JPH11174119A - 半導体素子検査機の素子間隙調節装置 - Google Patents

半導体素子検査機の素子間隙調節装置

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JPH11174119A JP10278049A JP27804998A JPH11174119A JP H11174119 A JPH11174119 A JP H11174119A JP 10278049 A JP10278049 A JP 10278049A JP 27804998 A JP27804998 A JP 27804998A JP H11174119 A JPH11174119 A JP H11174119A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数個のリンクを使用することなく、素子を
吸着するピックアップの間隙を必要に応じて速い時間内
に正確に調節可能である半導体素子検査機の素子間隙調
節装置を提供する。 【解決手段】 半導体素子検査機の素子間隙調節装置
は、ガイドレールに沿って水平移動可能に設けられた移
送板26と、前記移送板26に固定された取付板28
と、前記取付板28に垂直LMガイダーによって昇降動
可能に設けられた昇降板30と、前記昇降板30に回転
可能に設けられ、外周面上には複数のカム溝36が放射
状に形成されたカム軸32と、前記カム軸32を回転さ
せる回転シリンダ34と、前記カム溝36にその上部が
嵌め込まれた状態で水平LMガイダー35a,35bに
よって水平移動可能に設けられた複数個のピックアップ
手段Pとを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体工程で生産
完了された半導体素子の性能を検査する半導体素子検査
機に関し、特に顧客トレー(custom tray)内に収容され
ていた複数の素子を吸着して検査機の位置決定ブロック
に移送する際、吸着された素子間の間隙を、位置決定ブ
ロックの素子収容空間部のピッチに合わせて調節する半
導体素子検査機の素子間隙調節装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体素子が収容されて保管さ
れる、又は半導体素子の生産に応ずる工程間の移送時に
用いられるプラスチック製の顧客トレーは、生産業者別
に模様、容量、及び素子の収容される複数の空間部のピ
ッチを各々異ならせて制作されている。この類の顧客ト
レーに形成される空間部は、素子を受容する機能しかな
いので、あまり精密に加工されてない。しかしながら、
テストトレーに形成される、テストする素子が収容され
る空間部は、前記テストトレー内へローディングされた
素子をテストコンタクタ(素子のリードが接続されてテ
スタと電気的に連結される役割を果たすコンタクタ)に
完ぺきに接触させるために精密に制作されている。
【0003】従って、顧客トレー内に収容された素子を
テストトレー内の空間部に移すためには、顧客トレー内
に収容されていた素子を、精密加工された別途の位置決
定ブロックに運搬して各素子の位置を再決定し、この後
テストトレー内に移送させる。こうする場合にのみ素子
の正確なローディングが可能である。このために、半導
体素子検査機は、素子を移す役割を果たすピックアップ
を装着した移送手段を有する。
【0004】図1〜図4は、本出願人によって先に出願
された大韓民国実用新案95−7512号の技術を示し
ている。以下、該技術について説明する。上板1には第
1水平LMガイダー2に沿って水平移動する取付板3が
設けられており、前記取付板3の下方には第1シリンダ
4の駆動によって昇降するピックアップブロック5が設
けられている。そして、ピックアップブロック5には、
取付板3の移動方向と同方向に第2水平LMガイダー6
に沿って移動する複数個のスライダー7が結合されてい
る。前記各スライダー7には第2シリンダ8の駆動によ
って垂直LMガイダー9に沿って昇降するピックアップ
ヘッド11が設けられている。前記各ピックアップヘッ
ド11の底面には真空圧により素子20を吸着するピッ
クアップ10が固定されている。
【0005】前記各スライダー7の上部には、図3及び
図4に示すようにピン12が固定され、ピックアップブ
ロック5の上部の長孔5aを介して露出されている。前
記各ピン12は第1リンク13の中心に結合されてい
る。前記第1リンク13の両端には、分割形成された第
2リンク14の一端がピン15により結合されている。
そのため、前記第1及び第2リンク13、14は相互に
連動される。ピックアップブロック5上の第3シリンダ
16の駆動によって進退運動するガイド片17にガイド
溝17aが形成されている。前記第1リンク13のう
ち、中間に位置する第1リンク13の先端にはガイド溝
17aにはめ込まれる突起18が形成されている。
【0006】上記構造の素子間隙調節装置は、顧客トレ
ー19の空間部19a内に収容された素子20を吸着す
るピックアップ10が上死点に位置し、且つスライダー
7が内側に引っ込まれた状態から動作する。取付板3が
第1水平LMガイダー2に沿って移送されて、顧客トレ
ー19に形成された空間部19aの1列に一致される
と、そのことが感知手段(図示せず)により感知されて
スライダー7の移送が中断される。
【0007】この状態で、取付板3に固定された第1シ
リンダ4の駆動によってピックアップブロック5が下死
点に到達されると、各スライダー7に固定された、ピッ
クアップヘッド11を昇降させる第2シリンダ8が動作
するようになる。これにより、前記ピックアップヘッド
11の先端に固定されたピックアップ10が、図2の一
点鎖線に示されるように下降して、顧客トレー19の空
間部19aに収容された素子20の上面に接触される。
その後、空気圧によりピックアップ10の内部に真空圧
がかかると、顧客トレー19の空間部19aに収容され
ていた素子20がピックアップ10に吸着される。
【0008】素子20が吸着された状態で、前述とは逆
順に第2シリンダ8及び第1シリンダ4が順次動作され
ると、ピックアップヘッド11及びピックアップブロッ
ク5が初期状態のように各々上死点に到達するようにな
る。その後、取付板3が第1水平LMガイダー2に沿っ
て位置決定ブロック(図示せず)に向かって移動する
際、ピックアップブロック5の上部に固定された第3シ
リンダ16が駆動されて、ガイド片17が押される。そ
のため、図4に示すように、第1リンク13の一端に固
定されたピン18が、ガイド片17に形成されたガイド
溝17aとともに移動する。これにより、図1及び図4
に示すように、互いに引っ込まれていた第1及び第2リ
ンク13、14が伸ばされ、その結果、ピックアップ1
0間の間隙が、テストトレー(図示せず)に形成された
空間部のピッチと同一となる。
【0009】この状態で、第1及び第2シリンダ4、8
が順次的に駆動されてピックアップ10が下死点に位置
するようになると、前記ピックアップ10に吸着された
素子20が位置決定ブロック(図示せず)の空間部内に
位置することになる。この際、前記ピックアップ10に
作用していた真空圧が解除されると、ピックアップ10
に吸着されていた素子20が自重により落下されて位置
決定ブロックの空間部内に正確に位置決定される。
【0010】かかる従来の装置は、顧客トレー内に収容
された1列の素子を一度に吸着した後、位置決定ブロッ
ク側への移送時に素子間の間隙を調節して位置決定した
後、位置決定完了の素子をテストトレー側にローディン
グするという動作を一つの移送装置により達成してい
る。そのため、位置決定に要する時間を短縮することが
できる。また、機器の設置空間を最小化することができ
る。
【0011】しかし、スライダー7が多数の第1及び第
2リンク13、14により連結されて同時に連動される
ように構成されている。そのため、スライダー7が最大
限に広げられた状態で、両端のピックアップ10は位置
決定ブロック或いはテストトレーの空間部の直下方に正
確に位置するようになる。しかし、その間に位置するピ
ックアップ10は各リンク長が比較的に長くて流動され
るためリンクの先端位置が不正確になる。このため、ピ
ックアップ10に吊り下げられた素子20を、位置決定
ブロックに形成された空間部内に正確にローディングす
ることができないという致命的な問題点を引き起こし
た。また、その構成が複雑であって部品数が多くなるた
め、部品の加工並びに組み立てに要する時間が長くなる
という問題点もあった。
【0012】上記の問題点を改善するために、図5〜図
7に示す技術が大韓民国実用新案96−22005号と
して出願された。以下、該技術について具体的に説明す
る。なお、該技術において、前述の大韓民国実用新案9
5−7512号の技術と同等の構成部材については、同
一符号を用いて説明している。
【0013】複数個のリンク21、22の一端に第1挿
入孔21a、22aが形成されており、前記第1挿入孔
21a、22aにはスライダー7に固定される軸23が
挿入されている。そして、前記リンク21、22の他端
には第2挿入孔21b、22bが形成されており、前記
第2挿入孔21b、22bにはリンク21、22を相互
連結させるピン24が挿入されている。
【0014】従って、前記スライダー7が内側に引っ込
まれている状態、つまり図6の状態では、各リンク2
1、22を連結するピン24が、スライダー7に固定さ
れた軸23に近接して位置して、リンクが相互交差する
ので、複数個のスライダー7が密着された状態を維持す
るようになる。このような状態から、取付板3が顧客ト
レー19に形成された空間部19aの1列と一致される
ように移送されると、取付板3に固定された第1シリン
ダ4が駆動されてピックアップブロック5が下死点まで
下降される。これとともに、第2シリンダ8が駆動され
てピックアップヘッド11が下降されると、先端に固定
されたピックアップ10が顧客トレー19の空間部19
aに収容された素子20の上面に接触されるので、真空
圧により素子20を吸着可能になる。
【0015】上記した動作によりピックアップ10に素
子20が吸着されると、前述とは逆順に第2シリンダ8
及び第1シリンダ4が順次的に動作してピックアップヘ
ッド11及びピックアップブロック5が初期状態のよう
にそれぞれ上昇する。これと同時に、取付板3が第1水
平LMガイダー2に沿って位置決定ブロック側に移動す
る際、第3シリンダ16が駆動されてガイド片17を押
すことにより、引っ込まれていたリンク21、22が伸
ばされるようになる。これにより、前記リンク21、2
2にそれぞれ固定されたスライダー7が互いに広げられ
るようになり、ピックアップ10に吸着された素子20
間の間隙が、位置決定ブロックに形成された空間部のピ
ッチと一致するようになる。上記動作時に、図7に示す
ように、各リンク21、22を連結するピン24はスラ
イダー7に固定された軸23に近接して位置するため、
複数個のスライダー7の間隙が一定に維持される。
【0016】かかる装置は、スライダー7に固定される
軸23が、リンク21、22の連結部位であるピン24
に近接しているため、ピックアップ10間の間隙が一定
に維持される利点がある。しかし、この装置においても
依然として部品数が多いため、制作及び組立による累積
誤差に起因してピッチを正確に維持することが困難にな
る。また、長時間にわたって使用する場合、各々のリン
ク及びベアリングの磨耗に起因して各ピックアップ間の
間隙の誤差が一層大きくなり、しかも動作時に発生する
騒音が大きくなる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】本発明は従来の問題点
を解決するためになされたものであり、その目的は、複
数個のリンクを使用することなく、素子を吸着するピッ
クアップ間の間隙を必要に応じて速い時間内に正確に調
節可能である半導体素子検査機の素子間隙調節装置を提
供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、ガイドレールに沿って水平移動可能に設
けられた移送板と、前記移送板に固定された取付板と、
前記取付板に昇降動可能に設けられた昇降板と、前記昇
降板に回転可能に設けられ、外周面上には複数のカム溝
が放射状に形成されたカム軸と、前記カム軸を回転させ
る駆動手段と、前記カム溝にその上部が嵌め込まれた状
態で水平移動可能に設けられた複数個のピックアップ手
段とを備える半導体素子検査機の素子間隙調節装置を提
供する。
【0019】本発明の他の態様は、ガイドレールに沿っ
て水平移動可能に設けられた移送板と、前記移送板に固
定された取付板と、前記取付板に昇降動可能に設けられ
た昇降板と、前記昇降板に進退可能に設けられ、底面に
は複数のカム溝が放射状に形成されたカム板と、前記カ
ム板の進退運動を案内するガイド手段と、前記カム板の
一側に固設され、カム板を進退させる駆動手段と、前記
カム溝に上部がはめ込まれた状態で水平移動可能に設け
られた複数個のピックアップ手段とを備える半導体素子
検査機の素子間隙調節装置を提供する。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した実施形
態を、図8〜図16を参照して詳しく説明する。
【0021】図8は本発明の一実施形態における半導体
素子検査機の素子間隙調節装置を示す斜視図であり、図
9は図8の装置に設けられたカム軸の斜視図であり、図
10はカム軸に形成されたカム溝の形態を示す展開図で
ある。
【0022】図15に示すように、素子検査機の本体
(図示せず)に設けられたガイドレール25に、移送板
26が水平移動可能に支持され、前記移送板26には締
付部材27により取付板28が垂直に固定される。前記
取付板28の一側面には垂直LM(Linear Motion)ガイ
ダー29aが固定されている。垂直LMガイダー29a
には、昇降板30に固定された垂直LMガイダー29b
が結合され、これにより昇降板30が一対の垂直LMガ
イダー29a、29bに案内されて取付板28の上下方
向に移動される。
【0023】前記移送板26には孔26aを介してロッ
ド31aを下部に露出させるようにシリンダ31が設け
られ、そのシリンダ31のロッド31aは前記昇降板3
0に固定される。従って、シリンダ31の駆動により、
昇降板30が垂直LMガイダー29a、29bにより安
定的に昇降運動される。図13及び図14に示すよう
に、前記昇降板30には、カム軸32がベアリング33
によって支持される。カム軸32の一側に設けられた駆
動手段が作動するに従ってカム軸32が回転運動する。
【0024】本実施形態においては、カム軸32を回転
させる駆動手段として、真空圧により作動される回転シ
リンダ34が適用されている。しかし、特にこれに限ら
れず、油圧により作動される回転シリンダ34が適用さ
れてもよく、或いはモータ、例えばステップモータが適
用されてもよい。
【0025】図8及び図13〜図15に示すように、昇
降板30の一側面又は両側面には水平LMガイダー35
aが固定され、前記水平LMガイダー35aには複数の
ピックアップ手段Pにそれぞれ固定された水平LMガイ
ダー35bが結合される。そのため、複数のピックアッ
プ手段Pが水平LMガイダー35a、35bに沿って水
平移動される。前記ピックアップ手段Pの上部はカム軸
32に形成されたカム溝36内にはめ込まれるように設
けられる。駆動手段34によりカム軸32が回転される
ことにより、ピックアップ手段P間の間隙が広くなった
り、狭くなったりする。
【0026】顧客トレー又は位置決定ブロックに収容さ
れた素子(図示せず)を吸着するピックアップ手段P
は、ピックアップブロック5及びピックアップ10を有
する。ピックアップブロック5は水平LMガイダー35
bに固定され、カム軸32の回転に従って相互間隙が狭
くなったり広くなったりする。ピックアップ10は前記
ピックアップブロック5に吊り下げられ、素子の上面に
接触された状態で真空圧の作用によって素子を吸着す
る。
【0027】前記ピックアップブロック5に吊り下げら
れた、素子を吸着するピックアップ10のピッチは、カ
ム軸32に複数個形成されるカム溝36の角度(傾き)
に基づいて決定される。もし、カム溝36の角度が小さ
すぎる場合は、ピックアップ手段Pの可変量が小さいた
め、カム軸32の回転角度を大きく設定するか、又は大
径のカム軸32を適用する必要がある。逆に、カム溝3
6の角度が大きすぎる場合は、ピックアップブロック5
の移動時にカム溝36にはめ込まれたベアリング38に
負荷が大きくかかるため、駆動手段34に無理が加えら
れるおそれがある。このため、駆動手段34に無理が加
えられないように、ピックアップブロック5のピッチに
基づいてカム軸32の外周面(360゜)を最大限に活
用するのが最も好ましい。
【0028】本実施形態に適用されるカム軸32は、そ
の外周面に図9及び図10に示すように相互対称的に放
射状にカム溝36を形成する。これは、カム軸32の回
転により、カム軸32の軸線方向中間部を中心として複
数のピックアップ手段Pが左右に広げられるか、又は引
っ込まれるようにして、ピックアップ手段Pの移動距離
を減少させてピックアップ10の間隙調節に必要な時間
を最小化させるためである。
【0029】また、図11に示すように、カム軸32に
形成されたカム溝36の断面形状を「凵」状に形成し、
ピックアップブロック5に固定されたベアリング38を
前記カム溝36内にそれぞれはめ込んで前記ベアリング
38をカム溝36の内面に接触させる。その理由は、カ
ム軸32の回転によりカム溝36の位置が可変されるこ
とにより、ピックアップブロック5が水平LMガイダー
35a、35bに案内された状態で移動される際、カム
溝36とピックアップブロック5とが接触される部位で
の摩擦抵抗を最小化して部品の磨耗による誤差を最小化
するためである。
【0030】尚、他の実施形態を示す図12に示すよう
に、カム軸32に形成されたカム溝36の断面形状を
「U」状に形成し、ピックアップブロック5の上部には
ボール39を結合して前記ボール39をカム溝36内に
位置させてもよい。
【0031】前記カム軸32に一定の角度で斜めに形成
されたカム溝36の両端に、カム溝36と連通されるよ
うにカム軸32の中心軸と直角方向に延びる安着溝37
a、37bを形成する。これは、駆動手段34によりピ
ックアップ10が最大限に広げられた状態または引っ込
まれた状態で、ベアリング38又はボール39をピック
アップブロック5の位置が可変しない安着溝37a、3
7b内に位置させて、加工及び組立誤差等に起因してピ
ックアップ10間の間隙が可変する現象を未然に防止す
るためである。
【0032】図16は本発明の他の実施形態を示す斜視
図であり、本発明の一実施形態に適用したカム軸32に
代えて、カム溝36の形成されたカム板40を適用して
いる。本発明の一実施形態の構成と同様な部分について
は同一符号を付いて説明を省略する。
【0033】取付板28に沿って昇降運動する昇降板3
0に、底面に複数のカム溝36を有するカム板40が水
平方向に進退可能に設けられる。駆動手段としてのシリ
ンダ41の駆動により、前記カム板40が昇降板30に
取り付けられたガイド手段としてのガイド部材42に案
内されて進退運動される。これに伴い、ピックアップ手
段P間の間隙が調節される。すなわち、カム板40の底
面に、図10に示すような形態のカム溝36が形成され
るものである。
【0034】次に、上記のように構成された装置の作用
について説明する。まず、顧客トレーの空間部内に収容
された素子を吸着する場合には、顧客トレーに形成され
た空間部のピッチが、テストトレーに形成された空間部
のピッチよりも狭いため、各ピックアップブロック5の
底面に露出されたピックアップ10が互いに引っ込まれ
た状態を維持している。すなわち、図13に示すよう
に、各ピックアップブロック5の上部に結合されたベア
リング38又はボール39が、カム溝36の出発点と連
通されるように形成された安着溝37a内に位置してい
るため、ピックアップブロック5が互いに密着された状
態が維持される。このような状態で、顧客トレー内に収
容された素子を吸着移送してテストトレーの空間部内に
位置決定しようとする場合には、移送板26をガイドレ
ール25に沿って移送させて顧客トレーに形成された空
間部の1列と一致する地点で停止させる。
【0035】この後、従来の装置と同様に、移送板26
に固定されたシリンダ31の駆動によって昇降板30が
下降されると、前記昇降板30に設けられたピックアッ
プ手段Pのピックアップ10が顧客トレーの空間部に位
置した素子の上面に接触される。この際、前記ピックア
ップ10に真空圧を作用させることにより、顧客トレー
に収容されていた1列の素子が吸着される。上記の動作
によりピックアップ10に素子が吸着されると、前述と
は反対動作により昇降板30が初期状態のように上昇さ
れるとともに、移送板26がガイドレール25に沿って
位置決定ブロック側に向かって移動される。
【0036】前記移送板26が位置決定ブロック側に移
送される過程において、駆動手段である回転シリンダ3
4が駆動されてカム軸32が回転されるか、又は駆動手
段であるシリンダ41が駆動されてカム板40が引き寄
せられると、一定の角度が維持されるように形成された
カム溝36の位置が可変する。すなわち、前記カム溝3
6内にはめ込まれたベアリング38またはボール39の
位置が可変するため、ピックアップブロック5が互いに
広げられるようになる。これにより、前記ピックアップ
ブロック5の底面に吊り下げられたピックアップ10の
間隙が、図14に示すように広げられるため、前記ピッ
クアップ10に吸着された素子の間隙が位置決定ブロッ
クに形成された空間部の間隙と一致するようになる。
【0037】上記したような動作時に、ピックアップブ
ロック5の上部に結合されたベアリング38又はボール
39が、回転しながらカム溝36に沿って左右移動する
ため、カム溝36の磨耗が最小化される。これにより、
ピックアップ10の間隙が常に一定に維持される。
【0038】すなわち、ピックアップ10が、テストト
レーに形成された空間部のピッチと同じに広げられた状
態で位置決定ブロック側に移動して、昇降板30が下死
点に位置した状態でピックアップ10に作用していた真
空圧が解除されると、ピックアップ10に吸着されてい
た素子が自重により位置決定ブロックの空間部内に正確
に位置決定される。これにより、素子のローディング作
業が完了する。
【0039】一方、テストトレーの空間部内に収容され
ていた素子を吸着してテスト結果に基づいて分類した
後、顧客トレー内に移送させる場合には、ピックアップ
10の吊り下げられたピックアップブロック5が互いに
広げられた状態でテストトレー側に移動してテスト完了
の素子の上面を吸着する。続いて、ピックアップブロッ
ク5の間隙を狭めた後、顧客トレー側に移送させる。す
なわち、前述とは逆順に行われる。これに対する具体的
な説明は省略する。
【0040】以上説明したように、本実施形態は以下の
ような利点がある。 (1)リンク方式を使用せず、カム溝36の形成された
カム軸32或いはカム板40を用いてピックアップ10
の吊り下げられたピックアップブロック5の間隙を調節
するため、構造が簡単で、加工及び組立による累積誤差
が全然発生せず、ピックアップ10間の間隙を必要に応
じて速い時間内に正確に調節可能である。しかも、騒音
を小さくできる。
【0041】(2)カム軸32又はカム板40に形成さ
れたカム溝36内に、ピックアップブロック5に結合さ
れたベアリング38又はボール39がはめ込まれること
で組み立てが完了するため、組立が簡単で生産性が向上
する。
【0042】(3)装置の構造が簡単であり、且つ部品
の故障発生可能性が著しく減少するため、寿命が半永久
的である。 (4)ベアリング38又はボール39の磨耗による部品
の交替作業が容易であるため、部品交替にかかる時間が
最小化できる。このため、装置の稼働率が向上する。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は以下のよ
うな利点がある。リンク方式を使用せず、カム溝の形成
されたカム軸或いはカム板を用いてピックアップ手段の
間隙を調節するため、構造が簡単で、加工及び組立によ
る累積誤差が全然発生せず、ピックアップ手段の間隙を
必要に応じて速い時間内に正確に調節可能である。
【0044】カム軸又はカム板に形成されたカム溝内
に、ピックアップ手段に結合されたベアリング又はボー
ルがはめ込まれることで組み立てが完了するため、組立
が簡単で生産性が向上する。
【0045】装置の構造が簡単であり、且つ部品の故障
発生可能性が著しく減少するため、寿命が半永久的であ
る。ベアリング又はボールの磨耗による部品の交替作業
が容易であるため、部品交替にかかる時間が最小化でき
る。このため、装置の稼働率が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の装置の一部を切欠いて示す縦断面図。
【図2】図1の装置の一部を切欠いて示す側面図。
【図3】スライダーが内側に引っ込まれている状態を示
す平面図。
【図4】第3シリンダの駆動によりスライダーが広げら
れている状態を示す平面図。
【図5】他の従来の装置におけるリンクを示す斜視図。
【図6】図5のリンクが内側に引っ込まれた状態を示す
平面図及び縦断面図。
【図7】図5のリンクが伸ばされた状態を示す平面図及
び縦断面図。
【図8】本発明の一実施形態における装置を示す斜視
図。
【図9】図8の装置に設けられたカム軸を示す斜視図。
【図10】図9のカム軸に形成されたカム溝の形態を示
す展開図。
【図11】カム溝にベアリングがはめ込まれた状態を示
す一部破断正面図。
【図12】カム溝の他の実施形態を示す部分断面図。
【図13】図8の装置においてピックアップ手段が引っ
込まれた状態を示す部分正面図。
【図14】図8の装置においてピックアップ手段が広げ
られた状態を示す部分正面図。
【図15】図8の装置の一部破断側面図。
【図16】本発明の他の実施形態であり、カム板を備え
た装置を示す斜視図。
【符号の説明】
25…ガイドレール、26…移送板、28…取付板、3
0…昇降板、32…カム軸、36…カム溝、37a,3
7b…安着溝、34…駆動手段としての回転シリンダ、
P…ピックアップ手段(ピックアップブロック5及びピ
ックアップ10を含む)、38…ベアリング、39…ボ
ール、40…カム板、42…ガイド手段としてのガイド
部材、41…駆動手段としてのシリンダ。

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ガイドレールに沿って水平移動可能に設
    けられた移送板と、 前記移送板に固定された取付板と、 前記取付板に昇降動可能に設けられた昇降板と、 前記昇降板に回転可能に設けられ、外周面上には複数の
    カム溝が放射状に形成されたカム軸と、 前記カム軸を回転させる駆動手段と、 前記カム溝にその上部が嵌め込まれた状態で水平移動可
    能に設けられた複数個のピックアップ手段とを備える、
    半導体素子検査機の素子間隙調節装置。
  2. 【請求項2】 カム軸に複数個のカム溝が対称的に形成
    される、請求項1記載の半導体素子検査機の素子間隙調
    節装置。
  3. 【請求項3】 カム軸に形成されたカム溝の断面形状が
    「凵」状である、請求項1記載の半導体素子検査機の素
    子間隙調節装置。
  4. 【請求項4】 ピックアップ手段の上部にベアリングが
    結合され、前記ベアリングがカム溝内にはめ込まれる、
    請求項3記載の半導体素子検査機の素子間隙調節装置。
  5. 【請求項5】 カム軸に形成されたカム溝の断面形状が
    「U」状である、請求項1記載の半導体素子検査機の素
    子間隙調節装置。
  6. 【請求項6】 ピックアップ手段の上部にボールが結合
    され、前記ボールがカム溝内にはめ込まれる、請求項5
    記載の半導体素子検査機の素子間隙調節装置。
  7. 【請求項7】 カム溝の両端にカム溝と連通されるよう
    に安着溝が形成される、請求項1記載の半導体素子検査
    機の素子間隙調節装置。
  8. 【請求項8】 駆動手段が回転シリンダである、請求項
    1記載の半導体素子検査機の素子間隙調節装置。
  9. 【請求項9】 ガイドレールに沿って水平移動可能に設
    けられた移送板と、 前記移送板に固定された取付板と、 前記取付板に昇降動可能に設けられた昇降板と、 前記昇降板に進退可能に設けられ、底面には複数のカム
    溝が放射状に形成されたカム板と、 前記カム板の進退運動を案内するガイド手段と、 前記カム板の一側に固設され、カム板を進退させる駆動
    手段と、 前記カム溝に上部がはめ込まれた状態で水平移動可能に
    設けられた複数個のピックアップ手段とを備える、半導
    体素子検査機の素子間隙調節装置
  10. 【請求項10】 カム板に複数のカム溝が対称的に形成
    される、請求項9記載の半導体素子検査機の素子間隙調
    節装置。
  11. 【請求項11】 カム板に形成されたカム溝の断面形状
    が「凵」状である、請求項9記載の半導体素子検査機の
    素子間隙調節装置。
  12. 【請求項12】 ピックアップ手段の上部にベアリング
    が結合され、前記ベアリングがカム溝内にはめ込まれ
    る、請求項11記載の半導体素子検査機の素子間隙調節
    装置。
  13. 【請求項13】 カム板に形成されたカム溝の断面形状
    が「U」状である、請求項9記載の半導体素子検査機の
    素子間隙調節装置。
  14. 【請求項14】 ピックアップ手段の上部にボールが結
    合され、前記ボールがカム溝内にはめ込まれる、請求項
    13記載の半導体素子検査機の素子間隙調節装置。
  15. 【請求項15】 カム溝の両端にカム溝と連通されるよ
    うに安着溝が形成される、請求項9記載の半導体素子検
    査機の素子間隙調節装置。
  16. 【請求項16】 駆動手段がシリンダである、請求項9
    記載の半導体素子検査機の素子間隙調節装置。
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