JP2001021452A - 光パルス試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 連続測定で測定した各種測定データをファイ
ル単位で一覧表示し、作業者による現場での伝送線路の
評価作業の効率化を図る。 【解決手段】 被測定光ファイバに入射される光パルス
のパルス幅又は波長、距離レンジの少なくとも一つを変
え、連続して被測定光ファイバの各種測定を行う光パル
ス試験システムであり、連続測定から得られる測定結果
の中からスプライスロス、リターンロス、単位長損失に
ついては絶対値による最大値の測定データを、またトー
タルロス、トータルリターンロスについては測定データ
をそれぞれ抽出して１つのファイルとして１回の測定毎
にテーブル形式で表示部１９の表示画面上にテーブル画
面１９ｂとして一覧表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数本の光ファイ
バを所定の区間毎でコネクタ接続、又は融着接続して伝
送線路を形成する際に、光ファイバに対して光源から光
パルスを入射し、この光パルスの入射に伴って被測定光
ファイバから戻ってくる反射光（後方散乱光、フレネル
反射光）を光−電気変換して信号処理することにより光
ファイバの損失や障害点等の各種測定を行う光パルス試
験システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】光ファイバを用いた光通信システムで
は、複数本の光ファイバを所定の区間毎でコネクタ接
続、又は融着接続することにより１つの伝送線路が形成
されている。

【０００３】そして、上記伝送線路の敷設時には、試験
対象となる伝送線路の光ファイバに光パルスを入射し、
この光パルスの入射に伴う反射光を信号処理して各種測
定を行う光パルス試験器が用いられる。

【０００４】図５はこの種の測定に用いられる光パルス
試験器の概略構成を示すブロック図である。

【０００５】図５に示すように、光パルス試験器は、タ
イミング発生部１１、発光部（光源）１２、光結合器１
３、受光部１４、増幅部１５、Ａ／Ｄコンバータ部１
６、加算回路部１７、演算制御部１８、表示部１９を備
えて構成される。

【０００６】光パルス試験器では、タイミング発生部１
１からの信号で駆動される発光部１２より出射された光
パルスが光結合器１３を介して被測定光ファイバＷに入
射される。そして、この光パルスの入射に伴って被測定
光ファイバＷから反射して戻ってくる反射光を再び光結
合器１３を介して受光部１４で受光し、増幅部１５で所
定の増幅率で増幅してＡ／Ｄコンバータ部１６に導く。
Ａ／Ｄコンバータ部１６では、増幅部１５の出力を所定
のサンプリング周期でサンプリングした後、このサンプ
リングされた各データを加算回路部１７に供給する。加
算回路部１７では、サンプリングされた各データを所定
時間加算してアベレージング処理する。このアベレージ
ング処理された各データは演算制御部１８に供給され
る。演算制御部１８では、アベレージング処理された各
データに基づいて各種測定に関する演算を行い、その結
果が波形データや数値データとして表示部１９に表示さ
れる。

【０００７】ところで、上記光パルス試験器を用いた伝
送線路の試験は、例えば光ファイバが多芯で形成される
場合、個々の光ファイバについて各種測定を行い、不良
の光ファイバについては再度試験が行われる。そして、
全ての光ファイバの測定結果が正常であれば、引き続い
て連続測定による通し試験が行われる。

【０００８】ここで、連続測定とは、基本設定を変えず
に同一条件で光パルス試験器に接続される光ファイバを
順次切り替えて連続的に測定したり、１本の光ファイバ
に入射される光パルスの波長を順次切り替えて連続的に
測定することである。その他の変更項目としては距離レ
ンジなどがある。

【０００９】また、上記伝送線路の良否を評価する上
で、接続箇所でのスプライスロスやリターンロス、光フ
ァイバの区間毎の単位長損失、光ファイバの口元から終
端までのトータルロスやトータルリターンロスなどの測
定が行われる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光パルス試験器は、伝送線路が敷設される現場で連続測
定によって得られるデータをフロッピーディスクなどの
外部記憶媒体に保存することに止まり、これらのデータ
により伝送線路の評価処理を現場で行うことができなか
った。このため、保存したデータを現場から持ち帰り、
データ解析して伝送線路の評価を行った後、不良と評価
された伝送線路に関して再度現場で測定を行う必要があ
った。

【００１１】このように、従来の光パルス試験器では、
現場で得られる測定データに基づいてその場で伝送線路
の評価作業を現場で行うことができず、作業効率が悪い
という課題があった。

【００１２】そこで、本発明は、上記問題点に鑑みてな
されたものであり、連続測定で測定した各種測定データ
をファイル単位で一覧表示し、作業者による現場での伝
送線路の評価作業の効率化が図れる光パルス試験システ
ムを提供することを目的としている。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明は、被測定光ファイバに入射される
光パルスのパルス幅、前記被測定光ファイバに入射され
る光パルスの波長、距離レンジの少なくとも一つを変
え、連続して前記被測定光ファイバの損失や障害点等の
各種測定を行う光パルス試験システムにおいて、前記連
続測定によって得られた個々の測定結果の中からスプラ
イスロス、リターンロス、単位長損失については絶対値
による最大値の測定データを、また前記連続測定によっ
て得られた個々の測定結果の中からトータルロス、トー
タルリターンロスについては測定データをそれぞれ抽出
して１つのファイルとして１回の測定毎にテーブル形式
で表示画面上に一覧表示する手段を備えたことを特徴と
する。

【００１４】請求項２の発明は、請求項１の光パルス試
験システムにおいて、前記テーブル形式で表示画面上に
一覧表示された複数の測定結果の個々の測定項目の測定
データと予め設定された基準データとを比較し、該基準
データの値を越える測定データを強調表示することを特
徴とする。

【００１５】請求項３の発明は、請求項１又は２の光パ
ルス試験システムにおいて、前記テーブル形式で表示画
面上に一覧表示された複数のファイルの中から選択され
たファイルの個々の測定データ及び該測定データに基づ
く波形データを表示画面上に表示することを特徴とす
る。

【００１６】

【発明の実施の形態】図１は本発明による光パルス試験
システムの機能ブロック図、図２は同システムにおける
連続測定の設定画面の一例を示す図、図３は同システム
における基本測定の設定画面の一例を示す図、図４は連
続測定に関する各種測定項目の測定データのテーブル画
面を示す図である。

【００１７】本例における光パルス試験システムは、通
常の測定に関する構成及び動作に関して、図５に示す光
パルス試験器とほぼ同等であるので、その説明を省略し
ている。なお、連続測定を行う場合には、発光部１２か
ら出射される光パルスの波長（例えば１．３１μｍと
１．５５μｍ）の切り替え制御、又は複数本の被測定光
ファイバＷが接続された光スイッチユニット（不図示）
を光結合器１３に取り付け、光スイッチユニットのチャ
ンネル切り替え制御がなされる。

【００１８】図１に示すように、光パルス試験システム
１は、測定条件設定手段２、制御手段（ＣＰＵ）３、記
憶手段４を備えている。

【００１９】測定条件設定手段２は、被測定光ファイバ
Ｗの測定に関する各種設定条件を操作パネル５からの入
力操作により設定しており、これらの設定情報は制御手
段３の後述する測定実行手段３ａと表示制御手段３ｄに
入力される。

【００２０】具体的に、被測定光ファイバＷの各種特性
を測定するにあたって、基本設定となる例えば入射され
る光パルスの波長、距離レンジ、アベレージ回数等が表
示部１９の不図示のセットアップ画面から操作パネル５
の入力操作により設定されるようになっている。

【００２１】すなわち、測定条件設定手段２では、後述
する連続測定の基本となる条件を設定している。この場
合の測定条件とは、まず、最初に１回だけ測定を行い、
被測定光ファイバＷに適切な距離レンジ、パルス幅、波
長、アベレージ回数を求める。そして、被測定光ファイ
バＷに対して、マーカ位置を設定する。又はイベント点
を設定する。なお、マーカの設定はユーザが自身で行う
こともできるし、装置が自動で設定することもできる。

【００２２】具体的には、図３に示すような画面が表示
部１９の表示画面に表示されている状態で、被測定光フ
ァイバＷにあった測定条件を設定する。この測定条件
は、ユーザが設定するか、又は装置が自動的に適切な条
件として設定する。続いて、スタートキーを押し、被測
定光ファイバＷに光を出射してデータを作成する。その
後、測定データに対してユーザはマーカ位置を設定す
る。又はイベント位置を設定する。このマーカ位置、イ
ベント位置は装置が自動的に設定することもできる。以
上の動作により基本測定条件が決定される。

【００２３】また、測定条件設定手段２は、連続測定を
行う際、上記基本設定における変更部分の設定が必要に
応じて行えるようになっている。具体的には、図２に示
すような連続測定設定画面１９ａが表示部１９の表示画
面に表示されている状態で、光入力ポートのチャンネ
ル、波長、セーブディレクトリ、ファイルタイプ、ファ
イル名、プリントのオン・オフ、連続測定実行回数など
の連続測定を行うために必要な各種測定条件が操作パネ
ル５の入力操作により設定できるようになっている。

【００２４】さらに、測定条件設定手段２は、連続測定
に関する各種測定項目（スプライスロス、リターンロ
ス、単位長損失、トータルロス、トータルリターンロ
ス）毎の基準データ（警告レベル）が操作パネル５から
の入力操作により設定できるようになっている。この基
準データは、規格値を元にユーザの入力操作により任意
に設定される。

【００２５】図２に示すように、操作パネル５には、表
示部１９に表示される設定画面の所定の項目に位置する
カーソル２０を移動させるための矢印キー５ａ、カーソ
ル２０が位置する項目を選択するためのセレクトキー５
ｂ、複数のファンクションキー５ｃ（以下、Ｆキーと略
称する）、測定の開始を指示するためのスタートキー５
ｄなどが設けられている。

【００２６】なお、各Ｆキー５ｃ（Ｆ１〜Ｆ５）は、表
示部１９の表示画面に表示される項目メニューと対応付
けして機能が割り当てられており、押下されたＦキー５
ｃの機能に対応する画面（例えば図２に示すような連続
測定設定画面１９ａ）が表示部１９に表示されるように
なっている。

【００２７】制御手段３は、測定実行手段３ａ、代表値
抽出手段３ｂ、ファイル選択手段３ｃ、表示制御手段３
ｄを備えて構成される。

【００２８】測定実行手段３ａは、図５の一点鎖線で囲
んだ部分の構成（タイミング発生部１１、発光部１２、
光結合器１３、受光部１４、増幅部１５、Ａ／Ｄコンバ
ータ部１６、加算回路部１７、演算制御部１８）に該当
するものである。

【００２９】すなわち、測定実行手段３ａは、測定条件
設定手段２の設定に基づき、被測定光ファイバＷに光パ
ルスを入射し、この光パルスの入射に伴う被測定光ファ
イバＷからの反射光を光−電気変換して信号処理してい
る。これにより、測定条件設定手段２の設定に基づく各
種測定項目の測定データを得ている。そして、この各種
測定項目の測定データを１回の測定毎に記憶手段４の後
述する測定データ記憶手段４ａに記憶している。

【００３０】代表値抽出手段３ｂは、測定実行手段３ａ
によって１回の測定毎に得られて測定データ記憶手段４
ａに記憶される各種測定項目の測定データを読み出し、
この読み出した測定データの中から代表値を抽出してい
る。

【００３１】さらに説明すると、代表値抽出手段３ｂ
は、スプライスロス、リターンロス、単位長損失の測定
項目の測定データについては絶対値による最大値の測定
データを抽出している。これに対し、トータルロス、ト
ータルリターンロスの測定項目の測定データについて
は、読み出した測定データをそのまま抽出している。

【００３２】ファイル選択手段３ｃは、図４に示すよう
に、連続測定に関する各種測定項目の測定データがテー
ブル形式で画面表示されている状態で、記憶手段４の後
述する履歴テーブル記憶手段４ｂの所望のファイルを操
作パネル５からの入力操作により選択しており、このと
きの選択情報は表示制御手段３ｄに入力される。

【００３３】具体的には、図４に示す連続測定結果のテ
ーブル画面１９ｂ上のカーソル２０を操作パネル５の矢
印キー５ａで操作して所望のファイル上に位置させ、そ
の状態で「View trace」に対応するＦキー５ｃ（Ｆ３）
を押下することによりファイルを選択している。

【００３４】表示制御手段３ｄは、測定条件設定手段２
からの測定条件、代表値抽出手段３ｂで抽出された測定
毎のファイルデータ、ファイル選択手段３ｃからの選択
情報、記憶手段４の後述する測定データ記憶手段４ａに
記憶された測定データに基づいて表示部１９の画面内容
の表示を制御している。

【００３５】また、表示制御手段３ｄは、記憶手段４の
後述する測定データ記憶手段４ａに記憶された連続測定
に関する各種項目の測定データと、測定条件設定手段２
で設定された基準データとの比較結果に基づいて表示部
１９に表示される連続測定結果のテーブル画面１９ｂの
表示を制御している。

【００３６】具体的には、表示部１９に連続測定結果の
テーブル画面１９ｂを一覧表示する際、基準データを越
える測定項目の測定データ及びその測定データを含むフ
ァイルを強調表示している。この強調表示としては、例
えばウインドゥ内を反転表示したり、ウインドゥ内の測
定データの文字色（例えば赤色）を変える等の手法があ
る。

【００３７】記憶手段４は、例えば外付けのハードディ
スクなどで構成され、測定データ記憶手段４ａと履歴テ
ーブル記憶手段４ｂを備えて構成される。測定データ記
憶手段４ａは、測定実行手段３ａによって得られる各種
測定項目に関する測定データを記憶している。履歴テー
ブル記憶手段４ｂは、代表値抽出手段３ｂで抽出された
連続測定に関する各種測定項目の測定データを１回の測
定毎にファイル単位のデータ（図４に示すテーブル画面
の各ファイル単位のデータ）として記憶している。

【００３８】次に、上記構成によるパルス試験システム
１において、制御手段３の制御の元に実行される連続測
定時の動作について説明する。

【００３９】（１）まず、図３に示すような画面が表示
部１９の表示画面に表示されている状態で、被測定光フ
ァイバＷに入射される光パルスの波長、距離レンジ、ア
ベレージ回数等の基本測定条件の設定を行う。その後、
操作パネル５のスタートキー５ｄを押下して測定を１回
実行し、波形をサンプリングして各種測定項目に関する
測定データを得る。

【００４０】（２）続いて、連続測定を行うために必要
な測定条件として、前記基本測定条件の変更部分の設定
を行う。具体的には、光入力ポートのチャンネル、波
長、ファイルのセーブディレクトリ、ファイルタイプ、
プリントのオン・オフ、連続測定実行回数などの測定条
件を操作パネル５からの入力操作により設定する。この
設定を終えた後、操作パネル５のスタートキー５ｄを押
下して連続測定を開始する。

【００４１】（３）上記測定によって得られる測定デー
タを測定データ記憶手段４ａに記憶すると同時に、スプ
ライスロス、リターンロス、単位長損失については測定
データの中から絶対値で最大値を算出し、この算出され
た最大値を抽出する。また、トータルロス及びトータル
リターンロスについては、測定データ自身が伝送線路全
体の値なので、測定データの値をそのまま抽出する。

【００４２】（４）次に、抽出した各種測定項目（スプ
ライスロス、リターンロス、単位長損失、トータルロ
ス、トータルリターンロス）の測定データをテーブル形
式に展開し、表示部１９に連続測定結果のテーブル画面
１９ｂとして一覧表示する。このとき、抽出した各種測
定項目の測定データは、予め設定された基準データ（警
告レベル）と比較され、基準データを越える測定データ
と、その測定データを含むファイル名とが強調表示され
る。

【００４３】以下、上記（３）、（４）による測定を繰
り返す（連続測定）。そして、連続測定が終了し、表示
部１９の表示画面上に連続測定結果のテーブル画面１９
ｂが表示されている状態で、操作パネル５の矢印キー５
ａにより初期値を越えた測定データを含むファイルが選
択され、表示画面上の「View trace」に対応するＦキー
５ｃ（Ｆ３）が押下されると、そのファイルに関する測
定データが測定データ記憶手段４ａから読み出され、そ
の測定データとともに波形が表示部１９の表示画面上に
表示される。その際、連続測定結果のテーブル画面１９
ａは表示部１９の表示画面上から消える。

【００４４】なお、連続測定結果のテーブル画面１９ｂ
を表示部１９に表示する機能を、例えば表示部１９にポ
ップアップ表示される項目の一つとしてＦキーに割り当
てたり、操作パネル５に設けられる独立キーに割り当て
ておけば、上記Ｆキーや独立キーの操作により、上記測
定データとともに波形が表示されている状態で、再び連
続測定結果のテーブル画面１９ｂを表示部１９に表示さ
せることができる。

【００４５】このように、本実施の形態によれば、連続
測定が行われると、その測定結果の中からスプライスロ
ス、リターンロス、単位長損失については絶対値による
最大値の測定データを、またトータルロス、トータルリ
ターンロスについては測定データをそれぞれ抽出して１
つのファイルとして１回の測定毎にテーブル画面１９ｂ
として表示部１９に一覧表示される。

【００４６】これにより、現場の作業者は、表示部１９
に一覧表示されたテーブル画面１９ｂを見るだけで、連
続測定結果をその場で容易に把握することができる。

【００４７】また、テーブル画面１９ｂに表示される連
続測定の各種測定データは、１回の測定が行われる毎に
予め設定された基準データと比較され、基準データを越
える測定データについては強調表示されるので、異常デ
ータを一目で把握することができ、伝送線路の評価をそ
のまま現場で行うことができる。しかも、異常データを
含むファイルに関する再測定を即座に実行でき、作業効
率の向上を図ることができる。具体的には、テーブル画
面１９ｂが表示されている状態で、操作パネル５の矢印
キー５ａにより初期値を越えた測定データを含むファイ
ルが選択され、表示画面上の「View trace」に対応する
Ｆキー５ｃ（Ｆ３）が押下されると、そのファイルに関
する測定データが測定データ記憶手段４ａから読み出さ
れ、スタートキー５ｄを押下することにより再測定を行
うことができる。

【００４８】さらに、テーブル画面１９ｂにおける複数
のファイルの中から所定のファイルが操作パネルの入力
操作により選択されると、この選択されたファイルの個
々の測定データ及び波形データが測定データ記憶手段４
ｂから読み出されて表示部１９に表示されるので、異常
データを含むファイルに関する詳細なデータについて
も、現場に居ながら即座に解析して評価することができ
る。

【００４９】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
請求項１に係る光パルス試験システムによれば、連続測
定で得られる各種測定項目の測定データがファイル単位
で一覧表示されるので、現場の作業者は、一覧表示され
たテーブル画面を見るだけで、連続測定結果をその場で
容易に把握することができる。

【００５０】請求項２に係る光パルス試験システムによ
れば、テーブル画面に表示される連続測定の各種測定デ
ータは、１回の測定が行われる毎に予め設定された基準
データと比較され、基準データを越える測定データにつ
いては強調表示されるので、異常データを一目で把握す
ることができ、伝送線路の評価をそのまま現場で行うこ
とができる。しかも、異常データを含むファイルに関す
る再測定を即座に実行でき、作業効率の向上を図ること
ができる。

【００５１】請求項３に係る光パルス試験システムによ
れば、テーブル画面における複数のファイルの中から所
定のファイルが選択されると、この選択されたファイル
の個々の測定データ及び波形データが表示されるので、
異常データを含むファイルに関する詳細なデータについ
ても、現場に居ながら即座に解析して評価することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光パルス試験システムの機能ブロ
ック図

【図２】同システムにおける連続測定の設定画面の一例
を示す図

【図３】同システムにおける基本測定の設定画面の一例
を示す図

【図４】連続測定に関する各種測定項目の測定データの
テーブル画面を示す図

【図５】光パルス試験器の概略構成を示すブロック図

【符号の説明】

１…光パルス試験システム、２…測定条件設定手段、３
…制御手段、３ａ…測定実行手段、３ｂ…代表値抽出手
段、３ｃ…ファイル選択手段、３ｄ…表示制御手段、４
…記憶手段、４ａ…測定データ記憶手段、４ｂ…履歴テ
ーブル記憶手段、５…操作パネル、１９…表示部。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀 重雄 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 (72)発明者 玉腰 政昭 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 Ｆターム(参考） 2G086 CC03 2H038 AA02 AA41

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定光ファイバに入射される光パルス
   のパルス幅、前記被測定光ファイバに入射される光パル
   スの波長、距離レンジの少なくとも一つを変え、連続し
   て前記被測定光ファイバの損失や障害点等の各種測定を
   行う光パルス試験システムにおいて、 前記連続測定によって得られた個々の測定結果の中から
   スプライスロス、リターンロス、単位長損失については
   絶対値による最大値の測定データを、また前記連続測定
   によって得られた個々の測定結果の中からトータルロ
   ス、トータルリターンロスについては測定データをそれ
   ぞれ抽出して１つのファイルとして１回の測定毎にテー
   ブル形式で表示画面上に一覧表示する手段を備えたこと
   を特徴とする光パルス試験システム。
2. 【請求項２】 前記テーブル形式で表示画面上に一覧表
   示された複数の測定結果の個々の測定項目の測定データ
   と予め設定された基準データとを比較し、該基準データ
   の値を越える測定データを強調表示することを特徴とす
   る請求項１記載の光パルス試験システム。
3. 【請求項３】 前記テーブル形式で表示画面上に一覧表
   示された複数のファイルの中から選択されたファイルの
   個々の測定データ及び該測定データに基づく波形データ
   を表示画面上に表示することを特徴とする請求項１又は
   ２記載の光パルス試験システム。