CN108627317A - 光纤测试方法、设备及系统 - Google Patents

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CN108627317A CN201810230492.1A CN201810230492A CN108627317A CN 108627317 A CN108627317 A CN 108627317A CN 201810230492 A CN201810230492 A CN 201810230492A CN 108627317 A CN108627317 A CN 108627317A
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Abstract

本发明提供一种光纤测试方法、设备及系统。用于测量光纤的长度的设备的不同实施例被提供。在一个实施例中，测试光纤的方法包括基于从第一光时域反射计(OTDR)系统发射后经过光纤并且由第二OTDR系统接收的光脉冲的飞行时间来测量光纤的长度；以及控制第一和第二OTDR系统以基于光纤的测量长度特征化光纤。通过这种方式，光纤的缺陷和其他物理特征可被准确地确定。

Description

光纤测试方法、设备及系统
相关申请的交叉引用
本申请要求于2018年2月21日提交的、发明名称为“用于测试光纤的系统及方法”的美国专利申请第15/901,872号的优先权。美国专利申请第15/901,872号要求于2017年3月20日提交的、发明名称为“用于测试光纤的系统及方法”的美国临时专利申请第62/474,018号的优先权。上述申请的全部内容通过引用其全文而结合于此，以用于各种用途。
技术领域
在此公开的主题的实施例涉及测试光纤，尤其涉及测量光纤的长度。
背景技术
光时域反射计(Optical time domain reflectometers，OTDR)被用于测试光纤电缆。OTDR典型地包括激光二极管和光电二极管，激光二极管在受测光纤的近端将光能脉冲引入光纤，光电二极管产生电流信号，该电流信号取决于响应于该输入脉冲从光纤的近端处发射的光能的功率。
由于菲涅耳反射(Fresnel reflections)和反向散射(backscattering)，从光纤的近端处发射光能。菲涅耳反射是由于光脉冲传播介质的折射率突变引起的。通常，这种变化发生在光纤的长度之间的连接处和光纤中的断裂处。反向散射是沿着相对于引入脉冲的方向的反方向返回的瑞利散射(Rayleigh scattering)。瑞利散射是由于光纤中引入的光脉冲的光子与光纤的分子之间的相互作用而产生的。随着光脉冲沿着光纤传播，瑞利散射导致了不可避免的功率损耗，因此反向散射光的功率水平确立了脉冲能够沿着光纤传播而不会承受不可接受的功率损耗的最大距离。反向散射光的功率水平也提供了诊断信息，在光纤处于应力作用下并且可能因此容易受到损坏的位置，应力导致额外的光衰减，从而产生反向散射信号下降率的可检测变化。
发明内容
用于测量光纤的长度的设备的不同实施例被提供。在一个实施例中，测试光纤的方法包括基于从第一光时域反射计(OTDR)系统发射后经过光纤并且由第二OTDR系统接收的光脉冲的飞行时间来测量光纤的长度；以及控制第一和第二OTDR系统以基于光纤的测量长度特征化光纤。通过这种方式，光纤的长度可被确定，同时采用一个或两个OTDR以进一步准确确定光纤的缺陷和其他物理特征。
应该理解，以上的简要描述被提供用于以简化的形式介绍理念的选择，其在具体实施方式部分被进一步描述。不意欲确定要求保护的主题的关键特征或必要特征，其范围由说明书随附的权利要求书唯一地限定。此外，要求保护的主题不限于解决上述任何缺点或者在本公开的任何部分中的实施。
附图说明
本发明将通过参考附图阅读以下对非限制性实施例的描述而得到更好理解，其中如下：
图1示出根据实施例的用于测量光纤的长度的示例系统的框图。
图2示出根据实施例的用于测量光纤的长度的示例方法的高级流程图。
图3示出根据实施例的用于测量光脉冲的飞行时间的示例方法的曲线图。
图4示出根据实施例的用于测量光脉冲的飞行时间的另一示例方法的曲线图。
图5示出根据实施例的用于测量光脉冲的飞行时间的另一示例方法的曲线图。
具体实施方式
以下的描述涉及用于测试光纤的不同系统和方法。尤其是，提供用于测量光纤的长度的方法和系统。用于测量光纤的长度的系统，诸如图1中描绘的系统，可包括两个独立的OTDR系统。光脉冲可从第一OTDR系统发射到光纤中并且被第二OTDR系统接收。可以基于光脉冲飞行经过光纤的时间来计算光纤的长度。用于测量光纤的长度的方法，诸如图2中描绘的方法，可进一步包括：控制OTDR系统以在光纤的长度是已知时更准确地特征化光纤在两个方向上的衰减。在图3至图5中描绘用于测量光脉冲飞行经过光纤的时间的不同技术。
现在转至附图，图1示出根据实施例的用于测试光纤102的系统100的框图。尤其是，系统100包括OTDR设备104，OTDR设备104配置为测量测试光纤102的长度，测试光纤102即用于评估和/或特征化目的而布置在系统100内的光纤。
测试光纤102，这里也简称为光纤102或者受测光纤102，可包括多个模。因此，光纤102可包括多模光纤(MMF)或者少模光纤(FMF)，尽管应该认识到在一些示例中光纤102可包括单模光纤。
OTDR设备104包括容置在壳体150之内的第一OTDR子系统105和第二OTDR子系统125。尽管描绘了第一OTDR子系统105和第二OTDR子系统125这二者可被容置在单个壳体150中，但是应该认识到在一些示例中第一OTDR子系统105和第二OTDR子系统125可被容置在分离的壳体中并且经由外部同步装置(未示出)来同步。例如，第一结构壳体可围绕第一OTDR子系统105，第二结构壳体与第一结构壳体间隔开并且不同于第一结构壳体，第二结构壳体可围绕第二OTDR子系统125。第一OTDR子系统105包括多个第一发送器106，而第二OTDR子系统125包括多个第二发射器126。在一些示例中，发射器可包括激光器。例如，多个第一激光器106和多个第二激光器126中的每个激光器可包括固定波长激光器，或者在一些示例中可包括能够产生不同波长的光的可调谐激光器。更普遍地，多个第一激光器106和多个第二激光器126中的每个激光器可调谐为产生特定波长或者波长范围的光信号，使得多个第一激光器106和多个第二激光器126一起可覆盖关注的全部波长范围。
第一OTDR子系统105可还包括切换器件107以选择多个第一激光器106之一以进行操作，因为一次可操作多个第一激光器106中的仅一个。在一些示例中，切换器件107可包括开关，而在其他示例中，切换器件107可包括配置为合并多个激光器106的输出的波分复用器或者50％耦合器。
第一OTDR子系统105可还包括第一三端口定向耦合器111(这里称为合成器)，其可包括50％熔合耦合器、光学循环器或者其他器件。第一合成器111可包括光学耦合至切换器件107的输出的第一合成器端口112。第一合成器111可还包括光学耦合至OTDR设备104的第一端口122的第二合成器端口114。第一合成器111可还包括光学耦合至第一OTDR子系统105的第一接收器120的第三合成器端口116。进入第一合成器端口112的光经由合成器通道113被导引至第二合成器端口114，并且从第二合成器端口114输出至第一端口122。从第一端口122进入第二合成器端口114的光经由合成器通道115被导引至第三合成器端口116，并且从第三合成器端口116输出至第一接收器120。
类似地，第二OTDR子系统125可包括配置为选择多个第二激光器126中的一个以进行操作的切换器件127。第二OTDR子系统125可还包括第二合成器131，第二合成器131包括第一合成器端口132、第二合成器端口134和第三合成器端口136。类似于第一合成器111，第一合成器端口132光学地耦合至切换器件127并且接收来自一个激光器126的输出。进入第一合成器端口132的光经由合成器通道133被导引至第二合成器端口134并且输出至OTDR设备104的第二端口142。从第二端口142进入第二合成器端口134的光经由合成器通道135被导引至第三合成器端口136，并且输出至第二OTDR子系统125的第二接收器140。
第一接收器120和第二接收器140可包括配置为将接收到的光信号转换为电信号以进行处理的光电探测器。虽然没有示出，但是OTDR设备104可包括电子、激光脉冲电路、接收器跨阻抗放大器、数字化仪、采集逻辑(DSP，门阵列)和波形存储器。每个OTDR子系统可包括其自身的跨阻抗放大器和被公用采集逻辑触发的其自身的激光脉冲电路。采集逻辑可典型地经由标准总线(例如，PCI或USB)连接至计算装置160。
系统100可还包括通信地耦合至OTDR设备104的计算装置160。计算装置160可包括处理器161、存储从OTDR设备104接收的可执行指令和记录数据的非临时存储器162、配置为显示与OTDR设备104相关的图形用户界面和/或可视化数据的显示装置163和配置为接收用户输入的用户界面164。计算装置160可配置为接收由探测器120和140记录的数据并且还进行所述数据的分析。此外，计算装置160可配置为提供控制信号至OTDR设备104以控制OTDR设备104的一个或更多部件，所述一个或更多部件包括但不限于多个第一激光器106、切换器件107、接收器120、多个第二激光器126、切换器件127和接收器140。计算装置160可配置为取决于OTDR设备104的选定操作模式而提供不同组的指令至OTDR设备104。
应该认识到，虽然计算装置160在图1中被绘制为通信地耦合至OTDR设备104并且位于OTDR设备104外部的分离设备，但是在一些示例中计算装置160和OTDR设备104可集成为单个设备。
如所示，系统100可还包括耦合至第一端口122的发射光纤146和耦合至OTDR设备104的第二端口142的接收光纤148。发射光纤146和接收光纤148二者可包括测量长度为1至1.5千米的缓冲光纤并且可包括与受测光纤102类似类型的光纤。缓冲光纤146和148改善在OTDR端口122和142附近发生的反射事件。如果在任意关注波长的模场直径是已知的，则缓冲光纤146和148还能够确定受测光纤102的模场直径。受测光纤102可经由临时耦合装置147和149而分别耦合至缓冲光纤146和148，而缓冲光纤146和148可分别永久地耦合至第一端口122和第二端口142。
图2示出例示根据实施例的用于测量光纤的长度的示例方法200的高级流程图。将关于图1中所示的系统和部件来描述方法200，虽然应该理解，该方法可在不背离本公开范围的情况下通过其他系统和部件来被实施。方法200可实施为计算装置160的非临时存储器162中的可执行指令，并且可通过计算装置160的处理器161来执行。
方法200始于步骤205。在步骤205，方法200包括接收长度测量模式的选取。例如，用户可经由用户界面164来选择长度测量模式以启动耦合至OTDR设备104的光纤的长度测量。
为了开始受测光纤的长度测量，在步骤210，方法200包括用第一发射器发射光脉冲至受测光纤的第一端部中。例如，用第一发射器发射光脉冲可包括控制第一OTDR子系统105的多个第一激光器106的一个激光器以产生经由切换器件107和合成器111引导至受测光纤102的第一端部(例如，经由耦合装置147耦合至发射线缆146的光纤102的端部)中的光脉冲。
在步骤215，方法200包括用第二接收器从受测光纤的第二端部接收光脉冲。例如，可由第二OTDR子系统125的第二接收器140从受测光纤102的第二端部(例如，经由耦合装置149耦合至接收线缆148的光纤102的端部)接收光脉冲。
在接收到光脉冲之后，方法200继续至步骤220。在步骤220，方法200包括计算光脉冲经过受测光纤的飞行时间。为了说明方法200可怎样计算光脉冲经过受测光纤的飞行时间，图3至图5分别示出表明光脉冲的功率随时间变化的标绘图302的曲线图。
例如，图3示出曲线图300，其表明了用于识别光脉冲何时到达接收器的固定阈值技术。对于信号基线以上的固定阈值304，固定阈值位置306包括波形与阈值相交的位置。光脉冲的飞行总时间可因此包括发射光脉冲与在位置306检测到波形与阈值304相交之间的经过时间。因此，在一个示例中，方法200通过测量发射光脉冲与在位置306检测到波形与阈值304相交之间的经过时间来计算飞行时间。
作为另一示例，图4示出曲线图400，其表明用于识别由标绘图302绘制的光脉冲何时到达接收器的半功率边缘技术。光脉冲在位置408和410达到半功率406，半功率406为最大功率404的一半。位置可采取前半功率位置408或者后半功率位置410，或者在一些示例中可以采取两个位置408和410的平均值。因此，在另一示例中，方法200通过利用半功率边缘技术来计算飞行时间。
作为另一示例，图5示出曲线图500，其表明用于识别由标绘图302绘制的光脉冲到达接收器的时间位置的质心技术。光脉冲的质心504可通过离散积分来计算。例如，如果光脉冲被记录为P(t)，则质心tc可利用以下方程计算：
其中t表示时间。计算的质心504可因此被用于确定飞行的总时间。因此，在另一示例中，方法200通过利用质心技术计算飞行的时间。
一旦飞行的总时间被计算，可通过减去光脉冲经过测试部件(也就是从多个激光器106中的激光器到达耦合装置147的光路径以及从耦合装置149到达接收器140的光路径)的已知飞行时间来获得光脉冲经过受测光纤102的飞行时间。因此，剩余时间相应于光脉冲经过受测光纤102的飞行时间。
在步骤225，方法200包括计算受测光纤102的长度。作为非限制性示例，可通过将经过受测光纤102的飞行时间乘以光脉冲经过受测光纤102的速度来获得受测光纤102的长度。如果光纤的折射率是已知的，则可准确地确定光脉冲的速度，虽然应该认识到，为了改善受测光纤102中的反射率、缺陷和不均匀性的确定，飞行时间是足够的，而不将其转换为物理长度。
一旦受测光纤的长度被计算，测量的长度可至少临时存储在计算装置160的非暂时性存储器162中和/或输出至显示装置163用于显示。
继续在步骤230，方法200包括例如经由用户界面164接收光纤测试模式的选择。光纤测试模式可包括适用于OTDR的典型测试，诸如测量光纤中的衰减和探测缺陷的位置。在步骤235，方法200包括基于选择的光纤测试模式来控制发射器和接收器以测试受测光纤102。作为非限制性示例，OTDR子系统105和125中的每个可被控制为获得受测光纤102在每个方向上的轨迹标识。在步骤240，方法200包括基于测量的长度进行受测光纤102的分析。通过已知的受测光纤102的长度，在147和149处接合的位置可被准确地确定，使得受测光纤102的分析不会将所述接合误认为受测光纤102自身中的缺陷。然后，方法200可结束。
在一个实施例中，方法测试光纤包括：基于从第一光时域反射计(OTDR)系统发射后经过光纤并且被第二OTDR系统接收的光脉冲的飞行时间测量光纤的长度；以及控制第一和第二OTDR系统以基于光纤的测量长度来特征化光纤。
在该方法的第一示例中，该方法还包括通过探测第二OTDR系统的接收器测量到波形与功率阈值相交的时间来测量光脉冲的飞行时间。在该方法的第二示例中，可选地包括第一示例，第二功率阈值在信号基线上。在方法的第三示例中，可选地包括第一和第二示例的一个或多个，功率阈值等于光学脉冲的最大功率的一半。在方法的第四示例中，可选地包括第一至第三示例的一个或多个，该方法还包括通过探测光学脉冲的质心到达第二OTDR系统的接收器的时间来测量光脉冲的飞行时间。在方法的第五示例中，可选地包括第一至第四示例的一个或多个，第一和第二OTDR系统被容置在单个壳体中，光纤经由固定至壳体的第一端口耦合到第一OTDR系统，经由固定至壳体的第二端口耦合到第二OTDR系统。在方法的第六示例中，可选地包括第一至第五示例的一个或多个，光纤经由相应的缓冲光纤耦合到第一和第二OTDR系统，该方法还包括基于光纤的测量长度确认光纤和相应的缓冲光纤之间的耦合位置。在方法的第七示例中，可选地包括第一至第六示例的一个或多个，该方法还包括接收光纤测试模式的选择。在方法的第八示例中，可选地包括第一至第七示例的一个或多个，控制第一和第二OTDR系统以基于光纤的测量长度特征化光纤包括控制第一和第二OTDR系统以根据光纤测试模式来测试光纤。在方法的第九示例中，可选地包括第一至第八示例的一个或多个，控制第一和第二OTDR系统以基于光纤的测量长度特征化光纤还包括对光纤的测试结果进行分析，其中分析限于光纤的测量长度。
在另一实施例中，光纤测试设备包括第一光时域反射计(OTDR)子系统和第二OTDR子系统，第一OTDR子系统包括第一光源、第一接收器以及耦合至第一光源和第一接收器的第一合成器，第二OTDR子系统包括第二光源、第二接收器以及光学耦合至第二光源和第二接收器的第二合成器，其中通过测光脉冲的飞行时间来测量光纤的长度，所述光脉冲由第一光源发射到光纤的第一端部并且由第二接收器从光纤的第二端部接收。
在设备的第一示例中，光纤的长度通过处理器来计算，该处理器通信地耦合至至少第二接收器并且被非暂时性存储器中的如下指令配置为：在所述指令被执行时，促使处理器基于飞行时间计算光纤的长度。在设备的第二示例中，可选地包括第一示例，该处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为：所述指令在被执行时，促使处理器从飞行时间中减去光脉冲经过设备的测试部件的已知飞行时间，来获得光脉冲经过光纤的飞行时间。在设备的第三示例中，可选地包括第一和第二示例的一个或多个，基于飞行时间计算光纤的长度包括基于光脉冲经过光纤的飞行时间计算光纤的长度。在设备的第四示例中，可选地包括第一至第三示例的一个或多个，处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为：在所述指令被执行时，促使处理器限于光纤的测量长度对光纤进行分析。
在设备的一些示例中，第一OTDR子系统和第二OTDR子系统被容置在同一壳体内。在设备的其他示例中，第一OTDR子系统和第二OTDR子系统可被容置在分离的壳体内。
在另一实施例中，光纤测试系统包括第一光时域反射计(OTDR)系统、第二OTDR子系统和处理器，第一OTDR子系统包括第一光源、第一接收器和光学耦合到第一光源和第一接收器的第一合成器，第二OTDR子系统包括第二光源、第二接收器和光学耦合到第二光源和第二接收器的第二合成器，第一OTDR子系统和第二OTDR子系统容置在同一壳体内，处理器通信地耦合到第一和第二OTDR子系统并且被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使处理器：基于光脉冲的飞行时间来计算光纤的长度，所述光脉冲由第一光源发射到光纤的第一端部并且由第二接收器从光纤的第二端部接收；以及基于计算出的光纤的长度控制第一和第二OTDR子系统以测量光纤的衰减。
在系统的第一示例中，该系统还包括光学耦合到第一合成器的第一缓冲光纤和光学耦合到第二合成器的第二缓冲光纤，其中光纤的第一端部耦合到第一缓冲光纤，光纤的第二端部耦合到第二缓冲光纤。在系统的第二示例中，可选地包括第一示例，处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使处理器：测量光脉冲的飞行总时间；从光脉冲的飞行总时间中减去光脉冲从第一光源经过第一缓冲光纤的第一已知飞行时间和光脉冲从第二缓冲光纤到第二接收器的第二已知飞行时间，以获得光脉冲经过所述光纤的飞行时间。在系统的第三示例中，可选地包括第一和第二示例的一个或多个，处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使处理器：通过探测第二接收器测量到波形与功率阈值相交的时间来测量光脉冲的飞行总时间。在系统的第四示例中，可选地包括第一只第三示例的一个或多个，处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使处理器：通过探测光脉冲的质心到达第二接收器的时间来测量光脉冲的飞行总时间。
如本文中所使用的，以单数提及并且前面有“一”或“一个”的元件或步骤应该理解为不排除所述元件或步骤的复数，除非这样的排除被明确地陈述。此外，本发明的“一个实施例”的引用不旨在解释为排除也包含所述特征的其他实施例的存在。另外，除非有明确相反陈述，否则实施例“包括”、“包含”或“具有”具有特定属性的一个元件或多个元件，可包括不具有该属性的附加的这些元件。术语“包括”和“在……中”被用作相应术语“包含”和“其中”的等同。另外，术语“第一”、“第二”和“第三”等仅被用作标识，不旨在对其对象加以数字要求或特定位置顺序。
此文字说明使用示例来公开本发明，包括最佳模式，也使得本领域的普通技术人员能够实施本发明，包括制造和使用任何器件或者系统以及执行任何包含的方法。本发明的可专利范围被权利要求限定，并且可包括对于本领域的普通技术人员可行的其他示例。这些其他示例应落入权利要求的范围内，如果他们具有没有不同于权利要求的本义语言的结构元件，或者如果他们包括与权利要求的本义语言无实质差异的等效结构元件。

Claims (20)

1.一种光纤测试方法，包括：
基于光脉冲的飞行时间来测量光纤的长度，所述光脉冲从第一光时域反射计OTDR系统发射后经过所述光纤并且由第二OTDR系统接收；以及
控制所述第一OTDR系统和所述第二OTDR系统以基于所述光纤的测量长度特征化所述光纤。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
通过探测所述第二OTDR系统的接收器测量到波形与功率阈值相交的时间，来测量所述光脉冲的飞行时间。
3.根据权利要求2所述的方法，其中所述功率阈值在信号基线以上。
4.根据权利要求3所述的方法，其中所述功率阈值等于所述光脉冲的最大功率的一半。
5.根据权利要求1所述的方法，还包括：
通过探测所述光脉冲的质心到达所述第二OTDR系统的接收器的时间，来测量所述光脉冲的飞行时间。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，
所述第一OTDR系统和所述第二OTDR系统被容置在单个壳体中，以及，
所述光纤经由固定至所述壳体的第一端口耦合至所述第一OTDR系统，并且经由固定至所述壳体的第二端口耦合至所述第二OTDR系统。
7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光纤经由相应的缓冲光纤耦合到所述第一OTDR系统和所述第二OTDR系统，
所述方法还包括：
基于所述光纤的测量长度来识别所述光纤与相应的所述缓冲光纤之间耦合的位置。
8.根据权利要求1所述的方法，还包括：
接收光纤测试模式的选择。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，控制所述第一OTDR系统和所述第二OTDR系统以基于所述光纤的测量长度特征化所述光纤包括：
控制所述第一OTDR系统和所述第二OTDR系统以根据所述光纤测试模式测试所述光纤。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，控制所述第一OTDR系统和所述第二OTDR系统以基于所述光纤的测量长度特征化所述光纤还包括：
限于所述光纤的所述测量长度，对所述光纤的测试结果进行分析。
11.一种光纤测试设备，包括：
第一光时域反射计OTDR子系统，包括第一光源、第一接收器以及光学耦合到所述第一光源和所述第一接收器的第一合成器；以及
第二OTDR子系统，包括第二光源、第二接收器以及光学耦合到所述第二光源和所述第二接收器的第二合成器；
其中，通过测量光脉冲的飞行时间来测量光纤的长度，所述光脉冲由所述第一光源发射到所述光纤的第一端部并且由所述第二接收器从所述光纤的第二端部接收。
12.根据权利要求11所述的设备，其中，所述光纤的长度由处理器计算，
所述处理器通信地耦合到至少所述第二接收器和所述第一光源，并且被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：基于所述飞行时间计算所述光纤的长度。
13.根据权利要求12所述的设备，其中，所述处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：
从所述飞行时间中减去所述光脉冲经过所述设备的测试部件的已知飞行时间，以获得所述光脉冲经过所述光纤的飞行时间。
14.根据权利要求13所述的设备，其中，基于所述飞行时间计算所述光纤的长度包括：
基于所述光脉冲经过所述光纤的飞行时间计算所述光纤的长度。
15.根据权利要求12所述的设备，其中，所述处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：
限于所述光纤的测量长度对所述光纤进行分析。
16.一种光纤测试系统，包括：
第一光时域反射计OTDR子系统，包括第一光源、第一接收器以及光学耦合到所述第一光源和所述第一接收器的第一合成器；
第二OTDR子系统，包括第二光源、第二接收器以及光学耦合到所述第二光源和所述第二接收器的第二合成器，所述第一OTDR子系统和所述第二OTDR子系统容置在同一壳体内；以及
处理器，通信地耦合到所述第一OTDR子系统和所述第二OTDR子系统，并且被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：
基于光脉冲的飞行时间来计算光纤的长度，所述光脉冲由所述第一光源发射到所述光纤的第一端部并且由所述第二接收器从所述光纤的第二端部接收；以及
控制所述第一OTDR子系统和所述第二OTDR子系统以基于计算出的所述光纤的长度来测量所述光纤的衰减。
17.根据权利要求16所述的系统，还包括：
光学耦合到所述第一合成器的第一缓冲光纤；和
光学耦合到所述第二合成器的第二缓冲光纤，
其中，所述光纤的第一端部耦合到所述第一缓冲光纤，所述光纤的第二端部耦合到所述第二缓冲光纤。
18.根据权利要求17所述的系统，其中，所述处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：
测量所述光脉冲的飞行总时间；以及
从所述光脉冲的飞行总时间中减去所述光脉冲从所述第一光源经由所述第一缓冲光纤的第一已知飞行时间和所述光脉冲从所述第二缓冲光纤到所述第二接收器的第二已知飞行时间，以获得所述光脉冲经过所述光纤的飞行时间。
19.根据权利要求18所述的系统，其中所述处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：
通过探测所述第二接收器测量到波形与功率阈值相交的时间来测量所述光脉冲的飞行总时间。
20.根据权利要求18所述的系统，其中所述处理器还被非暂时性存储器中的如下指令配置为，所述指令在被执行时促使所述处理器：
通过探测所述光脉冲的质心到达所述第二接收器的时间来测量所述光脉冲的飞行总时间。
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