KR100297393B1

KR100297393B1 - 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치

Info

Publication number: KR100297393B1
Application number: KR1019990015940A
Authority: KR
Inventors: 정백운; 이기현
Original assignee: 정문술; 미래산업 주식회사
Priority date: 1999-05-03
Filing date: 1999-05-03
Publication date: 2001-09-26
Also published as: KR20000072967A

Abstract

본 발명은 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치에 관한 것으로, 디바이스의 로딩 및 언로딩 포지션에 위치된 로딩 픽커 및 언로딩 픽커가 디바이스를 로딩 및 언로딩하기 직전, 픽커블럭의 피치를 트레이에 형성된 수납공간의 간격 또는 테스트 소켓의 간격과 정확히 일치시킬 수 있도록 한 것이다.

이를 위해, 가변 피치를 갖는 로딩 및 언로딩 픽커가 구비된 소팅 핸들러에 있어서, 로딩부(13) 및 언로딩부(14)의 로딩 및 언로딩 포지션에 위치하는 트레이(11)의 상측 또는 DC 테스트부(18)의 테스트 소켓(23) 상측에 각각 설치되고 상면에는 트레이에 형성된 수납공간(11a)의 간격(T) 또는 테스트 소켓(23)의 설치 간격(t)과 일치되게 가이드핀(17)(25)이 고정된 가이드블럭(16)(22)과, 상기 로딩 및 언로딩 포지션을 따라 수평 이동하는 픽커블럭(19)의 하단에 패드(21)와 고정되게 설치되고 저면에는 가이드핀(17)(25)에 끼워지는 가이드공(20a)이 형성된 위치결정블럭(20)으로 구성된 것이다.

Description

번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치{device for alignment of loading and unloading picker in sorting handler for burn-in tester}

본 발명은 생산 완료된 디바이스(device)의 전기적인 특성을 테스트시, 사용되는 소팅 핸들러(handler)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 가변 피치를 갖는 픽커가 트레이로부터 디바이스를 흡착 또는 트레이내에 디바이스를 언로딩하거나, 테스트 소켓내에 로딩하기 직전에 픽커의 위치를 정확히 얼라인(align)시키는 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치에 관한 것이다.

도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도이고 도 2는 종래의 번인 테스터용 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한개략도로서, 번인 테스트할 디바이스가 채워진 트레이를 트레이 로더부(1)에 위치시키고 번인보드 로더부(2)에는 번인 테스트 완료된 디바이스가 테스트 소켓에 삽입된 번인보드를 위치시키며, 언로더부(3) 및 소팅부(4)에는 빈 트레이를 각각 위치시킨 상태에서 장비를 구동하게 된다.

이러한 상태에서 장비가 구동하면 3번툴(5)이 이송되어 번인 테스트가 끝난 상태로 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀 있던 4개의 디바이스를 동시에 꺼낸 다음 테스트 결과에 따른 등급에 따라 분류하여 빈 포켓부(6)나 트레이 언로더부(3)로 이송시키게 되므로 4번툴(7)이 불량으로 판정된 디바이스를 빈 포켓부(6)에서 소팅부(4)로 이송시키게 된다.

이와 같이 번인보드의 테스트 소켓에 삽입되어 있던 번인 테스트 완료된 디바이스가 언로더부(3) 또는 소팅부(4)로 빠져 나가면 1번툴(8)이 로더부(1)의 트레이에 있는 4개의 디바이스를 동시에 흡착한 다음 DC 테스트부(9)로 이송하여 흡착하고 있던 디바이스를 DC 테스트부(9)의 테스트 소켓내에 로딩하게 되므로 설정된 시간동안 디바이스의 DC 테스트가 이루어지게 된다.

상기한 동작 전에 DC 테스트부(9)에 있던 디바이스는 2번툴(10)에 의해 번인보드상의 테스트 소켓에 삽입된다.

즉, 번인보드의 테스트 소켓에 꽂혀져 있던 디바이스는 번인 테스트가 완료된 것으로, 3번툴(5)에 의해 번인보드의 테스트 소켓으로부터 디바이스가 빠져 나가면 2번툴(10)이 작동하여 DC 테스트 완료된 디바이스를 DC 테스트부(9)로부터 꺼내 번인보드의 테스트 소켓내에 삽입하게 되므로 디바이스의 계속적인 로딩 및 언로딩작업이 가능해지게 된다.

상기한 바와 같은 동작으로 디바이스를 핸들링하는 소팅 핸들러에서 디바이스가 담겨지거나, 담겨진 트레이(11)는 도 3에 나타낸 바와 같이 한정된 면적에 많은 양의 디바이스를 담을 수 있도록 하기 위해 수납공간(11a)의 간격(T)이 좁게 배열된 구조로 되어 있다.

이에 반해, 트레이(11)에 담겨져 있던 디바이스를 로딩하여 DC 테스트가 이루어지도록 하거나, 고온 테스트가 이루어지도록 하는 테스트 소켓(12)의 피치(t)는 도 4와 같이 트레이(11)에 형성된 수납공간(11a)의 피치(T)보다 넓게 배열되어 있다.

따라서 상기 트레이(11)내의 디바이스를 흡착하여 DC 테스트부(9)의 테스트 소켓(12)내에 로딩하거나, 번인보드의 테스트 소켓으로부터 디바이스를 흡착하여 언로더부(3)의 빈 트레이내에 언로딩하는 1, 3번툴(8)(5)은 위치에 따라 4개로 이루어진 픽커의 피치를 가변시키는 구조를 갖고 있어야 된다.

그러나 종래의 1, 3번툴(8)(5)은 디바이스를 흡착하는 픽커가 하사점까지 하강한 다음 트레이(11)의 수납공간(11a)내에 담겨져 있던 디바이스를 흡착하여 DC 테스트부(9)의 테스트 소켓내에 로딩하거나, 언로더부(3)에 위치된 빈 트레이의 수납공간(11a)에 테스트 완료된 디바이스를 언로딩하게 되므로 다음과 같은 문제점이 발생되었다.

첫째, 1, 3번툴(8)(5)의 반복 동작에 따라 이동간에 픽커의 간격이 불일치되거나, 위치가 달라지면 디바이스의 흡착위치가 달라져 DC 테스트부(9)의 테스트 소켓내에 디바이스를 정확히 로딩시키지 못하게 되므로 디바이스의 로딩시 테스트 소켓의 누름편이 디바이스의 리드를 눌러 줄 때 리드 밴트(Lead vent)가 발생되었음은 물론 테스트 완료된 디바이스를 테스트 소켓으로부터 꺼낼 수 없었다.

둘째, 3번툴(5)이 흡착하고 있던 디바이스를 언로더부(3)에 위치된 빈 트레이내에 언로딩할 때 간격이 좁아진 픽커의 피치가 달라지거나, 정위치를 벗어나게 되면 이를 얼라인하는 장치가 구비되어 있지 않아 흡착하고 있던 디바이스를 트레이의 수납공간(11a)내에 정확히 언로딩하지 못하고 에러를 발생하게 되었다.

셋째, 상기한 문제점으로 인해 장비의 구동중에 잦은 에러를 발생하게 되므로 고가 장비의 가동률이 떨어지게 되었다.

본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 디바이스의 로딩 및 언로딩 포지션에 위치된 로딩 픽커 및 언로딩 픽커가 디바이스를 로딩 및 언로딩하기 직전, 픽커블럭의 피치를 트레이에 형성된 수납공간의 간격 또는 테스트 소켓의 간격과 정확히 일치시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 가변 피치를 갖는 로딩 및 언로딩 픽커가 구비된 소팅 핸들러에 있어서, 로딩부 및 언로딩부의 로딩 및 언로딩 포지션에 위치하는 트레이의 상측 또는 DC 테스트부의 테스트 소켓 상측에 설치되고 상면에는 트레이에 형성된 수납공간의 간격 또는 테스트 소켓의 설치 간격과 일치되게 가이드핀이 고정된 가이드블럭과, 상기 로딩 및 언로딩 포지션을 따라 수평 이동하는 픽커블럭의 하단에 패드와 고정되게 설치되고 저면에는 가이드핀에 끼워지는 가이드공이 형성된 위치결정블럭으로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치가 제공된다.

도 1은 종래 번인 테스터용 소팅 핸들러의 구성을 개략적으로 나타낸 평면도

도 2는 종래의 번인 테스터용 소팅 핸들러에서 이송수단의 동작을 설명하기 위한 개략도

도 3은 널리 사용되고 있는 트레이를 일부 생략하여 나타낸 사시도

도 4는 번인보드를 일부 생략하여 나타낸 사시도

도 5는 본 발명이 적용된 번인 테스터용 소팅 핸들러를 일부 생략하여 나타낸 사시도

도 6은 본 발명이 적용된 번인 테스터용 소팅 핸들러를 나타낸 정면도

도 7은 도 6의 평면도

도 8은 본 발명의 일 실시예를 나타낸 사시도

도 9a 및 도 9b는 일 실시예의 동작을 설명하기 위한 종단면도로서,

도 9a는 로딩부의 로딩 포지션에 위치된 트레이의 직상부에 로딩 픽커가 위치된 상태도

도 9b는 로딩부에 설치된 가이드블럭에 픽커블럭이 위치결정되고 패드가 트레이상의 디바이스 상면에 접속된 상태도

도 10은 본 발명의 다른 실시예인 가이드블럭의 분해 사시도

도 11a 및 도 11b는 본 발명의 다른 실시예를 설명하기 위한 종단면도로서,

도 11a는 푸싱블럭이 누름편에 의해 상사점에 위치된 상태도

도 11b는 위치결정블럭에 의해 푸싱블럭이 눌려 누름편이 하강된 상태도

도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

16, 22 : 가이드블럭 17, 25 : 가이드핀

19 : 픽커블럭 20 : 위치결정블럭

20a : 가이드공 21 : 패드

23 : 테스트 소켓 26 : 후크

이하, 본 발명을 실시예로 도시한 도 5 내지 도 11을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 8은 본 발명의 일 실시예를 나타낸 사시도이고 도 9a 및 도 9b는 일 실시예를 설명하기 위한 종단면도로서, 본 발명은 로딩부(13) 및 언로딩부(14)의 로딩 및 언로딩 포지션에 위치하는 트레이(11)의 상측에 위치되도록 가이드레일(15)상에 가이드블럭(16)이 고정 설치되어 있고 상기 가이드블럭의 상면에는 트레이에 형성된 수납공간(11a)의 간격과 일치되게 가이드핀(17)이 고정되어 있다.

그리고 트레이(11)의 수납공간(11a)에 담겨진 디바이스를 흡착하거나, 흡착하고 있던 디바이스를 DC 테스트부(18)의 테스트 소켓 또는 트레이(11)내에 담아주는 각 픽커블럭(19)의 하단에는 가이드핀(17)에 끼워지는 가이드공(20a)이 형성된 위치결정블럭(20)이 패드(21)와 고정되게 설치되어 있다.

따라서 상기 위치결정블럭(20)의 위치가 가변됨에 따라 디바이스를 흡착하는 패드(21)의 위치도 가변된다.

도 10은 본 발명의 다른 실시예인 가이드블럭의 분해 사시도로서, DC 테스트부(18)에 설치되는 가이드블럭(22)에 테스트 소켓(23)의 누름편(23a)을 눌러주는 푸싱블럭(24)이 승강가능하게 설치되어 있고, 상기 푸싱블럭에는 위치결정블럭(20)에 형성된 가이드공(20a)이 끼워지는 가이드핀(25)이 고정되어 가이드블럭(22)의상측으로 노출되어 있으며 상기 푸싱블럭(24)에는 테스트 소켓(23)의 누름편(23a)의 상면에 걸려 푸싱블럭(24)의 하강시 누름편(23a)을 눌러주는 후크(26)가 형성되어 있다.

이 때, 가이드핀(25)에는 가이드블럭(22)에 형성된 턱부분(22a)의 두께(B)보다 긴 목부분(25a)이 형성되어 있어 푸싱블럭(24)이 가이드블럭(22)으로부터 가이드핀(25)의 목부분(25a) 범위내에서 승강운동하게 된다.

이와 같이 DC 테스트부(18)의 양측에는 가이드블럭(22)의 양단이 얹혀지는 안착판(41)이 설치되어 있고 상기 각 안착판(41)에는 가이드블럭(22)의 양단을 지지하는 지지블럭(42)이 좌우 슬라이딩가능하게 결합되어 있는데, 이 때 상기 가이드블럭(22)에는 절결부(22c)가 형성되어 있고 안착판(41)에는 위치결정핀(43)이 고정되어 있다.

그리고 상기 안착판(41)에 형성된 구멍(44)의 내부에는 볼(45)이 스프링(46)에 의해 탄력 설치되어 안착판의 상면으로 노출되어 있고 지지블럭(42)의 저면에는 상기 볼(45)이 선택적으로 끼워지는 2개의 요입홈(42a)(42b)이 형성되어 있다.

상기 안착판(41)의 양단에는 위치결정핀(43)이 고정되어 있고 가이드블럭(22)에는 상기 가이드핀에 끼워지는 절결부(22c)가 형성되어 있다.

도 5는 본 발명이 적용된 번인 테스터용 소팅 핸들러를 일부 생략하여 나타낸 사시도이고 도 6은 본 발명이 적용된 번인 테스터용 소팅 핸들러를 나타낸 정면도이며 도 7은 도 6의 평면도이다.

참고적으로 본 발명이 적용된 번인 테스터용 소팅 핸들러의 동작을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.

먼저, 로딩부(13)에 테스트할 디바이스가 채워진 트레이(11)를 위치시키고, 언로딩부(14)에는 테스트 완료된 양품의 디바이스가 담겨지는 1개의 빈 트레이(11b)를, 그리고 소팅부(27)에는 불량으로 판정된 디바이스를 등급별로 분류하기 위한 복수개의 빈 트레이(11c)를 위치시킨 상태에서 장비를 구동하게 된다.

로딩 픽커(28)가 로딩부(13)에 위치된 트레이(11)에서 복수개의 디바이스를 흡착하여 DC 테스트부(18)의 테스트 소켓(23)내에 로딩하기 위해 X축 주축(29)을 따라 로딩 포지션으로 이송하는 과정에서 패드(21) 및 위치결정블럭(20)이 고정된 픽커블럭(19)은 피치 간격 조절수단에 의해 트레이(11)에 형성된 수납공간(11a)의 간격과 일치되게 좁혀지게 조절된다.

이와 같이 픽커블럭(19)의 피치를 가변시킨 상태에서 로딩 포지션에 도달하고 나면 상기 픽커블럭(19)이 트레이(11)내의 디바이스를 흡착하기 위해 픽커 실린더(30)의 구동으로 하사점까지 하강하게 된다.

상기 픽커블럭(19)이 픽커 실린더(30)의 구동으로 하강하면 상기 픽커블럭(19)의 간격이 피치 간격 조절수단에 의해 가변되면서 트레이(11)의 수납공간(11a)과 정확히 일치되지 않을 우려가 있지만, 픽커블럭(19)의 하강시 복수개의 픽커블럭(19)은 그 간격이 트레이(11)의 수납공간(11a)과 자동으로 일치된다.

즉, 픽커 실린더(30)의 구동으로 픽커블럭(19)이 하사점까지 하강하면 상기 픽커블럭(19)에는 패드(21)와 고정된 위치결정블럭(20)이 설치되어 있고 디바이스의 로딩 포지션에는 가이드블럭(16)에 고정된 가이드핀(17)이 상향 돌출되어 있어도 9b와 같이 상기 위치결정블럭(20)에 형성된 가이드공(20a)이 가이드핀(17)에 끼워지면서 픽커블럭(19)의 위치를 교정하게 되므로 상기 위치결정블럭(20)에 고정된 패드(21)가 트레이(11)의 수납공간(11a)에 얹혀진 디바이스의 정위치에 접속된다.

이러한 상태에서 패드(21)에 진공압이 걸리면 수납공간(11a)에 얹혀진 디바이스가 패드에 흡착되므로 픽커 실린더(30)의 재구동으로 픽커블럭(19)이 상승하면 각 패드(21)에 디바이스가 매달린 상태가 된다.

상기한 바와 같은 동작으로 로딩 픽커(28)에 복수개의 디바이스가 홀딩되고 나면 로딩 픽커(28)가 DC 테스트부(18)측으로 이송하여 홀딩하고 있던 디바이스를 테스트 소켓내에 로딩하게 되는데, 상기 로딩 픽커의 각 픽커블럭(19)은 이송간에 DC 테스트부(18)에 있는 테스트 소켓(23)의 간격과 일치되게 벌어지게 된다.

그 후, 픽커 실린더(30)의 구동으로 픽커블럭(19)이 하강하면 상기 위치결정블럭(20)에 형성된 가이드공(20a)이 푸싱블럭(24)에 고정된 가이드핀(25)에 끼워지면서 픽커블럭(19)의 간격을 테스트 소켓(23)의 간격과 일치되게 얼라인시킴과 동시에 푸싱블럭(24)을 눌러주게 되므로 상기 푸싱블럭이 가이드블럭(22)으로부터 가이드핀(25)의 목부분(25a) 범위내에서 하강하면서 후크(26)가 도 11b와 같이 테스트 소켓의 누름편(23a)을 눌러주게 되고, 이에 따라 테스트 소켓의 콘택트 핀이 양측으로 벌어지게 된다.

상기한 바와 같이 누름편(23a)이 위치결정블럭(20)에 의해 눌려 콘택트 핀이 양측으로 벌어지고 나면 패드(21)에 흡착된 디바이스가 테스트 소켓내에 위치되는데, 이러한 상태에서 패드에 작용되고 있던 진공압을 해제한 다음 픽커 실린더(30)의 재구동으로 픽커블럭(19)을 상사점까지 상승시키면 푸싱블럭(24)에 가해지던 힘이 제거되므로 상기 푸싱블럭에 눌려 하강하였던 누름편(23a)이 콘택트 핀의 복원력에 의해 상승되고, 이에 따라 테스트 소켓내에 로딩된 디바이스의 DC 테스트가 가능해지게 된다.

상기 DC 테스트부(18)에 로딩된 디바이스의 DC 테스트를 설정된 시간동안 실시하고 나면 슬라이더(31)에 설치된 포킹 및 언포킹 픽커(32)(33)가 X축 주축(29)을 따라 도6의 우측으로 동시에 이동하여 포킹 픽커(32)는 번인보드의 테스트 소켓(34)에 로딩할 디바이스를 DC 테스트부(18)의 테스트 소켓(23)으로부터 홀딩하고, 언포킹 픽커(33)는 번인 테스트 완료된 번인보드상의 디바이스를 동시에 홀딩하게 된다.

그 후, 포킹 픽커(32) 및 언로딩 픽커(33)가 상사점까지 상승하고 나면 DC 테스트부(18)의 테스트 소켓내에 있던 디바이스가 포킹 픽커(32)에 매달린 상태이고, 번인보드의 테스트 소켓(34)내에 있던 디바이스는 언포킹 픽커(33)에 매달린 상태이다.

그러나 DC 테스트 결과 DC 테스트 완료된 디바이스 중 어느 하나의 디바이스라도 DC 불량이 발생되면 언포킹 픽커(33)만이 구동하여 번인보드의 테스트 소켓(34)으로부터 번인 테스트 완료된 디바이스를 꺼내고, 포킹 픽커(32)는 슬라이더(31)가 도면상 우측으로 약간 더 이동한 상태에서 로딩측 버퍼(35)에 얹혀진 DC 테스트 완료된 양품의 디바이스를 홀딩하게 된다.

상기한 동작시 DC 테스트부(18)에 있던 디바이스를 꺼내기 위해 로딩 및 언로딩 포지션과 일치되어 있던 DC 테스트부(18)가 DC 테스트부 가변수단(36)의 구동으로 소팅포지션과 일치되게 가변되면 소팅 픽커(37)가 X - Y축(38)을 따라 소팅 포지션측으로 이동한 다음 상기 DC 테스트부(18)의 테스트 소켓으로부터 복수개의 디바이스를 동시에 홀딩하여 DC 테스트 결과 양품으로 판정된 디바이스를 로딩측 버퍼(35)내에 언로딩하고, DC 불량인 디바이스는 등급에 따라 소팅부(27)의 빈 트레이(11c)내에 소팅하게 된다.

이와 같이 포킹 픽커(32)와 언포킹 픽커(33)에 디바이스가 각각 매달리고 나면 슬라이더(31)가 X축 주축(29)을 따라 도 6의 좌측으로 이동하여 포킹 픽커(32)에 매달린 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓 직상부에 위치시키고, 언포킹 픽커(33)에 매달린 디바이스를 버퍼(39)의 직상부에 위치시킨 다음 포킹 픽커(32)에 매달린 디바이스를 번인보드의 테스트 소켓(34)내에 로딩하고, 언포킹 픽커(33)에 매달린 디바이스를 버퍼(39)내에 얹어 놓게 된다.

이와 같이 번인 테스트 완료된 디바이스가 버퍼(39)내에 얹혀지고 나면 픽커블럭(19)의 간격이 넓혀진 언로딩 픽커(40)가 X축 주축(29)을 따라 이송되어 버퍼(39)로부터 디바이스를 흡착한 다음 언로딩 포지션으로 이송간에 픽커블럭(19)의 간격을 트레이(11)의 수납공간(11a)과 일치되게 조절하게 된다.

이러한 상태에서 패드(21)에 흡착되어 있던 디바이스를 트레이(11)의 수납공간(11a)의 내부에 언로딩하기 위해 픽커블럭(19)이 하강하면 디바이스의 로딩시와 마찬가지로 가이드블럭(16)에 고정된 가이드핀(17)으로 위치결정블럭(20)에 형성된 가이드공(20a)이 끼워지면서 픽커블럭(19)의 간격을 얼라인하게 되므로 패드(21)에흡착되어 있던 디바이스를 언로딩부(14)에 위치된 트레이(11b)의 수납공간(11a)내에 정확히 언로딩할 수 있게 되는 것이다.

한편, 디바이스의 종류에 따라 DC 테스트부(18)로부터 테스트 소켓(23)을 교체할 경우에는 상기 테스트 소켓의 상측에 설치되는 가이드블럭(22)도 테스트 소켓(23)의 타입에 따라 교체하여야 된다.

이를 위해서는 안착판(41)을 따라 상호 내측으로 이동하였던 지지블럭(42)을 양측으로 밀어 벌려주면 스프링(46)의 복원력에 의해 외측의 요입홈(42b)내에 끼워져 있던 볼(45)이 지지블럭(42)의 저면에 눌려 구멍(44)의 내부로 수용되었다가 지지블럭(42)의 다른 일측에 형성된 요입홈(42a)이 도달하면 구멍(44)내에 수용되어 있던 볼(45)이 스프링(46)의 복원력에 의해 끼워져 지지블럭(42)의 이동을 제어하게 되므로 안착판(41)사이에 얹혀진 가이드블럭(22)을 교체할 수 있게 된다.

또한, 기 사용하던 가이드블럭을 교체하고 나면 양측으로 벌렸던 지지블럭(42)을 초기 상태와 같이 내측으로 밀어 볼(45)이 초기 요입홈(42b)내에 끼워지도록 하므로써 2개의 지지블럭(42)이 가이드블럭(22)의 양단을 감싸고 있는 상태가 되므로 디바이스의 로딩 및 언로딩작업시 픽커블럭(19)의 간격을 정확하게 유지시킬 수 있게 되는 것이다.

이상에서와 같이 본 발명은 디바이스를 로딩 및 언로딩 하기 직전에 픽커블럭(19)의 간격을 트레이(11)에 형성된 수납공간(11a)의 간격 또는 테스트 소켓(23)의 간격과 정확히 일치시킬 수 있게 되므로 디바이스의 미스 로딩 및 언로딩을 미연에 방지할 수 있게 되고, 이에 따라 미스 로딩 및 언로딩에 따른 잦은 에러 발생을 방지하게 되므로 고가 장비의 가동률을 극대화하게 된다.

또한 DC 테스트부(18)에 설치되는 가이드블럭(22)을 지지블럭(42)의 벌려주는 동작에 의해 용이하게 교체할 수 있게 되므로 테스트하고자 하는 디바이스의 타입에 신속하게 대처할 수 있게 되는 효과도 있다.

Claims

가변 피치를 갖는 로딩 및 언로딩 픽커가 구비된 소팅 핸들러에 있어서, 로딩부 및 언로딩부의 로딩 및 언로딩 포지션에 위치하는 트레이의 상측 또는 DC 테스트부의 테스트 소켓 상측에 설치되고 상면에는 트레이에 형성된 수납공간의 간격 또는 테스트 소켓의 설치 간격과 일치되게 가이드핀이 고정된 가이드블럭과, 상기 로딩 및 언로딩 포지션을 따라 수평 이동하는 픽커블럭의 하단에 패드와 고정되게 설치되고 저면에는 가이드핀에 끼워지는 가이드공이 형성된 위치결정블럭으로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치.
제 1 항에 있어서,

DC 테스트부에 설치되는 가이드블럭에 누름편을 눌러주는 후크를 갖는 푸싱블럭이 승강가능하게 설치되고, 상기 푸싱블럭에는 가이드핀이 고정되어 가이드블럭의 상측으로 노출된 것을 특징으로 하는 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치.
제 1 항에 있어서,

DC 테스트부의 양측에 설치되는 가이드블럭의 양단이 얹혀지는 안착판과, 상기 각 안착판에 결합되어 가이드블럭의 양단을 지지하는 지지블럭이 더 구비된 것을 특징으로 하는 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치.
제 3 항에 있어서,

안착판상에 볼을 스프링에 의해 탄력 설치하여 상면으로 노출되도록 하고 지지블럭의 저면에는 상기 볼이 선택적으로 끼워지는 2개의 요입홈이 형성된 것을 특징으로 하는 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치.