JPH11142293A - Ｏｔｄｒ装置 - Google Patents
Ｏｔｄｒ装置Info
- Publication number
- JPH11142293A JPH11142293A JP32377697A JP32377697A JPH11142293A JP H11142293 A JPH11142293 A JP H11142293A JP 32377697 A JP32377697 A JP 32377697A JP 32377697 A JP32377697 A JP 32377697A JP H11142293 A JPH11142293 A JP H11142293A
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- Japan
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- optical fiber
- light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定光ファイバの各位置での損失特性等を
測定するだけでなく、被測定光ファイバの種類を自動判
別する。 【解決手段】 パルス発生器１１のパルス出力をレーザ
発生器１２に送って光パルスを発生して光方向性結合器
１３を介してダミー光ファイバ１４の一端に入射し、こ
の光ファイバ１４に接続された被測定光ファイバ１５に
光パルスを伝播させ、その戻り光をダミー光ファイバ１
４および光方向性結合器１３を経て受光器２１に導き、
その受光出力を上記のパルス出力で制御されたＡ／Ｄ変
換器２２でサンプリング・デジタル化し、平均化処理回
路２３で処理し、そのデータのうちのダミー光ファイバ
１４と被測定光ファイバ１５との接続点近傍の受光レベ
ルデータを演算処理装置２６に取り込み、その接続点近
傍での受光レベル差を計算し、記憶装置２７に蓄積され
たデータを参照してそのレベル差から被測定光ファイバ
１５の種類を判別する。
測定するだけでなく、被測定光ファイバの種類を自動判
別する。 【解決手段】 パルス発生器１１のパルス出力をレーザ
発生器１２に送って光パルスを発生して光方向性結合器
１３を介してダミー光ファイバ１４の一端に入射し、こ
の光ファイバ１４に接続された被測定光ファイバ１５に
光パルスを伝播させ、その戻り光をダミー光ファイバ１
４および光方向性結合器１３を経て受光器２１に導き、
その受光出力を上記のパルス出力で制御されたＡ／Ｄ変
換器２２でサンプリング・デジタル化し、平均化処理回
路２３で処理し、そのデータのうちのダミー光ファイバ
１４と被測定光ファイバ１５との接続点近傍の受光レベ
ルデータを演算処理装置２６に取り込み、その接続点近
傍での受光レベル差を計算し、記憶装置２７に蓄積され
たデータを参照してそのレベル差から被測定光ファイバ
１５の種類を判別する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、被測定光ファイ
バの一端に光パルスを入射したときに入射端側に戻って
くる光を測定するＯＴＤＲ装置に関する。
バの一端に光パルスを入射したときに入射端側に戻って
くる光を測定するＯＴＤＲ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ
Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｍｅｔｅｒ）装置では、
光パルスを被測定光ファイバの一端に入射してその光フ
ァイバ中を伝搬させる。すると光ファイバに破断点や障
害点などがあった場合それらでフレネル反射を起こし、
あるいは、光ファイバのコアの屈折率の不均一分布があ
った場合に伝搬光が散乱し、これらの光の一部が入射端
側に戻ってくる。そこで、光パルスの入射時点から戻っ
てくる光の到達時点までの時間差がその反射点または散
乱点までの距離に対応することを利用して、戻ってきた
光の強度を光パルス入射から一定時間ごとにサンプリン
グすれば、その受光レベルデータはサンプリング時間に
応じた位置での被測定光ファイバの状態を表すことにな
り、破断点の位置を求めたり損失の大きな不良箇所の特
定することが可能となる。
Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｍｅｔｅｒ）装置では、
光パルスを被測定光ファイバの一端に入射してその光フ
ァイバ中を伝搬させる。すると光ファイバに破断点や障
害点などがあった場合それらでフレネル反射を起こし、
あるいは、光ファイバのコアの屈折率の不均一分布があ
った場合に伝搬光が散乱し、これらの光の一部が入射端
側に戻ってくる。そこで、光パルスの入射時点から戻っ
てくる光の到達時点までの時間差がその反射点または散
乱点までの距離に対応することを利用して、戻ってきた
光の強度を光パルス入射から一定時間ごとにサンプリン
グすれば、その受光レベルデータはサンプリング時間に
応じた位置での被測定光ファイバの状態を表すことにな
り、破断点の位置を求めたり損失の大きな不良箇所の特
定することが可能となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来で
は、光ファイバ自体の不良箇所等の検出には効果的であ
るものの、被測定光ファイバの種類までは識別できず、
そのため、多心光ファイバケーブル内に種類の異なる光
ファイバが混入していることが分からないままケーブル
敷設作業を行なってしまうおそれがある、という問題が
ある。
は、光ファイバ自体の不良箇所等の検出には効果的であ
るものの、被測定光ファイバの種類までは識別できず、
そのため、多心光ファイバケーブル内に種類の異なる光
ファイバが混入していることが分からないままケーブル
敷設作業を行なってしまうおそれがある、という問題が
ある。
【０００４】この発明は、上記に鑑み、多心光ファイバ
ケーブルの実際の敷設現場で使われるのに好適な、被測
定光ファイバの種類を識別する機能をも有するように改
善した、ＯＴＤＲ装置を提供することを目的とする。
ケーブルの実際の敷設現場で使われるのに好適な、被測
定光ファイバの種類を識別する機能をも有するように改
善した、ＯＴＤＲ装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるＯＴＤＲ装置においては、光パルス
を発生する手段と、該光パルスをダミー光ファイバを介
して被測定光ファイバの一端に入射する手段と、該被測
定光ファイバの一端に戻ってきた光を上記のダミー光フ
ァイバを介して受光する受光手段と、該受光手段の出力
を、上記の光パルス入射時点から一定時間ごとにサンプ
リングして受光レベルデータを得るデータ採取手段と、
該受光レベルデータからダミー光ファイバと被測定光フ
ァイバの接続点近傍のレベル差を求める手段と、該レベ
ル差から被測定光ファイバの種類を判定する手段とが備
えられることが特徴となっている。
め、この発明によるＯＴＤＲ装置においては、光パルス
を発生する手段と、該光パルスをダミー光ファイバを介
して被測定光ファイバの一端に入射する手段と、該被測
定光ファイバの一端に戻ってきた光を上記のダミー光フ
ァイバを介して受光する受光手段と、該受光手段の出力
を、上記の光パルス入射時点から一定時間ごとにサンプ
リングして受光レベルデータを得るデータ採取手段と、
該受光レベルデータからダミー光ファイバと被測定光フ
ァイバの接続点近傍のレベル差を求める手段と、該レベ
ル差から被測定光ファイバの種類を判定する手段とが備
えられることが特徴となっている。
【０００６】光ファイバはコアの屈折率によりいくつか
の種類に分類することができる。そして、異なる屈折率
のコアを有する光ファイバを接続した場合は、その接続
点近傍で、ＯＴＤＲの受光レベルに差が生じる。そこ
で、この性質を利用し、ダミー光ファイバに平均的な特
性のシングルモード（ＳＭ）光ファイバを使用する等し
て、これにＳＭ光ファイバや分散シフト（ＤＳＭあるい
はＤＳＦ）光ファイバ等を被測定光ファイバとして接続
すれば、その接続点近傍の受光レベル差からどの種類の
光ファイバが被測定光ファイバとして接続されているか
の判定が可能となる。
の種類に分類することができる。そして、異なる屈折率
のコアを有する光ファイバを接続した場合は、その接続
点近傍で、ＯＴＤＲの受光レベルに差が生じる。そこ
で、この性質を利用し、ダミー光ファイバに平均的な特
性のシングルモード（ＳＭ）光ファイバを使用する等し
て、これにＳＭ光ファイバや分散シフト（ＤＳＭあるい
はＤＳＦ）光ファイバ等を被測定光ファイバとして接続
すれば、その接続点近傍の受光レベル差からどの種類の
光ファイバが被測定光ファイバとして接続されているか
の判定が可能となる。
【０００７】
【発明の実施の形態】つぎに、この発明の実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１におい
て、パルス発生器１１から発生させられたパルス信号が
レーザ発生器１２に送られる。レーザ発生器１２は、た
とえば半導体レーザとそれの駆動回路とからなり、入力
されたパルス信号に応じたパルス状のレーザ光（たとえ
ば波長１．３μｍ）を発生し、この光パルスを光ファイ
バカップラなどからなる光方向性結合器１３を経てダミ
ー光ファイバ１４の一端に入射する。ダミー光ファイバ
１４はたとえば数百〜数千メートルのＳＭ光ファイバか
らなり、その他端には被測定光ファイバ１５が接続され
ている。この接続部１６では、Ｖ溝に両光ファイバ１
４、１５の先端を挿入して端面軸合わせした状態で接続
したり、あるいは両端を融着接続する。こうしてダミー
光ファイバ１４を経て被測定光ファイバ１５の一端に光
パルスが入射させられる。
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図１におい
て、パルス発生器１１から発生させられたパルス信号が
レーザ発生器１２に送られる。レーザ発生器１２は、た
とえば半導体レーザとそれの駆動回路とからなり、入力
されたパルス信号に応じたパルス状のレーザ光（たとえ
ば波長１．３μｍ）を発生し、この光パルスを光ファイ
バカップラなどからなる光方向性結合器１３を経てダミ
ー光ファイバ１４の一端に入射する。ダミー光ファイバ
１４はたとえば数百〜数千メートルのＳＭ光ファイバか
らなり、その他端には被測定光ファイバ１５が接続され
ている。この接続部１６では、Ｖ溝に両光ファイバ１
４、１５の先端を挿入して端面軸合わせした状態で接続
したり、あるいは両端を融着接続する。こうしてダミー
光ファイバ１４を経て被測定光ファイバ１５の一端に光
パルスが入射させられる。
【０００８】被測定光ファイバ１５の一端に入射させら
れた光パルスは、その光ファイバ１５中を伝搬してい
き、散乱を生じたり、反射を生じる。その散乱光や反射
光は、光ファイバ１５の入射端側に戻ってきてダミー光
ファイバ１４および光方向性結合器１３を介して受光器
２１に導かれる。受光器２１は、アバランシェフォトダ
イオードなどの受光素子と、その出力を増幅する増幅回
路などから構成されており、受光信号をＡ／Ｄ変換器２
２に送る。
れた光パルスは、その光ファイバ１５中を伝搬してい
き、散乱を生じたり、反射を生じる。その散乱光や反射
光は、光ファイバ１５の入射端側に戻ってきてダミー光
ファイバ１４および光方向性結合器１３を介して受光器
２１に導かれる。受光器２１は、アバランシェフォトダ
イオードなどの受光素子と、その出力を増幅する増幅回
路などから構成されており、受光信号をＡ／Ｄ変換器２
２に送る。
【０００９】Ａ／Ｄ変換器２２は、上記のパルス発生器
１１から送られてきたパルス信号に同期して動作してい
る。すなわち、パルス信号から一定時間経過した時から
一定の周期で受光信号をサンプリングしてデジタルデー
タに変換する動作を開始する。こうして、光パルス入射
からの遅延時間ごとに受光レベルに関するデータが得ら
れる。たとえば１５０００回サンプリングが行われると
すると、１５０００の遅延時間の各々についてデータが
得られる。この遅延時間は光が入射端から反射点までを
往復する時間に相当するため、サンプリング周期に対応
する距離ごとの受光レベルデータが得られたことにな
る。
１１から送られてきたパルス信号に同期して動作してい
る。すなわち、パルス信号から一定時間経過した時から
一定の周期で受光信号をサンプリングしてデジタルデー
タに変換する動作を開始する。こうして、光パルス入射
からの遅延時間ごとに受光レベルに関するデータが得ら
れる。たとえば１５０００回サンプリングが行われると
すると、１５０００の遅延時間の各々についてデータが
得られる。この遅延時間は光が入射端から反射点までを
往復する時間に相当するため、サンプリング周期に対応
する距離ごとの受光レベルデータが得られたことにな
る。
【００１０】この光パルス入射・受光レベルデータ収集
が多数回繰り返されて、平均化処理回路２３においてサ
ンプリング（距離）ごとのデータの平均値が求められ、
雑音の影響が除去される。こうして得られたサンプリン
グごとのデータは表示回路２４を経てＣＲＴディスプレ
イ装置２５に送られて表示される。これにより、図２で
示すような、横軸が被測定光ファイバ１５（およびダミ
ー光ファイバ１４）の距離方向、縦軸が受光レベル（ｄ
Ｂ）となっているグラフが表示される。
が多数回繰り返されて、平均化処理回路２３においてサ
ンプリング（距離）ごとのデータの平均値が求められ、
雑音の影響が除去される。こうして得られたサンプリン
グごとのデータは表示回路２４を経てＣＲＴディスプレ
イ装置２５に送られて表示される。これにより、図２で
示すような、横軸が被測定光ファイバ１５（およびダミ
ー光ファイバ１４）の距離方向、縦軸が受光レベル（ｄ
Ｂ）となっているグラフが表示される。
【００１１】ダミー光ファイバ１４および被測定光ファ
イバ１５を伝搬する光は、ダミー光ファイバ１４と被測
定光ファイバ１５との接続点および被測定光ファイバ１
５の終点で大きく反射するため、通常、図２の波形の
ロ、ニのように受光レベルが急激に大きくなる部分を生
じる。その他の部分（距離）では、ダミー光ファイバ１
４および被測定光ファイバ１５の伝送損失特性にしたが
って直線的に下がっていくような特性となる。イがダミ
ー光ファイバ１４の部分であり、ハが被測定光ファイバ
１５の部分である。
イバ１５を伝搬する光は、ダミー光ファイバ１４と被測
定光ファイバ１５との接続点および被測定光ファイバ１
５の終点で大きく反射するため、通常、図２の波形の
ロ、ニのように受光レベルが急激に大きくなる部分を生
じる。その他の部分（距離）では、ダミー光ファイバ１
４および被測定光ファイバ１５の伝送損失特性にしたが
って直線的に下がっていくような特性となる。イがダミ
ー光ファイバ１４の部分であり、ハが被測定光ファイバ
１５の部分である。
【００１２】この接続点近傍（ロの近傍）に着目してみ
ると、図３、図４に示すようにイとハの部分でレベル差
Δが大きくなったり、小さくなったりしていることが分
かる。一般に、ダミー光ファイバ１４としてＳＭ光ファ
イバを用い、これに被測定光ファイバ１５としてＳＭ光
ファイバを接続した場合は図３のようにレベル差Δはほ
とんどない。これに対して、ダミー光ファイバ１４とし
てＳＭ光ファイバを用い、これに被測定光ファイバ１５
としてＤＳＭ（あるいはＤＳＦ）光ファイバを接続した
場合は図４のように大きなレベル差Δとなり、被測定光
ファイバ側（ハ）の方が高くなる。これは、ダミー光フ
ァイバ１４と被測定光ファイバ１５のコアの屈折率の差
によるものである。
ると、図３、図４に示すようにイとハの部分でレベル差
Δが大きくなったり、小さくなったりしていることが分
かる。一般に、ダミー光ファイバ１４としてＳＭ光ファ
イバを用い、これに被測定光ファイバ１５としてＳＭ光
ファイバを接続した場合は図３のようにレベル差Δはほ
とんどない。これに対して、ダミー光ファイバ１４とし
てＳＭ光ファイバを用い、これに被測定光ファイバ１５
としてＤＳＭ（あるいはＤＳＦ）光ファイバを接続した
場合は図４のように大きなレベル差Δとなり、被測定光
ファイバ側（ハ）の方が高くなる。これは、ダミー光フ
ァイバ１４と被測定光ファイバ１５のコアの屈折率の差
によるものである。
【００１３】そこで、演算処理装置２６により、この接
続点近傍のデータを取り出し、この部分のデータから接
続点近傍での受光レベル差Δを計算する。一方、記憶装
置２７にはこの受光レベル差Δに関する過去のデータが
蓄積されており、そのため、演算処理装置２６はその記
憶データに蓄積されたデータを参照することによって、
被測定光ファイバ１５がＳＭ光ファイバであるかＤＳＭ
光ファイバであるか等の光ファイバの種類の判定を行な
うことができる。ここでは、ダミー光ファイバ１４とし
て平均的な特性のＳＭ光ファイバを用いており、これに
よって被測定光ファイバ１５の種類による受光レベル差
Δが際立つようにして、確実な種類判別が行なえるよう
にしている。
続点近傍のデータを取り出し、この部分のデータから接
続点近傍での受光レベル差Δを計算する。一方、記憶装
置２７にはこの受光レベル差Δに関する過去のデータが
蓄積されており、そのため、演算処理装置２６はその記
憶データに蓄積されたデータを参照することによって、
被測定光ファイバ１５がＳＭ光ファイバであるかＤＳＭ
光ファイバであるか等の光ファイバの種類の判定を行な
うことができる。ここでは、ダミー光ファイバ１４とし
て平均的な特性のＳＭ光ファイバを用いており、これに
よって被測定光ファイバ１５の種類による受光レベル差
Δが際立つようにして、確実な種類判別が行なえるよう
にしている。
【００１４】なお、ダミー光ファイバ１４と被測定光フ
ァイバ１５とを融着接続する場合は、ロのような高受光
レベル部が生じない（ロのような波形が表われるのはＶ
溝などにより端面同士を突き合わせて接続した場合であ
る）ため、接続点近傍の受光レベル差Δを求めるために
は、演算処理装置２６においてあらかじめ分かっている
ダミー光ファイバ１４の長さから接続点の位置を知り、
その前後２０〜４０メートル程度の範囲のデータを取り
出すようにする必要がある。
ァイバ１５とを融着接続する場合は、ロのような高受光
レベル部が生じない（ロのような波形が表われるのはＶ
溝などにより端面同士を突き合わせて接続した場合であ
る）ため、接続点近傍の受光レベル差Δを求めるために
は、演算処理装置２６においてあらかじめ分かっている
ダミー光ファイバ１４の長さから接続点の位置を知り、
その前後２０〜４０メートル程度の範囲のデータを取り
出すようにする必要がある。
【００１５】上記の演算処理装置２６および記憶装置２
７は外部のコンピュータなどで構成することもでき、測
定前に測定者が被測定光ファイバ１５の種類をあらかじ
めキーボードなどによって入力しておき、ＯＴＤＲ測定
によりコンピュータがそれとは異なる種類であると自動
判定したときにコンピュータ画面上にその旨の表示をし
たりアラームを出すように構成することなどもできる。
７は外部のコンピュータなどで構成することもでき、測
定前に測定者が被測定光ファイバ１５の種類をあらかじ
めキーボードなどによって入力しておき、ＯＴＤＲ測定
によりコンピュータがそれとは異なる種類であると自動
判定したときにコンピュータ画面上にその旨の表示をし
たりアラームを出すように構成することなどもできる。
【００１６】その他、この発明の趣旨を逸脱しない範囲
で、具体的な構成などは種々に変更できることは言うま
でもない。
で、具体的な構成などは種々に変更できることは言うま
でもない。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のＯＴＤ
Ｒ装置によれば、ダミー光ファイバと被測定光ファイバ
との接続点近傍での受光レベル差をとらえることによ
り、被測定光ファイバの種類を確実に自動判別できる。
そのため、多心光ファイバケーブルを敷設する場合に、
異なる種類の光ファイバが混入してしまうことなどを防
止でき、多心光ファイバケーブルの敷設作業がより容易
になる。
Ｒ装置によれば、ダミー光ファイバと被測定光ファイバ
との接続点近傍での受光レベル差をとらえることによ
り、被測定光ファイバの種類を確実に自動判別できる。
そのため、多心光ファイバケーブルを敷設する場合に、
異なる種類の光ファイバが混入してしまうことなどを防
止でき、多心光ファイバケーブルの敷設作業がより容易
になる。
【図１】この発明の実施の形態を示すブロック図。
【図２】ＯＴＤＲ波形の一例を示す図。
【図３】ダミー光ファイバと被測定光ファイバとの接続
点近傍のＯＴＤＲ波形の一例を拡大して示す図。
点近傍のＯＴＤＲ波形の一例を拡大して示す図。
【図４】ダミー光ファイバと被測定光ファイバとの接続
点近傍のＯＴＤＲ波形の他の例を拡大して示す図。
点近傍のＯＴＤＲ波形の他の例を拡大して示す図。
１１ パルス発生器 １２ レーザ発生器 １３ 光方向性結合器 １４ ダミー光ファイバ １５ 被測定光ファイバ １６ 接続部 ２１ 受光器 ２２ Ａ／Ｄ変換器 ２３ 平均化処理回路 ２４ 表示回路 ２５ ＣＲＴディスプレイ装置 ２６ 演算処理回路 ２７ 記憶装置
Claims (1)
- 【請求項１】 光パルスを発生する手段と、該光パルス
をダミー光ファイバを介して被測定光ファイバの一端に
入射する手段と、該被測定光ファイバの一端に戻ってき
た光を上記のダミー光ファイバを介して受光する受光手
段と、該受光手段の出力を、上記の光パルス入射時点か
ら一定時間ごとにサンプリングして受光レベルデータを
得るデータ採取手段と、該受光レベルデータからダミー
光ファイバと被測定光ファイバの接続点近傍のレベル差
を求める手段と、該レベル差から被測定光ファイバの種
類を判定する手段とを有することを特徴とするＯＴＤＲ
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32377697A JPH11142293A (ja) | 1997-11-10 | 1997-11-10 | Ｏｔｄｒ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32377697A JPH11142293A (ja) | 1997-11-10 | 1997-11-10 | Ｏｔｄｒ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11142293A true JPH11142293A (ja) | 1999-05-28 |
Family
ID=18158500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32377697A Pending JPH11142293A (ja) | 1997-11-10 | 1997-11-10 | Ｏｔｄｒ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11142293A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007123080A1 (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | ブリルアンスペクトル測定方法及びブリルアンスペクトル測定装置 |
| JP2008032592A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Central Japan Railway Co | 光ファイバ路線監視システム |
| JP2009053079A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Yokogawa Electric Corp | Ｏｔｄｒ装置 |
-
1997
- 1997-11-10 JP JP32377697A patent/JPH11142293A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007123080A1 (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | ブリルアンスペクトル測定方法及びブリルアンスペクトル測定装置 |
| JP2007292503A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ブリルアンスペクトル測定装置 |
| US7576840B2 (en) | 2006-04-21 | 2009-08-18 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Brillouin spectral measuring method and Brillouin spectral measuring apparatus |
| JP2008032592A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Central Japan Railway Co | 光ファイバ路線監視システム |
| JP2009053079A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Yokogawa Electric Corp | Ｏｔｄｒ装置 |
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