JP2020118574A - 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部(12)と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源(11)と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器(16)と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))と、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)であって前記第2のパルス幅と対応づけられた当該差分(ΔPR)と、を予め記憶する記憶部(20)と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記差分(ΔPR)と前記後方散乱光レベル(PZ(W1))とを前記記憶部から読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W2))を求め、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める演算処理部(18)と、
を備える。
光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部(12)と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源(11)と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器(16)と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき前記被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))に、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)を加算した後方散乱光レベル(PZ(W2))を、前記第2のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶部(20)と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記後方散乱光レベル(PZ(W2))を前記記憶部から読み出し、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める演算処理部(18)と、
を備える。
前記記憶部は、前記参照距離での後方散乱光レベルの予測範囲をさらに保持し、
前記演算処理部は、前記受光器で検出された前記参照距離での後方散乱光レベルが前記予測範囲から外れているか否かを判定することで、前記被測定光ファイバとの接続点での接続異常をさらに検出してもよい。
光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))と、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)であって前記第2のパルス幅と対応づけられた当該差分(ΔPR)と、を予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記差分(ΔPR)と前記後方散乱光レベル(PZ(W1))とを読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W2))を求め、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める伝送損失導出手順と、
を実行する。
光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))に、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)を加算した後方散乱光レベル(PZ(W2))を、前記第2のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記後方散乱光レベル(PZ(W2))を読み出し、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める伝送損失導出手順と、
を実行する。
手順S101:CPU18は、LD11から出力する光パルスのパルス幅をLD制御部12に指示する。これにより、LD制御部12がLD11から出力される光パルスのパルス幅を設定し、当該パルス幅の光パルスがLD11から出射され、当該光パルスの後方散乱光がAPD16で受光される。このときのパルス幅Wiは、被測定光ファイバ21の長さや損失に応じたパルス幅であり、ダミーファイバ14に対して光パルスのパルス幅の長い第2のパルス幅W2に相当する。
手順S102:CPU18は、APD16の出力信号から、距離DFでの後方散乱光レベルPF(W2)を検出する。
手順S103:CPU18は、手順S101で設定したパルス幅W2に対応する差分(同じパルス幅Wiにおける差分)ΔPR、及び、後方散乱光レベルPZ(W1)を記憶部20から読み出し、後方散乱光レベルPZ(W1)に差分ΔPRを加算し、後方散乱光レベルPZ(W2)を求める。
手順S104:CPU18は、後方散乱光レベルPZ(W2)と後方散乱光レベルPF(W2)の差分を求める。これにより、全損失LTを求める。
なお、手順S103は、手順S101の後でありかつ手順S104の前の任意のタイミングで行うことができる。
12:LD制御部
13:カプラ
14:ダミーファイバ
15:接続ポート
16:APD
17:受信回路
18:CPU
19:表示部
20:記憶部
21:被測定光ファイバ
22:コネクタ
101:光パルス試験装置
Claims (5)
- 光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部(12)と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源(11)と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器(16)と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))と、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)であって前記第2のパルス幅と対応づけられた当該差分(ΔPR)と、を予め記憶する記憶部(20)と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記差分(ΔPR)と前記後方散乱光レベル(PZ(W1))とを前記記憶部から読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W2))を求め、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める演算処理部(18)と、
を備えた光パルス試験装置。 - 光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部(12)と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源(11)と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器(16)と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき前記被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))に、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)を加算した後方散乱光レベル(PZ(W2))を、前記第2のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶部(20)と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記後方散乱光レベル(PZ(W2))を前記記憶部から読み出し、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める演算処理部(18)と、
を備えた光パルス試験装置。 - 前記記憶部は、前記参照距離での後方散乱光レベルの予測範囲をさらに保持し、
前記演算処理部は、前記受光器で検出された前記参照距離での後方散乱光レベルが前記予測範囲から外れているか否かを判定することで、前記被測定光ファイバとの接続点での接続異常をさらに検出する、
請求項1又は2に記載の光パルス試験装置。 - 光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))と、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)であって前記第2のパルス幅と対応づけられた当該差分(ΔPR)と、を予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記差分(ΔPR)と前記後方散乱光レベル(PZ(W1))とを読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W2))を求め、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める伝送損失導出手順と、
を実行する光パルス試験方法。 - 光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第1のパルス幅(W1)を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点(DD)での接続損失前の後方散乱光レベル(PZ(W1))に、予め定められた参照距離(DR)における、前記第1のパルス幅よりも大きな第2のパルス幅(W2)を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W2))と前記第1のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル(PR(W1))との差分(ΔPR)を加算した後方散乱光レベル(PZ(W2))を、前記第2のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第2のパルス幅における前記後方散乱光レベル(PZ(W2))を読み出し、当該後方散乱光レベル(PZ(W2))を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失(LT)を求める伝送損失導出手順と、
を実行する光パルス試験方法。
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