KR102285347B1 - 듀얼 광원을 이용한 광 선로 감시 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
듀얼 광원을 이용한 광선로 감시 장치에 관한 것으로, 일 실시예에 따르면, 감시 장치는 서로 다른 파장의 광을 출력하는 제1 광원 및 제2 광원을 포함하고, 제1 광원 및 제2 광원을 구동하여 광 선로에 제1 감시광 및 제2 감시광을 전파하는 광송신기 및 광 선로에서 반사되는 제1 반사광 및 제2 반사광을 수신하는 제1 광 수신 모듈 및 제2 광 수신 모듈을 포함하는 광수신기를 포함할 수 있다.
Description
광선로 감시 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 듀얼 광원을 이용하여 광 선로 감시 기술과 관련된다.
유선 통신 사업자 및 무선 통신 사업자, 케이블망 사업자들은 UHDTV, 3D-TV와 같은 대용량 컨텐츠 등의 서비스를 위해 2020년 가입자당 수 기가급 이상의 대역폭(Bandwidth)을 제공할 계획을 세우고 있다. 이에 따라, 가입자에게 제공되는 단말 가격 상승에 따른 망 지출 비용 증가가 예측되고 있으며, 망 사업자는 비용을 낮추기 위해 국사의 거리 확장, 국사 당 관리하는 가입자 수를 증가시켜 상대적으로 전체 망 설비 및 운영 유지 보수 등의 총 지출 비용 절감 방안을 위해 노력하고 있다. 그러나 국사 거리 확장 및 관리하는 가입자 수가 증가함에 따라 국사부터 가입자까지의 포설된 광 선로 수 증가로 인해 광선로 절단 등 장애 발생 시 수리 건수, 출동 비용 증가로 인한 문제점과 복잡한 광 선로 구조에서의 정확한 위치 판별 및 진단이 광 감시 기술에서 새로운 중요 이슈로 대두되고 있다.
광선로 장애 위치 판별 및 진단 장비를 위한 광송수신기의 사양으로 고출력 광원, 협대역 펄스 생성, 저잡음 증폭기, 넓은 동적 범위를 갖는 수신기, 선형 증폭 이득 구조 등을 구비해야 한다. 특히 가입자의 고분기(1:64 이상 분기 구조) 구조에서는 초고출력 광원을 장착한 장비를 사용해야만 하고, 이러한 상용 제품의 가격은 고가이므로 현재의 구현된 방안으로는 OPEX가 높은 실정이다, 그러므로 이러한 OTDR(Optical Time-Domain Reflectometer)을 구성하는 광부품 또는 광원 구조에서 가격을 낮춘 부품이나 구조가 절실히 요구되는 실정이다. 한국공개특허 제10-2003-0023305호는 OTDR을 이용한 WDM-PON 광선로 감시장치를 개시하고 있다.
광선로 감시 장치에서 장거리 및 고정밀 감시 시에 고가의 고출력 고속 신호 즉, 협대역 광펄스 신호 발생에 따른 문제점을 해결하기 위한 듀얼 광원을 이용한 광선로 감시 장치 및 방법이 제시된다.
일 양상에 따르면, 광 선로 감시 장치는 서로 다른 파장의 광을 출력하는 제1 광원 및 제2 광원을 포함하고, 제1 광원 및 제2 광원을 구동하여 광 선로에 제1 감시광 및 제2 감시광을 전파하는 광송신기 및 광 선로에서 반사되는 제1 반사광 및 제2 반사광을 수신하는 제1 광 수신 모듈 및 제2 광 수신 모듈을 포함하는 광수신기를 포함할 수 있다.
광송신기는 제1 광원 및 제2 광원의 출력 특성이 동일한 형태가 되도록 제1 광원 및 제2 광원을 하나의 전기적인 신호로 동시에 구동할 수 있다.
광수신기는 수신된 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 광전 변환하여 생성된 각 펄스 신호를 차분하고, 차분 결과를 이용하여 반사 위치를 추정할 수 있다.
광수신기는 광전 변환된 각 펄스 신호의 세기를 기초로 광선로 상에서의 손실값을 산출하고, 산출된 손실값을 기초로 광선로의 장애 여부를 판단할 수 있다.
광 선로 감시 장치는 광 선로에 광학적으로 접속되어 제1 감시광 및 제2 감시광을 결합하여 광 선로에 전파하는 광 결합기를 더 포함할 수 있다.
또한, 광 선로 감시 장치는 광 결합기에 의해 결합되어 전파된 감시광이 광 선로에서 반사되면, 그 반사광을 상기 제1 반사광 및 제2 반사광으로 분배하여 상기 제1 광 수신 모듈과 제2 광 수신 모듈로 입력하는 파장 분배기를 더 포함할 수 있다.
일 양상에 따르면 광 선로 감시 방법은 서로 다른 파장의 광을 출력하는 제1 광원 및 제2 광원을 구동하는 단계, 제1 광원 및 제2 광원의 구동에 의해 출력된 제1 감시광 및 제2 감시광을 광 선로에 전파하는 단계 및 제1 광 수신 모듈 및 제2 광 수신 모듈을 통해 광 선로에서 반사되는 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 수신하는 단계를 포함할 수 있다.
제1 광원 및 제2 광원을 구동하는 단계는 제1 광원 및 제2 광원의 출력 특성이 동일한 형태가 되도록 제1 광원 및 제2 광원을 하나의 전기적인 신호로 동시에 구동할 수 있다.
또한, 광 선로 감시 방법은 수신된 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 광전 변환하여 생성된 각 펄스 신호를 차분하는 단계 및 차분 결과를 이용하여 반사 위치를 추정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 광 선로 감시 방법은 광전 변환된 각 펄스 신호의 세기를 기초로 광선로 상에서의 손실값을 산출하는 단계 및 손실값을 기초로 광 선로의 장애 여부를 판단하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 광 선로 감시 방법은 제1 광원 및 제2 광원으로부터 출력되는 서로 다른 파장의 제1 감시광 및 제2 감시광을 결합하는 단계를 더 포함하고, 광 선로에 전파하는 단계는 결합된 감시광을 광 선로에 전파할 수 있다.
또한, 광 선로 감시 방법은 광 선로에 전파된 감시광이 광 선로에서 반사되면, 그 반사광을 제1 반사광 및 제2 반사광으로 분배하는 단계를 더 포함할 수 있다.
듀얼 광원을 이용한 광선로 감시 구조를 통해, 광선로 감시 장치에서 장거리 및 고정밀 감시 시에 고가의 고출력 고속 신호 발생에 따른 문제점을 해결하여 저가 및 광대역 펄스 폭으로도 고정밀도를 구현할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 광 선로 감시 장치를 나타낸 도면이다.
도 2a는 일 실시예에 따른 듀얼 광송신기의 출력 특성의 일 예이다.
도 2b는 일 실시예에 따른 광 전송 선로의 예이다.
도 3은 일 실시예에 따른 광수신기의 출력 특성 및 위치 추정의 일 예이다.
도 4는 일 실시예에 따른 광 선로 감시 방법의 흐름도이다.
도 2a는 일 실시예에 따른 듀얼 광송신기의 출력 특성의 일 예이다.
도 2b는 일 실시예에 따른 광 전송 선로의 예이다.
도 3은 일 실시예에 따른 광수신기의 출력 특성 및 위치 추정의 일 예이다.
도 4는 일 실시예에 따른 광 선로 감시 방법의 흐름도이다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 기재된 기술의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
이하, 듀얼 광원을 이용한 광 선로 감시 장치 및 방법의 실시예들을 도면들을 참고하여 자세히 설명하도록 한다.
도 1은 일 실시예에 따른 광 선로 감시 장치를 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 일 실시예에 따른 광 선로 감시 장치(100)는 광송신기(110) 및 광수신기를 포함한다(120).
일 실시예에 따르면, 광송신기(110)는 듀얼 광원, 즉 도 1에 도시된 바와 같이 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)을 포함할 수 있다. 이때, 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)는 서로 다른 파장의 광신호를 출력하는 광원일 수 있다.
광송신기(110)는 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)를 구동하여 제1 감시광 및 제2 감시광을 출력하도록 하고, 출력된 제1 감시광 및 제2 감시광을 광 선로에 전파한다.
이때, 일 실시예에 따르면, 광송신기(110)는 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)의 출력 특성이 동일한 형태가 되도록 하기 위해, 하나의 전기적인 신호로 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)을 동시에 구동할 수 있다.
이때, 제1 광원(111)로부터 출력되는 제1 감시광과 제2 광원(112)로부터 출력되는 제2 감시광은 서로 다른 파장을 갖는 광신호일 수 있다.
광수신기(120)는 광송신기에서 광 선로에 전파된 감시광이 광 선로에서 반사되어 회귀하는 반사광을 수신한다.
일 실시예에 따르면, 광수신기(120)는 제1 광원(111)에서 출력되는 제1 감시광에 상응하는 파장의 제1 반사광을 수신하는 제1 광 수신 모듈(121) 및 제2 광원(112)에서 출력되는 제2 감시광에 상응하는 파장의 제2 반사광을 수신하는 제2 광 수신 모듈(122)을 포함할 수 있다.
광수신기(120)는 제1 광 수신 모듈(121) 및 제2 광 수신 모듈(122)에 의해 수신된 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 광전 변환하고, 그 결과 생성된 각 펄스 신호를 차분하여 그 차분 결과를 이용하여 반사 위치를 추정할 수 있다.
또한, 광수신기(120)는 광전 변환된 각 펄스 신호의 세기를 기초로 광 선로 상에서의 손실값을 산출하고, 산출된 손실값을 기초로 광 선로의 장애 여부를 판단할 수 있다.
한편, 추가적인 실시예에 따르면, 도 1에 도시된 바와 같이 광 선로 감시 장치(100)는 광 결합기(130), 파장 분배기(140) 및 광 분배기(150)를 더 포함할 수 있다.
광 결합기(130)는 광송신기(110)의 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)으로부터 출력되는 서로 다른 파장의 제1 감시광 및 제2 감시광을 결합할 수 있다.
파장 분배기(140)는 광 결합기(130)에서 결합된 감시광이 광 선로에서 반사되어 회귀하는 반사광 신호를 제1 광원(111)에 의해 출력된 제1 감시광에 상응하는 파장의 제1 반사광과, 제2 광원(112)에 의해 출력된 제2 감시광에 상응하는 파장의 제2 반사광으로 분배하여 각각 제1 광수신 모듈(121) 및 제2 광수신 모듈(122)로 입력할 수 있다. 이때, 파장 분배기(140)는 파장 필터일 수 있다.
한편, 광 분배기(150)는 광 결합기(130)에 의해 제1 감시광 및 제2 감시광이 결합된 감시광을 광 선로에 전파할 수 있다. 또한, 감시광이 광 선로에서 반사되어 회귀하는 반사광을 파장 분배기(140)에 입력할 수 있다. 이때, 광 분배기(150)는 서큘레이터일 수 있다.
다만, 광 결합기(130), 파장 분배기(140) 및 광 분배기(150)가 광을 결합하고, 분배하며, 파장을 분배하는 방법은 어느 하나의 방법에 제한되는 것은 아니며 다양한 방법으로 구현되는 것이 가능하다.
도 2a는 일 실시예에 따른 듀얼 광송신기의 출력 특성의 일 예이다. 도 2b는 일 실시예에 따른 광 전송 선로의 예이다.
도 1 내지 도 2b를 참조하여 광 펄스 폭이 넓은(또는 펄스 폭이 = ∞) 것을 사용한 것을 일 예로 듀얼 광원에서 출력되는 광 출력 특성을 설명한다. 제1 광원(111)이 파장 a nm 광을 출력하고, 제2 광원(112)가 b nm 광을 출력하고, 제1 광원(111) 및 제2 광원(112)가 하나의 전기적인 신호로 동시에 구동된다고할 때, 시간에 따른 제1 광원(111) 및 제 광원(112)의 광출력 특성은 각각 도 2a의 상단 및 하단에 예시된 바와 같다.
도시된 바와 같이, 하나의 전기적인 신호로 두 광원(111,112)이 동시에 구동되므로 두 광원(111,112)의 출력 특성은 동일한 형태로 출력됨을 알 수 있다.
도 2b는 광 선로 상의 두 지점(A,B)에서 이상이 생긴 경우, 각 지점(A,B)에서 반사되는 신호를 예시한 것이다. 도시된 바와 같이, 광송신기(110)에서 출력된 감시광이 광 선로에 전파되면, 감시광은 광 선로의 이상이 존재하는 지점 A, B에서 각각 반사된다.
도 3은 일 실시예에 따른 광수신기의 출력 특성 및 위치 추정의 일 예이다.
도 1 내지 도 3을 참조하여 좀 더 구체적으로 설명하면, 광수신기(120)의 제1 광 수신 모듈(121)과 제2 광 수신 모듈(122)은 광 선로의 두 반사 지점(A,B)에서 반사되어 회귀하는 각기 다른 파장, 예컨대 도시된 바와 같이 a nm, b nm의 광 신호를 각각 수신하여, 광 선로의 반사 지점의 위치를 추정할 수 있다.
도 3의 (a)는 광 선로의 두 반사 지점(A,B)를 회귀한 파장 a nm를 수신하여 광전 변환한 세기를 도시한 것이고, 도 3의 (b)는 광 선로의 두 반사 지점(A,B)를 회귀한 파장 b nm를 수신한 광전 변환 세기를 도시한 것이다.
도 3의 (a)와 (b)는 두 개의 반사 지점(A,B)를 회귀한 결과로서 계단형의 결과를 보여주는 그래프를 보여 주고 있다. 일반적으로, 이와 같은 계단형의 특성을 통하여 정확한 반사 지점의 위치를 판별하기 어려우므로 광수신기(120)는 이 두 신호를 차분하여 계산함으로써 도 3의 (c)와 같은 그래프를 획득할 수 있으며, 이를 통해 보다 명확하게 광 선로 상의 반사 위치를 추정할 수 있게 된다.
도 3의 (c)의 그래프에서 첫 번째 펄스 폭은 첫 번째 반사 지점(A)의 위치에서의 두 파장(a nm, b nm)의 지연차를 의미하므로 첫 번째 반사 위치를 추정할 수 있다. 또한, 두 번째 펄스 폭은 두 번째 반사 지점(B)의 위치에서의 두 파장(a nm, b nm)의 지연차를 의미하므로두 번째 반사 위치를 추정할 수 있다.
또한, 도 3의 (c)에서 두 펄스 간의 간격을 통하여 두 반사 위치의 거리차를 추정할 수 있다.
또한, 두 펄스의 세기 값과, 세기 값의 차를 이용하여 광 선로 상에서의 손실 값 등을 계산할 수 있다.
이와 같이, 일 실시예에 따르면 서로 다른 파장의 듀얼 광원을 이용함으로써 광 선로 상의 반사 위치 추정 및 반사 위치의 상호 거리차를 용이하게 측정이 가능하다.
도 4는 일 실시예에 따른 광 선로 감시 방법의 흐름도이다.
도 4의 실시예에 따른 광 선로 감시 방법은 듀얼 광원을 포함하는 광 선로 감시 장치에 의해 수행되는 일 실시예일 수 있다.
광 선로 감시 장치는 서로 다른 파장의 제1 광원 및 제2 광원을 포함하는 광송신기와, 제1 광원의 파장에 상응하는 반사광을 수신하는 제1 광 수신 모듈 및 제2 광원의 파장에 상응하는 반사광을 수신하는 제2 광 수신 모듈을 포함하는 광 수신기를 포함할 수 있다.
도 4를 참조하면, 광 선로 감시 방법은 먼저, 광 송신기가 제1 광원 및 제2 광원을 구동한다(410).
이때, 광 송신기는 제1 광원 및 제2 광원의 출력 특성이 동일한 형태가 되도록 하나의 전기적인 신호로 제1 광원 및 제2 광원을 동시에 구동할 수 있다. 도 2a는 이와 같이 하나의 전기적인 신호로 제1 광원 및 제2 광원을 동시에 구동함으로써, 제1 광원 및 제2 광원에서 출력되는 각각의 서로 다른 파장(a nm, b nm)의 광이 동일한 형태의 출력 특성을 갖게 되는 것을 보여준다.
그 다음, 광 결합기는 광 송신기의 제1 광원 및 제2 광원으로부터 각각 출력되는 제1 감시광 및 제2 감시광을 결합하고(420), 결합된 감시광을 광 선로에 전파할 수 있다(430).
그 다음, 파장 분배기 또는 파장 필터는 광 선로상에서 반사되어 회귀하는 반사광을 제1 반사광 및 제2 반사광으로 분배할 수 있다(440).
도 2b는 광 선로상에 전파된 감시광이 두 반사 지점(A,B)에서 반사되어 회귀하는 것을 보여준다. 이와 같이, 두 반사 지점(A,B)에서 일정 간격을 두고 반사된다.
이때, 파장 분배기는 광 선로상에서 반사된 반사광을 제1 광원에 의해 출력된 제1 감시광의 파장에 상응하는 제1 반사광과, 제2 광원에 의해 출력된 제2 감시광의 파장에 상응하는 제2 반사광으로 분배할 수 있다.
그 다음, 광 수신기의 제1 광 수신 모듈은 제1 광원의 파장에 상응하는 제1 반사광을 수신하고, 제2 광 수신 모듈은 제2 광원의 파장에 상응하는 제2 반사광을 수신할 수 있다(450).
도 3을 참조하여, 보다 상세히 설명한 바와 같이, 광수신기는 제1 광 수신 모듈 및 제2 광 수신 모듈에 의해 수신된 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 광전 변환하고, 그 결과 생성된 각 펄스 신호를 차분할 수 있다. 그 다음, 그 차분 결과를 이용하여 반사 위치를 추정할 수 있다. 또한, 광수신기는 광전 변환된 각 펄스 신호의 세기를 기초로 광 선로 상에서의 손실값을 산출할 수 있다.
도 3의 (a) 및 (b)의 그림은 두 개의 반사 지점(A,B)를 회귀한 결과로서 계단형의 결과를 보여주는 그래프를 나타내며, 이와 같이 일반적인 계단형의 특성을 통하여는 정확한 반사 지점의 위치를 판별하기 어렵다. 따라서, 일 실시예에 따른 광수신기는 이 두 신호를 차분하여 계산하고, 그 결과로서 획득되는 도 3의 (c)와 같은 그래프를 통해 보다 명확하게 광 선로 상의 반사 위치를 추정할 수 있게 된다.
예컨대, 도 3의 (c)의 그래프에서 첫 번째 펄스 폭은 첫 번째 반사 지점(A)의 위치에서의 두 파장(a nm, b nm)의 지연차를 의미하므로 첫 번째 반사 위치를 추정할 수 있고, 두 번째 펄스 폭은 두 번째 반사 지점(B)의 위치에서의 두 파장(a nm, b nm)의 지연차를 의미하므로두 번째 반사 위치를 추정할 수 있다. 또한, 도 3의 (c)에서 두 펄스 간의 간격을 통하여 두 반사 위치의 거리차를 추정하는 것도 가능하다. 또한, 광수신기는 두 펄스의 세기 값과 세기 값의 차를 이용하여 광 선로 상에서의 손실 값 등을 계산할 수 있다.
한편, 일반적인 광 선로 감시 방법들은 일정한 펄스 폭을 지닌 광원을 사용하여 광 선로를 감시하였고 또한, 인접한 반사 위치 추정의 정밀도를 높이기 위해 펄스 폭이 좁은 고속의 광원을 사용하였다. 하지만, 이와 같이 좁은 펄스 폭을 지닌 고속 광원은 정밀도를 높일 수 있는 반면에, 평균 광 전력이 작기 때문에 장거리를 측정하기 위해서는 고출력의 광원을 사용해야 하는 문제가 있었다. 이러한 고속, 고출력의 광원은 광 선로 감시 장치의 가격을 상승시키는 주된 요인이 되었다.
하지만, 개시된 일 실시예들에 따르면 저속의 광원과 광수신기만을 구비하여도 정밀한 반사 위치 추정이 가능하여 광모듈의 경제적인 장점을 가질 수 있으며, 두 파장의 수신된 결과를 처리하여 여러 종류의 정보를 용이하게 추정 및 산출할 수 있다.
본 개시가 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 개시된 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
100: 광 선로 감시 장치
110: 광송신기
111: 제1 광원
112: 제2 광원
120: 광수신기
121: 제1 광수신 모듈
122: 제2 광수신 모듈
130: 광 결합기
140: 파장 분배기
150: 광 분배기
110: 광송신기
111: 제1 광원
112: 제2 광원
120: 광수신기
121: 제1 광수신 모듈
122: 제2 광수신 모듈
130: 광 결합기
140: 파장 분배기
150: 광 분배기
Claims (12)
- 서로 다른 파장의 광을 출력하는 제1 광원 및 제2 광원을 포함하고, 상기 제1 광원 및 제2 광원을 구동하여 광 선로에 제1 감시광 및 제2 감시광을 전파하는 광송신기; 및
상기 광 선로에서 반사되는 제1 반사광 및 제2 반사광을 수신하는 제1 광 수신 모듈 및 제2 광 수신 모듈을 포함하는 광수신기를 포함하고,
상기 제1 반사광 및 제2 반사광은,
상기 제1 감시광 및 제2 감시광이 상기 광 선로에서 반사되어 회귀되는 광이며,
상기 광수신기는,
상기 수신된 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 광전 변환하여 생성된 제1 및 제2펄스 신호를 차분하고, 차분 결과를 이용하여 두 반사 위치에 대한 거리차를 추정하는 광 선로 감시 장치. - 제1항에 있어서,
상기 광송신기는 상기 제1 광원 및 제2 광원의 출력 특성이 동일한 형태가 되도록 상기 제1 광원 및 제2 광원을 하나의 전기적인 신호로 동시에 구동하는 광선로 감시 장치. - 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 광수신기는 상기 광전 변환된 상기 제1 및 제2펄스 신호의 세기값을 산출하고, 상기 제1 및 제2펄스 신호의 세기값의 차이값을 산출하고, 산출된 결과를 기초로 광선로 상에서의 손실값을 산출하고, 산출된 손실값을 기초로 상기 광선로의 장애 여부를 판단하는 광선로 감시 장치. - 제1항에 있어서,
상기 광 선로에 광학적으로 접속되어 상기 제1 감시광 및 제2 감시광을 결합하여 광 선로에 전파하는 광 결합기를 더 포함하는 광선로 감시 장치. - 제5항에 있어서,
상기 광 결합기에 의해 결합되어 전파된 감시광이 광 선로에서 반사되면, 그 반사광을 상기 제1 반사광 및 제2 반사광으로 분배하여 상기 제1 광 수신 모듈과 제2 광 수신 모듈로 입력하는 파장 분배기를 더 포함하는 광선로 감시 장치. - 광 선로 감시 방법에 있어서,
서로 다른 파장의 광을 출력하는 제1 광원 및 제2 광원을 구동하는 단계;
상기 제1 광원 및 제2 광원의 구동에 의해 출력된 제1 감시광 및 제2 감시광을 광 선로에 전파하는 단계;
제1 광 수신 모듈 및 제2 광 수신 모듈을 통해 상기 광 선로에서 반사되는 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 수신하되, 상기 제1 반사광 및 제2 반사광은 상기 제1 감시광 및 제2 감시광이 상기 광 선로에서 반사되어 회귀되는 광인 것을 특징으로 하는 단계;
상기 수신된 제1 반사광 및 제2 반사광을 각각 광전 변환하여 생성된 제1 및 제2펄스 신호를 차분하는 단계; 및
상기 차분 결과를 이용하여 두 반사 위치에 대한 거리차를 추정하는 단계를 포함하는 광 선로 감시 방법. - 제7항에 있어서,
상기 제1 광원 및 제2 광원을 구동하는 단계는
상기 제1 광원 및 제2 광원의 출력 특성이 동일한 형태가 되도록 상기 제1 광원 및 제2 광원을 하나의 전기적인 신호로 동시에 구동하는 광선로 감시 방법. - 삭제
- 제7항에 있어서,
상기 광전 변환된 상기 제1 및 제2펄스 신호의 세기값을 산출하고, 상기 제1 및 제2펄스 신호의 세기값의 차이값을 산출하고, 산출된 결과를 기초로 광선로 상에서의 손실값을 산출하는 단계; 및
상기 손실값을 기초로 상기 광 선로의 장애 여부를 판단하는 단계를 더 포함하는 광선로 감시 방법. - 제7항에 있어서,
상기 제1 광원 및 제2 광원으로부터 출력되는 서로 다른 파장의 제1 감시광 및 제2 감시광을 결합하는 단계를 더 포함하고,
상기 광 선로에 전파하는 단계는 상기 결합된 감시광을 광 선로에 전파하는 광선로 감시 방법. - 제11항에 있어서,
상기 광 선로에 전파된 감시광이 광 선로에서 반사되면, 그 반사광을 상기 제1 반사광 및 제2 반사광으로 분배하는 단계를 더 포함하는 광선로 감시 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150022660A KR102285347B1 (ko) | 2015-02-13 | 2015-02-13 | 듀얼 광원을 이용한 광 선로 감시 장치 및 방법 |
US15/042,670 US20160238483A1 (en) | 2015-02-13 | 2016-02-12 | Optical fiber cable monitoring apparatus and optical fiber cable monitoring method using dual light source |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150022660A KR102285347B1 (ko) | 2015-02-13 | 2015-02-13 | 듀얼 광원을 이용한 광 선로 감시 장치 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160100107A KR20160100107A (ko) | 2016-08-23 |
KR102285347B1 true KR102285347B1 (ko) | 2021-08-03 |
Family
ID=56621065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020150022660A KR102285347B1 (ko) | 2015-02-13 | 2015-02-13 | 듀얼 광원을 이용한 광 선로 감시 장치 및 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160238483A1 (ko) |
KR (1) | KR102285347B1 (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102002725B1 (ko) * | 2018-05-08 | 2019-10-01 | 에스팩 주식회사 | 중심국 터미널를 중심으로 루프 네트워크로 형성된 수동광가입자망 네트워크의 리모트노드 인식 구조 |
CN110518969B (zh) * | 2019-09-19 | 2024-01-16 | 桂林聚联科技有限公司 | 一种光缆振动的定位装置及方法 |
CN112532337B (zh) * | 2020-12-07 | 2022-10-18 | 无锡科晟光子科技有限公司 | 分布式高精度光纤振动入侵与在线监测探测器 |
JP7320022B2 (ja) * | 2021-04-22 | 2023-08-02 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
JP2022167095A (ja) * | 2021-04-22 | 2022-11-04 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140362367A1 (en) * | 2013-06-10 | 2014-12-11 | General Photonics Corporation | Distributed fiber bend and stress measurement for determining optical fiber reliability by multi-wavelength optical reflectometry |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01141331A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
EP2274595B1 (en) * | 2008-05-09 | 2017-11-15 | AFL Telecommunications LLC | Optical time-domain reflectometer |
-
2015
- 2015-02-13 KR KR1020150022660A patent/KR102285347B1/ko active IP Right Grant
-
2016
- 2016-02-12 US US15/042,670 patent/US20160238483A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US20140362367A1 (en) * | 2013-06-10 | 2014-12-11 | General Photonics Corporation | Distributed fiber bend and stress measurement for determining optical fiber reliability by multi-wavelength optical reflectometry |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160238483A1 (en) | 2016-08-18 |
KR20160100107A (ko) | 2016-08-23 |
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