KR20140051495A - 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법 - Google Patents

광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법 Download PDF

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Abstract

광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법은 광섬유의 굴절률에 대한 초기 보정방법을 통해 광링크 장애 감시 장치의 거리의 정확도를 높이고, 광섬유 굴절률에 대한 실시간 보정방법을 통해 장애 및 성능 저하가 발생하였을 때 정확한 장애 위치 및 장애 원인 분석이 가능하다.

Description

광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법 {Method for improving Optical Time Domain Reflectometer(OTDR) performance}
본 발명은 전송 매체로 사용되는 광섬유 및 광 컴포넌트의 결함(fault)을 모니터링하고 결함이 발생한 지점을 찾기 위해 사용하는 광링크 장애 감시 장치의 성능을 향상시키는 기술에 관한 것이다.
광링크 장애 감시 장치 중 하나인 광 시간 영역 반사 측정장치(Optical Time Domain Reflectometer: 이하 OTDR이라 칭함)는 짧은 펄스를 광섬유에 주입시켰을 때 되돌아오는 후방산란(Backscattered) 신호와 후방반사(Backreflected) 신호를 이용하여 광섬유의 손실이나 감쇄 특성 등을 측정하는 장치이다.
광섬유의 한 단면으로 광신호가 입력되면 전반사에 의해 광신호가 가이드가 되어 큰 손실 없이 전송이 된다. 그러나 커넥터나 광섬유 간의 이음새 부분(splicing point), 구부림(bending), 절단 등에 의해 굴절률에 큰 변화가 생기면 레일리 산란(Rayleigh scattering)과 프레넬 반사(Fresnel reflection) 현상이 발생한다. 이때 OTDR은 레일리 산란과 프레넬 반사에 의해 입력 포트로 다시 되돌아오는 광신호를 측정하여 광섬유의 구부림, 절단 등의 상태를 감시한다.
광섬유의 상태를 감시하는 OTDR의 성능은 다음의 파라미터들에 의해 결정된다. 파라미터들은 동작 범위(Dynamic range), 측정 범위(Measurement range), 이벤트 사각지대(Event zone: EDZ), 손실 측정 사각지대(Loss-measurement dead zone: LMDZ), 토털 반사 손실(Total Return loss), 선형성(Linearity), 데이터 분해능(Data resolution), 클록 정확성(Clock accuracy), 굴절률의 부정확성 등을 들 수 있다.
OTDR의 정확성은 여러 가지 요인에 의해 좌우된다. 열 효과(thermal effect)에 의한 비선형성(non-linearity)과 클록 샘플링 간격(clock sampling spacing)의 부정확성, 광섬유 굴절률(refractive index)의 부정확성 등에 의해 OTDR의 정확성은 감소하게 된다. 광섬유 굴절률(refractive index)의 부정확성은 비선형성(non-linearity)과 클록 샘플링 간격(clock sampling spacing)의 부정확성보다 거리의 정확성에 더 큰 영향을 미친다.
OTDR 트레이스(trace)는 시간 함수로 측정된 반사 세기들을 거리 함수로 환산을 하여 도시한 것이다. 지금까지는 시간 함수에서 거리 함수로 환산할 때 사용하는 광섬유 굴절률은 OTDR의 조건을 설정하는 초기 단계에서 특정 값으로 하였다. 초기 단계에서 광섬유 굴절률의 값은 실제 포설되어 있는 광섬유의 굴절률과 다소 차이를 보일 수 있다. 또한 외부 압력이나 구부림, 급격한 온도 변화 등에 의하여 특정 부분의 광섬유 굴절률이 변할 수 있다.
따라서 광섬유 굴절률을 OTDR 초기 설정 단계의 값으로 고정하여 OTDR 트레이스를 시간 함수에서 거리 함수로 변환하는 현재의 OTDR 기술은 정확성이 낮다. 또한, 기존 OTDR의 정확성을 향상시키기 위한 기술들은 클록 샘플링 간격의 부정확성을 줄이는 방법이 대부분이었다.
일 실시 예에 따라, 광섬유 굴절률의 부정확성을 줄여 OTDR 트레이스 상의 거리의 정확성을 높임으로써, 장애 및 성능 저하가 발생하는 위치에 대한 정확한 탐지와 장애 및 성능 저하의 정확한 원인 분석이 가능한 OTDR 보정방법을 제안한다.
일 실시 예에 따른 광링크 장애 감시 장치의 성능을 향상시키는 방법은, 광링크 장애 감시 장치를 통해 광섬유에서 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계와, 측정된 프레넬 반사 발생시간과 광섬유 굴절률 초기값을 이용하여 광섬유의 전체 길이를 계산하는 단계와, 계산된 광섬유의 전체 길이와 물리적으로 측정된 광섬유의 전체 길이를 비교하고 일치하지 않는 경우 일치되도록 광섬유 굴절률을 보정하고 보정된 광섬유 굴절률을 굴절률 초기값으로 설정하는 단계를 포함한다.
프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계는, 광섬유의 외형적인 변화가 발생하는 부분으로서 광섬유가 끝나는 지점의 커넥터 부분에서 프레넬 반사 발생시간을 측정할 수 있다.
굴절률 초기값으로 설정하는 단계는, 프레넬 반사 발생시간과 물리적으로 측정된 광섬유의 전체 길이를 이용하여 광섬유 굴절률 보정값을 획득할 수 있다.
추가 실시 예에 따라, 설정된 굴절률 초기값을 이용하여 광링크 장애 감시 장치를 통해 시간함수로 측정된 반사신호 세기를 거리함수로 변환하여 OTDR 트레이스를 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
다른 실시 예에 따른 광링크 장애 감시 장치의 성능을 향상시키는 방법은, 광링크 장애 감시 장치를 통해 광섬유에서 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계와, 측정된 프레넬 반사 발생시간과 광섬유 굴절률 초기값을 이용하여 광섬유의 전체 길이를 계산하는 단계와, 계산된 광섬유 전체 길이로부터 거리에 대한 광섬유 굴절률 변화량을 계산하는 단계와, 계산된 굴절률 변화량을 임계값과 비교하고, 비교 결과에 따라 광섬유 장애 종류를 판별하는 단계를 포함한다.
굴절률 변화량을 계산하는 단계는, 물리적으로 측정된 광섬유의 전체 길이와 계산된 광섬유 전체 길이 간의 차이값과, 측정된 프레넬 반사 발생시간을 이용하여 굴절률 변화량을 계산할 수 있다.
이때, 광섬유 장애 종류를 판별하는 단계는, 계산된 굴절률 변화량을 임계값과 비교하는 단계와, 임계값 비교 결과에 따라 임계값보다 큰 경우 OTDR 트레이스 상의 광섬유 양끝단 사이에서 피크 존재 여부를 확인하여 피크가 존재하면 광섬유 절단에 의한 장애로 판별하고, 피크가 존재하지 않으면 광섬유 이음새 또는 구부림에 의한 장애로 판별하는 단계를 포함할 수 있다.
장애로 판별하는 단계는, 피크가 존재하지 않는 경우 두 파장의 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기를 측정하는 단계와, 두 파장의 감시신호 중에서 단파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기가 장파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기보다 크면 광섬유의 이음새에 의한 장애로 판단하는 단계와, 단파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기가 장파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기보다 작으면 광섬유의 구부림에 의한 장애로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
두 파장의 감시신호는 서로 다른 광원에 의해 서로 상이한 파장을 갖는 신호일 수 있다. 또는 두 파장의 감시신호는 소정의 광원에서 발생하여 제1 파장을 갖는 신호와, 소정의 광원에서 발생한 신호의 제1 파장을 가변하여 생성된 제2 파장을 갖는 신호일 수 있다.
추가 실시 예에 따라, 광섬유 굴절률을 초기 설정된 굴절률로 환원하는 단계와, 장애 알람과 장애 종류에 따른 장애 복구를 수행하는 단계를 포함할 수 있다.
추가 실시 예에 따라, 계산된 광섬유 굴절률 변화량을 데이터베이스화하여 이를 통계정보를 사용하는 단계를 포함할 수 있다.
또 다른 실시 예에 따른 광링크 장애 감시 장치의 성능을 시키는 방법은, OTDR을 통해 광섬유 구간 별로 커넥터가 연결된 지점에서 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계와, 광섬유 구간 별로 측정된 프레넬 반사 발생시간과 광섬유 굴절률 초기값을 이용하여 광섬유의 구간 별 길이를 계산하는 단계와, 계산된 광섬유의 구간 별 길이와 물리적으로 측정된 광섬유의 구간 별 길이를 각각 비교하고, 일치하지 않은 경우 일치되도록 구간 별로 광섬유 굴절률을 보정하고 보정된 광섬유 굴절률을 구간 별 굴절률 초기값으로 설정하는 단계를 포함한다.
굴절률 초기값으로 설정하는 단계는, 구간 별 프레넬 반사 발생시간과 물리적으로 측정된 광섬유의 구간 별 길이를 이용하여 구간 별로 광섬유의 굴절률 보정값을 획득할 수 있다.
추가 실시 예에 따라, 설정된 구간 별 굴절률 초기값을 이용하여 시간함수로 측정된 반사신호 세기를 거리함수로 변환하여 구간 별로 OTDR 트레이스를 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 광섬유의 굴절률에 대한 초기 보정방법을 통해 광링크 장애 감시 장치의 거리 정확도(distance resolution)를 높일 수 있다. 또한, 광섬유 굴절률에 대한 실시간 보정방법을 통해 광섬유에 장애 및 성능 저하가 발생하였을 때, 장애 위치 및 장애 원인에 대한 정확한 분석이 가능하다. 따라서 광링크 장애 감시 장치의 정확도에 대한 성능이 향상됨으로써 망 관리의 효율성을 높일 수 있고, 나아가 장애 진단 및 복구에 대한 비용을 절감할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광링크 장애 감시 장치의 기본 구조를 도시한 구성도,
도 2는 일반적인 OTDR 신호의 트레이스(trace)를 보여주는 그래프,
도 3은 반사 동작 범위(Reflective dynamic range)의 정의를 나타내는 그래프,
도 4는 산란 동작 범위(Scattering dynamic range)의 정의를 설명하는 그래프,
도 5는 광부품의 오프셋이 OTDR 트레이스의 선형성에 미치는 영향을 나타내는 그래프,
도 6은 이벤트 사각지대(Event dead zone)에 대한 정의를 보여주는 그래프,
도 7은 손실 측정 사각지대(Loss-measurement dead zone)에 대한 정의를 보여주는 그래프,
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 OTDR 초기 보정방법(Initial Calibration Method)을 도시한 흐름도,
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 OTDR 실시간 보정방법을 도시한 흐름도,
도 10은 굴절률이 다른 여러 개의 광섬유가 연결되어 있는 경우의 OTDR 트레이스를 도시한 참조도,
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따라 굴절률이 서로 다른 여러 개의 광섬유가 연결되어 있는 경우 OTDR의 굴절률 보정방법을 도시한 흐름도이다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 상세히 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광링크 장애 감시 장치(1)의 기본 구조를 도시한 구성도이다.
광링크 장애 감시 장치(1)는 광링크의 상태를 감시하기 위한 장비로서, 예를 들어 광 시간 영역 반사 측정장치(Optical Time Domain Reflectometer: 이하 OTDR이라 칭함)가 있다. 이하, 광링크 장애 감시 장치(1)를 OTDR로 한정하여 OTDR과 함께 혼용 사용한다. 도 1을 참조하면, OTDR(1)의 레이저(laser)(10)는 커넥터(connector)로서 커플러(coupler)(12)에 연결된다. 레이저(10)에서 출력된 광신호는 커플러(12)와 프론트 패널 커넥터(Front-panel connector)(14)를 통하여 테스트 광섬유(test fiber)로 인가된다. 광섬유에 인가된 광신호는 광섬유에서 반사 또는 산란되어 커플러(12)를 통해 다시 수신기(Receiver)(16)로 수신된다.
광섬유에 인가된 광신호는 광섬유를 통과하면서 흡수(absorption)와 레일리 산란(Rayleigh scattering) 현상으로 인하여 그 세기가 줄어들게 된다. 또한 이음새(splicing), 커넥터(connector), 구부림(bending) 등과 같이 광섬유의 외형적인 변화가 발생하는 부분에서는 프레넬 반사(Fresnel reflection) 현상이 발생하여 광신호의 세기가 감소한다. 즉, 광섬유의 굴절률이 급격하게 변화 또는 단절되는 지점에서는 입사된 방향과 반대 방향으로 프레넬 반사가 발생하여 광신호의 세기가 감소하게 된다.
도 2는 일반적인 OTDR 신호의 트레이스(trace)를 보여주는 그래프이다.
본 명세서의 문맥에서, OTDR 트레이스라는 표현은 OTDR 신호 취득에 의한 가공된 데이터를 저장하거나 디스플레이하는 임의의 방법을 포괄하되, 데이터는 측정된 광신호에 시간지연 함수로서 비례한다. 이러한 시간지연은 일반적으로 각각의 OTDR 파장에서 광섬유에 대해 주지된 또는 가정된 굴절율(Index Of Refraction)을 이용하는 공지된 관계를 적용함으로써 후속으로 시간 함수를 거리 함수로 변환할 수 있다.
도 2를 참조하면, 프론트 패널 커넥터(Front-panel connector)나 점퍼(Jumper)의 커넥터, 테스트 광섬유의 끝단(Fiber end)에서는 굴절률의 급격한 변화로 인하여 프레넬 반사가 발생하여 날카로운 형태의 피크(peak)가 OTDR 트레이스에 나타난다. 광섬유의 이음새(splicing)나 구부림(bending)이 있는 지점에서는 레일레이 산란만이 발생한다. 따라서 이음새나 구부림이 생긴 위치에는 날카로운 피크가 존재하지 않으며, 선형 구간에서 레일레이 후방산란(Rayleigh Backscattering)에 의해 광신호의 세기가 줄어든다.
도 2에 있어서, OTDR 트레이스의 세로 축은 레일레이 후방산란과 프레넬 반사로 인하여 되돌아 오는 광신호의 세기를 데시벨[db] 단위로 표시한 것이고, 가로축은 미터[m] 단위의 거리로 표시한 것이다. 그러나 수신기(Receiver)에서 측정하는 데이터는 시간 함수의 mW의 선형 광신호의 세기이다. 따라서 OTDR 트레이스를 그리기 위해서는 시간을 거리로, mW 단위를 데시벨 단위로 변환하는 내부적인 처리과정이 필요하다.
시간(t)을 거리(d)로 변환하기 위한 수식은 식 1과 같다.
Figure pat00001
(식 1)
식 1을 참조하면, 측정된 시간(t)은 광신호가 되돌아온 시간이기 때문에 거리를 두 번 거치므로 거리(d)를 구하기 위해서는 2로 나누어야 하며, 여기에 광신호가 광섬유를 통과하는 속도(vg)를 곱함으로써 거리(d)를 구할 수 있다.
되돌아온 광신호의 세기(P)를 데시벨[dB]로 나타내는 변환 식은 식 2와 같다.
Figure pat00002
(식 2)
식 2에서 P0는 이벤트가 발생하기 전의 레일레이 후방산란의 세기이며, P1은 이벤트가 발생한 후의 레일레이 후방산란의 세기이다. 데시벨[dB]로 변환하는 식에서 10을 곱하지 않고 5를 곱한 이유는 되돌아오면서 감쇠(attenuation)를 두 번 겪기 때문이다.
한편, 광섬유의 상태를 감시하는 OTDR의 성능은 다음의 파라미터들에 의해 결정된다. 파라미터는 동작 범위(Dynamic range), 측정 범위(Measurement range), 이벤트 사각지대(Event zone: EDZ), 손실 측정 사각지대(Loss-measurement dead zone: LMDZ), 총 반사 손실(Total Return loss), 선형성(Linearity), 데이터 분해능(Data resolution), 클록 정확성(Clock accuracy), 굴절률의 부정확성 등을 포함한다. 이하 도 3 내지 도 7을 참조로 하여 OTDR의 성능을 결정하는 파라미터들에 대해 설명한다.
도 3은 반사 동작 범위(Reflective dynamic range)의 정의를 나타내는 그래프이다.
도 3을 참조하면, 동작 범위(Dynamic range)는 잡음 지면(noise floor)과 OTDR에 의해 측정할 수 있는 신호의 최대치와의 차이를 나타내는 파라미터이다. Dynamic range는 OTDR의 수신 감도를 의미하며, OTDR에 의한 측정이 얼마나 먼 거리까지를 허용할 수 있는지를 나타내는 지표이기 때문에 아주 중요한 파라미터이다.
Dynamic range는 Reflective dynamic range와 Scattering dynamic range로 세분화할 수 있다. Reflective dynamic range는 도 3에 도시된 바와 같이, OTDR의 프론트 패널 커넥터에서 반사된 광신호와 OTDR의 시스템 잡음 간의 차이를 의미하는 것으로, OTDR이 측정할 수 있는 반사에 대한 감도(sensitivity)를 판단할 수 있는 중요한 파라미터이다. 테스트할 광섬유를 연결하지 않은 상태에서 반사의 최고점과 잡음 지면 간의 광 세기의 차이가 Reflective dynamic range이다.
도 4는 산란 동작 범위(Scattering dynamic range)의 정의를 설명하는 그래프이다.
도 4를 참조하면, Scattering dynamic range는 프론트 패널 커넥터의 backscattered level과 잡음 지면의 광세기 차이이다. 아날로그 디지털 컨버터(Analog-to-Digital: ADC)와 같은 광 컴포넌트들의 오프셋(offset) 값에 따라 잡음 지면의 레벨이 유동적으로 변한다. 잡음 지면의 레벨이 광 컴포넌트의 오프셋에 따라 변하면 Dynamic range에도 영향을 미친다. 따라서 이러한 광 컴포넌트들의 오프셋 영향을 배제한 상태에서 Dynamic range를 측정하기 위해 잡음 지면의 레벨을 OTDR 트레이스의 선형성이 끝나는 지점을 잡음 지면의 레벨로 정하기도 한다. 또한 여러 번 측정하여 평균값을 이용하면 잡음 지면의 변동이 줄어들어 Dynamic range를 향상시킬 수 있다.
잡음 지면의 레벨은 RSM 또는 SNR=1로 정의한다. 그러나 현실적으로 RSM이나 SNR=1를 측정하기가 쉽지 않다. 좀 더 현실적인 정의는 98% 잡음 레벨이나 linearity가 끝나는 지점 등의 정의를 사용한다. 광섬유의 상태를 감시하는 측면에서는 OTDR의 Dynamic range는 Scattering dynamic range를 의미한다.
도 5는 광부품의 오프셋이 OTDR 트레이스의 선형성에 미치는 영향을 나타내는 그래프이다.
OTDR의 성능을 결정하는 파라미터 중 하나인 Measurement range는 미리 정의된 정확도로 이벤트를 감지하고 측정할 수 있는 최대 거리를 의미한다. Dynamic range는 성능과 관련한 하드웨어 파라미터인 반면, Measurement range는 하드웨어와 이벤트 마킹 소프트웨어의 복합적인 성능을 평가하는 시스템 파라미터이므로 더 실용적이다.
일 실시 예에 따라 Measurement range는 0.5 dB 손실의 non-reflective 이벤트에 대하여 4번 수집을 해서 3번 이벤트를 수집할 수 있는 최대 거리로 정의한다. OTDR은 트레이스를 선형적으로 표현하고, 작은 이벤트도 잘 보기 위해서 OTDR 트레이스의 y축을 로그 지수로 표시한다. 그러나, 도 5에 도시된 바와 같이 OTDR 신호 획득 회로의 오프셋 전압이 광신호에 더해져서 OTDR 트레이스가 비선형적으로 바뀔 수 있다. 이러한 오프셋 전압으로 인한 OTDR 트레이스의 비선형성은 Dynamic range의 추정 값의 오류 및 Measurement range의 감소의 원인이 된다.
linear trace:
Figure pat00003
nonlinear trace:
Figure pat00004
도 6은 이벤트 사각지대(Event dead zone)에 대한 정의를 보여주는 그래프이다.
도 6을 참조하면, Event dead zone(EDZ)은 짧은 거리로 분리되어 있는 두 개의 reflective event들을 구분할 수 있는 능력을 의미한다. 첫 번째 이벤트의 leading edge에서 3dB 떨어진 지점까지의 거리가 event dead zone일 수 있다.
도 7은 손실 측정 사각지대(Loss-measurement dead zone)에 대한 정의를 보여주는 그래프이다.
도 7을 참조하면, Loss-measurement dead zone(LMDZ)은 큰 반사 이벤트에 대하여 트레이스가 왜곡되지 않고 측정할 수 있는 능력으로, 반사가 시작된 지점부터 normal scattered level의 0.5 dB이내로 회복이 된 지점까지의 거리로 정의된다.
한편, 총 반사 손실(Total Return loss)은 모든 이벤트에 대하여 반사되는 광 세기들의 합을 의미하며, 시스템의 신뢰성을 위해서는 total return loss의 정확성이 2dB 이내이어야 한다. 선형성(Linearity)은 OTDR 트레이스의 선형성을 나타내는 것으로, 광섬유의 길이당 손실이 일정함을 확인하는 능력으로, OTDR 성능의 정확성을 확인하기 위한 파라미터 중의 하나이다. OTDR 트레이스의 비선형성은 일반적으로 광 부품의 열 효과(thermal effect)에 의한 오프셋 에러(offset error)에 의하여 발생한다.
OTDR의 성능을 결정하는 파라미터 중 또 하나는 데이터 분해능(Data resolution)이다. OTDR 트레이스의 데이터는 시간 도메인에서 일정한 간격으로 샘플링되어 획득된다. 샘플 데이터 간의 간격은 시간 단위에서 거리로 변환되며, 거리 단위로 변환된 샘플링 간격을 데이터 밀도(data density)라 한다. 샘플링 간격을 줄이기 위한 방법으로 인터리빙(interleaving) 방법이 사용될 수 있다. 인터리빙은 샘플러가 트리거(trigger) 되기 이전에 시간 지연(time delay)되어 데이터를 획득함으로써 샘플링 간격을 줄이는 방법이다.
OTDR의 정확성을 나타내는 파라미터 중의 또 하나는 클록 정확성(Clock accuracy)이다. 시간 도메인에서 OTDR 감시신호에 대한 분석은 클록을 이용한다. 이러한 클록의 부정확성은 거리 측정의 불확실성에 영향을 미친다.
OTDR의 정확성을 나타내는 파라미터 중의 또 하나는 광섬유 굴절률의 부정확성이다. 광섬유 굴절률은 진공에서의 빛의 속도를 광섬유의 코어 내로 가이드 되어 전파되어 가는 펄스의 속도로 나눈 값이다. 광섬유 굴절률의 부정확성은 OTDR의 거리 측정의 정확성을 크게 떨어뜨리게 된다.
일반적으로 광섬유 굴절률의 부정확성은 약 0.1%(0.001/1.456 = 0.00069) 정도이다. 광섬유의 전체 길이가 50km라고 가정할 경우, 광섬유 굴절률의 부정확성으로 인한 거리 측정의 부정확성은 0.00069 × 50,000 m = 34 m이다. 실제 OTDR 측정에서 광섬유 굴절률의 부정확성으로 인한 거리 측정의 부정확성은 클록이나 샘플링 간격의 에러에 의한 거리 측정의 부정확성보다 10배 이상 크다.
본 발명에서는 링크 장애가 발생한 지점에 대한 정확한 감시를 하기 위해서 광섬유 굴절률의 부정확성을 최소화할 수 있는 방법을 제안한다. 광섬유 굴절률의 부정확성은 크게 두 가지의 원인에서 기인할 수 있다. 첫 번째는 시간 함수로 측정된 OTDR 데이터를 거리로 환산하는 과정에서 광섬유 굴절률의 초기 설정 단계에서 발생하는 오류이다. 즉, 측정하려는 광섬유 굴절률에 대한 정보가 정확하지 않은 경우이다. 두 번째는 시간이 지나면서 외부 압력이나 구부림, 온도 등의 환경 요인에 의하여 광섬유의 굴절률이 변하는 경우이다.
본 발명은 첫 번째 원인에 대해 OTDR를 시작하기 전에 초기 설정에 대한 보정 과정으로 해결하고자 하며, 두 번째 원인에 대해 실시간으로 OTDR를 측정하면서 실시간 보정 과정과 장애 및 성능 저하 감지 과정, 장애 원인 분석 과정으로 해결하고자 한다. 이하 도 8 내지 도 11을 통해 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 보정방법을 후술한다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 OTDR 초기 보정방법(Initial Calibration Method)을 도시한 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 초기 보정방법은 광섬유 케이블을 땅에 매설하는 단계나 이미 매설되어 있는 광섬유 케이블에 장애가 발생하지 않은 정상상태에서, OTDR의 거리 정확도(distance resolution)를 향상시키기 위한 방법이다.
본 발명의 OTDR 성능 향상장치는 물리적으로 측정된 광섬유의 길이와 OTDR을 통해 측정된 광섬유의 길이가 동일해지도록 광섬유 굴절률을 보정한다. 이를 위해, 우선 OTDR 성능 향상장치는 OTDR을 통해 시간 함수로 반사 신호의 세기를 측정한다(800). 이어서, 광섬유가 끝나는 지점의 커넥터에서 프레넬 반사가 발생하는 시간(TFR)을 측정(810)하고, 식 3에 의하여 광섬유의 전체 길이(LOTDR)를 계산한다(820).
Figure pat00005
(식 3)
식 3에 있어서, c는 진공에서 빛의 속도로, 299,792,458 m/s (약 3ⅹ108 m/s)이다. ng(init)는 OTDR에서 시간 함수를 거리 함수로 환산하기 위해 초기 설정한 광섬유의 굴절률이다.
이어서, OTDR 성능 향상장치는 OTDR를 통해 측정된 광섬유의 전체 길이(LOTDR)와 물리적으로 측정한 광섬유의 실제 길이(LPHY)를 비교한다(830). 비교 결과, 두 길이가 동일(LOTDR = LPHY)하다면, 초기 설정된 광섬유 굴절률(Δng(init))을 추가로 보정할 필요가 없으며 초기 설정된 광섬유 굴절률(Δng(init))을 그대로 사용하여 시간함수를 거리함수로 변환(840)하여 OTDR 트레이스 측정을 시작한다(850).
그러나, 비교 결과, 광섬유의 두 길이가 다르다면(LOTDR ≠ LPHY), 두 길이가 동일해지도록 초기 설정한 광섬유 굴절률을 식 4를 사용하여 보정한다(860).
Figure pat00006
(식 4)
이어서, 보정된 굴절률(ng(cal))을 OTDR의 초기 굴절률(Δng(init))로 설정(Δng(init) = ng(cal))(870)한 다음 OTDR 트레이스 측정을 시작한다(840,850).
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 OTDR 실시간 보정방법을 도시한 흐름도이다.
도 9a 및 도 9b를 참조하면, 본 발명의 OTDR 실시간 보정방법은 광섬유의 절단, 이음새, 구부림 등에 의한 장애와 성능을 실시간으로 감시하여 OTDR의 거리 정확도(distance resolution)를 향상시키는 방법이다. 이를 위해, 본 발명의 OTDR 성능 향상장치는 주기적으로 굴절률 변화를 모니터링하여 광섬유의 성능 저하와 장애를 구분한다. 또한 장애 및 성능 저하의 원인을 진단한다.
우선, OTDR 성능 향상장치는 OTDR을 통해 시간 도메인에서 주기적으로 반사신호를 측정(900)하고, 광섬유가 끝나는 지점의 커넥터에서 프레넬 반사가 발생하는 시간(TFR)을 주기적으로 측정한다(910). 이어서, 프레넬 반사가 발생한 시간(TFR)과 도 8을 참조로 전술한 초기 보정방법에 의하여 보정된 굴절률을 이용하여 식 5에 의하여 광섬유 전체 길이(LOTDR)를 계산한다(920).
Figure pat00007
(식 5)
이어서, OTDR에 의해 측정된 광섬유의 전체 길이로부터 굴절률의 변화량(Δng)을 식 6에 의하여 계산한다(930).
Figure pat00008
(식 6)
이어서, OTDR은 광섬유 굴절률의 변화량(Δng)이 장애와 성능 저하를 구분하는 굴절률 변화량의 임계값(Δnthr)과 비교한다(940). 비교 결과에 따라 굴절률 변화량의 임계값(Δnthr)을 넘어서는 경우, 광섬유의 장애로 판단하여 장애 구분 및 정확한 위치를 측정한다. 이에 비하여, 광섬유 굴절률의 변화량(Δng)이 임계값(Δnthr)을 넘지 않는 경우에는 장애가 아닌 성능 저하로 판단한다.
a) 장애로 판단한 경우
광섬유의 장애로 판단된 경우는 광섬유 굴절률의 변화량(Δng)이 임계값(Δnthr)을 넘어서는 경우이며, 이 경우 OTDR 트레이스를 확인하여 장애의 종류를 구분한다.
a-1) 광섬유 절단에 의한 장애
OTDR 성능 향상장치는 OTDR 트레이스 상에서 커넥터로 연결된 광섬유 끝 지점에서의 피크를 제외하고, 광섬유 양끝 지점 사이에 다른 피크가 존재하는지 확인한다(950). 확인 결과, 끝 단의 커넥터 지점의 피크를 제외하고 또 다른 피크가 존재하면 광섬유 절단의 의한 장애로 판단(960)하고, 장애 알람 및 복구 단계로 트리거한다(972). OTDR에 설정하는 굴절률 값은 장애가 발생하기 전에 초기 보정방법에 의해 설정된 값으로 되돌린다(970).
a-2) 이음새 또는 구부림에 의한 장애
만약 OTDR 트레이스 상에서 광섬유 끝 지점에서의 피크를 제외하고, 광섬유 양끝 지점 사이에 다른 피크가 존재하지 않으면 광섬유의 이음새 또는 구부림에 의한 장애로 판단한다. 이음새에 의한 장애와 구부림에 의한 장애의 구분은 파장이 다른 두 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기를 비교함으로써 구분할 수 있다.
즉, 이음새에 의한 장애인 경우, 단파장의 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기(Rλ1)가 장파장의 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기(Rλ2)보다 더 큰 반면, 구부림에 의한 장애인 경우, 단파장의 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기(Rλ1)가 장파장의 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기(Rλ2)보다 더 작은 특성이 있다.
따라서 파장이 다른 두 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기를 측정한 후, 단파장의 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호(Rλ1)의 세기가 더 크면 이음새에 의한 장애로 판단(984)하고, 장파장의 감시신호에 대한 레일레이 후방산란 신호의 세기(Rλ2)가 더 크면 구부림에 의한 장애로 판단한다(986). 이음새 및 구부림에 의한 장애 구분을 한 후에는 장애 알람과 장애 종류에 따라 세분화된 복구 단계를 가동하도록 트리거한다(972). OTDR에 설정하는 굴절률 값(ng)은 장애가 발생하기 전에 초기 보정방법에 의해 설정된 값(ng(init))으로 되돌린다(ng = ng(init))(970).
b) 성능 저하로 판단한 경우
굴절률의 변화량(Δng)이 임계값(Δnthr)을 넘지 않아 성능 저하로 판단된 경우에는 굴절률 변화량(Δng)을 OTDR의 거리 환산에 적용하는 굴절률 값(ng)에 반영한다(ng = ng(init) + Δng)(987). 또한 성능 저하에 따른 손실 등을 측정하는 성능 저하 단계로 트리거(trigger)한다(988).
일 실시 예에 따르면, 실시간 보정방법에서 이음새에 의한 장애와 구부림에 의한 장애를 구분하는 방법으로 파장이 다른 두 감시신호를 사용할 수 있다. 파장이 다른 두 감시신호로 레일레이 후방산란에 의한 반사 신호의 세기를 측정하는 방법에는 두 가지가 있다. 파장이 다른 두 감시 광원을 사용하는 방법과 한 파장의 감시 광원을 광섬유 브래그 격자(Fiber Bragg grating: FBG)나 파장 가변 레이저(tunable laser)를 사용하여 감시 광원의 파장을 이동함으로써 두 파장의 감시신호를 사용할 수 있다.
추가 실시 예에 따르면, 실시간 보정방법에서 광섬유의 굴절률 변화량에 대한 데이터를 축적해서, 통계치로 사용함으로써 광 링크의 성능 저하 특성을 예측하는데 사용할 수 있다.
도 10은 굴절률이 다른 여러 개의 광섬유가 연결되어 있는 경우의 OTDR 트레이스를 도시한 참조도이다.
도 10을 참조하면, 굴절률이 다른 여러 개의 광섬유가 커넥터 또는 이음새로 연결되어 있는 경우 광섬유 구간별로 광섬유 굴절률이 다르다. 예를 들어 도 10에서 Fiber 1, Fiber 2, Fiber 3 구간별로 광섬유 굴절율이 서로 다르다. 이에 따라 본 발명은 광섬유 구간별로 초기 보정을 수행하고자 한다.
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따라 굴절률이 서로 다른 여러 개의 광섬유가 연결되어 있는 경우 OTDR의 굴절률 보정방법을 도시한 흐름도이다.
도 10과 도 11을 참조하면, 굴절률이 서로 다른 여러 개의 광섬유가 연결되어 있는 경우 OTDR 성능 향상장치는 광섬유 구간별로 광섬유 굴절률을 보정한다. 각 구간별로 커넥터로 연결을 하기 때문에 광섬유 구간별 길이를 알 수 있다.
우선, OTDR 성능 향상장치는 OTDR을 통해 시간 함수로 반사 신호의 세기를 측정한다(1100). 그리고, 광섬유 구간별로 커넥터가 연결되어 있는 지점에서 프레넬 반사가 발생하는 시간(T1 _ FR, T2 _ FR, T3 _ FR)을 측정(1110)하여 식 7에 의하여 광섬유의 구간별 길이(L1 _ OTDR, L2 _ OTDR, L3 _ OTDR)를 각각 계산한다(1120).
Figure pat00009
(식 7)
이어서, OTDR를 이용하여 측정한 광섬유 구간별 길이와 물리적으로 측정한 광섬유 구간별 길이가 다른 구간이 있는지 판단한다(1130). 판단 결과, 다른 구간이 있다면, 구간별 두 길이가 같아지도록 초기 설정한 광섬유 굴절률을 식 8을 사용하여 해당 구간의 굴절률만 보정한다(1140).
Figure pat00010
(식 8)
이어서, 식 9에서와 같이 보정된 굴절률을 OTDR의 초기 굴절률로 설정(1150)한 다음 초기 설정된 굴절률을 사용하여 시간을 거리로 변환(1160)한 후 OTDR 트레이스를 측정한다(1170).
n g1 ( init )= n g1 ( cal ) 또는 n g2 ( init )= n g2 ( cal ) 또는 n g3 ( init )= n g3 ( cal ) (식 9)
이에 비하여 다른 구간이 존재하지 않는다면, 굴절률 보정 없이 초기 설정된 굴절률을 사용하여 시간을 거리로 변환(1160)한 후 OTDR 트레이스를 측정한다(1170).
이제까지 본 발명에 대하여 그 실시 예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시 예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
1 : 광링크 장애 감시 장치 10 : 레이저
12 : 커플러 14 : 프론트 패널 커넥터
16 : 수신기

Claims (15)

  1. 광링크 장애 감시 장치를 통해 광섬유에서 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계;
    측정된 프레넬 반사 발생시간과 광섬유 굴절률 초기값을 이용하여 광섬유의 전체 길이를 계산하는 단계; 및
    계산된 광섬유의 전체 길이와 물리적으로 측정된 광섬유의 전체 길이를 비교하고, 일치하지 않는 경우 일치되도록 광섬유 굴절률을 보정하고 보정된 광섬유 굴절률을 굴절률 초기값으로 설정하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계는,
    광섬유의 외형적인 변화가 발생하는 부분으로서, 광섬유가 끝나는 지점의 커넥터 부분에서 프레넬 반사 발생시간을 측정하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 굴절률 초기값으로 설정하는 단계는,
    프레넬 반사 발생시간과 물리적으로 측정된 광섬유의 전체 길이를 이용하여 광섬유 굴절률 보정값을 획득하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    설정된 굴절률 초기값을 이용하여 광링크 장애 감시 장치를 통해 시간함수로 측정된 반사신호 세기를 거리함수로 변환하여 광링크 장애 감시 장치 트레이스를 획득하는 단계;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  5. 광링크 장애 감시 장치를 통해 광섬유에서 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계;
    측정된 프레넬 반사 발생시간과 광섬유 굴절률 초기값을 이용하여 광섬유의 전체 길이를 계산하는 단계;
    계산된 광섬유 전체 길이로부터 거리에 대한 광섬유 굴절률 변화량을 계산하는 단계; 및
    계산된 굴절률 변화량을 임계값과 비교하고, 비교 결과에 따라 광섬유 장애 종류를 판별하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 굴절률 변화량을 계산하는 단계는,
    물리적으로 측정된 광섬유의 전체 길이와 계산된 광섬유 전체 길이 간의 차이값과, 측정된 프레넬 반사 발생시간을 이용하여 굴절률 변화량을 계산하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  7. 제 5 항에 있어서, 광섬유 장애 종류를 판별하는 단계는,
    계산된 굴절률 변화량을 임계값과 비교하는 단계; 및
    임계값 비교 결과에 따라 임계값보다 큰 경우 광링크 장애 감시 장치 트레이스 상의 광섬유 양끝단 사이에서 피크 존재 여부를 확인하여 피크가 존재하면 광섬유 절단에 의한 장애로 판별하고, 피크가 존재하지 않으면 광섬유 이음새 또는 구부림에 의한 장애로 판별하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 장애로 판별하는 단계는,
    피크가 존재하지 않는 경우 두 파장의 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기를 측정하는 단계;
    두 파장의 감시신호 중에서 단파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기가 장파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기보다 크면 광섬유의 이음새에 의한 장애로 판단하는 단계; 및
    단파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기가 장파장 감시신호에 대한 후방산란 신호의 세기보다 작으면 광섬유의 구부림에 의한 장애로 판단하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 두 파장의 감시신호는 서로 다른 광원에 의해 서로 상이한 파장을 갖는 신호인 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 두 파장의 감시신호는 소정의 광원에서 발생하여 제1 파장을 갖는 신호와, 상기 소정의 광원에서 발생한 신호의 제1 파장을 가변하여 생성된 제2 파장을 갖는 신호인 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  11. 제 5 항에 있어서,
    광섬유 굴절률을 초기 설정된 굴절률로 환원하는 단계; 및
    장애 알람과 장애 종류에 따른 장애 복구를 수행하는 단계;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  12. 제 5 항에 있어서,
    계산된 광섬유 굴절률 변화량을 데이터베이스화하여 이를 통계정보를 사용하는 단계;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  13. 광링크 장애 감시 장치를 통해 광섬유 구간 별로 커넥터가 연결된 지점에서 프레넬 반사가 발생하는 시간을 측정하는 단계;
    광섬유 구간 별로 측정된 프레넬 반사 발생시간과 광섬유 굴절률 초기값을 이용하여 광섬유의 구간 별 길이를 계산하는 단계; 및
    계산된 광섬유의 구간 별 길이와 물리적으로 측정된 광섬유의 구간 별 길이를 각각 비교하고, 일치하지 않은 경우 일치되도록 구간 별로 광섬유 굴절률을 보정하고 보정된 광섬유 굴절률을 구간 별 굴절률 초기값으로 설정하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 굴절률 초기값으로 설정하는 단계는,
    구간 별 프레넬 반사 발생시간과 물리적으로 측정된 광섬유의 구간 별 길이를 이용하여 구간 별로 광섬유의 굴절률 보정값을 획득하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
  15. 제 13 항에 있어서,
    설정된 구간 별 굴절률 초기값을 이용하여 시간함수로 측정된 반사신호 세기를 거리함수로 변환하여 구간 별로 광링크 장애 감시 장치 트레이스를 획득하는 단계;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광링크 장애 감시 장치의 성능 향상방법.
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