer having corrected optical return loss measurement |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4497575A (en) * | 1982-11-01 | 1985-02-05 | Tektronix, Inc. | Optical fiber test instrument calibrator |
| FR2597986B1 (fr) * | 1986-04-28 | 1990-09-21 | Foucault Marc | Dispositif a coupleur optique, pour calibrer ou etalonner un reflectometre, systeme d'echometrie et procedes de caracterisation d'un coupleur et de mesure d'attenuations utilisant ce dispositif |
| US4921347A (en) * | 1988-01-25 | 1990-05-01 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for calibrating a lightwave component measurement system |
| US5062704A (en) * | 1990-04-25 | 1991-11-05 | Tektronix, Inc. | Optical time domain reflectometer having pre and post front panel connector testing capabilities |
| FR2672754B1 (fr) * | 1991-02-13 | 1992-12-24 | Alcatel Cable | Systeme de localisation de reflexions de fresnel le long d'une fibre optique. |
-
1995
- 1995-03-31 JP JP10030895A patent/JP3355259B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-03-26 US US08/621,964 patent/US5673108A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-28 DE DE19612436A patent/DE19612436A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08271753A (ja) | 1996-10-18 |
| DE19612436A1 (de) | 1996-11-07 |
| US5673108A (en) | 1997-09-30 |
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